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Microscopio de Fuerza Atmica, AFM

Una Breve Descripcin de su Proceso de Operacin

Jos Alberto Salazar Jimnez Carnet Estudiantil, 200963451 E-mail, jasj.1991@gmail.com

Resumen
El Microscopio de Fuerza Atmica (AFM, por sus iniciales en ingls) funciona para la caracterizacin superficial de muestras, mediante la interaccin de la punta de barrido del microscopio con los tomos en la superficie de la muestra que se analiza, por fuerzas de van der Waals. El AFM posee muchas ventajas con respecto a otros microscopios, siendo tal vez las ms importantes, la mnima preparacin que requieren las muestras y la capacidad de analizar cualquier tipo de muestra, ya sea conductora o no.

Abstract
The Atomic Force Microscope is used to the surface characterization of samples, through the van der Waals forces interaction between the tip of the microscope and the surface atoms of these samples. AFM has several advantages in comparison with others microscopes, being the most important, the minimum preparation required for the samples, and the capacity to analyze any kind of sample, either conductive or non-conductive.

Palabras Clave
Microscopa de Fuerza Atmica Caracterizacin de la superficie Fuerzas de van der Waals.

Key Words
Atomic Force Microscopy Surface characterization Van der Waals forces

1. Introduccin
1.1. Antecedentes histricos En 1981, el fsico alemn Gerd Binning y el fsico suizo Heinrich Rohner, trabajando para IBM, inventaron el antecesor del microscopio de fuerza atmica (AFM, por sus iniciales en ingls) , el microscopio de barrido tnel (STM, por sus iniciales en ingls), por el cual recibieron el premio nobel en fsica en 1986 [1]. El primer AFM fue desarrollado en 1986 por Binning, el fsico suizo Christoph Gerber y el ingeniero elctrico estadounidense Calvin Quote; el cual puede ser utilizado paro todo tipo de muestras debido a que funciona mediante las fuerzas acumulativas entre los tomos de la punta de barrido del microscopio y la superficie de la muestra [2], siendo esta la mayor ventaja sobre el STM. La figura 1 muestra el esquema bsico de un AFM, la figura fue tomada de la referencia [2]; en donde, 1 es un lser, 2 es un espejo, 3

es un fotodetector (fotodiodo), 4 es un amplificador de la seal, 5 es un dispositivo que registra las seales obtenidas, 6 es la muestra que se analiza, 7 es la sonda de barrido (punta) y 8 es el cantilver que sostiene la punta de barrido. Las puntas de barrido se fabricacin mediante procesos de microfabricacin, las cuales poseen dimetros de curvatura (de contacto) de algunos nanmetros. Estas junto con el cantilver se producen principalmente a partir de silicio o de nitruro de silicio (Si3N4) [2]. La figura 2 muestra una imagen de una punta de barrido tomada con un SEM.
1.2. Funcionamiento del AFM y modos de operacin

El funcionamiento del AFM sencillamente consiste en barrer las muestras con la sonda de barrido del cantilver, la cual interacta mediante fuerzas de van der Waals (del orden de 10-9 N) con los tomos de la superficie de la muestra; provocando la deflexin del cantilver, y por consiguiente cambiando el ngulo de reflexin del haz de

Figura 1. Esquema del AFM 2

Figura 2. Imagen SEM de una punta de Silicio

luz incidente, cuya variacin es medido por el fotodetector y es interpretada por el software de la computadora [2]. El AFM posee un sistema de piezoelctricos que regulan la altura de la sonda de barrido y la fuerza con la que esta interacta. La configuracin de estos, principalmente,

amplitud de la oscilacin se reduce con el contacto con la muestra debido a la prdida de energa. Su mayor ventaja es que no se ve afectado por problemas asociados con friccin, adhesin y fuerzas electrostticas; adems de que puede operar para grandes reas de escaneo.
1.3. Problemas frecuente durante el uso del AFM Al utilizar y procesar la informacin que se obtiene del AFM se puede inducir ruido a las imgenes que se toman. Dependiendo del tipo de fuente de ruido, estos se clasifican en [4],

determinar los modos de operacin del dispositivo, en funcin de la informacin que se desea obtener de la muestra que se analiza [3]; los modos ms importantes,

representados en la figura 3, son, Modo de contacto (contact mode), que mide la fuerza de repulsin entre la sonda de barrido y la muestra, al mantener la fuerza constante de la sonda constante. Modo de no contacto (non-contact mode), que mide las fuerza de atraccin entre la sonda de barrido y la muestra; y no tiene contacto directo entre ellas; por lo que se utiliza principalmente en muestras blandas para no alterar su superficie. Modo intermitente (tapping mode), en el que la sonda de barrido oscila

Ruido por la sonda de barrido (Probe artifacts), que debido al tamao de esta pueden omitirse ciertas caractersticas de la muestra, como por ejemplo, orificios Ruido por el barrido de la muestra(Scanning artifacts), por ejemplo, el ngulo y la velocidad de barrido pueden provocar que se omitan caractersticas al reducir el contraste de la informacin. Ruido por el procesamiento de la imagen (Image processing artifacts), donde mediante el software del equipo se puede cambiar la calidad de la imagen, y tambin se puede editar la misma, resaltando u opacando algunas caractersticas que se presenten.

verticalmente con frecuencias entre 50 000 y 500 000 ciclos por segundo. La

Figura 3. Modos de operacin del AFM 3

Tabla 1. Ventajas del AFM sobre otros microscopios

Ruido por vibraciones (Artifacts induced by vibrations), donde la vibraciones inducidas en el equipo debido al sonido y a la superficie donde se encuentra este colocado, afectan en la calidad de la imagen, reducindola. 1.4. Comparacin con otros microscopios

biolgicas; se debe de tratar de utilizar un sustrato con la menor rugosidad posible para no inferir errores en el anlisis. Los sustratos ms utilizados son lo que perteneces a la familia de la mica, como lo es la moscovita; ya que presentan una rugosidad muy baja. 2.2. Uso del equipo Los pasos para la utilizacin del AFM son los siguientes, 2.2.1. Primero de debe colocar la muestra en el portamuestras del equipo. 2.2.2. Luego se debe de acercar la punta de barrido y el cantilver a la muestra mediante los controles manuales en los ejes x, y y z. Este paso de tiene que efectuar de forma muy cuidadosa para no daar la punta al impactar con la muestra. El equipo posee una cmara que permite observar el movimiento de la punta junto con el cantilver. Cuando

La tabla siguiente muestra las ventajas del AFM con otros mtodos de microscopia [5].

2. Materiales y mtodo
2.1. Preparacin de la muestra Una de las grandes ventajas del AFM es mnima preparacin que requiere la muestra, en comparacin con otros tipos de

microscopios, como los electrnicos. La gran mayora de muestras no necesitan ser colocadas en un sustrato; nada ms deben limpiarse con acetona o alcohol etlico para eliminar la suciedad que presenten las mismas. Para el caso de muestras que necesiten ser colocadas sobre un sustrato, como las muestras polimricas o tambin las
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la punta esta lo suficientemente cerca de la muestra como para proyectar su sombra, lo siguiente es acercarla

mediante el software de movimiento que trae el dispositivo; presionando la opcin de retract. 2.2.3. Finalmente se selecciona la opcin advance del software, para que la punta toque la muestra; y se selecciona la opcin de start, la cual inicia el escaneo sobre la muestra. 2.2.4. En la pantalla del software se observan las imgenes y resultados que se obtienen del barrido de la punta sobre la muestra. Donde se pueden escoger diferentes opciones de imgenes, como por ejemplo en 2 o 3 dimensiones. 2.2.5. Para retirar la punta y la muestra, se deben de seguir los mismos pasos anteriores de forma inversa. la referencia [6], en la cual utilizaron un AFM marca Nanoscope IIIa de Digital Instruments en el modo intermitente (Tapping mode) con
Figura 4. Imagen AFM perpendicular al sustrato (phase mode) de SiO2, donde se dispersaron Nanotubos de carbono mediante spin coating. Tomada de la referencia [6]

3. Resultados y discusin
La siguientes figuras muestran dos imgenes tomadas mediante AFM de la dispersin de nanotubos de carbono multicapa sobre un sustrato de vidrio (SiO2) mediante la tcnica de spin coating. Estas imgenes pertenecen a

una punta de silicio. En la figura 4, se puede ver como la purificacin de los nanotubos, que segn la referencia, no fue eficiente debido a que estos presentan variedad en dimensiones. Se

Figura 5. Imagen AFM en 3D (topography mode) de un nanotubo de carbono sobre el sustrato de SiO2. Tomada de la referencia [6] 5

determin que el dimetro de la capa externa de los nanotubos de carbono, la cual se puede ver un ejemplo de estos en la figura 5, se encuentra entre 18 y 40 nm.

Nanotechnology. Consultado el 16 de Octubre de 2012.

http://os.tnw.utwente.nl/otonly/afm%20art ifacts.pdf [5] Wilson R. A. and Bullen H. A. (2006) Basic Theory Atomic Force Microscopy (AFM). Consultado el 21 de Octubre de 2012. http://asdlib.org/onlineArticles/ecoursewa re/Bullen/SPMModule_BasicTheoryAFM .pdf [6] Zdrojek M., et al. (2004) Studies of multiwall carbon nanotubes using Raman spectroscopy and atomic force

4. Conclusiones
El AFM proporciona informacin topogrfica de las muestras que se analiza; la cual presenta muchas ventajas sobre otros mtodos de microscopia como; la preparacin de la muestra no requiere mtodos costosos,

tambin de que funciona para todos tipos de muestras. Debido a sus ventajas, este se convierte en una herramienta que no puede faltar en la mayora de trabajos de investigacin.

microscopy. Solid State Phenomena, Vol 99 (14).

Referencias
[1] Blanchard C. R. (1996) Atomic Force Microscopy.Springer-Verlag, Vol 1 (18). [2] Giessibl F. J. and Quate C. F. (2006) Exploring the nanoworld with atomic force microscopy. Physics Today, Vol 12. (45 - 50). [3] Open Course Ware UC3M. Microscopa de efecto tnel y Microscopa de Fuerza Atmica. Consultado el 21 de Octubre de 2012. http://ocw.uc3m.es/ciencia-e-

oin/microscopia-de-fuerza-atomica/otrosrecursos-1/Apuntes_STM_y_AFM_00.pdf [4] West P. and Starostina N. A Guide to AFM Image Artifacts. Pacific
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