Book 0

TABLE OF CONTENTS
PREFACE xiii
ABOUT THE AUTHORS xv
I INTRODUCTION TO TESTING 1
1 INTRODUCTION 3

! !

!

! "
$# %&'(
) ! ! ! ! *
$+ ,- ./. 0213 .54-6(798:;
< = ! ! ! >
?" 4-6(798@;AB CD 0E1&FGAH
C ! ! I
$J 7KAHG'( ML:9NO ! ! ! ! J
2 VLSI TESTING PROCESS AND TEST EQUIPMENT 17

#9 P3RQS
; UT@VBW ! ! ! ! X
#9 YGM'Z
[! ! !
! X
#9$# 1U\
]5. A
E^_Y\]` Y [ ! ! ! #a"
#9$#9 1U0b.

UcdK0eE**X#1Z&^) ! ! ! #a"
#9$#9$# 6KMfhg\i C1Z&^j! ! ! ! #X
#9$#9$+ ck\ mln7
;
< ! ! ! ! #I
#9$+ ôAH
DiAp./q.Di.]`p
DBA
r ! ! ! +s
#9?" 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! +a"
3 TEST ECONOMICS AND PRODUCT QUALITY 35

+9
EôAH ]5Apu ! ! ! ! +*
+9 ,UHvV < wT:
x! ! ! ! +*
+9$# oD90\AH ! ! ! ! +X
+9$+ L: Hv ylnT@
31U .Kz ! ! ! "
+9?" ÂH ]5ApE'(
.{|,3i } ! !
! "#
+9$J &%E\ 'q ! ! ! ! ""
+9$# ~ 0u ! ! ! ! ! ""
+9$+ ,Up'AH -6/pb;.E.w-\. cd.i\D ! ! ! "Y>
+9$+9
E,-. .1U .K! ! ! ! "X
+9$+9$# ,Up'AH 36/pbô
<]5. ! !
! Js
vi TABLE OF CONTENTS
+9?" 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! J+
4 FAULT MODELING 57
" ,Up'AH ôDDDi . 0dg.\ ! ! ! J>
"$# g\ AH .e4ZpDii\379
Di\AH \Di.e
h ! !
! JI
"$+ 6/pb<&'qg.\ Ec K0 ! ! !
! *s
"?"
1 -i.Dw'Zg.\ &cdK0= ! ! ! *s
"$J 7K !79 \ANYl. 3g.\ C ! ! ! ! >as
"$J9 g.\ Eô_9\b. AH ! ! ! ! >#
"$J9$# ^_Y\ba. AH 'Z7K< !79 \AiNl. Eg.\ U ! ! >+
"$J9$+ g.\ UT:<. ! ! ! ! > "
"$J9?" g.\ E,U]5 . AH. 0 T@AiNYG Y &&pDi] ! ! >J
"$J9$J 7K\]5]5.Dr ! ! ! ! >X
II TEST METHODS 81
5 LOGIC AND FAULT SIMULATION 83

J9 7K] \. 'DE,U C4ZpDimvVAp. 2 !

!

! X+
J9$# 7K] \. 'DE
Eôba.<\. ! ! ! XX
J9$+ c 90< T@DiAp\ @'D-7K] \. x ! ! ! IK
J9$+9 c 90 `6/pb<E. 029 @'o7K<]|\<.
Di ! ! IK
J9$+9$# PUpDi.DiABAp.T@ AH bK ,UAHDi ! ! I+
J9$+9$+
-.
Hlpbc 90 'Zc !7 Ep QDiN9k ! ! Ia"
J9$+9?" c 90 7K .;79 .
U ! ! ! I*
J9$+9$J &<]5 ! ! ! ! IX
J9?" 1UDi ]@'DU;Di\Hl 4 .\|7K] \. ! ! ! ps
J9?" T:]50KlnT@907K] \. ! ! ! ps#
J9?"$# ôb yl,UDib 7K] \. C ! ! ! ps+
J9$J 1UDi ]@'DUg.\ 37K<]|\<. ! ! ! psJ
J9$J9 79pDB.eg.\ -7K] \. ! ! ! ps*
J9$J9$# q.Di./g.\ 37]|\. ! ! ! ps>
J9$J9$+ ,U0\AH b!g.\ -7K] \. ! ! ! psI
J9$J9?" T: Ap\DD Y &g.\ -7K] \. ! ! ! +
J9$J9$J %E E&^@7K@l,-ôE^:T@ 1UDi ] ! ! *
J9$J9$* ,-mFGpD Y ./g.\ U7K] \. ! ! ! R>
J9$* 79 . Ap./c p 90M'DUg.\ 37]|\. ! ! ! #s
J9$*9 g.\ U7K.]`V ! ! ! ! #K
J9 > 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! #J
6 TESTABILITY MEASURES
*9

7T E1U T: Y
D.{V . 0 U{V
pDb.{ ! !
129
+K
*9
T:]|{ . .;7T E1U c .\DC! !
! +#
*9$# T:]|{ . .;T@DBAp\ @^ .]` ! ! ! +a"
*9$+
79_9\ Y .7T &1U c .\D[ ! ! ! H"s
TABLE OF CONTENTS vii
*9?"
79_9\ Y .T@DiAp\ @^ .]` ! ! ! H"#
*9$# PUKl6/pb; .{ wc .\DE ! ! ! H"X
*9$+ 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! Js
7 COMBINATIONAL CIRCUIT TEST GENERATION 155

>Y 1UDi ]M. 02%&pD
Y . ! ! ! J*
>Y 79
DB\AH \Di.GbKpog\ AH .e
! !
! J*
>Y$#
,UHvV 'Z13\
]. A
ylq.

pDi - pDi.
D
! J>
>Y$+ 79.DBAik7K.AH!13{

Di.AH ! ! ! JX
>Y?" 1UDi ] T:]`p
! ! ! JI
>Y$J
1Z& h1Up{Di. ! ! ! ! JI
>Y$* 1UDi ]jo9G ! ! ! ! *s
>Y$# %&0\ 0. AHw8n0 mv Ap. %&8y , ! ! ! *X
>Y$+

.E. -{.; D{] ! ! ! R>#
>Y?" ,UHvV M! ! ! ! ! R>#
>Y$J
7K mvVAp. Y &T@]!{< . .e1Z& h1UDi ]5) ! ! R>*
>Y$J9 ,3lnT@.Ap\\M. 02,3l1UDi ] %&
! ! R>*
>Y$J9$# -,-ôc U9 :! ! ! ! X*
>Y$J9$+ gK1 g\
Q:.Di.. 0 7K<]5
! ! ! I#
>Y$J9?" 1U0b. AH0d1UDi ]5x ! ! ! I>
>Y$*

U pDB. k79K

]5U! ! ! ! #s"
>Y >
UT:]`V.AH ! ! ! ! #sJ
>Y$X 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! #s*
X9 1Z&
8 SEQUENTIAL CIRCUIT TEST GENERATION
'DU7K HlnT@KAN7K9 ABD \ET@DiAp\ !

!
211
#K#
X9 1 7K]5mv0w D{V] ! ! ! #KH"
X9$#
&]5HlgDi.]`!^ 9V. Cc p K0 ! ! ! #KH"
X9$#9
U
' U Hl 4 .\0C6;A ! ! ! #K*
X9$#9$#
,Upb]5 3'qE]`HlgDi.]5^ K. Cc p K0 ! #KX
X9$#9$+
13D K<]5.
!c p 90 ! ! ! ###
X9$#9?"
8y]`]5 . 2'(&<]`HlgDi.]`|^ K. Cc p K0 ! ###
X9$#9$J
T:]5 'Z7K_Y\ Y ./1ZE ! ! ! ##J
X9$#9$* T:KApHlgDip T@DBAp\ 5! ! ! ! ##J
X9$#9 > T:KApA!TMDiAp\ ! ! ! ! ##I
X9$#9$X T@9AiNg.\ E. 0dc \ HlnT@9AiNT@DiAp\ O ! ! #+K
X9$#9$I 1U
K AiDi \3T@DiAp\ d ! ! ! #+#
X9$+ 7K] \. KlL@.
0d79_9\ <.T@DiAp\ :1ZE ! ! #+X
X9$+9 T 3&^@7K 1UDi ] ! ! ! #+I
X9$+9$# U p A1UDi ]! ! ! ! #a"*
X9?" 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! #a"X
viii TABLE OF CONTENTS
9 MEMORY TEST 253

I9 c ]`DC,U . 02,Up'AH U;D 0 ! !
! #JJ
I9$#
3 . ! ! ! ! ! #JX
I9$+ g.\ ! ! ! ! ! #JI
I9$+9 g.\ Eck. '
. ! ! ! #JI
I9$+9$# g.<\Dc Ai. ]5 ! ! ! #*s
I9?" c ]`DC; E6/pbr ! ! ! ! #*K
I9$J
ck.DiAik; E . ! ! ! ! #*#
I9$* g.\ EcdK0< ! ! ! ! #*+
I9$*9
,-. iM4ZpDi\&; 3p02 ! ! ! #*J
I9$*9$# %E0\AH02g\ AH ./g.\ ! ! ! #**
I9$*9$+ %E. 2L:p Q:p g.\ &c K0&. 0doY9<Ap.e,3p'AH ! #>*
I9$*9?" ck\ V g.\ &c 90 ! ! ! #>X
I9$*9$J gDi_Y\ AH'Zg.\ ! ! ! #XK
I9 > c ]`DC; ! ! ! ! #Xa"
I9 >Y g\ AH ./%313c[
`Q3 Cc .DBAid
) ! ! #Xa"
I9 >Y$#

w%E1Uc 3Y{ DBYK0Cq.

pDi Kln79 b!g.\ - ! #X*
I9 >Y$+
w%E1Uc Ai 2. 0C6;.R\ yl%&<.
0kg.\ ! #Ia"
I9 >Y?" %313c[
EPUpDi.DiAB ! ! ! #IJ
I9 >Y$J T@.AB|%313c)T@2;
< ! ! ! #I*
I9 >Y$* g\ AH ./% -cOT@C;
< ! ! ! +ss
I9 >Y > ÂH
DiAp./q.Di.]5p
DiA
! ! ! +s
I9$X 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! +s*
10 DSP-BASED ANALOG AND MIXED-SIGNAL TEST

psK 1U .. 0dc K0Kln7K ./T@DiAp\ @D 0w! !
!
309
+sI
psK$# ,UHvV M! ! ! ! ! +KH"
psK$+ g\ AH ./,7K lL:.0d
! ! ! +KR>
psK$+9T: AHp ! ! ! ! +KR>
psK$+9$#jc Ai. ]='q,7KZlL@.
0 ;
pDiE! ! ! +KI
psK$+9$+ .Rbp'Di] 79K Y ! ! ! +#s
psK$+9?" .Rbp'Di] 7K.]5 . 02,- . ! ! +##
psK?" 79 . A!13,T . 0C,&1ET}
5cdp K0 ! ! ! +##
psK?" Di. ] bKp 8y
DB AUq.Di.]`p
pDi ! ! +#+
psK?"$# U AHpD . Y 2. 0C,U<

D 2< 8n0.;13,T@ ! ! +#J
psK?"$+j,&1ET Di.
'pD&g\ AH d^ DiDDd ! ! ! +#J
psK?"?" 1U,T Di.
'pDEg\ AH 2^ DiDD ! ! ! +#*
psK?"$Jjgq.d13,T
5cdp K0 ! ! ! +#>
psK?"$*j,&1ET
5c p K0 ! ! ! ++#
psK$J %&.< 5^]|\<.
0C8n

Di\]` Y U `g\DBpDEDi.
'Di]5 ! ++J
psK$J9 g\DipD&4Z ]5p
pD ! ! ! ! +a"J

psK$J9$#j
'(1U .,UpbKAH U 3 KlnT:pD -7K.]`< ! +Js
psK$J9$+ T:pD 3c \ ml; ;
< ! ! ! +J*

psK$J9?" 1Z&^ 4ZAH
D UGpDi. ! ! ! +*a"
TABLE OF CONTENTS ix
psK$* T -,-^@T ; ! ! ! ! +**

psK$*9T: 0pDi. @'D-T -,-^:T (pD'Di]5. AH!; ! +*I
psK$*9$# T ,U^@T
! ! ! ! +>#
psK > ,U9 .]5Agq.C1U,T
5gqgq Ai _9\ ! ! +>*
psK$X 1U0ba. AH0dAp ! ! ! ! +>>
psK$X9 ôb U,U . t! ! ! ! +>>

psK$X9$#jc .\Di< 5%E. 0] E<
= ! ! ! +Xs
psK$I 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! +X#
11 MODEL-BASED ANALOG AND MIXED-SIGNAL TEST 385

1U .
5,- Ap\ `! !
!
+X*
!
$# 1U .g.\ Ec 90< ! ! ! ! +X>
$+ 6/pb<&'q1E{
Di.AH ! ! ! ! +XI
?" YGM'Z1U .5
! ! ! ! +XI
$J 1U .g.\ U7K] \. ! ! ! ! +Is
$J9 c b. ! ! ! ! +IK

$J9$#j,T g.\ 37K] \. w' 3 .D3T@DiAp\ o ! ! +IK
$J9$+j6 .DE1U .wT@DiAp\ M1ET g.\ U7K] \. ! ! +IJ
$J9?" c
HlnTM.Di7]|\. ! ! ! +I>

$* 1U .1U\
]5. A!;
ylq.

pDi U pDB. ! ! +I>
$*9 1Z&
U w7K bK ! ! ! +IX
$*9$#j1Z&
U w7 .GgqRQ UDi. ! ! !}"s*
$*9$+j1U00 .Gcdp K0 ! ! !}"+
> 7K\]]5.Dt! ! ! ! !}"+
12 DELAY TEST 417

#9 ,U.2
EoD{] ! ! ! !}"R>
#9$# q. Kl,U. ;
! ! ! !}"#s

#9$#9
U pDi. 2'DUT:]|{ . .;T@DBAp\ ! !}"#a"

#9$#9$# U\]|{ pDE'(q. 3 C.wT@DBAp\ ! ! !}"#>
#9$+ Di. Cg.\ ! ! ! !}"#X
#9?" ,U.2
Ec p K0 ! ! ! !}"#I
#9?"7KRQMlnT@9AiNCT:]|{ . .e
! ! !}"#I
#9?"$#j^ . AH0Kln7Ap. 2; j ! ! !}"+s

#9?"$+ 3Di]5.mln7Ap. k79_9\ Y .e; ! ! !}"+K

#9?"?"=4 .Di<.{HlnT@KAN 3 Kln7KAp. k7K_Y\ Y .e
! !}"+#

#9?"$Jj%3.
0KlnT@KAN 3 Kln7KAp. k7K_Y\ Y .e
` ! !}"+a"
#9$J DB.AH Ap.(T: 0pDi. @ C,U.2
z ! !}"+a"
#9$J9 1@ yln79Gp0 ;
< ! ! ! !}"+J
#9$* 7K\]]5.Dt! ! ! ! !}"+*
13 IDDQ TEST 439

+9 c ba. ! ! ! ! ! }"+I
+9$# g.\ E,Up
AH
0k{Y ;
! ! ! }""
+9$+
5c p K0`! ! ! ! }""*
x TABLE OF CONTENTS
+9$+9 g.\ UT: bpDi.|c p

DiAp ! ! !}""*
+9$+9$#
&4ZAH
D79AH 2'D]79 \ANYlg.\ &4ZAH
D 7Kp r!}""X
+9$+9$+ 8y

Di\]` . 2 D{V]5 ! ! !}"JK
+9$+9?"T@\DD Y &6;]5 &7Kp
x ! ! !}"J#
+9?"
7K\Dibp9M'
5^ F AH b ! ! !}"J+
+9$J
6;<]5 . @'
! ! !}"JJ
+9$* ,U .
! ! ! !}"J*
+9 > L@\ yl 8y dT@\DiD M
! ! !}"JX

+9$X ,U C'DE
.{< ! ! !}"*s
+9$I 7K\]]5.Dt! ! ! ! !}"*s
III DESIGN FOR TESTABILITY 463
14 DIGITAL DFT AND SCAN DESIGN 465

H" 1U0KlPEKA,-gq c p K0 ! ! ! !}"**
H"$# 7KAp. ,3i }! ! ! ! !}"*>
H"$#97KAp. ,U 2%3\=! ! ! !}"*I
H"$#9$#j
&'DU7KAp. T@DiAp\ ! ! !}"Y>9
H"$#9$+jck\ V!7KAp. 2%&p<

pDi ! ! !}"Y> "

H"$#9?" UbpDB.0&' 7KAp. 2,U = ! ! !}"Y> "
H"$#9$Jj,U 13\
]5. 2! ! ! !}"Y>>
H"$#9$*jKAp./,U 2. 02&<]5 4ZpDimvVAp. C'o7KAp. !}"Y>I
H"$+ q.D .mln7Ap. d,U ! ! ! !}"Y>I
H"?" 4 .Di. &' 7KAp. ! ! ! !}"X+
H"$J 7K\]]5.Dt! ! ! ! !}"XJ
15 BUILT-IN SELF-TEST 489

J9 &ÂH ]5A T@.
'D3L:8
7 ! ! !}"Is
J9T@ L:.Di0C13D.wT:
Eb9p;

pD T:
- ! !}"I#
J9$# T@ L:.Di0C13D.wT:
Eb9p@799
]=,URQE Y ]` T@
!}"Ia"
J9$# %E. 0]=6/<AL:8
7K ! ! ! !}"IJ
J9$#9 ,UHvV ! ! ! !}"IJ
J9$#9$#jL:87K} Di9AHu ! ! ! !}"I*

J9$#9$+jL:87K}q.

pDi - pDi. ! ! !}"IX
J9$#9?" L:87K}%&
|T:]`.AH ! ! ! JK#

J9$#9$JjL@\ yl 8n C6;AL@KAN U{
pDibpDi ! ! ! JKI
J9$#9$*j
yl(pD
lnT@KAN2L:87K 79K

]5 ! ! ! J#K
J9$#9 >
yl(pD
ln7KAp. kL:8
7KS799
]5O ! ! ! J#K
J9$#9$X T@DiAp\.DE79'l
Eq. k79K

] ! ! ! J#J
J9$#9$I T@DiAp\ @8y . . ! ! ! J#*
J9$#9ps ,UpbKAH|6;pb/L:8
7K ! ! ! ! J#*
J9$#9/
E( Y &8y
pD ! ! ! J#X
J9$+ c ]`DCL:8
7K ! ! ! ! ! J#I
J9$+9 ,UHvV ! ! ! ! J+s
TABLE OF CONTENTS xi
J9$+9$#jck.DiAi ; U7K%E1Uc[L:8

7K ! ! ! J+#
J9$+9$+ 7K%313c[L:87K QE Cc 8
7%h ! ! ! J+a"

J9$+9?" 3Y{ DBYK0Cq.

pDi k7K bg.\ &
E,-%E1Uc[L87K ! J+*
J9$+9$JjDi.
V.D &c ]`DCL:87K}
! ! ! J+I

J9$+9$* T:]5 C^ .]``! ! ! ! J+I
J9?" ,U.2g.\ &L:8
7 ! ! ! ! Ja"s
J9$J 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! Ja"+
16 BOUNDARY SCAN STANDARD 549

*9 c ba. ! ! !

!

! JJs
*9 \DG
-'o79 . 0.Di0= ! ! ! JJ#
*9$# 79K

]T@ Kv\Di. QE CL:\ 0.Di7KAp. ! ! JJ+
*9$#9 (13 T: Y
DpD&. 02(D ! ! ! JJ+
*9$#9$#jL:\ 0.DC7Ap. 2; &8n

Di\AH ! ! ! JJ>
*9$#9$+j dT:

DB. &' 79 . 0.Di0 ! ! ! J*a"
*9$+ L:\ 0.DiC7KAp. d,3iAHDi d6;. \. ! ! ! J*I
*9$+9 L&7K,-6 ,3iAHDi dT@]`G ! ! ! J>as
*9$+9$#j C,UAHDi ! ! ! ! J>9
*9?" 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! J>#
17 ANALOG TEST BUS STANDARD 575

R>Y 1U .T@DiAp\ @,U 2'DE
.{< !

!

! J>*
R>Y$# 1U .
EL@\ 1ZEL ! ! ! ! J>*
R>Y$#9 (.Dp
0k13 .g.\ ! ! ! J>>
R>Y$#9$#j1U .
E1UApAH3Di 1Z1U w! ! ! J>I
R>Y$#9$+j
EL@\M8y Y
pD'.AH`T@DiAp\ EL8T ! ! JXs
R>Y$#9?" 1U .L:\ 0.DcdK0\ 1UL@c ! ! JX+
R>Y$#9$J 8y

Di\AH @'D!H"I9?"C7K . 0.Di0 ! ! ! JXJ

R>Y$#9$* U pD!H"I9?"C7K . 0.Di0Cg. \D ! ! ! JXI
R>Y$+ 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! JIK
18 SYSTEM TEST AND CORE-BASED DESIGN 595

X9 79K

]
EoD{]j,UHvV 0 !

!

! JI*
X9$# g\ AH ./
! ! ! ! JI>
X9$#9 ckAHDDi9AHDE; ) ! !
! JIX
X9$+ ,-.
<A; ! ! !
! JIX
X9$+9 g.\ E,-AH .Di ! ! ! ! JII
X9$+9$#j,-. ADp2! ! ! ! *ss

X9$+9$+j1 79K

]=
E^ K.]`V ! ! ! *s#
X9?"
.{ 7K9

] ,3i ! ! ! ! *s"
X9$J T:DHlL@.
0k,U 2. 02; yl Di.GpD ! ! ! *s*

X9$* 1 ; E1EDBAi
AH \D'DU79K

] l Kl.alnT@ 7 T ! ! *s>
X9 > 1U C8n Y
pDi.
0k,U 2. 0d;
31ED.Ai ! ! *sX
X9$X 7K\]]5.Dt! ! ! ! ! *Kps
xii TABLE OF CONTENTS
19 THE FUTURE OF TESTING 613
A CYCLIC REDUNDANCY CODE THEORY 615

1| (K ]5.eck\ VpD)! !
! ! *K*
1|$#)(K ]5.e,-bK0pD ! ! ! ! *KR>
B PRIMITIVE POLYNOMIALS OF DEGREE 1 TO 100 619

C BOOKS ON TESTING
TU U pDB.;. 0C(\
Di.| ! ! ! !
621
*#K

TU$#r1U .. 0dc K0Kln7K ./T@DiAp\ @
! ! ! *##
TU$+r1Z&^ ; E DDB.]5]5 . 02 DK0\AH
! ! *##
TU?" L:.Di0d. 02c TMc
E. 0CL\ 0.D27KAp. u ! ! *#+
TU$JrL@\ yl 8y d79'l
! ! ! ! *#a"
TU$*r,U.2g.\ &
[ ! ! ! ! *#a"
TU > ,U d'DE
.{< ! ! ! ! *#a"
TU$Xrg.\ EcdK0< ! ! ! ! *#J
TU$Irg.\ E;pDi. AH!. 0d,U<. E ! ! ! *#J
TUps gDi]./4ZpDimv Ap. ! ! ! ! *#J
TUUPUKl6/pb; E. 0C4ZpDivVAp. ! ! ! *#*
TU#
&! ! ! ! ! *#*
TU+|c ]`DC; ! ! ! ! ! *#*
TUH" ckAHDDKAH
DE4ZpDimvVAp. . 0C
! ! ! *#>
TUJ 79]5<AH 0\AH
DE,Up'AH 3c Ai. ]5 ! ! ! *#>
TU* 79K

]
C! ! ! ! ! *#>
TUR>!
EôAH ]5Apu ! ! ! ! *#>
TUX|
E^ b.\. ! ! ! ! *#X

TUI|
U pDB. k ! ! ! ! *#X
TU$#s (pDiK0Ap.! ! ! ! ! *#X
TU$#K T: 'pD AH3. 0 DNKV ! ! ! *#I
TU$## p{ 7K
! ! ! ! ! *#I
BIBLIOGRAPHY 631
INDEX 671

Book 0

Загружено:

Сведения о документе

Оригинальное название

Авторское право

Доступные форматы

Поделиться этим документом

Поделиться или встроить документ

Параметры публикации

Этот документ был вам полезен?

Это неприемлемый материал?

Авторское право:

Доступные форматы

Book 0

Загружено:

Авторское право:

Доступные форматы

TABLE OF CONTENTS

ABOUT THE AUTHORS xv

2 VLSI TESTING PROCESS AND TEST EQUIPMENT 17

3 TEST ECONOMICS AND PRODUCT QUALITY 35

5 LOGIC AND FAULT SIMULATION 83

7 COMBINATIONAL CIRCUIT TEST GENERATION 155

9 MEMORY TEST 253

10 DSP-BASED ANALOG AND MIXED-SIGNAL TEST

11 MODEL-BASED ANALOG AND MIXED-SIGNAL TEST 385

12 DELAY TEST 417

13 IDDQ TEST 439

+9$+9 g.\ UT: bpDi.|c p

III DESIGN FOR TESTABILITY 463

14 DIGITAL DFT AND SCAN DESIGN 465

15 BUILT-IN SELF-TEST 489

J9$+9$#jck.DiAi ; U7K%E1Uc[L:8

16 BOUNDARY SCAN STANDARD 549

17 ANALOG TEST BUS STANDARD 575

18 SYSTEM TEST AND CORE-BASED DESIGN 595

19 THE FUTURE OF TESTING 613

A CYCLIC REDUNDANCY CODE THEORY 615

B PRIMITIVE POLYNOMIALS OF DEGREE 1 TO 100 619

Вам также может понравиться

Book 0

Загружено:

Сведения о документе

Оригинальное название

Авторское право

Доступные форматы

Поделиться этим документом

Поделиться или встроить документ

Параметры публикации

Этот документ был вам полезен?

Это неприемлемый материал?

Авторское право:

Доступные форматы

Book 0

Загружено:

Авторское право:

Доступные форматы

TABLE OF CONTENTS

ABOUT THE AUTHORS xv

2 VLSI TESTING PROCESS AND TEST EQUIPMENT 17

3 TEST ECONOMICS AND PRODUCT QUALITY 35

5 LOGIC AND FAULT SIMULATION 83

7 COMBINATIONAL CIRCUIT TEST GENERATION 155

9 MEMORY TEST 253

10 DSP-BASED ANALOG AND MIXED-SIGNAL TEST

11 MODEL-BASED ANALOG AND MIXED-SIGNAL TEST 385

12 DELAY TEST 417

13 IDDQ TEST 439

+9$+9 g.\ UT: bpDi.|c p

III DESIGN FOR TESTABILITY 463

14 DIGITAL DFT AND SCAN DESIGN 465

15 BUILT-IN SELF-TEST 489

J9$+9$#jck.DiAi ; U7K%E1Uc[L:8

16 BOUNDARY SCAN STANDARD 549

17 ANALOG TEST BUS STANDARD 575

18 SYSTEM TEST AND CORE-BASED DESIGN 595

19 THE FUTURE OF TESTING 613

A CYCLIC REDUNDANCY CODE THEORY 615

B PRIMITIVE POLYNOMIALS OF DEGREE 1 TO 100 619

Вам также может понравиться

+9$+9 g.\ UT: bpDi.|c p

J9$+9$#jck.DiAi ; U7K%E1Uc[L:8