Anlisis de la imagen de un patrn de difraccin obtenido con un TEM.

Inga Caqui, Marvyn William

UNIVERSIDAD NACIONAL DE INGENIERA Facultad de Ciencias, Laboratorio de Microscopia

E-mail: marvyn_16@hotmail.com

Resumen
En el presente informe analizamos la imagen de un patrn de difraccin escaneada a 300ppp, que anteriormente fue registrada en una placa fotogrfica usando el microscopio electrnico de transmisin (TEM). La imagen escaneada ser tratada con la ayuda de un software desarrollado en la UNI, el cual nos permitir medir los radios de los anillos del patrn de difraccin. Con la ayuda de una tabla de indexacin, podremos identificar la estructura cristalina del oro. PALABRAS CLAVES: Difraccin de electrones, tratamiento de imgenes, estructura cristalina.

Abstract
In this report we analyze the image of a diffraction pattern scanned at 300dpi, which previously was recorded on a photographic plate using the transmission electron microscope (TEM). The scanned image will be treated with the help of software developed at the UNI, which we can measure the radius of the rings of the diffraction pattern. With the help of an indexing table, we can identify the crystal structure of gold. KEYWORDS: electron diffraction, imaging, crystal structure.

I. Introduccin
La Difraccin de electrones es frecuentemente utilizada en fsica y qumica de slidos para estudiar la estructura cristalina de los slidos. Estos experimentos se realizan normalmente utilizando un microscopio electrnico por transmisin (MET o TEM por sus siglas en ingls), o un microscopio electrnico por escaneo (MES o SEM por sus siglas en ingls), como el utilizado en la difraccin de electrones por retro-dispersin. En estos instrumentos, los electrones son acelerados mediante electrosttica potencial para as obtener la energa deseada y disminuir su longitud de onda antes de que este interacte con la muestra en estudio. La estructura peridica de un slido cristalino acta como una rejilla de difraccin, dispersando los electrones de una manera predecible. A partir del patrn de difraccin observado es posible deducir la estructura del cristal que produce dicho patrn de difraccin. Sin embargo, esta tcnica est limitada por el problema de fase. Aparte del estudio de los cristales, la difraccin de electrones es tambin una tcnica til para el estudio de slidos amorfos, y la geometra de las molculas gaseosas.

En 1924 Louis de Broglie sugiri que las partculas podran tener propiedades ondulatorias, adems de las propiedades caractersticas de las partculas. Present la hiptesis de que la longitud de onda de las partculas es inversamente proporcional a su cantidad de movimiento: (1) Donde : Longitud de onda. : Constante de Planck : Cantidad de movimiento Sus conjeturas fueron confirmadas por los experimentos de Clinton Davisson y Lester Germer sobre la difraccin de electrones en estructuras cristalinas de nquel en 1927. El dimetro de los anillos concntricos vara segn la longitud de onda y por lo tanto con la tensin de aceleracin U, tal como se desprende de las siguientes consideraciones: De la ecuacin de energa para los electrones acelerados por la tensin U. (2) Donde: Tensin de aceleracin Carga del electrn. Masa de la partcula. Velocidad de la partcula. La cantidad de movimiento p se puede derivar como: (3)

II. Fundamento Terico.

A. Difraccin de electrones. La difraccin de electrones es una tcnica utilizada para estudiar la materia haciendo que un haz de electrones incida sobre una muestra y observando el patrn de interferencia resultante. Este fenmeno ocurre gracias a la dualidad ondapartcula, que establece que una partcula de materia (en este caso el electrn que incide) puede ser descrita como una onda.

Reemplazando la ecuacin (3) en la ecuacin (1) resulta para la longitud de onda: (4)

En 1913, H. W. y W. L. Bragg descubrieron que la disposicin regular de los tomos en un cristal simple podra entenderse como una matriz de elementos reticulares en planos reticulares paralelos. Entonces, al exponer esta red cristalina a rayos X monocromticos o electrones mono-energticos y, adems, suponiendo que stos tienen una naturaleza ondulatoria, cada elemento en un plano reticular acta como un punto de dispersin, en el cual se forma un tren de ondas esfricas. Segn el principio de Huygens, estos trenes de ondas esfricas se superponen y crean un frente de ondas reflejado. En este modelo, la longitud de onda no se modifica respecto del frente de onda incidente, y las direcciones de las radiaciones que son perpendiculares a los dos frentes de onda cumplen con la condicin ngulo de incidencia= ngulo de reflexin. En los rayos vecinos reflejados en los planos reticulares individuales se genera una interferencia constructiva cuando las diferencias de trayectoria son mltiplos enteros de la longitud de onda (FIG.N 1): (5) Donde: Distancia reticular interplanar. ngulo de difraccin. Esta es la denominada condicin de Bragg y el ngulo de difraccin correspondiente es conocido como ngulo rasante.

FIG.N2. Bosquejo esquemtico para determinar el ngulo

de difraccin.

En este experimento se utiliza un material policristalino como objeto de difraccin. Esto equivale a una gran cantidad de pequeos cristalitos individuales que estn dispersos en el espacio en forma irregular. Como consecuencia de esto, siempre hay algunos cristales en los que se satisface la condicin de Bragg para una direccin de incidencia y longitud de onda dadas. Las reflexiones producidas por estos cristalitos quedan en conos cuyo eje comn est dado por la direccin de incidencia. De ah que aparezcan crculos concntricos en una pantalla ubicada perpendicular a este eje. De la FIG.N2 se puede deducir la relacin: (6) Aproximando para ngulos pequeos: (7) Entonces: (8) La substitucin de la ecuacin (8) en (5) lleva la difraccin de primer orden (n = 1) a: (9)

FIG.N1. Representacin esquemtica de la condicin de

Bragg.

Dimetro del anillo. Distancia entre la muestra y la pantalla. Distancia reticular interplanar.

Segn la ecuacin (4), la longitud de onda est determinada por la tensin de aceleracin U. La combinacin de las ecuaciones (4) y (9) muestra que los dimetros D1 y D2 de los anillos concntricos cambian en funcin de la tensin de aceleracin U:

dispersin de energa con rayos-X, investigacin de la estructura electrnica y atraccin con una espectroscopia por prdida de energa electrnica, y estudios del potencial promedio interno con una holografa de electrones.

(10)

III. Desarrollo Experimental

En clase se nos proporcion una foto impresa del patrn de difraccin de electrones de oro pulverizado (FIG.N3) con un potencial de aceleracin igual a .

Con

(11)

La medicin de los dimetros D1 y D2 en funcin de la tensin de aceleracin U permite determinar las distancias reticulares interplanares. B. Difraccin de electrones en un microscopio electrnico de transmisin. La difraccin de electrones en slidos se realiza usualmente con un microscopio electrnico de transmisin donde los electrones pasan a travs de una pelcula ultra delgada del material en estudio. El patrn de difraccin resultante es observado en una pantalla fluorescente, fotografiado en pelcula o en forma digital. La longitud de onda de un electrn acelerado en un microscopio electrnico por transmisin es bastante ms pequea que la de la radiacin utilizada en los experimentos de difraccin de rayos-X. Una consecuencia de esto es que el radio de la esfera Ewald es mayor en la difraccin de electrones que en la difraccin de rayos-X, con lo que el experimento de difraccin puede revelar ms de la distribucin bidimensional de los puntos en la trama. Adems, el lente electrnico permite modificar la geometra del experimento de difraccin. Conceptualmente, la geometra ms simple es un haz paralelo de electrones incidiendo perpendicularmente sobre la muestra. Sin embargo, cuando los electrones inciden sobre el blanco en forma de cono permiten, en efecto, realizar una difraccin con diferentes ngulos de incidencia al mismo tiempo. Esta tcnica es llamada Difraccin de Electrones de Haz Convergente (CBED por sus siglas en ingls), y puede revelar la simetra tridimensional del cristal. En un microscopio electrnico de transmisin, se puede seleccionar un simple grano de cristal o partcula para realizar el experimento de difraccin. Esto significa que estos experimentos pueden realizarse sobre cristales de tamao nanomtrico, mientras que otras tcnicas de difraccin deben utilizar una muestra multicristalina limitando la observacin. Adems, la difraccin de electrones en un MET puede ser combinada con imgenes directas de la muestra, incluyendo imgenes de alta resolucin de la trama del cristal, y otras tcnicas tales como el anlisis qumico de la composicin de la muestra mediante una espectroscopia de

FIG.N3. Imagen escaneada de patrn de difraccin

del Oro pulverizado.

Esta foto tuvimos que escanearla a 300 pixeles por pulgada (300ppp). Una vez escaneada la foto lo analizamos con el software proporcionada en clase, este software lo que hace es calcular los valores de las distancias interplanares (d), previa calibracin. Posteriormente cualquier patrn de difraccin obtenida en las mismas condiciones podr ser analizada. Los clculos y resultados se muestran a continuacin.

IV. Clculos y Resultados. Usamos la ecuacin (4) con el fin de calcular la

longitud de onda de los electrones, se sabe que:

Entonces:

De la pgina en el internet webmineral.com, obtenemos las distancias reticulares interplanares ( ): Cargamos la foto en el software con la opcin Load y tenemos tres opciones de anlisis. La primera opcin, llamada Patrn de difraccin, es para ubicar todos los anillos, para esto superponemos el anillo referencial sobre uno de los anillos del patrn de difraccin (por lo general sobre el que mejor definido tiene los lmites), el cual servir de referencia, una vez hecho esto elegimos la opcin Patrn y automticamente se ubicarn los dems anillos (ver FIG.N4).

La tercera opcin, Patrn presentacin, nos da la imagen del patrn de difraccin combinada con los anillos que se obtuvieron usando la primera opcin (Patrn de difraccin).

FIG.N6. Anillos centrados en la opcin Patrn

presentacin.

En el lado izquierdo de la ventana, que muestra las funciones que posee el software, tambin aparece una tabla (tabla Patrn)con los valores de los radios de los anillos ( ) en pixeles, y de las distancias reticulares interplanares ( ), pues bien, lo primero que haremos es calibrar, para esto sacamos los valores de los en una hoja de clculo (EXCEL) y los multiplicamos con los respectivos valores de obtenidos de la webmineral.com, estos resultados se muestran en la TABLA N1.

FIG.N4. Centrado de los anillos que aparecen en el

patrn de difraccin usando el software en la opcin Patrn.

TABLA N1. Valores para la calibracin ( ) n

1 2 3 4 58 66 94 110 2.36 2.04 1.42 1.23 : 136.88 134.64 133.48 135.30 135.08

La segunda opcin, llamada Intensidad nos da la curva de intensidades, por cada anillo del patrn de difraccin habr un mximo de intensidad (FIG.N5).

Promedio de los

FIG.N5. Anlisis de intensidades del patrn de

difraccin con el software, en la opcin Intensidad.

Con el valor promediado de los (=135.08) vamos a hacer la calibracin, de manera que podamos hallar automticamente los de posteriores patrones de difraccin obtenidas en las mismas condiciones, para esto colocamos este valor promedio en el cuadro de la opcin Const. y elegimos nuevamente la opcin Patrn, veremos que automticamente los de la tabla Patrn cambian a los valores dados por la webmineral.com, de esta forma corroboramos la calibracin, y podemos asegurar que los de los siguientes patrones, sern obtenidas confiablemente.

La segunda forma de hallar la longitud de cmara y adems de identificar la estructura cristalina del oro, es a partir de la ecuacin (8):

(13)
Entonces: Los resultados para en la TABLA N3.

(14)

se muestran

FIG.N7. Proceso de calibracin para el anlisis de

futuros patrones de difraccin obtenidos en las mismas condiciones que el patrn de calibracin.

TABLA N3. Valores de Rn/R1

Los valores de estn en unidades de pixeles, y como sabemos que en una pulgada hay 300 pixeles, entonces tenemos el factor de conversin: Con esto se obtiene los nuevos radios:
TABLA N2. Radio de los anillos

n 1 2 3 4

Rn/R1 1.00 1.14 1.62 1.90

Rn (pix.)
58 66 94 110

Rn (cm)
0.49 0.56 0.80 0.93

Ahora para identificar el tipo de estructura cristalina, lo que haremos es comparar los resultados de la TABLA N3 con los valores de la tabla de indexacin de las estructuras cristalinas cbicas (TABLA N4), que se muestra a continuacin:

Para hallar la longitud de cmara ( ) usaremos dos formas, la primera ser usando la ecuacin (9), para nuestro caso tenemos: (12) Como , entonces:

Los se obtuvieron de la pgina de internet webmineral.com. Los resultados se muestran en la TABLA N2. TABLA N2. Longitud de Cmara

dn (A)
2.36 2.04 1.42 1.23

Rn (cm)
0.49 0.56 0.80 0.93

L (cm)
26.66 26.22 25.99 26.35 26.30

Promedio de los L :

Tomando el promedio de los de la TABLA N2 se tiene que la distancia entre la muestra y la pantalla (por el primer mtodo) es:

TABLA N4. Valores comparables para la indexacin

de las estructuras cristalinas cbicas.

Vemos que los cuatro valores de la TABLA N3 coinciden con los cuatro primeros valores de la estructura fcc de la TABLA N4, por lo tanto podemos asegurar que el oro tiene una estructura cristalina cbica de cara centrada. Una vez identificada la estructura, podemos tambin hallar los ndices de Miller. TABLA N4. ndices de Miller

V. Observaciones y discusin.
La difraccin de electrones con un MET tiene varias limitaciones importantes: La muestra tendr que ser transparente a los electrones, lo que significa que el ancho de las muestras deber estar en el orden de los o menos. Por consiguiente, puede que se necesite una preparacin lenta y cuidadosa de la muestra. Muchas de las muestras son vulnerables a los daos de la radiacin del haz de electrones. El estudio de materiales magnticos es difcil dado que los campos magnticos desvan los electrones por la fuerza Lorentz. A pesar de que este fenmeno pude ser utilizado para estudiar el dominio magntico de los materiales mediante la microscopa de fuerzas de Lorentz, hace virtualmente imposible determinar la estructura del cristal. Sin embargo, la mayor limitacin de la difraccin de electrones en un MET es el alto nivel de interaccin que se requiere con el usuario. La difraccin con rayos-X o neutrones est muy automatizada, al igual que la interpretacin de los datos obtenidos. Por el contrario, la difraccin de electrones necesita un alto nivel de interaccin por parte del usuario.

1.00 1.14 1.62 1.90 (111) (200) (220) (311) 3 4 8 11

De las prcticas anteriores se conoce que: (15)

Usando la ecuacin (8) y (15), se obtiene:

(16)

Para , se tiene que los ndices de Miller son [ ] (ver TABLA N4), entonces de la ecuacin (16) resulta: (17)

VI. Conclusin.
Se hall satisfactoriamente la longitud de cmara ( ) de dos formas, resultando y , esto nos permiti posteriormente compararlos y promediarlos , resultando un , a su vez tambin se pudo encontrar el tipo de estructura cristalina que tiene el oro, resultando esta del tipo cbica de cara centrada (fcc), y finalmente se aprendi a usar el software que se nos proporcion en clase, siendo esta muy til para muestras pulverizadas, donde el patrn de difraccin son anillos concntricos, el programa permiti tambin obtener la dimensin de los radios de los anillos y las distancias reticulares interplanares.

El valor del parmetro de red ( ) lo obtenemos de la pgina webmineral.com: Reemplazando en la ecuacin (17), resulta: (18)

Los resultados de la ecuacin (18), se resumen en la TABLA N5. TABLA N5. Longitud de cmara

n
1 2 3 4 Promedio:

L (cm)
26.64 26.26 26.44 26.39 26.43

VII. Bibliografa.
[1]. Leonid A. Bendersky and Frank W. Gayle, Electron Diffraction Using Transmission Electron Microscopy, Journal of Research of the National Institute of Standards and Technology, 106 (2001) pp. 9971012. [2]. Difraccin de electrones en una red policristalina (Difraccin de Debye-Scherrer). Fsica Atmica y nuclear. Experimentos introductorios. Leybold Didactic GmbH.

Tomando el promedio de los de la TABLA N5 se tiene que la distancia entre la muestra y la pantalla (por el segundo mtodo) es: