Apuntes de Interferencia y difraccion J.M. Cabrera y FJ. Lopez Departamento de Fisica de Materiales Universidad Auténoma de Madrid UNIVERSIDAD AUTONOMA ERMANi Indice 1 Principios generales de las interferencias 11 Introducoién 1.2 Interferencia de dos ondas estrictamente monocromiticas . 12.1 12.2 12.3 1.24 125 1.2.6 1.3. Experimento de Young 13.1 13.2 13.3 1.34 1.3.5 El término de interferencia, Influencia de la polarizacién de la luz Aproximacién escalar . Visibilidad de las franjas . . . ‘Dos ondas esféricas Dos ondas planas Uso de fuentes de luz reales . . Posicién de las franjas en la pantalla. . . Uso de lentes en el dispositive de Young Dispositivos similares Experimento de Young y dualidad onda aparticula cee 1.4 Franjas con luz no monocromatica .. . . - 1.5 Coherencia temporal y visi iad de las franjas. 1.6 Fuentes extensas: coherencia espacial 1.6.1 Uso de rendijas. .... - . 1.6.2 Anchura de las rendijas y visibilidad . 1.6.3 Céleulo de la visibilidad . . 1.64 Coherencia espacial 1.6.5 Interferdmetro estelar de Michelson... . 1.7 Comentarios finales 18 Apéndices eee eee 18.1 1.8.2 Anilisis del experimento de Young con luz cuasimonocromética, ‘Teorema de Van Cittert-Zernike . . . 2. Interferencias por reflexiones en laminas 2.1 Interferencia de dos rayos en laminas de caras plano-paralelas . 24d Obtencién de rayos coherentes por divi i de amplitud 10 10 u 1B 4 16 Ww 18 23 24 25 26 27 29 29 29 32 33 33, 33ii 22 2.3 24 25 Indice 2.1.2 Céileulo de la diferencia de fase... . « sees OM 21.3 Anillos de igual inclinacién oe eee eee 35 214 Aplicacion .... 2. . ves 37 2.1.5 Anillos con luz transinitida 6... ee 2 88 Franjas en peliculas delgadas 39 2.2.1 Laminas de espesor variable... oe ee eee eee eee 89 22.2 Franjas de igual espesor . . . . 40 2.2.3 Aplicacién : e0ge exeapesismaze: 41 224 Anillosde Newton... 2... nn 2 Bl interferémotro de Michelson... bisweuee Mt 2.3.1 Deseripcién . « ‘ seeeeee Md 2.3.2 Tipos de franjas . . . . il aba kate ve RE Hae . 45 2.3.3 Aplicaciones : a7 2.3.4 Interferémetro de Twyman-Green aT 2.3.5 Interferémetro de Mach-Zehnder... 6... e eee eee 49 Interferencia de ondas miiltiples en léminas de caras plano-paralelas . - 49 24.1 Reflectancia y transmitancia de una lamina, . : - 50 24.2 Posicién de los anillos ... 66... ee wenanaexeumansua: BD 24.3. Distribucién de intensidad 0.0... eee ee er) 24.4 Pinura de los anillos y luz cuasi-monocromatica - 54 Interferémetro de Fabry-Perot vee 56 25.1 Desctlpdlinwcnasuncnnnss seven eee ee ni een nine ee 56 2.5.2. Absorcidn en las caras . 87 2.5.3 Poder de resolucién espectral 58 2.5.4 Intervalo espectral libre... . epeseeney -. 60 2.5.5 Resumen de caracterfsticas : 61 2.6 Interferencias multiples en peliculas delgadas . . aazgea @ 2.6.1 Filtros interferenciales.... 0.0... eee ences 62 2.6.2 Peliculas antirreflectantes .. 2.2.2... FaNmUEEG MALTESE 63 ‘Teoria escalar de la difraccién 67 3.1 Introducci6n 2... eee cece eee e Beem Ee ER EER . 87 3.2. Bl principio de Huygens-Fresnel . 68 3.3. Teorla electromagnética, Aproximacién escalar . . . . 7 34 Teorema de la integral de Kirchhoff ++ eaee seeeeee TB 3.5. Aplicacién de la integral de Kirchhoff a la difccion sss ose see 4 36 Aplicaci6n a la propagacién de una onda esférica eee 1.77Indice it 3.7 Comentarios adicionales sobre la integral de Fresnel-Kirchhoff . . . 80 3.8. Difraccién de Fraunhofer y difraccién de Fresnel ai 3.9 Apéndices ee cece eens eegtgg 2. 85 3.9.1 Demostracién del teorema de la integral de Kirchhoff 2. ........ 86 3.9.2 Integracién sobre una zona de Fresnel . Seaasie. 3T 4 Difraccién de Fraunhofer por una abertura 89 4.1 Configuracién geométrica .. . 89 4.2 Difraceién por una abertura rectangular 90 4.2.1 Distribucién de intensidad sobre el eje X" cee 98 4.2.2 Distribucién de intensidad sobre el eje Y’ y el plano XY’... 2... OM 4.2.3 Diftaccién por una rendija 6. eee OB 4.3 Difraccién por una abertura circular... . . aa 96 44 Poder de resolucién de los instrumentos épticos..... . . sees 99 4.4.1 Instrumentos épticos y difraccién de Fraumhofer .. 6.0.2.0... 99 4.4.2 Difraccién de Fraunhofer y poder de resolucién . . . sevxacee 100 443° Bjemplos 0.0... cece eee eee . 102 45 Apindices 6 ee eee eee eeeswe 1M 4.5.1 Integral de Ia abertura circular ~ 105 5 Redes de difraccién 107 5.1. Principio de la red de difraccin o.oo ee eee eee 107 5.1.1 Dos aberturas, reandlisis del experimento de Young 109 5.1.2 Muchas aberturas distribuidas al azar 110 5.1.3 Muchas aberturas distribuidas regularmente 110 5.2 Red de difraccién mono-dimensional mi Propiedades de las redes de difraccién 116 5.3.1 Poder de resolucién espectral 116 5.3.2 Dispersién angular... . . 118 5.3.3 Intervalo espectral libre 118 5.4 Tipos de redes de difraccién scenaees 119 5.4.1 Redes de perfil controlado : 120 54.2 Espectroscopios de red ees 1D 5.4.3 Redes de dos y tres dimensiones . . iy 4 sees 122 6 ‘Teoria difraccional de la formacién de imagenes 125 61 Introduccién ... . 125iv 6.2 63 64 65 66 6.7 68 69 El problema de la iluminacién en el microscopio . - er 6.2.1 6.2.2 Luminacién incoherente ..... 5. a beaR MES Thuminacién coherente.... 6... eee ‘Teoria de Abbe para iluminacién coherente . . 6.3.1 El procesador 6ptico 4 f. Filtrado de frecuencias espaciales Instrumentos pticos como sistemas lineales . Objeto puntual sobre el eje (funcién impulso) . Poder de resolucién en la teorfa de Abbe Andlisis puntual de un objeto extenso (emisién coherente) ..... « ‘Transmisién de frecuencias espaciales 6.8.1 6.8.2 6.8.3 Apéndices oo... eee : 6.9.1 6.9.2 6.9.3 Fumcién de transmisién . wee Bjemplo: abertura circular . Presencia de aberraciones. Iuminacién incoherente Deducci6n de la formula 6-4. ‘Microscopio de contraste de fase de Zernike Funcién de transmisién con iluminacién incoherente Indice 126 127 128 128 130 135 136 139 140 142, . 2 . 13 144 145 145 145 150Capitulo 1 Principios generales de las interferencias 1.1 Introduccién Guando dos o mas haces de Inz se superponen en una pantalla normalmente se observa una iluminacién de la misma més intensa y homogénea que cuando incide un solo haz. Bajo determinadas condiciones, sin embargo, la pantalla puede aparecer iluminada de forma inhomogénea, presentando zonas que estsn iluminadas intensamente junto a otras escasamente iluminadas; es decir, la intensidad total en un punto no es la suma de las intensidades que se superponen. En la figura 1-1 se ha ilustrado la superposicién de dos ondas de la misma frecuencia y amplitud Vo y de intensidad Ip =cte V?. En un punto del espacio en que ambes ondas estn en fase (Fig. 1-1a), la amplitnd de la suma seré 2Vp y la intensidad 4 J). En cambio, en un punto en que estén en oposicién de fase (Fig. 1-1b), se tiene amplitud e intensidad cero. Este resultado es caracteristico de todo tipo de ondas y parece indicar que la energfa no se conserva, En realidad, la energfa se conserva globalmente pero se redistribuye en toda la regién en que se superponen las dos ondas, Aqui se pone de manifiesto claramente que los conceptos de amplitud y de fase se refieren a la onda como un todo y no en un punto conereto del espacio. Este es el fenémeno denominado interferencia de ondas luminosas. Tipicamente, la distribucién de la luz en regiones claras u oscuras pt inta cierta periodicidad, por lo que recibe el nombre genérico de franjas de interferencia. Los principios y caracteristicas generales del fenémeno son los mismos para | diferentes regiones espectrales de la 12 Capitulo 1. Principios generales de las interferencias (a) + (>) Figura 1-1 Tustracién de la superposicién de dos ondas de la misma frecuencia y amplitud. (a) En ‘un punto en que estdn en fase, la amplitud resultante es el doble (Ia intensidad es el cusdruple). (') En an punto en que estan en oposicién de fase, la amplitud y la intensidad son cero. radiacién electromagnética, asi como para otras ondas no electromagnéticas (actisticas, sismicas, de De Broglie, etc.). Pero las interferencias en la regién espectral del visible y sus proximidades (que son el objeto de la éptica) presentan ciertas peculiaridades de las cuales nos vamos a ocupar en el grupo de capitulos que se inieian con éste, Ademés nos limitaremos al caso de respuesta lineal por parte del medio material en el que coinciden las ondas, es decir supondremos que se cumple el principio de superposicién, Bn la Ultima parte del curso, dedicada. al laser, analizaremos brevemente el caso de los medios no lineales. Las interferencias luminosas constituyen una herramienta extraordinariamente pode- rosa para estudiar y utilizar con provecho muchas de las propiedades de la luz. Algunos ejemplos importantes son los siguientes: 4) Histéricamente, los fenémenos de interferen- cia permitieron establecer la naturaleza ondulatoria de la luz, mediante una serie de otros, alrededor del afio 1800. i) Son el vinico método que permite acceder a la medida de la fase de las famosos experimentos realizados por Young, Fresnel y Arago, entr ondas luminosas, cuyo perfodo es extremadamente corto (T'~ 10- s); de este modo se puede caracterizar la coherencia, tanto temporal como espacial, de una fuente de luz (reeuérdese el capitulo 2 de la parte de Optica Electromagnética). iti) Son la base de importantes aplicaciones cientificas y técnicas: la espectroscopfa de alta resolucién, la holografia, la medida precisa de distancias muy pequefias ~ A, la determinacién de coefi-1.2, Interferencia de dos ondas estrictamente monocromiticas cientes de penetracién C, de aviones y automéviles en los ttineles aerodindmicos, ete. in) Son las responsables de numerosos fenémenos naturales (como los vistosos colores de las alas de ciertas mariposes y aves tropicales, o las burbujas de jabén). Bl grupo de capitulos que se inicia aquf ests dedicado a las interferencias luminosas y a algunas de sus aplicaciones, incluyendo también la difraccién que, en cierta medida, se puede considerar como un fenémeno interferencial. Este primer capitulo se dedica a los principios generales del fenémeno y por esta razén es especialmente importante. Se inicia con el anélisis del caso ideal de interferencia entre dos ondas estrictamente mono- crométicas, particularizéndolo al caso escalar que es el més frecuente y el més sencillo de tratar. A continuacién se tratan los casos més reali ‘as de ondas cuasimonocrométicas y de fuentes Iuminosas no puntuales, lo que nos permite volver sobre los importantes conceptos de coherencia temporal y de coherencia espacial, introducidos en la parte de Optica Blectromagnética, 1.2 Interferencia de dos ondas_ estrictamente monocromaticas Para introducir de forma més eémoda los conceptos bésicos vamos a considerar en esta seccidn el caso més sencillo de interferencia de dos ondas estrictament monocrométicas. En las secciones siguientes se tratan las importantes correcciones que hay que hacer a este caso cuando se consideran ondas reales. 1.2.1 El término de interferencia Consideremos un cierto punto del espacio donde se superponen dos ondas mono- crométicas cuyos campos eléctricos vienen dados por las siguientes expresiones: By(Ft) = R Boy oe} B(F)t) = R Bon et (141) donde las fases 1 y $2 incluyen la dependencia espacial de las ondas, pero son indepen- dient del tiempo (véase el apéndice 1.8.1 para el caso en que sf dependen del tiempo).4 Capitulo 1. Prineipios generales de las interferencias Supondremos que estén polarizadas linealmente a lo largo de los vectores constantes reales y, y Hyp. Las intensidades de estas ondas vienen dadas por la expresion: ct 1 T= ceo(|BiP) =F ce0B — ('=1,2). (1-2) En la regién del espacio en que estas ondas se superpongan, el campo resultante seré. sim- plemente la suma vectorial de los campos de las dos ondas, B=B+h, (1-8) por lo que la intensidad luminosa resultante ser4: T= céo (|B, + Bl?) = ceo (Ei?) + (JEP) + 2(Bs - B)) , (1-4) © bien, teniendo en cuenta (1-2) y Hamando Iho al tiltimo término, [=h+h+Ia (5) Esta expresién indica que la intensidad resultante de la superposicién de las dos ondas no os la simple suma de las intensidades individuales, hay que afiadir el término cruzado Jp. En el caso en que w; #u2, este término se anula al hacer el promedio temporal, y se recupera la sencilla expresién I= I, + Iz que no da lugar a fenémenos interferenciales. Pero si se tiene w=w», el término Ly no es cero en general, siendo el responsable de que la intensidad (1-5) varfe de unos puntos a otros y dando lugar, por tanto, a las figuras de interferencia. Por esta razén se le denomina término de interferencia. A partir de aqui se supondré w =w2=w. Bn estas condiciones, el término de interferencia se puede escribir: Tig = 2ce0 (By - Bs) = ceo Box - Ba Re}, (1-6) siendo, bodes. an) O bien, haciendo explicita la parte real del iltimo factor de (1-6), Tin = co Bin - Bon 008 5. (1-8) En la expresi6n anterior se ve que la interferencia depende de la polarizacién de las ondas (Eo: y Boa) y de la diferencia de fase 6. Bn la mayorfa de los casos précticos el papel de la polarizacién no es observable; por tanto, la magnitud clave del fenémeno interferencial es la diferencia de fase.1.2, Interferencia de dos ondas estrictamente monocromdticas 5 1.2.2 Influencia de la polarizacidn de la luz EL término de interferencia (1-8) depende de la polarizacién de los haces que interfieren a través del producto escalar Ey, - Ey. En particular, si se trata de dos haces polarizados linealmente con sus vectores campo eléctrico perpendiculares, se tiene 2 =0 y no se observa interferencia. La observacién experimental de este hecho llevé a los franceses Fresnel y Arago a la conchusién de que la luz era na onda transversal. La raadn fisica de este fendmeno es que la superposicién de dos oscilaciones perpendiculares de la misma frecuencia da lugar a luz polarizada elipticamente, y, por tanto, los cambios de fase 5 originan cambios en la elipse de polarizacién en vez de en la amplitud. Este tipo de interferencias con luz polarizada es menos frecuente, mas complejo de estudiar, y no lo vamos a considerar aqui. 1.2.3. Aproximacién escalar ‘A partir de ahora consideraremos el caso en que Ep, y Ey: son paralelos. Este caso se presenta de forma aproximada con mucha frecuencia en la préctica y, al desaparecer cl cardcter vectorial de los campos, todas las expresiones son ahora escalares. Teniendo en cuenta (1-2), se puede escribir: In= -€9 Eq, Eo2 608 6 = 2 y/Ty Ip cos 6 (1-9) J, a su vez, la expresién (1-5) queda: 1 =I ++ 2VIyIgoos6 = Ip(1+ M cos6) ; (1-10) para el iltimo miembro de la anterior se han introducido, 2Vh Ip Jg=htk M= b=hth y Tah? (1-11) donde M se suele lamar factor de modulacién. Si, como ocurre con frecuencia, las intensidades de los dos haces que interfieren son muy parecidas, haciendo J; = en las , y la (1-10) queda, anteriores se tiene Jo=2h y M= T= 2h (1 +0088) =4h 0085 (1-12)6 Capitulo 1. Principios generates de las interferencias En cualquiera de las formas (1-10) o (1-12), la intensidad Iumminosa presenta maximos cuando cos5~=1, es decir, cuando se cumple: bam2n (m= ) (1-13) y minimos cuando cos6=~1, es decir: =(Qm+i)r (m=0,1,2,...). (1-14) Por tanto los méximos aparecen cuando la diferencia de fase es un miiltiplo entero de 2n, y los mfnimos cuando es un miltiplo impar de 7. Fl mimero m recibe el nombre de orden interferencial, Para el caso de intensidades iguales se tiene Inaz=4h ¥ Imin = En la figura 1-2 se han representado las funciones (1-10) y (1-12). (@) (b) 4p a @ z 3s 3 g z g 2 4 5 3 0 Figura 1-2 Distribucién de intensidad producida por interferencia de dos ondas estrictamente mono- crométicas, (a) fy #12; (b) h=Is Las férmulas (1-10) y (1-12) también son vélidas para haces monocrométicos total- mente despolarizados (polarizacién natural), puesto que la polarizacién natural se puede representar por dos polarizaciones lineales perpendiculares e incoherentes entre si.t Entonces, la interferencia de cada una de las componentes se puede considerar por sepa- rado, y la intensidad total se obtiene como suma de intensidades. TWéase, por ejemplo, [a seccién 10.8.2 de Principles of Optics de Born y Wolf, 1980, al discutir el grado de polarizacién de las ondas cuasimonocromiticas mediante el uso de In matriz. de coherencia,1.2. Interferencia de dos ondas estrictamente monocromdticas 7 1.2.4 Visibilidad de las franjas En relacién con Ia distribucién de intensidad entre maximos y minimos (véase la figura 1-2), es util definir una nueva magnitud llamada visibilidad de las franjas V como medida cuantitativa de lo contrastadas que se ven: Trax = Imin Trex: + Imin ' (1-15) que puede variar entre 1 (valor maximo), y 0 (minimo). Utilizando la (1-10), la visibilidad en cl caso que nos ocupa de dos ondas estrictamente monocromaticas resulta ser igual al factor de modulacién: vem, (1-16) que en el caso de intensidades iguales, formula (1-12), toma su valor méximo V=1 1.2.5 Dos ondas esféricas Si las dos ondas monocrométicas son esféricas, es fécil ver que las franjas de interfe- rencia estan formadas por una familia de hiperboloides de revolucién con focos comunes, situados procisamente en las fuentes puntuales que generan las ondas. Para verlo, consi- deremos las dos ondas esféricas escalares siguientes (cuyos vectores B son paralelos en cada punto #) ambas de frecuencia w: Ex(r,t) = {2 eimseton} > Bl = nh T2 {#2 ilirs-ut =} (17) siendo ry y r» las distancias desde las fuentes luminosas al punto considerado, y do. y on las fases iniciales constantes. Comparando éstas con (1-1), se tiene ¢i=kri+ do. y d2=kra+ don, y por tanto la diferencia de fase (1-7) se puede escribir: 5-161 = Bran) +n dy = bs oy = hyn dis + by = 20 AF 4-6, (18) donde la diferencia de camino geométrico As se refiere a las distancias desde tas fuentes al punto de observacién, y AL = nAs es la diferencia de camino éptico. Bl lugar geométrico de 6 constante es el de los puntos cuya diferencia de distancias r)— ry a8 Capitulo 1. Principios generales de las interferencias las fuentes luminosas es constante, que es un hiperboloide de revolucién euyos focos son las fuentes, Por tanto, la figura de interferencia que se obtiene al variar 5 consiste en una familia de hiperboloides con focos comunes en las fuentes (véase la Fig. 1-3) Las franjas de intorferencia resultantes son las enrvas que produce la interseccién de estos hiperboloides con la pantalla de observacién. Este tipo de franjas se presentan aproximadamente en los dispositivos del tipo de Young que se discuten en la Seccién siguiente. Como las franjas se pueden ver en una regién grande del espacio moviendo la pantalla adecuadamente, se dice que son franjas no localizadas. Bn otros dispositivos interferenciales las franjas s6lo aparecen en planos determinados y se habla de franjas localizadas. (a) Las “franjas” de interferencia no localizadas producidas por dos ondas esférieas proce- dentes de dos fuentes puntuales $1 y So, son hiperboloides de revolucién alrededor del eje $; Sa con focos ccomunes en estos puntos. (b) Hipérbolas resultantes de la interseecién de los hiperboloides con un plano que pasa por S; y Sz. Como la pantalla se encuentra habitualmente muy alejada de las fuentes y no pasa por estos puntos, su interseccidn con los hiperboloides produce franjas que son muy aproximadamente lineas recta 1.2.6 Dos ondas planas En el caso en que las dos ondas que interfieren son planas, ademas de monocrométicas, es facil ver que las franjas de interferencia son planos paralelos entre si y equiespaciados. Para verlo, consideremos la interferencia de las dos ondas planas siguientes (ambas deNK a Figura 1-4 (a) Seccién por el plano del papel de dos ondas planas que interfieren, y las franjas que se observan sobre una pantalla colocada. perpendicularmente al papel. (b) Tustracién para el céleulo del taciado entre las franjas que aparecen en la pantalla, freenencia w): AF) = RR cO 0}, AFAR Bye}, (Lag) siendo ki=k»=k, y 01 ¥ doe las fases iniciales constantes. Comparando éstas con (1-1), se tiene =k: -#+ dor ¥ bo= ka + 7+ don, y por tanto la diferencia de fase (1-7) ahora se eseribe: Kia — Fy) ++ bo — bn = KF +b (1-20) siendo, (1-21) De acuerdo con (1-20), el lugar geométrico de los puntos con igual 6 (igual intensidad) es un plano perpendicular al vector K. En la figura 1-da se ilustra el conjunto de estos planos que, al ser interceptados por la pantalla de observacién, dan lugar a franjas de interferencia rectilineas y paralelas. Para calcular més cémodamente el espaciado entre estos planos, elijamos el eje X en la direccién de i y el eje Z en la direccién de la bisectriz de fy y fz. Si llamamos A al espaciado entre planos, como la diferencia de fase 2a, se tendré K+ #=KA=2n, y el valor de K=2n/A entre dos consecutivos deb0 Capitulo 1. Principios generales de las interferencias se puede calcular fécilmente de la figura 1-4b: (1-22) a 2sen 5 Las magnitudes K y A suelen lamarse respectivamente vector y periodo de la red de planos. Este tipo de configuracién interferencial es de uso comin en la produccién de hologramas de volumen en cristales clectroépticos que tiene una gran vatiedad de aplicaciones. Nétese que el espaciado A se puede variar por medio del Angulo entre los haces que 90°) se espaciado minimo A=A/2. Para haces que se propagan en la misma direecién (6/2 interfieren de acuerdo con (1-22). Para. haces “contrapropagantes” (0/' se tiene el espaciado méximo A =oo y desaparecen las franjas de interferencia (ambas ondas se confunden en una) 1.3 Experimento de Young 1.3.1 Uso de fuentes de luz reales Los experimentos de interferencias se hacen necesariamente con fuentes de luz reales que no son estrictamente monocrométicas. Las consecuencias de este hecho se discuten con mas detalle a partir de la seccién siguiente, pero aqui debemos mencionar que, en general, resulta dificil observar franjas de interferencia con las fuentes de luz ordinarias. La excepcién la constituye la luz laser, con la que resulta fécil producir franjas visibles y contrastadas, Hacia el afio 1800, sin embargo, Young no disponfa de este tipo de luz y tuvo que guiarse de su intuicién y experimentacién para conseguir las primeras franjas de interferencia con Inz de la historia y demostrar la naturaleza ondulatoria, de la luz. El disefio experimental de Young so ilustra en la figura 1-5 y consiste en lo siguiente, En primer lugar se simula una fuente luminosa “puntual” $ colocando una pantalla con un pequefio orificio delante de una fuente de luz extensa; los rayos de luz que pasan por el orificio se abren por efecto de la difraccién y el frente de onda resultante es1.3. Experimento de Young u Figura 1-5 Esquema del dispositivo experimental diseftado por Young para observar franjas de interferencia con una fuente de luz real. aproximadamente esférico con centro en $. A continuacién, se seleccionan dos trocitos $1 y Sp del frente de onda anterior mediante sendos orificios pequefios hechos en uma segunda pantalla; de nuevo, la luz se abre por difraccién en cada uno de estos orificios que actiian como centros emisores de ondas aproximadamente esféricas. En la iiltima pantalla de observacién se snperponen los haces procedentes de ambos orificios. Para un punto arbitrario P de Ja pantalla, la diferencia de camino entre ambas ondas seré S:P—5;P. Por tanto, ta interferencia corresponde aproximadamente a la de dos ondas esféricas de centros $1 y Sp que se ha discutido en la seccién anterior. El éxito de Young se bas6 en hacer interferir dos ondas “gemelas” procedentes de la misma onda inicial, con lo que obtenia un alto grado de coherencia entre ellas. Las interferencias obtenidas con este dispositivo (y otros similares) se denominan por divisién del frente onda, en contraposicién a las que vereinos en el capitulo siguiente que se obtienen por divisién de amplitud mediante reflexiones en las caras de léminas de vidrio. 1.3.2 Posicién de las franjas en la pantalla El célculo de la posicién de los méximos y los minimos de intensidad sobre la pantalla. se hace cémodamente apoydndose en la figura 1-6, donde se indica el sistema de ejes coordenados elegido. Dada la lejania de la pantalla en comparacién con la distancia entre los orificios, supondremos que las intensidades de las dos ondas esféricas al llegar12 Capitulo 1. Principios generales de las interferencias Figura 1-6 Experimento de Young: parémetros que determinan la diferencia de camino entre la luz procedente de S; y Sz. En un montaje real se cumple que d>2, d se obtiene, gr} =22d=(rz+7)(r2—1) = 2aAs (1-24) y la diferencia de camino éptico seré: AL=nAs= nad (1-25) A partir de esta ultima, la condicién de maximo (1-13): 6=m 2n, teniendo en cuenta Ja (1-18), se puede escribir: AL=m Ao, es decir, méximos tq =m2® (m=0,1,2 nd (1-26)1.3. Baperimento de Young 13 y la condicién de minimo (1-14); 6 =(2m-+1)7, implica que AL = (2m-+ 1) do/2, es decir, minimos —+ tq = (m+ 3) oe (m=0,1,2,...) (27) Como Jas condiciones anteriores de m&ximo o mfnimo sélo dependen de la coordenada «en Ja pantalla se obsetvan franjas “rectilfneas” alargadas en la diteccién Y. Bl que sean rectas 80 debe a la aproximacién que se ha hecho en (1-24) al estar la pantalla muy alejada. En rigor, las franjas son curvas segin se ha mencionado al final de la seccién 1.2.5. El ntimero entero m se denomina orden del mdzimo. Seguin se ha mencio- nado antes AL =m Ag, por tanto, al maximo de orden m le corresponde una diferencia de camino éptico de m longitudes de onda entre los dos haces que interfieren. De las expresiones (1-26) y (1-27) también se obtiene la, separacién entre franjas (méximos o minimos) que resulta ser: tin = 222 P= amg ~ im = (1-28) Midiendo Ia magnitud 1 sobre la. pantalla, y conocidos a y d, se puede determinar la longitud de onda Ay de la luz usada. Asi, ademas de ser una demostracién inequivoca de la naturaleza ondulatoria de la luz, el experimento de Young permite medir de modo muy simple (aunque no sea muy preciso) una magnitud tan pequefia. como Ap. 1.3.3 Uso de lentes en el dispositivo de Young Muchas veces interesa que la pantalla no esté tan lejos en el experimento de Young. Si se coloca una lente convergente en la parte de salida de la luz de los orificios $1 y S2, Jos rayos que salen paralelos a una direccién determinada se superpondrén en el plano focal de la lente. Por tanto, para observar las franjas de interferencia basta colocar la pantalla en la posicién del plano focal en vez de muy alejada. La diferencia de camino ‘As ahora viene dada por (véase la Fig. 1-7) As=dend~d5,, (1-29) siendo f’ la distancia focal de la lente, que ahora desempeiia el mismo papel que a en la figura 1-6.“4 Capitulo 1. Principios generales de las interferencias Figura 1-7 Montaje del experimento de Young usando una lente convergente. La pantalla se coloca cn el plano focal, y la distancia focal f” desempeiia el mismo papel que a en la figura 1-6. 1.3.4 Dispositivos similares En su tiempo, el experimento de Young introdujo un cambio radical en el modelo de Newton sobre la naturaleza. corpuscular de la luz, que era el predominante en esa época. Por ello fue sometido a todo tipo de andlisis eriticos. En particular, se adujo como elemento perturbador de la trayectoria de las partfculas luminosas el hecho de que la luz no alcanzaba la pantalla por caminos rectilineos ininterrumpidos que cumplen las leyes de la dptica geométrica. Para demostrar que esto no era un obsticulo, se propusieron otros experimentos de interferencia utilizando dispositivos similares en los que las fuentes socundarias $1 y $2 no eran orificios pequeiios. Entre ellos citaremos: los espejos de Fresnel (Fig. 1-8a) en los que 8; y So son Jas imagenes virtuales de S dadas por dos espejos que forman un Angulo préximo a 180°; el biprisma de Fresnel (Fig. 1-8b) en donde las imégenes virtuales ahora estén formadas por dos prismas de éngulo pequeiio ‘unidos por sus bases; Ia lente partida de Billet (Fig. 1-8c) en la que $1 y Sp son los focos de cada mitad de la lente; y el espejo de Lioyd (Fig. 1-8d) donde S; es la fuente real y Sp es la imagen virtual dada por el espejo. ‘Todos estos dispositivos producen exactamente el mismo tipo de franjas que el dispositivo original de Young y su aparicién contribuyé, junto con otros experimentos, a que se aceptara la hipétesis de Young sobre la naturaleza, ondulatoria de la luz.1.3, Buperimento de Young 15 (a) (b) (c) (dy Figura 1-8 Diferentes dispositivos para observar interferencias de Young. (a) Eepejos de Fresnel. (b) Biprisma de Fresnel. (c) Lente partida de Billet. (d) Bspejo de Lloyd.16 Capitulo 1. Principios generales de las interferencias 1.3.5 Experimento de Young y dualidad onda-particula El dispositivo de Young se ha utilizado también como montaje experimental idealizado para, poner de manifiesto el significado de la hipétesis de la dualidad onda-particula de la mecénica cuéntica, El dispositivo de Young esta diseiiado para demostrar el cardcter ondulatorio de Ja luz, puesto que la observacién experimental de las franjas de interferen- cia se considera una. prueba irrefutable de que estamos tratando con ondas. De hecho, una particula indivisible como el fotén sélo puede pasar por uno de los orificios, $; 0 Ss, pero nunca por los dos al mismo tiempo como hace un frente de onda para originar Jas interferencias. Sin embargo, si la intensidad de la fuente $ se controla de forma que emita los fotones de uno en uno con separacién temporal suficiente, y en la pantalla se sitita un sisterna de deteocién que también detecte la Iegada de un fot6n individual, el resultado experimental resulta sorprendente. Cada fotén individual produce un tinico impacto puntual en la pantalla en posiciones aparentemente aleatorias, indicando que estamos tratando con partfculas y no con ondas (véase la Fig. 1-9). Pero a medida que el ntimero de impactos va creciendo, la. distribucién de los mismos ya no aparece aleator ; aparecen més y més densos en las posiciones correspondientes a los mAximos de las franjas de interferencia. Después de muchisimos impactos, la estructura granular desaparece en la pantalla y s6lo se observa la distribucién de intensidad continua corres- pondiente a las franjas de Young, En consecuencia, la luz se ha comportado como onda (en la propagacién # través de los orificios) y como partfcula (en la interaccién con el . Hil Figura 1-9 Distribucién de luz en Ia pantalla en un experimento de Young realizado en condiciones de muy baja intensided. (a) transcurrido un tiempo corto, (b) transcurrido un tiempo largo, (a)1.4. Franjas con luz no monocromética i7 detector). Ademds, la intensidad (cuadrado de la funcién de onda) en un punto de la pantalla determina la probabilidad de que la particula fotén sea detectada en ese punto. 1.4 Franjas con luz no monocromatica En un experimento de Young real se usa una fuente de luz necesariamente no mono- cromética, que en general contiene infinitas frecuencias. Al superponerse en la pantalla el término de interferencia Iz de la expresién (1-5) se anula para las frecuencias que son diferentes (se hace cero el promedio temporal) y es distinto de cero sélo para frecuencias iguales. Por tanto, cada frecuencia producira en la pantalla su propia serie de franjas. Las posiciones de los méximos, por ejemplo, vienen determi- nadas por el valor de Ag asociado a esa frecuencia de acuerdo con la formula (1-26) m= (ao) / (nd) m=0 om=1 — m=2 Figura 1-10 (a) Franjas de intorferencia producidas por una fuente que emite luz de dos frecuencias a (linea continua) y 2o+ Ag (linea de trazos). Para el orden interferencial m=0 (en ¢=0) coinciden Jos méximos de ambas, pero los siguientes msximos se van separando a medida que aumenta rn. (b) “Aspecto de las franjas de interferencia en el caso de un espectro continuo de A. En primer lugar, consideramos el caso simple de una luz con sélo dos componentes Do y Aot+ Ano relativamente prdximas. El méximo de orden m de la longitud de onda18 Capitulo 1. Principios generates de las interferencias mayor estar desplazado, respecto al mismo maximo de la longitud de onda menor, una distancia que obtenemos derivando la ecuacién (1-26): Stn = mis® (1-30) donde se ha introducido el espaciado entre franjas 1=(a o)/(nd) dado por la expresién (1-28). En la figura 1-10a se ha representado la intensidad de las franjas para cada componente; la intensidad total seré la summa de ambas series, por lo que los méximos de orden bajo se verén ensanchados y los de ordenes mayores pueden verse separados. Si en vez de las dos longitudes de onda consideradas, la fuente emite un conjunto infinito de longitudes de onda, comprendidas entre \y y Ao + Ado, habré infinitas series de franjas (una para cada ). ‘Todos los méximos correspondientes al orden interferencial cero coineiden en 2=0, y a partir de ahf los méximos se van ensanchando y perdiendo intensidad a medida que m aumenta, al mismo tiempo que los mfnimos se hacen menos oscuros. Como consecuencia de ello la visibilidad (1-15) disminuye y las franjas aparecen borrosas (Fig. 1-10b). Como el ensanchamiento de los méximos también aumenta al aumentar Ao, para un valor suficientemente grande de Ao las franjas desaparecen. Esto es lo que ocurre cuando se usa luz blanea, para la que Ado = (750-400) nm =350nm; alrededor del méximo central m =0 blanco se observan los méximos m= 1 para los diferentes colores del espectro visible, y a partir de m = 2, a simple vista, de nuevo se tiene luz blanca. En realidad, si se analiza esta zona de luz blanca. con algin tipo de espectroscopio, se observan las franjas correspondientes al color seleccionado por el espectroscopio y se habla de espectro acanalado. 1.5 Coherencia temporal y visibilidad de las franjas En la seccién anterior se ha visto que la falta de monocromaticidad de las fuentes de luz reales empeora la visibilidad de las franjas de interferencia en comparacién con el caso estrictamente monocromatico. Ahora nos interesamos por la evaluacién de esa visibilidad en funcién de la monocromaticidad de la fuente, la cual viene medida por su anchura de banda Aro. Veremos que, dada la estrecha relacién entre monocromaticidad y coherencia temporal (véase el capitulo 2 de la Optica Blectromagnética, vol.I), existe1.5. Coherencia temporal y visibilidad de las franjas 19 una relacién aproximada, sencilla entre la visibilidad V, formula (1-15), y la longitud de coherencia temporal J. (longitud de los pulsos) que emite la fuente. Recordemos las expresiones elementales para [,: oo Av Ady’ donde t, es el tiempo de coherencia y Av la anchura de banda en frecuencia. fe te (1-31) Para que las franjas sean bien visibles se requiere que el méximo del orden interferen- cial m coincida para todas las longitudes de onda contenidas en el espectro, lo cual sélo es posible para luz estrictamente monocromitica. Pero podemos aceptar que los maximos “coinciden” sila separacién entre ellos para los diferentes colores (para el orden dado m), Azra, es mucho menor que el espaciado entre dos érdenes interferenciales adyacentes, J, véase la figura 1-10a, Es decir, usando la formula (1-28) para 1 y la (1-30) que da Azra, se tiene la condicién: At =m 2 1 > me, (1-32) O bien, teniendo en cuenta que la diferencia de camino éptico entre los haces para el orden m es AL=m Ag, se puede escribir, at=my< Xe, (1-33) de modo que con la expresi6n (1-31) para l., se obtiene la condici AL (a="/) + hate (1-48) Otros convenios toman V igual a 1/2, 1/e, 6 0 (para a=7). Como ejemplo, la longitud de coherencia espacial de un frente de onda de la luz solar resulta: 0,5 um - 1,5 x 108 Km . 1,5-108Km ~ 10pm, (1-49) 1.6.5 Interferémetro estelar de Michelson De acuerdo con la expresién (1-46), la visibilidad de las franjas depende de la extension de la fuente e, de su distancia a las rendijas b y de la separacién entre las rendijas d, ademés de la Ap de la luz usada, Por tanto, midiendo V se puede determinar uno de estos pardmetros si se conocen los restantes. Asi, si se mide la visibilidad de las franjas producidas por una estrella cuya distancia a la Tierra se conoce, usando unas rendijas de espaciado d, se puede determinar el tamafio de la estrella e, que en general es demasiado pequefio para que se pueda resolver con los telescopios ordinarios. Fizeau fue el primero en proponer la idea en 1868, pero s6lo fue de utilidad préctica cuando Michelson en 1920 la mejord y demostré su capacidad mediante el instrumento que él construyé, el llamado interferémetro estelar de Michelson, BI interferémetro estelar de Michelson es un dispositivo del tipo ilustrado en la figura 1-7 (experimento de Young) en el que la. lente es sustituida por el objetivo de un telescopio (Fig. 1-16). Ademés, para mejorar su resolucién, la distancia entre las rendijas se hace mayor con la ayuda de cuatro espejos. Como se observa en la figura 1- 16, la diferencia de camino As entre los rayos procedentes de los bordes de la estrella, viene determinada por la distancia entre los espejos exteriores en vez de por la separacién entre las rendijas. Estos espejos son méviles, de forma que se puede variar el valor de la mn “efectiva” d. Si, partiendo de un valor de d pequeiio con el que se observan28 Capitulo 1. Principios generales de las interferencias Figura 1-16 Esquema del interforémetro estelar de Michelson. Los espejos exteriores son méviles de forma que se puede variar la separacién “efectiva” d entre las rendijas, franjas, se aumenta d hasta que éstas desaparecen, V=0, se tiene la condicién (1-47), de donde se puede despejar el tamaiio de la estrella, dob at ce) se ha tomado n=1 para el espacio interestelar. Por tanto, la resolucién angular 0 = ¢/b que se consigue es: axe. : 7 (1-51) En el capitulo 4 veremos que un telescopio ordinario, trabajando en el limite de resolucién dado por la difraccién, consigue una resolucién angular de O21, (1-52) siendo dy el didmetro del objetivo. En el montaje que hizo Michelson de su interferémetro sobre el telescopio del Monte Palomar de dp=5 m, los espejos exteriores se encontraban una distancia d=15 m. Por tanto, la mejora de resoluci6n es del orden de un factor 4; 6 ~ Or/4. Bl primer disimetro estelar que se midié fue el de la gigante roja Betelgeuse,1.7. Comentarios finales 29 que subtiende un dngulo @=0,047°, y da un didmetro unas 300 veces mayor que el del Sol. Posteriormente se han medido los diémetros de otros objetos estelares y planetarios mediante este procedimiento. 1.7 Comentarios finales Los eonceptos esbozados en este capitulo acerca de la coherencia temporal y espacial por medio de experimentos interferenciales, ponen de manifiesto la complejidad de los 1 mismos en el caso de fuentes reales en las que se tiene coherencia parcial. La intuicién llevé a Young utilizar una fuente primaria $ tan puntual como le era, posible (e ~ 0 en la Fig. 1-15), de modo que consegufa una elevada coherencia espacial sobre el frente de onda que incidfa sobre las rendijas. En estas condiciones, la visibilidad de las franjas s6lo esta limitada por la monocromaticidad de un emisor individual. Por otra parte, una situacién andloga se tiene con una fuente extensa en la que cada emisor es idealmente monocromético, y por tanto con elevada coherencia temporal, pero emitiendo de forma independiente con respecto a los otros (numerosos) emisores de la fuente. En este caso la visibilidad s6lo est limitada por la extensién de la fuente, puesto que se tiene superposicién estadistica de las ondas procedentes de todos los emisores. En general, hemos visto que las ondas reales tienen limitada tanto la coherencia espacial como la temporal. Una descripcidn rigurosa del fonémeno de la, coherencia parcial sélo es posible dentro del marco de la teorfa general de los procesos estocésticos, debido a la naturaleza esencialmente estocdstica del proceso de emisién de la radiacién. 1.8 Apéndices 1.8.1 Anilisis del experimento de Young con luz cuasimono- cromatica Para analizar de forma cuantitativa el efecto de la no monocromaticidad de la fuente sobre las franjas de Young, debemos considerar la interferencia de dos pulsos de longitud finita l,, procedentes de las fuentes secundarias S; y S2, que estan desfasados en un tiempo30 Capitulo 1. Principios generales de las interferencias Figura 1-A1 Pardmetros tipicos de un pulso luminoso emitido por un sistema atémico, 7 =As/v debido a la diferencia de camino As entre ambos recorridos. Por tanto, las dependencias temporales de los campos (considerados escalares) vendrén representadas por las funciones (1-1) escritas del modo siguiente: Ey(t) = Eui(t) et = Boi (t) eff et (1-Al) Ea(t — 7) = Pun(t ~ 7) #7) = Bigg (t — 7) eltat-7) ett) donde se supone que las amplitudes Ep,(t) y las fases ;(t) varfan muy poco en un tiempo: igual al periodo de la onda T= 2z/w. En la figura 1-A1 se ha ilustrado uno de estos pulsos tipicos. La funcién intensidad a que da lugar la interferencia de tales pulsos, vendré determinada por el valor medio del cuadrado del campo real resultante, es d I = ce (([Ein(t) + Bae(t—7)P) = (1-42) = ceo{({Ein(t))?) + ([Bax(t —7))?) + 2(Ein(t) Ban(t—7))}, donde los subindices 8 indican los campos reales. Si, como es el caso ordinario, supone- mos que el campo éptico es estacionario, es decir se cumple que: ( (Bix (t)]?) = ({Bix(t - 7)P) (1-A3) y la intensidad J permanece constante, la expresién anterior se puede escribir, IT=h+h+In, (1-Ad) donde el término de interferencia ahora toma la forma l Tyg = 6£02(EyeEan) = c€0 > ((E, + Ef) (Ep + B3)). (1-5)18. Apéndices 31 En esta expresién se han omitido las dependencias temporales para simplificar la eseri- tnra, Haciendo explicita la expresién del valor medio, se obtiene: (Er + Bt) (E+ B)) = (1-46) = (Ba Bane ™* el + By Be + By Bane” + Boy Binet er) Si en esta expresién se hace un primer promedio en un tiempo T=2n/w (muy pequeio en comparacién con la duracién de los pulsos t,=/,/v), las amplitudes y fases se pueden considerar constantes y los términos primero y tltimo se anulan. Ademés, como el tercer término es el conjugado del segundo, el término de interferencia se puede escribir finalmente: Tia = ceo R{ (Fun Hine *")} = ceo R{(E1E3)} (1-47) Es conveniente escribir I, usando una funcién compleja. Por ello se introduce la Hamada funcién de correlacién o coherencia mutua definida por: Tralt) = ceo (Fi(t) E(t 7)) = ce0 (Built) Boalt — 7) #7) iy (1-8) = ceo | Jim if Balt) Eiy(t — 1) dt | e#™ soot Jy Asimismo se introduce el llamado grado complejo de coherencia como la funcién: Tilt) jive _ (Bor Bin) Wie Wil (a9) Esta dltima se ha normalizado al dividir por 2VT; Th, y en ella se ha eliminado el factor oscilante e~* que es muy répido por el elevado valor de w. q(t) = Utilizando estas definiciones, el término de interferencia se puede escribir: fa = MT i2(7)} = 2Wh Ri yalr) eo“. (1-A10) O bien, separando el médulo y el argumento de y2(T)=|712(7)| eo”, se tiene, Rial) WF = alr) RM}, (An) con lo que finalmente la intensidad (1-A4) se eseribe: T= In {1+M |y12(7)| cos[wr + 6(7)]} (1-A12)32 Capitulo 1. Principios generales de las interferencias y de esta tiltima expresin se tiene inmediatamente la visibilidad, v= MIyn2(7)| (1-A13) En general 0 <|‘12(7)| <1. Solo para luz estrictamente monocromética, para la que E.n, Buz son constantes, se tiene coherencia total: [Br Eal _ Wh ih lal (vay) 1.8.2 Teorema de Van Cittert-ZernikeCapitulo 2 Interferencias por reflexiones en laminas 2.1 Interferencia de dos rayos en ldminas de caras plano-paralelas 2.1.1 Obtencién de rayos coherentes por divisién de amplitud En el capitulo anterior se comenté que un hecho clave para el éxito del experimento de Young es la divisién del frente de onda por medio de los dos orificios $1,8) (véase la Fig. 1-5). Si los orificios y ta fuente $ son suficienternente puntuales, los pulsos de luz que salen de S; y Sz son “gemelos” y tienen un grado de coherencia muy elevado cuando Ia diferencia de caminos épticos es nula. Otro procedimiento para conseguir dos haces de luz muy coherentes consiste en producir los pulsos “gemelos” por divisién de la amplitud de la onda, mediante la reflexién/transmisién en una superficie que separa dos medios diferentes, figura 2-la. El pulso reflejado y el transmitido sdlo se diferencian en la amplitud y en un factor de fase constante, de 0 6 en el caso de reflexién dieléctrica, y entre 0 y m en el caso de reflexién metdlica (confréntense los capitulos 9 y 10 de Optica electromagnética vol. 1). Existen bastantes configuraciones que usan este método; la figura 2-1b muestra una de las més comunes, la que usa una lémina de material transparente con sus caras plano- paralelas. En esta configuracién, se divide la amplitud de un haz en la primera cara para generar los dos haces cnyos caminos épticos se desean hacer diferentes para que después 33er Capitulo 2. Interferencias por reflesiones en léminas interfieran. El rayo 1 es reflejado directamente hacia arriba.en el punto A de la primera. cara y no atraviesa la ldmina; el rayo 2 es reflejado en el punto B de la. segunda cara y transmitido en el C de la primera, atravesando dos veces la Amina (camino éptico mayor) y saliendo paralelo al 1. Al ser paralelos, los rayos 1 y 2 interfieren en el infinito, aunque la figura de interferencia se puede observar de forma conveniente localizada en el plano focal de una Jente como ilustra la figura 2-1b. Si la lémina es de vidrio (n~1,5), las férmulas de Fresnel nos dicen que la fraccién de intensidad reflejada. en cada cara es ~4% para incidencia préxima a la normal, lo que implica que los rayos 1 y 2 tienen aproximadamente la misma intensidad y la visibilidad de las franjas puede ser alta. 2.1.2 Calculo de la diferencia de fase Para calcular la diferencia de fase de los rayos que interfieren en la configuracién de Ja figura 2-1b, considérese el frente de onda ON que comparten los rayos de salida 1 y 2 (perpendicular a ambos). Entonces, si n' es el indice de la ldmina y nel del medio que Ja rodea, la diferencia de camino 6ptico entre ellos viene dada por: AL =n! (AB +BC)—nAN. (2-1) Figura 2-1 (a) Generacién de dos pulsos de Inz idénticos por divisién de la amplitud de un pulso incidente sobre una superficie de discontinuidad entre dos dieléctricos. (b) Interferencia de dos rayos de luz reflejados en cada una de las caras de una ldmina plano-paralela; las franjas se localizan en el infinito y se pueden observar con comodidad en el plano focal de una lente.2.1. Interferencia de dos rayos en léminas de caras plano-paralelas 35 Por otra parte, si h es el grosor de la lamina y tenemos en cuenta la geometria de la figura, se cumplen las siguientes relaciones: ap ona , KB=BC= 5, (2-2) AN = ACsen@ = 2htan0' send ; (23) ademés, se tiene que cumplir la ley de Ja refraceién: n!sen 0 = nsen0 (2-4) Sustituyendo ahora las anteriores en (2-1), se obtiene la siguiente expresién para la diferencia de camino éptico: AL =2n' heos#! (25) y la diferencia de fase asociada a1, = 2 AL /2o viene dada por 4: ba = nlheost! (2-6) Xo Ademiés de esta diferencia de fase, hay que contabilizar la que se origina en las reflexiones en las dos caras de la lémina, Como una reflexién es “dura” (la de arriba si n { 13 (2-8) 2.1.3. Anillos de igual inclinacién Las expresiones anteriores indican que la diferencia de fase entre los rayos que inter- fieren sdlo depende del angulo @ del rayo incidente. Debido a esta propiedad, las franjas36 Capitulo 2. Interferencias por refleziones en léminas de interferencia que aparecen se llaman franjas de igual inclinacién. En particular, si se utiliza una fuente de luz extensa, todos los rayos de la fuente que formen el misma ‘éngulo con la normal a la ldmina, originarén pares de rayos para los que la diferencia de fase entre los dos elementos del par es la misma, Como todos los pares paralelos van a cortarse al mismo punto del plano focal de la lente y son incoherentes, las intensidades de todos los pares se suman, y en consecuencia el uso de una fuente extensa, aumenta mucho la visibilidad de las franjas en vez, de disminuitla. Esta es una importante ventaja de las laminas de caras plano-paralelas con respecto al dispositivo de Young (en el que la fuente tiene que ser casi puntual) para muchas aplicaciones de las interferencias. Por otra parte, para que la visibilidad de las franjas sea elevada, también se tiene que cumplir la condicién (1-34), AL > Ao, el orden interferencial m; ~2n'h/Ao es alto, tipicamente entre 1.000 y 100.000; en cambio, en el dispositivo de Young, t{picamente se tiene m<10 2.1.4. Aplicacién La formula (2-8) relaciona el grosor h y el indice de refraccién n’ de la limina de caras plano-paralelas con la longitud de onda Ao. Por tanto, se puede utilizar para determinar uno de estos parémetros en funcién de los otros. $i se consideran dos anillos cuyos érdenes interferenciales se diferencian en Am=m,— ma, de (2-8) se tiene: 2n'h (C08 Bjn, — COS Bing do Am. (2-10) Por tanto, determinando experimentalmente los Angulos 67,,,0/,, (véase la Fig. 2-3) a partir de tan @n=tm/f", donde 1'm,, Tm, Son los radios de los anillos y f’ es la focal de38 Capitulo 2. Interferencias por reflesiones en ldminas la lente, usando la ley de la refraccién (2-4) y sustituyendo en la anterior, se obtiene la relacién buscada. Figura 2-8 Iustraci6n de la rel ayo. ‘entre el radio de los anillos, la distancia focal y ol Angulo del 2.1.5 Anillos con luz transmitida Fn la figura 2-1b se han considerado solamente los rayos procedentes de la primera refiexi6n en cada una de las caras de la ldmina. $i, como ilustra la figura 2-4, se considera de un lado el rayo transmitido en B y de otro el reflejado en C que luego es transmitido en D, se obtiene un par de rayos paralelos transmitidos hacia abajo en la segunda cara, cuya interferencia se observa. también en el infinito o en el plano focal de una lente como se indica en la figura, En este caso, sin embargo, la intensidad del rayo transmitido sin reflexiones es ~ 92% y la del que ha sufrido dos reflexiones es ~ 0.1%, lo que implica que la visibilidad de las franjas es necesariamente muy baja de acuerdo con la definicién (1-15). Si la lente se coloca paralelamente a la ldmina estas franjas también son anillos coneéntricos en el plano focal de Ja lente y con centro en el foco de la misma. Por otra parte, la diferencia de fase 6 entre los dos rayos que interfieren en una franja viene dada por la expresién (2-6) en vez de por la (2-7), puesto que ahora las dos reflexiones implicadas son “blandas” y no hay que afiadir el término +-n. Esta diferencia con respecto ala luz reflejada hace que unos anillos sean complementarios de los otros (un Angulo dado que produce maximo en un caso corresponde a un mfnimo en el otro).2.2. Franjas en peliculas delgadas 39 Figura 2-4 Observacién de interferencias por transmisién en una lémina plano-paralela, Mas compleja es la posibilidad de interferencia de rayos miltiples como consecuencia, de miiltiples reflexiones en las dos caras de la ldmina, pero esa situacién se discute en detalle en la seccién 2.4. 2.2 Franjas en peliculas delgadas 2.2.1 Léminas de espesor variable ‘A menos que se utilicen técnicas de pulido adecuadas, es dificil conseguir ldminas de caras plano-paralelas que mantengan la planitud y el paralelismo (el espesor) en una extensién grande. En el caso en que ambas caras no son paralelas, como se ilustra en la figura 2-5, se puede producir interferencia en un cierto punto P entre dos rayos que emergen de un punto de la fuente con direcciones diferentes. En realidad, este tipo de interferencia puede ocurrir para cualquier posicién de P en el espacio, por lo que son franjas no localizadas (obviamente, este mismo mecanismo también se presenta en las laminas de caras plano-paralelas). Pero debido a que la diferencia de camino éptico ahora varia de unos puntos a otros de la fuente extensa S, en P se mezclan infinitos méximos y m{nimos y la visibilidad se hace répidamente cero a medida que la fuente deja de ser puntual, Por esta razén es una sitnacién que carece de interés en términos generales.40 Capitulo 2. Interferencias por refleriones en léminas Pigura 2-5 Interferencia de dos rayos en una lamina cuyas caras forman un cierto éngulo: los rayos que interfieren proceden de dos rayos diferentes de la fuente 2.2.2. Franjas de igual espesor Bxisten, sin embargo, ciertas condiciones bajo las cuales se pueden observar interfe rencias en liminas de espesor variable con fuentes extensas. Las condiciones son muy restrictivas, pero se cumplen aceptablemente bien en ciertas situaciones de interés. Si el punto P esté situado muy cerca de la primera superficie de la lamina y los puntos A, B y D son précticamente coincidentes, la diferencia de camino para rayos procedentes de distintos puntos de la fuente es esencialmente la misma. Esto sélo es posible cuando tanto el dngulo entre las caras como el grosor de la Idmina son sulicientemente pequefios (as1°; h no muy superior a A, de ahf el nombre de peliculas delgadas) y la incidencia de Ja luz es muy préxima a la normal. En estas condiciones, la diferencia de camino éptico en el punto P “de la ldmina” viene dado con buena aproximacién por la (2-5) tomando cos ~ 1, puesto que cos 6’ encuentra alrededor de un méximo donde sus pequ: variaciones son de segundo orden, es decir: ALw awh. (211) Al cambiar de un punto P a otro de la pelfeula, el valor de cos@? sigue siendo igual a 1, y AL s6lo depende de h. Por esta razén, las franjas de interferencia que aparecen se Haman franjas de igual espesor.2.2. Pranjas en peliculas delgadas 41 Bajo estas condiciones, por tanto, se observan franjas localizadas en la pelicula, Para observarlas en una pantalla, se puede usar una lente que forme una imagen real de las franjas sobre la pantalla, y la region pequefia se puede seleceionar mediante un diafragma, ‘También se pueden observar directamente con el ojo desnudo, en cuyo caso la imagen se forma sobre la retina y el propio iris hace de diafragma. A partir de la expresién (2-11), la condicién de méximo/mfnimo se puede escribir con buena aproximacién como: x m=0,1,2,... (max) Qntht2=mrm® 13 (2-12) 2 m=5 (min) Se ha aiiadido el término +o/2 para tener en cuenta el cambio de fase de 7 entre la reflexién en una u otra cara de la pelicula delgada. Pasando este término al segundo miembro, la anterior también se puede escribir de la siguiente forma, y m! =0,1,2,.-. (min) h=m'5 13 (2-13) m!=5y57--- (max) donde se ha hecho m! =m 1/2 y A= o/n'. De acuerdo con la condicién anterior, las franjas son los contornos de espesor constante a intervalos de espesor de 4/2; por tanto, si la pelicula es de espesor constante, Ia intensidad sobre la. misma es uniforme (no aparece este tipo de franjas sobre ella) 2.2.3 Aplicacién Las franjas de igual espesor se usan frecuentemente para comprobar la forma de una superficie éptica utilizando la pelicula de aire formada entre la superficie a comprobar y otra patrén. Cuando la pelfcula de aire es una enfia formada por superficies planas, las franjas son equidistantes y paralelas a la arista de la cufia. De acuerdo con la ilustracién de la figura 2-6, el éngulo a de la eufia se puede determinar por la relacién a~A/(2d), siendo d el espaciado entre franjas, Asf, por ejemplo, para a= 1' y \ = 850 nm, la separacién es d=1,9mm, lo cual indica que a debe ser muy pequefio para que las franjas estén razonablemente separadas. Este hecho, sin embargo, hace que estas franjas sean2 Capitulo 2. Interferencias por refleciones en léminas Figura 2-6 Relacién entre el Angulo que forman las caras de una pelicula delgada, el espaciado de las franjas y la A de la luz, particularmente tiles para comprobar en los talleres de éptica las superficies finales de manera muy simple y con una precisién notable. Por ejemplo, en el caso del pulido de una Iémina circular de 2cm de diémetro, si mediante sucesivas comparaciones con la superficie patrén durante el proceso de pulido se consigue eliminar las franjas (por tanto dz 2cm), la separacién de la planitud de esa Imina seré menor que 4/2 y el dngulo entre las caras menor que 3” de arco. Como la posicién de las franjas depende de la longitud de onda, si se utiliza luz blanca y dadas las diferencias de camino éptico tan pequeiias en el caso de peliculas delgadas, se cobservan unas pocas franjas coloreadas. Esta es la explicacién de los colores que aparecen en algunos fenémenos naturales: en las burbujas de jabén, en las peliculas de aceite sobre superficies no bien limpias, en las alas de ciertas mariposas y de aves tropicales. 2.2.4 Anillos de Newton Los lamados anillos de Newton son un ejemplo particular de franjas de igual espesor que tienen interés histérico. Se observan en la pelfeula de aire que queda entre la super- ficie esférica convexa de una lente y una superficie de vidrio plana en contacto con ella que se muestra en Ja figura 2-7. Las franjas son anillos concéntricos con centro en C, para los que se cumple (2-13), por lo que de acuerdo con la figura se verifica:2.2. Franjas en peliculas delgadas 43 Figura 2-7 Esquema del montaje experimental para observar los anillos de Newton, a = R- —~T wr-r(i-to+... = R-RY1— ye R-R(1- get siendo r el radio de los anillos y R el radio de la superficie de la lente, y teniendo en = R-VP cuenta que r < R, Por tanto se tiene una relacién entre el radio de los anillos y la de la luz: 0,1,2, ... (min) (max) Cuando ambas superficies estén en contacto, m’=0, el centro de los anillos es oscuro y mR (2:15) los radios de los anillos oscuros son proporcionales a las rafces de los mimeros enteros. Si se va separando la lente de la superficie plana, el valor de h aumenta en cada punto. Los anillos tienen que moverse hacia. la posicién que ahora tenga el valor de h asociado a su orden interferencial, por lo que se van haciendo més pequefios y el contro C se convierte en un sumidero de anillos (uno cada vez que h aumenta /2). A su ver, la intensidad del centro va oscilando entre la oscuridad y el valor maximo. Es curioso notar que, siendo un método sencillo para medir la A (como el experimento de Young), Newton interpretara Jos anillos en funcién de su modelo corpuscular en vez, del modelo ondulatorio. Por otra parte, Newton observé unos pocos anillos coloreados (la secuencia conocida como colores de Newton) porque us6 luz blanca, de forma andloga a cuando se usa luz blanca en el experimento de Young (véase la seccién 1.4)44 Capitulo 2. Interferencias por reflexiones en léminas 2.3. El interferémetro de Michelson 2.3.1. Descripcién En las interferencias por reflexiones en léminas estudiadas en las secciones anteriores, los dos rayos que interfieren sdlo estan separados fisicamente en el interior de la ldmina, de modo que resulta dificil la manipulacién independiente de los caminos dpticos de cada reyo, En el famoso interferdmetro de Michelson también se usan reflexiones en Iéminas pero de manera, que los rayos que interfieren sigan trayectorias separadas para que sea accesible la manipulacién de cada camino éptico por separado; este simple hecho lo convierte en un poderoso instrumento. 1 — Figura 2-8 Principio de funcionamiento del interferdmetro de Michelson, La versin més simple de este instrumento se ilustra esquemdticamente en la figu- ra 2-8. Ahora la divisién de amplitud de la luz procedente de una fuente extensa se realiza en una mina semitransparente (divisor de haz) D orientada para incidencia 45°. Tipicamente, es una ldmina de vidrio en una de euyas caras A se ha depositado2.3. El interferdmetro de Michelson 45 una pelicula delgada de metal, o una multicapa dieléctrica (véase la seccién 2.6), la cual divide la amplitud aproximadamente al 50% entre el rayo transmitido y el reflejado. En general, las reflexiones en la cara que no contiene el depésito semitransparante son mucho més débiles que las otras y se pueden despreciar, pero lo ideal es evitarlas depositando sobre esta cara un recubrimiento antirreflectante (véase la seccién 2.6.2). Los rayos refiejado y transmitido en la lmina, que se propagan en direcciones aproximadamente perpendiculares, inciden sobre sendos espejos Mi y Mz donde son reflejados de nuevo hacia la kimina; en ésta, las amplitudes de ambos son divididas por dos otra vez en sendos rayos transmitidos y reflejados. ‘Tomando la amplitud transmitida del rayo procedente de M; y la reflejada del procedente de Mg, se puede observar interferencia entre ambos. De esta forma se pueden manipular los caminos dpticos de cada rayo, A~Mi y A-Ma, de forma independiente. Ademés, uno de los espejos, el M; por ejemplo, se monta sobre un soporte deslizante de manera que se pueda variar cémodamente la diferencia de camino con un tornillo micrométrico acoplado al soporte. Debido a que el rayo A-Mp atraviesa. la imina D una sola ves, mientras que el rayo A-M, la atraviesa tres veces, se suele interealar entre D y My una lamina compensadora idéntica a la D y paralela a ella (pero sin recubrimiento semitransparente) para hacer més simétricos ambos recorridos. 2.3.2 Tipos de franjas El tipo de franjas que se observan en el interferémetro de Michelson se puede analizar con comodidad de la manera siguiente. Llamemos Mj a la imagen del espejo Mz dada por el divisor de haz A (véase la Fig. 2-8). El camino éptico a lo largo del rayo ShJIaP (transmitido en A, reflejado en Mg y reflejado en A) es igual al camino éptico a lo largo del rayo SI, K InP (reflejado en A, reflejado en el espejo virtual M3 y transmitido en A). Por tanto, se puede considerar que las franjas que se observan en Ia pantalla P, se originan en wna pelicula de aire formada por la superficie reflectora real My y la virtual Mj, Sdlo hay que reemplazar el cambio de fase = (entre reflexién en una y otra cara de la kémina) por el valor igual a Ja diferencia entre el cambio de fase que ocurre en la reflexién intema y la externa de la superficie A. (Esta diferencia depende del tipo de semirreflector que se ha depositado en A). Por tanto, se observardn franjas similares a46 Capitulo 2. Interferencias por refleiones en laminas las discutidas en las secciones anteriores. Acf, si Mr y Mj son paralelos, para caleular la diferencia de fase ser aplicable la ecuacién (2-7) en la forma:+ 5 = Nai cos! +4 (2-16) Yo y se obtienen anillos circulares en el plano focal de la lente con centro en el foco. Si, mediante el tornillo micrométrico, se acerca M; a Mj los anillos se contraen hacia el centro (un anillo concreto corresponde a un orden m fijo, que es un valor de 6; al disminuir h, cos@ tiene que aumentar, y por tanto 6’ tiene que disminuir). Al mismo tiempo su anchura aumenta al aumentar la eseala angular, hasta que la iluminacién del plano focal se hace uniforme cuando M; y Mj coinciden; entonces se dice que los espejos del interferémetro M, y Mz estén en contacto dptico. El nivel de iluminacién del campo dependerd del valor de $: para ¢=0 el nivel serd maximo, para ¢=7 serd minimo. Por otra parte, cuando My y Mj no son paralelos sino que forman un dngulo pequefio; si estén lo suficientemente préximos, se tiene el caso de un pelicula delgada y se forman franjas de igual espesor localizadas en o cerca de la superficie de esta pelicula (franjas de Fizeaui). En principio, por tanto, las franjas son Mineas rectas paralelas a Ja arista de la cufia que forman las dos caras de la pelicula. Sin embargo, a medida que la separacién aumenta, el intervalo de éngulo de incidencia correspondiente a cada punto del campo de vision deja de ser despreciable, la visibilidad de las franjas disminuye, y se hacen curvas con el lado convexo hacia el vértice de la cuiia. ‘Tanto si Mi y Mj son paralelos como si estan inclinados, un cambio Am Ap del camino 6ptico en cualquiera de los brazos del instrumento produce un desplazamiento del campo a través de Am érdenes. Visualmente se pueden medir desplazamientos de hasta ~1/20 de orden, pero usando métodos adecuados se puede llegar a detectar ~ 1/1000 de orden. Cuando la separacién entre M; y Mj es del orden de (condicién de proximidad al contacto dptico), se pueden observar franjas con luz blanca, ‘el caso de que el divisor de haz. consista en una pelicula metélica, la fase ¢ es una funcién suave del Angulo 0 (véase el capitulo 9 de Optica Blectromagnética vol.]), por lo que entre anillos préximos se puede considerar constante,2.3. El interferémetro de Michelson 47 2.3.3 Aplicaciones El interferémetro de Michelson est actualmente obsoleto excepto las versiones modi- ficadas, especialmente las que usan luz colimada, como comentaremos en la seccién siguiente. Pero desde su aparicién se hizo famoso debido al uso que hizo del instru mento el propio Michelson en tres experimentos importantes. #) El experimento de la deriva det éter de Michelson-Morley que puso de manifiesto el cardeter de “invariante” de la velocidad de la luz y la inexistencia del éter. if) El primer estudio sistemético de dad de las franjas y el método discutido en la secci6n 1.5. iii) La primera comparacién directa de la estructura fina de las \ineas espectrales utilizando la medida de la vi la longitud de onda de ciertas Iineas espectrales de longitud de coherencia grande con el metro patrén, 2.3.4 Interferémetro de Twyman-Green Actualmente se usan variantes del interferémetro de Michelson de entre las cuales vamos a considerar aqui la modificacién de Twyman-Green, una de las més empleadas para la comprobacién y acabadlo de elementos épticos de precisién. Consiste esta modifi- cacién en iluminar el interferémetro de Michelson con luz. coherente y colimada (Fig. 2-9), de manera que los frentes de onda que inciden sobre la kimina divisora de haz y sobre los espejos sean planos y se simplifique considerablemente el andlisis de las franjas de interferencia. Si los espejos son perpendiculares, Mz y Mj son paralelos y la situacién se corresponde con el caso de una lamina de caras plano-paralelas que es iluminada con un solo valor del Angulo . Por tanto, el campo esté iluminado homogéneamente (no aparecen franjas) con una intensidad que depende de la diferencia de camino entre los dos frentes de onda. Pero si los espejos no son perpendiculares, aparecerén franjas en la cufia formada por Mz y Mj. En la figura 2-10 se representan dos variantes del interferdmetro de Twyman-Green usadas para comprobacién de un prisma operando en desviacién minima y de una lente. Si los elementos @ comprobar carecen de defectos, los frentes de onda que vuelven de ellos son planos y no se observan franjas con el instrumento bien ajustado. Pero si el48 Capitulo 2. Interferencias por reflexiones en ldminas Figura 2-9 Marcha de los rayos en el interferémetro de Twyman-Green, My Figura 2-10 Modificaciones del interferSmetro de Twyman-Green utilizadas para la comprobacién de una lente y de un prisma en desviacién minima. prisma o la lente distorsionan el frente de onda, aparecen franjas de igual espesor que indican dénde deben ser pulidos para su correccién. Utilizando luz laser y barriendo 1 interferograma con un detector adecuado, se pueden obtener los mapas de contorno. Estos mapas son procesados en un ordenador para, de forma automética, ser corregidos por un “robot” de pulido.2.4. Interferencia de ondas miltiples en ldminas de caras plano-paralelas 49 2.3.5 Interferémetro de Mach-Zehnder E] interferémetro de Mach-Zehnder es en realidad una variante de un interferémetro anterior Hamado de Jamin, y como el Twyman-Green utiliza luz coherente y colimada. Como se ilustra en la figura 2-11, en este interferémetro no se devuelven los frentes de onda reflejados al divisor de haz inicial A, sino que se envfan a un segundo divisor de haz Az. Con esta configuracién la luz s6lo pasa. una vez por cada brazo y resulta més ficil interpretar los cambios inducidos sobre las franjas por un elemento introducido en un brazo para su comprobacién. Por otra parte, cl ajuste del instrumento es més eritico que el Twyman-Green, por lo que es especialmente adecuado para medir pequefios cambios de camino dptico. Un buen ejemplo es el uso que se hace de este interfersmetro para analizar las turbulencias del aire en los tiineles de ensayos aerodindmicos midiendo los pequeiios cambios de indice de refraccién que se generan en el aire, Aunque son muchas y variadas las aplicaciones de este montaje. Ay M 5 My Ay Figura 2-11 Marcha de los rayos en un interferémetro de Mach-Zehnder. 2.4 Interferencia de ondas miiltiples en laminas de caras plano-paralelas ‘Al estudiar las reflexiones en la mina de caras plano-paralelas en la seccién 2.1 (Fig. 2-1b), se ha considerado s6lo la primera reflexién interna, desprecisndose las restan- tes. Por esta razén, nuestro tratamiento se ha limitado al caso de interferencia de dos rayos. Esta manera de proceder esta justificada cuando, como es el caso ordinario, el50 Capitulo 2. Interferencias por refleziones en laminas coeficiente de reflexién de las caras de la Mimina es mucho menor que 1 (por ejemplo, en un vidrio a incidencia normal R~0,04). En esta seccién nos planteamos analizar la contribucidn a la intensidad final de todos los rayos reflejados. Veremos que cuando la reflectancia de las caras se acerca a la unidad, la distribucién de intensidad en el campo de franjas se modifica profundamente dando lugar a aplicaciones importantes. Este es un ejemplo de interferencia de miltiples ondas donde, como en otros ejemplos parecidos (véanse las redes de difraccién en el capitulo 4), se pone de manifiesto el carécter alta- mente direccional del proceso interferencial. Ello es debido a que todas las ondas tienen que estar en fase en la direccién de un méximo. 2.4.1 Reflectancia y transmitancia de una lamina Consideremos Ja misma lémina de la figura 2-1b pero teniendo en cuenta ahora las infinitas reflexiones y transmisiones que pueden ocurrir en cada una de las caras de la ldmina (Fig. 2-12). Para manejar més cémodamente este mimero infinito de rayos, utilizaremos de forma explicita los factores de Fresnel (véase el capftulo 10 de Optica Electromagnética vol.1). Su expresién concreta depende de los indices de refraccién n,n’, del dngulo de incidencia @ y de la polarizacién. Denominaremos ry t los factores de Fresnel (de amplitud) y Ry, 7; las reflectancia y transmitancia de una cara cuando los rayos entran en la lamina, y 1, ¢, Rj, Ty los andlogos cuando los rayos salen de ella. Para una misma polarizacién, siendo 0 y 6 los Angulos fuera y dentro de la lémina Figura 2-12. Reflexiones miiltiples en una lamina de caras plano-paralelas,2.4. Interferencia de ondas muiltiples en léminas de caras plano-paralelas 51 respectivamente (n sen =n’ sen’) y cuando no hay absorcidn, estas magnitudes estan relacionadas por las siguientes ecuaciones (relaciones de Stokes): 10) () = T8) = TH) r@)=—"'(@) > Ril) = RG) (2-17) Ret =t Por tanto, dado un rayo de amplitud Eig y polarizado linealmente (paralelo o perpen- dicular al plano de incidencia) que incide sobre la lémina con un dngulo 8, el primer rayo reflejado tendré una amplitud B,1 = rBjo, donde r incluye el posible cambio de fase (0.6 r) debido a la reflexién. De acuerdo con la figura 2-12, el segundo de la serie de rayos reflejados tendré una amplitud tr'¥/ Hip y su fase se veré. inerementada respecto al primero debido al doble recorrido de la lamina, es decir Ey =tr't' Ege, (218) donde la diferencia de fase 6 viene dada por la formula (2-6), que se escribe a continuacién sin el subfijo por comodidad: (2-19) Entonces, el campo eléctrico total de la onda reflejada vendré dado por: E, = Eig (r + tt'r'e + tt're% +... + te'r'PTelPs 4...) = Ejo(r + ttir’e(1 + rel + rite" + ---)] 1 (2-20) - 16. = wo (r-vtee Toa — p, VEU=e%) oT Ree En esta sucesién de igualdades se ha sumado la serie geométrica infinita de razon r?e y se han tenido en cuenta las relaciones (2-17). A partir de esta expresién de la amplitud se obtiene con un poco de dlgebra la siguiente expresién para la reflectancia de la mina: fp = B= & (Ee) = T Bo Bo (ay)52 Capitulo 2. Interferencias por refletiones en léminas donde se ha hecho, 4Ry P= TRF (2-22) Mediante un razonamiento andlogo al anterior, se llega a la siguiente expresién para Ja transmitancia de la lamina: I ———_1—__, = —_, (2-23) + (= R)4 4 Risen? 1+ P sents Ter = Estas dos expresiones reciben el nombre de formulas de Airy, y, debido a que se ha supuesto que no hay absorcién, cumplen la siguiente relacién de conservacién de la energia: Rep + Trp (2-24) 2.4.2 Posicién de los anillos Cuando Ia lémina de la figura 2-12 es iluminada con una fuente de luz extensa de manera similar a la de la figura 2-1, cada direccién para la cual todos los rayos estén en fase produciré un anillo de interferencia de intensidad méxima. Asf, para la intensidad transmitida (2-23) se tendré: m=1,2, —+ 6=m2n — 2n'heosi! =m 13 (2-25) Mmasi5ee Andlogamente, para la intensidad reflejada se tienen anillos en posiciones complementa- rias. De (2-21) se obtienen las siguientes condiciones: > 6=m2n — 2n'heos# =m» > Comparando las posiciones de los anillos dadas por estas expresiones con la (2-8), se comprueba que son idénticas al caso en que sélo se consideran dos rayos en el proceso de interferencia,2.4. Interferencia de ondas miltiples en ldminas de caras plano-paralelas 2.4.3. Distribucién de intensidad Sin embargo, la distribucién de intensidad dada por las ecuaciones (2-21) y (2-23) es diferente de Ia que se obtiene cuando interfieren dos rayos. La tinica excepcién es el aso “limite” en que la reflectancia de las caras es muy pequeiia, Mi <1; entonces las expresiones anteriores s{ coinciden con la distribucién de intensidad (1-10) dada para el caso de dos rayos. En efecto, tomando s6lo los términos de primer orden en el desarrollo jas de F se tiene: en serie de poten (2-27) Al aumentar Rj, sin embargo, la distribucién de intensidad varia substancialmente con respecto a la expresién anterior. En la figura 2-13 se ha representado la intensidad transmitida, ecuacién (2-23), para varios valores del parSmetro F (0 de la reflectancia R,). Para R; ~0,04, correspondiente a incidencia normal para el vidrio ordinario, los minimos de intensidad tienen mucha lu, los méximos y mfnimos son igualmente anchos y los anillos tienen muy poco contraste (véanse los comentarios de la subseccién 2.1.5). A medida que aumenta la reflectancia de las caras, los mfnimos se hacen més oscuros Tee mon (m-+1) 2 Figura 2-13 Distribucién de intensidad en Ia luz transmitida por una lémina en le. que se tiene en cuenta la inteferencia de ondas multiples. Se ha representado un intervalo de dos anillos para varios valores de la reflectancia Rj (cl valor de Rj y del pardmetro F se indica en cada curva),54 Capitulo 2. Interferencias por refleciones en ldminas y més anchos, y los m4ximos mds estrechos. Para R; 20,9 los minimos son tan anchos y oscuros que el campo de la luz, transmitida es un fondo negro con unos anillos muy finos y brillantes, Por el contrario, para la luz reflejada se obtienen anillos muy negros y finos sobre un fondo brillante. Es decir que a medida que, al aumentar Ry, aumenta el ntimero efectivo de rayos que interfieren, la condicién de interferencia (constructiva 0 destructiva) se hace més restrictiva, el proceso se hace muy selectivo direccionalmente y la anchura de los anillos disminuye mucho. 2.4.4 Finura de los anillos y luz cuasi-monocromatic: Debido a Ja alta sel ividad angular que impli la condicién de maximo (0 minimo) en interferencia de ondas miltiples, la exigencia de monocromaticidad de la fuente lumi nosa es mucho mayor que en el caso de dos rayos para conseguir que los anillos sean finos. Dadas las importantes aplicaciones espectroscépicas a que da lugar este hecho, a continuacién se analiza con més detalle. En primer lugar, se define la finura F de un anillo como el cociente de la separacién en fase entre dos anillos consecutivos, Ad =2n, y la anchura media del anillo, ¢, (anchura.a la mitad d figura 2-14), es d la altura segtin se indica en la Fer, (2-28) ‘mx (m+1) 20 Figura 2-14 Separacién entre anillos y anchura media de un anillo medidas en la imagen real de los anillos (izquierda) y en valor de la fase (derecha).2.4. Interferencia de ondas miltiples en ldminas de caras plano-paralelas 55 Usando la ecuacién (2-23) para la luz transmitida, por ejemplo, la anchura media, viene determinada por la condicién: I 1 = a ' (2-29) i 14 Poet EE de donde, teniendo en cuenta que e<2m, se obtiene, 4 20-R) , VEO ea y por tanto la finura viene dada por: aVF aR Fata (2-31) Consideremos ahora que la fuente de luz tiene una anchura de banda Ay alrededor del valor medio Xo. La dependencia de la diferencia de fase con 4 (2-19), implica que los méximos de los anillos se extenderan en un intervalo de fases Ad dado por (derivando As AX |Aro| _ 2a 5% Xo no donde se ha usado §=2m AL /2o, siendo AL la diferencia de camino éptico asociada al orden del anillo, m=6/2m. Las intensidades de todos estos anillos se suman por ser (2-19) y despreciando la dependencia de n! con Ao) 2m yp Aro 143] (2-32) incoherentes, los maximos se ensanchan en el valor Aé y la visibilidad disminuye. Si se quiere evitar este ensanchamiento, todos ellos deben caer en un intervalo de fases mucho menor que la. anchura de un anillo, es decir, se debe cumplir que: an, dol 2 dice = Sap Pet do ro F donde, ademds de la ecuacién anterior (2-32), se ha tenido en cuenta la definicién de (2-33) fmura (2-28). De la tiltima relacion se obtiene finalmente la condicién: = [Aro] siendo I, la longitud de eoherencia temporal. Comparando esta expresién con la (1-35) > FAL, (2-34) correspondiente a interferencia de dos rayos (interferémetros de Young, Michelson, etc) se observa que la longitnd de coherencia temporal J, de la fuente luminosa ahora tiene que ser un factor F mayor (para igual valor de AL)56 Capitulo 2. Interferencias por refleriones en léminas 2.5 Interferémetro de Fabry-Perot 2.5.1 Descripcién El interferdmetro Fabry-Perot recibe el nombre de sus inventores y se puede conside- rar como el ejemplo més sencillo de resonador éptico. Fl principio de funcionamiento es el de una ldmina de aire de caras plano-paralelas con alta reflectancia operando a inci: dencia casi normal, en la que se producen interferencias miiltiples a las que se aplican los conceptos y férmnlas vistos en la cién anterior.La ldmina de aire, (véase la Fig. 2-15) se consigue por medio de dos ldminas de vidrio (frecuentemente silice) cuyas super’ cies interiores tienen un recubrimiento de alta reflectancia (usualmente una multicapa dieléctrica). Cada lémina de vidrio tiene sus caras ligeramente no paralelas con objeto de liminar el efecto de las interferencias multiples producidas en su interior (s6lo interesan las producidas en la “lémina” de aire). fuente extensa —_ente lente de enfoque Figura 2-15 Esquema de funcionamiento de un interferémetro Fabry-Perot. Girando la figura plana alrededor del eje del sistema se obtienen en la pantalla los anillos de “igual inclinacién” En la versién llamada etalén Fabry-Perot (Fig. 2-15), las lminas estén separadas por un espaciador, cilindro hueco de invar o sflice (materiales de bajo coeficiente de dila- tacién térmica) con tres tachones salientes en cada extremo, y se mantienen en posicién mediante presién mecénica. Usando téenicas épticas, los planos definidos por los tacho- nes del espaciador se hacen muy paralelos, y los ajustes finos se consiguen variando la presién sobre los tachones. En la versién llamada interferémetro de barrido no existe el2.5. Interferémetro de Fabry-Perot 87 espaciador y uno de los espejos va acoplado a un soporte piezoeléctrico mediante el cual se puede variar el espaciado entre las Miminas con extraordinaria finura, 2.5.2 Absorcién en las caras Las caracteristicas del interferémetro Fabry-Perot estan estrechamente ligadas a la reflectancia de sus caras Ry 0, lo que es equivalente, al parémetro F definido en (2-22) el cual determina la reflectaneia (2-21) y la transmitancia (2-23) de la limina. Sin embargo, al obtener estas formulas, se ha supuesto que no hay absorcién en las caras y por tanto a conservacién de la energia se escribe R,+T,=1. Esto en general no es cierto, pero de forma especial cuando la reflectancia de las caras Ry es muy alta. En este caso, incluso una absorbancia A, pequefia, desempeiia un papel importante porque el nimero efectivo de reflexiones es muy alto. Ahora la conservacién de la energia implica que: R+T+Ar (2-35) Sustituyendo el nuevo valor de la transmitancia Ty = ~ R,~ A; en el numerador de la (2-23) para la intensidad transmitida, se obtiene: _h AY 1 Te= 7, (- 1- Ri) 1+ Fsen6/2" (2-36) La absorcién de las caras A; afecta de forma especial al pico de transmisién del interferdmetro Fabry-Perot, definido por: ” (2)... -( “7 ay i (2-37) en cambio no afecta al pardmetro llamado contraste, definido por: c= tie = (ERY (2-38) 1-R, ni afecta por tanto a la visibilidad. Esta magnitud sf es afectada por el acabado éptico del instrumento: defectos, planitud y paralelismo de las caras.58 Capitulo 2. Interferencias por reflesiones en léminas 2.5.3 Poder de resolucién espectral La aplicacién més importante y extendida del interferémetro Fabry-Perot quizés sea en espectroscopia de muy alta resolucié: Debido a su clevada sclectividad angular, si sobre el instrumento inciden dos longitudes de onda diferentes aunque muy préximas, aparecerdn dos series de anillos ligeramente desplazados que se podrén distinguir gracias a.su extremada finura. De forma general, se introduce la magnitud Hamada poder de resolucién espectral Pry de un instrumento espectroseépico para caracterizar la eapacidad que tiene el instru- mento de distinguir como diferentes dos longitudes de onda muy proximas, Se define como el cociente entre la longitud de onda media Ao y la variacién minima (AXo)min que puede detectar, es decir, = (Aro) min El valor (AAo)min, ademés de variar de unos instrumentos a otros, depende del criterio Pro (2-39) que se elija para definirlo, El criterio més extendido es el introducido por Lord Rayleigh dasdndose en la funcién sencx = (sen%z)/2? que aparece con frecuencia en relacién con los instrumentos épticos. De acuerdo con este criterio, dos distribuciones de luz dadas por la. funcién citada se consideran justamente resueltas cuando el méximo de cada uno de ellas coincide con el primer cero de la otra (vase Ia Fig. 2-16). En estas condiciones, el cociente entre el valor en el valle y en los méximos debe ser igual a [2sen?(x/2)]/(w/2)?=8/n? =0,81 (el doble del valor de la funcién (sen2x)/2? cuando x es equidistante entre el méximo principal y el primer mfnimo). En el caso del Fabry-Perot el criterio debe fijar las condiciones en que dos anillos muy préximos, cada uno asociado a una longitud de onda diferente, se pueden considerar como diferentes o bien estén tan juntos que se considera uno solo. Un criterio eémodo consiste en suponer que los dos anillos estén justamente resueltos cuando la separacién entre ellos es igual a la anchura media ¢ (véase la Fig, 2-17). Por tanto, la separacién mfnima en fase (Aé)min, de acuerdo con (2-28) y (2-80) vendré dada por: 1(A) nin (2-40)2.5. Interferémetro de Fabry-Perot 59 ma Sibert (Ado) min} Figura 2-16 Con la funcién senc*s= (een®x)/2* representada en esta figura, las dos distribuciones se consideran justamente resueltas cuando el mdximo de cada uno de ellas coincide con el primer cero de In otra, Tee AL=edo/2e 0,5 L mg aN mot (Ao) mia) Figura 2-17 Separacién de dos méximos en un Fabry-Perot para que las longitudes de onda corres- pondientes se puedan considerar justamente resueltas, nihoos 0 ‘A partir de esta expresién se puede determinar la magnitud (Ag)min usando la relacién (2-32) (puesto que (A8)mia <4), de modo que finalmente el poder de resolucién espectral Pro serd: do Seu 2m Pe = et = Fm, 2-41 Toll WBS) ~ 207 on) siendo m=6,,/(2r) el orden interferencial. Por tanto, el poder de resolucién espectral del instrumento aumenta de forma lineal con la finura, Ademds, como m=(2n'h/9) cos 6’, Py. también aumenta con el grosor de Ia. cavidad.60 Capitulo 2. Interferencias por refleriones en ldminas 2.5.4 Intervalo espectral libre Cuando las dos longitudes de onda que se estén analizando con el Fabry-Perot. se diferencian bastante, los anillos pueden estar tan separados que el anillo de orden m de la \ més larga coincida o sobrepase al anillo de orden m-+1 de la.) mas corta (véase la Pig. 2-18).t Bn esta situacién el instrumento es inservible para comparar de forma fiable las dos longitudes de onda. Por ello, se define un nuevo pardmetro lamado intervalo espectral bre del instrumento, (AAo)ie, que determina la diferencia en longitud de onda para la cual tiene lugar esa superposicién de érdenes, es decir, Lmao = (M41) 20 = Lmagrare = (A+ (Oo) (2-42) de donde, x (Aro)ie= y= F (AX) min (2-43) Por tanto, si se tiene un poder de resolueién alto (valor pequeiio de (AAp):nin) también se tiene un intervalo espectral libre pequeiio. E para Xo Gata) a (Gn+2)0 (mFT)%9 ™%0 TF para y+ Ady (m+2) Qo Aro) (m+) (oF AAs) m (Ag+ Ag) Figura 2-18 En esta figura el orden (m+ 3) de do os sobtepasado por el orden (m+ 2) de Xo+ Ado. Debido a este pequefio intervalo espectral libre del interferémetro Fabry-Perot, es frecuente montarlo en serie con un espectroscopio de prisma o de red (véase la Fig. 2-19) que separe las diferentes regiones del espectro. El Fabry-Perot se encarga de separar las componentes muy juntas de cada regién por separado. TNotese que el anillo de orden m correspondiente a MAA esté desplazado hacia el centro con respecto al anillo del mismo orden correspondiente a A.62 Capitulo 2. Interferencias por refleciones en ldminas auye el espesor de Ja ldmina, el orden interferencial de los anillos disminuye, y even- tualmente desaparecen cuando 2n'h < Ao de acuerdo con la ecuacién (2-25). Por tanto, en las peliculas delgadas se tienen drdenes de interferencia muy bajos, lo cual se puede utilizar para conseguir dispositivos muy selectivos de longitudes de onda. Actualmente Jo més frecuente es utilizar apilamientos de peliculas dieléctricas de diferentes espesores y/o indices de refraecién, que pueden ser periddicos o no. Estos son los lamados sistemas épticos de multicapas, en los que el mimero de capas puede variar entre 1 en los sistemas més simples y econémicos y mas de 100,000 en las multicapas periddicas preparadas por variaciones del indice de refraccién del substrato. El andlisis to6rico de estos siste- mas sigue un tratamiento similar al de ldmina tinica (seceién 2.4), pero introduciendo matrices caracteristicas del apilamiento que permitan el cdleulo por ordenador. El lector interesado puede consultar el capitulo 17 de Optica Electromagnética vol.II. Como las aplicaciones de estos sistemas cada vez, son més numerosas ¢ importantes, a continuacién los filtros se discuten dos ejemplos muy sencillos de una sola capa a modo de ilustra interferenciales y las ldminas antirreflectantes. 2.6.1 Filtros interferenciales El filtro interferencial més simple consiste en una pelicula delgada emparedada entre dos superficies de alta reflectancia (preferiblemente de multicapas dieléctricas), es decir constituye un interferémetro Fabry-Perot cuyo grosor h de Imina es del orden de la longitnd de onda de la luz (Fig. 2-20). Usualmente se prepara para trabajar a incidencia normal, de modo que sin’ es el indice de refraccién de la pelfcula, de acuerdo con (2-25), habré méximos de transmisién para: Qnh= my — (m=1,2..)5 (2-44) espejo multicapa h espejo multicapa [STS REA Ci Figura 2-20 Blementos basicos de un filtro interferencial sencill,2.6. Interferencias muiltiples en peliculas delgadas 61 Figura 2-19 Tandem formado por un espectroscopio de prisma y un intorferdmetro Fabry-Perot, para conseguir al mismo tiempo amplio intervalo espectral libre y elevado poder de rosolucién. 2.5.5 Resumen de caracteristicas ‘A continuacién se da un resuinen de los pardémetros que caracterizan al interferometro de Fabry-Perot: 1, Finora de los anillos: = TYR 1-R, ‘ Le 2. Pico de transmisién: 7 = TL = Lif 14hY 3. Factor de contraste: C= bes = ( _ a) do 4, Poder de resolucién espectral: Pye = ——2— = mF. ” Dro)nin . . do 5. Intervalo espectral libre: (AXo)ie at F (Ado) min « 2 Al subir la reflectancia de las caras Ry mejoran los pardmetros 1, 3 y 4; y empeora el 2. Al utilizar un orden interferencial m mayor (aumentando h), mejora 4 y empeora 5. 2.6 Interferencias miiltiples en peliculas delgadas Las interferencias miiltiples también se pueden observar en peliculas delgadas si se mantiene el paralelismo de las caras en una extensién suficiente. A medida que se dismi-2.6. Interferencias miiltiples en peliculas delgadas 63 si se clige el producto 2n'h de manera que sea igual a la Ay que deseamos que sea transmitida, habré un méximo (m=1) muy agudo para esta Ao y no serén transmitidas en absoluto todas las longitudes de onda mayores; de entre las longitudes de onda menores que Ao, sélo serén transmitidas aquéllas que sean un submiiltiplo exacto de Ao, m= o/m. Fistas estén muy separadas de Ao y pueden ser bloqueadas fécilmente haciendo que el substrato contenga algiin colorante que las absorba. Las caracteristicas del filtro serdn las mismas que las del interferémotro Fabry-Perot (véase la subseccién 2.5.5). Por ejemplo, si la Ao prefijada es de 500 nm y la finura es F =100, la anchura de banda del filtro se puede calcular usando la formula (2-41), es decir (AXo)min = Ao/F =5 nm. También se puede disofiar el filtro para un orden superior al m=1 del caso anterior, en cuyo caso el colorante deberé absorber también los érdenes inferiores. 2.6.2. Peliculas antirreflectantes Toda superficie de separacién entre dos dieléctricos diferentes refleja parte de la luz que incide sobre ella; por ejemplo, la energia reflejada en una frontera aire-vidrio es aproximadamente el 4% para incidencia normal, y mayor para 4ngulos mayores, En muchos casos précticos interesa eliminar esta reflexién, bien sea porque al existir muchos elementos dpticos en el sistema se pierde demasiada energfa o simplemente porque resulta molesta (reflejos de las pantallas de televisién o de los “cristales” de las gafas). Esta luz reflejada se puede evitar en gran medida depositando una pelicula dieléctrica sobre la superficie en cuestién. Sean no, n y ns los indices de refraccién del medio exterior, de la pelicula y del substrato, respectivamente y h el espesor de la pelicula (Fig. 2-21), Para conseguir reflectancia cero, se hace que el rayo 1, reflejado en la cara externa de la pelicula, esté en oposicién de fase con respecto a todos los restantes (2, 3, ...), y que su amplitnd sea igual a Ja de la suma de todos los dems. Como se demuestra a continuacién, amas condiciones se pueden conseguir si mo B= Boe (2-49) n+l nn’ la tiltima ecuacién se ha obtenido utilizado las formulas de Fresnel en incidencia normal y de ella se obtiene la condicién: n= Viz, (2-50) la cual determina el indice de refraccién que debe tener el material de la pelicula. Desgraciadamente, para una situacién tan comin como es la frontera aire-vidrio donde n, ~ 1,5, el valor n ~ /T,5 = 1,22 es demasiado pequefio para que exista un material s6lido con ese indice. Aun asf, si se utiliza MgF2 con n,=1,38 sustituyendo estos valores numéricos en la formula de Fresnel correspondiente se obtiene R=r?~1%. Es decir, se disminuye la luz reflejada en un factor cuatro aproximadamente. Para obtener recubrimientos antirreflectantes més eficientes y para un intervalo grande de longitudes de onda, es necesario utilizar més eapas y realizar el andlisis mediante el método de la matriz caracteristica.66 Capitulo 2 Interferencias por refleciones en léminasCapitulo 3 Teoria escalar de la difraccién 3.1. Introduccién En los dos primeros capitulos de este bloque se ha estudiado el fenémeno de la inter- ferencia de haces luminosos desde un punto de vista escalar. La observacion de franjas de interferencia se considera. una evidencia experimental del cardcter ondulatorio de la luz, y pone de manifiesto una de las limitaciones de la dptica geométrica. Las limit nes de la aproximacién geométrica también se ponen de manifiesto por su incapacidad para explicar el fenémeno de Ia difraccién. Este hecho se discutié de forma cualitativa en el capitulo 11 de la Optica Blectromaguética, al examinar eriticamente la condicién A—0 requeride por diche aproximacién geométrica. All{ se vid que cuando un haz de luz colimado pasa a través de un orificio, diverge a partir del orificio con un éngulo dado por 8~A/D, siendo D el diémetro del orificio. Como en la vida corriente suele cumplirse que D> A, el efecto es pequefio y suele pasar desapercibido. Una situacién familiar, en la que se pone de manifesto la difraccién, ocurre cuando se observan en detalle los bordes de la sombra de un objeto, producida por la luz solar que penetra por la ventana de una habitacién; se encuentran unas franjas claras y oscuras més 0 menos difusas en vez de una divisién nftida entre luz y oscuridad (Fig. 3-1a). Un caso de mayor trascendencia es la mancha de luz que produce en la regién de la imagen (de un objeto puntual) un sistema éptico aunque esté bien corregido de aberraciones. En vez de Ia imagen puntual predicha por la éptica de rayos, se observa un circulo brillante de cierta extensién rodeado de unos pocos anillos, tanto més débiles cuanto mayor es el radio (Fig. -1b). En la mayorfa de los 1s esta mancha de luz es demasiado pequefia 67Capitulo 3. Teoria escalar de la difraccién para que sea observable a simple vista, pero tiene una influencia fundamental en la calidad de la imagen final dada por los instrumentos épticos. Figura 3-1 Presencia del fenémeno de la diftaccidn en el borde de una sombra (a) y en Ia regién de la imagen de un sistema éptico (b). En ambos casos se ha exagerado el tamatio de las franjas en beneficio de la claridad de la figura, BI estudio riguroso de la difraccién es muy complejo y slo se ha abordado para unos pocos ejemplos simples. En este capftulo y en los dos siguientes se utilizarén métodos aproximados, basados en un modelo escalar de la luz, cuyas ideas fundamentales se deben a Huygens, Fresnel y Kirchhoff. Las aproximaciones que se hacen son muy restrictivas, pero el tratamiento matematico se simplifica mucho y permite adquirir una buena comprensién fisica del problema de manera asequible. Desde el punto de vista préctico, la interpretacién que suministra esta teorfa de la diftaccién sobre el proceso de formacién de la imagen, constituye una excelente herramienta para optimiz y el rendimiento de los instrumentos épticos. 3.2 El principio de Huygens-Fresnel La primera referencia a los fenémenos de difraccién aparece en un trabajo de Leonardo da Vinci, pero s6lo son descritos con cierto detalle por primera vez por Grimaldi en un trabajo publicado en 1665, dos afios después de su muerte. El modelo corpuscular de la.3.2, Bl principio de Huygens-Fresnet 69 huz que predominaba en aquella época no podia expliear la difraccién. Lo més probable es que Huygens, el tinico defensor del modelo ondulatorio en esos momentos, desconociera el trabajo de Grimaldi, porque en otro caso no hay duda que lo habria. utilizado en apoyo de su modelo. La explicacién satisfactoria de la difraccién utilizando el modelo ondulatorio no legs hasta 1818, En ese alo aparecié una eélebre memoria de Fresnel en la que demostraba que la difraceién se podfa explicar utilizando simultaneamente el principio de Huygens y el prineipio de interferencia, Bs decir, en su tratamiento de la propagacién de la luz, Fresnel tiene en cuenta tanto la amplitud como la fase de las ondas, De acuerdo con este principio de Huygens-Fresnel, cada punto de un frente de onda se puede suponer como un centro secundario de pertubacién que emite onditas esféricas (principio de Huygens). Por otra parte, la pertubacién total que Iega a otro punto arbitrario posterior es el resultado de la interferencia de todas las onditas secundarias coherentes originadas en el frente de onda considerado (aiiadido de Fresnel). Considere- mos para coneretar el caso del frente de onda esférico de la figura 3-2 correspondiente a una onda monocromatica en la que prescindiremos del factor e~®*, Si designamos por Fj la amplitud de la onda incidente en el punto N, la ondita secundaria procedente de este punto N contribuiré a la amplitud en el punto P de forma proporcional a 1%; y al tamaiio del elemento dB que se toma como emisor secundario; ademés, hay que incluir el factor de propagacién e#”/r correspondiente a una ondita esférica desde N hasta P. Es decir, salvo un factor constante que carece de importancia cuando interesan los valores relativos, se puede escribir J dBy = Bld — f(x) (1) 7 El factor f(x) que se ha afiadido es conocido como factor de inclinacién y constituye otra contribucién importante de Fresnel, Al introducirlo intuitivamente, Fresnel considera que a amplitud de las ondas secundarias de Huygens depende de la direccién de propagacién, siendo méxima en la direccién x=0, f(0)= fnaxy ¥ nula en la direccién perpendicular f(m/2)=0. Por otra parte, teniendo en cuenta que la onda ineidente que procede de 370 Capitulo 3. Teoria escalar de la difraccién Figura 3-2 Contribucién de la fuente secundaria dB de un frente onda esférico a la amplitud del campo en un punto P, de acuerdo con el principio de Huygens-Fresnel. también es esférica y recorre una distancia 7, se puede escribir: she E,= Bo (3-2) y finalmente, la amplitud en P resultante de todas las contribuciones, sord: eto) B= [ Fl) aB (6-3) iD 1st Esta formula, introducida por Fresnel de forma mds 0 menos empfrica, se ha mostrado extraordinariamente util y, salvo minimas modificaciones, se sigue utilizando actualmente en la mayorfa de los problemas ordinarios de difraccién, En 1882 Kirchhoff dio una justificacién matematica sélida de la integral de Fresnel (3-3) utilizando la ecuacién de ondas escalar, es decir la Hamada teorfa eldstica de la Juz (todavia no existfa familiaridad con la teorfa electromagnética de Maxwell). Desde entonces muchos autores han discutido el tema extensamente. En las secciones que si- guen se desarrolla esta justificacién y se disonten sus limites de validez. En particular, se obtiene una expresién analitica del factor de inclinacién f(x), formula (3-16), matizando las suposiciones de Fresnel. Por tanto, el principio de Huygens-Fresnel se puede consi- derar una consecuencia aproximada de Ja ecuacién de ondas. Por su interés intrinseco y como ilustracién de la utilidad de este modelo, en Ja seccién 3.6 se discute la aplicacién9.3, Teorta eleciromagnética. Aprosimacién escalar 1 que hizo el propio Fresnel de dicha férmnla para explicar un hecho bien conocido: 1a propagacién de una onda esférica (como la ilustrada en la Fig. 3-2) en el espacio libre. 3.3. Teoria electromagnética. Aproximaci6n escalar Desde el punto de vista de la teoria electromagnética de Maxwell, la difraccién hay que tratarla como un problema de contorno, siendo las fuentes de luz singularidades apropiadas de las funciones de onda. El andlisis riguroso exige especificar el cardcter vectorial del campo electromagnético, su polarizacién, y no s6lo su intensidad. Esto hace que la solucién rigurosa de los problemas de difraccién sea dificil, y que hasta ahora sean escasas las geometrias para las que se ha encontrado una solucién analitica que se pueda considerar rigurosa. La primera de estas soluciones la. dio Sommerfeld en 1896 en un importante articulo en el que discutié la difraccién de una onda plana infinite por una pantalla plana semiinfinita de un metal idealmente conductor. A pesar de ser una geometria muy sencilla e idealizada la solucién suministra una informacién muy util. Asi, en la zona de sombra de la pantalla la solueién se propaga bajo la forma de una onda cilindrica que aparentemente procede del borde de le pantalla, mientras que en la zona iluminada consiste en la superposicién de la onda cilindrica y de la onda incidente original. Esto dio un soporte matizado a la existencia de la onda de borde postulada por el propio Young para explicar cualitativamente la difraceién en términos de Ia interferencia de las ondas que se “reflejaban” en el borde del orificio con la onda directa que pasaba a través de la abertura, Después del artfeulo de Sommerfeld se han encontrado soluciones rigurosas de un reducido niimero de otros problemas, prineipalmente bidimensionales, y también se ha comprobado que el modelo de la onda de borde de Young se cumple con buena aproximacién en bastantes casos.t Sin embargo, debido a las dificultades mateméticas de la teorfa rigurosa, en la ma- yoria de los casos de interés es més practico utilizar métodos aproximados. La primera simplificacién que se realiza es la llamada aprorimacién escalar, en la que se desprecia Fvéase: M. Bor y E. Wolf, Principles of Optics. Pergamon Press, Oxford, 6* edicién, 1980; seccién 8.9.2 Capitulo 3. Teorta escalar de la difraccién la polarizacién de la luz, es decir, el cardeter vectorial del campo éptico. La transicién del campo 6ptico vectorial al campo escalar se ha justificado con detalle para el caso de luz polarizada natural,t Afortunadamente, en los casos més importantes y frecuentes, Jas figuras de difraccién resultan poco sensibles a la polarizacién de la luz, asf como a a materia de que esté hecho el difractor. Este es el caso de la situacién experimental tipica en que la longitud de onda es mucho més pequefia que el elemento difractor, y éste mucho més pequefio que la distancia a la fuente y al punto de observacién, es decir, de acuerdo con la figura 3. AKVE cos(Myr) = cos x, (3-14) con lo que la (3-13) queda: By pf citer) np = fe Oy yar Ot eon ae (3-15) Es decir, hemos obtenido una expresién idéntica a la de Fresnel (3-3), en la que, ademas, el “factor de inclinacién” queda deter inado por la siguiente expresién analitica: (3-16) Como se ve, este factor es més complejo que lo que supuso Fresnel y contiene efectos3.6. Aplicacién a la propagacién de una onda esférica 1 adicionales a la pura inclinacién. De un lado indica que la amplitud de las ondas s cundarias depende de 2, y éstas estén desfasadas respecto a la incidente en un factor 2-i"!2, De otro, el efecto puro de la inclinacién viene dado por el factor: g(x) = 4 (1 +08) « (3-17) ‘Tal como supuso Fresnel, g(x) presenta valor mAximo para x=0, 9(0) =1; en cambio, 9(n/2 de que g(r) =0 explica que no aparezca una onda de retroceso (que se propagaria hacia 1/2 en ver de ser cero como habia supuesto Fresnel. Por otra parte, el hecho Ja fuente S) 3.6 Aplicacién a la propagacién de una onda esférica Ahora que tenemos una expresién analitica completa (3-15) de la integral de Fresnel- Kirchhoff, la cual incluye la forma correcta del factor de inclinacién (3-17), vamos a aplicarla a un caso cuyo resultado experimental es trivial, con objeto de comprobar su grado de validez en un caso préctico. En la figura 3-2 se ha supuesto que $ es una fuente puntual que emite ondas esféricas monocrométicas, por lo que la amplitud de la onda en el punto P viene dada por: eiktntoo) Ep = Eo (3 5) aun frente de onda te +70 *) n de Ja integral de Fresnel en su forma (3- Por tanto, la aplicac como el representado en la figura 3-2, debe arrojar el mismo resultado (3-18), Para demostrarlo, sigamos al propio Fresnel y utilicemos el llamado método de las zonas de Fresnel tomando centro en el punto P se trazan (véase la Fig. 3-7) superficies esféricas de radios: 3 +23 (3-19) To. =t0+ Sy Te 7 +19 =m F, = +25 ) Estas superficies dividen el frente de onda 3 en una serie de zonas semiperiédicas Ziy 2a) +++ Zjye++s Caracterizadas porque los puntos correspondientes de dos zonas e- cinas presentan una diferencia de fase *. Como se tiene 7,,7 >, cada zona 2 es lo78 Capitulo 8. Teoria escalar de la difraccién Figura 3-7 Construceién de las zonas de Fresnel en el frente de onda © para el punto P. suficientemente pequefia como para suponer que el factor de inclinacién g;(x) es cons- tante en toda ella con buena aproximacién. Entonces, la contribucién de la zona zj al campo en el punto P, se puede escribir: i yet (Bp =-5 ol, La integral que aparece en esta expresién se calcula en el apéndice 3.9.2 y el resultado (3-20) es: eit 2rneltre [ye = (oy (3-21) Sustituyendo ahora esta expresién en (3-20) se obtione, eittretre) Ee= 2B 9 (29 Para determinar el campo total en P basta sumar las contribuciones de todas las zonas, es decir: Ep = )(Ej)p = [Fal ~ |Eal + \Ba| ~ [Esl +> (3-23) Hi El propio Fresnel propuso un procedimiento muy prdctico para efectuar esta suma teniendo en cuenta que con el factor (-1} se hacen positivos los términos impares y2.6. Aplicacién a la propagacién de una onda esférica 79 negativos los pares, y baséndose en que el factor de inclinacién debia ir disminuyendo lentamente al aumentar el Angulo x. El procedimiento consiste en agrupar los términos de la siguiente manera: Ey E: |Es Es wo Be + (4 Al 4 HE Ue) (i 3I py HE IB) gay De este modo, los paréntesis son nulos con muy buena aproximacién y queda: E Epa (3-25) La expresi6n para B, se obtiene haciendo j=1 en (3-22) y teniendo en cuenta que de la (3-17) se obtiene 9, = 9(0)=1; sustituyendo esa expresién de J en la anterior se lega a: eiltro) Bp = Ex (3-26) +70 Es decir, se obtiene la expresién correcta para la propagacin de ondas esféricas en el espacio libre. Anécdota La teorfa de Fresnel resultaba tan sorprendente en su tiempo que, cuando fue pre~ sentada a la Academia de Ciencias francesa, el académico Poisson se vid obligado a encontrar dénde estaba el fallo, y finalmente “demostré” que era errénea por medio de la reduccién al absurdo, Poisson llegé a la conclusién, a partir de la teoria de Fresnel, de que si en un frente de onda esférico se tapa la primera zona de Fresnel por medio de un pequeiio disco opaco, el centro de la sombra proyectada por el disco deberfa aparecer brillante con la misma intensidad que si no estuviera el disco. En efecto, si se climina Ja primera zona de Fresnel, y se reagrupan de nuevo los términos en (3-24) pero sin Ey, se tendré Ep = Fy/2 ~ ;/2, es decie, précticamente la misma amplitud que sin disco. Este resultado, procedente de una aplicacién correcta de la teorfa, era absurdo para Poisson. Sin embargo, muy pocos dias después de que Poisson comunicara su resultado, Fresnel y Arago se presentaron con el resultado experimental de que en el centro de la sombra del disco habfa um punto brillante. Irénicamente, dicho punto se denomina ahora “punto de Poisson”.80 Capitulo 8. Teoréa escalar de la difraccién En realidad se pueden hacer otras eombinaciones parecidas a la de Poisson y se obtie- nen resultados también “sorprendentes” , que son confirmados aproximadamente por los experimentos. Por ejemplo, si se utiliza una pantalla complementaria a la de Poisson, es decir se tapan todas las zonas excepto la primera, se tiene Ep = que es el doble de la amplitud resultante cuando contribuyen todas las zonas y por tanto una intensidad cuddruple, (1)p =4(Uroaas)p-. Conviene indicar que, a pesar de las apariencias y como 8 tipico de los fenémenos interferenciales, la enengia total se sigue conservando (s6lo se ha redistribuido espacialmente). Estos ejemplos ilustran el poder del método de Fresnel para manipular los frentes de onda luminosos en muchas aplicaciones, como de hecho tendremos ocasién de hacer en capftulos posteriores, 3.7 Comentarios adicionales sobre la integral de Fresnel-Kirchhoff 1. La integral de Fresnel-Kirchhoff (3-13) presenta simetria con respecto a las posi- ciones $ de la fuente puntual y P del punto de observacién. Esto significa que si la fuente luminosa se sittia en la posicién P, produce en el punto $ el mismo efecto que producia en P cuando se encontraba en S. Bste resultado se conoce como principio de reciprocidad de Helmholtz, 2. En el andlisis que ha levado a la integral (3-13) se ha utilizado una fuente puntual y por tanto ondas incidentes sobre el orificio que son esféricas. El andlisis se puede extender a casos de ondas més complicadas y se llega a resultados equivalentes, siempre que los radios de curvatura en cada punto del frente de onda sean mucho mayores que La distribucién de amplitud (Ba)p que se obtiene cuando la lua se difracta a través de una cierta pantalla a, sumada a la amplitud (Bj)p que se obtiene de la pan- talla b complementaria de la a, debe ser igual a la amplitud Ep en P cuando no hay ninguna pantalla en la trayectoria de la luz (porque a y b ocultan las zonas3.8. Difraccién de Fraunhofer y difraccién de Fresnel 8h semiperiédicas complementarias): Ep = (Ea)p + (Eo)p - (3-27) Este resultado se conoce como principio de Babinet de las pantallas complemen- tarias. Esto implica que si B, =0, se tiene H, =F, es decir que si la intensidad es cero en presencia de una de las pantallas, la intensidad en presencia de la otra pantalla es la misma que si no hubiera ninguna pantalla. Por otra parte, si Ep=0 se tiene By (las fases de H, y de E, difieren en 7) y las intensidad son iguales, J.=Jh. 4. Las repercusiones de las restrictivas condiciones de contorno de Kirchhoff (3-10) para justificar la integral de Fresnel han sido sometidas a muchas discusiones criticas. Quizés la mas directa es que la integral de Fresnel-Kirchhoff no repro- duce los valores que se han supuesto para el campo sobre la pantalla (valor cero) y en el plano de la abertura (valor idéntico al de la onda incidente). Sin embargo, a pesar de éste y otros fallos, y gracias a que se cumple muy bien la condicién A (m=1,2,...). (46) 2a fa) tb) Yaa Man 2%ha Figura 4-3 (a) Distribucién de intensidad en Ia pantalla de la figura 4-2 a lo largo del eje X", dada por la funcién (sency)? (y= kasen 6"). (b) Representacién gréfica de las soluciones de la ecuacién tand=t4.2. Difraccién por una abertura rectangular 93. El valor m=0 para 6’=0 annla simulténeamente el numerador y el denominador; el limite del cociente es igual a la unidad y da lugar al maximo principal “de orden cero” Los méximos secundarios ocurren cuando: dlp Gro 7 eae. (47) La iiltima igualdad es una ecuaci6n trascendente, cuya solucién numérica da las posicio- nes y los valores para los maximos que se indican en la tabla 4-1; la figura 4-3b ilustra gréficamente las soluciones de esta ecuacién. La anchura de los maximos viene deter- minada por la separacién entre dos minimos consecutivos que, de acuerdo con (4-6), es A6'~A/(2a). La excepcién es el maximo central que tiene una anchura doble que los restantes debido a que su posicién corresponde a la de un minimo “frustado”. Nétese que tanto la condicién de minimo (4-6) como la de maximo (4-7) dependen de la longitud de onda de la luz y permiten eventualmente utilizar la difraccién por una abertura como sistema espectroscépico. Sin embargo, este procedimiento sélo tiene utilidad practica cuando se usar muchas aberturas como se analiza en el capitulo 5 dedicado a las redes de diftaceién, ‘Tabla 4-1 Posiciones y valores de los méximos y minimos de la funcién (senc yp)’, Yroax — Yrnin | (seney)? 0 1,000 © 0 1,430" 0,047 Qn 0 2,459 0,017 3m 0 3,471 0 0,008 4m 0 4,477 x 0,005 ba 0 5, 4820 0,00394 Capitulo 4. Difraccién de por una abertura 4.2.2 Distribucién de intensidad sobre el eje Y’ y el plano X’Y' Consideremos ahora la distribucién de intensidad a lo largo del eje ¥’. Introduciendo por comodidad el angulo 9’ que forma TP” con su proyeccién sobre el plano Z’X', tendremos f' =sen 9" (Pig. 4-2), y mediante un razonamiento an: go al realizado mas arriba sobre el eje X’, se obtiene la sigu condicién para los minimos nulos minimos: kbseng!=ma + y la misma condicién (4-7) para los méximos siendo ahora p=kbsen g’. La distribucién de luz completa en el plano X'Y' viene dada por el producto de los dos fact res de la ecuacién (4-4); la figura 4-4 ilustra la imagen que se observa en la pantalla en el caso de una abertura cuadrada (b=). Tanto la extensién del maximo central como la de los secundarios es menor cuanto mayor es la abertura. En el limite en que la abertura sea “infinita” (equivalente a +0), una vez mas se obtiene el resultado de la éptica geométrica que predice una imagen puntual de una fuente puntual como la S. Figura 4-4 Distribucién de intens cuadrada (b=a), ad producida en la pantalla de la fig ‘a 4-2 por una abertura4.2, Difraccién por una abertura rectangular 95 cin por una rendija Sien vez de una abertura en la que b~a, se usa una rendija en la que b>>a, de acuerdo con Io visto anteriormente, la distribucién de Inz a lo largo de la direccién Y" tendré una extensién practicamente nula, mientras que la correspondiente a la direccién X" tendré la forma de la figura 4-3a, Es decir, se tendré como imagen de S una linea de trazos paralela al eje X’ (cada trazo corresponde a uno de los méximos). En este caso, en vez de wna fuente puntual conviene utilizar una fuente-rendija, como en el experimento de Young, cuya dimensién grande sea también a lo largo del eje ¥’. En estas condiciones la imagen de cada punto de la fuente-rendija es una linea de trazos més 0 menos desplazada en la pantalla (véase la Fig. 4-5). Por ser incoherentes los diferentes puntos emisores de la fuente, se deben sumar las intensidades de todas las imagenes, y como los méximos y minimos de todas ellas son coincidentes a lo largo del eje X’, en la pantalla se obtiene una serie de franjas de difraccién paralelas a la direccién larga de las dos rendijas (la rendija-fuente y la difractante). De esta forma el andlisis de la difraccién queda reducido una dimensién, la X’, y se aprecian més fécilmente las franjas de difraccién. Pa aad pera a Figura 4-5 Distribucién de intensidad producida por la difraccién en una rendija alargada. segiin el eje 7 para varias fuentes puntuales desplazadas en la. misma direccién.96 Capitulo 4. Difraccién de Fraunhofer por wna abertura 4.3 Difraccién por una abertura circular Consideremos ahora la difraccién por una abertura circular de centro O y radio F. Este caso es particularmente importante en los instrumentos épticos porque los diafrag- mas, las monturas de las lentes y de los espejos, etc. son en su mayoria circulares. Consideremos por sencillez que la fuente puntual esta situada en el eje perpendicular a la abertura y que pasa por su centro, de modo que a= 0 y la direccién de la onda incidente es [0,0,1] como se muestra en la figura 4-6. Usando de nuevo la expresién (4-1), la amplitud compleja en la pantalla (plano focal de la lente Cz) ahora viene dada por! Bp of eo MLE+8'0) de dy (4-9) Dada In simeteia de revolucién alrededor del eje, conviene hacer los calculos en coorde- nadas polares en las que se tiene: E=peosp, y=pseny, dédn dp dy , (4-10) siendo p la coordenada radial y y la coordenada angular de un punto de la abertura circular (véase la Fig. 4-6). Designaremos mediante {¢’, y’] las correspondientes coorde- Co Figura 4-6 Difraccién de Fraunhofer por una abertura circular.4.8. Difraccin por una abertura circular 97 nadas polares sobre la pantalla, y dada la simetria de revolucién bastaré tomar un valor para el azimut ¢' que elegiremos por sencillez sobre el eje X’ (y’=0). Para este rayo, n a! =sen 6! y los cosenos directores sen 6. Sustituyendo ahora en (4-9) se llega a Ja expresin siguiente: pan . 7 ef etteP 20 ydpdy (41) que da como resultado (véase el apéndice 4.5.1) 25:(2) Ro aPC) oon oe : (4-12) siendo J,(Z) la fncién de Bessel de primer orden de primera especie que se ha represen- tado con linea de puntos en la figura 4-7. Por tanto, la distribucidn de intensidad, una vex, normalizada a la unidad para Z=0 puesto que sélo interesan los valores relativos, copy? lee [: h a) Pann Esta funcién, que recibe el nombre de funcién de Airy, se ha representado con Ifnea viene dada por continua en la figura 4-7 y presenta un comportamiento que recuerda al de la funcién ul (a) n tb) a 4-7 (a) Con linea de puntos se ha representado la fincién de Bessel J,(Z), y con linea continua de intensidad (2,(2)/Z]? que produce la difraccién por una abertura circular. (b) Fotografia de la imagen observada en la pantalla98 Capitulo 4. Difraccién de Fraunhofer por una abertura (4-5). Esto se debe a que la funcién Jy(Z) también presenta oscilaciones como la funcién seno y se hace cero para determinados valores del argumento, aunque su amplitud es amortiguada en vez de constante. La intensidad también es maxima para Z=0 porque limz-o[2J;(Z)/Z]=1. En la tabla 4-2 se dan las posiciones y valores de los primeros maximos y minimos de la funcién de Airy. Tabla 4-2 Posiciones y valores de los maximos y minimos de la funcidn de Airy, 2a(Z)ZP 0 1,000 3,83 0 514 0,017 7,02, 0 8,46 0,004 10,17 0 11,62 0,0016 13,32 0 La distribucién de luz por tanto, consiste en un disco central brillante, rodeado de anillos coneéntricos con él, alternativamente claros y oscuros. Hay que notar que la intensidad de los anillos brillantes decrece répidamente al alejarnos del disco central y en cualquier caso es mucho menor que la de éste; 1a del primer anillo sélo es un 1,7% de la del disco central. La energfa contenida entre dos radios, p, y ph, se puede calcular mediante la integral, é= [1 -[" ae pag (4-14) cn y el resultado da un 84% de la energfa para el disco central, un 7% pata el primer anillo, un 2,8% para el segundo anillo y un 6% para el conjunto de todos los anillos restantes. El disco central viene determinado por el radio del primer minimo es decir Z;=3, 83 de acuerdo con la tabla 4-2. Por tanto, usando la expresién de Z dada en (4-12), se tiene: kRo 3,83 = F (4-15)4.4. Poder de resolucién de los instrumentos dpticos 99 siendo D= Rel didmetro de la abertura circular. Bn la seecién siguiente veremos la importancia que tienen estos resultados en relacién con el poder de resolucién de los instrumentos épticos. De hecho, la expresién (4-15) se ha introducido previamente, sin justificar, en el estudio geométrico de los instrumentos épticos (capitulo 4 de éptica geométrica) 4.4 Poder de resoluci6n de los instrumentos é6pticos 4.4.1 Instrumentos épticos y difraccién de Fraunhofer El montaje experimental de dos lentes usado para observar difraccién de Fraunhofer (Fig. 4-8a) constituye un sistema éptico que representa el objeto puntual S (la fuente) en la imagen paraxial P en la pantalla, La imagen no es un punto sino una mancha de Airy debido a la difraccién en la abertura que actiia como diafragma de abertura del sistema. En este sistema éptico, por tanto, los efectos que produce la difraccién en la abertura sobre la imagen se pueden tratar mediante Ja aproximacidn de Fraunhofer. Figura 4-8 (a) El montaje usual para observar difraccién de Fraunhofer es un sistema éptico que representa el objeto $ como una mancha de Airy centrada en la imagen paraxial P; la abertura difractante acttia como diafragma de abertura. (b) y (c) Si las dos lentes de (a) se sustituyen por una tinica lente de la misma potencia, en P se obtiene la misma mancha de Airy.100 Capitulo 4. Difraccién de Fraunhofer por wna abertura Un andlisis més detalladot demuestra que éste es el caso para enalquier instrumento 6ptico. Por ejemplo, si en la figura 4-8a se sustituyen las dos lentes por una tinica lente que forme la imagen paraxial de $ en el punto P, se obtiene del citado andlisis que de nuevo la imagen es la misma mancha de Airy de la abertura, tanto si la lente esta delante de ella (Fig. 4-8b) como si esté detrés (Fig. 4-8c). En estas figuras se ha supuesto que ambas lentes est4n muy préximas ala abertura. En el caso de un sistema dptico general, en el que el diafragma de abertura ocupa una posicién arbitraria, se comprueba que el efecto de la difraccién sobre la imagen equivale a considerar difraccién de Fraunhofer en Ja pupila de salida del sistema (imagen del diafragma de abertura). Por tanto, a partir de aqui los problemas de difraceién en los instrumentos épticos se tratarén como difraccién de Fraunhofer en dicha pupila de salida. 4.4.2 Difraccién de Fraunhofer y poder de resolucién Bl hecho de que, incluso con un sistema éptico completamente corregido de aberra- ciones, la imagen de un punto no sea un punto sino una mancha de Airy implica que la imagen de un objeto extenso pierde nitides y, en una situacién limite, puede llegar a ser irreconocible. Este efecto se puede ilustrar de forma mas clara considerando el caso simple de la imagen de dos puntos O; y O» que se encuentran muy préximos. Este ejemplo nos va a permitir, ademés, introducir el concepto de poder de resolucién de un instrumento que forma imagenes. Cada uno de los puntos O; y Oz se va a representar en el plano imagen como una mancha de Airy centrada en la imagen geométrica O' y Of, respectivamente. Aunque las imagenes no sean puntuales, si estn suficientemente separadas se puede decir sin ambigiiedad que corresponden a dos objetos diferentes (Fig. 4-9a). Pero cuando la dis- tancia entre ellas es menor que el radio del disco central, en la suma de sus intensidades, no se puede distinguir si la mancha resultante corresponde a un solo punto objeto o a dos (Fig. 4-9b). También aqui se usa el criterio de Lord Rayleigh* que considera las imagenes tVéase por ejemplo: M.V. Klein, Optics. J. Wiley & Sons, Nueva York, 1970, capitulo 9. "Este eriterio se comenté al hablar del poder de resoluciin espectral del Fabry-Perot, seccién 2.5.3.4.4. Poder de resolucién de los insirumentos dplicos 101 (a) Claramente resulta (b) A No resuel (c) i | abl vee Figura 4-9 Manchas de Airy de dos puntos objeto, Cuando estén alejados, las imagenes indican claramente que proceden de dos objetos diferentes (a). Si estén demasiado juntos, aparentan proceder de un sinico punto objeto (b). En (c) los puntos se consideran justamente resueltos102 Capitulo 4. Difraccién de Fraunhofer por una abertura Justamente resueltas cuando la distancia entre los centros de las manchas de Airy es igual al radio del disco central, es decir el radio del primer anillo oscuro (Fig. 4-9¢). Esto ocurre cuando la separacién angular de los dos centros est dada por (4-18) d 125. (4-16) Con instrumentos y métodos adecuados se pueden distinguir como diferentes dos puntos con una separacién angular menor que la anterior; pero este convenio resulta muy titil para caracterizar los instrumentos épticos que forman imagenes. A partir de aqui, el poder de resolucién del sistema se puede definir como el inverso de esta separacién angular 0 como el inverso de la distancia entre O, y Oy enando sus imagenes estan justamente resueltas de acuerdo con el criterio anterior. 4.4.3 Ejemplos Un buen ejemplo es el telescopio espacial Hubble, en el supuesto de que esta bien co- rregido de aberraciones, y cuyo poder de resolucién no esté perturbado por la atmésfera. Por esa razén se dice que el instrumento opera en el limite de difraccién. Como el didmetro de su espejo principal es D=2,5m, de acuerdo con (4-16) y para \=500nm se tiene 6'=2, 44x 10~* rad (aproximadamente 0, 05 segundos de arco). Si se observa un objeto estelar a una distancia b= 1.000 afios-luz (~9,5% 10" Km), se podrén distinguir detalles que disten entre si al menos y~6!b~2,3% 10° Km, (unas 2,3 horas-luz) que es algo menos de Ja distancia entre el Sol y Urano. Gracias a este elevado poder de reso- lucién y a la gran cantidad de Iuz que recoge, con el Hubble se han podido identificar varios planetas gigantes orbitando alrededor de sus estrellas. Otro ejemplo interesante es el ojo humano, para el que el didmetro de la pupila se encuentra entre 1,5mm y 6mm, que para X=500nm implica 6’ entre 4,1 10~* rad y 1x10~'rad (entre 1/24” y 21”). Por tanto, si se observa un objeto situado a la distancia de visién pr6xima (25cm), la difraccién limita la agudeza visual a detalles de tamaiio minimo entre 0,1imm y 0,025mm (para didmetros de la pupila de 1,5mm y 6mm, respectivamente)..4.4. Poder de resolucién de los instrumentos dpticos 103 Figura 4-10 Determinacién del poder de resolucién de un objetivo de microscopio operando con iuminacién incoherente. Un ejemplo més complejo es el del microscopio que, como se discute en el capitulo 6, requiere un andlisis més sutil para tener en cuenta el tipo de iluminacién que se utiliza. Sin embargo, en la aproximacién de iluminacién incoherente, descrita en la seccién 6.2.1, 1 poder de resolucién se puede obtener de manera andloga a la empleada para el teles- copio y para el ojo, Consideraremos sélo el objetivo porque es de menor didmetro que el ocular y por tanto el que limita el poder de resolucién. Sean dos emisores incoherentes muy cercanos © y Q; en el plano objeto (Fig. 4-10), y las imagenes paraxiales O! y Of dadas por el objetivo. Teniendo en cuenta que el dngulo 0’ es muy pequeiio (y’, D eitlo—a4(8-61m) As iy fl Ea(P) Ein(P) La integral de la primera igualdad se extiende a cada abertura pero, al ser idéntica para todas ellas, puede sacarse factor comiin del sumatorio. Por tanto, la expresién anterior consta de dos factores; uno indicado por Ey que representa el efecto de la difraccién por una abertura individual y otro (el sumatorio) indicado por Hix que representa la superposicién de Jos campos de difraccidn coherentes, es decir, el efecto de interferencia entre aberturas. La intensidad constard también de dos factores que se pueden escribir5.1. Principio de la red de difraccién 109 como sigue, a 2 Tp = La(P) So lines 8-91 x Ll) So 97 eH P- M0) (2) a yw = I,(P) { + YY ele ee bn) HB-B Nay ma} Sal mA A continuacién se utiliza la frmula anterior en tres ejemplos para ilustrar el efecto del 5 niimero de aberturas y su distribucién. 5.1.1 Dos aberturas, reandlisis del experimento de Young En el caso en que la pantalla sélo tenga dos aberturas, haciendo N=2 en la formula general (5-2), queda: Ip = Ia(P) 2 4 etklla—a’ (EE )H(B-8Vm ral) eH e480} 5 63) haciendo en la anterior: 5=k[(a-o')(6 -&)+(8-F')\(m—m)], (5-4) se obtiene finalmente: Ip = 214(P) (1+ e086) (5-5) Como cabia esperar, la expresién (5-5) coincide con la férmula (1-12) que se aplica al experimento de Young (interferencia de dos rayos); pero ahora (al introducir el efecto de la difraccién) queda corregida, La intensidad Jo, que allf era constante, aparece reemplazada por la Jz que representa la distribueién de intensidad correspondiente a la difraccién en una abertura (férmula (4-5) si se trata de rendijas). Como el factor 1,=| EP)? modula las franjas de interferencia, recibe habitualmente el nombre de factor de forma. De hecho, si las aberturas son muy grandes, la mancha de difraccién Tg llega a ser tan pequeiia que no se pueden observar las franjas de interferencia, Esteno Capitulo 5. Redes de difraccién resultado es andlogo al obtenido con la férmula (1-47) relativa a la extensién de la fuente luminosa (en este caso se trata de la anchura de las rendijas): la visibilidad de las franjas es precisamente la difraccién debida a la extensién de la fuente (teorema de Van Gittert-Zernike) 5.1.2 Muchas aberturas distribuidas al azar En este caso los términos de (5-2) con valores de j y m diferentes fluetitan répidamente al variar (a~a’) y (6-6"), y en consecuencia el valor medio de su summa se anula, Por otra parte, los términos con m= valen 1, con lo que a excepcién de pequefias fluctuaciones locales tendremos: 1(P) ~ NIP) (5-6) Bs deciz, précticamente se reproduce la imagen de difraccién de una abertura pero con una intensidad N veces superior (Fig. 5-2a). Sin embargo, hay que exceptuar el punto central de la imagen definido por la condicién a— a! = f— f'=0; para ese punto todos los exponentes del sumatorio de (5-2) valen 1 y el sumatorio queda N(IV —1)~N?, haciendo que el centro sea muy brillante. 5.1.3 Muchas aberturas distribuidas regularmente El caso de verdadero interés es el de un gran nimero NV de aberturas que se encuentran distribuidas de forma regular. En este caso pueden existir ciertas direcciones, definidas por (a~ a’) y (6— 6"), para las cuales las fases de todos los términos (incluso con 1m # j) sean miltiplos enteros de 2x, y cada término vale 1. Entonces la suma de todos los términos de (5-2) vale N(N— 1) ~N®, y si N es muy grande, se obtiene un incremento enorme de la intensidad para esas direcciones concretas (Fig. 5-2b). Este es un fenémeno similar al de la interfereneia de ondas miiltiples en una lamina (seccién 2.4) las direcciones para las que los numerosos rayos de luz estén en fase son méximos muy agudos, porque un pequefio cambio de direccién destruye el acuerdo de fase (muy eritico por ser muchos rayos) y la intensidad cae a cero. La geometrfa de mayor utilidad préctica es la llamada red de difraccién, en la. cual las aberturas son rendijas largas y muy estrechas5.2, Red de difraccién mono-dimensional M1 Figura 5-2 Imagen de di ida con muchas aborturas rectangulares: (a) distribuidas al azar; (b) distribuidas de fo na periédica, colocadas paralelamente a la dimensién larga de forma periédica. Este es el caso que vamos a estudiar con detalle en las secciones siguientes 5.2 Red de difraccién mono-dimensional Consideremos la red mono-dimensional constituida por N rendijas muy alargadas en la direccién 7, de anchura 2a a Jo largo de la direceién € y espaciadas por un periodo de112 Capitulo 5. Redes de difraccién Figura 5-3 Red de difraccién mono-dimensional. La anchura de las rendijas (2a) y el petiodo de la red (@) se han exagerado para que sean visibles en la figura, red d, representada en la figura 5-3. Tomando el origen local O;[é;, 7] para cada rendija en el centro de la dimensién alargada 7 y en el valor minimo de €, podemos escribir: Oj[,m) = (94,0) (7 = 0,1,2,...,N-1) (5-7) Ahora consideraremos la onda plana incidente con direccién perpendicular al eje 1, es decir, [a 8, 7] =[sen 6, 0,cos4)] de acuerdo con la figura 5-3. Al tratarse de rendijas alargadas segiin n, la figura de difraceién estaré colapsada en el eje ¥’ y la direecién de Jas ondas planas emergentes vendré dada por: (ar, 6',-']=[sen 6,0, cos6"]. Entonces la amplitud de la onda difractada en el punto P determinado por la direecién [a’, 0,7/] ser, de acuerdo con la expresién (5-1), Net b= [0 foto ag] Feo I. donde, para la iltima igualdad, se ha tenido en cuenta la (4-2) y se ha efectuado la suma5.2. Red de difraccién mono-dimensional 113 de N términos de la serie geométrica de razén e*@—*), Resulta instructivo hacer notar Ja forma que tiene la suma de la serie geométrica que representa el factor de interferencia: 1+ elflama)d 4. cil(ae')2d +... la amplitud resultante de este factor es la misma que la debida a una serie de fuentes secundarias coherentes, caracterizadas por una amplitud unidad y con fases que difieren unas de otras en miltiplos enteros de kd (a— a’). Si consideramos dos puntos correspondientes, A y B, en rendijas vecinas (Fig. 5-4) se ve claramente el significado de esta diferencia de fase: corresponde a la diferencia de camino entre los rayos que llegan a A y a B dada por dsen 0; y la de los que salen de estos puntos dada por dsen 6", es decir, Qn Fd (oon, — sen’) (6-9) Para obtener la intensidad /(P)cc E(P)[E(P)]}* basta usar la (5-8) en la forma siguiente: eilihdla-a!) 1 g-iNkdla~a!) Fiala aly sen*[& (a a") a] 1 Nkd(a—al) sen?[k (a — a!) a] 8 (5-10) © Tela a) al? sen? ies a) I(P) = cte = Ia(P) Lin(P). En esta expresin J4(P) representa el factor debido a la difraccién en una rendija, que ya se ha ostudiado en la seccién 4.2; por otra parte Ii, representa el factor de interferencia Figura 5-4 Calculo de la diferencia de fase para dos puntos correspondientes, A y B, en rendijas14 Capitulo 5. Redes de difraccién debido a N rendijas coherentes que pasamos a analizar ahora, La funcién: »Né sen? NE In(P) = —3-, (1) sen? donde 5 viene dado por (5-9), presenta maximos principales de valor N? cada vez que se anula el denominador, porque también se anula el numerador y se tiene: N6é sen lim —2- =n (5-12) sen go, sen 5 Es decir, habra maximos principales de valor N? cuando se cumpla: maximos : sent =0 + (5-13) y se puede escribir: (linmac=N? =~ d(sen0;—sené")=mA_ (m=0,+1,£2, (5-14) Este resultado significa que si se cumple la condicién de méximo principal la diferencia de camino éptico entre puntos correspondientes de dos rendijas vecinas es un miiltiplo entero m de J, siendo m el orden interferencial del maximo correspondiente. La expresién (5-14) suele Hamarse ecuacién de ta red. Por otra parte, la funcién (5-11) también presenta minimos nulos cuando se anula el numerador sin que se anule el denominador, es decir cuando se cumple: Né 5 Né j sntmos: sen? NS = 25 ho _ L minimos: sen?" = 0 (gen? 5 # 0) shinjin (4 fentero) (5-15) ¥en este caso se puede eseribir que: (Iin)nin=0 > (en 8 ~ sen’) (5 = 0,51,42,... 55 entero) (5-16) Cuando se tiene j/N = entero, se trata de un mfnimo “frustrado” que da lugar a un aly maximo principal, de modo que la anchura de los méximos principales es igual al doble5.2. Red de difraccién mono-dimensional 15 de la separacién entre minimos: . d Armax(sen 6; — sen 6") = 2a (5-17) Por tanto hay N—1 mfnimos entre dos mé mos principales consecutivos; obviamente entre dos mfnimos vecinos tiene que existir un méximo, Estos se denominan méximos secundarios (hay N-2 méximos secundarios entre dos principales). Debido a que en las divecciones de Jos méximos secundarios no estén en fase las ondas procedentes de todas las rendijas, estos méximos tienen una intensidad muy inferior a la de los principales y reciben el nombre de satélites. Como el denominador varfa mucho mas lentamente que el numerador, la posicién se puede determinar aproximadente por la condicién de que el numerador sea maximo. Asi, para el primer méximo secundario (el que sigue al primer m{nimo) el numerador tomaré el valor maximo igual a 1 si N kd (sen 4,—sen 6')/2=37/2, de donde se obtiene para Ia intensidad el valor 4N2/(9x2), suponiendo que N > 1. ‘Teniendo en cuenta que la intensidad del méximo principal es N, la del secundario no llega al 5% de la del principal. Los siguientes méximos secundarios son atin més pequefios al aumentar el valor del denominador. En Ja figura 5-5 se han representado de modo independiente los dos factores de la ecuacién (5-10) asi como el producto de ambos para el caso en que 2a 150.000. Mas tarde Michelson cons guid llegar a Pye~400.000. La mayorfa de las redes primitivas se trazaban sobre espejos metilicos y vidrios. Posteriormente las redes se trazan sobre peliculas de aluminio eva- poradas, El aluminio tiene mayor reflectancia en el ultravioleta y, al ser blando, produce menos desgaste sobre la punta trazadora (usualmente de diamante) Un aspecto prdctico importante se reficre a los defectos que se producen durante el proceso de fabricacién de las redes de diftaccién. Una red perfecta tendria todas las rayas/rendijas idénticas y estrictamente paralelas. Los defectos completamente aleatorios generan ruido de modo que el espectro aparece mas borroso. Los defectos sisterniticos son mucho més dafiinos puesto que pueden producir redes superpuestas a la que se trata de fabricar. Asf, los errores periddicos del espaciado de la red dan lugar a lineas esptireas en el espectro producidas por los arménicos afiadidos a la red. Estas Iineas son conocidas como pardsitos o fantasmas y normalmente son dificiles de distinguir de las verdaderas. 5.4.1 Redes de perfil controlado Las redes del tipo mostrado en la figura 5-3 presentan varios inconvenientes que impli- can una pérdida considerable de eficiencia. De un lado, el maximo central de difraccién, donde va a parar la mayor parte de la energia, corresponde al orden interferencial cero que, al no separar las diferentes A, resulta imitil en espectroscopia. De otra parte, de- bido al factor de forma Iy de la difraccién, slo hay energis. apreciable en los érdenes muy bajos (m préximo a la unidad), lo que es un problema para conseguir un poder de resolucién alto de acuerdo con la férmula (5-20). Ademés, la red difracta luz tanto en el orden m como en el simétrico —m, pero este tiltimo no aporta ninguna informacién mueva. Para solucionar este tipo de problemas es necesario controlar la forma de las estrias durante el proceso de fabricacién. La solucién ideal seria producir estrias que cambien la fase de forma alternativa, operando de modo parecido a las zonas de Fresnel de la seccién 3.6, con un factor de fase constante (variable a voluntad) que sittie el maximo5.4. Tipos de redes de difraceién 121 del factor de forma en la direccién deseada. Pero la fabricacién de redes de transmisién de este tipo es una tarea muy dificil. Una solucién més préctica es usar redes de reflexién con la forma de las estrias deseada. Wood en 1910 fue el primero en conseguir formas predeterminadas de las estrfas. Asi, en la red de la figura 5-7, la mayor parte de la luz sale en Ia direceién del haz reflejado al que corresponde el méximo de diftaccién, y para esta direccién el orden interferencial es alto. Se habla de redes brillantes (del inglés blazed) para esa direccién y la A en cuestién. En el caso mostrado en la figura 5-7, si a=30° y d=40 am, se tendré la maxima intensidad para el orden m= (d sen 2a)/1~70. Con formas adecuadas de las estrfas se llega a obtener m~ 1000, hasta 4 estrias por mm ¥ una extensién de red de hasta 250mm, con lo que se consigue un poder de resolucién de hasta 10°. Debido a la dificultad de fabricar este tipo de redes con alta calidad, se recurte a la fabricacién de patrones muy costosos que se utilizan como moldes para hacer muchas réplicas. Actualmente se est imponiendo con rapide la fabricacién de redes por técnicas holograficas que presentan considerables ventajas, incluyendo el bajo coste Este punto se discute con més detalle en el capftulo dedicado a la holograjia en la tiltima parte del curso. owen r \ LI | L Figura 5-7 Seccién transversal de una red de difraccién con estrias que dan lugar a un méximo de difraccién en la direccién del haz. reflejado.122 Capitulo 5. Redes de difraccién 5.4.2 Espectroscopios de red En la figura 5-8 se muestra un esquema de espectroscopio de red que utiliza un montaje compacto autocolimante debido a Littrow. En este montaje se utiliza la misma lente como colimadora y como colectora. Tanto la rendija de entrada de luz como la pantalla o el detector estdn ubicadas en el foco de la lente. La red trabaja por reflexién, En cualquier caso, se requiere un mecanismo de giro que sittie la longitud de onda a estudiar sobre el detector o rendija. También se ha mencionado la red céncava de Rowland que, gracias a la focalizacién que produce la curvatura de la red, incluso puede prescindir de la lente, Existen otras muchas variantes de montajes que el lector interesado debe consultar en los libros especializadoa. Ranuras de fuente Figura 5-8 Montaje espectroscépico de red que usa el método autocolimante de Littrow. 5.4.3 Redes de dos y tres dimensiones Hasta aqui slo hemos considerado redes mono-dimensionales, pero el andlisis reali- zado se puede extender a ordenamientos periédicos en dos y tres dimensiones. Las redes de dos dimensiones, lamadas redes cruzadas, tienen poco interés préctico, aunque sus efectos son féciles de observar. Por ejemplo, mirando una fuente luminosa brillante y lejana a través de un tejido muy fino (visillo, pafiuelo), se puede observar una imagen miltiple de la fuente producida por la diftaecién de la red del tejido.5.4. Tipos de redes de difraccién 123 Las redes de tres dimensiones, en cambio, tienen gran interés. El ejemplo més im- portante es el de las redes cristalinas, que producen figuras de difraccién cuando son “jluminadas” con rayos X de A similar a la distancia entre Atomos. Gracias a estas figuras de difraccién se puede acceder al conocimiento microseépico del ordenamiento de los dtomos en la materia. Dentro del espectro visible y sus proximidades, también son de gran utilidad las redes de tres dimensiones, llamadas redes de volumen. Las més ‘itiles son las basadas en la modificacién del {ndice de refraccién del material (por tanto son redes de fase) que almacenan informacién en el interior del material. Bl indice de refraccién se puede modificar por métodos termodpticos, acustodpticos, electrodpticos, magnetoépticos o por efecto no-lineal de la propia luz. Las redes pueden ser “grabadas” y “borradas” épticamente, o bien ser modificadas en tiempo real y entonces se convierten en procesadores dpticos (amplificadores y/o computadores épticos).124 Capitulo 5. Redes de difracciénamano: Capitulo 6 FASE HS OE LEE PRE SSE Teoria difraccional de la formacién de imagenes 6.1 Introduccién En la parte dedicada a la 6ptiea geométrica se esbor6 la complejidad del disefio de un instrumento éptico, cuando se desean imigenes de alta calidad, debido a la exigencia de que las aberraciones geométricas y cromatica queden altamente corregidas. Pero, a medida que un buen disefio va mejorando la correcién de las aberraciones, llega un punto en el que una correccién adicional no produce mejora en la calidad de la imagen. Esto se debe a los efectos que produce la difraccién segiin se ha visto en los capftulos anteriores (empieza a fallar el modelo de rayos). Por tanto, un andlisis riguroso deberia tratar de modo simultdneo ambos efectos, aberracion s y difraccién. Sin embargo, dada la complejidad del tema, aqué nos limitaremos a estudiar una aproximacién més asequible. Supondremos que las aberraciones del sistema considerado estén corregidas hasta el punto en que sus efectos se pueden despreciar frente a los efectos de la difraceién, es decir el sistema es “perfecto” desde el punto de vista geométrico y podemos centrarnos exclusivamente en los aspectos difraccionales. Una primera aproximacién a este problema se ha visto al tratar del poder de resolucién de los instrumentos épticos en la seccién 4.4, Alli se ha evaluado el efecto de la difraccién en téminos del mayor 0 menor solapamiento de las manchas de Airy asociadas a dos puntos objeto. Este modo de tratar el problema presenta dos limitaciones importantes, De un lado, sélo tiene en enenta el efecto de la difraccién en el caso de dos puntos muy préximos, sin suministrar una evaluacién sobre la calidad general de la imagen formada 125126 Capitulo 6. Teorta difraccional de la formacién de imagenes por una infinidad de puntos. De otro lado, se ha supuesto que los dos puntos objeto emiten luz de modo totalmente incoherente, Fsta situacién se da con buena aproximacién en los casos presentados en la citada seccién 4.4, pero puede ocurrir que la emisién de los puntos del objeto se haga de modo coherente o parcialmente coherente, como es el caso de ciertos tipos de iluminacién en el microscopio. En este ultimo capitulo se aborda el papel que juega la difraccién en la formacién de Jas imégenes, desde un punto de vista més general que el de la seccién 4.4, No obstante, ademés de limitarnos al caso de sistemas gaussianos como se ha mencionado antes, sélo se considerardn los casos extremos de ihuminacién completamente incoherente 0 comple- tamente coherente.t Después de comentar brevemente el problema de la iluminacidn en el microscopio, s¢ introducen las ideas bésicas de la teorfa de Abbe sobre este instru- mento en el caso de iluminacién coherente. Esta teorfa supuso en su momento el inicio de una nueva manera de enfocar el problema de la formacién de la imagen, en la cual se contempla el efecto de Ia difraccién como un impedimento que opone el sistema dptico s frecuencias espaciales altas que estén presentes en el ob- jeto. Se diseuten las posiblidades que abre esta teorfa para mejorar la imagen mediante Ja realizacién de ciertas manipulaciones en un plano intermedio entre objeto ¢ imagen (el llamado plano de Fourier). Por iltimo se introduce el método moderno de Ia funcién de transmisién del sistema éptico mediante el andlisis puntual de la formacién de la imagen. 6.2 El problema de la iluminacién en el microscopio Como regla general, los objetos que se observan con un microscopio no son lumino- sos por si mismos y requieren algiin tipo de iluminacidn externa que los haga visibles Dependiendo del sistema éptico utilizado para iluminar, los conos de luz procedentes de dos puntos proximos del objeto presentardn un cierto grado de correlacién 0 coheren- cia (coherencia parcial) y, como consecuencia, el andlisis se complica considerablemente, TBI lector interesado en un tratamiento general puede consultar los libros Optics de Klein o Principles of Optics de Born y Wolf.6.2, Bl problema de la iluminacién en el microscopio 127 Aunque este problema se pone de manifiesto de modo més acusado en el microscopio, también ‘4 presente en otros instrumentos con cardcter general. Aqui considerare- mos solamente los dos casos extremos mas sencillos de iluminacién en el microscopio: totalmente incoherente y perfectamente coherente. 6.2.1 Tluminacién incoherente BI caso completamente incoherente s6lo se da en rigor si el objeto es autoluminoso, pero se puede conseguir aproximadamente con el método llamado iluminacién erttica. En este método, ilustrado esqueméticamente en la figura 6-1a, una lente condensadora C forma una imagen $’ de la fuente luminosa $ sobre el plano objeto II. En estas condiciones el objeto parece emitir luz por sf mismo de manera incoherente como la propia fuente, aunque modulando la intensidad de acuerdo con su transmitancia (0 reflectancia). Esta (a) tb) <<{ii- 4 -kp==++ . Me ontelive Figura 6-1. (a) Bn el método de iluminacién critica (incoherente), la lente condensadora C forma una imagen $? de la fuente 8 sobre el plano objeto Tl; para que la iluminacién sea homogénea la fuente S consiste en un vidrio esmerilado. (b) Sistema simplificado para obtener iluminacién coherente (para colocar los diafragmas de abertura y de campo adecuadamente, el sistema real es mas complejo). La fuente monocromética puntual $ situada en el foco objeto de la lente L, da lugar a un frente de onda plano que ijumina el plano objeto I; todos los puntos del objeto que son ilurninados emiten de manera aproximadamente coherente.128 Capitulo 6. Teorta difraccional de la formacién de imdgenes luz modulada es la que da la imagen real del objeto en el plano Il’, En realidad et condensador C representa en el plano objeto cada punto de $ como una mancha de Airy que se solapa con las de los puntos préximas. Como consecuencia, los puntos det objeto iluminados por la misma mancha de Airy guardan alguna coherencia entre si.t Ademés, se suele usar un vidrio esmerilado delante de la fuente para conseguir mayor homogeneidad en la ilumin mn, y esto aumenta el grado de coherencia porque cada punto de la fuente primaria ilumina todos los puntos del vidrio. Como se indica en la figura 6-La, el sistema de iluminacién permite incluir los diafragmas de abertura D.A. (que limita el cono de rayos) y de campo D.C. que limita la parte del objeto que se desea ver. 6.2.2 Iluminacién coherente En este caso el objeto deberia estar iluminado por una onda plana estrictamente coherente en toda la regién que se encuentra iluminada. La mejor aproximacién a este tipo de iluminacién se consigue mediante la luz laser debido su alta coherencia espacial y temporal. También se puede conseguir una aproximacién razonable a la iluminacién coherente mediante el sistema representado de forma simplificada en la figura 6-1b. Una fuente puntual $ suficientemente monocromatica se sitia en el foco objeto de una lente L bien corregida. En est s condiciones el frente de onda plano a la salida ilumina el plano objeto II de modo aproximadamente coherente. Cuanto menos puntual y menos monocroméatica sea la fuente § mas lejos estaremos de una iluminacidn coherente. 6.3 Teoria de Abbe para iluminacién coherente El origen de la teorfa de Abbe hay que situarlo en una pequefia empresa de Jena (Alemania) que a mediados del siglo pasado se dedicaba a la fabricacién de microscopios. En esta empresa se encontraban dificultades para mejorar el poder de resolucién de los microscopios con las técnicas empfricas que se utilizaban en la época. Por ello, el TEI nombre de “uminacién critica” se debe a que al principio se consideraba-eritico un buen enfoque de la fuente sobre el objeto; pero dobido a la mancha de Airy que produce la difraccién no es tan eritico,6.9. Teoréa de Abbe para iluminacién coherente 129 propietario de la empresa Carl Zeiss, contraté en 1866 los servicios del profesor Ernst Abbe (de la Universidad de Jena) con el objeto de establecer un método cientifico para el dis (0 de los instrumentos. BI trabajo de varios afios Ilevé a Abbe a formular una nueva teorfa sobre la formacién de la imagen, que inicialmente no fue aceptada debido al cambio tan radical que suponta. De acuerdo con la teoria de Abbe, la formacién de la imagen implica dos procesos de difraccidn, uno en el objeto (el objeto también es un difractor) y otro en el objetivo del microscopio, La descripcién de la teorfa se hace de modo mas sencillo suponiendo que el objeto es periddico, tal como se ha hecho en la figura 6-2 en la que se utiliza como objeto una red de difraccién simple (véase la Fig. 5-3). La luz difractada por la red es focalizada por el objetivo en su plano focal, formando los diferentes méximos principales y secundarios. Los méximos principales contienen la mayor parte de la energia y se suelen identificar por su orden interferencial m como fuentes S,. La luz que contimia a partir de las fuentes interfiere en la pantalla produciendo la imagen de la red. El efecto de la difraccién en la abertura finita del objetivo se pone de manifiesto porque parte de Figura 6-2 Iustracin de la teorfa de Abbe mediante la formacién de la imagen de una red de difraccién por un objetivo de microscopio, usando iluminacién coherente. Tipicamente [~ 160m y f'~1 mm, es decir, f"<1, pero esta proporcién no se ha mantenido en la figura para que las fuentes S), sean visibles.130 Capitulo 6. Teorta difraccional de la formacién de imdgenes la luz difractada en la red no es recogida por el objetivo y por tanto no es focalizada en su plano focal. Esta luz corresponde a los dngulos de difraccién mayores y es més intensa cuanto mayor es la frecuencia espacial de la red; como no contribuye a la formacién de Ja imagen, ésta pierde detalle en las altas frecuencias respecto a la red objeto. Un procedimiento equivalente consiste en considerar Ja transicién del objeto a la imagen mateméticamente, por medio de las transformaciones de Fourier asociadas res- pectivamente a las dos diftacciones de Fraunhofer. Por la primera diftaccién en la red, se obtiene su transformada de Fourier (en direcciones). Esta transformada es representada por el objetivo en su plano focal, 0 plano de Fourier, formando las fuentes $',. Por la segunda difraccién en la abertura del objetivo, se obtiene la transformada inversa de Fourier de la anterior, y por tanto se recupera la red original en el plano imagen (salvo el aumento lateral del sistema). Debido a que la primera transformada no es recogida en su totalidad por el objetivo dada su abertura limitada (faltan fuentes S},), la transformada inversa tampoco representa con absoluta fidelidad a la red inicial; tanto menos fielmente cuanto menor sea el mimero de fuentes S%, que se han formado Esta interpretacién explicaba las primeras observaciones experimentales de Abbe, que encontraba mayor resolucién en la imagen usando objetivos de mayor abertura aunque el cono de luz. procedente de la red objeto no Henara completamente la abertura. Todo indicaba que la “zona oscura” del objetivo contribuia al aumento del poder de resolucién, apuntando a que el procedimiento de la mancha de Airy utilizado con iluminacién incohe- rente (seccién 4.4.2) operaba de forma diferente con iluminacién coherente, En realidad a “zona oscura” recibe luz de érdenes difraccionales més altos que los que recibe la “ona iluminada” y por tanto es més débil en general. 6.3.1 Poder de resolucién en la teorfa de Abbe Red objeto y plano de Fourier Para determinar el limite del poder de resolucién en el marco de la teoria de Abbe nos apayaremos en la red de difraccién objeto mencionada antes, cuya transmisin se ha representado en la figura 6-3, y discutiremos cual es la frecuencia de red més alta de la6.3, Teorta de Abbe para iluminacién coherente 131 cual se puede formar una imagen. Esta red objeto viene descrita por la funcién: N-1 (x)= Ey para: jd-a00, el sumatorio anterior se extiende sobre todas las fuentes S%,, (el objetivo deberia tener didmetro infinito para que se pudieran formar), y la expresién (6-4) os proporcional a la (6-2) como debia ser; la nica diferencia consiste en que las magnitudes132 Capitulo 6. Teorta difraccional de la formacién de imagenes PLANO TT EC) x d ‘aa Fi ANo fox! Ex PLAN Eu) mee x mes x Bu) x! " a ux Ba’) nee x! - mete x! BO!) Bl) x meat x Figura 6-8 Red de difraccién en el plano objeto Il, y su imagen en el plano II’, cuando la abertura del objetivo permite la contribucién de distinto mimero de fuentes: Sj, (el niimero de fuentes m se indica en las graficas).6.3. Teoria de Abbe para iluminacién coherente 133 correspondientes en ambas expresiones se relacionan por medio del aumento lateral f', Supresién de érdenes Analicemos ahora el efecto de suprimir algunas de las fuentes S|. Si el sumatorio de (6-4) no contiene todas las fuentes $F, la red imagen no sera una reproduecién realmente fiel de la red objeto. Supongamos la situacién extrema en que la difraccién en el objetivo s6lo deja pasar el orden difraccional m= , es decir la fuente $5. En ese caso se tiene E'(2') = Ey =cté, por tanto la pantalla aparece iluminada homogéneamente, desapare- ciendo todo vestigio de la red objeto (caso m=0 en la Fig. 6-3). En el caso en que esté también presente el orden difraccional m=1 (las fuentes $1), se tiene: Ea!) = By . (6-5) de modo que al menos la periodicidad es correcta («/d=a'/d’) como se puede apreciar en la figura 6-3 para m=, aunque la distribucién de amplitud todavia difiere mucho de la del objeto. A medida que estén presentes mas érdenes, la distribucién de amplitud en la imagen reproduce mas fielmente el objeto, como se puede observar en la figura 6-3 para el caso m 12. Por otra parte, si se excluyen los érdenes mas bajos (que levan mucha energfa) se obtiene una imagen completamente falsa. Por ejemplo, excluyendo los dos primeros érdenes y todos los demas excepto el segundo, se tiene: 4na! sen S20 2B Eos AEE ar de modo que la imagen exhibe un periodo d’/2 que es la mitad del de la red original, y por tanto, doble niimero de lineas. Poder de resolucién Siguiendo a Abbe, convendremos en definir el limite de resolucién cuando se tiene al menos la periodicidad correcta, lo cual oeurre cuando pasan los érdenes 0 y 1, fuentes134 Capitulo 6. Teoria difraccional de la formacién de imdgenes 1 Figura 6-4 Determinacién del periodo d mas pequefo que se puede representar en Ia imagen de acuerdo con el criterio de Abbe sobre el poder de resolucién. (a) Cuando contribuyen las fuentes $5 y Si. (b) Cuando sélo contribuyen Ia $} y la Si. %, ¥ Sl, (caso m = 1 en la Fig, 6-3). De acuerdo con este convenio, la red con periodo més pequefio que se puede reproducir en la imagen, viene determinado por la citada condicién de que al menos exista el orden m=1. Para ese orden, la diferencia de camino Sptico entre los rayos es AL=dseno=A (véase la Fig. 6-4a) de donde se tiene ro nseno d (6-7) Por tanto, se obtiene esencialmente la misma expresién que para iluminacién incoherente, recuérdese la (4-19). De hecho, si utilizamos incidencia inelinada para iluminar el objeto (Fig. 6-4b) de manera que sélo se forme la fuente S',, y no la S', no se pierde la periodicidad de la red y se tiene: 4=0,5 pea f (6-8) es decir, el perfodo minimo resuelto es la mitad (véase la Fig. 6-4b). Por tanto, el factor préximo a la unidad que aparece en estas expresiones tiene un cierto grado de arbitra-6.4. El procesador dptico 4 f. Filtrado de frecwencias espaciales 135 riedad, al igual que lo tiene el propio convenio empleado para el poder de resolucién. Pero persiste el hecho de que la abertura numérica A.V. =n seno es la que determina el poder de resolucién del objetivo para una Ap prefijada, Aunque la teorfa de Abbe ha suministrado una expresién para el poder de resolucién que no afiade nada nuevo, en lo que sigue veremos que ¢s un poderoso método para el tratamiento de imagenes. 6.4 El procesador 6ptico 4f. Filtrado de frecuen- cias espaciales BI hecho de que Abbe hiciera notar la presencia de la transformada de Fourier del objeto como un paso intermedio en la formacién de la imagen, lleva a la posibilidad de procesar la imagen manipulando el plano de Fourier. Bn la figura 6-5 se ha representado el llamado procesador dptico 4 f, con el que se ilustra de manera sencilla el método. Se trata de un sistema formado por dos lentes de igual focal f colocadas a una distancia Figura 6-5 Procesador éptico 4 f consistente en dos lentes de la misma focal f situadas a la distancia 2f. La imagen a tratar se coloca en el foco objeto F de In primera. lente; el plano de Fourier esté en el punto intermedio entre las lentes coincidiendo com los focos Fi =F; y la imagen procesada, invertida y del mismo tamaiio, se obtiene en el foco imagen Fj de la segunda lente.136 Capitulo 6. Teoria difraccional de la formacién de imdgenes relativa 2f. El objeto que se desea procesar se coloca en el plano focal objeto de la primera lente F; entonces, la transformada de Fourier se forma en FY = F; y la imagen procesada se forma en el plano focal imagen de la segunda Fy, invertida y del mismo tamaiio. Como en el plano de Fourier se sittian las diferentes frecu ncias espaciales del objeto separadamente, resulta posible modificarlas de modo selectivo mediante la colocacién de una mascara adecuada en dicho plano. Al atenuar o eliminar algunas de estas frecuencias se obtiene un cierto efecto deseado en la imagen. Asf, para el retfculo cuadrado que actila como objeto en la figura 6-5, las Iineas horizontales del mismo estdn representadas en el plano de Fourier por la estructura de puntos vertical, y las lineas verticales por la horizontal. Si, mediante una méscara adecuada en el plano de Fourier, se climinan todos los puntos excepto la fila central vertical, en la imagen sélo aparecerdn las Ifneas horizontales. Tomemos como ejemplo la fotografia de un animal enjaulado cuya imagen estd superpuesta a los barrotes verticales de la jaula; colocando en el plano de Fourier una méscara que tape los puntos bien definidos correspondientes a los barrotes, éstos serfan eliminados de la imagen final, en la cual apareceria el animal libre sin apenas ser afectado por la mascara, Esto es asi porque la transformada de Fourier del animal tiene una distribucién de intensidad muy irregular y los pequefios puntos oscuros de la méscara apenas la modifican, Este proceso de manipulacién se lama filtrado espacial de Jfrecuencias, puesto que permite eliminar en las imagenes ciertas periodicidades molestas que se encuentran en los objetos. 6.5 Instrumentos épticos como sistemas lineales La teoria de Abbe abre una nueva perspectiva en el modo de analizar y mejorar la formacién de la imagen en los instrumentos dpticos. De una manera natural, lleva a considerar los instrumentos épticos como sistemas lineales que transportan informacién desde el plano objeto al plano imagen. La linealidad del proceso de formacién de la imagen se basa en la linealidad de la transformacién de Fourier que se usa en la teoria de Abbe. En estas condiciones se pueden aplicar con provecho los métodos de tratamiento6.5. Instrumentos épticos como sistemas lineales 137 bien establecidos para este tipo de sistemas en el campo de las comunicaciones y en otros muchos, Al igual que en un sistema lineal de comunicacién, en el proceso de formacién de una imagen estén presentes: un emisor de informacién (el objeto), un canal que transporta, y modifica parcialmente, esa informacién (el instrumento éptico), y un recepior de la informacién (el plano imagen) Existen dos métodos t{picos, relacionados entre sf, que se usan para caracterizar la calidad del “canal de transmisién” (el instrumento éptico en nuestro caso). En el método de la propagacién de un impulso se introduce una funcién impulso a través del sistema y se mide el resultado a la salida: funcién respuesta a un impulso, En el caso de un instrumento 6ptico, una funcién impulso est representada por un objeto puntual (delta de Dirac) que emite luz, y el resultado producido por el sistema es una mancha de difraccidn de Airy 0 funcién de punto extendido en el plano imagen (véase la Fig. 6-6a). En el método de la funcién de transmisién se introduce una funcién arménica a través del sistema y se determina emo quedan afectadas su amplitnd y su fase a la salida del mismo. Para un instrumento dptico, se puede utilizer como funcién arménica aproximada una transparencia formada por bandas claras y oscuras separadas por un periodo espacial A=1/s para las que la modulaci6n de la densidad 6ptiea es una funcién seno o coseno. (Para que sea una buena aproximacién se requiere que contenga muchas franjas y que éstas sean mucho mis largas que su separacién A). La funcidn de transmisién ( “optical transfer function” 0 OTF) del instrumento es la que determina las modificaciones que sufte la modulacién de la densidad dptica en la amplitud y en la fase para cada frecuencia espacial s de la transparencia objeto (véase la Fig. 6-6b). Bl filtrado de frecuencias espaciales visto en la seccién 6.4 es en realidad un ejemplo de modificacién selectiva de la funcién de transmisién de un instrumento éptico, sea en la amplitud o en la fase. Como ocurre en cualquier sistema lineal, veremos que en los instrumentos épticos existe una relacién de transformacién de Fourier entre la funcién respuesta a un impulso y Ja funcién de transmisién. En lo que sigue se dan més detalles sobre esta. manera de analizar la formacién de la imagen.138 Capitulo 6. Teoria difraccional de la formacién de imégenes a) INSTRUMENTO © oPtico b) INSTRUMENTO ortico Figura 6-6 Métodos para caracterizar la calidad de un instrumento éptico: (a) “Propagacién de un impulso” o imagen de un objeto puntual. (b) “Transmisién de funciones arménicas” o imagenes de transparencias cuya densidad éptica es una funcién seno o coseno. En este segundo caso, Ia frecuencia espacial mas alta no aparece en la imagen porque ha sido filtrada por el instrumento6.6. Objeto puntual sobre el eje (funcién impulso) 139 6.6 Objeto puntual sobre el eje (funcién impulso) De acuerdo con la seecién anterior, la. aplicacién del método de propagacién de una funcién impulso consiste en analizar la imagen que produce el instrumento éptico de un objeto puntual. Suponiendo que el instrumento est bien corregido de aberraciones (geométricamente perfecto o ganssiano), la imagen sera la mancha de Airy estudiada en la seecién 4.3. Asi, para el caso del punto O del eje, de coordenadas {0,0] en el plano objeto TI (véase la Fig. 6-7), la imagen que da el instrumento es la mancha de Airy centrada en la imagen gaussiana ©’, de coordenadas [0,0] en el plano IV’, y su distribucién de amplitud viene dada por la integral (3-37): (G, nest de dn (6-9) E(c',y) donde se ha tenido en cuenta que a= =( al estar el punto O en el eje. Es conveniente escribir esta integral en una forma algo diferente. En primer lugar, haremos explicitas las coordenadas (.r',y'] del punto P en II sustituyendo los cosenos directores a’ =2!/R y //R (siendo R la distancia de la abertura al plano imagen). Por otro lado, norma- lizaremos esta funcién de Airy del siguiente modo: llamaremos H(c’,y') a la amplitud compleja £(2’,y’) producida en el plano imagen por un objeto puntual cuya amplitud Figura 6-7 Imagen de un objeto puntual producida por un instrumento éptico gaussiano.140 Capstulo 6. Teoréa difraccional de la formacién de imagenes de emisién es real e igual a la unidad (médulo 1 y fase cero). Ademés, por conveniencia, incluiremos un factor 1/(A.R)®, haremos que las unidades de E(E,n) sean m=? y denomi- naremos esta funcién pupila mediante P(E,m). De este modo, las unidades de H(2"',y') también serén las de m™®, En estas condiciones, la integral anterior (6-9) se escribe de Ja siguiente forma: 1 ft ae (ee H(a',y') aR ome ee) dE di 5 Funcién de punto extendido (respuesta a un impulso) (6-10) en los instrumentos ordinarios la funcidn pupila P(E,n) es constante en toda la abertura y nula fuera de ella. Por otra parte, la funcién |/(c’,y/)|? representa. una intensidad “normalizada” en el plano imagen. 6.7 Analisis puntual de un objeto extenso (emisién coherente) La formacién de la imagen de un objeto extenso, cuyos puntos supondremos que emiten 0 estén iluminados de forma coherente, se puede analizar considerando cada punto como un emisor puntual (5 de Dirac 0 funcién impulso). Entonces, la imagen de cada punto ser una mancha de Airy centrada en la imagen gaussiana del punto (dado que hemos supuesto un instrumento libre de aberraciones) y la imagen completa se obtendré por superposicién de las amplitudes de todas esas manchas Para facilitar el anélisis, especificaremos los puntos del plano objeto por medio de coordenadas [X,Y] en una escala normalizada por el aumento lateral. Asi, si las coor- denadas de un punto del plano objeto son [r,y] y el aumento lateral es f', tendremost Be, Y=6'y; (6-11) de este modo las coordenadas de un punto objeto y las de su imagen gaussiana en el plano imagen tienen los mismos valores numéricos. Consideremos ahora un punto genérico del TNo confundir ef aumento Tateral, que normalmente se representa por ji’, con el coseno director representado por la misma letra griega.6.7, Anélisis puntual de un objeto eatenso (emisién coherente) ML objeto Po Xo, Yo] cuya imagen gaussiana es el punto Pf[:2),04] (Fig. 6-7). Como el sistema 6ptico se supone “geométricamente perfecto” (satisface la simetria de traslacién) la mancha de Airy normalizada correspondiente a Po es idéntica a la correspondiente al punto del eje O, exprosién (6-10), salvo que ahora est centrada en Pf en vez de en O°, Por tanto seré simplemente la funcién (6-10) trasladada al punto [24,6], es decir: (2,4, Xo, Yo) = H(2! ~ 2,9! ~ yo) = H(a! — Xosy' Yo), (6-12) donde se ha tenido en cnenta el cambio de escala (6-11). Si la distibucién de amplitud del objeto extenso en el plano TI viene dada por la funcién Hpi(X,¥), la imagen del punto [X,Y] serd la funcién de Airy normalizada (6-12), pero modulada por amplitud Eyy;(X,¥’) con que emite ese punto. Por tanto, la contribucién del punto objeto [X,Y] a la amplitud Bin(2',y’) en el punto [2',y'] del plano imagen serd el producto: Fig (', y!) = Bouj(X,¥) H(a! — X,y!-¥) dX d¥ (6-13) y la amplitud Bim(z’,y’) en [x',y’] debida a todos los puntos del objeto sera simplemente Ja integral: 400 Eim(a'sy!) = | Eoe(X,¥)H(a! — X,y'-Y) aX ay . (6-14) Aunque la integral se extiende formalmente hasta infinito, sélo es distinta de cero en el objeto. Por otra parte, cada mancha de Airy es infinita en principio, pero como la amplitud disminuye rdpidamente al alejarnos de su centro, sélo contribuyen de forma importante las manchas de los puntos préximos al [X,Y] cuya imagen gaussiana es el {2',y']. Esta integral indica que la amplitud en la imagen Ein (2’,y’) es la convolucién de la amplitud en el objeto Hyxs(X, Y}) con la funcién de punto extendido H(c',y’) dada por (6-10). Si no existiera la difraccién en la abertura del instrumento (abertura infinita) ni otras pérdidas, la funcién H(2',y’) serfa un punto o delta de Dirac de amplitud unidad. Entonces, la fSrmula anterior (6-14) darfa, para cada punto objeto [X,Y], un punto imagen situado en la posicién gaussiana (',y'] = [X,Y] y de amplitud B(X,¥). Por tanto, como era de prever, al igual que en el tratamiento sencillo de la seecién 4.4, la142 Capitulo 6. Teorta difraccional de la formacién de imagenes mayor o menor extensién de la funcién de punto extendido H(c',y/) determina la mayor © menor calidad de la imagen 6.8 Transmisién de frecuencias espaciales 6.8.1 Funcién de transmisién, La conexién et re el andlisis puntual de la formacién de la imagen y la teoria de Abbe ahora surge de modo natural. Aplicando el teorema de convolucién a la integral (6-14), se obtiene que la transformada de Fourier de Eim(x',y') es el producto de las transformadas de las otras dos funciones Mapj(X,Y) y H(x!,y/), es decir: Eim(u',v') = H(u',v') Eov(U,V) > (6-15) donde se han introducido las transformadas de Fourier del objeto, de la imagen y de la funcién de punto extendido, que son respectivamente: Eonj(U,V) [ Eous(X,¥) UX) ax dy (6-16) Eim(u!, 0" f Eim(x',y!) eR +9) da! dy! (617) te ab Hu!) = [ H(a,y’) eM H0V) a! dy! “<0 (18) Funcién de transmisién siendo (U,V) las frecuencias espaciales usadas para descomponer el plano objeto a 10 largo de los ejes X e Y respectivamente, y (w',v’) las correspondientes al plano imagen. Obviamente, debido al cambio de escala realizado en (6-11), las frecuencias espaciales del objeto correspondientes a (U,V) vienen dadas por u=pU=fu, v=p'V=f'u'. (6-19) La transformada de Fourier (6-18), recibe el nombre de funcidn de transmisign ( “optical transfer function”) porque a través de (6-15) determina la. proporcién de cada free encia presente en el objeto que es transmitida por el sistema éptico hasta la imagen. Es decir,6.8, Transmisién de frecuencias espaciales 148 la transicién del objeto a la imagen es equivalente a la accién de un filtro lineal de frecuencias espaciales. En particular, aquellas frecuencias para las cuales H(u',v') =0 no pasan a la imagen. Ademés, es facil ver que la funcién de transmisién, en este caso de iluminacién cohe- rente, es igual a Ja funcién de pupila, Escribamos la transformada inversa de Fourier de (6-18) os Hayy) =f Hui, o’) 204) du! dot (6-20) Si ahora comparamos esta integral con la (6-10), observamos que la funcién de trans- rmisién (ul, no es sino la funcién de pupila P(6,7) en la que a las coordenadas (é,7) corresponden las frecuencias € 9 wayq v=sR (6-21) es decir, € n\_ H (Sesh = Pn), (6-22) de modo que el valor de la funcién de transmisién para las frecuencias (u',v’) es igual al valor de la funcidn de pupila en el punto de la abertura de coordenadas € = ARtu! y n= ARv 6.8.2 Bjemplo: abertura circular Consideremos el caso sencillo frecuente de la abertura circular de radio a en la. que la funcién pupila P(€,7) es constante en la abertura 0 <é?+ 7? 2 Y? send" (6-28) expresin similar a las citadas (4-19) y (6-7) 6.8.3. Presencia de aberraciones. Iluminacién incoherente Hay dos situaciones también frecuentes en las que las expresiones obtenidas en las secciones anteriores deben ser modificadas: cuando el instrumento dptico no est. exento de aberraciones y cuando la iluminacién no es coherente. En el primer caso, la funcién de punto extendido (6-10) no es tan sencilla y debe incluir el efecto de las aberraciones;6.9. Apéndices 145 como consecuencia, la funcién de transmisién (6-18) también cambia, empeorando la capacidad de transmitir las frecuencias del objeto. En el caso de un objeto con emisin o iluminacidn incoherente, el problema todavia es sencillo: se opera de un modo andlogo al caso coherente que se acaba de ver, pero en ver de usar amplitudes hay que usar intensidades. Ahora, al superponerse las diferentes manchas de difraccién de Airy, no existe interferencia entre ellas y sdlo se suman sus 2 6.9.3) no es constante para todas las frecuencias transmitidas sino que va disminuyendo al intensidades. La funcién de transmisién resultante (véase el cdlculo en el apéndi aumentar la frecuencia. No obstante, pasan frecuencias més altas que en el caso coherente como se puede observar en la figura 6-8. En el caso de que la iluminacién sea parcialmente coherente el tratamiento se complica considerablemente; como se mencioné al principio del capitulo, los libros Optics de Klein Principles of Optics de Born y Wolf tratan el caso general de forma detallada. 6.9 Apéndices 6.9.1 Deduccién de la formula 6-4 6.9.2 Microscopio de contraste de fase de Zernike Objetos de fase Otro ejemplo importante de manipulacién del plano de Fourier lo constitnye el mi- croscopio de contraste de fase desarrollado por Fritz. Zernike en 1935 por el que obtuvo el premio Nobel de Fisica en 1953, Este microscopio esté disefiado para la observacién de objetos de fase, denominados asi porque sélo modifican la fase (pero no la amplitud) de la luz que los atraviesa. Dado el factor de transmisién complejo del objeto, t(z,y) = ew), (6A)146 Capitulo 6. Teorta difraccional de la formacién de imdgenes para que se trate de un objeto de fase se debe cumplir que [t(x,y)|=1 y que $(c, y) varie de unos puntos del objeto a otros. Esto significa que la intensidad de la luz a. 1a salida es la misma que a la entrada y el objeto resulta invisible on el microscopio ordinario. Los objetos visibles con el microscopio ordinario son aquéllos euyo factor de transmisién al menos produce variaciones de intensidad en la luz transmitida. Bstas variaciones de la absoreién de unas zonas a otras del objeto se manifiestan en la imagen como contrastes de luz (intensidad 0 color) que permiten distinguir los detalles del objeto. Por lo general, los objetos ordinarios producen tanto cambios de fase como de amplitud. En el caso en que ¢ es constante pero t(2,y) no lo es, se habla de objeto de amplitud. Ejemplos tipicos de objetos de fase son ciertas partes de las células cuando éstas se encuentran en el caldo de cultivo, 0 los microcristales que se forman en una solucién de crecimiento. Una manera de solucionar esta dificultad consiste en tefiir los objetos de fase con algiin colorante que reacciona de forma diferente con el objeto que con el caldo de cultivo; esto produce diferencias de coloracién (de ahi procede el nombre de cromosomas) que los transforman en objetos de amplitud y los hacen visibles. Este procedimiento tiene el inconveniente de que afecta al objeto hasta el punto de que los microorganismos mueren y no pueden ser observados en vivo, ademas de la complicacién adicional de la preparacién. Con objeto de evitar estas complicaciones, se han ideado diversos procedimientos para observacién directa de los objetos de fase que se basan en la manipulacién del plano de Fourier. Por ejemplo, en el método llamado del campo central oscuro se excluye el orden central del plano de Fourier mediante una mascarilla adecuada, y en el método de Schlieren se excluyen todos los érdenes a un Jado del central. De todos ellos sin embargo el mas poderoso es el ideado por Zernike porque produce cambios de intensidad en la imagen que son proporcionales a los cambios de fase del objeto. La difraccién en el objeto de fase La idea central del método de Zemnike consiste en introducir un cambio de fase en la luz que no pasa por el objeto y hacerla interferir con 1a que si pasa por el objeto; esta interferencia convierte en visibles los cambios de fase debidos al objeto. Para deseribir el método de Zernike consideremos un pequefio objeto de fase O de espesor h iluminado de6.9. Apéndices 147 Objetivo Figura 6-A1 (a) Esquema del método de contraste de fase de Zemnike. (b) Frente de onda procedente del condensador antes y después de atravesar la preparaciOn. forma coherente (por una onda monocromitica y plana), como se indica en la figura 6- Ala. Supongamos que la amplitud de la onda plana incidente viene dada por: Ey = Kye'# (6-A2) (en la Fig, 6-A1b se ha representado el frente de onda antes y después de atravesar la preparacién). Después de atravesar el objeto y debido a que su indice de refraccién, roo (, y)s €8 ligeramente diferente del indice de la preparaci6n, npr, el frente de onda presenta un pequefio salto de fase en la zona del objeto dado por: Qn (z,y) = Xo h[mov(e,y) = Mpr] - (6-A3) Esta pequefia perturbacidn del frente de onda genera un débil haz. difractado que diverge a partir del objeto, de modo que la luz que sale de éste, Eay(:2,), se puede considerar compuesta de dos partes: la misma onda plana incidente F; que existe cuando el objeto no esta presente, y la pequeiia fraccién difractada Byie(x, y) que emerge divergente. Para ver que esto es asi, escribamos la expresion de Eyy(x, 9): Eyp(x,y) = Hye) ~ By eltetseon (6-A4) Teniendo en cuenta que <1, se puede usar e~1+ 16 y la expresién anterior queda, Eqo(2,y) © By +i8(c,y) Bi = By + 6(@,y) Bre"? . (G-A5)148 Capitulo 6. Teoria difraccional de la formacién de imagenes J Figura 6-A2 Representacién en el plano complejo de las amplitudes E,= Eye y Egy = Bye"; ésta ‘iltima se puede descomponer en la suma de By y #6" Es decir, equivale a la incidente més una onda de pequeiia amplitud 5B; y desfasada en 1/2 respecto a la incidente, que lleva la informacién sobre el objeto. Para ilustrar gréficamente esta descomposicién, en la figura 6-A2 se han representado las amplitudes de estas ondas en el plano complejo y la d escomposicién usada de Boy. En el proceso de formacién de la imagen, la onda plana (6-A2) es focalizada por el objetivo en su foco imagen F” (I{nea continua en la Fig. 6-Ala), y da lugar a una onda esférica que se propaga hacia el plano I’. Dada la lejania de este plano (tipicamente en el microscopio es ~160:mm) en relacién a la distancia focal del objetivo (/'< 1mm), esta onda esférica se puede considerar aproximadamente plana en la pequeiia regién alrededor de O! en que se forma la imagen (y'$0, 1mm). Esta onda, por tanto, produce una iluminacién homogénea de fondo. Por su parte la onda difractada que diverge desde el objeto O (linea de trazos en la Fig. 6-Ala), produce en el plano focal o plano de Fourier una distribucién de luz bastante extendida y abigarrada (dependiendo del tipo de objeto). En la regién O, la superposicién de esta luz con la iluminacién homogénea del fondo da lugar a una imagen proporcional a (6-A4), es decir: El,(a!,y') = cte Bye). (6-A6) Como esta imagen sélo difiere del fondo Ei en la fase 6(r,y), su intensidad [,,(2, y) o | Bet) P= | Ho|? es igual a la del fondo y resulta invisible. Es conveniente poner de manifiesto explicitamente las dos contribuciones (fondo homogéneo y luz. difractada) escribiendo la expresién anterior en la forma de la (6-5), Big(t!y!) = cto Bs + B,6(a,u) e*7}, (6-47)6.9. Apéndices 149 La ldmina de fase EI método de contraste de fase de Zernike consiste en introducir un cambio de fase de én/2 en la luz del fondo B; (primer término de la (6-A7)). Esto se consigue colocando una lémina de fase de espesor dptico A/4 0 3A/4 en el foco F’ del objetivo; por él pasa toda la luz que ilumina el fondo del plano I, y una fraccién pequefia de la luz que forma la imagen O!, Ast mismo, la ldmina suele ser parcialmente absorbente de modo que se reduzca parte de la luz del fondo, y su factor de transmisién vendré dado por te**/? siendo 0<£<1 el médulo del mismo, Entonces la amplitud (6-A7) queda del siguiente modo: [Bia(a’sv'Vle = cte [te**”? B, + 5(a, y) et"? Ki] = cte iB, [4t + 6(x,y)] (6-A8) y de esta ultima se obtiene la intensidad en el plano imagen, (a !, f)]ae & [[Binghuel? ox [1 28(2,y)] (6-A9) Se observa que la intensidad [/{,(¢',')]w presenta una modulacién proporcional a los cambios de fase 6(z,y) del objeto. Para un cambio de fase de +7/2, los detalles del objeto aparecen més iluminados que el fondo (contraste positive); para un cambio de 7/2, aparecen més oscuros (contraste negativo). Bl efecto del cambio de fase debido al objeto (término 26 en la expresién anterior) se puede aumentar usando un factor de transmisin pequefio; de este modo se mejora el contraste de la imagen. Figura 6-A3 Uso de una fuente luminosa y una lamina de fase anulares en el microscopio de contraste de fase de Zornike.150 Capitulo 6. Teorfa difraccional de la formacién de imdgenes Otra mejora del método consiste en utilizar una fuente de luz con forma de anillo como se ilustra en la figura 6-A3. En este caso se utiliza un anillo de fase que presenta dos ventajas: la zona central de la. luz difractada (que lleva més energia) no atraviesa el anillo de fase, y al mismo tiempo se reduce la oblicuidad de la luz de fondo al incidir sobre el anillo, con lo que el desfase introducido es més homogéneo para los rayos. En cualquier caso, el poder de resolucién del miscroscopio es esencialmente el mismo que en el caso ordinario. 6.9.3 Funcién de transmisién con iluminacién incoherente