CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO

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H. Hernndez / P. Reyes Sept. 2007

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CONTENIDO
1. Introduccin
a. Definiciones bsicas b. Objetivos c. Partes fuera de especificaciones d. Variacin a corto y a largo plazo

2. Clculo de la capacidad del proceso

a. Condiciones y frmulas para el estudio de capacidad b. Capacidad a partir de histogramas c. Capacidad a partir de papel de probabilidad normal d. Otros ndices de capacidad del proceso

3. Clculo del desempeo de los proceso 4. Capacidad y desempeo de procesos con Minitab 5. Capacidad de procesos no normales 6. Capacidad de procesos por atributos

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1. Introduccin
Al planear los aspectos de calidad de la manufactura, es sumamente importante asegurarse de antemano de que el proceso ser capaz de mantener las tolerancias. En las dcadas recientes ha surgido el concepto de capacidad del proceso habilidad del proceso, que proporciona una prediccin cuantitativa de qu tan adecuado es un proceso. La habilidad del proceso es la variacin medida, inherente del producto que se obtiene en ese proceso.

1 a. Definiciones bsicas.
Proceso: ste se refiere a alguna combinacin nica de mquinas, herramientas, mtodos, materiales y personas involucradas en la produccin. Capacidad o habilidad: Esta palabra se usa en el sentido de aptitud, basada en el desempeo probado, para lograr resultados que se puedan medir. Capacidad del proceso: Es la aptitud del proceso para producir productos dentro de los lmites de especificaciones de calidad. Capacidad medida: Esto se refiere al hecho de que la capacidad del proceso se cuantifica a partir de datos que, a su vez, son el resultado de la medicin del trabajo realizado por el proceso. Capacidad inherente: Se refiere a la uniformidad del producto que resulta de un proceso que se encuentra en estado de control estadstico, es decir, en ausencia de causas especiales o atribuibles de variacin. Variabilidad natural: Los productos fabricados nunca son idnticos sino que presentan cierta variabilidad, cuando el proceso est bajo Pgina 3 de 32

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control, solo actan las causas comunes de variacin en las caractersticas de calidad. Valor Nominal: Las caractersticas de calidad tienen un valor ideal ptimo que es el que desearamos que tuvieran todas las unidades fabricadas pero que no se obtiene, aunque todo funcione correctamente, debido a la existencia de la variabilidad natural.

1b. Objetivos1
1. Predecir en que grado el proceso cumple especificaciones. 2. Apoyar a diseadores de producto o proceso en sus modificaciones. 3. Especificar requerimientos de desempeo para el equipo nuevo. 4. Seleccionar proveedores. 5. Reducir la variabilidad en el proceso de manufactura. 6. Planear la secuencia de produccin cuando hay un efecto interactivo de los procesos en las tolerancias.

p = porcentaje de medidas bajo la curva de probabilidad fuera de especificaciones.

Douglas C. Montgomery, Introduction to Statistical Quality Control, Second Edition, pp 307

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1c. Partes fuera de especificaciones En el rea sombrada observamos medidas fuera de los lmites de especificacin.

Para solucionar este problema, podemos reducir la desviacin estndar.

Tambin podramos cambiar la media.

Lo ideal sera, por supuesto cambiar ambas.

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1d. Variacin a corto plazo y a largo plazo

Existen dos maneras de expresar la variabilidad:

Variacin a corto plazo (Zst) Los datos son colectados durante un periodo de tiempo suficientemente corto para que sea improbable que haya cambios y otras causas especiales. Las familias de variacin han sido restringidas de tal manera que los datos considerados, slo son los que se obtuvieron del subgrupo racional. Ayuda a determinar subgrupos racionales importantes.

Variacin a Largo Plazo(Zlt) periodo de tiempo

Los datos son largo

colectados durante un y en condiciones

suficientemente

suficientemente diversas para que sea probable que incluya todos los cambios de proceso y otras causas especiales. Aqu todas las familias de variacin general. exhiben su contribucin en la variacin del proceso

En el caso del corto plazo: Pgina 6 de 32

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Para el clculo de Z utilizamos las siguientes formulas:

Z st =

( lmite especif . nom.)

desv.std ST

Z LT =

lmite especif . media desv.std LT

dnde: Zst = variacin a corto plazo. nom = Valor nominal u objetivo Zlt = variacin a largo plazo. Z shift.- A largo plazo los procesos tienen un desplazamiento natural de 1.5 desviaciones estndar, de acuerdo a lo observado por Motorota Inc. Zlt = Zst-1.5shift

2. Clculo de la capacidad del proceso

Antes de calcular la capacidad del proceso, el proceso debe estar en control estadstico. 2a. Condiciones y frmulas para el estudio de capacidad del proceso Para realizar un estudio de capacidad es necesario que se cumplan los siguientes supuestos2:
2

J.M. Juran, Anlisis y planeacin de la Calidad, Tercera Edicin Mc. Graw Hill, Pp.404

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El proceso se encuentre bajo control estadstico, es decir sin la influencia de fuerzas externas o cambios repentinos. Si el proceso est fuera de control la media y/o la desviacin estndar del proceso no son estables y, en consecuencia, su variabilidad ser mayor que la natural y la capacidad potencial estar infravalorada, en este caso no es conveniente hacer un estudio de capacidad.

Se recolectan suficientes datos durante el estudio de habilidad para minimizar el error de muestreo para los ndices de habilidad. Si los datos se componen de menos de 100 valores, entonces deben calcularse los lmites de confianza inferiores.

Los datos se recolectan durante un periodo suficientemente largo para asegurar que las condiciones del proceso presentes durante el estudio sean representativos de las condiciones actuales y futuras. En el caso de la industria automotriz se especifican 300 partes mnimo.

El parmetro analizado en el estudio sigue una distribucin de probabilidad normal, de otra manera, los porcentajes de los productos asociados con los ndices de capacidad son incorrectos y solo se podrn determinar los ndices de desempeo del proceso, que no toma en cuenta si el proceso est en control o no.

Tambin es importante al realizar un estudio de capacidad, asegurarnos que la variacin en el sistema de medicin no sea mayor al 10%. Para calcular la habilidad o capacidad potencial, primero se determina la desviacin estndar estimada de la poblacin como sigue: R d2

ST =
Cp =

( LSE LIE )
6 ST

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donde: Cp = capacidad potencial LSE = lmite superior de especificaciones LIE = lmite inferior de especificaciones

ST

= desviacin estndar a corto plazo

El ndice Cp debe ser 1.33 para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE, LSE) Los valores Z se determinan como sigue: ZI = ZS = LIE X ST LSE X ST

Para calcular la ha bilidad o capacidad real utilizamos la siguiente frmula:

C pk =

menor Z I , Z S 3

Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Cpk= debe de ser 1.33 .

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2b. Capacidad a partir de histogramas Procedimiento: 1. Seleccionar un proceso especfico para realizar el estudio 2. Seleccionar las condiciones de operacin del proceso 3. Seleccionar un operador entrenado 4. El sistema de medicin debe tener habilidad (error R&R < 10%) 5. Cuidadosamente recolectar la informacin 6. Construir un histograma de frecuencia con los datos 7. Calcular la media y desviacin estndar del proceso 8. Calcular la capacidad del proceso.

Ejemplo 1: Tenemos la siguiente serie de datos:

265 197 346 280 265 200 221 265 261 278 215 205 286 317 242 254 235 176 262 248 250 318 263 274 242 260 281 246 248 271 260 265 271 307 243 258 321 294 328 263 245 274 270 293 220 231 276 228 223 296 231 301 337 298 277 268 267 300 250 260 276 334 280 250 257 290 260 281 208 299 308 264 280 274 278 210 283 234 265 187 258 235 269 265 253 254 280 258 299 214 264 267 283 235 272 287 274 269 275

Agrupando los datos por intervalos de clase obtenemos los datos mostrados en la siguiente tabla:
Intervalo de clase 190-209 210-229 230-249 250-269 270-289 290-309 310-329 330-349 Marca de Frecuencia clase 199.5 6 219.5 7 239.5 13 259.5 32 279.5 24 299.5 11 319.5 4 339.5 3 Frecuencia relativa 0.06 0.07 0.13 0.32 0.24 0.11 0.04 0.03 Frecuencia acumulada 0.06 0.13 0.26 0.58 0.82 0.93 0.97 1

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El histograma es el siguiente:
Hi stogr am of Datos
40

30 Fr equency

20

10

160

190

210

230

260 Dat os

290

310

330

360

Observamos que el histograma tiene forma normal. Calculando la media y la desviacin estndar tenemos:
Descriptive Statistics: Datos
Variable Datos N 99 N* 0 Mean 264.19 SE Mean 3.23 StDev 32.15 Minimum 176.00 Q1 248.00 Median 265.00 Q3 280.00

X = 264.19
S = 32.15 La variabilidad del proceso se encuentra en 6 s = 192.90 Si las especificaciones fueran LIE = 200 y LSE = 330

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Cp =

( LSE LIE )
6S

( 330 200)
192.90

= .674 < 1.33, el proceso no es hbil.

Zi =

( 330 264.19) = 2.046

32.15

Zs =

( 200 264.19) = 1.996

32.15

C pk =

menor Z I , Z S 3

2 = 0.66 3

Cpk = menor 1.33, por lo tanto el proceso no cumple especificaciones.

2c. Capacidad a partir de papel normal

Ventajas

1. Se puede observar el comportamiento del proceso sin tomar tantos datos como en el histograma, 10 son suficientes 2. El proceso es ms sencillo ya que no hay que dividir el rango de la variable en intervalos de clase como en el histograma. 3. Visualmente se puede observar la normalidad de los datos, si se apegan a la lnea de ajuste

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4. Permite identificar la media y la desviacin estndar aproximada del proceso. As como la fraccin defectiva, el porcentaje de datos entre cierto rango, el Cp y el Cpk. Procedimiento 1. Se toman al menos n = 10 datos y se ordenan en forma ascendente, asignndoles una posicin ( j ) entre 1 y n. 2. Se calcula la probabilidad de cada posicin con la frmula siguiente: Pj = (j - 0.5) / n 3. En el papel especial normal se grafica cada punto (Xj, Pj) 4. Se ajusta una lnea recta que mejor aproxime los puntos 5. Si no hay desviaciones mayores de la lnea recta, se considera normal el proceso y se procede a hacer las identificaciones: La media ser el punto en X correspondiente a Pj = 0.5 La desviacin estndar es la diferencia en Xj correspondiente a Pj = 0.5 y Pj = 0.84 Ejemplo 2 . Se tomaron los datos siguientes (Xj) ordenamos los datos y, clculamos la probabilidad de su posicin (Pj)
Pos. J 1 2 3 4 5 6 7 Xj 197 200 215 221 231 242 245 Pj 0.025 0.075 0.125 0.175 0.225 0.275 0.325

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8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20

258 265 265 271 275 277 278 280 283 290 301 318 346

0.375 0.425 0.475 0.525 0.575 0.625 0.675 0.725 0.775 0.825 0.875 0.925 0.975

Con ayuda del grfico podemos obtener la media, la desviacin estndar y el porcentaje de valores que se encuentran fuera de especificaciones. El trazo normal es el siguiente: El eje Y es un rango no lineal de probabilidades normales. El eje X es un rango lineal de la variable que se est analizando. Si los datos son normales, la frecuencia de ocurrencias en varios valores Xi, puede predecirse usando una lnea slida 225 o inferiores. como modelo. Por ejemplo, slo ms del 20% de los datos del proceso seran valores de

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P robabi l i ty P l ot of Xj
Normal - 95% CI
99 Mean StDev N AD P-Value 262.9 38.13 20 0.262 0.667

95 90 80 70

Per cent

60 50 40 30 20 10 5

150

200

250 Xj

300

350

400

Pj
0 4 .8

0.5 Desv. Estndar Fraccin Defectiva

LIE

XM edia

X j

2d. Capacidad a partir de cartas de control

En casos especiales como estos donde las variaciones presentes son ? totalmente inesperadas tenemos un proceso?inestable ? impredecible.
? ? ? ?

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Si las variaciones presentes son iguales, se dice que se tiene un proceso estable. La distribucin ser predecible en el tiempo.

Prediccin

Tiem po

Clculo de la desviacin estndar del proceso

R S = (Para cartas de control X-R y X-S respectivamente) d2 C4

Donde, S = Desviacin estndar de la poblacin Pgina 16 de 32

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d2 = Factor que depende del tamao del subgrupo en la carta de control X-R C4 = dem al anterior para una carta X - S Al final del texto se muestran las constantes utilizadas para las cartas de control. En una carta por individuales, d2 se toma para n = 2 y Rango Medio = Suma rangos / (n -1)

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Ejemplo 3 (carta X - R) De una carta de control X - R (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes:

= 64.06 ,

R = 77.3

Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:

= x ( media de medias)
=
R 77.3 = = 33.23 d 2 2.326

Si el lmite de especificacin es: LIE = 200.

El C pk =

( 200 264.06)
3 33.23

0.64 por tanto el proceso no cumple con las

especificaciones. Ejemplo 4 (carta X - S) De una carta de control X - S (con subgrupo n = 5) se obtuvo lo siguiente, despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes:

x = 100, s = 1.05

Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene:

= x = 100

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s 1.05 = 1.117 = C4 .094

C4 para n = 5 tiene el valor 0.94 Si el lmite de especificacin es: LIE = 85 y el LSE = 105.

El C pk =

(105 100) = 1.492

3 1.117

El C p =

(105 85) = 2.984

6 1.117

Por lo tanto el proceso es capaz de cumplir con especificaciones. Ejemplo 5: De una carta de control X - R (con subgrupos de n = 5), despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes, se obtuvo lo siguiente: Xmedia de medias = 264.06 Rmedio = 77.3

Por tanto estimando los parmetros del proceso se tiene: = X media de medias = Rmedio / d2 =77.3 / 2.326 = 33.23 [ d2 para n = 5 tiene el valor 2.326] Si el lmite de especificacin es: LIE = 200. El Cpk = (200 - 264.06) / (77.3) (3) = 0.64 por tanto el proceso no cumple con las especificaciones

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2d. Otros ndices de capacidad del proceso INDICE DE CAPACIDAD Cpm Es un indicador de capacidad potencial que toma en cuenta el centrado del proceso: Si V = X T Cp 1+V 2 = donde T es el centro de las especificaciones. LSE LIE 6 2 + ( T ) 2

C pm =

Cuando T es igual a X media del proceso, Cpm = Cp = Cpk INDICE DE CAPACIDAD Cpkm Es un indicador de capacidad real que toma en cuenta el centrado del proceso: Si T es el centro de las especificaciones. C pkm = Cpk T 1+
2

Cuando T es igual a X media del proceso, Cpkm = Cpk

3. Clculo del desempeo de los procesos

Para determinar el Cp y Cpk se requiere que el proceso est en control estadstico, ya que la desviacin estndar de la poblacin se estima con Rango medio / d2 (constante que solo es vlida cuando el proceso est en control).

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Para el caso de datos histricos, el proceso no est en control y se puede determinar el desempeo del proceso utilizando la desviacin estndar de todos los datos ajustada con una constante C4, denominada Sigma a largo plazo o desviacin estndar Overall.

S=

(X
i =1

X )2

n 1

C4 =

4(n 1) 4n 3 S C4

LT =

Con la desviacin estndar a largo plazo se determinan los ndices de desempeo Pp y Ppk no importando si el proceso est en control o no, en este ltimo caso los valores no tienen significado prctico. Para calcular el desempeo potencial del proceso utilizamos la siguiente frmula:

Pp =

( LSE LIE )
6 LT

donde: Pp = ndice de desempeo potencial

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LSE = lmite superior de especificaciones LIE = lmite inferior de especificaciones

LT = desviacin estndar estimada a largo plazo

El ndice Pp debe ser 1.33 para tener el potencial de cumplir con especificaciones (LIE, LSE) Las variables transformadas Zs son las siguientes: LSE X LT LIE X LT

Zs =

ZI =

Para calcular el ndice de desempeo real del proceso utilizamos la siguiente frmula:

Ppk =

menor Z I , Z S 3

Para que el proceso cumpla con las especificaciones el Ppk= debe de ser 1 .33.

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Ejercicio 6 De una carta de control X - R (con tamao de subgrupo n = 5), despus de que el proceso se estabiliz quedando slo con causas comunes (LIE = 36, LSE = 46) se obtuvo lo siguiente: Xmedia de medias = 40 Rmedio = 5

a) Determinar la desviacin estndar del proceso b) Determinar los lmites de tolerancia natural del proceso c) Determinar la fraccin defectiva o porcentaje fuera de especificaciones d) Determinar el Cp e) Determinar el Cpk f) Determinar el Cpm g) Determinar el Cpkm h) Establecer conclusiones de los resultados anteriores

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4. Capacidad y desempeo de procesos en Minitab Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Media = 264.6 y Desviacin estndar S = 32.02 con 1. Calc > Random data > Normal 2. Generate 100 Store in columns C1 Estndar deviation 32.02 OK Considerando Lmites de especificaciones LIE = 200 y LSE = 330 Nos aseguramos que los datos se distribuyan normalmente con la prueba de Ryan como sigue: 3. Stat > Basic statistics > Normalita Test 4. Variable C1 normalmente
P r obabil i ty P lot of Datos
Normal
99.9 99 95 90 80 70 60 50 40 30 20 10 5 1 0.1 Mean StDev N RJ P-Value 269.3 30.72 100 0.994 >0.100

Mean 264.06

Seleccionar Ryan Joiner test OK

El P value debe ser mayor a 0.05 para que los datos se distribuyan

Per cent

150

200

250 Dat os

300

350

Otra opcin por medio de una grfica de probabilidad normal, se tiene:

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5. Graph > Probability plot > Normal 6. Graph Variable C1 7. Distribution Normal OK Los puntos deben quedar dentro del intervalo de confianza para indicar que es normal la distribucin.
P r obabil ity P l ot of Datos
Normal - 95% CI
99.9 99 95 90 80 70 60 50 40 30 20 10 5 1 0.1 Mean StDev N AD P-Value 269.3 30.72 100 0.317 0.533

Percent

150

200

250 Dat os

300

350

400

Determinacin de la capacidad del proceso con Minitab Una vez comprobada la normalidad de los datos, determinar la capacidad con: 1. Stat > Quality tools > Capability anlisis > Normal 2. Single column C1 Subgroup size 1 Lower Spec 200 Upper spec 330 3. Estimate R-bar OK Los resultados se muestran a continuacin:

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P r ocess Capabi l i ty of Datos

LSL
P rocess D ata LS L 200.00000 Target * USL 330.00000 S ample M ean 269.25354 S ample N 100 S tD ev (Within) 30.83472 S tD ev (O v erall) 30.80011

USL Within Ov erall

P otential (Within) C apability Cp 0.70 C PL 0.75 C PU 0.66 C pk 0.66 C C pk 0.70 O v erall C apability Pp PPL PPU P pk C pm 0.70 0.75 0.66 0.66 *

210
O bserv ed P erformance P P M < LS L 10000.00 P P M > U S L 30000.00 P P M Total 40000.00

240

270

300

330

360

E xp. Within P erformance P P M < LS L 12353.30 P P M > U S L 24415.36 P P M Total 36768.66

E xp. O v erall P erformance P P M < LS L 12272.69 P P M > U S L 24288.79 P P M Total 36561.48

Interpretacin: La desviacin estndar Within se determina en base al Rango medio y d2 (1.128 para n = 2), con esta se determinan los ndices de capacidad potencial Cp y Cpk, as como el desempeo Within, lo cual es adecuado para un proceso en control o normal. La desviacin estndar Overall se determina con la desviacin estndar de los datos ajustado por el factor C4.

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Opcin Six Pack para mostrar toda la informacin relevante: Determinar la capacidad con: 4. Stat > Quality tools > Capability Six Pack > Normal 5. Single column C1 Subgroup size 5 Lower Spec 200 Upper spec 330 6. Estimate R-bar OK Los resultados se muestran a continuacin:

P r ocess Capabi l i ty S i x pack of Datos

I C ha r t
I ndiv idua l Value UCL=361.8 320 _ X=269.3 240 160 LCL=176.7 1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100 210 240 270 300 330 360

C a p a b il it y H is t o g r a m

M ov ing R a nge C ha r t
1

M ov ing R a nge

100 50 0 1 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100

UCL=113.6

No r m a l P r o b P lot A D : 0.317, P : 0.533

__ MR=34.8 LCL=0 200 300 400

L a s t 2 5 O b s e r v a t io n s
300 Va lues 250 200 80 85 90 Obse rv a tion 95 100

C a p a b il it y P l o t Within StDev 30.83472 Cp 0.70 C pk 0.66 C C pk 0.70

Within

Overall

O v erall S tDev 30.80011 Pp 0.70 P pk 0.66 C pm *

Specs

En este caso de la grfica de probabilidad normal, los datos siguen una distribucin normal.

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5. Capacidad de procesos no normales.

Cuando los datos provienen de poblaciones no normales una opcin para realizar el estudio de capacidad de procesos es mediante la distribucin Weibull o alguna otra distribucin que ajuste a los datos. Ejemplo en Minitab En una compaa se manufacturan losetas para piso, el problema que se tiene es referente a la deformacin en las mismas. Se toman 100 mediciones durante 10 das. El lmite superior de especificacin (USL) = 3.5 mm Realice un estudio de capacidad con la ayuda de Minitab e interprete los resultados. Generar 100 datos aleatorios en Minitab con Factor de forma = 1, Factor de escala = 1 con 8. Calc > Random data > Weibull 9. Generate 100 Store in columns C1 Shape parameter 1.2 Scale parameter 1 Threshold parameter 0 OK Considerando Lmites de especificaciones LIE = 0 y LSE = 3.5 Determinar la capacidad con: 7. Stat > Quality tools > Capability anlisis > NonNormal 8. Single column C1 Distribution Weibull Lower Spec 0 Upper spec 3.5 9. OK Los resultados se muestran a continuacin: Pgina 28 de 32

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P r ocess Capabi l i ty of Datos1

Calculations Based on Weibull Distribution Model
USL
P rocess D ata LSL Target USL S ample M ean S ample N S hape S cale * * 3.50000 0.82279 100 1.24929 0.88470 O v erall C apability Pp * PPL * PPU 0.85 P pk 0.85 Exp. O v erall P erformance P P M < LS L * P P M > U S L 3795.26 P P M Total 3795.26

O bserv ed P erformance P P M < LS L * P P M > U S L 10000 P P M Total 10000

0.0

0.5

1.0

1.5

2.0

2.5

3.0

3.5

El histograma no muestra evidencia de alguna discrepancia seria entre el modelo y los datos, ya que la curva muestra buen ajuste. Sin embargo observamos que algunos datos caen fuera del lmite superior de especificacin. Lo cual quiere decir que en algunos casos la deformacin ser mayor a 3.5 mm. El ndice Ppk y Ppu3 = 0.85 lo cual nos dice que el proceso no es capaz ya que 0.85<.1.33 Tambin observamos que PPM > USL 3,795 lo cual significa que aproximadamente especificaciones.
3

3,795

PPM

estarn

fuera

de

los

lmites

de

Los ndices Pp y Ppk son similares a los ndices Cp y Cpk , se refieren a la capacidad del proceso a largo plazo.

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CAPACIDAD Y DESEMPEO DEL PROCESO

Tambin se cuenta con la opcin Six Pack para esta opcin.

6. Capacidad de procesos por atributos

Para el caso de atributos, se tienen varios casos: a. Fraccin defectiva Para productos defectivos calificados como pasa no pasa, se obtiene una carta de control p de fraccin defectiva con tamao de muestra constante con al menos 25 puntos, y una vez que est en control, se determina su p media. La capacidad del proceso es 1-P media. La capacidad del proceso equivalente para un Cp de debe ser de:

Al menos 99.73% para una capacidad de +- 3 sigmas equivalente a un Cp de 1 Al menos de 99.9936% para un acapacidad equivalente a +-4 sigmas equivalente a un Cp de 1.33. Para otro valor de P la capacidad equivalente en sigmas se determina dividiendo el valor de P / 2 y obteniendo el valor de Z correspondiente a esa rea bajo la curva. La capacidad ser de +Z sigmas.

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b. Nmero de defectos En este caso se requiere verificar y en todo caso mantener el proceso en control por medio de una carta C o U con muestra constante por al menos 25 puntos. La referencia son el nmero de defectos X que el cliente acepte. Con la lnea media indicando el promedio de defectos o C media, entramos a la tabal binomial o de Poisson tomando como Lamda la C media y como X los defectos aceptables por el cliente. La probabilidad de aceptacin mnima debe ser de 99.73% equivalente a un Cp de 1 o de 99.9936% para un Cp de 1.33, cualquier valor inferior indicar falta de capacidad del proceso.

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TABLA DE CONSTANTES PARA EL CALCULO DE LIMITES DE CONTROL Las constantes para lmites de control en las cartas X-R son: n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 A2 1.88 1.023 0.729 0.577 0.483 0.419 0.373 0.337 0.308 D3 0 0 0 0 0 0.076 0.136 0.184 0.223 D4 3.267 2.574 2.282 2.115 2.004 1.924 1.864 1.816 1.777 d2 1.128 1.693 2.059 2.326 2.534 2.704 2.847 2.97 3.078

Las constantes para lmites de control en las cartas X-S son: n 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 25 c4 0.940 0.952 0.959 0.965 0.969 0.973 0.975 0.978 0.979 0.981 0.982 0.984 0.985 0.985 0.986 0.987 0.988 0.988 0.989 0.989 0.990 A 1.342 1.225 1..134 1.061 1.000 0.949 0.905 0.866 0.832 0.802 0.775 0.750 0.728 0.707 0.688 0.671 0.655 0.640 0.626 0.612 0.600 A3 1.427 1.287 1.182 1.099 1.032 0.975 0.927 0.886 0.850 0.817 0.789 0.763 0.739 0.718 0.698 0.680 0.663 0.647 0.633 0.619 0.606 B3 0.000 0.030 0.118 0.185 0.239 0.284 0.321 0.354 0.382 0.406 0.428 0.448 0.466 0.482 0.497 0.510 0.523 0.534 0.545 0.555 0.565 B4 2.089 1.970 1.882 1.815 1.761 1.716 1.679 1.646 1.618 1.594 1.572 1.552 1.534 1.518 1.503 1.490 1.477 1.466 1.455 1.445 1.435 B5 B6 . 0.000 1.964 0.029 1.874 0.113 1.806 0.179 1.751 0.232 1.707 0.276 1.669 0.313 1.637 0.346 1.610 0.374 1.585 0.399 1.563 0.421 1.544 0.440 1.526 0.458 1.511 0.475 1.496 0.490 1.483 0.504 1.470 0.516 1.459 0.528 1.448 0.539 1.438 0.549 1.429 0.559 1.420

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