LU C R AR E A N R .

1
.MATERIALE DIELECTRICE SOLIDE
1. Scopul lucrrii
Scopul lucrrii este nsuirea metodei de determinare a permitivitii
complexe relative a materialelor dielectrice solide uzuale i analiza comportrii
acesteia n frecven folosind analizorul RF de impedan/material, model
E4991A.
2. Noiuni teoretice
Dielectricii sunt materiale izolatoare, care se caracterizeaz prin stri de
polarizaie cu funcii de utilizare. Prin stare de polarizaie electric se nelege
starea materiei caracterizat prin momentul electric al unitii de volum diferit
de zero. Starea de polarizaie poate fi temporar dac depinde de intensitatea
local a cmpului electric n care este situat dielectricul i poate fi de deplasare
(electronic sau ionic) sau de orientare dipolar. Indiferent de mecanismul de
polarizare, n domeniul liniar, interaciunea unui dielectric izotrop cu cmpul
electric este caracterizat de permitivitatea complex relativ:
r

D
r jr
E
0

' j' r o j

(1)
(F/m)

unde: D este inducia electric,

E este intensitatea cmpului electric, iar
0

1
10 9 F / m ,
36

permitivitatea vidului.

Dac un material dielectric cu permitivitatea complex relativ r, se

introduce ntre armturile unui condensator care are n vid capacitatea C o, n
aproximaia c liniile de cmp se nchid n ntregime prin material (efectele de
margine sunt neglijabile), admitana la bornele condensatorului astfel format are
expresia:
Y j r C j r jr C r C jr C
0
0
0
0

(2)

Schema echivalent a condensatorului cu material dielectric i diagrama

fazorial sunt date n Figura 1.

LABORATORUL DE MATERIALE

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
Din schema echivalent se observ c partea real a permitivitii
complexe relative caracterizeaz dielectricul din punct de vedere al
proprietilor sale de a se polariza (indiferent de mecanismul de polarizare) i
are ca efect creterea de 'r ori a capacitii condensatorului la aceleai
dimensiuni geometrice, capacitatea condensatorului obinut fiind :
Ce = ' rCo

(3)

Figura 1. Schema echivalent i diagrama fazorial pentru un condensator cu

dielectric ntre armturi
Partea imaginar a permitivitii complexe relative ''r, caracterizeaz
dielectricul din punct de vedere al pierderilor de energie n material, pierderi
modelate prin rezistena
Re

1
rC 0

(4)

n diagrama fazorial din Figura 1, unghiul este unghiul dintre

tensiunea U aplicat condensatorului i curentul I care l strbate.
Complementarul unghiului de fazaj se numete unghi de pierderi i se noteaz
cu .
Se definete tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric, ca
fiind raportul:
tg

Pa
Pr

U IR

U IC

IR
IC

1
r 0 r
C e R e r C 0 r

(5)

unde: Pa: puterea activ la bornele condensatorului

Pr: puterea reactiv la bornele condensatorului
Inversul tangentei unghiului de pierderi se numete factor de calitate al
materialului dielectric i se noteaz cu

1
Q
CR r
(6)
tg
r
Permitivitatea complex relativ poate fi pus i sub forma:
LABORATORUL DE MATERIALE

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1

1 j

'
r

"
r
'
r

(7)
n acest caz, partea imaginar ne d o informaie complet asupra
pierderilor totale (pierderi prin polarizare, pierderi prin conducie electric,
pierderi prin ionizare) n dielectric. Din punct de vedere al utilizatorului de
componente, pentru materialul dielectric aceti doi parametri 'r i tg sunt
eseniali.
Datorit structurii fizice i fenomenelor complexe ce se petrec n
dielectric cnd asupra acestuia se aplic un cmp electric, permitivitatea
dielectric real ' i tangenta unghiului de pierderi tg sunt dependente puternic
de frecven i temperatur.
n Tabelul 1 sunt date caracteristicile tipice ale ctorva materiale studiate
n lucrare (msurate la = 20 C si f = 50 Hz), iar n Figurile 2 i 3 este
prezentat dependena de frecven a permitivitii, 'r si a tangentei unghiului de
pierderi, tg, la temperatura constant de = 20 C, pentru 2 materiale
dielectrice uzuale: polietilentereftalat i policarbonat.
Tabelul 1
Material

Tip de polarizare

polarizare de orientare
Polietilentereftalat
Polimetacrilat
de
"
metil (plexiglas)
Policarbonat
"
Hrtie de conden"
sator
Politetrafluretilen
polarizare de deplasare
(teflon)

'r

tg

(45)10-3

3,5

0,020,08

(812)10-4

6,6

(67)10-3

1,92,2

(14)10-4

electronic

LABORATORUL DE MATERIALE

CATEDRA TEF

Figura 2. Dependena de frecven a lui r' si tg pentru

Figura 3. Dependena de frecven a lui r' si tg
0
polietilentereftalat la temperatura de 20 C
pentru policarbonat la temperatura de
200C

'
r

LU C R AR E A N R . 1
Materialele izolante (exemplu: sarea Seignette, titanatul de bariu) nu sunt n
realitate dielectrici ideali deoarece n ei apar mici cureni de conducie care
produc pierderi n dielectric i nclzirea acestuia) sau prezint fenomenul de
histerezis dielectric caracterizat printr-o dependen neliniar dintre sarcina q de
pe armturi i tensiunea U aplicat condensatorului. Fenomenul de histerezis
dielectric const de fapt n rmnerea n urm a induciei n raport cu cmpul
electric, dependena q(U) reprezentnd la alt scar dependena D(E) aa cum
rezult din legea fluxului electric i din relaia de definiie a tensiunii:

D dA q

E dl U

1 2

Figura 2. Ciclul de histerezis

Caracteristica q(U) pune n eviden proprieti remanente ale substanelor
numite seignettoelectrice sau feroelectrice. Ea reprezint ciclul de ncrcare al
condensatorului, n timp ce relaia D = D(E) reprezint ciclul de polarizare
electric. Forma ciclului dinamic de histerezis depinde i de conductivitatea
dielectricului.
3. Scurt prezentare a aparaturii de msur i control
3.1 Destinaia
Aparatul de msur i control cu ajutorul cruia se execut msurarea
permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice este Analizorul RF de
impedan/material, model E 4991A. Acesta este folosit pentru msurarea
impedanei, a permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice i a
permeabilitii magnetice relative a materialelor magnetice. Lucrarea se ocup
de msurarea permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice solide
ntr-o gam larg de frecvene.
LABORATORUL DE MATERIALE

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
3.2 Configuraia analizorului pentru msurarea permitivitii materialelor
dielectrice
n scopul msurrii permitivitii complexe relative a materialelor
dielectrice, analizorul de materiale E 4991A folosete urmtoarele accesorii:
capul de test E4991A, dispozitivul de fixare a materialelor dielectrice 16453A,
suportul de fixare, tastatura, penseta, mouse-ul, proba standard de material
dielectric i probele de material dielectric solid de msurat,
Figura 4.
Opional, se folosete un display, care se conecteaz la panoul din spate al
analizorului.

Figura 4 Analizorul E4991A i accesoriile folosite la msurarea permitivitii

3.3 Principiul de msurare
Analizorul E 4991A msoar i calculeaz valoarea permitivitii complexe
relative a materialului dielectric solid, din valoarea capaciti condensatorului
echivalent. Condensatorul echivalent, Ce este realizat fizic din: electrozii
superior si inferior ai dispozitivului pentru test, 16453A i materialul testat
(MUT - Material Under Test) MUT se poziioneaz ntre electrozii
dispozitivului de fixare pentru test, 16453A, aa cum este prezentat n Figura 5.

a)

b)

Figura 5 a) dispozitivul de fixare a materialului dielectric 16453A;

b) condesatorul echivalent.
5
LABORATORUL DE MATERIALE
CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
Partea real a permitivitii complexe relative se determin cu relaia:
'r

C e gC e

C 0 0S

(8)

unde: S = Si - suprafaa electrodului inferior, cu diametrul de 7mm.

g - grosimea materialului dielectric;
Partea imaginar a permitivitii complexe relative se determin cu
relaia:
'' r

1
g

R e C 0 0 SR e

( 9)

iar, tangenta unghiului de pierderi a materialului dielectric, se determin cu

relaia:
tg

r
r

(10)

4. Desfurarea lucrrii
LABORATORUL DE MATERIALE

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
Executarea msurrii permitivitii complexe relative a materialelor dielectrice
cu analizorul de materiale E 4991A este prezentat n schema logic din
Figura 6.
Modul de executare n detaliu a fiecrui pas din schema logic este descris n
ANEXA 1 a lucrrii de laborator.
START
PASUL 1. Pregtirea pentru
msurare.
PASUL 2. Selectarea modului
de msurare.
PASUL 3. Selectarea
condiiilor de msurare.
PASUL 4. Montarea 16453A.
PASUL 5. Introducerea
grosimii PROBEI standard.
PASUL 6. Calibrarea
Diferit
Grosimea probei
de msurare

PASUL 7. Introducerea
grosimii probei de msurare.
Aceeai

Puterea i
frecvena stabilite
de utilizator

PASUL 8. Conectarea probei

de msurare.
Fixarea ntregii game

PASUL 9. Msurarea i
analizarea rezultatelor.

Dup schimbare

PASUL 10. Schimbare

condiiilor de baleiere?
Alte probe
de msurare

Puncte de msur ale

datelor de calibrare/
compensare ale dispozitivului de fixare

Nu se schimb

PASUL 11. Msurarea altor

probe?

Nu sunt alte probe de msur

SFRIT

Figura 6 Schema logic de msurare

4.1

Mod de lucru i prelucrarea rezultatelor

LABORATORUL DE MATERIALE

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
4.1.1 Se msoar permitivitatea complex, partea real i imaginar ale acesteia
i tangenta unghiului de pierderi, pentru urmtoarele materiale:
politetrafluoretilena (teflon), polimetacrilat de metil (plexiglas), stratificat pe
baz de hrtie (pertinax), stratificat pe baz de sticl (sticlotextolit) i a oxidului
de aluminiu (alumina) n gama de frecvene de la 100 MHz la 1GHz.
Tabelul 2
r
r

100

200 300 400 500

600 700 800

900

1000

tg
Q

r
r
tg
Q

r
r
tg
Q

r
r
tg
Q

g=1mm

Alumina

g= 2,1mm

Plexiglas g= 0,95mm

Pertinax g= 1mm

Steclotextolit g= 3mm

Teflon

F [MHz]

r
r
tg
Q

LABORATORUL DE MATERIALE

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
Materialele se fixeaz, pe rnd, n dispozitivul de fixare a probei de test 16453A
(Figura 5) i se parcurge algoritmul din Figura 6. Calibrarea analizorului se
execut o singur dat. Valorile msurate ( r , r ,tg) la diferite valori ale
frecvenei de lucru, se trec n Tabelul 2. Ultima linie din tabel se completeaz cu
valorile factorului de calitate, care se calculeaz cu relaia (6).
4.1.2 S se reprezinte n trei grafice separate evoluia r , r si tg pentru cele
cinci materiale msurate, teflon, sticlotextolit, pertinax i plexiglas i s se
comenteze modul n care se modific parametrii menionai n gama de
frecven.
4.1.3 Se msoar r1 , r 2 ale probelor din plexiglas i sticlotextolit la
frecvenele date n Tabelul 3 i rezultatele se trec n tabel. Se realizeaz din cele
dou probe un sandwich care se introduce ntre electrozii dispozitivului de fixare
i se msoar valorile r e care se nscriu n tabel, pentru trei valori ale
frecvenei.
Tabelul 3
f[MHz]
Material
Pertinax
(g1 = 0,95mm)
Steclotextolit
(g2 = 2,1mm)
Sandwich pertinax +
steclotextolit

100

500

800

r1 , r 2 , re
r1

r 2

re msurat

( g1+2 = 1,95mm)
Sandwich pertinax +
steclotextolit
Sandwich pertinax +
steclotextolit

re calculat

re ms - re calc =

Se calculeaz re cu relaia urmtoare:

LABORATORUL DE MATERIALE

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
re'

g1 g 2
g1 g 2

r' 1 r' 2

(11)

unde: valorile lui g1 i g2 se n mm

Se compar rezultatele obinute prin msurtori cu cele calculate i se
justific eventualele diferene.
5. Coninutul referatului
1. scopul lucrrii;
2. valorile msurate i valorile calculate (Tabele 2 i 3); se folosete
formula (6) pentru calculul factorului de calitate Q;
3. reprezentarea grafic

'
r f (), r f

"
, r tg f

pentru materialele msurate;

4. determinarea re att prin msurare ct i prin calcul ( Tabelul 3); s
se comenteze rezultatele;
5. concluzii i observaii personale privind fenomenul fizic analizat.
6. ntrebri i probleme
1. Cum comentai comportarea materialelor msurate la diferite
frecvene?
2. S se deduc formula de calcul a tangentei unghiului de pierderi
echivalente a dou condensatoare legate n paralel i n serie cnd se cunoate
capacitatea i tangenta unghiului de pierderi pentru fiecare condensator.
3. S se calculeze permitivitatea complex echivalent a unui dielectric
format din dou straturi de materiale diferite, cnd se cunoate permitivitatea
complex a fiecruia (vezi Figura 10).

Figura 10.
4. S se calculeze rezistena echivalent de pierderi serie i paralel,
pentru fiecare condensator auxiliar folosit la dou din frecvenele pentru care sau efectuat msurtorile.
LABORATORUL DE MATERIALE

10

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
5. Dac 1 = 2.1, 2 = 3.5 si g1 = (1/4)g2, s se determine echivalent

pentru structura de mai sus.

6. Determinai valoarea prii reale a permitivitii complexe relative 'r1
a unei probe de mic cu grosimea de 0,1mm cu ajutorul unei probe de teflon cu
grosime de 0.8mm i 'r2 = 2.1 i 'rechivalent= 2.23, folosindu-se analizorul RF de
material.
7. Care este diferena de potenial dintre nori i pmnt?
Soluie:
Sistemul nori pmnt poate fi aproximat printr-un capacitor cu armturi
paralele a crui capacitate este
C

0 A
, unde 0 este permitivitatea aerului, A suprafaa norilor 6 km2 , d
d

distana nori pmnt = 0.5km.

C = 0.11F.
Sarcina norilor este de 160C adic 80C corespunztor suprafeei orientat
ctre pmnt.
V

q
80C

C 0.11F

V = 7.2108 V
8. Ce este curentul de fug al unui condensator?
9. Polarizabilitatea electronic a atomului de Ar este de e = 1.710-40 Fm2 . Care
este constanta dielectric (static) a Ar solid ( cu structura de tip FCC sub 84K)
dac densitatea este = 1.8 gcm-3?
Solutie:
Pentru a calcula r , este necesar s se cunoasc numrul de atomi de Ar pe
unitatea de volum N se determin folosind densitatea. Se tie c masa
atomic relativ a Ar este Mat = 39.95 gmol-1, NA numrul lui Avogadro,
N = NA / Mat
N = (6.02 1023 mol-1) (1.8 gcm-3) / (39.95 gmol-1)
LABORATORUL DE MATERIALE

11

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
N = 2.71 10 cm = 2.71 1028 m-3
22

r = 1 +

-3

N e
0

r = 1.55
Dac se folosete relaia Clausius Mossotti,
N e
3 0
r =
2 N e =1.87
1
3 0
1

Cele dou valori sunt diferite cu 17% deoarece prima metod de calcul este
potrivit pentru Ar gazos.

7. Bibliografie
Marin Drgulinescu, Adrian Manea, Materiale pentru electronic, Editura
MATRIXROM, Bucureti 2002.
*** Agilent E4991A RF Impedance/Material Analyzer- Operation Manual,
Eighth Edition Agilent tehnologies, July 2006.
***Agilent E4991A RF Impedance/Material Analyzer - Installation and Quick
Start Guide, Ninth Edition, Agilent tehnologies, July 2006.

ANEXA A
LABORATORUL DE MATERIALE

12

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
Executarea msurrii permitivitii complexe relative a materialelor
dielectrice cu analizorul de materiale E 4991A
Pasul 1 - Pregtirea analizorului pentru msurtori
Conectarea i deconectarea analizorului se execut cu butonul
,
plasat n stanga-jos. Simultan cu cuplarea analizorului se activeaz i softul
acestuia.
Observaie: Pe durata nefuncionrii se recomand ca aparatul s fie
deconectat de la reea, pentru evitarea ocurilor tensiunii reelei.
Iniializarea softului aparatului. Analizorul folosete Windows 2000
Professional. n fereastra de dialog, pe linia user name se tasteaz
agt_instr n loc de Administrator i apoi, fr password se apas
butonul OK. n etapa aceasta analizorul este pregtit pentru msurtori de
impedan i de material.
Pasul 2- Selectarea modului de msurare
Pe display apare fereastra de msurare, aa cum este prezentat n
Figura A1.
Trace 1 - E4991A Impedance/Material Analyzer
Trace Meas/Format Scale Display Marker Stimulus
Trigger Utility Save/Recal System

Figura A1. Imaginea ferestrei de msurare.

Pentru msurarea permitivitii se procedeaz astfel:
1. n meniul System se apas caseta Preset pentru iniializarea
analizorului.
2. n meniul Utility se apas caseta Utility....
3. Se apas caseta Material Option Menu.
4. Se selecteaz Permittivity n csua Material Type.
LABORATORUL DE MATERIALE

13

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
La sfritul pasului 2 analizorul este pregtit pentru efectuarea
msurtorii permitivitii materialului.
Pasul 3. Se selecteaz condiiile de msurare
3.1 Setarea parametrilor de msur i a formatului desfurrii se execut
pentru r, r, tan n felul urmtor:
1. n meniul Display se activeaz caseta Display....
2. Se selecteaz 3 Scalar din csua Num of Traces;
3. n meniul Meas/Format se activeaz caseta Meas/Format... i
se atribuie fiecrei desfurri un parametru;
4. Astfel, cnd desfurarea Trace 1 este activ apare (* marca) pe
display i selecteaz r` n csua Meas Parameter;
5. n csua Format se selecteaz Lin Y-Axis sau
Log YAxis;
6. Similar se procedeaz pentru desfurrile 2 i 3 pentru r" i respectiv
tan.
3.2 Setarea punctelor de msur, a parametrilor de baleiaj
Se parcurg urmtoarele etape:
1. n meniul Stimulus se activeaz butonul Sweep Setup;
2. n csua Number of Points se introduce numrul de puncte
necesare msurtorilor, pentru asigurarea preciziei dorite. Exemplu: pentru 201
puncte, se tasteaz [2] [0] [1] si [Enter];
3. n csua Sweep Parameter se selecteaz Frequency;
4. n csua Sweep Type se selecteaz Linear pentru scala lineara
de frecvene sau Log, pentru scala logaritmic de frecvene;
3.3 Setarea sursei i a nivelului oscilatorului se execut n felul urmtor:
1. n meniul Stimulusse activeaz Source
2. n csua Osc Unit se selecteaz Voltage
3. n csua Osc Level se introduce nivelul de 100 mV, se tasteaz [1]
[0] [0] [m] si [Enter].
3.4 Setarea gamei de frecven se execut n felul urmtor:
1. n meniul Stimulus se activeaz Start/Stop....
2. Cu csua Start se introduce frecvena de start, 1 MHz, pentru
aceasta, se tasteaz [1] [M] si [Enter].
3. Cu csua Stop se introduce frecvena de stop, 1 GHz, se tasteaz
[1][G] si [Enter].
La sfritul pasului 3 analizorul este pregtit pentru conectarea
dispozitivului de fixare 16453A

LABORATORUL DE MATERIALE

14

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
Pentru protecia antistatic a analizorului, operaiunile de la pasul 4 la pasul
10 se execut cu brara ESD conectat la mn.
Pasul 4 Conectarea dispozitivului de fixare 16453A
Aceast activitate se execut numai de personalul didactic din cadrul
laboratorului
Conectarea dispozitivului 16453A se realizeaz astfel:
1. Se fixeaz dispozitivul 16453A pe capul de test, cu uruburile
prizonier ale suportului de fixare;
2. Se cupleaz dispozitivul 16453A la mufa N 7-mm rotind piulia
conectorului n sensul invers acelor de ceasornic;
3. Piulia se strnge cu cheia dinamometric, n sensul invers acelor de
ceasornic pn la obinerea cuplului de 1,36 Nm, marcat pe cheie i semnalizat
prin rabaterea braului cheii.
Dup pasul 4 analizorul este pregtit pentru calibrare.
Pasul 5. Introducerea grosimii probei standard de material
1. n meniul Stimulus se apas Cal/Comp....
2. Se apas butonul Cal Kit Menu.
3. n csua Thickness se introduce valoarea grosimii probei standard
de material. Exemplu: dac grosimea probei standard de material este de 0.75
mm, se tasteaz [0] [.] [7] [5] [m] i [Enter].
Observaie: Proba standard de material este realizat din teflon i are
permitivitatea relativ r = 2,1. De aceea, iniial analizorul E4991A are setat
valoarea r n csua Real n bara de comenzi Cal Kit de 2,1000 i valoarea
pierderilor n csua r Loss r= 0,0000.
Pasul 6 Calibrarea analizorului
Calibrarea se realizeaz n planul suprafeelor de contact ale
dispozitivului de fixare pentru test 16453A. Calibrarea este obligatorie i se
execut n scopul nlturrii erorilor introduse de elementele de circuit din
schema echivalent a capului de msur, Figura A2.

Figura A2 Schema echivalent a dispozitivului de fixare 16453A

LABORATORUL DE MATERIALE

15

CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
Calibrarea se execut astfel:
1. n meniul Stimulus se tasteaz Cal/Comp....
2. n csua Fixture Type se confirm tipul dispozitivului de fixare
pentru test 16453.
3. Se apas butonul Cal Menu.
4. n csua Cal Type se selecteaz punctele de msur cerute de
datele de calibrare.
Observaie: Pe durata calibrrii apare mesajul Wait-Measuring Cal
Standard la stnga barei de calibrare.
5. Pentru calibrarea n gol se trage n sus butonul de partea superioar a
dispozitivului 16453A, pentru deprtarea electrozilor. n aceast poziie, se
apas butonul Meas Open i se ateapt aproximativ 10 sec pn la apariia
bifei la stnga Meas Open;
6. Pentru calibrarea n scurtcircuit electrozii dispozitivului de fixare sunt
n contact, (electrodul superior este eliberat). Se apas butonul Meas Short i
se realizeaz calibrarea n gol care se finalizeaz la apariia bifei la stnga
Meas Short;
7. Cu brara ESD conectat la mn i folosind penseta se introduce
proba de material etalon n dispozitivul de fixare. Se activeaz butonul Meas
Load i se msoar proba de material etalon, care se finalizeaz la apariia bifei
n stnga Meas Load.
8. Se apas butonul Done i analizorul calculeaz datele de calibrare i
le salveaz n memoria intern. Dup finalizarea pasului 6, analizorul este
pregtit pentru introducerea grosimii MUT.
Pasul 7 Introducerea grosimii probei de msur (MUT)
Grosimea probei se msoar cu ublerul i se introduce n programul de
msurare astfel:
1. n meniul Utility se activeaz Utility... .
2. Se activeaz butonul Material Option Menu.
3. n csua Thickness se introduce grosimea probei. De exemplu
pentru grosimea de 1 mm, se tasteaz [1] [m] i [Enter].
Pasul 8 Conectarea probei de msur (MUT)
Se execut prin introducerea probei ntre electrozii dispozitivului de test.
Se verific contactul electrozilor, dispozitivul de fixare i (numai daca este
cazul) se regleaz presiunea electrodului superior cu rozeta Pressure
Adjustment. Cu parcurgerea pailor 7 i 8 analizorul este pregtit pentru
msurarea i analiza rezultatelor.
Pasul 9. Msurarea i analiza rezultatelor
Odat introdus grosimea probei de msurat n csua i cu materialul
fixat ntre electrozi, dup activarea Autoscale all, rezultatele msurtorilor se
16
LABORATORUL DE MATERIALE
CATEDRA TEF

LU C R AR E A N R . 1
afieaz pe ecran. Explorarea rezultatelor se realizeaz cu bara de comenzi
Marker, pentru determinarea valorilor specifice de interes. Folosind
Marker Fctn (function), bara de comenzi arat analiza care se efectueaz cu
ajutorul markerilor activai. Pentru afiarea rapid a rezultatelor, din Scale, se
activeaz autoscalarea cu autoscale i autoscale all.
n Figura A3 se prezint o imagine a ecranului cu unele rezultate ale
msurtorilor privind permitivitatea, (r [U], r [mU] si tg ), n intervalul de
frecvene 1MHz 1GHz.

Figura A3 Display-ul cu rezultatele msurtorilor

Pasul 10. Modificarea condiiilor de baleiere
Cnd punctele de msur la calibrare sunt definite de utilizator,
msurtoarea se pornete cu pasul 6. Cnd calibrarea nu este necesar
msurtoarea se pornete cu pasul 9. Dac se msoar i alte probe cu aceeai
grosime, msurtoarea se pornete de la pasul 8. Dac probele au grosimi
diverse msurtoarea se pornete de la pasul 7.

LABORATORUL DE MATERIALE

17

CATEDRA TEF