AVALIAO DE DEFEITOS SUPERFICIAIS TIPO ESCAMA EM BARRAS DE AO TREFILADAS

Leoneros Acosta Barbosa 1 Geraldo Andr Fagundes 2 Leila Teichmann 3 Afonso Reguly 4

Resumo Este trabalho apresenta diferentes tcnicas de caracterizao de defeitos superficiais tipo escama em barras trefiladas buscando a determinao de sua causa raiz para uma diminuio do sucateamento destes produtos. Palavras-chave: Defeitos de superfcie; Escamas; Barra trefilada.

EVALUATION OF SLIVER SURFACE DEFECTS IN COLD-DRAwN STEEL BARS

Abstract This work shows different characterization techniques used for the evaluation of sliver surface defects in colddrawn bars aiming to decrease the volume of scrap in those products. Key words: Surface defect; Slivers; Cold-drawn bars. 1 INTRODUO Escama um defeito superficial que tem o aspecto de lascas de materiais, tendo forma, distribuio e dimenses variadas. Uma caracterstica geralmente observada que o interior da escama do fio mquina apresenta-se, muitas vezes, preenchido com carepa ou substncias no metlicas. um tipo de defeito superficial, que pode ocorrer paralelamente direo de laminao, podendo surgir em ambas as faces, e em qualquer lugar ao longo da largura de barras de ao trefiladas. Segundo Madias e Reda,(1) as escamas so sobreposies de metal com extenso maior que a profundidade e consecutivamente maior que a largura. Logo, os defeitos analisados so na sua maioria rasos e extensos. As escamas podem ter diversas origens, desde a Aciaria (usualmente profundas, descarbonetadas, com presena de xidos e de oxignio), da Laminao (participao dos fornos de reaquecimento, dos passes intermedirios e at mesmo do acondicionamento dos tarugos). Pode ocorrer um tipo especial de escama com origem nas operaes de manuseio, onde descontinuidades superficiais so sobrepostas na superfcie do material formando uma escama encruada e sem a presena de xidos. A determinao da origem deste tipo de defeito no trivial sendo utilizadas diferentes tcnicas de caracterizao de forma a permitir uma concluso confivel. A anlise por microscopia ptica mostra-se ser uma tcnica pouco eficaz na determinao da causa raiz do defeito permitindo somente a diferenciao entre provveis origens. A anlise atravs de microscopia eletrnica de varredura e EDS tem demonstrado grande eficincia na determinao das origens dos defeitos observados. Este artigo aborda uma metodologia para caracterizao do defeito superficial tipo escama, sendo apresentados defeitos representativos das diferentes causas raiz observadas no processo produtivo da empresa Gerdau AEP Para as anlises realizadas . foram apresentadas as diferentes caractersticas que podem auxiliar na identificao da possvel origem do defeito. 2 METODOLOGIA A metodologia empregada para anlise consistiu em caracterizao visual dos defeitos em lupa esteroscpica, e anlises metalogrficas em microscpio ptico e em microscpio eletrnico de varredura (MEV), juntamente com anlise via microssonda acoplada ao MEV, trabalhando com as tcnicas de espectrometria de disperso de energia (EDS). As barras trefiladas rejeitadas

1 Mestre pelo Programa de Ps-graduao em Engenharia de Minas, Metalurgia e dos Materiais (PPGEM) UFRGS. Atualmente Engenheiro de Processos junto a Oerlikon Balzers Coating. 2 Assessor Tcnico de Laminao GERDAU Aos Especiais Piratini. 3 Assistente de Pesquisa e Desenvolvimento GERDAU - Aos Especiais Piratini. 4 Professor, Programa de Ps-graduao em Engenharia de Minas, Metalurgia e dos Materiais (PPGEM) UFRGS.

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durante a inspeo por correntes parasitas, foram recolhidas e levadas ao equipamento de inspeo por partculas magnticas para localizao e caracterizao visual dos defeitos. As regies das barras apresentando defeitos foram seccionadas para anlise em laboratrio. Primeiramente, uma anlise macrografica dos defeitos foi realizada em lupa esteroscpica (Zeiss Stemi SV11), com sistema de aquisio digital de imagens. Aps esta anlise foram retiradas trs amostras de cada barra contendo o defeito do tipo escama, como indicado na Figura 1. Uma amostra do defeito em seo transversal, uma amostra com seo de topo do defeito e uma amostra de regio prxima ao defeito, porm, sem indicao visual deste. Para o seccionamento das amostras foram utilizadas mquinas de disco abrasivo Buehler Abrasimatic 2 e Struers Secotom-10. As amostras em seo transversal dos defeitos foram embutidas em baquelite em uma mquina Struers LaboPress-3, sendo preparadas conforme procedimento metalogrfico padro. A caracterizao microestrutural das amostras foi realizada em um microscpio ptico Olympus BX-60M. Buscando deter-

Seo A-A Seo transversal com defeito A B C

Seo B-B Seo de topo com defeito

Seo C-C Seo transversal sem defeito

Defeito superficial tipo escama

Figura 1. Desenho esquemtico da metodologia de retirada de amostras dos defeitos presentes nas barras de ao trefiladas.

minar a causa raiz dos defeitos observados foi seguida a seqncia de anlise apresentada na Tabela 1. As micrografias realizadas em amostras sem ataque mostram as regies onde h oxidao e presena de incluses perto do defeito. J as micrografias com Nital 2%, alm de revelarem o padro microestrutural do ao analisado, delineiam a extenso de uma possvel descarbonetao bem como possveis linhas de deformao do material ou crescimento anormal de gro. O reagente Picral foi empregado para determinao do tamanho de gro. O reagente de cromato alcalino ressalta a regio onde h presena de oxignio, nitidamente as regies oxidadas, sendo que esta regio torna-se esbranquiada. J os reagentes de Oberhoffer e Stead determinam reas com segregao de fsforo e enxofre (indicando defeito oriundos do tarugo) e delineiam marcas de deformao, uma das caractersticas de defeitos tpicos de laminao. Detalhes sobre a preparao e composio destes reagentes metalograficos so apresentados na Norma ABNT NBR 8108: Ataque com Reativos Metalogrficos em Ligas Ferrosas.(2) As amostras foram ainda analisadas em um microscpio eletrnico de varredura Phillips XL - 20 para caracterizao por microssonda de regies de interesse junto aos defeitos. Para a anlise qumica com ajuda do MEV/EDS, ainda foram analisadas as amostras com seo de topo do defeito, deixando a regio do defeito intacta, apenas levantando ou retirando a aba superior do defeito tipo escama sendo ali realizada a anlise qumica.

Tabela 1. Identificao das anlises realizadas para determinao da origem do defeito tipo escama. Reagente/mtodo Partculas magnticas Lupa esteroscpica S/ Ataque (microscopia ptica) Nital (microscopia ptica) Revela Distribuio do defeito Morfologia do defeito Oxidao Presena de incluses Microestrutura Descarbonetao Linhas de deformao Segregao de Fsforo e enxofre Linhas de deformao Como identificar Defeito contnuo identifica defeito tipo dobra de laminao Permite a diferenciao entre marcas de manuseio e escamas Incluses vtreas identificam defeitos oriundos da aciaria Fuso parcial ou total no contorno de gro indica superaquecimento ou queimados que um defeito oriundo da laminao Descarbonetao pode ser oriunda da laminao ou aciaria Marcas de deformao identificam defeitos oriundos da laminao Regio no atacada pelo reagente a que apresenta segregao de P e S, problema oriundo da aciaria Marcas de deformao identificam defeitos oriundos da laminao ou aciaria Regies esbranquiadas identificam defeitos que podem ser oriundos da aciaria ou laminao Mudana de tamanho de gro: gro menor prximo ao defeito identifica defeito de aciaria (trinca de solidificao) Determinao da composio qumica e do tamanho das incluses presentes no defeito e em sua proximidade

Stead ou Oberhoffer (Microscopia ptica)

Cromato Alcalino (Microscopia ptica) Picral (Microscopia ptica) Microscopia Eletrnica - EDS

Ressalta regio com presena de oxignio Distribuio e tamanho de gro Anlise da superfcie do defeito e anlise qumica qualitativa

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3 RESULTADOS E DISCUSSO 3.1 Macro Anlise O estudo da freqncia, localizao, espaamento de um defeito a primeira tarefa necessria para estudar sua origem. Discutem-se, separadamente, as caractersticas gerais dos defeitos e a observao a olho n, com lupa esteroscpica e partculas magnticas (magnaflux) um bom recurso para se diferenciar escamas de outros tipos defeitos. 3.1.1 Anlise por partculas magnticas As macroestruturas observadas nas Figuras 2a e 2b tem como objetivo determinar a posio dos defeitos em relao barra. Pode-se ainda observar a distribuio dos defeitos ao longo da mesma diferenciando escama de dobra de laminao que um defeito contnuo. 3.1.2 Lupa esteroscpica Para observao de defeitos superficiais em tarugos no h possibilidade de se limpar previamente a superfcie do tarugo com jato de esferas ou decapagem. Logo, a observao da superfcie da barra, com carepa, s permite analisar defeitos muito grosseiros e muitas vezes no permite observar trincas transversais, porosidade superficial e muitos detalhes da superfcie que auxiliam na determinao das causas dos defeitos. Nas Figuras 2c e 2d podem ser observados os defeitos tipo escama, caracterizados por uma lasca fina de metal presa barra

em um ponto. Pode-se tambm observar que a parte externa da lasca apresenta-se brilhante, diferentemente do restante da barra, enquanto a parte interna do defeito apresenta-se rugosa com ou sem preenchimento com carepa/xidos. 3.1.3 Sem ataque qumico Na observao sem ataque, pode ficar clara a origem do defeito caso sejam observadas macroincluses associadas. A observao metalogrfica deve ser completada com anlise por EDS, para estabelecer a provvel origem da macroincluso. A Figura 3a apresenta uma imagem obtida por microscpio ptico, sem ataque qumico, de uma seco transversal da barra na regio do defeito. Pode ser observado a presena de incluses no metlicas. Esta anlise permite, tambm, a determinao da morfologia e espessura do xido observado. Uma maior espessura no xido formado pode indicar que o defeito j estaria presente antes mesmo da laminao. 3.2 Anlise por Microscopia ptica 3.2.1 Reagente Nital 2% Segundo Madias e Red,(1) o ataque com Nital permite definir bem os contornos dos gros

(a)

(b)

(c)

Figura 2. Macroanlise mostrando barras de ao ABNT 9254 a) e b) anlise com partculas magnticas, c) e d) barra analisada com lupa esteroscpica. Tecnologia em Metalurgia e Materiais, So Paulo, v.3, n.4, p. 59-64, abr.-jun. 2007 61

(d)

60 m

60 m

60 m

Figura 3. Corte em seo transversal de defeitos tipo escama observados em barras trefiladas de ao ABNT 9254. a) sem ataque onde evidencia-se a presena de xido na superfcie interna; b) ataque Nital 2 % onde observa-se a presena de xido associada a descarbonetao superficial do defeito; e c) ataque Nital 2% sendo evidenciado marcas de deformao plstica associada ao defeito.

de ferrita e obscurece a perlita. Possibilita tambm, observar a descarbonetao, o crescimento anormal de gro, a estrutura bandeada, a segregao central e as linhas de escoamento em defeitos submetidos a deformao. Nas Figuras 3b e 3c, observam-se imagens obtidas por microscpio ptico de amostras atacadas com Nital 2%. Este ataque permite a verificao da microestrutura da regio, bem como a presena de marcas de deformao sugerindo que o defeito foi ocasionado no processo de laminao. Tambm se pode observar a presena de xidos e descarbonetao na superfcie ou nas proximidades do defeito, embora estas caractersticas no indiquem a provvel origem do defeito. 3.2.2 Reagente cromato alcalino Segundo Madias e Red,(1) o cromato sdico alcalino obscurece a martensita rapidamente, a ferrita mais devagar e a regio com alto teor de oxignio no atacada, permanecendo com cor clara. Normalmente a faixa atacada fica ao redor do defeito. A magnitude da penetrao de oxignio fica revelada pela largura da faixa. A Figura 4a apresenta uma imagem de uma amostra atacada com o reagente de cromato alcalino. Observam-se regies esbranquiadas nas proximidades do defeito, indicando a penetrao de oxignio. Se a penetrao de oxignio for muito profunda nas vizinhanas do defeito pode se supor que o defeito seja oriundo do tarugo. Porm pouca penetrao ou ausncia de oxignio no significa que o defeito seja oriundo de laminao, pois o defeito pode estar presente no tarugo e aflorar no processo de laminao.

3.2.3 Reagente Stead ou Oberhoffer Os reagentes de Oberhoffer ou de Stead so utlizados para estudar fenmenos relacionados com a segregao. Estes reagentes apresentam o inconveniente de serem muito sensveis a limpeza anterior ao ataque da amostra. Quaisquer impurezas presentes na superfcie polida resultam em dificuldades na anlise. Nas Figuras 4b e 4c so apresentadas amostras atacadas com os reagentes Stead e Oberhoffer, utilizados para visualizar segregaes de fsforo e enxofre na direo do interior da barra, associada a poro subsuperficial, conforme Madias e Red.(1) Estes aspectos no so observados com Nital 2%. Pode-se observar ainda nas Figuras 4b e 4c regies mais claras, que indicam zonas ricas em fsforo ou enxofre. Com este reagente ainda pode-se observar na Figura 4b as linhas de deformao decorrentes do processo de conformao do material, indicando uma provvel origem no processo de laminao. Segundo Meyette e Eliott,(3) em geral, o fsforo e algum enxofre so segregados prximos a blowholes (bolhas de gs retidas durante etapa de solidificao). Caso os reagentes Stead ou Oberhoffer revelem segregao de fsforo prximo ou abaixo da falha, pode ser deduzido que est falha devida a blowholes introduzidos no lingotamento contnuo.

30 m

30 m

30 m

Figura 4. Corte seo transversal em barras trefiladas de ao ABNT 1045 contendo defeito tipo escama. Reagentes utilizados: a) cromato alcalino; b) Stead; e c) Oberhoffer. 62 Tecnologia em Metalurgia e Materiais, So Paulo, v.3, n.4, p. 59-64, abr.-jun. 2007

De acordo com Tsai, Sammon e Hazelton,(4) Emling e Waugaman,(5) Nakamura et al.(6) e Sidorenko e Bonilla,(7) os blowholes so originados pela variao do nvel do ao lquido no molde. Esta variao ocasionada pelo entupimento de vlvula e tubos pela alumina.(8) Portanto, a presena de blowholes indica alumina no distribuidor do lingotamento contnuo e sugere que o defeito esteja presente j a partir do tarugo. Segundo Tsai, Sammon e Hazelton,(4) os defeitos oriundos de tarugo trincado podem apresentar uma variedade de formas. Um defeito multi-linha, variando em espessura, tpico de origem de tarugos trincados. Caracterizado por gros finos e equiaxiais e xidos internos dispersos nas vizinhanas do defeito e uma microestrutura normal afastado da regio com falha. A variao do tamanho de gro de grosseiro para fino o resultado do trabalho a quente localizado. A presena de xidos nesta regio atua como ancorador dos contornos de gro impedindo seu crescimento. A carepa no removida acaba sendo reduzida pelo carbono presente no ao durante o recozimento dificultando sua observao. 3.3 Microscopia Eletrnica de Varredura e Anlise por EDS Os defeitos podem ser observados no microscpio eletrnico de varredura aps uma limpeza da amostra ou em amostras preparadas para caracterizao metalogrfica. A observao da superfcie dos defeitos bastante importante no estudo de defeitos superficiais em barras trefiladas. A caracterizao de amostras polidas, sem ataque ou com ataque, no proporciona maiores informaes que as obtidas pela anlise no microscpio ptico. Segundo Ray, Dhua e Jha,(9) o mais importante a possibilidade de realizar anlise em microsonda EDS, para assegurar a identificao dos constituintes da carepa, sulfetos e xidos, e ter um conjunto interessante de estudo onde a anlise qumica pontual

fornece informao til para definir a origem de diversos defeitos. Nas Figuras 5a e 5b so apresentadas imagens obtidas atravs de microscopia eletrnica de varredura, sendo na Figura 5a uma imagem da seco transversal da barra na regio do defeito, e na Figura 5b a imagem na superfcie da barra, apresentando o defeito. O microscpio eletrnico de varredura permite uma excelente visualizao da topografia dos defeitos, apresentando alta resoluo e grande profundidade de foco. Alm disto, analisando-se as amostras sem recobrimento com ouro ou carbono, evidencia-se a presena de incluses vtreas devido s suas caractersticas de condutividade eltrica. Estas incluses so visualizadas como pontos brancos e brilhantes, como observados nas Figuras 5a e 5b. Acoplado ao microscpio eletrnico de varredura o espectrmetro de disperso de energia -EDS, permite uma anlise qumica pontual qualitativa e/ou semi-quantitativa atravs do espectro de raios X emitidos pelos elementos qumicos presentes em uma determinada rea ou ponto da amostra. Com isto, consegue-se determinar a composio de incluses presentes nas amostras. As Figura 5c e 5d apresentam espectros de disperso de energia obtidos atravs da microsonda EDS, das incluses presentes nas amostras. Observa-se a presena dos picos de emisso de vrios elementos, notadamente de clcio, alumnio e oxignio, sugerindo que estes defeitos

100 m

200 m

(a)
Label A: SiKa CaKa O Ka AlKa CKa MgKa BKa CaKb FeKb SiKa OKa FeLb FeLa AlKb AlKa NaKa Untitled: 3 Label A:

(b)
Untitled: 2

FeKa CaKa ClKa KKb SKb SKa K Ka CaKb

FeKb

0,70 1,40 2,10 2,80 3,50 4,20 4,90 5,60 6,30 7,00

1,00 1,70 2,40 3,10 3,80 4,50 5,20 5,90 6,60 7,30

(c)
Figura 5. Anlise por microscopia de varredura na regio com o defeito juntamente com seu EDS. Tecnologia em Metalurgia e Materiais, So Paulo, v.3, n.4, p. 59-64, abr.-jun. 2007

(d)
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so oriundos da aciaria j estando presentes no tarugo.(10,11) Atravs da anlise qumica, via EDS, das incluses presentes prximos ou no interior do defeito pode-se sugerir qual etapa do processo produtivo de obteno do tarugo foi determinante para a ocorrncia do defeito. 4 CONCLUSES A determinao da origem de defeitos tipo escama em amostras de barras de ao trefiladas pode ser realizada, utilizando-se diferentes ataques metalogrficos, seguida de anlise em microscopia ptica e microscopia eletrnica de varredura e EDS. A inspeo visual e macrografias via partculas magnticas permitem a caracterizao da distribuio dos defeitos na barra. A anlise por tcnicas de microscopia ptica com diferentes reagentes permite uma diferenciao entre as provveis causas

dos defeitos sendo, no entanto, pouco eficaz na determinao da causa raiz do defeito. A anlise por microscopia eletrnica de varredura juntamente com a microanlise por EDS mostrou grande eficincia na determinao das origens dos defeitos observados. Agradecimentos Os agradecimentos vo ao CNPq Conselho Nacional Cientfico e Tecnolgico pelo apoio financeiro e ao tcnico em metalurgia Jair Leopoldo Janoski - Gerdau - Aos Especiais Piratini pela gentileza de ceder as micrografias e macrografias para confeco deste artigo.

REFERNCIAS 1 MADIAS, J.; REDA, L. Defeitos em produtos longos de aos ao carbono e baixa liga. Buenos Aires: Instituto Argentino de Siderurgia, 2004. 2 ASSOCIAO BRASILEIRA DE NORMAS TCNICAS. ABNT NBR 8108: ataque com reativos metalogrficos em ligas ferrosas. Rio de Janeiro, 1983. 3 MEYETTE, C.L.; ELIOTT, V.E. A method for determining the origin of surface defects in rolled steel products. Transactions of the AIME, v. 176, p. 201-18, 1948. 4 TSAI, H.T.; SAMMON, W.J.; HAZELTON, D.E. Characterization and countermeasures for sliver defects in cold rolled products. In: STEELMAKING CONFERENCE, 73, 1990, Detroit. Proceedings... Warrendale: Iron & Steel Society, 1990. p. 49-59. 5 EMLING, Z.H.; WAUGAMAN, T.A. Subsurface mold slag entrainment in ultra low carbon steel. In: STEELMAKING CONFERENCE, 77, 1994, Chicago. Proceedings... Warrendale: Iron & Steel Society, 1994. p. 371-379. 6 NAKAMURA, H.; KOHIRA, S.; KUBOTA, J.; KONDO, T.; SUZUKI, M.; SHIRATANI, Y. Technology for production of high quality slab at high speed casting. In: STEELMAKING CONFERENCE, 75, 1992, Toronto. Proceedings... Warrendale: Iron & Steel Society, 1992. p. 409-415. 7 SIDORENKO, D.; BONILLA, C. Quality evaluation of billet surface at ivaco rolling mills. Iron and Steelmaker, v. 25, n. 4, p. 35-9, Apr. 1998. 8 CHAKRABORTY, S; HILL, W. Reduction of alumina sliver at great lakes no. 2 CC. In: STEELMAKING CONFERENCE, 77, 1994, Chicago. Proceedings... Warrendale: Iron & Steel Society, 1994. p. 389-95. 9 RAY, S.K.; DHUA, S.J. Electron-probe microanalysis: some applications in the assessment of steel product quality. X-Ray Spectrometry, v. 28, n. 1, p.41-50, Jan.-Feb. 1999. 10 HERRERA, G.; SANTOS, R. Improvement in surface quality and internal cleanliness of thin-slab casting at HYLSA. Iron & Steel Technology, v. 2, n. 9, p.34-40, Sept. 2005. 11 BOMMARAJU, R.; JACKSON, T; LUCAS, J.; SKOCZYLAS, G. Design, development and applications of mold powder to reduce sliver. Iron and Steelmaker, v. 19, n. 4, p. 21-27, Apr. 1992. Recebido em: 13/02/07 Aceito em: 13/08/07 Proveniente de: SEMINRIO DE LAMINAO PROCESSOS E PRODUTOS LAMINADOS E REVESTIDOS, 43., 2006, Curitiba. So Paulo: ABM, 2006.

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