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MICROELECTRNICA
APUNTES DE CLASES
SPTIMA PARTE
DISEO ESTRUCTURADO PARA
TESTABILIDAD
AD-HOC
SCAN PATH
BIST
HIBRIDAS
2
AD-HOC
Puntos de test para contadores en cascada
3
AD-HOC
Puntos de test para contadores en cascada
4
AD-HOC
Puntos de test para contadores
realimentados
5
AD-HOC
Puntos de test para contadores
realimentados
6
SCAN PATH
Modelo general de HAUFFMAN
7
8
BIST (Built in Self Test)
PRBS (Generador Binario de Secuencias
Pseudo-aletorias)
9
BIST (Built in Self Test)
Registro Analizador de Firmas
10
BIST (Built in Self Test) componentes
11
HIBRIDAS
Combinacin de Scan Path y BIST

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