UNIVERSIDADE FEDERAL DO ABC

CENTRO DE ENGENHARIA, MODELAGEM E CINCIAS SOCIAIS

APLICADAS.
MATERIAIS E SUAS PROPRIEDADES (BC 1105)

ANLISE DE DIFRAO DE RAIOS X: PRINCPIOS E APLICAES PARA

INVESTIGAO DAS ESTRUTURAS DOS MATERIAIS DE ENGENHARIA

Gabriela Midori
Gabriel Machado
Gustavo Nagy
Jairo Freitas
Marcelo Lima
Pedro Henrique Gomes
Vtor Matozinhos de Faria

21004013
11112013
11032311
11019214
21010114
11038813
21025413

Santo Andr
2015

Sumrio
Introduo ................................................................................................................................ 3
Objetivos .................................................................................................................................. 4
Metodologia e Resultados......................................................................................................... 5
Questionrio ............................................................................................................................. 8
Artigo...................................................................................................................................... 10
Resultados e Discusso ........................................................................................................... 11
Pesquisa ................................................................................................................................. 12
Gabriela Midori: Engenharia Biomdica .............................................................................. 12
Gabriel Machado: Neurocincia .......................................................................................... 12
Gustavo Nagy: Engenharia de Gesto .................................................................................. 13
Jairo de Freitas: Engenharia de Materiais ............................................................................ 13
Marcelo Lima: Engenharia Biomdica.................................................................................. 14
Pedro Henrique Gomes: Engenharia de Materiais ............................................................... 14
Vtor Matozinhos: Engenharia Aeroespacial ........................................................................ 15
Referncias Bibliogrficas ....................................................................................................... 16

Introduo
A tcnica de caracterizao microestrutural de materiais cristalinos
conhecida como Difratometria de Raios-X possibilita a identificao da fase de
um material cristalino e pode fornecer informaes sobre as dimenses da
clula unitria. Historicamente este mtodo desempenha um papel muito
importante no desenvolvimento de novos materiais, abrangendo diversas reas
cientficas e tendo vital importncia na compreenso dos arranjos atmicos
moleculares dos slidos.
A anlise de raios-X estudada no presente experimento baseia-se no
princpio fsico da difrao de ondas que consiste no encurvamento sofrido
pelos raios de onda quando esta encontra uma srie de obstculos
regularmente separados capazes de dispers-la. Os raios-X so radiaes de
natureza eletromagntica de baixo comprimento de onda e elevada frequncia,
conforme mostra a figura 1[1], produzidos por um tubo de raios catdicos
atravs do bombardeamento de feixes de eltrons contra um metal de alto
nmero atmico, utiliza-se frequentemente o Tungstnio.

Figura 1: Espectro Eletromagntico [planck.caltech.edu]

Cada slido cristalino possui um padro nico de difrao de raios-X o que faz
com esta caracterstica seja conhecida como o fingerprint do composto
cristalino. Para a anlise costuma-se utilizar uma amostra com caracterstica
homognea e em p, e o instrumento utilizado conhecido como Difratograma
de Raios-X. Este experimento regido pela Lei de Bragg que determina as
3

condies necessrias para a ocorrncia de feixe difratado, importante

lembrar que apenas a obedincia desta lei no implica na existncia do feixe
difratado. A Lei de Bragg expressa por:
= 2 ()

O parmetro n a ordem de reflexo, representa o comprimento de

onda da radiao utilizada e usualmente fixo durante todo o experimento, d
a distncia entre os planos cristalogrficos e o ngulo de difrao. A tabela

1 mostra os principais comprimentos de onda da radiao X utilizados

experimentalmente.
Tabela 1: Principais comprimentos de onda.

Material
Cobre (Cu)
Cromo (Cr)
Ferro (Fe)
Molibdnio (Mo)

Comprimento de onda
(ngstrm [])

1,54184
2,29100
1,39735
0,71073

Objetivos
O experimento realizado, teve como objetivo principal a utilizao da
anlise de difrao de raios para investigao das estruturas dos materiais.
Utilizando a tcnica de difratometria para caracterizar a microestrutura de
materiais cristalinos.
O grupo deveria compreender atravs do experimento o funcionamento
de um Difratograma de Raios-X e a importncia da Lei de Bragg no estudo de
microestruturas. Devendo-se identificar o comprimento de onda , da radiao
X empregada no ensaio, bem como determinar o tipo de estrutura cbica do
composto, alm de outras informaes a serem obtidas como o tipo de metal e
o parmetro de rede da estrutura.

Metodologia e Resultados
Com os dados da tabela recebida sobre os ngulos de difrao e suas
correspondentes intensidades, foi elaborado um difratograma de raio-X (DRX)
conforme apresentado no grfico 1. Foi selecionado cada ngulo no qual a
intensidade de difrao foi um pico. Subtraiu-se 453(nm) de cada um, sendo
esse valor o rudo presente em todas as medidas.

Grfico 1: Difratograma do material utilizando-se FeK.

Em seguida, foi calculada a intensidade relativa (%) de cada pico. Para

isso, foi considerado como 100% o valor da medio mais intensa e cada um
dos outros obtido pela diviso com o primeiro e seguinte multiplicao por 100,
de modo a obter uma porcentagem da razo. A tabela 2 apresenta os valores
de pico encontrados.
Tabela 2: Valores de pico do difratograma.

Intensidade Relativa(%)
100,00
45,54
28,12
32,57
9,72
5,45

2 ()
48,9
57,1
85,0
104,8
111,6
145,6

Intensidade(nm)
3869
1762
1088
1260
376
211

Sabendo o comprimento de onda da radiao utilizada (FeK =0,194

nm) o prximo passo foi calcular o seno de cada ngulo envolvido nos
5

mximos de difrao e os quadrados dos senos. Utilizando os senos dos

ngulos, foi calculada a distncia interplanar em nanmetros de cada um dos
picos, pela Lei de Bragg (n = 2d seno()). A tabela 3 mostra as distncias
obtidas.
Tabela 3: Distncias interplanares.

()
24,450
28,550
42,500
52,400
55,800
72,800

seno ()
0,414
0,478
0,676
0,792
0,827
0,955

Distncia(nm)
0,234
0,203
0,144
0,122
0,117
0,102

Por fim, calculou-se (sen()/Scs), (sen( )/Sccc) e (sen( )/Scfc), para

poder descobrir em qual destes o resultado constante. Como observado na
tabela 4, descobriu-se que isso ocorre no ltimo caso, concluindo assim que a
estrutura cristalina analisada uma cbica de face centrada (cfc), sendo
possvel posteriormente achar os ndices de Miller dos planos cristalogrficos
nos picos de difrao.
Tabela 4: Clculo para evidenciar o tipo de estrutura cristalina analisada.

Sen()
0,171
0,228
0,456
0,628
0,684
0,913

Scs
1
2
3
4
5
6

Sen()/Scs
0,171
0,114
0,152
0,157
0,137
0,152

Sccc
2
4
6
8
10
12

Sen()/Sccc
0,086
0,057
0,076
0,078
0,068
0,076

Scfc
3
4
8
11
12
16

Sen()/Scfc
0,057
0,057
0,057
0,057
0,057
0,057

Para finalizar, calculou-se a medida do comprimento da clula unitria(a)

usando a relao d=a/(h+k+l), e calculou-se os picos de difrao esperados
utilizando oura radiao X, conforme apresentado nas tabelas 5 e 6.

Tabela 5: Comprimento da clula unitria.

Sen()/Scfc
0,057
0,057
0,057
0,057
0,057
0,057

hkl
(111)
(200)
(220)
(311)
(222)
(400)

(h+k+l)
1,73
2,00
2,83
3,32
3,46
4,00
mdia
desvio padro

a
0,4059
0,4059
0,4061
0,4061
0,4063
0,4062
0,4061
0,0001

Tabela 6: Considerando-se outra radiao, neste caso raios de Cu (= 0,1541838nm).

Distancia(nm)
sen() = /2d
0,234
0,33
0,203
0,38
0,144
0,54
0,122
0,63
0,117
0,66
0,102
0,76

()
19,2
22,3
32,4
39,2
41,2
49,1

2 ()
38,5
44,6
64,7
78,4
82,4
98,2

Intensidade x ngulo 2
Intensidade radiao(nm)

4500
4000
3500
3000
2500
2000
1500
1000
500
0

10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 150 160 170 180

ngulo 2

Grfico 2: Difratograma utilizando CuK.

O parmetro de rede do sistema cbico de face centrada obtido foi no

valor de 0,405 nm. De acordo com a literatura (CALLISTER, 1940) o material
estudado foi o Alumnio (Al).

Difratogramas do Ferro e do Cobre

Intensidade radiao(nm)

4500
4000
3500
3000
2500
2000
1500
1000
500
0

10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 110 120 130 140 150 160 170 180

ngulo 2
Ferro

Cobre

Grfico 3: Comparao entre difratogramas do Ferro e do Cobre.

possvel concluir a partir da comparao entre os ngulos 2 e do

difratograma apresentado acima, o qual relaciona os resultados obtidos
utilizando-se raios-x de Ferro e Cobre, que a medida que o nmero atmico
cresce o ngulo difratado diminui.

Questionrio
a. Raios X so ondas de alta energia que possuem natureza eletromagntica e
pequeno comprimento de onda (comprimento de onda mnimo da ordem de 1
). Para a produo de ondas de raios X deve ser utilizada uma fonte de alta
tenso (de 1kV a 1MV, variando de acordo com o equipamento e a aplicao
do raio X), essa fonte conectada ao ctodo e nodo. O ctodo aquecido a
uma temperatura suficiente para que, pelo efeito terminico, eltrons sejam
emitidos e acelerados em direo ao nodo devido a grande diferena de
potencial entre eles. Ao entrar em contato com o nodo, os eltrons penetram
8

no material e se aproximam dos ncleos (positivos) e, devido a fora de

atrao entre as cargas, sofrem alterao de sua trajetria original,
desacelerando. Esse processo faz com que os eltrons percam energia na
forma de emisso de radiao (emisso de fton de raios X), efeito conhecido
como Bremsstrahlung.
b. A tenso utilizada para a obteno de difratogramas para a identificao de
fases em materiais cristalinos pode variar de acordo com o equipamento e com
o material utilizado, mas usualmente utiliza-se nveis de tenso com valor
prximo a 35kV.
c. A escolha da fonte utilizada na anlise por difrao de raio x varia
dependendo do material a ser analisado, mas os principais tipos de fontes
utilizados so Cobre (Cu), Ferro (Fe), Cromo (Cr) e Molibdnio (Mo).
d. Considerando como principais fontes utilizadas na anlise o cobre, ferro,
cromo e molibdnio, temos que seus comprimentos de onda tpicos so (em ):
Cr - 2,291, Fe - 1,937, Cu - 1,542 e Mo - 0,710.
e. A difrao de raio X deve satisfazer a lei de Bragg, mas pode ocorrer de
formas distintas de acordo com o parmetro ( ou ) a ser variado e pode ser
obtida atravs do mtodo de Laue (em que utiliza-se um cristal fixo), pelo
mtodo de rotao do cristal (o cristal montado de forma que um de seus
eixos fique perpendicular a direo do feixe de raio x), ou pelo mtodo de p (o
cristal modo, ficando na forma de um p fino). Em relao ao mtodo de p,
a preparao da amostra varia conforme o equipamento utilizado: para a
Cmara de difrao a amostra a ser analisada deve estar na forma de um
cilndro (de 0,3mm a 0,5mm de dimetro), sendo que esse cilindro pode ser
formado por um capilar de vidro preenchido com o p ou pode ser preparada
uma mistura do p com uma cola, formando uma massa plstica a qual
moldada na forma de um cilindro; no difratmetro de raio x, a superfcie da
amostra deve ser plana, para isso o p pode ser prensado manualmente e ter
sua superfcie alisada com uma placa metlica, ou pode ser utilizada uma
amostra compacta, a qual armazenada com o uso de massa plstica em um
porta-amostra, cujo material depende do tipo de equipamento.

f. Os principais componentes de um difratmetro de raios x so: fonte de raios

x, fendas soller, fenda divergente, amostra, fenda receptora, fenda de
espalhamento e detector de raios x.
g. Os raios X so gerados a partir da fonte, esse feixe passa pelas fendas de
soller ( so folhas de metal finas e paralelas ao plano do crculo focal, elas so
dispostas de forma que limitam o ngulo de divergncia do feixe que sai do
tubo), e pelas fendas de divergncia (responsvel por determinar o ngulo de
divergncia horizontal do feixe). Aps passar por essas fendas, o feixe incide
na amostra que faz com que os raios sejam difratados em um ngulo 2. O
feixe de raios difratados convergem para a fenda de recepo (limita a largura
do feixe e est relacionada com a resoluo e intensidade dos picos refratados)
e passam por fendas de soller e por uma fenda de espalhamento (tem a funo
de limitar o espalhamento do feixe difratado que incide sobre o contador). Por
fim, o feixe captado pelo detector de raios X que utiliza os sinais recebidos
para expressar dados, posteriormente usados para analisar a amostra.

Artigo
Artigo analisado: G Dopagem do ZnO com Co+2 para obteno de
semicondutores magnticos diludos (SMD) utilizando a sntese de reao de
combusto.
Figura escolhida: Figura 3 (x=0,1).
Em Dopagem do ZnO com Co+2 para obteno de semicondutores
magnticos

diludos

(SMD)

utilizando

sntese

de

reao

de

combusto(TORQUATO et al. 2013), Torquato e colaboradores empregaram a

tcnica de difrao de raio-x, utilizando um difratmetro com radiao CuK
(=1,5418) e varredura 2 de 20-80, para verificar a formao de fases
cristalinas de ZnO ao substituir-se parcialmente o Zn+2 por Co+2 atravs de
dopagem para o sistema Zn1-xCoxO.
Utilizando do programa Adobe Photoshop CS5, determinou-se em uma
escala arbitrria os vrtices dos picos cristalinos (em azul) e a origem do
sistema (em vermelho) do primeiro difratograma da Figura 3 (x=0,1).
10

Convertendo desta escala para obteve-se as distncias entre os planos

cristalogrficos(dhkl) e I (intensidade relativa), como pode ser visto na tabela 8.

Figura 2: Difratograma escolhido (figura 3 do artigo G).

Tabela 7

X
150
163
176
240
292
328
356

Y Escala X Escala Y () I(%) d (nm)

39
394
72 15 54,2 2,025E-11
38
394
72 17 52,8 2,196E-11
72
394
72 18 100 2,365E-11
12
394
72 24 16,7 3,18E-11
20
394
72 30 27,8 3,813E-11
14
394
72 33 19,4 4,232E-11
14
394
72 36 19,4 4,547E-11
hkl

Resultados e Discusso
Devido a relao entre as propriedades macroscpicas dos materiais e sua
microestrutura, torna-se imprescindvel a investigao da mesma. Observou-se

atravs do Difratograma do Ferro que a relao entre a intensidade relativa e

ngulo mximo so inversos. uma intensidade relativa de 100% o ngulo 2
de 48,9, e uma intensidade de 5,45%, o 2 apresentado era de 145,6.
Atravs do clculo da distncia interplanar pela Lei de Bragg, o grupo
obteve que o tipo de estrutura cristalina do material utilizado era CFC.
Encontrou-se tambm o parmetro de rede do sistema cbico de face centrada
e analisando a bibliografia do curso (CALLISTER, Cincia e Engenharia de
Materiais - Uma Introduo) identificou-se que o material estudado no ensaio
foi o Alumnio (Al). Por fim, comparando-se os resultados obtidos com o
Difratograma do Ferro com os esperados para o Difratograma do Cobre,
11

conclumos que a diferena entre os ngulos e as o nmero atmico possuem

uma relao de inverso.

Pesquisa
Aps a obteno dos resultados e compreenso da importncia e do
funcionamento da anlise DRX, os integrantes do grupo realizaram uma pesquisa
sobre aplicaes da tcnica abordada neste relatrio com materiais empregados
em suas respectivas reas de atuao.

Gabriela Midori: Engenharia Biomdica

A anlise de difrao de raios X de importncia fundamental na rea
da engenharia biomdica, no desenvolvimento de prteses ortopdicas
utilizando ligas metlicas, por exemplo, a tcnica de difrao de raios X uma
das utilizadas para a verificao da biocompatibilidade da liga em questo,
alm disso, as propriedades mecnicas de uma liga esto relacionadas com
sua microestrutura que tambm pode ser analisada, feita a identificao de
fases e estudo da estrutura, pela tcnica de difrao de raios X.
Referncia Bibliogrfica:
CARDOSO,

Flvia

Farias.

Anlise

de

Parmetros

de

Influncia

na

Microestrutura e Propriedades de Ligas Ti-Mo-Zr Aplicadas em Prteses

Ortopdicas. 2007. Monografia (Mestrado em Engenharia Mecnica) UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS. Campinas.
Gabriel Machado: Neurocincia
Eu pretendo cursar Neurocincia, um bacharelado que naturalmente
abrange e dialoga com vrias carreiras e campos de estudo. Logicamente, uma
das carreiras a Engenharia de Materiais; e um dos campos a Difrao de
Raios-X (DRX).
Uma das formas - que eu julgo ser a principal delas - em que a anlise
de DRX vem a ser til Neurocincia atravs da nanotecnologia. Atualmente,
a difrao de raios X muito utilizada para caracterizar as propriedades
fundamentais dos nanomateriais. A cada dia que se passa, mais recursos so
investidos, apresentando uma enorme evoluo na nanotecnologia mdica. J
12

existem novas drogas neuroestimulantes, compostas de nanomateriais. Num

futuro prximo, seremos capazes de sintetizar estruturas moleculares, que
podero regenerar ou substituir tecidos cerebrais perdidos ou lesionados. Isso
representa um cenrio muitssimo promissor e encorajado.
Gustavo Nagy: Engenharia de Gesto
Referncia Bibliogrfica:
Jairo de Freitas: Engenharia de Materiais
O estudo de biomateriais um campo interdisciplinar que engloba
conhecimentos de biologia, medicina e cincia e engenharia de materiais. A
depender da aplicao dos biomateriais, a microestrutura pode ser um fator
crucial para manifestao de eventos de interesse, como bioatividade,
ferromagnetismo ou liberao controlada de frmacos

[1, 2]

. Desta forma,

caracterizar biomateriais por difrao de raios-x uma tcnica amplamente

empregada, sobretudo para estudo de fases inorgnicas nos analitos[2]. Esta
tcnica permite, alm disso, determinar a pureza das fases e a razo entre
seus constituintes, o que essencial para padronizao e comercializao de
um biomaterial[4].
Referncia Bibliogrfica:
[1]

Andreas F. von Recum (editor). Handbook of Biomaterials Evaluation:

Scientific, Technical and Clinical Testing of Implant Materials. 2nd ed. Taylor &
Francis. 1999. ISBN: 1560324791
[2]

Mller et al. Biomedical Inorganic Polymers: Bioactivity and Applications of

Natural and Synthetic Polymer Inorganic Molecules. 2013. ISBN:

9783642410031.
[3]

Lj. Kandic, M. Mitric, N. Ignjatovic.XRD Analysis of Calcium Phosphate and

Biocomposite Calcium Phosphate/Bioresorbable Polymer. Materials Science

Forum. Vol. 518 (2006) pp. 507-512.
[4]

Donglu Shi (editor). Introduction to biomaterials. 2006. Tsinghua University

Press. ISBN: 981-256-627-9

13

Marcelo Lima: Engenharia Biomdica

A difrao de raios x basicamente uma forma de anlise da estrutura
molecular de um material. Na pesquisa sobre a estrutura de materiais
polimricos sua aplicao no muito comum, em funo da, geralmente,
baixa densidade dos polmeros (em comparao com os cristais e metais).
No entanto, a difrao pode ser combinada com outros mtodos de
anlise, como a espectroscopia e mesmo a microscopia eletrnica (JULIANA,
2012).
H um interessante estudo que visa a possibilidade de substituio do
carbono em algumas cadeias polimricas por silcio, ou mesmo por xido de
silcio. Na anlise do comportamento das amostras ensaiadas, um dos
mtodos utilizados o de difrao de raios x (REGOLINI et al. - 1994).
Referncia Bibliogrfica:
JULIANA (?).
http://www.trabalhosfeitos.com/ensaios/Caracteriza%C3%A7%C3%A3o-DeAplica%C3%A7%C3%A3o-De-Nanotecnologia-Em/482450.html (Acessado em
27/06/2015, 12:00h)
REGALINI, J. L. et alli. STRAIN COMPENSATED HETEROSTRUCTURES IN
THE SI1-X-YGEXCY TERNARY-SYSTEM. JOURNAL OF VACUUM SCIENCE
& TECHNOLOGY A-VACUUM SURFACES AND FILMS. Volume: 12, Edio:
4, Pginas: 1015-1019, Parte: 1, DOI: 10.1116/1.579277 Publicado: JUL-AUG
1994 (link disponvel em
http://apps.webofknowledge.com/full_record.do?product=UA&search_mode=Ge
neralSearch&qid=4&SID=1CEBVGXXJdP8XalSDei&page=1&doc=2)
Pedro Henrique Gomes: Engenharia de Materiais
A difrao de raio X, voltada para a rea de nano materiais, utilizada
de forma a caracterizar um composto, ou um elemento, quanto a suas micro ou
nanoestruturas, e suas propriedades.
Aplicando-o da mesma forma como feito em sala, e atravs de analises
de dados semelhantes, ou at mesmo iguais as feitas neste relatrio,

14

possvel determinar propriedades de estrutura de elementos, dimenses, e o

que mais possa a vir a ser til quanto a estrutura.
Este mtodo considerado muito poderoso para a caracterizao destes
nano materiais, onde pode se analisar se a estrutura amorfa, ou cristalina,
identificar o material, encontrar parmetros de rede, e ndices de Miller,
resduos de estresse aps aplicao de fora externa, e analise de textura, ou
de orientaes.
Referncia Bibliogrfica:
MSG.INTERTEK

http://www.intertek.com/analysis/materials/nano-

research/xrd-brochure/ (Acessado em 25/06/2015, 19:00h)

Sharma,

Ravi

http://recent-

science.com/index.php/rrst/article/viewFile/14887/7589

(Acessado

em

29/06/2015, 20:00h)
Vtor Matozinhos: Engenharia Aeroespacial
A indstria aeroespacial estimula um constante desenvolvimento de
novas ligas metlicas que possibilitem a reduo do peso e das estruturas
aeroespaciais.

No

processo

de

criao

de

uma

nova

liga

ou

de

aperfeioamento de uma j existente, fundamental que se conhea

profundamente a microestrutura pesquisada. A anlise de DRX mostra-se
ento uma ferramenta de grande importncia nesta rea da engenharia,
fornecendo informaes a respeito das fases do material cristalino, dimenses
de suas clulas unitrias e caracterstica do arranjo atmico.
A indstria aeronutica protagonista no desenvolvimento de novas
ligas de alumnio[1] e a NASA grande patrocinadora de pesquisas que na rea
abordada neste experimento, como exemplo disto temos a Caltech (Instituto de
Tecnologia da Califrnia) que a abriga o laboratrio de propulso a jato da
NASA[2] e uma universidade referncia em pesquisas utilizando o modelo
DRX.
Referncias Bibliogrficas:

15

[1]

ITAMN,

Andr

Filho.

Ligas

de

Alumnio-Ltio.

Fapesp.

IFES

ES.<

ftp://ftp.cefetes.br/cursos/MetalurgiaMateriais/AndreItman/Conforma%E7%E3o/
Alum%EDnio-L%EDtio.pdf> Acessado em 29/06/2015.
[2]

<http://www.caltech.edu/content/jet-propulsion-laboratory>

Acessado

em

29/06/2015.

Referncias Bibliogrficas
CALLISTER JR.,W.D. Cincia e engenharia de Materiais: Uma introduo. 5
Edio. Rio de Janeiro: LTC, 2000. 590p.

MODENESI, Paulo J.Introduo Fsica do Arco Eltrico E sua Aplicao na

Soldagem dos Metais. 2007. Departamento de Engenharia Metalrgica e de
Materiais, Universidade Federal de Minas Gerais, Belo Horizonte. Disponvel
em <http://www.iem.unifei.edu.br/professores/edmilson/Arco.pdf> Acesso em
junho de 2015.
FURQUIM, Tnia Aparecida Correia. PROCESSO DE PRODUO DE RAIOS
X. Disponvel em <http://rle.dainf.ct.utfpr.edu.br/hipermidia/images/fisica/rx.pdf>
Acesso em junho de 2015.
Fsica

Moderna

UFRGS,

Capitulo

Raios-X.

Disponvel

em

<http://www.if.ufrgs.br/tex/fis142/fismod/mod05/m_s01.html> Acesso em junho

de 2015.
WUENSHE, Carlos Alexandre. Bremsstrahlung. Processos Radioativos I. 2010.
Disponvel

em

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