02/04/2014

1
Francisco Assis Barros de Oliveira, Doutorando
assis.barros@hotmail.com
8128-5239
CONTROLE ESTATSTICO
DE PROCESSO - CEP
02/04/2014
2
02/04/2014
3
02/04/2014
4
02/04/2014
5
02/04/2014
6
02/04/2014
7
Estabelecendo Planos de Controle
1. Coloque o processo sob controle
22
44
2. Melhore a capabilidade do processo.
11
33
Capabilidade do Processo para Dados
Contnuos
Cp =
LSE - LIE
6
LIE (Limite Inferior de Especificao): Limite Inferior do Projeto
Capabilidade do processo: ndice da faixa permissvel do valor projetado em relao a variao
natural do processo (largura de 3 ou 6)
Cp: ndice de capabilidade ideal para processos com especificaes nos dois lados
Cpk: ndice de capabilidade que permite observar as diferenas entre a media do processo e o valor mdio
das especificaes
y : Mdia do processo
LIE LSE
LSE - LIE

LSE (Limite Superior de Especificao): Limite Superior do Projeto

O projetista deve determinar o LIE e o LSE
baseado nas necessidades dos clientes.
-
y - LIE
Cpk =
LSE - y
3
min
, 3
--
LIE LSE

LSE - y y - LIE
y
--
-
02/04/2014
8
Exerccio 1
Quando = 2.5, C
p
= 1.33. Para que o C
p
seja
igual a 2.0 e consequentemente melhorar o
desempenho do processo, qual valor o deve
assumir?
A mdia est na mesma
posio do centro das
especificaes
Melhorando o
desempenho do
processo
490 510 500
LIE LSE
=2.5
C
p
=2.00
C
p
=1.33
=?
y
Exerccio 1 - 1
C
p
=
6
LSE-LIE
2=
20
510
LSE
490
LIE
500
LSE-LIE
20
deve ser melhorado para 1.67
6
=1.67
A mdia est na mesma
posio do centro das
especificaes
=?
(?)
y
Exerccio 2
Quando s = 1.67, C
pk
= 1.0. Para que o C
pk
seja igual a 1.5 e haja uma
melhoria no desempenho do processo, qual deve ser o valor da mdia,
considerando que o s permanece igual a 1.67?
Da mesma forma, para que o C
pk
seja igual a 1.5 e haja uma melhoria
no processo, qual deve ser o valor do enquanto a mdia do processo
se mantm em 495?
510 490 495
510 490 495
490
LIE
495 510
LSE
s =1.67
Deslocando a mdia
Reduzindo o desvio
padro
C
pk
=1.0
C
pk
=1.5
C
pk
=1.5
LIE LSE
LIE LSE
y
y
y
A mdia no est no
centro das especificaes
02/04/2014
9
Exerccio 2-2
5
490
LIE
510
LSE
495
2.5
497.5
490
LIE
510
LSE
495
1.1
Deslocando a mdia
Reduzindo o desvio
padro
3
LIE y
C
pk

=
1.67 3
490 y
1.5

=
497.5 y =
3
LIE y
C
pk

=
3
5
1.5

=
1.1 =
y
y
A mdia no est no
centro das especificaes
5
7.5
02/04/2014
10
02/04/2014
11
Controle Estatstico do Processo (CEP)
Ferramentas para controlar
Eixo do Tempo
m

t
r
i
c
a
Converter dados em
informao
Ajudar no entendimento
Carta de Leitura &
carta de controle (carta x-R)
-
Utilizado para visualizar as mudanas na mtrica ao longo do tempo.
Carta de Leitura
02/04/2014
12
Carta de Controle
Tempo
Flutuaes devido ao Flutuaes devido ao
desgastedo
equipamento
Ocorre se as flutuaes no processo como um todo
aumentam, em funo de ajustes, condies imprprias ou
sintonia insuficiente entre os equipamentos e os
instrumentos de medio.
Para controlar
Para analisar
M
e
d
i
a

d
a

m

t
r
i
c
a
(estabelecimento dos limites de controle)
LSC : limite Superior de Controle
LC : Linha Central
LIC : Limite Inferior de Controle
Flutuaes devido a erros de ajustes
do equipamento quando houve uma
mudana no material
LSC
LIC
LC
Variao aleatria
(variaes que ocorrememuma situao normal)
Variao sistmica
(variaes que ocorremdevido a causas especiais que no
ocorremusualmente no processo)
Ferramenta usada para detectar mudanas no desvio padro de forma sistemtica (variaes
devido a causas especiais) para manter o processo em estado controlado.
Manter o processo estvel. Utiliza critrios do limite de controle.
Estrutura de uma Carta de Controle
1 2 3 4 5 6 7 8
x -C
L
-3
-2
-1
1
2
3
9
9
.
7
3
%
LSC
LIC

Criando Cartas x-R

-
Cinco amostras so coletadas
diariamente do processo.
Amostras
Processo
Carta R
11.2
5.3
0
2
4
6
8
10
12
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25
Carta
57.55
51.41
54.48
50
51
52
53
54
55
56
57
58
1 3 5 7 9 11 13 15 17 19 21 23 25
x
Dados da carta x-R (dados amostrados)
-
No. do dia til x1 x2 x3 x4 x5 x R
1 59 53 55 56 56 55.8 6
2 54 55 55 56 56 55.2 2
3 57 53 53 54 49 53.2 8
4 56 48 57 53 56 54.0 9
5 54 55 55 53 53 54.0 2
6 49 56 53 53 57 53.6 8
7 53 55 55 58 55 55.2 5
8 53 56 56 58 59 56.4 6
9 53 56 54 55 52 54.0 4
10 55 56 58 53 53 55.0 5
11 53 55 51 57 51 53.4 6
12 55 49 52 54 53 52.6 6
13 53 56 51 59 54 54.6 8
14 57 60 56 53 55 56.2 7
15 58 56 55 55 56 56.0 3
16 53 56 52 55 56 54.4 4
17 53 54 53 53 56 53.8 3
18 55 54 56 52 57 54.8 5
19 50 55 56 53 56 54.0 6
20 53 57 56 55 54 55.0 4
21 53 51 55 55 53 53.4 4
22 60 56 56 53 53 55.6 7
23 56 54 55 53 54 54.4 3
24 50 56 54 52 53 53.0 6
25 53 54 53 53 59 54.4 6
-
-
02/04/2014
13
Tamanho da Amostra e Nmero de Amostra
n dados 1
x
2
x
3
x
4
x
N
x
Populao
1 amostra
2 amostra
3 amostra
4 amostra
ensima
amostra
nmero de
amostras
tamanho da
amostra
n dados
n dados
n dados
n dados
Tolerncia Natural
Cartas de Controle
UCL
CL
Group 1 Group 2 Group 3 Group 4
LCL
UCL
CL R
Aplicao
Dentro das condies de variaes normais, a probabilidade de qualquer valor estar dentro
de uma faixa de tamanho igual a + 3 vezes o desvio padro de 99.73%.
x
68.27%
95.45%
99.73%
=1
Tolerncia Natural
1 -1 0 2 -2 3 -3
02/04/2014
14
SELEO DO TIPO DE CARTA DE CONTROLE
02/04/2014
15
02/04/2014
16
02/04/2014
17
02/04/2014
18
ANLISE DA ESTABILIDADE DO PROCESSO
-
LIC
Casos emque o processo considerado como emestado anormal
2. Os pontos esto dentro dos limites de controle, mas eles tm uma
certa periodicidade ou tendncia
(1) Quatro de cinco pontos fora da zona C
(2) Nove pontos consecutivos do mesmo lado da linha central
1. H um ponto fora dos limites de controle
A
LSC
LIC
LC
C
B
C
A
B
A
LSC
LIC
LC
C
B
C
A
B
A
LSC
LC
C
B
C
A
B
(4) Dois de trs pontos consecutivos na mesma zona A ou alm
A
LSC
LIC
LC C
B
C
A
B
(5)15 quinze pontos consecutivos na zona C
LSC
LIC
LC
A
C
B
C
A
B
LSC
LIC
LC
(6)14 pontos consecutivos alternando entre crescente e decrescente
A
C
B
C
A
B
(3) Sete pontos consecutivos crescentes ou decrescentes
A
LSC
LIC
LC C
B
C
A
B
Casos emque o processo considerado como emestado anormal
02/04/2014
19
02/04/2014
20
Exemplos de Carta de Controle por Variveis
02/04/2014
21
02/04/2014
22