Difraccin de luz Lser

Inga Caqui, Marvyn William

UNIVERSIDAD NACIONAL DE INGENIERA Facultad de Ciencias, Laboratorio de Microscopia

E-mail: marvyn_16@hotmail.com

Resumen
En el presente informe, describimos el fenmeno de difraccin de luz lser sobre una rendija, y sobre una rejilla porta-muestra TEM que acta como una red de difraccin. El fenmeno se describe tanto terico como experimentalmente, llegndose a calcular algunas constantes caractersticas de la rendija y de las redes, como el parmetro de red. PALABRAS CLAVES: Difraccin, Rendija, Red de difraccin, Lser.

Abstract
In this report, we describe the phenomenon of diffraction of laser light on a slit, and a TEM sample holder grid serving as a diffraction grating. The phenomenon is described both theoretically and experimentally, reaching calculate some constants characteristic of the slit and networks, as the lattice parameter. KEYWORDS: diffraction, slit, grating, Laser.

I. Introduccin
La difraccin es un fenmeno tpicamente ondulatorio, el cual se observa cuando se distorsiona una onda por un obstculo cuyas dimensiones son comparables a la longitud de onda. El caso ms sencillo corresponde a la difraccin de Fraunhofer, en la cual el obstculo es una rendija estrecha y larga, de modo que podemos ignorar los efectos de los extremos. Supondremos que las ondas incidentes son normales al plano de la rendija, y que el observador se encuentra a una distancia grande en comparacin con la anchura de la misma. De acuerdo con el principio de Huygens, cuando la onda incide sobre una rendija todos los puntos de su plano se convierten en fuentes secundarias de ondas, emitiendo nuevas ondas, denominadas ondas difractadas, por lo que la explicacin del fenmeno de la difraccin no es cualitativamente distinta de la interferencia. Una vez que hemos estudiado la interferencia de un nmero limitado de fuentes, la difraccin se explica a partir de la interferencia de un nmero infinito de fuentes.

intervalos de tiempo y distancias mayores; esta propiedad se llama coherencia temporal y espacial y es una caracterstica esencial para el estudio de fenmenos de interferencia y difraccin. B. Difraccin. El concepto de interferencia involucra la superposicin de un nmero finito de ondas, cada una de las cuales tiene su amplitud y fase definidas. Cuando un haz de luz interacciona con un objeto tal como una apertura, la perturbacin resultante se debe a las contribuciones infinitesimales de las diferentes partes del frente de onda cada una con fase y amplitud infinitesimal correspondiente. La teora escalar de la difraccin establece la manera de calcular el campo en un punto tras difractarse por una apertura. En efecto, considrese la FIG.N1. La apertura difractante se encuentra en el plano El punto fuente se encuentra en el plano y el punto de observacin en el plano . El campo resultante en el punto se puede poner como: (1)

II. Fundamento Terico.

A. Luz Lser. La radiacin emitida por un Laser, igual que la luz comn, es de naturaleza electromagntica, pero se diferencia de ella en varios aspectos importantes, entre ellas es que es direccionada, monocromtica, intenso y coherente. A diferencia de la luz blanca, que es una mezcla de varias longitudes de ondas y encima incoherente, la luz generada por un Laser, es de una nica longitud de onda; para el Laser gaseoso de He-Ne que se usara en estos experimentos, la longitud de onda es 632,8nm, fija, conocida y confiable. Esta luz es roja. La luz comn presenta variaciones aleatorias en la fase de las ondas emitidas, mientras que la luz Laser conserva relaciones de fase bien definidas, durante

Donde es la transmitancia en amplitud de la apertura, es un factor de proporcional a la amplitud de la onda incidente que, en general, no es necesaria especificar, y es el rea de la apertura. Las distancias y se pueden expresar en funcin de las coordenadas espaciales como: (2) (3)

Si y y tambin , se puede llevar a cabo un desarrollo en potencia de las expresiones anteriores de forma que:

[ [ Con lo que la expresin (1) queda:

] ]

(4) (5)

La geometra involucrada se muestra en la FIG.N2. En estas condiciones se tiene que si , entonces . Por lo tanto la expresin de dado por la ecuacin (9) puede aproximarse por: (10) Siendo la distancia del punto considerado al eje . DE esta manera se obtendrn mnimos de difraccin cuando . Esto ocurre en aquellas posiciones en las que sea un mltiplo entero de ), con ya que en el caso de se tiene un mximo denominado mximo central de difraccin. Teniendo en cuenta la condicin de mnimo y la ecuacin (10) la posicin del mnimo de orden est dada por: (11)

(6)

Donde en hemos englobado factores de fase globales. Si hallamos al tamao mximo de la abertura, entonces el valor del trmino cuadrtico de fase como mucho vale . En el caso de que , entonces podemos realizar la siguiente aproximacin: expresin (6) queda como:

de manera que la

(7)

Como puede verse, en esta aproximacin denominada aproximacin de Fraunhofer, el campo difractado por la abertura es proporcional a la transformada de Fourier de la funcin . A se le denomina nmero de Fresnel.

FIG.N2. (a) Difraccin a travs de una rendija. (b) Perfil

de irradiancia en la pantalla.

FIG.N1. Difraccin a travs de una apertura: las ondas

que emanan del punto P se difractan en la apertura y en el plano se analiza la distribucin de campo elctrico resultante.

B.1. Difraccin por una apertura rectangular. En el caso de una rendija de anchura y altura muy grande comparada con , la irradiancia en un punto de una pantalla de coordenadas respecto al centro de la rendija, viene dada, en la regin de Fraunhofer, por: (8) Donde est definido como: (9)

B.2. Difraccin en estructuras peridicas. Si la funcin transmitancia es una funcin peridica, la integral de difraccin en aproximacin de Fraunhofer se puede expresar en trminos de la integral de uno de los elementos de la estructura, modulado por un trmino de fase. El caso ms importante de estructura peridica la constituyen las redes de difraccin de amplitud y/o fase. Estos dispositivos tienen multitud de aplicaciones, destacando su papel como elementos del anlisis espectral. Analizamos brevemente el caso de una red de amplitud. Es una placa de material transparente en el que se ha grabado, bien por medios mecnicos o por medios pticos, un determinado nmero de lneas de igual anchura, equiespaciadas una distancia Cuando un haz de luz de longitud de onda ilumina la red, tal y como se muestra en la FIG.N3, la irradiancia en un punto de la pantalla caracterizado por un ngulo de observacin, est dada por:

] [

(12)

Siendo la anchura de las rendijas individuales, el nmero total de rendijas y . A efectos tericos la red de difraccin se puede tratar como si se dispusiese de fuentes de luz, una por cada rendija. EL primer trmino de la ecuacin (12) es la irradiancia resultante de la difraccin producida por cada una de las rendijas, mientras que el segundo trmino se debe a la interferencia de la luz procedente de cada una de ellas con todas las dems. La irradiancia total observada es el producto de ambas contribuciones. Si el nmero de rendijas es grande y el haz de luz incide con un ngulo sobre la red, lo que observamos son una serie de franjas brillantes que corresponden a los mximos principales del diagrama de interferencia, que vienen dados por la condicin: (13) Donde el valor de m determina el orden de difraccin. En el caso de incidencia normal , la ecuacin (13) se reduce a: (14)

Lser

B. Procedimiento experimental. Sobre una rejilla, de la cual es conocida su parmetro de red 1000mesh ( ), se hace incidir un haz de luz lser, de la cual es conocida su longitud de onda ( ), y obtenemos un patrn de difraccin caracterstico de la rejilla, este primer paso nos servir como calibracin para las posteriores rejillas de las cuales no conocemos sus parmetros de red y las cuales estamos interesados en hallar. De este primer patrn de difraccin obtenemos los siguientes datos:

Rejilla portam uestra

FIG.N4. Materiales a usar en el experimento de
difraccin.

FIG.N3. Diagrama esquemtico del haz incidente y los

haces difractados por la red de difraccin.

Cuando sobre la red de difraccin incide un haz de luz policromtico compuesto por diversas longitudes de onda, para cada valor de (orden de difraccin) se obtiene un mximo de difraccin. La ecuacin (14) nos indica que, fijado el orden de difraccin, cada longitud de onda presentar su mximo de difraccin en un ngulo diferente, esto es, . De este modo empleando la red podemos separar espacialmente las longitudes de onda que componen el espectro de radiacin que incide sobre ella.

Los cules sern reemplazadas en la ecuacin (14), el cual puede tomar la forma: (15)

III. Desarrollo Experimental

A. Materiales. Lser de He-Ne ( ) Una sndwich de dos portaobjetos con diferentes rejillas porta-muestras para TEM. Soporte para el sndwich. Cinta mtrica o huincha. 2 cuchilla metlicas. Base para las dos cuchillas metlicas. Papel Blanco.

De la ecuacin (15) podemos conocer , pues tenemos como dato los otros parmetros que estn involucradas en la ecuacin, sin embargo, tambin podramos hallar el valor de R midindolo directamente en el patrn de difraccin, hacer esto nos permitir comparar y calibrar.

FIG.N5. Arreglo experimental, usada en toda la

experiencia.

FIG.N10. Anlisis vertical de la intensidad del

patrn de difraccin para la rejilla cuyo parmetro de red es desconocida, obtenido con el Image J.

FIG.N6. Patrn de difraccin para la rejilla que

servir de calibrador.

Finalmente tenemos el patrn de difraccin de una sola rendija, para este caso tenemos como dato:

FIG.N7. Anlisis de intensidad para la rejilla de

1000mesh obtenida con el image J.

FIG.N11. Patrn de difraccin de una sola

rendija.

Como en el sndwich haba otras rejillas de las cuales no eran conocidas sus parmetros de red, entonces analizamos una de ellas a partir de su patrn de difraccin y calculamos dicho parmetro usando la ecuacin (15). Para esta parte conocemos los siguientes parmetros:
FIG.N12. Anlisis de intensidad del patrn de
difraccin para una sola rendija.

Aparte de los datos fotogrficos, tenemos tambin un registro del patrn de difraccin sobre un papel blanco, esto nos permitir medir las distancia reales entre mximos, los cuales posteriormente nos permitir hacer una equivalencia con la cantidad de pixeles de las fotos

FIG.N8. Patrn de difraccin para la rejilla, cuyo

parmetro de red para este caso es desconocido.

IV. Clculos y Resultados.

Para el primer patrn, el cual nos servir como calibrador, tenemos: Para: Donde se mide a partir del registro del patrn de difraccin sobre el papel blanco. Con este dato ahora hacemos la equivalencia con la cantidad de pixeles, para esto trabajamos con la curva de intensidad (FIG.N7), para poder manipular los datos de manera ms cmoda trabajamos con el ORIGIN, el cual nos permite, entre otras cosas, centrar en cero la curva de intensidad.

FIG.N9. Anlisis horizontal de la intensidad del

patrn de difraccin para la rejilla cuyo parmetro de red es desconocida, obtenido con el Image J.

Haciendo la conversin tendramos: ( )

Reemplazando todos los datos obtenidos en la ecuacin (15), tendramos para el 1er patrn de difraccin (patrn para la calibracin):
m TABLA N1. Resultados para el 1er patrn. (nm) L(cm) d(cm) Rc(cm) Re(cm) 632.8 632.8 302.7 302.7 0.0025 0.0025 7.54 15.08 7.65 15.06

FIG.N13. Anlisis en ORIGIN del patrn de

difraccin para la rejilla que servir de calibrador.

1 2

Para la calibracin, a partir de la FIG.N13 medimos la cantidad de pixeles que hay entre el mximo principal y el primer mximo, del cual ya conocemos que .

Dnde: Rc: es el R calculado. Re: es el R medido. De la TABLA N1, podemos hallar un porcentaje de error: | Para m=1: Para m=2: Los mismos mtodos de clculo, descritos anteriormente, se usan para analizar los siguientes patrones de difraccin, entonces slo nos limitaremos a dar los resultados. Del segundo patrn a analizar no se conoce d, siendo este nuestro objetivo a hallar. |

FIG.N14.

Procedimiento para hallar la equivalencia entre el nmero de pixeles con las dimensiones reales (cm).

De esto resulta que:

Para el 2do. Mximo tenemos:

FIG.N16. Hallamos el primer mximo de

difraccin para el 2do patrn.

Hacemos la equivalencia:
FIG.N15. Clculo del segundo mximo del
patrn de difraccin.

De la FIG.N15 tenemos: Para:

De la FIG.N17:

Con estos datos se puede obtener, la separacin de las rendijas:

TABLA N3. Resultados para el 3er. Patrn de difraccin.

m 1 2

(nm) 632.8 632.8 632.8 632.8

L (cm) 302.7 302.7 302.7 302.7

R(cm) 1.35 2.26 1.46 2.51

d(cm) 0.0142 0.0170 0.0131 0.0153

FIG.N17. Hallamos el segundo mximo de

difraccin para el 2do patrn.

1 2

Reemplazando todos los datos obtenidos en la ecuacin (15), tenemos:

TABLA N2. Resultados para el 2do. Patrn de difraccin.

De la TABLA N3 vemos que el valor de d est muy disperso, hallamos un promedio de estos valores, junto con su desviacin estndar:

m 1 2

(nm) 632.8 632.8

L (cm) 302.7 302.7

R(cm) 1.50 2.98

d(cm) 0.0128 0.0129

De lo cual podemos concluir que el parmetro de red es el promedio de los valores obtenidos para los rdenes 1 y 2:

Ahora tratamos el caso de una sola rendija, el patrn de difraccin es el que se muestra en la FIG.N12. Con el fin de manipular los datos que nos da el Image J, trabajaremos con el ORIGIN.

Finalmente cambiamos el ngulo de incidencia en la configuracin que nos daba el segundo patrn (ahora trabajamos con un ngulo de incidencia ), lo que se obtena en este caso era un patrn diferente a cuando se tena un ngulo de incidencia normal, esto lo veremos en las ecuaciones descritas mas adelante.

FIG.N19. Curva de intensidad del patrn de

difraccin tomada de forma vertical, para una rejilla rotada 45.

FIG.N18. Curva de Intensidad para una sola rendija.

Hallamos la distancia de los primeros dos mximos por la derecha:

Hallamos la distancia de los primeros dos mximos por la derecha:

Hallamos tambin la distancia de los primeros dos mximos por la izquierda:

Hallamos tambin la distancia de los primeros dos mximos por la izquierda:

V. Observaciones y discusiones:
Para el anlisis de los datos, ya no es posible usar la ecuacin (15), sino una ecuacin ms general, que involucre el ngulo de incidencia El empleo de software para el anlisis del patrn de difraccin facilit mucho el anlisis de los datos, programas como el ORIGIN o el Image J fueron usados en este informe. Para el anlisis del patrn de difraccin, es suficiente saber la equivalencia de cualquier distancia en pixeles con una distancia real, despus se puede trabajar usando el factor de conversin. Debido a este ltimo punto tenemos que hacer una medicin muy cuidadosa de la distancia real del patrn de difraccin, esto con el fin de reducir la incertidumbre. Tener, en todo momento, en cuenta las aproximaciones que se hacen, ya que por ejemplo para el ngulo de incidencia igual a 45, se obtienen resultados incoherentes. Cuando tomemos la foto del patrn de difraccin, tratar de tomarlo de la forma ms perpendicular a la pantalla posible, ya que esto tambin podra ayudar a reducir incertidumbres.

FIG. N20 Anlisis del fenmeno de difraccin para

un ngulo de incidencia igual a 45.

De la FIG.N20 tenemos:

VI. Conclusin.
En nuestro caso: Reemplazando en la ecuacin (16), tenemos: Experimentamos el fenmeno de la difraccin Lser, comparamos luego la veracidad de las ecuaciones que la describen, las TABLAS N1, 2 y 3 muestran esto, por ejemplo de la TABLA N1 vemos que se obtienen porcentajes de errores muy bajos. Hallamos tambin las constantes caractersticos de las rejillas de difraccin, siendo estas mostradas en cada caso. Finalmente para el caso de la rejilla rotada no pudimos obtener un resultado satisfactorio con las ecuaciones, pues el ngulo de incidencia prevaleca sobre el de difraccin, lo cual como dijimos nos llevaba a resultados nada satisfactorios.

Reemplazando nuestros datos en la ecuacin (17), tenemos:

TABLA N4. Resultados para el patrn de difraccin rotado 45. m (nm) L (cm) R(cm) d(cm) 1 2 1 2 632.8 632.8 632.8 632.8 302.7 302.7 302.7 302.7 1.92 3.87 1.99 3.92 0.0000887 0.0001758 0.0000887 0.0001758

VII. Bibliografa.
[1]. Fundamental of Photonics. Leno S. Pedrotti.

SPIE. Module 1.4: Basic Physical Optics.

[2]. Introduction to Optics. Frank Pedrotti, Leno S. Pedrotti. 2nd edition. Prentice Hall International. 1993.

De la tabla N4 vemos que obtenemos resultados poco satisfactorios, esto debido a la aproximacin que se hace, pues sta comparado con el , es despreciable, para una buena aproximacin se tendra que considerar ngulos de incidencia pequeos, o al menos comparables con los de difraccin.