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Introduo: Princpio de funcionamento e utilizao de osciloscpios (Dezembro 2012)

Resumo Este relatrio mostra de forma introdutria as funes de um osciloscpio. Verifica-se a obteno de valores como a amplitude de tenso de um sinal, alm de funcionalidades do equipamento, mais exatamente no trigger. Aborda-se o efeito de carga nas medies feitas em frequncias prximas ao limite do osciloscpio, exaltando-se a necessidade da compensao das pontas de prova. Por ltimo, nota-se a necessidade de tornar o terra do equipamento de medio flutuante para evitar possveis curtos nos circuitos analisados. Objetivo Apresentar o princpio de funcionamento de osciloscpios digitais e aprendizagem de medies bsicas com o auxlio do equipamento.

os terminais de um resistor alimentado por um sinal senoidal com diferentes frequncias. Avalie a consistncia de seus resultados. 4. Medio simultnea de sinais Monte na placa de prototipagem do NI-ELVIS um divisor resistivo; Tendo em vista que o gerador de funes do NIELVIS ser utilizado para alimentar o circuito (5V, 1 KHz), avaliar as conexes possveis de serem feitas para medir simultaneamente as tenses nos dois resistores. III. METODOLOGIA Nesta prtica, necessitou-se de uma plataforma NIELVIS II, resistores e capacitores diversos e cabos e fios para conexo dos componentes. Usou-se um osciloscpio digital Tektronix TDS2012B, pontas de prova Tektronix P2220 e o gerador de sinais FGEN do ELVIS-II. Utilizou-se como mtodo de clculo de incerteza a LPU (lei de propagao de incertezas), usando as caractersticas presentes nos manuais do ELVIS II. Quando no especificado, inferiu-se distribuio retangular na tolerncia do componente. IV. RESULTADOS A. Medio de amplitude Utilizou-se a funo FGEN do ELVIS, como mostra a Fig. 1, de forma a obter uma tenso senoidal de 2V de pico 1KHz. Usando-se o osciloscpio Tektronix TDS2012B, viu-se o sinal de tenso, como mostra a Fig. 2, bem como o seu valor de pico-a-pico, RMS e de frequncia. Este possui largura de faixa (Bandwidth) de 100MHz (at 20MHz selecionvel), tenso de entrada mxima de 300VRMS e impedncia de entrada de 1M 2% em paralelo com 20pF 3pF. A Fig. 3 mostra as especificaes do osciloscpio digital utilizado. Os valores medidos com as incertezas associadas so mostrados na Tabela I. Usou-se como incerteza nas medies no TDS2012B a de Sample Acquisition Mode para 5V/div a 10mV/div para a tenso, ou seja, ( 3 . 10-3 . faixa), onde a faixa 1V/div.

I. INTRODUO

S osciloscpios so equipamentos que permitem a medio e visualizao de sinais (fenmenos) na forma grfica. Devido aos diversos recursos embutidos no equipamento, tem utilizao no s na engenharia eltricas, mas em vrios outros campos. De fcil utilizao, possui vrios recursos que dispensam conhecimento do usurio comum para utiliz-lo, mas um aprofundamento necessrio, principalmente no seu uso em medies onde as incertezas so importantes. Assim, deve-se entender quando utilizar determinada escala, como e qual a razo de compensar uma ponta de prova e outros. II.PRTICA 1. Medio de amplitude Utilizando o gerador de funes, ajuste uma tenso senoidal de amplitude 2V e frequncia 1 kHz; Mea a amplitude pico a pico, o valor eficaz e a frequncia do sinal; Avalie as possveis grandezas de influncia na medio. Avalie as incertezas nas medies. 2. Registro de eventos transitrios Ajuste os comandos de trigger do osciloscpio e registre o transitrio de energizao da fonte varivel (VPS) do NI-ELVIS; Amplie a base de tempo e mea o rise-time da mesma; Avalie a consistncia dos resultados obtidos. 3. Efeito de carga em medies com osciloscpio Anotar os valores de resistncia e capacitncia da sonda de tenso e desenhar um circuito equivalente para o conjunto sonda-osciloscpio considerando ambos os casos: 1X e 10X; Obtenha a funo de transferncia do circuito equivalente anterior; Comente de forma geral sobre o efeito de carga com base no modelo de circuito obtido e o papel da sonda de 10X na reduo desse efeito; Faa a compensao das pontas de prova; Verifique o efeito de carga medindo a tenso entre

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TABELA I VALORES MEDIDOS NO OSCILOSCPIO Frequncia Pico-a-pico (V) RMS (V) (KHz) 4,16V 0,03V 1,44V 0,03V 1,000

Fig. 1 Function Generator do ELVIS.

B. Registro de eventos transitrios Utilizou-se a funo Single Sequence do osciloscpio Tektronix de formar a visualizar o transitrio do circuito RC mostrado na Fig. 4. O chave (disparo) simboliza a deteco do osciloscpio do comeo do transitrio no capacitor. Ele grava previamente alguns dados de tenso no capacitor e, no momento que a chave fecha (tenso de 5V aplicada ao circuito), ele mostra a curva desejada. A Fig. 5 mostra o grfico obtido no TDS2012B, juntamente com os valores obtidos na tela do equipamento. Sabendo que a constante de tempo do circuito, em segundos, igual resistncia multiplicada pela capacitncia, na Tabela II mostram-se os valores tericos e obtidos pelo osciloscpio, juntamente com as incertezas do ltimo. O resistor usado de 1k 5% e o capacitor de 470nF 5%. Usou-se a incerteza obtida da Fig. 3, considerando-se regime permanente aps cinco vezes a constante de tempo.

Fig. 2 Sinal de tenso visualizado no osciloscpio digital.

Fig. 4 Circuito RC equivalente montagem para deteco do transitrio pelo osciloscpio.

Fig. 5 Transitrio do circuito RC visualizado no osciloscpio digital. Fig. 3 Especificao de medies para o Tektronix TDS2012B. TABELA II

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VALORES MEDIDOS NO TRANSITRIO DO CIRCUITO RC Constante de Reg. permanente Variao da Valor tempo (ms) (ms) tenso (V) Terico 0,470 2,350 5V Osciloscpio 18,80 0,219 94,00 1,094 4,68V

Como observado em aula pelo professor, o tempo do regime permanente e, consequentemente, da constante de tempo no osciloscpio foi totalmente diferente do terico. No se chegou a um motivo para resultado to discrepante, mas notou-se que em outros osciloscpios (abordado pelo professor) isso no ocorria, obtendo-se valores compatveis com a teoria. Assim, os resultados obtidos pelo TDS2012B no so consistentes com a realidade, talvez por uma limitao no identificada no manual do equipamento. C.Efeito de carga em medies com osciloscpios Anotaram-se os valores de resistncia e capacitncia, alm da frequncia mxima de operao indicada, da ponta de prova Tektronix P2220 para 1X e 10X de atenuao, como mostrado na Tabela III. A Fig. 6 mostra o circuito equivalente da ponta de prova para atenuao 1X e 10X.
TABELA III VALORES DA SONDA TEKTRONIX P2220 Nome Resistncia Capacitncia Frequncia Atenuao 1X 1 M 110 pF 6 MHz Atenuao 10X 10 M 17 pF 200 MHz

vale 1M 2% e a capacitncia (Co//Ro) vale 20pF 3pF. Para o caso de 1X e 10X, pode-se obter valores tal que CoRo seja igual CpRp (ou bem prximo no caso de 1X), tornando a resposta puramente resistiva igual a (2) e independente da frequncia. Pode-se notar que existe uma frequncia mxima, onde a partir desta a capacitncia e indutncia do resistor podem interferir na resposta, alm de outros problemas na fiao e no capacitor. Isso nos permite inferir que no ocorrer efeito de carga ou a resposta obtida ser livre de perturbaes e deformaes devido ao circuito da ponta de prova usada na medio. Aps a obteno da funo de transferncia, fez-se a compensao das pontas de prova utilizadas no osciloscpio e verificou-se o efeito de carga para diferentes frequncias com atenuao de 1X e 10X. Por no variar muito e para no atrasar na prtica do laboratrio, viu-se um sinal de 1Vpp com frequncia de 100Hz, 1KHz, 10KHZ, 1MHz e 5MHz com a ponta de prova em 1X e com frequncia de 1MHZ e 5MHz para 10X. Os valores obtidos so mostrados na Tabela IV. A Fig. 7 mostra o sinal obtido na frequncia de 5MHz no osciloscpio para atenuao de 1X e a Fig. 8 para 10X.
TABELA IV VALORES OBTIDOS PARA DIFERENTES ATENUAES Frequncia 100 Hz 1 KHz 10 KHz 1 MHz 5 MHz Atenuao 1X 974 mVpp 984 mVpp 984 mVpp 950 mVpp 672 mVpp Atenuao 10X ---------------------------1,01 Vpp 912 mVpp

Fig. 6 Circuito equivalente para o conjunto sonda-osciloscpio para atenuao de 1X e 10X.

A funo de transferncia do circuito da Fig. 6 no domnio de Laplace dada por: FT = Vout(s) Ro//(1/sCo) = Vin(s) (Ro//(1/sCo))+(R2//(1/sC2)) Ro + s(RoRpCp) FT = (Ro+Rp)+sRoRp(Co+Cp)

Fig. 7 Sinal obtido 5 MHz com a ponta de prova com atenuao 1X.

(1)

Podemos notar que, se RoCo = RpCp, (1) simplifica a: FT = 1 + Rp Ro (2)

Como dito anteriormente, a resistncia do osciloscpio

Fig. 10 Problema resolvido com a flutuao do terra de um dos equipamentos.

Fig. 8 Sinal obtido 5 MHz com a ponta de prova com atenuao 10X.

Percebe-se que o valor obtido na atenuao de 10X mais confivel que o de 1X para frequncias mais altas. O sinal 5MHz, como pode ser visto na Tabela IV, foi bastante atenuado 1X (efeito de carga), mantendo prximo a 1Vpp com 10X. Um ponto que chamou ateno foi a presena de certa deformao na onda obtida com 10X a partir de 1MHz, mais acentuada 5MHz. Testou-se as duas pontas e ambas apresentaram a mesma deformao na onda senoidal mostrada na tela do osciloscpio. D.Medio simultnea de sinais Montou-se um circuito divisor de tenso formado por dois resistores de 1k em srie excitados por 5V fornecidos pela VPS do ELVIS. Desejou-se fazer a medio da tenso sobre cada resistor usando duas pontas de prova, ou seja, uma ponta media a tenso em R1 e outra em R2. Para isto, usou-se um terra comum para o osciloscpio digital e para o ELVIS e depois retirou-se o terra do ELVIS (terra flutuante). O que ocorre que o ponto de terra da ponta de prova o mesmo da carcaa do osciloscpio e o terra do VPS o mesmo terra do ELVIS. Se os terras dos equipamentos so iguais, como mostra a Fig. 9, h um curto para o terra entre o resistor R1 e o R2, fazendo com que a tenso medida sobre R1 seja 5V e sobre R2 seja zero, como visto na Fig. 11. Colocando o terra de algum equipamento flutuando, isso no ocorre. Obtemos a medio de forma correta, como mostra a Fig. 10, bastando inverter o valor lido em R2 devido forma como a segunda ponta foi conectada ao circuito (sinal negativo), como visto na Fig. 12.
Fig. 11 Sinal obtido com o terra comum aos equipamentos.

Fig. 12 Sinal obtido com o terra flutuante em um dos equipamentos.

Fig. 9 Problema do terra comum dos equipamentos.

V. CONCLUSES Nesta prtica, viram-se alguns recursos do osciloscpio. Verificou-se a possibilidade de observar sinais e fazer medies com o equipamento, viram-se as incertezas do mesmo em cada tipo de medio e o interessante recurso da obteno de grficos por disparo. Viu-se a importncia da compensao e da atenuao da ponta de prova para diferentes frequncias a fim de evitar o efeito de carga. Por ltimo, mas de grande relevncia, notou-se o problema do terra comum de equipamentos. Antes de qualquer medio, deve-se fazer uma anlise prvia no circuito para que no ocorra curtos ou at mesmo valores incorretos. O uso da flutuao do terra de equipamentos importante para evitar que isso ocorra.

5 REFERNCIAS 1 INSTRUMENTS, N. NI ELVIS II Series Specifications. NI, 2009. Disponivel em: <www.ni.com/pdf/manuals/372590b.pdf>. Acesso em: 9 Dezembro 2012. 2 INSTRUMENTS, N. NI Educational Laboratory Virtual Instrumentation Suite II Series (NI ELVIS II Series) User Manual. NI, 2011. ISSN 374629C-01. Disponivel em: <http://www.ni.com/pdf/manuals/374629c.pdf>. Acesso em: 9 Dezembro 2012. 3 T. Passive 1x/10x Voltage Probe - P2220/P2221 Data Sheet. Tektronix, 2009. Disponivel em: <http://www.tek.com/sites/tek.com/files/media/media/resourc es/51W_17984_1.pdf>. Acesso em: 28 Dezembro 2012. 4 T. Digital Storage Oscilloscopes - TDS1000B Series/TDS2000B Series Data Sheet. Tektronix, 2010. Disponivel em: <http://www2.tek.com/cmsreplive/psrep/13295/3GM_19558_ 2_2011.02.10.07.25.34_13295_ES-MX.pdf>. Acesso em: 28 Dezembro 2012.