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ENFOCADA
Cuando el contraste de resistividad ente la zona invadida y el
revoque es alto (Ej. Una alta relacin Rxo/Rmc), la corriente
inducida por el microperfil (ML) tiende a escapar a travs del
revoque de lodo. Para eliminar este problema equipos como el
microperfil de corriente inducida (MLL), el registro de proximidad
(PL), y el registro microesfrico enfocado (MicroSFL) fueron
desarrollados.
MICROPERFIL
Una delimitacin clara de los limites de capas permeables es
posible con equipos normal y lateral que tienen espaciamiento
de pocas pulgadas. Para evitar los efectos de pozo, estos
equipos son presionados contra la pared. El Microperfil (ML)
consiste esencialmente de una paleta de caucho con tres
electrodos (Electrodos A, M1 y M2) montados con una pulgada de
separacin en su cara.
La paleta es presionada contra la pared por un sistema
mecnico hidrulico. Una corriente es inducida entre el electrodo
A y un distante electrodo B y un potencial es medido entre el
electrodo M2 y otro potencial de electrodo alejado de M2. Este
arreglo consiste en un equipo normal corto de 2 llamado Micronormal. La resistividad aparente calculada y registrada sobre el
perfil es llamado el R2 in. El radio de investigacin de esta
herramienta es dos veces el espaciamiento.
Interpretacin Bsica
Esta herramienta se puede utilizar para localizar los lmites de
capas, reconocimiento cualitativo de zonas permeables y
determinacin cuantitativa de F (para estratos de moderada a
alta porosidad).
A. Limites de Capas
B. Reconocimiento Cualitativo de Zonas Permeables
C. Determinacin Cuantitativa de F.
D. Determinacin Cuantitativa de Porosidad y F.
Para corregir la resistividades aparentes del Microlog a
resistividades verdaderas de la zona Rxo existen curvas de
desviacin como la C6 y C8.
F es determinado de la ecuacin.
Rxo
1 Sor 2
F
Rmf
de la carta C10.
La porosidad se determina de acuerdo con el conocimiento que
se tenga del factor de resistividad de formacin F, mediante el
1
uso de la ecuacin:
a m
F
E. Determinacin Cuantitativa a partir de La Carta Emprica del
Microlog.
Aplicaciones y Limitaciones
investigacin poco Profundas
de
Herramientas
Aplicaciones
El registro se puede usar para:
Precisar la determinacin de los lmites de las capas.
de
CONDICIN
EFECTO
a. Invasin poco
profunda (zonas muy
permeables
y
porosas)
R2
afectada
apreciablemente por
la zona invadida; no
se justifica el uso de
Rmf
La zona lavada tiene
poco efecto sobre la
2; el registro tiene
una pobre resolucin
mx. hmc = 3/8
La
corriente
se
concentr
en
el
revoque: fuga en la
almohadilla produce
una pobre resolucin
Fugas de corriente
alrededor
de
la
almohadilla produce
una
separacin
incorrecta.
b. Un revoque muy
grueso (oculto por
caliper)
c. Baja porosidad
alta resistividad <
15%
d. La almohadilla no
est en contacto con
las
paredes
del
hueco.
e.
Valores Bases empricas a
incorrectos para Rmc partir de cartas no
son
satisfactorias,
valores
incorrectos
para Rxo
f. Lutitas esparcidas La baja resistividad
en capas porosas
se interpreta como
una
mayor
porosidad.
g.
Sor
estimada El
valor
de
incorrectamente
derivado del registro
depende de Sor, un
error en Sor causa
error en . Esto es
probablemente
la
fuente de mayor
error.
Ejemplo
La anterior figura muestra un perfil de MLL/ML. Determinar la
resistividad de la zona lavada en el intervalo A.
Los siguientes datos son obtenidos desde el perfil y el
encabezamiento.
(Ra)MLL = 21 -m desde la curva de MLL
(Ra)1 = 2.7 -m desde la curva ML
(Ra)2 = 4.4 -m desde la curva ML
Tamao de la broca = 7-7/8
Tamao del hueco = 7-3/8 desde la curva del caliper
Profundidad del intervalo = 5248 a 5250 ft
Temperatura a 5281 ft = 132 oF
Rmc = 1.66 -m a 74 oF
Rmf = 0.83 -m a 74 oF
Rmc y Rmf a temperatura de formacin.
El intervalo de inters es solo unos pocos pies desde el fondo
del hueco. Lo cual da un valor cercano a la mxima registrada.
74 6.77
0.483 m
132 6.77
74 6.77
0.966 m
132 6.77
Ra 1
2.7
2.8
0.966
Ra 2
4.4
4.55
0.966
Rmc
Rmc
Rmf
2.15
14 %