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SEMICONDUCTEURS
Eg Bande interdite
Ev Bande de
valence
1- Conducteurs :
La bande interdite est faible. A la température ambiante (300 K), beaucoup
d’électrons de la BV (bande de valence) ont reçu assez d’énergie (thermique) pour
atteindre la BC (bande de conduction). Ces électrons délocalisés sont appelés électrons
libres et peuvent se déplacer dans le réseau d’un atome à un autre. C’est le cas de
l’étain (Sn) qui à température ambiante est un bon conducteur. Pour ce matériau, la BI
(bande interdite) est de l’ordre de 0,07 eV ( 1 eV ou électron volt = 1,6 10-19J)
2- Isolants :
1
Comme nous l’avions souligné, la bande de conduction est vide, la bande de
valence est pleine, tous les électrons de la couche de valence participent aux liaisons.
La bande interdite est grande (de l’ordre de 8 eV par exemple, c’est le cas du
carbone sous forme de diamant qui a un gap E g = 5,47 eV) et à la température ambiante
aucun électron de la BV ne peut franchir cette BI pour atteindre la BC. On a à faire à un
isolant.
3- Semiconducteurs :
La distinction entre isolants et semiconducteurs est purement quantitative. Pour
ces derniers, la hauteur de la BI est moyenne (de l’ordre de 1 eV).
A 0°K, la bande de conduction est vide, la bande de valence est pleine car à cette
température les électrons restent attachés à leurs atomes. Le Sc se comporte comme un
isolant.
liaison covalente
électrons de valence
2
II- Propriétés électroniques des semiconducteurs :
1- Porteurs libres :
Nous avons souligné dans le paragraphe précédent que sous l'effet de l'agitation
thermique, un électron de la BV, normalement lié au noyau de l’atome, peut être projeté
dans la BC. Dans cette bande, il est si éloigné de l’attraction du noyau qu’il peut se
déplacer librement. Les e- de la BC sont appelés électrons libres.
En quittant la BV, l’e- laisse derrière lui une place vide sur une liaison de
covalence entre des atomes. L'atome qui a perdu l'un de ses électrons périphériques est
devenu positif. La place vacante est appelée trou. Sous l'effet de l'agitation thermique,
un électron d'une liaison voisine peut passer sur une liaison vide. Par conséquent le trou
se déplace d'atome en atome. C'est pour cela que l'on peut le considérer comme une
particule positive qui se déplace dans le réseau.
Les e- de la BC et les trous de la BV sont des porteurs de charge libres (ou
mobiles), ils participent à la conduction électronique dans le semiconducteur.
b- Fonction de Fermi :
f n(E)= 1
(E −EF )
1+exp
kT
A T0 = 300 k : la température ambiante, kT0 ≈ 4.04 10-21 J. ≈ 0,025 eV, soit kT0/q ≈ 25
mV
3
fn(E) est une probabilité donc : 0 < fn(E) < 1.
fn (E)
T=0
1
T>0
1/2
0 E
EF
Variation de la fonction d’occupation f n (E) pour 2 températures différentes
• A T = 0 K, fn(E) = 1 pour E < EF; fn(E) = 0 pour E > EF. Tous les états d'énergie en
dessous du niveau de FERMI sont occupés, tous les états situés au dessus sont
vides.
• La probabilité pour qu'un état situé à l'énergie E ne soit pas occupé par un
électron est donnée par : fp(E) = 1 - fn(E) ; c’est la probabilité d'avoir un trou à
l'énergie E.
∫
La densité d’électrons dans la BC est donc : n = dn , n est en cm-3.
Ec
Après intégration, on obtient :
n=N c exp( −Ec −EF )
kT
3/ 2
avec N c =2. 2πme2KT : est la densité équivalente d’états dans la BC, elle
h
représente en quelque sorte le nombre de places disponibles pour les électrons à
l’énergie Ec.
4
3/ 2
avec N v =2. 2πmh2KT : est la densité équivalente d’états dans la BV, elle
h
représente en quelque sorte le nombre de places disponibles pour les trous à l’énergie
Ev.
A partir de la densité des trous dans la BV, on peut déduire la position du niveau
de Fermi : EF – Ev = KT log(Nv/p).
On peut remarquer que plus la densité des trous dans la BV augmente, plus le
niveau de Fermi se rapproche de la BV.
soit n. p =N c N v .exp
−
Eg
kT
En tenant compte des expressions de Nc et Nv, on peut mettre la loi d’action des
masses sous la forme : n. p =AT 3 exp −
Eg
kT
On constate que le produit de la densité des électrons par la densité des trous, à
l'équilibre thermodynamique, est indépendant de la position du niveau de Fermi. Il est
déterminé par les densités équivalentes d'états de la BC et de la BV (N c et Nv), de la
hauteur de la bande interdite (Eg) et de la température absolue (T).
6- Semiconducteur intrinsèque :
Un semi-conducteur intrinsèque est un semi-conducteur pur ne contenant ni
défaut de structure ni impureté. Dans la réalité, un tel semi-conducteur n’existe pas.
Dans un semi-conducteur intrinsèque, les seuls porteurs de charge mobiles
(électrons ou trous) sont ceux qui proviennent de l’agitation thermique. En effet,
lorsqu’un électron de la BV est excité thermiquement, s’il acquiert une énergie > E g, il
passe dans la BC et laisse un trou dans la BV. A chaque e- de la BC correspond un trou
de la BV. On peut donc écrire :
n = p = ni
En remplaçant n et p par leur expression, on trouve :
EFi =
Ec +Ev kT
2
+ log Nv
2 Nc
( )
EFi est la position du niveau de Fermi dans un semi-conducteur intrinsèque.
Remarques :
• A T = 0, le niveau de Fermi est exactement au milieu de la bande interdite.
Lorsque la température augmente, le niveau de Fermi s’éloigne légèrement du
milieu de la BI.
• D’après la loi d’action de masse, on obtient :
n. p =N c N v .exp
−
Eg
= ni2 ⇒ n i = N c N v .exp
−
Eg
kT kT
2
5
• On retrouve que plus Eg est grand, plus ni est faible et que, plus T est grand, plus
ni est grand. A T = 300k, kT = 25 meV ⇒ ni = 8x109 cm-3 pour le Si, ni = 1013 cm-3
pour le Ge et ni = 107 cm-3 pour le GaAs.
Ces nombres paraissent importants mais il faut les comparer au nombre d’atomes
par cm3. Dans 1 cm3 de silicium, il y a 5x1022 atomes. La proportion d’atomes ayant
8× 10 9
perdu un électron est 5× = 1 12 . Seulement 1 atome sur 6000 milliards
10 22 6× 10
fournit 1 électron et 1 trou.
Il faut aussi comparer avec le nombre d’électrons libres d’un métal qui est de l’ordre
de 1022 cm-3 (un électron par atome).
7- Semiconducteur extrinsèque :
Un semiconducteur extrinsèque est un SC dans lequel on introduit volontairement
des impuretés (atomes autres que ceux du SC). Cette opération, qui s’appelle dopage, a
des conséquences très importantes sur les propriétés électroniques du SC : elle permet
d’augmenter le nombre de porteurs de charges libres et de contrôler ainsi la conductivité
du Sc, elle permet aussi de privilégier un type de conduction par rapport à l’autre.
La diffusion et l'implantation ionique sont les procédés les plus importants de
dopage en technologie des composants semiconducteurs.
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électrons libres
Ec atomes donneurs
+++++++++ ionisés
ED
Eg
Ev
Diagramme de bandes pour un Sc N
Bilan de charges :
Charges positives :
+qp : p trous libres dans la bande de valence,
+qND : ND atomes donneurs ionisés positivement après avoir libérés 1 e- dans la BC,
charges négatives :
-qn : n électrons libres dans la BC, formés par les électrons libérés par les atomes
donneurs et par les électrons venant de la BV suite à l’agitation thermique.
Donc : nbre de charges positives = nbre de charges négatives ⇒
qp + qND = qn (2)
En associant ces les deux relations (1) et (2) et en ne tenant compte que de la solution
physique (n est toujours positif) on trouve :
(cm-3)
Dans les conditions d’utilisation normales du SC, on a : ND2 >> 4ni2, l’expression de n se
simplifie et on obtient n ≈ ND.
p =ni , soit
2
Par ailleurs, la loi d’action de masse donne la densité de trous :
n
p = ni
2
ND
Le SC est de type N, Les électrons libres sont plus nombreux, ils sont appelés porteurs
majoritaires. Les trous sont appelés porteurs minoritaires.
Remarque :
Le terme ND est indépendant de la température, alors que ni2 évolue très
rapidement. L'évolution de la densité des électrons libres n par rapport à la densité des
impuretés (ND) en fonction de la température montre les caractéristiques suivantes :
7
1. Pour les très basses températures (régime de gel), les impuretés ne sont
pas toutes ionisées et la densité des électrons augmente très rapidement.
2. Dans une large gamme de températures (régime d'épuisement), la
densité des électrons est égale à la densité des impuretés (ND2 >> 4ni2). C'est le domaine
de fonctionnement "normal" des dispositifs.
3. Pour les températures supérieures, l'agitation thermique engendre plus de
paires électron-trou qu'il y a d'impuretés donneuses (ND2 << 4ni2), c'est le régime
intrinsèque.
d’où : ( )
EFn −EFi =kT log N D
ni
Dans un SC de type N, plus la concentration des atomes donneurs augmente, plus son
niveau de Fermi se rapproche de la BC.
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Ec
Eg
EA atomes accepteurs
-- -- ----- ionisés
Ev
électrons libres
Bilan de charges :
Charges positives :
+qp : p trous libres dans la bande de valence, englobant les trous engendrés par le
dopage et ceux par l’agitation thermique.
charges négatives :
-qNA : NA atomes accepteurs ionisés négativement après avoir capturés 1 e- de la BV,
-qn : n électrons libres dans la BC.
Donc : nbre de charges positives = nbre de charges négatives ⇒
qp = qNA + qn (2)
En associant ces les deux relations (1) et (2) et en ne tenant compte que de la solution
physique (p est toujours positif) on trouve :
(cm-3)
Dans les conditions d’utilisation normales du SC, on a : NA2 >> 4ni2, l’expression de p se
simplifie et on obtient p ≈ NA.
ni2
Par ailleurs, la loi d’action de masse donne la densité de électrons : n= , soit
p
n= ni
2
NA
Le SC est de type P, Les trous sont plus nombreux, ils sont appelés porteurs
majoritaires. Les électrons sont appelés porteurs minoritaires.
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Dans un SC de type P, la densité des électrons libres est donnée par :
EFp −Ev
p =N v exp
− kT , EFp est la position du niveau de Fermi dans le SC de
type P.
EFp −Ev = N v exp −EFi −Ev ×exp −EFp −EFi =ni exp −EFp −
N A =N v exp
− kT
kT kT kT
d’où : ( )
EFp −EFi =kT log N A
ni
Dans un SC de type P, plus la concentration des atomes accepteurs augmente, plus son
niveau de Fermi se rapproche de la BV.
1- Courant de conduction :
→
Si on applique un champ électrique E , les électrons sont soumis à une force
→ →
électrique. Pour un électron, F = −q E . Chaque porteur prend une vitesse moyenne
qui est proportionnelle au champ. On traduit ce phénomène en écrivant :
→ → qτn
vn =−µnE pour les électrons, µn =
me
µp =qτp
→ →
vp =µp E pour les trous,
mp
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µn et µp sont respectivement les mobilités des électrons et des trous, elles s’expriment en
cm2V-1s-1.
µE =
σE
→ → → →
jcn =−q
n vn =q
n n n
µE =
σE
→ → → →
jcp =q
p vp =q
p p p
où σ n et σ p sont les conductivités électriques dues aux électrons et aux trous, elles
s’expriment en (Ω -1cm-1).
Le courant de conduction total dans le SC est la somme des courants des électrons
dans la BC et des trous dans la BV :
→ → → →
cj =jcn +jcp =(qn µn +qp µp ) E
→ →
Comme jc =σE , nous pouvons écrire : σ=q(nµn +pµp)
2- Courant de diffusion :
Si dans un SC les porteurs ne sont pas distribués de façon homogène alors les
porteurs en surplus auront tendance à diffuser vers les régions de faible concentration. Il
en résulte des densités de courant de diffusion des électrons et des trous, qui s’écrivent
(à une dimension) :
A trois dimensions, on a :
et
Dn et Dp sont les constantes de diffusion des électrons et des trous dans le matériau.
Remarque :
Ces deux effets ne sont pas indépendants, ils sont reliés par la relation d’Einstein.
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Dn =D p =kT
µn µp q
Ces relations sont valables uniquement pour les semi-conducteurs non dégénérés
soumis à des champ électriques faibles.
→ → → →
j =jcn +jdn =qn µn E +qD n dn
n
dx
→ → → → dp
j =jcp +jdp =qp µp E +qD p
p
dx
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