La rugosidad de las superficies:

Topometra
Moiss Hinojosa Rivera, Martn Edgar Reyes Melo*
Abstract
The importance of accurate roughness
measurements is discussed in this work, the most
common techniques to record topographic profiles
are described and the most popular parameters
used to quantify roughness are presented. A brief
discussion on the self-affine character of heigth
profiles is also presented. The fact that both the
average roughness and the rms roughness
depended on the sample length and hence cannot be
considered as surface properties is emphasized. The
use of the roughness exponent in modern statistical
topometric methods is also included in this
discussion.
INTRODUCCIN
Las superficies de los cuerpos son objetos muy
complejos, en ellas la composicin qumica es en
general diferente de la composicin dentro de los
objetos, los materilogos saben que el ordenamiento
atmico tambin es muy distinto en las superficies y
es mucho ms complicado y dificil de describir, an
las superficies consideradas como muy lisas
muestran, cuando son analizadas a escala
suficientemente fina, una compleja diversidad de
particularidades geomtricas, tal vez estas razones
llevaron al ilustre Wolfgang Pauli (1900-1958) a
afirmar que las superficies son obra del demonio.
Desde el punto de vista de la ciencia e ingeniera
de materiales, la topografa se ocupa de la
descripcin del conjunto de particularidades
geomtricas naturales o artificiales que caracterizan
a una superficie. En cierta manera es un pleonasmo
hablar de topografa de superficies. Uno de los
conceptos que se usan en topografa para describir
la irregularidad de las superficies es el de rugosidad.
La cuantificacin de la rugosidad es uno de los
problemas que aborda la topometra. El objetivo del

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presente artculo es discutir de manera sencilla

algunos mtodos y tcnicas que se usan para
describir cuantitativamente la rugosidad de las
superficies encontradas en componentes de
ingeniera.
ALGUNAS CONSIDERACIONES SOBRE LA
IMPORTANCIA DE CUANTIFICAR LA
RUGOSIDAD
Tanto en aplicaciones industriales como en la
vida cotidiana,* el grado de rugosidad de las
superficies es importante, en ocasiones es deseable
tener rugosidad alta y en otras ocasiones esta
condicin es indeseable. En algunos casos se busca
que la superficie del producto terminado presente
un mnimo de rugosidad, ya que esto le da brillo,
mejor apariencia y disminuye la friccin de la
superficie al estar en contacto con otra, reduciendo
el fenmeno de desgaste y la corrosin o erosin de
dichos materiales.
*

FIME-UANL, A. P. 076 Suc. F, Cd. Universitaria, San

Nicols de los Garza, N. L., Mx. 66450
hinojosa@gama.fime.uanl.mx

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La rugosidad de las superficies: Topometra

Por otra parte, la friccin entre dos superficies es

lo que permite sujetar un objeto sin que este
resbale. Es la rugosidad de los neumticos de los
automviles lo que favorece la friccin entre ellos y
el suelo, permitiendo de esta manera el agarre y el
avance controlado y seguro. En ocasiones se busca
maximizar el rea superficial, lo que se consigue
incrementando la rugosidad, como en el caso de los
catalizadores, cuya eficiencia es mejor entre mayor
sea la superficie de contacto con los reactivos. Es la
rugosidad de los acetatos, principalmente, lo que
determina si pueden usarse en una impresora lser o
en impresoras de inyeccin de tinta.
La rugosidad tambin es un factor biolgico, ya
que a escala molecular afecta el modo en que las
bacterias se adhieren a las superficies. Los
materiales dentales deben presentar una superficie
con el mnimo de rugosidad posible, para evitar la
acumulacin de placa bacteriana y para conseguir
un mejor efecto esttico. A pesar de su importancia,
en la mayora de los casos las mediciones de
rugosidad se realizan de manera subjetiva, lo cual
conduce a interpretaciones o conclusiones vagas e
imprecisas.
SUPERFICIES
ESTOCSTICAS
SUPERFICIES DETERMINISTAS

El mtodo ms usado en la industria para

cuantificar la rugosidad se basa en el registro de
perfiles de alturas mediante un rugosmetro o
perfilmetro. El tratamiento estadstico de los datos
permite determinar parmetros como la rugosidad
rms (Rrms) y la rugosidad promedio (Ra).
El Perfilmetro
El rugosmetro o perfilmetro es por mucho el
equipo ms utilizado en la industria en general para
medir la rugosidad de componentes comunes de
ingeniera. El principio de operacin de este equipo
es simple: una fina punta en contacto con la
superficie a analizar realiza un barrido controlado
en lnea recta y las variaciones de alturas se
convierten en seales elctricas y se registran o
grafican, en la figura 1 se ilustra este principio.

Topogrficamente, aquellas superficies que no

tienen una direccin o patrn geomtrico preferente
debido al proceso de su generacin se conocen
como aleatorias o estocsticas, las superficies que
resultan de romper un objeto generalmente son de
este tipo. Las superficies con un patrn geomtrico
distinguible se conocen como deterministas, una
superficie maquinada en un torno es de este tipo.

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TCNICAS Y MTODOS PARA MEDIR LA

RUGOSIDAD.

Fig. 1. Principio de operacin y

rugosmetro perfilomtrico.

componentes de un

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Es posible construir imgenes de la topografa en

3D mediante barridos sucesivos, algunos autores
llaman a esta tcnica Microscopa Mecnica de
Barrido.
Un parmetro muy importante de estos equipos
es la forma y el radio de la punta, ya que sta
influye de forma importante en la resolucin lateral
de las mediciones. Tpicamente se utilizan puntas
con radios de algunos micrmetros, 2 m es un
valor comn. Aunque la resolucin vertical es
generalmente menor que el radio de las puntas, no
pueden detectarse con alta precisin valores de
rugosidad menores al radio de la punta. En general,
una punta burda o desgastada resulta en valores de
rugosidad ms bajos que los obtenidos usando
puntas finas. Tpicamente un perfilmetro permite
longitudes de muestreo de hasta algunos
centmetros con resolucin micromtrica.
Otros equipos
En este apartado mencionaremos brevemente
solo algunos de los equipos diferentes al
perfilmetro que tienen un uso relativamente
frecuente en la cuantificacin de la rugosidad.
Debemos mencionar tambin que existen muchos
equipos, accesorios y mtodos que permiten una
evaluacin cualitativa de la rugosidad. En general
los equipos para medir la rugosidad pueden
clasificarse como de contacto y de no-contacto.
Adems del perfilmetro, otro equipo de contacto
digno de mencionar es el microscopio de fuerza
atmica (MFA), que en aplicacin a observaciones
topogrficas puede considerarse como un
perfilmetro de resolucin sub-nanomtrica que
opera de forma similar a la mostrada en la figura 1.
Tpicamente el MFA permite longitudes de
muestreo mximas de 100 m con resolucin
nanomtrica. En la figura 2 se muestra una imagen

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de MFA correspondiente a una superficie de vidrio,

ms adelante en el texto haremos referencia
nuevamente a esta figura.

Fig. 2. Imagen de microscopa de fuerza atmica (MFA)

de la zona especular en una superficie de vidrio
fracturado.

Los equipos de no-contacto son en general

pticos aunque el microscopio de fuerza atmica
puede tambin operarse en modo sin contacto. Los
equipos pticos se basan en cambios en el enfoque
de luz monocromtica que corresponden a
diferencias de alturas en la superficie. Otros equipos
pticos aprovechan el fenmeno de interferencia
(interfermetros). Un equipo ptico comn en
metrologa de taller que puede utilizarse para
determinaciones cuantitativas de rugosidad es el
proyector llamado Comparador ptico.
LOS PARMETROS DE RUGOSIDAD
En general los parmetros utilizados para
cuantificar la rugosidad pueden interpretarse como
parmetros propios de la distribucin estadstica de
alturas del perfil o superficie bajo anlisis.
Antes de discutir los parmetros de rugosidad es
conveniente distinguir entre la rugosidad
propiamente dicha y otros componentes de la

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La rugosidad de las superficies: Topometra

textura o morfologa como la ondulacin

(waviness), la curvatura y la inclinacin o tendencia
(trend). En la figura 3 puede observarse que una
superficie puede poseer curvatura y/o ondulacin
peridica o aperidica, estos componentes deben
eliminarse o extraerse antes de cuantificar la
rugosidad.
2.5 a 0.5 mm.

Ra =

1
L

y(x ) dx
0

Dnde L es la longitud de muestreo.

A su vez Rrms se define como:
L

Rrms =

1
L

[y(x )] dx
2

Perfil terico

< 0.5 mm.

Defecto de primer orden

(geometra)
Defecto de segundo orden
(ondulacin peridica)

Parametros de
ondulacin

Rrms representa el promedio de las desviaciones

cuadrticas respecto a la altura media, es la
desviacin estndar de la distribucin estadstica de
alturas, que a su vez es la raz cuadrada de la
varianza o segundo momento respecto a la media.

Defecto de tercer orden

(estras pseudo-peridicas)

Parmetros de
rugosidad

Defecto de cuarto orden

(defecto aperidico)

Fig. 3. Los cuatro primeros rdenes de defectos

topogrficos en una superficie con curvatura y
ondulacin.

La figura 3 ilustra los cuatro rdenes de defectos

topogrficos que distinguen algunos autores. La
desviacin del perfil respecto a la forma esperada
(en el maquinado por ejemplo) se considera el
defecto de primer orden. La ondulacin peridica a
nivel mesoscpico y macroscpico se considera
defecto de segundo orden mientras que las estras
pseudoperidicas pertenecen al tercer orden. En
cuarto orden se tiene los defectos aperidicos.
Los parmetros de rugosidad ms usados en
ingeniera son la rugosidad promedio, (Ra) y la
rugosidad rms (Rrms). Ra es el promedio aritmtico
de los valores absolutos de las alturas y(x) medidas
a partir de la lnea central, figura 4.
Matemticamente Ra se define como:

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Fig. 4. Designacin de algunos parmetros de rugosidad.

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Los diferentes procesos de manufactura dan

lugar a valores de rugosidad inherentes tpicos.
Como ejemplos, el corte con soplete produce
valores Ra de hasta 50 micrmetros, la extrusin
proporciona valores tpicamente menores a 10 m,
el electropulido logra superficies muy lisas con Ra
del orden de 0.1 m.
Producir superficies poco rugosas tiene un costo,
en la Tabla I se muestra el costo relativo de
obtencin de diferentes grados de Ra tal como se
indican (en ingls) en el ASM Metals Handbook.
Otra medida de la rugosidad que se emplea
mucho en trabajos de investigacin de topometra es
el rango, Ry o diferencia mxima de alturas en la
longitud de muestreo, tambin es un momento
estadstico.

Clase
Super finish
Polish
Ground
Smooth
Fine
Semifine
Medium
Semirough
Rough
Cleanup

TABLA I
Rugosidad, Ra
(m)

Costo relativo de
obtencin

0.10
0.20
0.40
0.80
1.60
3.2
6.3
12.5
25
50

40
35
25
18
13
9
6
4
2
1

El usuario de un rugosmetro puede percatarse

de que desafortunadamente la rugosidad reportada
por los parmetros discutidos depende fuertemente
del tamao de muestreo, en general se encuentra
que a mayores longitudes de muestreo se detecta
mayor rugosidad. Ra y Rrms no pueden considerarse
como propiedades de una superficie.

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En la figura 3 se muestran los parmetros de

rugosidad aqu discutidos y se incluyen adems los
prametros Rz o altura de diez puntos, y la altura
de ondulacin, W. Rz es la distancia promedio
entre los cinco picos ms altos y los cinco valles
ms profundos en la longitud de muestreo. W tiene
una definicin an ms rebuscada. Existen otras
medidas de la rugosidad que se pueden consultar en
las lecturas recomendadas.
ESCALAMIENTO Y AUTOAFINIDAD
La gran irregularidad morfolgica de los perfiles
topomtricos se presta para su anlisis mediante la
geometra fractal. Es evidente que un perfil
obtenido al analizar la superficie de un componente
de ingeniera con un perfilmetro puede compararse
al perfil de una montaa, si no se especifica la
escala respectiva ambos podran tomarse como
equivalentes,
esta
propiedad
es
llamada
autosimilitud o ms propiamente autoafinidad. La
aplicacin de conceptos de la geometra de fractales
al anlisis de perfiles rugosos permite demostrar
que los diferentes momentos estadsticos de la
distribucin de alturas de ciertos perfiles dependen
del tamao de muestreo L y siguen un
comportamiento proporcional a LH (ley de
Potencia). El exponente H es conocido como el
exponente de Hurst o exponente de rugosidad, est
relacionado a la dimensin fractal y caracteriza o
cuantifica la irregularidad del perfil. Los perfiles
que cumplen con tal relacin se dice que son
autoafines. La figura 5 muestra perfiles generados
por computadora con diferentes valores de H,
ntese que a medida que H aumenta los perfiles
lucen ms lisos, una lnea completamente lisa o
recta posee un valor H de 1. A diferencia de los
parmetros Ra y Rrms, idealmente H es
independiente del tamao de muestreo.

31

La rugosidad de las superficies: Topometra

difusa

espejo

fibrosa

Fig. 5. Perfiles con diferente exponente de rugosidad

generados usando un algoritmo matemtico (Cortesa V.
Gonzlez).

Al principio de este artculo se mencion que

an los objetos ms lisos muestran gran
irregularidad si son analizados a escala
suficientemente pequea. Un ejemplo dramtico de
esto lo proporcionan las familiares superficies de un
vidrio roto. Si se observa la zona cercana al origen
de la fractura con una lupa, es fcil distinguir tres
zonas, dos zonas de rugosidad marcada y una zona
muy lisa y brillante, esta ltima zona es llamada
espejo. En la figura 6 se muestran estas zonas tal
y como se observan en un microscopio electrnico.
Si se emplea un perfilmetro para analizar la
zona espejo se concluye que la superficie es
efectivamente lisa o con rugosidad escasa. Sin
embargo, el anlisis de esta zona mediante un
microscopio de fuerza atmica muestra que la zona
espejo tiene una topografa como la mostrada en la
figura 2, el aspecto de dicha zona ahora es muy
rugoso.

32

Fig 6. Superficie de un vidrio fracturado mostrando las

tres zonas caractersticas.

Por qu refleja tan bien la luz una superficie tan

rugosa? Simplemente porque la magnitud
mxima de las variaciones topogrficas es del orden
de 100 nanmetros, magnitud inferior a la longitud
de onda de la luz. La figura 7, construida
empleando el llamado mtodo de ventanas de ancho
variable, muestra el comportamiento tpico de los
momentos estadsticos w(r) al variar la longitud de
muestreo, se observa el comportamiento de ley de
potencia con H = 0.8, dicho comportamiento
autoafn se pierde para un valor de longitud de
muestreo del orden de 100 nanmetros (100 x 10-9
m), dicho valor lmite es conocido como la longitud
de correlacin. Un perfilmetro indicar rugosidad
nula porque su resolucin es insuficiente para
revelar detalles menores que la longitud de
correlacin.

Ingenieras, Abril-Junio 2001, Vol. IV, No. 11

Moiss Hinojosa Rivera, Martn Edgar Reyes Melo

AGRADECIMIENTOS
10

Los autores agradecen la ayuda de V. Gnzalez,

F. Snchez, E. Snchez, D. Snchez.

w(r) (nm)

LECTURAS RECOMENDADAS
1. F.M. Lira, J. L. Morn Lpez, El Encanto de las
Superficies, Serie la Ciencia desde Mxico, No.
111, Fondo de Cultura Econmica, 1992.

0.1

= 0.8

= 100 nm
0.01
1

10

100

1000

10000

r (nm)
Fig. 7. Variacin de los momentos estadsticos con el
tamao de muestreo en la zona espejo de una fractura en
vidrio.

CONCLUSIN
En general todas las superficies manifiestan una
gran irregularidad morfolgica. Industrialmente el
instrumento ms empleado para medir la rugosidad
es el perfilmetro. El microscopio de fuerza
atmica permite analizar la topografa a escalas
mucho ms finas que un perfilmetro. Los
parmetros ms empleados para medir la rugosidad
son Ra y Rrms, sin embargo estas cantidades
dependen del tamao de muestreo y no pueden ser
consideradas como propiedades de una superficie.
Los mtodos de vanguardia a nivel investigacin
emplean longitudes de muestreo variables y
cuantifican la rugosidad mediante el exponente de
Hurst y la longitud de correlacin.

Ingenieras, Abril-Junio 2001, Vol. IV, No. 11

2. J.A. Broadston, Designacin, Produccin y

Control de la Textura Superficial, en Manual
del Ingeniero Mecnico Marks, E. A. Avallone y
T. Baumeister, 3 ed., McGraw-Hill, p. 13.8613.92, 1992.
3. M. Field, J.F. Khales y W.P. Koster, Surface
Finish and Surface Integrity, en ASM Metals
Handbook Vol.16, Machining, pp. 19-36,
1989.
4. H. Dagnall, Exploring Surface Texture, TaylorHobson, 1986.
5. Cornet y J.-P. Deville, Physique et Ingenierie
des Surfaces, EBP Sciences, Francia, 1998.
6. Xavier Guerrero, Carlos Guerrero, Moiss
Hinojosa y Ren Garza, Anlisis de Superficies
de Alambrn de Cobre con Microscopa de
Fuerza Atmica, INGENIERIAS, Vol. III. 6,
pp. 3-7, 2000.
7. Moiss Hinojosa, Elisabeth Bouchaud y Bernard
Nghiem, Rugosidad a Larga Distancia en
Superficies de Fractura de Materiales
Heterogneos, INGENIERIAS, Vol. III. 7, pp.
16-21, 2000.

33