PAM de cresta natural Fabin Garzn, Laura Moreno, Rafael Castro.

PAM DE CRESTA NATURAL

Hctor Fabin Garzn; Laura Johanna Moreno; Rafael Enrique Castro
(17 DE SEPTIEMBRE DE 2012)

RESUMEN
Las seales analgicas muchas veces deben ser mostradas de la forma ms coherente y precisa; observando ciertos patrones y elementos tcnicos adecuados para tal fin. En este informe de laboratorio, utilizamos la herramienta bsica para observar una seal, anloga: el teorema del muestreo. Palabras ClaveMuestreo, frecuencias, multiplexacin.

I. OBJETIVO1
Muestrear una seal analgica utilizando el teorema de muestreo (sampling). II. MARCO TERICO A. El Teorema de muestreo: Si una seal continua, s(t), tiene una banda de frecuencia tal que f m sea la mayor frecuencia comprendida dentro de dicha banda, dicha seal podr reconstruirse sin distorsin a partir de muestras de la seal tomadas a una frecuencia fs siendo fs > 2 fm.

s(t) s(t)

seal a muestrear seal de muestreo seal muestreada

Fig. 2 Resultado de la seal muestreada

Fig. 1 Esquema simplificado del proceso de muestreo

El interruptor no es del tipo mecnico, puesto que por lo general fs es de bastante valor. Suelen emplearse transistores de efecto campo como interruptores, para cumplir los requerimientos que se le exigen entre los que se encuentran: Una elevada resistencia de aislamiento cuando los interruptores (transistores) estn desconectados. Una baja resistencia si los interruptores estn conectados o cerrados. Una elevada velocidad de conmutacin entre los dos estados de los interruptores. En la siguiente figura se ofrece las formas de las tres seales principales:
1

B. Cuantificacin: Desde el punto de vista de la cuantificacin de la seal muestreada, lo ideal sera que el tiempo en que el interruptor est cerrado, fuese prcticamente cero, ya que de otro modo, la seal muestreada puede variar en dicho tiempo y hacer imprecisa su cuantificacin. Debe tenerse en cuenta que para la reconstruccin de la seal original, a partir de la muestreada, se emplea un filtro pasa bajo, el cual deber tener una funcin de transferencia como se indica en la siguiente figura:

Fabin Garzn. Cd.: 701465. hfgarzon65@ucatolica.edu.co Laura Moreno. Cd.: 701367 ljmoreno67@ucatolica.edu.co Rafael E. Castro. Cd.: 701463. recastro63@ucatolica.edu.co. Estudiantes programa de Ingeniera Electrnica y telecomunicaciones, Universidad Catlica de Colombia.

Fig. 3 Filtro pasa bajo para recuperacin de la seal muestrada

Obsrvese que la respuesta del filtro, debe ser plana hasta una frecuencia, como mnimo, igual a fm,

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para caer posteriormente de forma brusca a cero, antes de que la frecuencia alcance el valor de fs-fm. Mediante la aplicacin del teorema del muestreo, se pueden transmitir varias seales, por un mismo canal de comunicacin. Para ello se muestrea sucesivamente varias seales s1, s2, s3,.... y las seales muestreadas se mandan por el canal de comunicacin. A este sistema se le denomina "multiplexado en el tiempo" Al otro extremo del canal habr que separar las distintas seales muestreadas para hacerlas pasar despus por el filtro paso bajo que las reconstruya.

Como nocin preliminar; es importante ver el comportamiento de los componentes al ser conectados; por eso es importante contar con un sistema de simulacin de circuitos electrnicos; para eso, usamos el simulador Proteus de Labcenter Electronics. Ubicamos los componentes que requerimos y los montamos en nuestro tablero virtual de la siguiente forma. B. SIMULACIN

Fig. 4 Multiplexacin y Demultiplexacin de seales

Fig. 6. Montaje en simulador Proteus

En la figura anterior el multiplexor y el demultiplexor se han representado mediante conmutadores rotativos sincronizados, los cuales, evidentemente no son adecuados, dada la gran frecuencia de giro fs, necesaria en este sistema. Para ello se emplean multiplexores y demultiplexores electrnicos; en este sistema de transmisin de seales es imprescindible el uso de dichos elementos, ya que permitirn el envo de diferentes seales por un solo canal. III. MATERIALES

Para hacernos una idea con respecto al montaje real, la seal de muestreo se establece con los siguientes parmetros:

Computador. Osciloscopio (virtual). Fuente de poder.

Generador de seales. Circuito Integrado MC14066 o equivalente. Otros: cables de conexin, protoboard, etc. IV. DESARROLLO

A. MONTAJE PROPUESTO.

Fig.7. Parmetros de la seal de muestreo en simulador Proteus.

Fig. 5 Diagrama del circuito.

A continuacin observamos una simulacin del sistema con su correspondiente grfica de osciloscopio.
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Fig. 10. Montaje en protoboard.

Fig.8. Resultado de la simulacin en Proteus.

Si disminuimos la frecuencia de la seal de muestreo (para este caso a 200Hz); se presentar deformacin de la seal a muestrear, ocasionando que la informacin se degrade de forma considerable.

Fig. 11. Conexin del sistema

Fig.9. Resultado de la simulacin en Proteus al modificarla frecuencia de muestreo. C. PROCEDIMIENTO EXPERIMENTAL

Utilice una seal senoidal de baja frecuencia (200 a 500hz) como seal a muestrear. Hgala pasar por un muestreador (multiplexor MC14066 o equivalente). La seal de muestreo debe ser igual al doble de la frecuencia de la seal senoidal. Observe la seal muestreada en el osciloscopio. Observe el espectro de la seal muestreada.

Fig. 12. Visualizacin en instrumento virtual.

D. MONTAJE Y DESARROLLO

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V. RESULTADOS Y ANLISIS Seal Seno de entrada: 250Hz.

Con una seal sub muestreada:

Por tanto 2*250Hz 500Hz. Seal Cuadrada muestreadora: 500Hz.

Espectro de frecuencia:

Seal obtenida a la salida:

Espectro de la seal obtenida:

De esta forma descubrimos que si la seal muestreadora se reduce a un valor inferior al propuesto para la frecuencia de muestreo; se produce malformacin de la seal de salida; lo cual conlleva prdida de informacin en un sistema de comunicaciones digitales. Cuando se incrementa el valor de la frecuencia muestreadora, la seal a la salida ser ms fidedigna y ms aproximada a la seal anloga de entrada; pero con una ventaja; ya que esta se encuentra correctamente digitalizada.

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VI. PREGUNTAS/PROBLEMAS/PROYECTOS
Qu ocurre con el espectro de la seal muestreada, al disminuir la frecuencia de la seal de muestreo por debajo de la enunciada en el teorema del muestreo? Cuando se reduce la frecuencia de la seal respectiva por debajo de la seal muestreadora, lo que sucede es que el espectro presenta una mayor cantidad de armnicos; produciendo que la seal muestreada no tendr la informacin adecuada, perdiendo fiabilidad. VII. CONCLUSIONES Se observo en el dominio de la frecuencia que una seal sobre-muestreada que cumpla la ley de muestreo mejora su definicin eliminando armnicos producidos por la seal principal. Se concluy que al aumentar a ms del doble de la frecuencia de muestreo, se puede recuperar la seal de entrada, cumpliendo con el teorema de muestreo. Y se vio que teniendo una frecuencia mucho mayor que la dicha por la ley de muestreo la resolucin de las muestras es mejor, obteniendo de esta manera una seal de salida casi idntica que la de entrada.

VIII. [1]

BIBLIOGRAFA

COUCH, Len. Sistemas de comunicaciones analgicos y Digitales. Editorial Prentice Hall.

Referencia web: http://www.alldatasheet.com/view.jsp? Searchword=74HC4066

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Espectro de la seal a frecuencias similares

Seal submuestreada

Seal con frecuencia muestreo elevada.

Espectro de la seal submuestreada

Espectro de la seal a una frecuencia de muestreo elevada

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