Laborator 04

2007/2008

FAMILII DE CIRCUITE INTEGRATE DIGITALE

1. FAMILIA TTL
Familia TTL (Transistor Transistor Logic) a fost introdus de firma Texas Instruments (SUA) n anul
1965 i a fost realizat n tehnologie bipolar. Este cea mai rspndit familie de circuite integrate digitale i a
influenat constant dezvoltarea echipamentelor numerice. n prezent aria de utilizare a circuitelor TTL este
limitat (datorit dezvoltrii aplicaiilor cu microcontroler i a circuitelor de tip ASIC) dar conceptele i
blocurile funcionale din aceast familie sunt utilizate n majoritatea proiectelor moderne.
Toate subfamiliile (seriile) TTL sunt compatibile ntre ele pin la pin ct i se pot interconecta direct, cu
respectarea ncrcrii ieirilor i a timpilor de propagare, conform valorilor specificate n tabelul 4.2.
Circuitele logice din familia TTL sunt fabricate cu tranzistoare bipolare npn, funcioneaz n logica
de nivel pozitiv i sunt alimentate cu o tensiune pozitiv fa de masa de 5V.

1.1. CIRCUITUL 74LS00 4 PORI I-NU cu 2 intrri

Circuitul integrat, din seria TTL-LS, 74LS00 conine 4 pori I-NU (NAND) cu cte 2
intrri. Configuraia pinilor capsulei i modul de amplasare al porilor este redat n figura 4.1.
14 13
Vcc

12

11

10

U1C

U1D

U1A

U1B

GND
1

Figura 4.1 Configuraia pinilor circuitului 74LS00.

n cazul oricrui circuit integrat, ntotdeauna pinul 1 se afl n partea stng a

marcajului (a cheii), numerotarea realizndu-se n mod circular antiorar, astfel nct ultimul
pin s fie n dreapta cheii. Privirea se face de sus, spre partea marcat (nscris, cu pinii n
jos).
Alimentarea circuitului, de altfel a majoritii circuitelor digitale, pinul 7 (8 sau
ultimul din stnga jos fa de cheie) reprezint masa (GND, -) iar pinul 14 (16 sau ultimul din
dreapta sus fa de cheie) reprezint Vcc (+).
La proiectarea schemelor cu circuite logice (pori logice) se face referire la numrul de
ordine (poziia) fiecrei pori, prin numele de referin A,B,C sau D (sau pn la litera care
reprezint ultima poart din capsul). Notaia U (IC sau CI) exprim referina capsulei
(a circuitului n totalitate). De exemplu, dac U1 este denumirea circuit integrat din figura 4.1,
atunci U1A reprezint prima poart, respectiv U1B, U1C i U1D celelalte pori.

Laborator 04

2007/2008

1.2. CARACTERISTICILE CIRCUITELOR INTEGRATE TTL

A). Tensiunea de alimentare (Vcc)
Este de +5V (5%, adic 4,75V 5,25V) pentru seriile standard (74xxx) i de +5V
(10%, adic 4,5V 5,5V) pentru seria militar (54xxx).
Nu este permis alimentarea invers a circuitului integrat, acest lucru, chiar i pe
durate relativ reduse de timp, conduce la distrugerea acestuia.
B). Niveluri logice garantate
Principalele tensiuni care descriu nivelurile de intrare i de ieire ale unui circuit TTL:

ViL - tensiunea de intrare n starea Low (nivelul de tensiune recunoscut de circuit ca fiind
corespunztor valorii 0 logic);
ViH - tensiunea de intrare n starea High (nivelul de tensiune recunoscut de circuit ca fiind
corespunztor valorii 1 logic);
VOL - tensiunea de ieire n starea Low (nivelul de tensiune furnizat de circuit n stare 0 logic);
VOH - tensiunea de ieire n starea High (nivelul de tensiune furnizat de circuit n stare 1logic);
VTh - tensiunea de prag (threshold), reprezint tensiunea de intrare la care se produce comutarea
ieirii dintr-o stare logic n alta.

Valorile limit pentru parametrii enumerai anterior sunt redate n Tabelul 4.1.
Tabelul 4.1
Niveluri logice garantate pentru seria TTL-LS.

Tensiune
ViL
ViH
VOL
VOH

Valori limit
minim [V] maxim [V]
0
0,8
2
Vcc
0
0,5
2,4
Vcc

C). Unitatea de sarcin TTL

O unitate de sarcin TTL reprezint consumul, n curent, al unei intrri TTL conectate
la ieirea unui circuit din aceeai serie (sau dintr-o serie compatibil TTL). Valorile indicate
n tabelul 4.2 se refer att la unitatea de sarcin TTL (IIL i IIH) ct i la capabilitatea n curent
a ieirilor (IOL i IOH).
Tabelul 4.2
Curenii de intrare i ieire ai circuitelor din seriile TTL.

Laborator 04

2007/2008

D). Marginea de zgomot de curent continuu

Marginea de zgomot de curent continuu reprezint nivelul maxim al unui semnal
perturbator aplicat la intrarea unei pori TTL (aflat n starea Low respectiv High) care nu i
afecteaz funcionarea (ieirea nu comut n alt stare).
Pentru valorile limit specificate n tabelul 4.1, se poate deduce c marginea de
zgomot de curent continuu este de 400mV. Aceast valoare este garantat de productori dar,
n practic, se constat c ea poate s ating valoarea de 1V (pentru familia TTL standard).
E). Marginea de zgomot de curent alternativ
Marginea de zgomot de curent alternativ depinde de energia (durata i amplitudinea)
impulsului perturbator. Cu ct semnalul perturbator are durata mai mic, cu att amplitudinea
sa trebuie s fie mai mare pentru a putea determina comutarea ieirii porii. Imunitatea porii
I-NU la tranziii ieirii din 0 n 1 este n general mai bun dect pentru o tranziie din
1 n 0 datorit timpului de propagare mai mare tpLH fa de tpHL.
F). Factorul de branament (FAN-out)
Factorul de branament reprezint numrul maxim de intrri care pot fi conectate
simultan la ieirea unei pori din aceeai serie. Se determin pe baza ncrcrii statice a ieirii
raportnd curenii de ieire la curenii de intrare. NH=20 (pt.0,8mA); NL=10 (pt.16mA). Se
obine, pentru seria standard N = 10.
G). Timpul de propagare
Timpul de propagare reflect o relaie temporal ntre semnalul se intrare i de ieire.
El reprezint un interval de timp ntre puncte de referin specificate pe formele de und ale
semnalelor de intrare i ieire. Mai poate fi definit ca fiind ntrzierea introdus de circuit
n propagarea semnalelor de la intrare la ieire.
Se definete un timp de propagare la tranziia din 0 n 1 a ieirii (tpLH), un timp de
propagare la tranziia din 1 n 0 a ieirii (tpHL) i un timp mediu de propagare:
t pLH + t pHL
tp =
2
Se determin pentru o poart I-NU avnd semnalul de intrare ui aplicat unei singure
intrri, celelalte fiind conectate la nivelul UiH, n condiii normale de temperatur (25C) i
tensiune de alimentare (5V).
ui

UiH

UiH

ui

0,5U iH
UiL

u0

U0H

u0

0,5U0H

Pentru seria standard se obin urmtoarele valori tipice:

t pLH = 12ns
t p = 10ns
t
pHL = 8ns

U0L
tpHL

t pLH

Laborator 04

2007/2008

Principalii parametri electrici ai circuitelor din seriile TTL sunt prezentai succint n
tabelul 4.3.
Tabelul 4.3
Parametrii electrici ai circuitelor din seriile TTL.

1.3 . DESFURAREA LUCRRII

Placa experimental (figura 4.3) permite msurarea parametrilor electrici ai circuitului
integrat 74xx00.

Figura 4.3 Vedere de ansamblu asupra plcii experimentale.

Amplasarea componentelor i numerotarea pinilor de test (de msurare) este redat n

figura 4.4.

Figura 4.4 Vedere spre faa plantat i numerotarea pinilor de test.

Laborator 04

2007/2008

Alimentarea circuitului se realizeaz prin intermediul pinilor notai +5V, GND i +2V
i GND, cu ajutorul unei surse duble externe.

1.3.1. Determinarea potenialului intrrilor nefolosite i a ieirilor corespunztoare

Pentru Vcc = 5V se msoar potenialul intrrii nefolosite a porii U1B, conectnd un
voltmetru ntre pinii de test 7 i 8. n continuare se msoar nivelul ieirii aceleiai pori ntre
pinii de test 9 i 10, pentru comutatorul K2 pe poziia (a) respectiv (b). Se vor compara i
comenta rezultatele.
Figura 4.5 ilustreaz zona de interes a plcii de test pentru msurrile cerute.

Figura 4.5 Pinii utilizai la msurarea potenialelor intrrilor i ieirii aferente

1.3.2. Verificarea nivelului de tensiune 0 logic la intrare

Se verific dac ViLmax 0,8 V pe o intrare, la testarea n cazul cel mai defavorabil.
Schema electronic de test este redat n figura 4.6a i necesit folosirea a dou
voltmetre numerice, un semireglabil i o poart logic I-NU.
5V
+V

5V
+V

U1A
P1
+

+
Vi

Vo
-

a).

b).
Figura 4.6 Verificarea nivelului ViLmax.

Se va utiliza poarta U1A, semireglabilul P1, comutatorul K1 i pinii de test 1, 2, 3 i 4.

Tensiunea de alimentare se fixeaz la Vccmin = 4,75V iar intrarea necomandat se conecteaz
la 1 logic prin plasarea comutatorului K1 pe poziia (a). Voltmetrul Vi se conecteaz ntre
pinii de test 1 i 2 iar voltmetrul Vo ntre pinii de test 3 i 4. Prin ajustarea semireglabilului
P1, se regleaz descresctor tensiunea aplicat la intrare de la Vcc la ViLmax, valoare la care
tensiunea la ieirea porii devine VoH. Schimbarea nivelului logic la ieire se poate urmri i
prin iluminarea ledului Out (verde) de pe placa de test.
Zona de interes a plcii de test pentru msurrile cerute este ilustrat n figura 4.6b.
Se vor msura seturi de valori pentru ViLmax pentru diferite serii din familia TTL.
5

Laborator 04

2007/2008

1.3.3. Verificarea nivelului de tensiune 1 logic la intrare

Se verific dac ViHmin 2 V pe o intrare pentru cazul cel mai defavorabil. Se fixeaz
Vccmax = 5,25V. Se utilizeaz dou voltmetre numerice, un semireglabil i o poart I-NU, aa
cum se poate observa din figura 4.7a.
5V
+V

U1A
P1
+

+
Vi

Vo

a).

b).
Figura 4.7 Verificarea nivelului ViHmin.

Se va utiliza poarta U1A, semireglabilul P1, comutatorul K1 i pinii de test 1, 2, 3 i 4.

Cele dou intrri ale pori U1A se conecteaz mpreun, prin comutarea lui K1 pe poziia (b).
Prin ajustarea semireglabilului P1 se aplic la intrare o tensiune ntre 0 i ViH pn cnd
tensiunea de la ieirea porii testate devine VoL, notndu-se astfel valoarea ViHmin. Voltmetrul
Vi se conecteaz ntre pinii de test 1 i 2 iar voltmetrul Vo ntre pinii de test 3 i 4.
Schimbarea nivelului logic la ieire se poate urmri i prin stingerea ledului Out
(verde) de pe placa de test.
Se vor nota seturi de valori msurate pentru ViHmin aferente diferitelor serii TTL.
Zona de interes a plcii de test pentru msurrile cerute este ilustrat n figura 4.7b.

1.3.4. Verificarea curentului de intrare IiL

Se verific dac IiL | -1,6 mA | pe o intrare, n cazul cel mai defavorabil. Se verific
pentru seria standard i apoi pentru celelalte serii. Se alege Vcc = Vccmax = 5,25V i se
folosete un voltmetru (Vi) i un miliampermetru (Ii) conectate aa ca n figura 4.9.
Vcc
+V
U1B
U1A

P1

Ii

+
Vi
-

a).

b).
Figura 4.8 Verificarea curentului IiL.

Se experimenteaz utiliznd poarta U1B, pinii de test 5, 6, 7 i 8, comutatorul K2 i

semireglabilul P2. Intrarea neutilizat se aduce la 1 logic prin comutarea lui K2 n poziia (a).
6

Laborator 04

2007/2008

Prin ajustarea poziiei semireglabilului P2 se fixeaz tensiunea la intrare ViL = 0,4V prin
urmrirea indicaiei voltmetrului Vi conectat ntre pinii de test 7 i 8 i se citete valoarea
curentului IiL indicat de ctre miliampermetrul conectat ntre pinii de test 5 i 6. Pe parcursul
experimentrii, ieirea se menine n gol.
Se vor repeta msurrile pentru diferite serii de circuite din familia TTL studiat.
Zona de interes a plcii de test pentru msurrile cerute este ilustrat n figura 4.8b.

1.3.5. Verificarea curentului de intrare n starea 1 logic

Se verific dac IiH 40 A pentru seria standard i apoi pentru alte serii TTL, n cele
mai defavorabile condiii de testare.

U1B

Ii
+
Vih

a).

b).
Figura 4.9 Verificarea curentului IiH.

Schema electronic a montajului experimental cuprinde un miliampermetru conectat

ntre tensiunea ViHmin = 2V i o intrare a unei pori I-NU (figura 4.9a). Circuitul se
alimenteaz la Vcc = Vccmax = 5,25V. Ieirea se menine n gol.
Pentru experimentare se va utiliza poarta U1B, iar K2 se va aduce n poziia (b) pentru
a conecta la mas intrarea nefolosit. Miliampermetrul se conecteaz ntre borna de
alimentare +2V i pinul de test 6 i se citete valoarea indicat.
Zona de interes a plcii de test pentru msurrile cerute este ilustrat n figura 4.9b.

1.3.6. Verificarea nivelului de tensiune 0 logic la ieire

Se verific dac n cazul cel mai defavorabil se menine VoLmax 0,4V. Schema de
testare experimental, prezentat n figura 4.10a, cuprinde o surs de alimentare de +2V
pentru generarea nivelului ViHmin la intrare, un voltmetru i un miliampermetru nseriat cu
ieirea unei pori I-NU conectate printr-un semireglabil la Vcc.

+V

Vccmin

P1
Vihmin

Io
+

U1C
+
+

Vo
-

a).

b).
Figura 4.10 Determinarea nivelului VoL la ieire.

Laborator 04

2007/2008

Circuitul se alimenteaz la Vccmin = 4,75V. Pentru experimentare se va utiliza poarta

U1C, voltmetrul se conecteaz la ieirea porii, ntre pinii de test 11 i 14 iar miliampermetrul
ntre 12 i 13. Prin ajustarea semireglabilului P3 se stabilete curentul de ieire la IoLmax
corespunztor seriei din care face parte circuitul, echivalent cu o ncrcare FAN-OUT = 10.
Se citete valoarea indicat de voltmetru.
Zona de interes a plcii de test pentru msurrile cerute este ilustrat n figura 4.10b.

1.3.7. Verificarea nivelului de tensiune 1 logic la ieire

Se verific dac n cazul cel mai defavorabil se menine valoarea VoH 2,4 V. Pentru
aceasta, se stabilete alimentarea circuitului la Vcc = 4,75V i se utilizeaz schema de testare
din figura 4.11.
Vccmin
+V

Vo

Vi

P1

Io
+

U1C

P2

a).

b).
Figura 4.11 Determinarea nivelului VoH.

Pentru determinarea experimental se va utiliza poarta U1D, un voltmetru conectat

ntre pinii de test 15 i 16 pentru citirea tensiunii la intrare, un voltmetru conectat ntre pinii
de test 17 i 16 pentru urmrirea tensiunii de ieire i un miliampermetru ntre 18 i 19. Prin
ajustarea semireglabilului P5 se asigur la intrare tensiunea ViLmax = 0,4V i apoi se stabilete
din P4 un curent IoHmax = 20 IiH echivalent cu FAN-OUT = 20. Se citete i se noteaz
valoarea tensiunii la ieirea porii indicat de voltmetrul aferent.
Zona de interes a plcii de test pentru msurrile cerute este ilustrat n figura 4.11b.

1.3.8. Msurarea curentului de scurtcircuit la ieire

Se efectueaz doar pentru seria standard i se verific dac valoarea curentului de
ieire n condiia conectrii acesteia la mas printr-un miliampermetru, este cuprins ntre
22mA i 55mA. Ambele intrri se vor conecta mas (figura 4.12a).
U1B

I0

a).

b).
Figura 4.12 Determinarea curentului de scurtcircuit.

Circuitul se alimenteaz la Vccmax = 5,25V. Se va utiliza poarta U1B, comutatorul K2

se trece n poziia (b) iar pinul de test 7 se conecteaz cu pinul de test 8 printr-un conductor.
8

Laborator 04

2007/2008

Miliampermetrul se nseriaz ntre pinii de test 9 i 10 i se citete valoarea indicat. Se

evalueaz rezultatul. Zona de interes este ilustrat n figura 4.12b.

1.3.9. Determinarea curentului de alimentare al capsulei

Acest curent are valori diferite funcie de starea logic a ieirilor. Pentru o msurare
concludent, toate porile din capsul trebuie meninute n aceeai stare. Dac toate ieirile
sunt n stare 1, se determin curentul ICCH iar dac sunt pe 0 se determin ICCL.
Tensiunea de alimentare se fixeaz la valoarea maxim i se nseriaz cu alimentarea
plcii de test un miliampermetru. Se noteaz valorile msurate ale curentului de alimentare
(ICCH i ICCL) pentru diferite serii de circuite TTL.

1.3.10. Reprezentarea caracteristicii de transfer statice

Pentru o poart I-NU din seria standard, se va urmri, prin msurri succesive,
dependena tensiunii de ieire Vo de tensiunea de intrare Vi.
5V
+V

U1A
P1
+

+
Vi

Vo

a).

b).
Figura 4.13 Determinarea caracteristicii de transfer statice.

Se va utiliza poarta U1A (figura 4.13a), ntre pinii de test 1 i 2 se conecteaz

voltmetrul ce va indica valoarea tensiunii Vi iar ntre pinii de test 3 i 4 voltmetrul care indic
valoarea lui Vo. Comutatorul K1 se fixeaz n poziia (b). Cu ajutorul semireglabilului P1 se
ajusteaz valoarea tensiunii de la intrare, ntre 0 i Vcc, cu pasul de cretere 0,1V. Zona de
interes pentru msurare este reprezentat n figura 4.13b. Pentru fiecare valoare a acestei
tensiuni se noteaz corespondentul de la ieire (Vo) completnd urmtorul tabel:

Seria TTL Standard

Vi [V]

0,1

0,2

0,3

0,4

0,5

0,6

0,7

0,8

0,9

1,1

1,2

1,3

1,4

1,5

1,6

1,7

0,1

0,2

0,3

0,4

0,5

0,6

0,7

0,8

0,9

1,1

1,2

1,3

1,4

1,5

1,6

1,7

Vo [V]

Seria TTL -LS

Vi [V]

Vo [V]

Pe baza rezultatelor, se vor reprezenta grafic valorile, pentru fiecare serie n parte, pe
aceeai diagram.
Se vor calcula marginile de zgomot de curent continuu n starea 1 i 0 la intrare.
9

Laborator 04

2007/2008

Vo

Figura 4.14 Caracteristica de transfer static.

Vi

1.3.11. Determinarea timpului de propagare

Utiliznd un generator de impulsuri GEN, la intrarea porii U1B se aplic un semnal
dreptunghiular, periodic, cu amplitudinea 3,5 V, frecvena 1MHz i factorul de umplere 50%
(figura 4.15a). Zona de interes aferent experimentrii este redat n figura 4.15b.
Se utilizeaz pinii de test 7 i 8 pentru intrare (OSC1) iar K2 se fixeaz n poziia (a).
ntre pinii de test 9 i 10 se va conecta sonda unui osciloscop pentru vizualizarea semnalului
de ieire (OSC2). Pentru simularea condiiilor nefavorabile de ncrcare cu sarcin a ieirii, se
vor conecta n paralel cu pinii 9 i 10 capaciti de valori diferite (C = 1nF, 10nF, 100nF) i se
va urmri, pe osciloscop, efectul acestora asupra timpului de propagare.

OSC2

U1B

GEN

C = 1nF

OSC1

a).

b).
Figura 4.12 Determinarea timpului de propagare.

n urma tuturor msurrilor experimentale, se va completa tabelul urmtor i se va

realiza un studiu comparativ concludent.
tpLH

tpHL
n gol

TTL Standard
TTL-LS

10

tpLH
tpHL
sarcin 1nF