EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

96


Capitolul V. ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE




5.1. Analiza macroscopic - aspecte teoretice
5.2. Analiza suprafeelor de rupere sau de solidificare





5.1. Analiza macroscopic - aspecte teoretice

Analiza macroscopic const din examinarea cu ochiul liber, cu lupa sau
stereomicroscopul (mrire maxim 50x), a aspectului exterior al pieselor sau al unei
suprafee special pregtite.
Examinarea macroscopic trebuie s constituie prima etap a unei analize
metalografice. Ea cere un minim de pregtire i d informaii privind natura materialului,
particularitile structurii de turnare, caracterul i calitatea prelucrrii ulterioare ce confer
forma # 11411j94l 1;i proprietile finale (deformare plastic, achiere, sudare, tratamente
termice sau termochimice, etc.), caracterul ruperii i cauzele acesteia.
Totodat analiza macroscopic permite alegerea zonelor din piesa studiat, care
trebuie ulterior supus unei analize microscopice mai amnunite.
Studiul macroscopic se poate efectua pe suprafee de rupere (casuri), de
solidificare sau pe suprafee lefuite i atacate cu un reactiv.


5.2. Analiza suprafeelor de rupere sau de solidificare

Natura materialului
Informaii privind calitatea materialului se pot obine prin corelarea culorii cu
densitatea, proprietile magnetice, rezistena la coroziune a materialului. Astfel, Cu are
culoarea roie; alamele cu max. 10% Zn, bronzurile cu Sn, Pb sau Be roiatic; alamele
cu mai mult de 10% Zn, bronzurile cu Al galben, galben verzui; aluminiul i nichelul
gri deschis, puin mai nchis oelul; zincul gri albstrui; fonta-alb, staniul alb argintiu;
fontele cenuii gri nchis. n casura proaspt a fontelor cenuii, grafitul se desprinde ca
un praf negru, unsuros.
Dup densitate, materialele metalice sunt: ultrauoare (r<2g/cm
3
): Mg, Be; uoare
(2<r<4): Al, Si; semiuoare (4<r<6): Ti, V, Ge; grele (6<r<10): Zn, Sn, Cr, Mn, Fe, Co;
foarte grele (10<r<15): Ag, Pb, Hg; deosebit de grele (r>15): Au, Pt, Os.
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

97
Dup proprietile magnetice, materialele pot fi:
- diamagnetice, slab respinse de cmpul magnetic: Cu, Au, Ag, Zn;
- paramagnetice, slab atrase de cmpul magnetic: Al, Bn, Mg, Pt, Cr, Ti, oel
inoxidabil austenitic etc;
- feromagnetice, puternic atrase de cmpul magnetic: Fe, Co, Ni i aliajele lor,
feritele, etc.
Dup rezistena la coroziune, exprimat prin viteza de coroziune, materialele: se pot
clasifica n: necorodabile (v<0,001 mm/an); stabile (v<0,05 mm/an); corodabile
(v>1mm/an).
Materialele necorodabile i stabile se acoper cu o pelicul de reacie protectoare;
cele corodabile formeaz un strat poros de reacie ce evolueaz n timp. Astfel, probele
din oel inoxidabil sunt necorodabile n atmosfer normal. pn la 780C.

Structura i defectele de solidificare
n casura unui lingou se poate urmri structura acestuia. Se disting trei zone cu
granulaie difereniat: zona exterioar cu granulaie fin, zona columnar dendritic i
zona central cu gruni echiaxiali mari. Extinderea acestor zone depinde de compoziia
chimic i condiiile de turnare. Astfel, structura echiaxial cu bune proprieti de
deformare este favorizat de prezena impuritilor, viteze lente de rcire, agitarea topiturii
(fig. 3.1).
Seciunea longitudinal prin lingou pune n eviden defectele de solidificare. La un
oel necalmat (Si <0.07%), retasura (golul de contracie) este dispersat n masa metalic
(fig.3.2.a). La un oel calmat (Si>0.17%), retasura este concentrat, nchis printr-o punte,
ca n figura 3.2.b.

n jurul retasurii se adun impuritile, determinnd neomogeniti chimice
segregaii, care se disting cu ochiul liber prin cloritul diferit de al masei metalice.
EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

98

La oelul calmat n jurul retasurii apar suflurile, goluri datorate gazelor (CO
2
, N
2
, H
2
)
neevacuate. La oelul necalmat se formeaz o coroan de sufluri marginale la baza
lingoului (fig. 3.3). Suflurile au suprafaa neoxidat i se sudeaz la laminare sau forjare.
Cele care comunic cu exteriorul porii au suprafaa oxidat i nu se pot suda.(fig. 3.2).

Retasurile, suflurile i porii sunt defecte de compactitate, care dac nu sunt
eliminate prin tiere, decojire, deformare, pot constitui amorse de fisuri, crpturi, ruperi,
care se amplific n timpul deformrii plastice.
n retasura unor lingouri se poate constata prezena unor formaiuni arborescente
numite dendrite . Suprafaa lor de solidificare evideniaz c, n condiii de rcire rapid i
nedirijat, creterea grunilor cristalini are loc arborescent dup direcii prefereniale de
cretere.
Caracterul i cauzele ruperii
Ruperea poate interveni voit pe epruvete de ncercri mecanice sau prin avarierea
unor piese. Analiza macroscopic are ca scop interpretarea comportrii materialului
ncercat sau stabilirea cauzelor avariei. n acest ultim caz, este necesar asamblarea cu
grij a fragmentelor, pentru a nu provoca abraziuni pe suprafeele cercetate. Factorii care
trebuie luai n consideraie sunt: deformarea asociat ruperii, aspectul suprafeei de
rupere, coroziunea produs, numrul, mrimea i localizarea fragmentelor.
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

99
Ruperea se poate produce la aplicarea unei suprasarcini sau este progresiv sub
sarcini mici i variabile rupere prin oboseal.
Ruperea la suprasarcin poate fi ductil sau fragil. Ruperea ductil este nsoit de
deformare plastic prealabil i are aspect mat, fibros. La o epruvet de traciune din oel
recopt cu 0.2 % C, se observ gtuirea epruvetei i ruperea tip con cup. Ruperea la
ncovoiere prin oc produce o suprafa puternic deformat, aspr.
Ruperea fragil nu prezint deformare plastic prealabil i are aspect cristalin,
strlucitor, grosier. La epruvetele de traciune sau de rezilien, suprafaa de rupere este
plan iar la solicitarea la torsiune este elicoidal, (fig.3.6).
Caracterul ruperii este influenat de: compoziia chimic, structur, tratamentul
termic aplicat, stare de tensiuni, temperatur etc.

Un oel turnat sau clit are rupere fragil. Acelai oel dup normalizare sau
mbuntire se comport ductil. Un oel silicios are n casura unei epruvete Charpy
(pentru determinarea rezilienei) o rupere fragil, datorit granulaiei grosiere i alierii cu
siliciu. Alierea unui oel cu elemente carburigene, cu efect de finisare a granulaiei,
mrete ductilitatea. Un oel rapid aliat cu wolfram (marca Rp 3), n stare clit, prezint
ruptur tip porelan.
Majoritatea oelurilor prezint temperatur de tranziie ductil fragil sub care
materialul se comport fragil. n fig. 3.5. se prezint probe de rezilien din oel de cazane
K52 normalizat, solicitate la diferite temperaturi. Se observ la 20 C temperatura de
tranziie T
D
, cu 50% casur fibroas i 50% cristalin.
Prezena unor defecte de solidificare sau de la prelucrrile ulterioare (picturi reci,
sufluri, segregaii, incluziuni nemetalice, fisuri) favorizeaz ruperea fragil prematur.
Fisuri cu efect de fragilizare pot apare la rcirea rapid n timpul clirii, recunoscute prin
decolorarea suprafeei de rupere n cursul revenirii ulterioare. De asemenea, hidrogenul
absorbit la nclzirea pieselor n atmosfer de H
2
, sau la decaparea n medii acide
determin apariia fulgilor cu efect de fragilizare. Fulgii sunt microfisuri, care au aspect de
pete strlucitoare n suprafaa de rupere (fig. 3.7).
EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

100

Aspectul unei ruperi prin oboseal este apropiat de cel fragil, deoarece i este
asociat o mic deformare plastic. Suprafeele de rupere sunt relativ netede. Deoarece
ruperea este progresiv piesele supuse la oboseal au n general o suprafa de rupere
caracteristic pe care se disting urmtoarele zone(fig.3.8):
-amorsa de fisur care poate fi un concentrator de tensiune: incluziune nemetalic,
neregularitate superficial, microfisuri de clire etc.
-zona ruperii n exploatare, mai neted, cu linii de ateptare, cu aspect de dune de
nisip, care indic propagarea intermitent a fisurii. Cu ct fisura avanseaz liniile de
ateptare se mresc i se distaneaz, astfel nct localizarea celor mai mici linii indic
amorsa de fisurare;
-zona ruperii statice, cu aspect cristalin mai grosier, fibros care se produce atunci
cnd seciunea devine subcritic.

Mrimea stratului carburat
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

101

mbogirea superficial n carbon modific aspectul suprafeei de rupere. Astfel o
rol de pod rulant carburat i clit prezint un strat superficial cu ductilitate mai redus,
cu aspect mat i granulaie fin asociat cu un miez tenace, ductil cu aspect fibros. Stratul
carburat se observ mai clar prin nclzire la 300 350 C, cnd miezul se acoper cu o
pelicul de oxid albastru deschis, iar stratul carburat albastru mai nchis (fig.3.9).
1.2.2. Analiza macroscopic pe suprafee lefuite i atacate cu reactiv
Analiza macroscopic se execut pe suprafee care au fost supuse unei prelucrri
mecanice pentru obinerea unei suprafee plane, apoi lefuire pe hrtie metalografic
(granulaie min.200) i atac cu un reactiv adecvat scopului urmrit, conform STAS 4203-74
i STAS 11961-83 (tabel 3.1). Se pot pune n eviden: neomogenitile chimice,
discontinuitile de material (poroziti sufluri, fisuri) structura primar dendritic, liniile de
deformare plastic, neomogenitile chimice i structurale introduse de tratamentul termic
sau termochimic, structura i defectele mbinrilor sudate, etc.


a) Segregaiile.
Neomogenitile chimice aprute n procesul solidificrii determin neomogeniti
de structur i de proprieti. La oeluri prezint interes segregaia carbonului i a
elementelor nsoitoare duntoare: sulful i fosforul.
Segregaia carbonului se evideniaz prin atac cu reactivul nital 5%. Zonele mai
bogate n carbon apar mai ntunecate (fig.3.10).
Cu ajutorul amprentei Baumann se fixeaz pe hrtie fotografic segregaia sulfului,
conform STAS 7839-67.
Hrtia fotografic cu bromur de argint, de tip contrast, subire, mat, se introduce
pentru 2 minute ntr-o soluie de 5% H
2
SO
4
n ap distilat. Se scoate, se scurge i se
ndeprteaz excesul de acid prin tamponare cu hrtie de filtru. Se aeaz pe o suprafa
plan cu faa gelatinoas deasupra.

EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

102


Tabel 3.1. Reactivi pentru analiza macroscopic (STAS 11961-83)
Nr.
Crt
Reactiv Conditii de atac Utilizari
1 BAUMANN
A:H
2
SO
4
(1.84) 2-
5%
Ap distilat
rest
B: Tiosulfat Na:
200g
Metabisulfat Na:
38g
Ap
1 l
Hrtia fotografic este
imersionat 2 min. n soluia A,
dup care se aeaz n contact
cu suprafaa probei 30s-5min.
Apoi se spal, se fixeaz 5min.
n soluia B i se spal 15 min.
cu curent de ap.
Pune n eviden segregaia
sulfului
2 OBERHOFFER
Clorur cupric
1g
Clorur stanoas
0,5g
Clorur feric
30ml
HCl (1,19)
50ml
Ap distilat
520ml
Alcool etilic
500ml
Proba lustruit este imersat n
soluie pn la acoperirea cu
un strat rou de cupru. Dup
atac se spal cu alcool i puin
HCl.
Pune n eviden segregaia
fosforului. In cmp luminos,
zonele bogate n P apar
galbene strlucitoare pe fond
ntunecat, mat. n lumina
oblic efectul este invers.
3 HEYN
Clorur cupric amoniacal
Durata de atac 1-5 min. Cuprul
depus se nltur cu un tampon
Pune n evident segregaia P
(zone cafenii) si C (zone
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

103
10g
Ap distilat
120ml
sub jet de ap. negre)
4 FRY nr. 4
Clorur cupric
90g
HCl (1.19)
120ml
Ap distilat
100ml
nclzirea probei 5-30 min. la
200-250 C lustruire si atac prin
tergere. Splare n alcool sau
soluie HCl 1:1 pt. nlturarea
cuprului.
Pune n eviden linii de
alunecare i urme de
deformare n oeluri cu %C
sczut.
5 IATEVICI
HCl
3ml
H
2
SO
4
12ml
Ap distilat
50ml
Temperatura 72-82 C, timp de
atac 15-45 min.
Pune n eviden orientarea
fibrelor, segregaii, poroziti,
incluziuni, strat durificat, pete
moi la clire, la oeluri, inclusiv
inoxidabil.
6 NITAL
HNO
3
(1.4)
5ml
Alcool etilic 95
ml
Durata de atac 1-5 min. apoi
proba se intoduce 1s n soluie
10% HCl
Adncimea stratului cementat,
decarburat, clit superficial,
suduri.
7 ADLER
Clorur cupric amoniacal
3g
Clorur feric
15g
HCl
(1.19) 50cm
Ap distilat
25ml
Se dizolv clorura cupric, apoi
HCl i la urm clorura feric.
Atacul se face prin imersionare,
apoi splare i uscare in aer
cald
Pune n eviden structura i
zona influenat termic a
custurilor sudate din oeluri
carbon i slab aliate.
8 NISSNER
A: HCl (1.19)
B: Ferocianuri de K 20%
Hrtia fotografic mbibat n
soluia A se aplic pe proba
lustruit, 2min. Developarea
hrtiei n sol. B, 10 min.
Pune n eviden oxizii care
se coloreaz albastru nchis
9 HNO
3
(1.4) 4-
10ml
Ap distilat 90-
96 ml

Imersionare sau tamponare 5-
25 min. la 20 C
Evideniaz sufluri, poroziti,
fisuri, fulgi, suduri de oeluri
carbon i slab aliate
10 HCl (1.19)
100ml
Ap
100ml
Durata de atac 5-45 min. la 60-
80 C
Macroanaliza semifabricatelor
din oel. Excepie cele
austenitice, feritice.
EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

104
11 HCl (1.19)
100ml
HNO
3
(1.4) 10 sau
100ml
Ap
100ml
Durata de atac:5-10min. la 60-
70

Macrostructura la oeluri
rezistente la coroziune i
refractare, oeluri austenitice
12 HCl (1.19)
40ml
HNO
3
(1.4)
40ml
HF
10ml
Ap distilat
150ml
Durata de atac:1-10 min. la
20 C
Macrostructura n aliaje de Al
13 Clorur feric
10ml
HCl (1.19)
30ml
Ap distilat
120ml
Durata de atac:2-5 min. la
20 C
Macrostructura n aliaje de Cu
i Ni.
Proba bine lefuit, se degreseaz n alcool i se usuc, dup care se aplic pe
faa sensibil a hrtiei, 30 secunde 5minute, evitnd alunecarea. Dup ridicarea probei,
hrtia fotografic se spal n curent de ap, se introduce n soluia de fixare 5 min., dup
care se spal 15 min. n curent de ap i apoi se usuc pe o suprafa plan.
Reaciile care au loc sunt urmtoarele:
FeS+ H
2
SO
4
=FeSO
4
+H
2
S
MnS+ H
2
SO
4
=MnSO
4
+H
2
S
H
2
S+2AgBr=Ag
2
S+2HBr
Segregaia sulfului este evideniat de sulfura de argint, sub form de pete i
puncte de culoare cafenie nchis (fig. 3.11).
Dac proba are dimensiuni mari, se aplic hrtia fotografic pe suprafaa probei.
Bulele de gaz care se formeaz ntre hrtie i prob se elimin cu un rulou de cauciuc sau
cu o baghet de sticl. n caz contrar, pe hrtie apar pete luminoase ce denatureaz
analiza.
Dac este necesar executarea mai multor amprente pe aceast prob, se impune
ndeprtarea unui strat de minimum 0.5 mm dup fiecare amprent.
Reactivul Oberhoffer pune n eviden segregaia fosforului. Proba lustruit este
imersat n soluia de atac (compoziia din tabel 3.1) pn la acoperirea cu un strat rou
de cupru, apoi este splat n alcool. Privit n lumin perpendicular, prezint zonele
bogate n fosfor galbene strlucitoare pe fond ntunecat (fig.3.12).
Reactivul Heyn, evideniaz segregaia carbonului i fosforului. Dup atac 15 min.,
proba se spal pentru nlturarea cuprului depus. Zonele bogate n carbon apar
ntunecate, cele bogate n fosfor apar cafenii. Se recomand pentru oeluri cu mai puin de
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

105
0.6%C. La creterea coninutului de C, depunerea de cupru se ndeprteaz greu de pe
prob.
b) Discontinuiti de material
Pentru determinarea defectelor care perturb continuitatea materialului semifabricat
se folosesc reactivi cu aciune profund , conform STAS 11961-83 (tabel 3.1). Se pun
astfel n eviden poroziti, segregaii, sufluri, solidificare n straturi, benzi de culoare
deschis, fulgi, etc.




c) Identificarea procedeului de fabricaie

Neomogenitatea chimic relevat prin macroanaliz permite identificarea
procedeului de fabricaie al pieselor: turnare, forjare sau achiere. Piesa turnat prezint
structur dendritic specific. Prin atac cu o soluie 510% acid azotic n ap distilat se
relev structura dendritic de turnare n oelurile cu coninut redus n carbon, elemente de
aliere i elemente duntoare. Zonele axiale ale dendritelor sunt atacate mai intens dect
cele interaxiale (fig. 3.13).

EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

106

Oelul forjat sau laminat relev o structur fibroas, ca urmare a atacrii mai intense
a zonelor cu segregaii i incluziunilor alungite dup direcia de curgere a metalului.
Piesele obinute prin deformare plastic au continuitatea fibrajului (fig.3.14.a) spre
deosebire de cele achiate la care fibrajul este ntrerupt (fig.3.14.b). Deoarece rezistena,
plasticitatea, tenacitatea sunt ridicate de-a lungul fibrelor, se urmrete ca la piesele
solidificate dinamic cu sarcini mari (arbori cotii, biele, crlige de macara, etc.) tensiunile
maxime din exploatare s fie de-a lungul fibrelor.
d).Mrimea stratului tratat termic sau termochimic
Prin atac cu nital 5% se evideniaz mrimea stratului carburat (fig. 3.15.a) de
culoare mai ntunecat, a stratului decarburat (fig.3.15.b) sau a stratului clit superficial
(fig.3.15.c) de culoare mai deschis fa de miezul piesei.
e).Calitatea mbinrilor sudate
Epruvete cu seciune transversal sau longitudinal a cordonului de sudur,
lefuite, sunt introduse n reactiv Adler (tabel 3.1) sau nital 510% pn la apariia imaginii
custurii. Se difereniaz materialul de baz, zona influenat termic la sudare, cordonul
de sudur i eventuale defecte: pori, fisuri, etc. La sudarea n mai multe straturi se
observ ordinea de depunere a acestora (fig.3.16).

1.3. Condiii de lucru
-Metoda de lucru: analiza macroscopic;
-Aparatur: lup, stereomicroscop, magnet permanent;
-Reactivi: pentru amprenta Baumann, Nital 5%, soluie Cu
2
SO
4
;
-Materiale: hrtie metalografic de granulaie 200-400, hrtie fotografic, hrtie de
filtru;
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

107
-Probe macro: oel turnat, forjat, laminat, sudat, carburat, clit superficial;
-Probe fractografice: epruvete de traciune, rezilien, torsiune, piese carburate
rupte prin oboseal, lingouri.
3.4. Mod de lucru
Se vor analiza macroscopic suprafeele de rupere i de solidificare de la probele
existente n laborator.
Se vor determina experimental: segregaia sulfului, i carbonului, calitatea sudurilor
i a tratamentelor termice (clire superficial, decarburare) i termochimice (carburare).

2. Analiza microscopica
2.1 Microscopia Roentgen

Pentru a obine informaii structurale ct mai detaliate i mai profunde despre
obiectele (probele) cercetate se utilizeaz pe larg microscopia Roentgen, bazat pe
difracia radiaiei Roentgen (radiaiei X). Abaterea n cristale a unitilor structurale de la
repartizarea lor periodic duce la schimbarea direciei i a intensitii radiaiei X care, fiind
nregistrat pe filmul fotografic, red topograma obiectului de investigare. Metodele
microscopice Roentgen permit studierea att a defectelor individuale, ct i a defectelor n
ansamblu. Ele se folosesc pe larg pentru investigarea monocristalelor semiconductoare cu
densitatea dislocaiilor relativ mic
2 6
10 cm
disl

2.1.1. Metoda Lang
Dac cristalul va fi supus aciunii unui fascicul de radiaie Roentgen paralel i
monocromatic de seciune suficient de mare astfel, nct cristalul se va afla n poziia
reflectoare, atunci "reflexul" va avea dimensiunile acestuia i va reda structura lui
interioar. n cazul surselor obinuite de radiaie Roentgen i cristalelor comparativ subiri
pentru care se respect condiia x < 1, unde este coeficientul liniar de atenuare, x
grosimea cristalului, Lang a propus urmtorul montaj care poart denumirea de metoda
Lang. Raza fin monocromatic de radiaie Roentgen (fig.2.1.) cade pe cristalul fixat n
poziia reflectoare. Pentru obinerea unei rezoluii maxime n direcia Bragg, care este
determinat de setul lungimilor de und din componena radiaiei S, se utilizeaz numai
componenta K
a1
. Separarea componentei K
a2
se realizeaz prin instalarea n calea
fasciculului primar a paravanului S
1
cu o fant ngust. Fanta n paravanul S
2
, care
servete ca protecie pentru pelicula fotografic contra fasciculului primar, las s treac
numai fasciculul difractat. n scopul obinerii imaginii a ntregului cristal, acestuia i
concomitent peliculei fotografice li se comunic o micare de du-te-vino (baleiaj) n direcia
paralel cu suprafaa cristalului (fig.68). Astfel se obine imaginea
microroentgenograma (topograma) ntregului cristal.
n cazul cnd cristalul conine o imperfeciune, de exemplu dislocaia, atunci la
trecerea undei prin ea va aprea un defazaj n raport cu unda ce nu ntlnete
imperfeciunea. Asemenea contrast de faz modific imaginea locului respectiv pe
topogram (pelicul fotografic) n raport cu alte regiuni ale cristalului.
EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

108
n metoda Lang sectoarele deformate ale reelei se manifest ca regiuni de
intensitate majorat (pe pelicula fotografic regiunile de nnegrire majorat).

Fig.2.1. Metoda topografiei Roentgen dup Lan
Majorarea intensitii razelor reflectate de sectoarele deformate ale reelei se
explic prin reducerea influenei extinciei primare. n vecintatea liniilor de dislocaii
reeaua spaial deformat se comport asemntor cristalului de mozaic ideal, n care
fenomenul extinciei primare lipsete i din acest motiv razele reflectate de aceast
regiune sunt mai intense n raport cu razele reflectate de alte regiuni mai perfecte.
Contrastul de acest tip se numete contrast de extincie.
Contrastul maxim al dislocaiilor (nnegrire maxim) pe microroengenograme de
difracie (topograme) se obine la reflexie de la cele mai deformate plane, adic cnd
vectorul Burgers b este perpendicular pe planul reflector. n cazul acesta se respect
condiia:
1
hkl
H b
unde H
hkl
este vectorul reelei reciproce a planului reflector (reflexia utilizat). La reflexiile
pe planele n care se afl vectorul Burgers, cnd se respect condiia
0
hkl
H b
contrastul dislocaiilor nu se observ. Considerentele menionate se folosesc la
determinarea vectorului Burgers al dislocaiilor: se obin topograme pentru cteva
reflexii. Topograma cu contrastul maxim se obine la reflexia pe planul, vectorul reelei
reciproce al creia coincide cu direcia vectorului Burgers. Pentru a ne imagina aranjarea
spaial a dislocaiilor este necesar s se obin topograme ale reflexiilor de tipul hkl i h k
l .
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

109

Fig. 2.2. Topografia siliciului deformat, obinut dup
metoda lui Lang
Prin metoda Lang dislocaiile individuale pot fi evideniate numai n cazul cnd
densitatea acestora n prob nu depete 10
6
cm
-2
.
n fig.2.2 este prezentat un exemplu de structur cu dislocaii evideniate prin
metoda Lang. Pe topogram se observ imaginea izvorului de dislocaii (izvorul Frank-
Read) n cristalul de siliciu deformat prin rsucire. n ultimul timp la aplicarea metodei Lang
n calitate de surs se utilizeaz radiaia Roentgen sincrotron ce contribuie la o reducere
considerabil a timpului de expoziie (secunde) i permite studiul proceselor modificrii
structurii reale la deformare, tranziiilor de faz, tratrii cu radiaii, diverselor tratri
tehnologice ale cristalelor.
2.1.2. Metoda Borrmann
Pentru studierea imperfeciunilor n cristale cu absorbie sporit (x>>1, unde este
coeficientul de atenuare al radiaiei X, x grosimea cristalului) o larg utilizare a cptat
una dintre cele mai sensibile metode ale microroentgenogafiei de difracie metoda
Borrmann.
Metoda Borrmann se bazeaz pe efectul de trecere anomal a fascicului
monocromatic Roentgen prin cristal, dac acesta se afl n poziia reflectoare.
Efectul se explic prin faptul c fasciculul monocromatic incident pe cristal formeaz n
interiorul acestuia unde cvasistaionare A i B defazate cu (fig.2.3). Dac fasciculul
primar S
o
formeaz cu setul de plane (hkl) ale cristalului unghiul Bragg , atunci pentru
una dintre unde A ventrele se vor afla ntre plane (nodurile vor coincide cu planele
atomice), iar pentru alt und B ventrele vor coincide cu planele reflectoare (nodurile se
vor afla ntre plane). Ca rezultat va avea loc trecerea anomal a primei unde A i absorbia
puternic (anomal) a celei de-a doua unde B. Prima
und aproape c nu se va absorbi. La o grosime suficient a cristalului unda a doua va
suferi o absorbie complet,iarr prima und va trece fr absorbie. La ieirea din cristal
prima und se va diviza n dou fascicule: transmis i difractat.
Formarea n cristalul suficient de gros a dou cmpuri de und i absorbia unui
cmp se explic prin teoria dinamic a difraciei. n cristalul subire aceste cmpuri vor
interfera i fenomenul trecerii anomale prin acesta a razelor Roentgen (efectul Borrmann)
nu se va observa.
EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

110
Efectul Borrmann mai poate fi explicat prin analogia cu fenomenul de canelare a
particulelor. S ne imaginm c cristalul este tiat dup planul reflector astfel nct ntre
ambele jumti se formeaz o fisur (fig. 2.4). Dac fasciculul nimerete n aceast fisur
sub unghiul Bragg, atunci n urma reflexiilor succesive pe ambele jumti ale cristalului,
care pot fi considerate nite oglinzi, fasciculul se va deplasa i va iei n dou direcii ca
fascicule de intensiti egale aproape fr pierderi de energie.

Fig. 2.3.Modelul fizic al efectului Borrmann
Orice distorsiuni ale reelei, care conduc la devierea elementelor acesteia n raport
cu planele reflectoare, de exemplu, existena dislocaiilor reduc efectul anomal de trecere
a radiaiei Roentgen. Deci,aceste defecte se vor traduce pe microroentgenograme prin
apariia domeniilor de intensitate redus. Existena dislocaiilor deregleaz structura
cristalin (apar extraplane) i ca urmare are loc majorarea local a coeficientului de
absorbie. Pe microroentgenogame liniile de dislocaii se vor obine mai luminoase n
raport cu fondul.

Fig. 2.4. Ilustraia analogiei dintre canalizarea particulei i efectul
Borrmann.

ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

111
n fig.2.5 este prezentat schema de fotografiere prin metoda Borrmann. Proba se
va fixa n poziia reflectoare pentru planele normale la suprafaa acesteia. Filmul se va
instala sau distana de la cristal sau n imediata lui suprafa. n primul caz se vor observa
separat fasciculele transmise i difractate, n al doilea caz - aceste fascicule se vor
suprapune. n faa filmului se poate instala un paravan astfel nct pe film se va nregistra
numai fasciculul transmis.

Fig.2.5. Metoda topografiei Roentgen dup Borrmann

n scopul studierii ntregului volum al cristalului acesta este deplasat meninnd
neschimbat orientaia lui n raport cu fasciculul primar.
Efectul Borrmann este una dintre cele mai sensibile metode a
microroentgenografiei de difracie i se utilizeaz pe larg la evidenierea dislocaiilor,
segregaiilor i impuritilor care distorsioneaz reeaua cristalului i creeaz domenii de
nalte tensiuni locale. Gradul de relevare a dislocaiilor prin metoda Borrmann depinde att
de densitatea acestora n cristal, care nu trebuie s depeasc 10
6
cm
-2
, ct i de poziia
vectorului Burgers. Contrastul dislocaiilor va fi maxim atunci cnd vectorul Burgers al
acestora va fii perpendicular pe planul reflector. Direciile vectorului Burgers al dislocaiilor
se stabilesc prin compararea microroentgenogramelor
obinute pe diferite reflexii ca i n metoda Lang.
2.2. Microscopia electronica
4.2.1. Bazele fizice ale microscopiei electronice
n "Microscopia optic" cea mai fin structur poate fi redat exact cu ajutorul
microscopului optic numai n cazurile cnd dimensiunile elementelor structurale nu
depesc mrimea k/A, unde - lungimea de und a radiaiei utilizate pentru iluminarea
obiectului; k - constant; A apertura numeric a obiectivului. Din expresia pentru
rezoluia limit rezult cele dou ci de mbuntire a acesteia: sau se micoreaz
lungimea de und a radiaiei utilizate, sau se mrete apertura numeric. n microscopul
optic rezoluia limit este de ordinul 2000 , deoarece lungimea de und minim pentru
lumina vizibil constituie aproximativ 4000 , iar apertura numeric maxim atinge
valoarea 1,4.
EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

112
n anul 1923 Louis de Broglie afirm c orice particul n micare are i o
comportare ondulatorie. Ulterior aceast ipotez a fost confirmat prin numeroase
experimente. S-a stabilit c legtura dintre lungimea de und asociat i impulsul p al
particulei este dat de relaia:
p
h

unde h - constanta lui Planck.
Pentru particulele ncrcate, accelerate la o diferen de potenial U, este raional
s se exprime impulsul p prin diferena de potenial. Totodat este necesar s se
analizeze dou cazuri.
Nerelativist, cnd viteza particulei ncrcate v<<c (c viteza luminii n vid). Atunci
2 / 1
0
2 eU m p
Dac n formula lui de Broglie constantele h, m0 i e se nlocuiesc cu valorile
numerice respective pentru electron, atunci se obine expresia:
2 / 1
/ 26 , 12 U A
unde lungimea de und asociat electronului n ; U tensiunea acceleratoare n V.
Relativist, cnd viteza particulei ncrcate v < c. Atunci
2 / 1
2
0
2
2
0
/ m c eU m c p
Pentru electronul relativist se obine
2 / 1
6
) 10 9788 , 0 1 ( / 26 , 12 U U A
Factorul din parantezele rotunde reprezint corecia relativist. Ea trebuie luat n
considerare atunci cnd valoarea tensiunii acceleratoare U devine apropiat de valoarea
106V.
Din formulele obinute se vede c lungimea de und asociat electronului n
micare se micoreaz cu mrirea tensiunii acceleratoare. Prin urmare, capacitatea de
rezoluie poate fi mrit utiliznd electroni accelerai pentru formarea imaginii obiectelor.
Aparatele, n care se utilizeaz electronii accelerai pentru studiul structurii corpurilor, se
numesc microscoape electronice. Dup principiul de construcie i funcionare ele se
clasific n cteva tipuri:
microscoape electronice de transmisie (MET);
microscoape electronice cu baleiaj (MEB);
microscoape electronice cu reflexie (MER);
microscoape electronice cu emisie (MEE).

Principalul avantaj al microscopului electronic fa de cel optic este nalta capacitate de
rezoluie, n MET contemporane cu tensiunea acceleratoare de civa MV se atinge 1.

2.2.2. Principiul de funcionare al microscopului electronic de transmisie
Principalele pri componente ale microscopului electronicde transmisie sunt:
sistemul de iluminare;
sistemul de proiecie;
sistemul de nregistrare;
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

113
sistemul de nalt tensiune;
sistemul de vid.

n fig.2.6 este prezentat schema optic pentru formarea imaginii obiectului n MET cu
trei trepte de mrire (n regimul de observaie a microstructurii obiectului).
Proba AB, studiat n fasciculul electronic transmis, este plasat n apropierea lentilei
electromagnetice obiectiv 4. Imaginea mrit A'B', format de obiectiv se numete prima
imagine intermediar. Ea, servete n calitate de obiect pentru lentila electromagnetic
intermediar 6, care formeaz a doua imagine intermediar A"B". Apoi imaginea A"B" este
mrit de lentila electromagnetic proiector 7, care formeaz imaginea final A B a
obiectului AB pe ecranul fluorescent sau pe placa fotografic 8. Imaginea final mrit
poate fi modificat reglnd curentul lentilei intermediare sau al lentilei proiector.

Fig.2.6. Schema de principiu a microscopului electronic prin
transmisie: a regim de formare a imaginii; b regim de
microdifracie; 1 surs de electroni; 2 lentil-condensor;
3 obiect; 4 lentil-obiectiv; 5 diafragm colectoare;
6 lentil intermediar; 7 lentil de proiectare;
8 ecran fluorescent sau plac fotografic

n MET contrastul imaginii este condiionat de intensitatea undelor asociate electronilor
reflectai conform legii lui Bragg, pe diferite sectoare ale probei-folie de studiu. Cu ajutorul
diafragmei apertur a lentilei obiectiv electronii reflectai sunt reinui i acestea nu
particip la formarea imaginii. n acest caz imaginea este format numai de fasciculul
EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

114
direct i de electronii mprtiai neelastic la unghiuri mici. Aceast form de reprezentare
a imaginii se numete imagine n cmp luminos,iar contrastul prin difracie.
Dac prin nclinaia sistemului de iluminare sau prin deplasarea respectiv a diafragmei
apertur,fasciculul difractat (reflectat conform legii lui Bragg) este dirijat pe axa lentilei
obiectiv, atunci imaginea obiectului va fi format de razele reflectate. Aa form de
reprezentare a imaginii se numete imagine n cmp ntunecat.
Obinerea n MET a imaginilor n cmp luminos i n cmp ntunecat se completeaz
una pe alta i permite a judeca cu o mare certitudine despre microstructura obiectului
studiat.
n MET poate fi obinut tabloul de difracie de la sectoarele mici ale obiectului
microdifractograma. Pentru aceasta trebuie de micorat puterea optic a lentilei
intermediare i de fcut t posibil ca planul focal posterior al lentilei obiectiv s fiet focalizat
pe ecran. n acest caz pe ecran se va observa tabloul de difracie a electronilor de la
sectorul translucid al probei, plasat n planul de formare a primei imagini intermediare
(vezi n fig.73 mersul razelor n MET n regimul microdifraciei).
Obinnd microdifractograma, se poate de legat particularitile structurii probei,
evideniate pe microfotografie, cu cristalografia acesteia. Afar de aceasta,
microdifractograma poate fi utilizat pentru identificarea fazelor n proba cu structur
eterogen.
2.2.3. Principiul de funcionare al microscopului electronic cu baleiaj
La interaciunea fasciculului de electroni cu proba - int apar numeroase efecte
fizice care servesc ca surse de diverse tipuri de semnale. La ele se refer radiaia X,
catodoluminiscena, electronii reflectai, absorbii, secundari, transmii i Auger, curentul
indus de sonda electronic i tensiunea electromotoare indus de sarcin.
Semnalele formate de detectoarele respective se amplific i se utilizeaz la
dirijarea strlucirii ecranului tubului catodic (TC). Pentru fiecare punct al probei exist un
punct pe ecranull TC strlucirea cruia este condiionat de semnalul detectorului obinut
ca rezultat al interaciei sondei electronice cu proba.
Dac interacia ar fi aceeai n toate punctele probei, atunci pe ecranul TC ar fi o
strlucire uniform, n realitate, din cauza variaiei proprietilor locale ale probei, interacia
fasciculului electronic n diferite locuri ale probei este diferit.
Dac n dou puncte P
1
i P
2
semnalul S este diferit dup valoare, atunci spunem
c exist contrast ntre imaginile acestor puncte, iar msura contrastului este mrimea
med med
S S S S S C / /
2 1

unde S
1
i S
2
sunt semnalele n punctele 1 i 2; S
med
este nivelul semnalului mediat pentru
toate punctele.
Asupra caracterului de interacie al fascicului cu proba pot influena topografia,
componena chimic, structura cristalin, cmpul electric i magnetic i alte proprieti ale
probei. Deoarece caracterul de interacie variaz de la un punct la alt punct al suprafeei
probei semnalele formate de detectori, prin urmare i strlucirea punctelor respective pe
ecranul TC, de asemenea vor varia. Asupra formrii imaginii influeneaz fiecare semnal
de interacie al electronilor cu proba. Aceste semnale n microscopia electronic cu baleiaj
se utilizeaz pentru obinerea informaiei despre componena calitativ i cantitativ a
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

115
substanei, despre proprietile fizice, fizico chimice i cristalochimice ale acesteia.
Unele semnale (emisia electronic secundar, catodoluminiscena, curentul indus de
sonda electronic) se utilizeaz pentru studiul dispozitivelor cu semiconductori n
regimurile static i dinamic.
Principiul de funcionare a MEB este prezentat n schema bloc din fig.2.7.
Fasciculul de electroni este format de tunul electronic 1. La ieirea din tunul electronic
diametrul minim al fasciculului, n cazul utilizrii catodului de volfram de forma sgeii
(termoemitor), constituie aproximativ 10 m, iar n cazul utilizrii emiterului autoelectronic
(de forma unui ac) - mai puin de 10 m. Apoi fasciculul electronic cu energia n intervalul
0,1 50 keV (n dependen de tensiunea acceleratoare) este focalizat cu una dintre cele
dou lentile condensor 2, este deflectat n rastru cu ajutorul a dou perechi de bobine
deviatoare 3, prin care de la un generator 4 se avanseaz curent n form de dini de
ferestru i n cele din urm este focalizat n forma de sond de diametru mic (de obicei
mai mic de 10 nm) pe proba 6 de ctre lentila obiectiv 5. Imaginea obiectului va fi obinut
n regimul electronilor secundari 7 sau cu ajutorul electronilor incideni reflectai 8.
Electronii secundari smuli din prob sau electronii incideni reflectai nimeresc n
cmpul electric al colectorilor 13 i 14 respectiv i sunt captai de acetia. Fiind amplificat
de amplificatorul 21, videosemnalul este avansat la modulatorul TC 22 cu o deflectare
sincron a fasciculului de ctre bobinele deviatoare 3 alimentate cu curent de la
generatorul 4.
Semnalul video n prealabil (pn la avansarea la TC) poate fi prelucrat de un
dispozitiv videocontrol al MEB pentru majorarea raportului semnal/zgomot al contrastului
imaginii, nregistrarea cadrului etc. n MEB moderne dirijarea fasciculului se realizeaz cu
ajutorul computerului. Sonda electronic, fiind fixat pe o durat mic de timp, pe o
regiune mic a suprafeei probei, prin salt este deplasat pe o alt regiune.
Particularitatea caracteristic a imaginilor obinute n MEB, n comparaie cu cele
optice, este marea adncime a claritii: aproximativ cu dou ordine de mrime mai mare
dect ntr-un microscop optic obinuit. Acest efect "pozitiv" este condiionat de cel "negativ"
- de marea aberaie sferic a lentilelor electromagnetice,care micoreaz apertura
unghiular a fasciculului electronic.
EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

116

Fig.2.7. Schema-bloc a coloanei i formarea imaginii n MEB:
1 tun electronic; 2 lentile-condensor; 3 bobine deviatoare;
4 generator de deflectare; 5 lentil-obiectiv; 6 prob;
7 electroni secundari; 8 electroni primari reflectai;
9 electroni transmii; 10 electroni absorbii; 11 luminiscen
catodic; 12 radiaie X; 13,14,15 detectori de electroni secundari,
primari reflectai i de radiaie X; 16 detector de TEM indus de
sarcin; 17 rezonator de ultranalt frecven; 18 nregistrator
DLTS; 19 piezotransformator; 20 fotomultiplicator;
21 videoamplificator; 22 tub catodic

Formarea imaginii n MEB "punct cu punct" (dimensiunea "punctului" aproximativ
corespunde diametrului sondei electronice pe prob) esenial simplific interpretarea
imaginilor obinute n acesta fa de cele obinute n MET, care se formeaz, practic, n
acelai moment cu interferena fasciculelor electronice, transmise prin diferite "puncte" ale
probei. Transformarea informaiei despre starea suprafeei probei n cod temporal permite
utilizarea diverselor metode radiotehnice la prelucrarea videosemnalului: de a ngusta sau
a lrgi banda de transmisiune, de a mbunti raportul semnal/zgomot, de a realiza
transformarea neliniar a semnalului (aa-numita corecia Y) pentru mbuntirea
contrastului imaginii etc.
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

117
Datorit acestor particulariti de obinere a videosemnalului i de formare a
imaginii MEB au o larg utilizare n diverse domenii ale tiinei i tehnicii contemporane.
Una dintre importantele performane ale MEB reprezint numeroasele moduri de
obinere a informaiei despre prob, fiind rezultatul varietilor mecanismelor fizice de
interacie a fasciculului electronic cu corpul solid (fig.74).
2.3. Microscopia tunel cu baleiaj
Microscopia tunel cu baleiaj (MTB) a fost fondat n anul 1981 de ctre laureaii
premiului Nobel G. Binnig i G. Rohrer. Ea ofer posibilitatea de a analiza atom cu atom,
adic de a traversa periodic rnd cu rnd ntregul sector supus examinrii al obiectului de
studiu. Astfel s-au realizat progrese n vederea cunoaterii lumii atomilor separai n orice
substan fr a o distruge.
Principiul de funcionare al MTB comparativ este simplu: ctre suprafaa de studiu
se apropie un ac pn cnd ntre prob i ac nu se va crea un curent de tunel (fig. 2.8). Cu
ajutorul
computerului se dirijeaz deplasarea acului, meninndu-se constant distana ac - prob
sau curentul de tunel. Raza de curbur a vrfului ascuit (de obicei din volfram) este mai
mic de 1000 , spaiul de lucru (de la vrful acului pn la suprafaa examinat a probei)
este de circa 3 , tensiunea de lucru ntre ac i prob este aproximativ de 0,1... 10 V,
curentul de tunel, de obicei, se afl n limitele 0,1... 10 nA i variaz aproximativ cu ordinul
de mrime la variaia spaiului de lucru cu 1 .

Fig.2.8. Schema-bloc a MTB: 1 prob; 2 ac; 3
computer; 4, 5, 6 convertizoare analoge-digitale


Curentul de tunel n fond "cordon" ntre cei mai apropiai atomi ai acului i probei,
fapt ce conduce la o rezoluie a MTB "pe orizontal" (n planul suprafeei examinate)de
EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

118
ordinull dimensiunilor atomice circa 1 . Datorit dependenei exponeniale a
probabilitii de tunelare de distana ac-prob r
U m h r W
0
2 / 2 exp
unde m0 masa electronului; h constanta lui Planck; U nlimea barierei de potenial,
rezoluia MTB "pe vertical" atinge 10
-2
. Decicu ajutorul acestui aparat se poate localiza
un volum de aproximativ 10
-2

3
.
Inventarea microscopului tunel cu baleiaj a lrgit esenial limitele de utilizare a
microscopiei cu baleiaj. Din punctul de vedere al aplicaiilor n domeniul fizicii corpului solid
i al microelectronicii cu semiconductori MTB prezint interes prin faptul c posed un
nalt grad de rezoluie (pn la 1 ) i poate funciona att n vid ct i n medii lichide i
gazoase, inclusiv poate servi drept surs de informaie despre microrelieful suprafeei
examinate, spectrele strilorr electronice, investigarea proceselor de cretere a peliculelor
i de generare a defectelor etc. Acest aparat poate fi combinat cu MEB astfel nct ambele
se completeaz unul pe altul. Dac MTB se utilizeaz nu n regimul curentului de tunel, ci
n regimul emisiei autoelectronice, atunci acesta poate fi transformat ntr-un analog al MEB
cu energii mici ale fasciculului: la energia de 15 eV rezoluia unui astfel de "MEB fr
lentile" este aproximativ de 30 . Pot fi studiate de asemenea oscilaiile curentului ce apar
n spaiul ac-prob, fiind similare cu undele electronice staionare, emisia fotonilor,
mecanismele de excitare ale plasmonilor etc.
MTB face posibil trasarea desenelor n diapazonul de dimensiuni nanometrice,
adic crearea nanotehnologiei.
2.4. Microscopia de for atomic
O varietate a MTB prezint microscopul de for atomic (MFA). Acesta
nregistreaz fore de interaciune Van der Waals foarte mici (mai mici de 1nN) ntre ac i
prob. Aceste fore descresc cu distana r proporional cu r-8 (pentru doi atomi separai).
Rezoluiile MFA i MTB sunt de acelai ordin de mrime. Principiul de funcionare a MFA
este ilustrat n fig.2.9: devierea microresortului (microconsolei) pe care este fixat acul-
detector al interaciunii de for (aici - granul de diamant), este controlat dup curentul
de tunel ntre cel de-al doilea ac i partea opus a microresortului (adic regimul obinuit
de funcionare a MFA). Pentru controlul poziiei microresortului se mai utilizeaz metodele
interferometriei laser i nregistrarea variaiilor capacitii. Microresorturile, n majoritatea
cazurilor, sunt confecionate dintr-un, strat de SiO
2
pe Si prin metoda microtehnologiei
care asigur o rezoluie mai bun de 2,5 .
Spre deosebire de MTB, cu ajutorul cruia pot fi studiate numai probe cu
conductivitate sporit, MFA ofer posibilitatea de a studia i obiecte dielectrice. Dac acul-
detector de for este confecionat dintr un material feromagnetic, atunci MFA permite a
studia i structura magnetic a probelor, n special a pereilor de domenii. Deosebirea
fundamental de principiu dintre MTB i MFA const n aceea c MTB red convoluia
electronic i topografic a structurii probei, iar MFA - o oarecare sum de poziii ale
atomilor, legturilor acestora i interaciunii cu acul de baleiaj.
Afar de MFA deja sunt elaborate i alte varieti ale MTB: aparate cu surse ionice,
ascuiul crora este confecionat din metal lichid, cu micropipete de baleiaj, cu
nregistrarea undelor termice etc., rezoluia crora este apropiat de rezoluia MTB. MTB
ANALIZE MACRO-MICROSCOPICE

119
i MFA se utilizeaz la studiul undelor densitii de sarcin n cristale, structuriii
supraconductorilor, la detectarea frecvenelor optice innd contt de caracterul neliniar al
caracteristicii tensiune-curent a contactului ascui-suprafa de examinare, la
nregistrarea diferitelor radiaii (spectroscopia izocromatic, fluorescent i luminiscent).

Fig.2.9. Schema microscopului de for atomic: 1 proba; 2
ascuiul MFA; 3 microresort sensibil; 4 ascuiul MTB pentru
controlul poziiei microresortului; 5 piezoelement pentru punerea n funciune a
ascuiului MFA; 6, 7 piezoanalizoare ale MFA i MTB;
8 garnitura amortizor; 9 carcas de aluminiu

MTB se combin cu MEB i cu alte aparate i instalaii de supravid, cu microscoape
ionice cu efect de cmp, cu microscoape de reflexie, cu instalaii pentru difracia
electronilor leni etc. MFA poate fi utilizat la studiul proprietilor de suprafa ale
structurilor dielectrice i la msurarea potenialelor. Sensibilitatea accesibil la msurarea
capacitilor este de 10-22 F. Se disting incluziuni ale dielectricului pe substratul de siliciu
i se msoar distribuia potenialelor pe jonciunea p-n cu o rezoluie submicronic. Se
detecteaz pn i salturile de potenial de ordinul 1 V condiionate de electronii
mprtiai la graniele granulelor.
Inventarea microscopului tunel cu baleiaj a deschis o nou etapn dezvoltarea
tiinei pe scar mondial. Au luat natere cele maimoderne ramuri ale tiinelor
tehnologice i mai nti de toate nanotehnologia, care ofer posibilitatea de a elabora
instalaii nanotehnologice i de a ncepe crearea din atomi separai a unor structuri cu
muli atomi, care este imposibil s fie obinute prin metode microtehnologice. Au fost
create primele nanoscoape, care ofer posibilitatea de a vedea i a nelege fenomene
necunoscute pn n prezent. Au fost puse bazele nanoelectronicii.



BIBLIOGRAFIE

1. Iuliu Pop, Mircea Crian. Fizica corpului solid i a semiconductorilor.
Editura Didactic i Pedagocic, Bucureti 1983.
2. B.K. Vaintein. Cristalografia modern. Vol 1. Editura
tiinific i Enciclopedic, Bucureti 1989.
EXPERTIZE N INGINERIA MECANIC

120
3. Kittel Ch. Introducere n fizica corpului solid. Editura
Tehnic, Bucureti 1972.
4. C. Pumnea, I. Dina, Fl. Sarescu, M. Dumitru, I. Niculescu.
Tehnici speciale de analiz fizico-chimic a materialelor
metalice. Editura tehnic, Bucureti 1988.
5. I. Sirotin, M. Sascolskaia. Fizica cristalelor. Editura tehnic,
Bucureti 1981.
6. C. Gheorghie. Controlul structurii fine a metalelor cu radiaii
X. Editura tehnic, Bucureti 1990.