Microbiologa General

Microscopio de Fuerza Atmica

Microscopio de Fuerza Atmica

El microscopio de fuerza atmica, que fue inventado en 1986.

Es la extensin ms directa del microscopio de efecto tnel.

La resolucin caracterstica de los SPM es de alrededor de 2 nm (20

) en las direcciones X & Y pero con muestras ideales y con los
mejores instrumentos se logran resoluciones hasta de 0.1 nm (1 ).

En la dimensin Z la resolucin es generalmente mejor que 0.1 nm.

Componentes

Fundamento

Se aplica con un fuerza suave (nN)

una punta de silice sobre una
muestra.

Se
produce
tridimensional

una

imagen

Mtodos comunes de trabajo

Utilidad

Cristales de aminocidos

DNA y RNA

Cromosomas

Membranas celulares

Protenas y pptidos

Cristales moleculares

Polmeros y biomateriales

Componentes de la membrana celular

Procesos moleculares (ensambladura de la fibrina)

Cara a cara
AFM frente Microscopio de Efecto Tnel.

En algunos casos, la resolucin del STM es mejor que la del AFM .

El STM slo es aplicable a muestras conductoras mientras que el
AFM se utiliza tanto para aislantes como para conductores (ms
verstil).

AFM frente a Microscopio Electrnico de Barrido

Extraordinario contraste topogrfico a partir de la medida directa de

alturas sin obscurecer vistas de algunas caractersticas de la
superficie.

No es necesario realizar recubrimientos conductores en muestras

que no son conductoras.

AFM frente a Microscopio Electrnico de Transmisin

No requiere preparacin excesivamente cara de la muestra a

observar y da lugar a una informacin ms completa que las que se
obtienen de dos dimensiones a partir de secciones transversales de
muestras.

No obstante con AFM no se pueden realizar anlisis de difraccin.

AFM frente a microscopa ptica

Provee medidas no ambiguas de alturas independientemente de las

diferencias de reflectividad entre materiales

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Referencias