Microscopio de efecto tnel

Imagen de reconstruccin sobre una superficie limpia de oro (100).

Una imagen STM de un nanotubo de carbono de pared simple.

Un microscopio de efecto tnel (STM por sus siglas en ingls) es un instrumento para tomar imgenes de superficies a nivel atmico. Su desarrollo en 1981 hizo ganar a sus inventores, Gerd Binnig y Heinrich Rohrer (de IBM Zrich), el Premio Nobel de Fsica en 1986.1 2 Para un STM, se considera que una buena resolucin es 0.1 nm de resolucin lateral y 0.01 nm de resolucin de profundidad.3 Con esta resolucin, los tomos individuales dentro de los materiales son rutinariamente visualizados y manipulados. El STM puede ser usado no solo en ultra alto vaco, sino que tambin en aire, agua, y varios otros lquidos o gases del ambiente, y a temperaturas que abarcan un rango desde casi cero Kelvin hasta unos pocos cientos de grados Celsius.4 El STM est basado en el concepto de efecto tnel. Cuando una punta conductora es colocada muy cerca de la superficie a ser examinada, unacorriente de polarizacin (diferencia de voltaje) aplicada entre las dos puede permitir a los electrones pasar al otro lado mediante efecto tnel a travs del vaco entre ellas. La resultante corriente de tunelizacin es una funcin de la posicin de la punta, el voltaje aplicado y la densidad local de estados(LDOS por sus siglas en ingls) de la muestra.4 La informacin es adquirida monitoreando la corriente conforme la posicin de la punta escanea a travs de la superficie, y es usualmente desplegada en forma de imagen. La microscopa de efecto tnel puede ser una tcnica desafiante, ya que requiere superficies extremadamente limpias y estables, puntas afiladas, excelente control de vibraciones, y electrnica sofisticada.