MIKROSKOP GAYA ATOM

Gambar 1. Prinsip kerja mikroskop gaya atom Mikroskop gaya atom (Atomic force microscope, AFM) adalah jenis mikroskop dengan resolusi tinggi yang mana resolusinya mencapai seperbilangan nanometer (1000 kali lebih kuat dari batas difraksi optik). Mikoskop gaya atom dikembangkan oleh Gerd Binnig dan Heinrich Rohrer pada awal tahun 1980 di pusat penelitian IBM - Zurich. Binnig, Quate dan Gerber kemudian menciptakan mikroskop gaya atom pertama di dunia pada tahun 1986. Mikroskop gaya atom merupakan salah satu alat untuk penggambaran, pengukuran, dan manipulasi materi pada skala nano. Informasi ini didapatkan dengan "meraba" permukaan dengan menggunakan sebuah alat pemeriksa mekanik. Elemen piezoelektrik yang memfasilitasi perintah elektronik gerak dengan sangat akurat dan tepat membuatnya dapat memindai dengan presisi tinggi. Dalam beberapa varian mikroskop, arus listrik juga dapat dialirkan ke ujung pemindai untuk menyelidiki konduktivitas listrik permukaan, namun ini sangat sulit dilakukan dan hanya ada sedikit data laporan yang dapat diandalkan. Mikroskop gaya atom terdiri dari sebuah penopang (cantilever) dengan ujung yang tajam sebagai alat pemeriksa (probe) yang digunakan untuk memindai permukaan spesimen. Penopang ini biasanya terbuat dari silikon dengan radius kelengkungan ujung mencapai bilangan nanometer. Ketika ujungnya dibawa mendekati permukaan sampel, gaya antara ujung tajam pemindai dengan permukaan sampel

menyebabkan pelengkungan penopang sesuai dengan hukum Hooke. Tergantung pada situasinya, gaya yang diukur AFM meliputi gaya kontak mekanik, gaya van der Waals, gaya kapiler, ikatan kimia, gaya elektrostatik, gaya magnet, gaya Casimir, gaya pelarutan, dll. Prinsip dasar Mikroskop gaya atom memanfaatkan gaya tarik-menarik dan tolak-menolak yang bekerja antara cantilever dan permukaan sampel pada jarak beberapa nanometer. Saat jarak cantilever dan sampel menjauh gaya tarik menarik terjadi, sedangkan saat jarak cantilever dan sampel mendekat gaya tolak menolak terjadi. Cantilever bekerja meraba-raba (melakukan scanning) terhadap permukaan sampel dengan jarak antara ujung cantilever (tip) dengan permukaan sampel sambil menjaga jarak antara cantilever dengan permukaan sampel tetap sama. Gaya tarik menarik dan tolak menolak yang terjadi di antaranya menyebabkan perubahan posisi cantilever. Perubahan posisi cantilever selama meraba-raba permukaan sampel ditangkap dengan laser dan menyebabkan perubahan pantulan laser pada photodiode. Perubahan posisi tangkapan laser pada photodiode ini diolah dengan rangkaian elektronik dan computer untuk kemudian diwujudkan dalam wujud data gambar 3 dimensi pada layar monitor. Selama proses perabaan (scanning), pengaturan jarak antara cantilever, permukaan sampel dan juga pergerakan sampel diatur secara simultan dan sinergis. Dengan memanfaatkan gaya ini berbagai macam sampel dapat diamati tidak terbatas hanya pada benda yang bisa menghantarkan listrik saja. Mikroskop gaya atom juga bisa bekerja pada suhu ruangan dan tekanan udara biasa. Hal ini menyebabkan sampel organic pun bisa diamati dengan mikroskop gaya atom. Untuk meningkatkan kemampuan mikroskop gaya atom, diameter ujung tip yang sangat kecil sangat diperlukan dan frekuensi resonansi cantilever yang tinggi, agar sensitifitas terhadap perubahan posisi cantilever dan mikroskop gaya atom bisa bekerja dengan lebih cepat.

Gambar 2. Cantilever

Ada beberapa macam metode kerja mikroskop gaya atom di antaranya : 1. Metode Sentuh Pada metode sentuh, cantilever disentuhkan ke dalam permukaan sampel. Saat scanning dilakukan, perubahan posisi cantilever akibat gaya tolak menolak antara cantilever dan permukaan sampel diolah dan diwujudkan dalam data gambar 3 dimensi permukaan sampel.

Gambar 3. Metode sentuh 2. Metode Tak sentuh Pada metode tak sentuh, gaya yang bekerja antara cantilever dan permukaan benda diatur agar tidak berubah. Pada awalnya cantilever digetarkan pada frekuensi resonansinya. Saat scanning dilakukan, perubahan tekstur atau jarak antara cantilever dan permukaan benda menyebabkan terjadinya gaya antara keduanya yang merubah frekuensi resonansinya. Gaya tarik menyebabkan frekuensi resonansi turun. Gaya tolak menyebabkan frekuensi resonansi naik.

Gambar 4. Metode tak sentuh

DAFTAR PUSTAKA

Wikipedia. Mikroskop Gaya Atom diakses dari http://id.wikipedia.org/wiki/Mikroskop_gaya_atom pada Rabu, 7 November 2012 pukul 18.30 WIB di Yogyakarta. -. 2011. Berkenalan dengan SPM (Scanning Probe Microscope) dan AFM (Atomic Force Microscope) diakses dari http://stunecity.wordpress.com/2011/02/04/berkenalan-dengan-spm-scanning-probe microscope-afm-atomic-force- microscope/ pada Senin, 12 November 2012 pukul 16.30 WIB.