Metrologia e Normalização - Guia Do Formador

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Metrologia e Normalizao
Guia do Formador
COMUNIDADE EUROPEIA Fundo Social Europeu
IEFP ISQ
Coleco Ttulo Suporte Didctico Coordenao Tcnico-Pedaggica
MODULFORM - Formao Modular Metrologia e Normalizao Guia do Formador IEFP - Instituto do Emprego e Formao Profissional Departamento de Formao Profissional Direco de Servios de Recursos Formativos CENFIM - Centro de Formao Profissional da Indstria Metalrgica e Metalomecnica ISQ - Instituto de Soldadura e Qualidade Direco de Formao Joaquim Guedelha
Apoio Tcnico-Pedaggico
Coordenao do Projecto
Autor
Capa Maquetagem e Fotocomposio Reviso Montagem Impresso e Acabamento Propriedade
SAF - Sistemas Avanados de Formao, SA ISQ / Andr Braga OMNIBUS, LDA BRITOGRFICA, LDA BRITOGRFICA, LDA Instituto do Emprego e Formao Profissional Av. Jos Malhoa, 11 1099 - 018 Lisboa Portugal, Lisboa, Fevereiro de 2002 100 Exemplares
1. Edio Tiragem Depsito Legal ISBN
972-732-737-0
Copyright, 2002 Todos os direitos reservados IEFP Nenhuma parte desta publicao pode ser reproduzida ou transmitida por qualquer forma ou processo sem o consentimento prvio, por escrito, do IEFP
Fr.T.04
Metr olo gia e Nor malizao Metrolo ologia Guia do Formador
IEFP ISQ
ndice Geral
NDICE GERAL
A - APRESENTAO GLOBAL DO MDULO
Objectivos globais Conhecimento prvios Campo de aplicao Perfil do formador Plano do mdulo Metodologia recomendada Recursos didticos Bibliografia
AGM.1 AGM.1 AGM.1 AGM.2 AGM.3 AGM.4 AGM.4 AGM.5
B - EXPLORAO PEDAGGICA DAS UNIDADES TEMTICAS
I. SUBSISTEMA NACIONAL DE METROLOGIA
Resumo do tema e plano das sesses Actividades / Avaliao Apresentao das transparncias de propostas para utilizao
I.1 I.2 I.4
II. FACTORES DE INFLUNCIA NA MEDIO
II.1 II.2 II.4
Fr.T.04
IG . 1
ndice Geral
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III. TCNICAS E INSTRUMENTOS DE MEDIDA
III.1 III.4 III.9
IV. CADEIAS HIERARQUIZADAS DE PADRES
Resumo do tema e plano das sesses Exerccios propostos e solues Apresentao das transparncias de propostas para utilizao
IV.1 IV.2 IV.3
V. NORMALIZAO
V.1 V.2 V.3
C - AVALIAO
TESTE
RESOLUO DO TESTE
ANEXO - Transparncias
A.1
IG . 2
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A - Apresentao Global do Mdulo
A - Apresentao Global do Mdulo
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Apresentao Global do Mdulo
OBJECTIVOS GLOBAIS
Definir os conceitos bsicos da Metrologia; Identificar os organismos e domnios de actuao; Definir as grandezas de base; Aplicar tcnicas de medio.
CONHECIMENTOS PRVIOS
Mdulo(s) obrigatrio(s) Matemtica aplicada
Saberes prvios Conhecimentos de base para aplicao s tarefas profissionais identificadas.
Mdulo(s) aconselhado(s)
Saberes desejveis
CAMPO DE APLICAO
Este mdulo poder ser utilizado nos seguintes domnios:
Qualidade Industrial Planeamento e Controlo da Produo Manuteno Industrial
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AGM
AGM . 1
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PERFIL DO FORMADOR
Competncia tcnica - Conhecimentos especficos em Metrologia e Instrumentao, bem como prtica de utilizao dos equipamentos nas vrias grandezas do Sistema Inter nacional. - Conhecimentos gerais de Garantia da Qualidade relacio nados com equipamentos de Inspeco, Medio e Ensaio. - Slidos conhecimentos de elaborao, interpretao e implementao de documentos normativos
Aquisio Experincia profissional superior a cinco anos
Competncia pedaggica - Domnio de conhecimentos, tcnicas e atitudes facilitadoras de aquisio e integrao, por parte dos formandos, de saberes gerais e saberes tcnicos (prticos e tericos) e de comportamentos.
Aquisio Curso de formao pedaggica de formadores; Certificado de Aptido Pedaggica; Experincia de formao com jovens de nvel II e III procura do 1. emprego.
AGM . 2
Fr.T.04
AGM
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PLANO DO MDULO
Unidades Temticas
Objectivos
Durao Indicativa (horas) 4
I. Subsistema Nacional de Metrologia
Definir o conceito de metrologia; Caracterizar a gesto nacional da metrologia, os seus organismos e domnios de actuao.
II. Factores de influncia na Medio
Identificar os principais conceitos de erro; Estabelecer alguns exemplos de factores de influncia nas medies.
III. Tcnicas e Instrumentos de Medida
Definir as grandezas de base mais utilizadas na Indstria; Usar ou aplicar algumas tcnicas de medio Indentificar os aparelhos e instrumentos utilizados na medio de cada uma das grandezas de base, bem como caracterizar ou definir o seu princpio de funcionamento
25
IV.Cadeias Hierarquizadas de Padres.
Identificar os principais conceitos de padres; Dar a conhecer como os padres se devem relacionar; Representar essas relaes.
V. Normalizao
Introduzir o conceito de normalizao; Enumerar as vantagens da normalizao; Caracterizar a gesto nacional, os organismos nacionais e internacionais.
Total:
AGM
44
Fr.T.04
AGM . 3
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METODOLOGIA RECOMENDADA
De acordo com o desenvolvimento proposto em cada plano de sesso, deve proceder-se :
Combinao de momentos expositivos com a utilizao de mtodos activos,

recorrendo resoluo de exerccios prticos;
Utilizao de transparncias; Realizao de visitas de estudo; Anlise de casos em grupo, com posterior apresentao das respectivas
concluses;
Utilizao do software GESMAT para reforar a aprendizagem dos conceitos

e resolver os casos prticos.
RECURSOS DIDCTICOS Material didctico Transparncias; Equipamento Um retroprojector (com uma lmpada sobressalente); Um quadro didax; Marcadores (4 cores).
AGM . 4
Fr.T.04
AGM
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BIBLIOGRAFIA
ANTUNES, Silvestre Dias, Metrologia Industrial, I.N.I.I., 1981. BIPM, Bureau Internacional de Pesos e Medidas, CEI, Comisso Electrotcnica Internacional, ISO, Internacional Organizao para a Normalizao, OIML, Organizao Internacional de Metrologia Legal, Vocabulrio Internacional de Metrologia, M.I.E., Direco Geral da Qualidade (traduo da edio internacional, 1984), Lisboa, 1985. CASTANHEIRA, Isabel, Laboratrio de Materiais de Referncia, IPQ, Qualirama N. 9 - Lisboa - Set/Out - 1991. CRUZ, Antnio, Sistema Nacional de Metrologia no Sistema Portugus da Qualidade, IPQ, Qualirama N. 16, Lisboa, Nov/Dez - 1992. CRUZ, Antnio, Laboratrio de Massa, IPQ, Qualirama N. 9 - Lisboa - Set/Out - 1991 CRUZ, Antnio, A Rastreabilidade das Medies, IPQ, Qualirama N. 12 - Lisboa - Mar/Abr - 1992. DEUTSCHE BIBLIOTHEK, Din, Deutsches Institut Fr Normung e. V., Lngenprftechnik 1 Din - Taschenbuch 11, BEUTH VERLAG GmbH, Berlin, 1990 EVANS AND TAYLERSON, J.C. and C.O. Measurement of angle in Engeneering - NATIONAL PHISYCAL LABORATORY - London - 1986. FILIPE, Eduarda, Laboratrio de Temperatura, IPQ, Qualirama N. 9 - Lisboa Set/Out - 1991. FRANCO, Joo Soares, Adopo por Portugal de Normas Europeias, IPQ, Qualirama N. 5 - Lisboa - Jan/Fev - 1991. GUEDELHA, Joaquim, Laboratrio dos Comprimentos, IPQ, Qualirama N. 9 Lisboa - Set/Out - 1991. GUEDES, Manuela de Sousa, Livro Verde sobre a Normalizao Europeia, IPQ, Qualirama N. 5 - Lisboa - Jan/Fev - 1991. JORGE, H. Machado, Metrologia Mtodo e Arte da Medio, IPQ/CEDINTEC, Lisboa, 1993. J. WARNECKE UND DUTSCHK, Hans und Wolfganf, Rolf Berner, Werner Lotze, Fertigungsmesstechnik Handbuch Fr Industrie und Wissenchaft, SPRINGER - VERLAG, Berlin, 1984. LOURENO, Ricardo Correia, Curso de Metrologia Dimensional - Nvel I e Nvel II, ISQ, Lisboa, 1984/1985
Fr.T.04 AGM
AGM . 5
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Laboratrio de Frequncia/Tempo, IPq, Qualirama N. 9 - Lisboa - Set/Out - 1991. Laboratrio de Fora/Presso, IPQ, Qualirama N. 9 - Lisboa - Set/Out - 1991. Laboratrio de Volume, IPQ, Qualirama, N. 9 - Lisboa - Set/Out - 1991. LUKAS, Dieter, Messtechnik Fr Die Fertigung, KAMPRATH, Darmstadt, 1975. SANDER, Manfred, Pratique de la Mesure Dtat de surface - FEINPRF PERTHEN GmbH - Gttingen - 1989. SEIXAS, Ral L., Augusto C. G. Soeiro, Lies de Fsica Experimental 1. Ano/ antigo 3. Ano e 2. Ciclo/4. Ano - PORTO EDITORA, LDA - Porto - 1964. SILVRIO, Maria Joaquina, Sistema Nacional de Gesto da Qualidade, IPQ, Qualirama N. 16, - Lisboa - Nov/Dez - 1992. TAVARES, Carlos Borges, Estrutura Europeia de Normalizao, IPQ, Qualirama N. 1 - Lisboa - Jan/Mar - 1990. TAVARES, Carlos Borges, Sistema Nacional de Normalizao, IPQ, Qualirama N. 16 - Lisboa - Nov/Dez - 1992. TOM, Joo Bolo, Portugal e a Europa no Mercado Mundial da Qualidade, APQ - Lisboa - 1991. VASSALO, Francisco Rus, Manual de Instrumentos de Medida Electrnicos PLTANO EDITORA, SA 2. edio - Lisboa - 1998.
AGM . 6
Fr.T.04
AGM
IEFP ISQ
B - Explor ao P eda ggica das Unidades Temticas Peda edaggica
B - Explorao Pedaggica das Unidades Temticas
Fr.T.04
IEFP ISQ
Subsistema Nacional de Metrologia
Fr.T.04 Ut.01
IEFP ISQ
RESUMO
A metrologia tudo aquilo que se relaciona com a medio, desde o processo, os instrumentos, o local, o operador, etc. Os domnios de actividade so trs: Metrologia Cientfica, Industrial e Legal, cabendo, a cada um, papis diferentes no que respeita actuao, mas encontrando-se interligados no que respeita a padres, processos de ensaio, condies laboratoriais, entre outras. O organismo que superintende toda a estrutura nacional da qualidade o IPQ, apoiando-se, este, em outros organismos estatais ou privados (Comisses Permanentes e Comisses Tcnicas).
Fr.T.04
Ut.01
Metr olo gia e Nor malizao Metrolo ologia Normalizao Guia do Formando
I . 1
IEFP ISQ
PLANO DE SESSO
Contedo
Metodologia de desenvolvimento
Meios didticos
Durao indicativa (horas) 1
I.1 Conceito de Metrologia.
Desenvolver conceitos de metrologia; Transparncias I.1 a I.2.
I.2 Domnios de Actividade; Metrologia Cintfica; Metrologia Industrial; Metrologia Legal.
Indicar os vrios domnios de actividade; Definir os diferentes tipos de metrologia que se podem considerar; Transparncias I.3 a I.4.
I.3 Estrutura Nacional.
Indicar a estrutura nacional; Transparncia I.5. Exerccios I.1 a I.2.
I.4 Resoluo dos Exerccios de Aplicao.
Total:
I . 2
Fr.T.04
Ut.01
IEFP ISQ
ACTIVIDADES / AVALIAO
1. De entre os instrumentos abaixo discriminados, assinale com X os fortes candidatos a estarem sujeitos a controlo metrolgico (metrologia legal): Paqumetro Balana de um talho Micrmetro Radares de polcia Parqumetro Tacgrafo Taxmetro Termmetro Manmetro Termmetro clnico Esfignomanmetro Contador de energia elctrica Alcoolmetro Paqumetro Taxmetro Esfignomanmetro Alcoolmetro - (est associado a uma transaco comercial - multa) - (est associado a uma transaco comercial - multa) - (est associado a questes de sada) - (est associado a questes de segurana e a transaco comercial)
Balana de um talho - (est associada a uma transaco comercial) Tacgrafo Radares de polcia - (est associado a questes de segurana e a transaco comercial) - (est associado a questes de segurana e a transaco comercial)
Termmetro clnico - (est associado a questes de sade) Contador de energia elctrica - (est associado a uma transaco comercial)
2. Um comerciante quer vender medidores de gs que ele prprio inventou. Descreva todo o controlo metrolgico a que estes medidores de gases provavelmente vo estar sujeitos durante a sua vida til, bem como os organismos mais provveis para o executarem.
Ut.01 Fr.T.04
I . 3
IEFP ISQ
Em primeiro lugar este comerciante ter que pedir ao IPQ para efectuar a aprovao do modelo que ele inventou. Se o IPQ aprovar o modelo, o comerciante ter que submeter a uma primeira verificao todos os exemplares vendidos. Os organismos que provavelmente vo efectuar estas verificaes sero as delegaes do Ministrio da Indstria e Energia. Depois disto, os medidores podero ser postos em funcionamento. Periodicamente estes aparelhos devero ser sujeitos a verificaes peridicas, que devero ser executadas ou pelas cmaras ou pelas D.M.I.E.. No caso de avaria, ou por solicitao de algum, certos aparelhos sero sujeitos a uma verificao extraordinria, que dever ser executada pela mesma entidade que executou a 1. verificao.
I . 4
Fr.T.04
Ut.01
IEFP ISQ
APRESENTAO DAS TRANSPARNCIAS PROPOSTAS PARA UTILIZAO
I.1
I.2
I.3
I.4
I.5
Fr.T.04
Ut.01
I . 5
IEFP ISQ
Factores de Influncia na Medio
Fr.T.04 Ut.02
IEFP ISQ
RESUMO
Quando efectuamos uma medio, vrios factores actuam de modo a impedir-nos de determinar a medida real ou valor verdadeiro da grandeza medida. Normalmente, os factores mais importantes so:
ambiente; aparelho ou instrumento; operador.

Ao efectuarmos uma medio, cometemos sempre erros, erros estes, que podem ser atenuados atravs de factores de correco adequados.
Fr.T.04
Ut.02
Metr olo gia e Nor malizao Metrolo ologia Normalizao Guia do Formador
II . 1
IEFP ISQ
PLANO DE SESSO
Contedo
Meios didticos
II.1 Conceito de erro
Erro absoluto; Erro relativo; Erro sistemtico; Erro aleatrio; Transparncia II.1 a II.5. Exposio terica; Transparncia II.6 a II.8. Exposio terica; Transparncia II.9 e II.10. Exposio terica; Transparncia II.11 e II.14. Resoluo dos exerccios propostos de II.1 a II.5. Total:
II.2 Erros imputveis ambiente
ao
II.3 Erros imputveis aparelho de medio
ao
II.4 Erros imputveis operador
ao
II.5 Resoluo dos exerccios
II . 2
Fr.T.04
Ut.02
IEFP ISQ
1. Uma barra de ao tem um comprimento de 200 mm a 15 C. Que comprimento ter a 20 C? L= 11,5 x 10-6 x 0,2 x 5= 11,5 mm ter um comprimento de 200,0115 mm. 2. Determine qual o erro cometido ao comparar 3 blocos-padro de 90 mm - um de ao, outro de carboneto de tungstnio e outro cermico -, sabendo que estes foram comparados a uma temperatura de 21,5 C. ao = 11,5 x 10-6 C-1 carb. tungstnio = 5,5 x 10-6 C-1 cermico = 4,5 x 10-7 C-1 Bloco de ao = 11,5 x 10-6 C-1 1 = 0,09 x 11,5 x 10-6 x1,5 = 1,55 m Bloco de carboneto de tungstnio = 5,5 x 10-6 C-1 1 = 0,09 x 5,5 x 10-6 x1,5 = 0,74 m Bloco cermico = 4,5 x 10-7 e-1 1 = 0,09 x 4,5 x 10-7 x1,5 = 0,06 m O maior erro cometido ser de 1,49 mm e corresponde comparao do bloco de ao com o bloco cermico. 3. Determine o erro relativo cometido nas medies efectuadas no exemplo resolvido 1. No possvel calcular o erro relativo a 0o C, uma vez que daria sempre infinito. Para se poder calcular o erro relativo necessrio converter os valores em 0oC para Kelvin e depois aplicar a definio: T(K) = 273.15 + t (oC) T1 = 273.15 + 0,55oC = 273.70 K T2 = 273.15 + 0,02oC = 273.17 K T3 = 273.15 + 0,00oC = 273.15 K T4 = 273.15 + 1,02oC = 272.13 K
Ut.02 Fr.T.04
II . 3
IEFP ISQ
Er1 =
273.70 - 273.15 = + 0,002 273.15 273.17 - 273.15 = + 0,00007 273.15 273.15 - 273.15 =+0 273.15 273.13 - 273.15 = + 0,004 273.15
Er2 =
Er3 =
Er4 =
4. Qual o desvio mximo que se comete numa fita mtrica de 20 metros em ao, ao se efectuar as medidas com uma fora de 100 Newton, sabendo que: Espessura da fita 2 mm = Largura 12 mm E = 200 GPa
PxL SxE
Seco da fita = 0,012 x 0,003 P = 100 N L = 20 m E = 200 GPa = 100 x 20 = 0,27 mm 0,012 x 0,003 x 200 x 109
5. Determine o erro cometido na fita mtrica do exerccio anterior, tendo-se efectuado a medio a 21 C. L = 20 x 11,5 x 10-6 x 1 = 230 m = 0,23 mm
II . 4
Fr.T.04
Ut.02
IEFP ISQ
II.1
II.2
II.3
II.4
II.5
II.6
Ut.02
II.7
II.8
Fr.T.04
II . 5
IEFP ISQ
II.9
II.10
II.11
II . 6
Fr.T.04
Ut.02
IEFP ISQ
Tcnicas e Instrumentos de Medida
Fr.T.04 Ut.03
IEFP ISQ
RESUMO
Nesta Unidade Temtica, foram estudados e apresentados os equipamentos de medida mais importantes em cada uma das seguintes grandezas: Comprimento Temperatura Massa Electricidade Intensidade Luminosa Presso Volume
Para cada uma das grandezas estudadas, foram analisadas as tcnicas de medio aplicveis a cada caso.
Fr.T.04 Ut.03
III . 1
IEFP ISQ
Contedo
Meios didticos
III.1 Metrologia dos comprimentos; Definio do metro; Fundamentos do nnio. III.2 Escalas ou rguas, gra duadas, Paqumetro, Mi crmetro, Comparador, Blocos padro lineares. III.3 Medio de ngulos; Blocos padro angulares; Rguas de senos
Exposio Terica; Transparncias III.1 e III.2.
Exposio Terica; Transparncias III.3 a III.29.
III.4 Estados de superfcie.
Exposio Terica; Transparncias III.37 a III.40. Exposio Terica; Transparncias III.39 a III.40.
III.5 Temperatura; Definio de Kelvin; Fundamentos da temperatura termodinmica. III.6 Sistema fsico; Sistema electrnico; Sistema ptico.
III.7 Metrologia das massas; Tcnicas de medio.
Exposio Terica; Transparncia III.46. Exposio Terica; Transparncias III.47 a III.52.
III.8 Aparelhos ou instrumentos; Massas padro; Dispositivos de pesagem; O dinammetro e a balana. III.9 Metrologia elctrica; Ampermetros.
Exposio Terica; Apresentao de casos prticos; Transparncias III.53 a III.61.
1:30min
III . 2
Fr.T.04 Ut.03
IEFP ISQ
Contedo
Meios didticos
III.10 Voltmetros
Exposio Terica Apresentao de casos prticos; Transparncias III.62 a III.65. Exposio Terica; Transparncias III.66 e III.67. Exposio Terica; Transparncia III.68.
III.11 Ohmmetros.
30min
III.12 As diferentes escalas de medida do tempo; Tipos de relgio.
III.13 Intensidade luminosa; Grandezas associadas; Quantidade de substncia. III.14 Metrologia das presses; Vrios tipos de presso; Manmetros de tubo vertical; Manmetros de tubo vertical em U
Exposio Terica; Transparncias III.69 e III.70.
III.15 Manmetros de tubo elstico; Manmetros metlicos de presso por fole; Manmetros metlicos de presso por diafragma Experincia de Torricelli
III.16 Metrologia dos volumes.
Exposio Terica; Transparncia III.82. Resoluo dos exerccios de aplicao de III.1 a III.10.
III.17 Resoluo dos exerccios de aplicao
Total:
25
Fr.T.04 Ut.03
III . 3
IEFP ISQ
1. Na medio do comprimento de uma pea obteve-se o resultado indicado na figura. Indique qual o valor indicado por este nnio.
0
1 1 000
10 5 0
6 6 4 2
0
8 6 4 2
0
8
O valor indicado pelo nnio de 7 milsimos. Na escala junto ao nnio temos uma indicao de pelo menos 8 centsimos. Assim o valor da leitura dever ser: (n x 100 + 87) milsimos. 2. Utilizando uma rgua de senos de 150 mm, mencione qual a composio de blocos-padro lineares a utilizar de modo a construir um ngulo de 29o 50', considerando que a coleco de blocos padro a utilizar tem a seguinte constituio: 1,000 1,0005 1,001 - 1,009 1,01 - 1,09 1,10 - 1,19 1,20 - 1,29 1,30 - 1,39 1,40 - 1,49 1,5 - 1,9 2; 3; 4; 5; 6; 7; 8; 9; 10; 20; 30; 40; 50; 70; 100. 2 - = 29o 50' = 29,83o h = sen (29,83o) x 150 mm h = 74,61 mm a composio de blocos a utilizar seria: 74,6 = 70 + 2 + 1,6 + 1,01
Fr.T.04 Ut.03
III . 4
IEFP ISQ
3. Num esquadro de 200 mm, foi identificado um desvio de 0,02 mm em relao sua perpendicularidade. Determine a variao do ngulo correspondente. sen = 0,02 200 = 0,0001
= 0,006 = 21,6" 4. Diga quais os blocos que utilizava e como os compunha, usando uma coleco tipo A e B para formar um ngulo de 29o 49' 50". Quais os desvios obtidos com cada uma das coleces? Coleco tipo A 29o 49' 50" = 27o + (3o - 9' - 1") - 6" - 3" = 29o 49' 50" Desvio obtido = 1" Coleco tipo B 29o 49' 50" = 30o - 10' - 10" Desvio obtido = 0 5. Um termmetro de vidro com um tubo capilar de 0,8 mm de dimetro tem um volume de mercrio de 1,3 cm3. Refira quantos milmetros o mercrio subir no tubo capilar se a temperatura aumentar para 80 C, considerando que o coeficiente de expanso do mercrio de 0,00016. tubo = 0,8 mm vol. = 1,3 cm3 Vol. = 0,00016 x 80 x 1,3 = 0,0017 cm3 0,082 xh h = 3,4 cm = 34 mm 4 6. Tendo por base o seguinte esquema de pesagem de uma balana e sabendo que tem apenas disponveis 3 massas padro para referncia: 0,017 = x
Fr.T.04 Ut.03
III . 5
IEFP ISQ
- 2 Kg, 1 Kg e 5 Kg -, diga como medir as seguintes massas: a) - 0,5 Kg b) - 8 Kg c) - 3,5 Kg a) - Colocaria o prato varivel a uma distncia de 600 mm do ponto fulcral da balana e neste colocava a massa a medir. No outro prato colocava a massa de 1 Kg. 0,5 x 600 = 1 x 300 b) - Para medir 8 Kg utilizava a massa de 5 Kg colocada no prato varivel. Equilbrio de foras: 1 - 5 Kg no prato varivel 5 x L = 8 x 300 L= 8 x 300 = 480 mm 5
teria que colocar o prato varivel a 480 mm do ponto fulcral da balana. c) - Poderia utilizar a massa de 5 Kg colocada no prato fixo as massas de 2 Kg e 1 Kg colocadas no prato varivel. 1 - Massa 5 Kg no prato fixo Equilbrio de foras: 5 x 300 = 3,5 x L L= 5 x 300 = 428,6 3,5
teria que colocar o prato varivel a uma distncia de 428,6 mm do ponto fulcral da balana. 2 - Massas de 2 Kg e 1 Kg colocadas no prato varivel Equilbrio de foras: 3,5 x 300 = 3 x L L= 3,5 x 300 = 350 mm 3
teria que colocar o prato varivel a uma distncia de 350 mm do ponto fulcral da balana.
Fr.T.04 Ut.03
III . 6
IEFP ISQ
7. Determine a corrente terica que atravessa o circuito representado na figura.
Para medir a corrente que atravessa o circuito, colocmos um ampermetro com uma resistncia interna de 100. Determine a corrente que agora atravessa o circuito, e se a resistncia interna for de 10, qual o novo valor da corrente? Iterico = U 20 V = = 0,002 A = 2 mA R 10 000
Valor da intensidade da corrente medida depois de ligarmos um ampermetro com uma resistncia interna de 1000 . I= U 20 V = =1,8 mA R1 + R2 10 000 + 1000 U 20 V = = 1,998 mA R1 + R2 10 000 + 10
Se a resistncia interna for de 10 , a corrente medida ser de: I=
8. Tomando como base o circuito representado na figura, determine qual a queda de tenso na resistncia k1.
Foi colocado um voltmetro entre os bornes da resistncia k1 com uma resistncia interna de 1,5 K; determine a queda de tenso medida pelo voltmetro.
Fr.T.04 Ut.03
III . 7
IEFP ISQ
Qual o valor indicado pelo voltmetro se a sua resistncia interna for de 1 M? 20 = 0,23 mA 86
IT =
UR2 = R2 x IT = 21000 x 0,00023 = 4,83 V RT = R2 x Ri 21 x 1,5 + R1= x 65 = 66,4 K 21 + 1,5 R2 + Ri
U 20 IT = RT = = 0,3 mA 66,4 T A tenso em R2 passa a ser de: UR2 = IT R2 x Ri = 0,0003 x 1400 = 0,42 V R2 + Ri
Voltmetro com uma resistncia interna de 1 M. 21 x 1000 = 85,6 K. 1000 + 21
RT = 65 +
IT =
20 = 0,32 mA 85,6 R2 x Ri = 0,23 x 20600 = 4,7 V R2 + Ri
UR2 = IT
9. Utilizando o circuito do exerccio anterior, determine o valor da corrente indicada por um ampermetro de resistncia interna de 25 ao ser colocado no circuito.
RT = 65 Kg + 21 Kg + 25 W = 86,025 K U = 20 V 20 = 0,23 mA 86,025
I=
10. Refira a resoluo do nnio de uma suta, que faz corresponder 12 divises a 23o. L= 23o 12 23o 23o = = 5' 12 12
Fr.T.04 Ut.03
2L - L' = 2o -
III . 8
IEFP ISQ
III.1
III.2
III.3
III.4
III.5
III.6
Fr.T.04 Ut.03
III.7
III.8
III . 9
IEFP ISQ
III.9
III.10
III.11
III.12
III.13
III.14
III.15
III.16
Fr.T.04 Ut.03
III . 10
IEFP ISQ
III.17
III18
III.19
III.20
III.21
III.22
Fr.T.04 Ut.03
III.23
III.24
III . 11
IEFP ISQ
III.25
III.26
III.27
III.28
III.29
III.30
III.31
III.32
Fr.T.04 Ut.03
III . 12
IEFP ISQ
III.33
III.34
III.35
III.36
III.37
III.38
Fr.T.04 Ut.03
III39
III.40
III . 13
IEFP ISQ
III.41
III.42
III.43
III.44
III.45
III.46
III.47
III.48
Fr.T.04 Ut.03
III . 14
IEFP ISQ
III.49
III.50
III.51
III.52
III.53
III.54
Fr.T.04 Ut.03
III.55
III.56
III . 15
IEFP ISQ
III.57
III.58
III.59
III.60
III.61
III.62
III.63
III.64
Fr.T.04 Ut.03
III . 16
IEFP ISQ
III.65
III.66
III.67
III.68
III.69
III.70
Fr.T.04 Ut.03
III.71
III.72
III . 17
IEFP ISQ
III.73
III.74
III.75
III.76
III.77
III.78
III.79
III.80
Fr.T.04 Ut.03
III . 18
IEFP ISQ
III.81
III.82
Fr.T.04 Ut.03
III . 19
IEFP ISQ
Cadeias Hierarquizadas de Padres
Fr.T.04 Ut.04
IEFP ISQ
RESUMO
Um padro um instrumento ou um sistema de medio destinado a definir ou materializar, conservar ou reproduzir, uma unidade, ou um ou vrios valores conhecidos de uma grandeza. possibilidade de relacionar as medies efectuadas com padres adequados e estes a outros chama-se "rastreabilidade". A forma como se hierarquizam os padres (instrumentos ou aparelhos) de um laboratrio ou empresa chama-se "cadeia hierarquizada de padres". Dever existir sempre uma relao entre a cadeia hierarquizada de padres de um laboratrio ou uma empresa, atravs do seu padro de referncia, com uma cadeia hierarquizada de padres exterior ao laboratrio, e assim sucessivamente, at se chegar a um padro primrio.
PLANO DE SESSO
Contedo
Meios didticos
IV.1 Conceitos de Padres.
Exposio Terica; Transparncia IV.1. Exposio Terica; Transparncia IV.3. Exposio Terica; Transparncia IV.4.
IV.2 Rastreabilidade; Calibrao.
IV.3 Cadeias Hierarquizadas de padres. IV.4 Resoluo dos exerccios de aplicao.
(Exerccios IV.1 a IV.2).
Total:
Fr.T.04
Ut.04
IV . 1
IEFP ISQ
1. Estabelea uma cadeia hierarquizada de padres de massa. 2. Construa uma cadeia hierarquizada de blocos-padro lineares.
1. Cadeia hierarquizada dos padres de massa. Padro Nacional E1
2. Cadeia Hierarquizada dos Blocos de Padres Lineares. Padro Nacional Laser estabilizado
Massas E2
Infermetros Laser
Massas F1
Blocos "oo"
Massas F2
Blocos "o"
Massas M1
Blocos "K" Blocos "1"
Massas M2
Blocos "2"
Massas M3
IV . 2
M.T.04 Ut.04
IEFP ISQ
IV.1
IV.2
IV.3
IV.4
M.T.04 Ut.04
IV . 3
IEFP ISQ
Nor malizao
Normalizao
Fr.T.04 Ut.05
IEFP ISQ
Normalizao
RESUMO
A Normalizao tem por fim a elaborao de regras - normas - de utilizao generalizada ou generalizvel, de interesse comum ou especfico. O advento das normas como necessidade objectiva da sociedade pode localizarse na passagem da produo artesanal industrial, dada a necessidade da intermutabilidade dos produtos entre si e da sua correspondncia populao a que se destina. J na prpria produo artesanal se colocavam necessidades de normalizao. A produo de normas visa, afinal, definir caractersticas, qualitativa e quantitativamente, por forma a obter uma melhor correspondncia possvel dos produtos s necessidades. A escolha e a definio das qualidades e quantidades normalizadas e dos processos de as obter e controlar so a essncia da actividade da normalizao. As normas podem ser tornadas obrigatrias em um dado pas ou regio por razes de sade, segurana, defesa do ambiente, econmicas, etc.
PLANO DE SESSO
Durao indicativa (horas) 1.30min
Contedo
Meios didticos
V.1 Conceitos Fundamentais. V.2 Normalizao Nacional. V.3 Normalizao Regional. V.4 Normalizao Internacional.
Exposio Terica; Transparncia V.1 e 5.2. Exposio Terica; Transparncia V.3. Exposio Terica; Transparncia V.4 e V.5. Exposio Terica
30min
V.5 Resoluo dos exerccios de aplicao.
Exerccios V.1 e V.2
Total:
Fr.T.04
Ut.05
V . 1
Normalizao
IEFP ISQ
1. Faa um estudo da Norma DIN 863 parte 1 e DIN 863 parte 3, de modo a caracteriz-las relativamente ao contedo, ao assunto e sua aplicao. DIN 863 parte 1 Assunto: Micrmetros de medio de exteriores, concepo, requisitos e ensaios. Aplica-se aos micrmetros de exteriores at 500 mm com uma difuso da escala 0,01 mm. O contedo da norma diz respeito s caractersticas dimensionais, funcional e de qualidade, descrevendo tambm os parmetros de ensaio. DIN 863 parte 3 Assunto: Micrmetros especiais para medio de exteriores. Caractersticas, requisitos e ensaios. Aplica-se a Micrmetros de exteriores especiais com caractersticas para aplicaes especficas. O contedo da norma diz respeito aos ciclos e caractersticas de micmetros especiais para medies de exteriores. 2. Consulte e compare as normas relativas a manmetros dos seguintes servios de normalizao: IPQ, DIN, AFNOR.
V . 2
Fr.T.04
Ut.05
IEFP ISQ
Normalizao
V.1
V.2
V.3
V.4
Fr.T.04
Ut.05
V . 3
IEFP ISQ
C - Avaliao
C - Avaliao
Fr.T.04
IEFP ISQ
Teste
Teste
Fr.T.04
IEFP ISQ
Teste
Formador: Classificao: Rbrica:
Data: Local:
Teste
Nome: (Maisculas)
1.
O que entende por Metrologia?
2.
Qual a entidade responsvel pela aplicao da Metrologia Legal?
3.
D exemplo de uma grandeza de base e de uma grandeza derivada.
4.
Enumere 4 causas que originam erros de medio.
5.
Defina natureza de um Nnio.
6.
Determine a natureza do Nnio ilustrado na fig. e indique a medida nele corporizada.
7.
Uma barra de ao tem um comprimento de 200 mm a 15oC. Que comprimento tem a 20oC?
8.
Calcular o erro relativo do exerccio anterior.
9.
Diga quais os instrumentos mais usados numa seco de metalomecnica.
Fr.T.04
1/3
Teste
IEFP ISQ
10. Diga o que sabe sobre blocos padro.
11. A partir de uma caixa com padres angulares como seguidamente se descreve 41o, 27o, 9, 3, 1 e 27, 9, 3, 1, diga quais os padres que usava para fazer um ngulo de 18o 12' e 30''. 12. Calcule a combinao de blocos padro de forma a construir um ngulo de 35o, servindo-se de uma rgua de senos de 100 mm de comprimento. 35o 150
13. Se o volume de um lquido dentro de um termmetro for de 1 cm3, e este tiver um tubo capilar de 0,6 mm de dimetro, ao aumentarmos a temperatura para 80o, quanto sobe o lquido? 14. Se tiver uma balana de brao varivel, como indicado na figura, e tendo disponvel uma massa padro de 2 Kg, como pesava uma massa de 5 Kg?
15. Tendo por base o circuito apresentado na figura, determine qual a resistncia total, a intensidade e a tenso aos bornes de cada resistncia.
16. Indique quais os vrios tipos de padres que conhece.
2/3
Fr.T.04
IEFP ISQ
Teste
17. Diga o que entende por norma. 18. As normas podem abranger vrias reas, diga algumas. 19. Quem, em Portugal, superintende as N. P.? 20. Indique 4 das vantagens obtidas pelo efeito da normalizao dos produtos e/ou servios.
Fr.T.04
3/3
IEFP ISQ
R esoluo do Teste
Resoluo do Teste
Fr.T.04
IEFP ISQ
Resoluo do Teste
RESOLUO DO TESTE
1.
Metrologia a cincia que trata de tudo o que medio das grandezas fsicas, dos sistemas de unidades, dos instrumentos de medida e dos mtodos e tcnicas usadas.
2.
Cabe essa responsabilidade ao IPQ (Instituto Portugus da Qualidade), atravs da direco de Metrologia Legal, delegaes regionais e aferidores das Cmaras Municipais.
3.
Grandeza de base ex.: comprimento, o metro, temperatura, o grau celsio, grandeza derivada ex.: fora, o Newton, velocidade, o m/s.
4.
Diferena de temperatura entre a pea a medir e o instrumento de medio; presso varivel nas peas mveis dos instrumentos de medio; leitura do instrumento de medio com um ngulo no perpendicular em relao escala graduada; Escala mal graduada; pouca prtica do operador, etc.
5.
Chama-se natureza ou preciso do nnio menor dimenso que ele pode medir.
6.
A Natureza do nnio (20-19)/20 = 0,05. A medida que est corporizada 3,65.
7.
L = 200 mm
L = 12 x 106 x 200 x 5 = 0,012 I' = 200 + 0.012 = 200,012 mm I' - L 200,12 - 200 = = 0,00006 200 L
8.
Er =
9.
Os instrumentos mais usados so: paqumetro, paqumetro de nnio duplo, paqumetro para medir profundidade de escteis, esquadro de bisel, esquadro de cepo, esquadro de centros, batmetro, graminho, rgua graduada, fita mtrica de ao, micrmetro de interiores, micrmetro de exteriores, suta universal, calibres de interiores e exteriores, calibres padro, comparadores, etc.
10. Existem dois tipos de blocos padro: de forma paralela e angular.
So feitos de ao temperado ou em carboretos, e so muito resistentes ao desgaste. Podem agrupar-se em diversos grupos para ajudar a verificar cotas parcelares e angulares. Existem no mercado em vrias classes desde a mais exigente "00" at classe menos exigente "2".
Fr.T.04
1/2
Resoluo do Teste
IEFP ISQ
11. 27o - 9 0 + (9' + 3') + 30". 12. 35o 150 h = sen 35o x 100 h h = 0.573 x 100 = 57.357 Combinao: 30 + 20 + 1.3 + 1.05 + 1.007 + 4
13. Coef. Expan. b = 0.00016
Vt = v (1 + b x t) = 1 (1 + 0.00016 x 80) = 1.012 ( ) 2 3.14 (0.06)2 xh = 1.012 = xh 4 4 1.012 h= = 361.7 mm 0.0028 V= 14. L x 5 = 300 x 2 Colocando o brao a uma distncia de 120 mm
L=
600 =120 mm 5
15. RT = R1 + R2 = 50 + 30 = 80 K 16. Padro Internacional, Nacional, Primrio e de Referncia. 17. Norma uma especificao tcnica ou outro documento do domnio pblico preparado com a colaborao e consenso, aprovado por todos os intervenientes atravs de um organismo qualificado. 18. rea da alimentao, segurana. fsica, qumica, ambiente, transportes, metalomecnica, etc. 19. Quem superintende o IPQ - Instituto Portugus da Qualidade. 20. Intermutabilidade dos produtos; Maior facilidade nas trocas comerciais; Racionalizao da produo; Maior segurana; Obteno de nveis da qualidade recomendados.
2/2
Fr.T.04
IEFP ISQ
Ane x o - Tr ansparncias Anex
Anexo - Transparncias
Fr.T.04 An.01
CONCEITO DE METROLOGIA
EXPERIMENTAIS.
METROLOGIA A INTERCINCIA DAS CINCIAS
As suas leis so aplicadas em todas as disciplinas. Cincia muito interligada ao progresso cientfico.
I. 1
DOMNIOS DE ACTIVIDADE
METROLOGIA CIENTFICA METROLOGIA INDUSTRIAL METROLOGIA LEGAL
I. 2
METROLOGIA CIENTFICA Realizao fsica, conservao e desenvolvimento de padres; Laboratrios primrios. METROLOGIA INDUSTRIAL Integrao em cadeias hierarquizadas de padres; Laboratrios acreditados.
I. 3
METROLOGIA LEGAL Instrumentos de medio regulamentados; Nveis de actuao. OPERAES DE CONTROLO METREOLGICO: Aprovao de modelo; Primeira verificao; Verificao peridica; Verificaes extraordinrias.
I. 4
ESTRUTURA NACIONAL
CONSELHO NACIONAL DA QUALIDADE COMISSES PERMANENTES COMISSES TCNICAS
I. 5
FONTES DE ERRO
ERRO ABSOLUTO ERRO RELATIVO ERRO SISTEMTICO ERRO ALEATRIO
II. 1
ERROS IMPUTVEIS AO AMBIENTE Variaes de temperatura; Radiaes solares; Calor provocado pela iluminao Temperatura do aparelho que executa a medio
II. 2
Variaes do comprimento em funo de diferenas de temperatura
II. 3
Radiaes solares
Metrologia e Normalizao II. 4
Calor provocado pela iluminao

Dilatao de um corpo
Deformao devida presso de contacto

Erros imputveis ao operador
Exemplo de erro na leitura devido a paralaxe

Presso excessiva na aplicao do paqumetro

Posio do comparador
II. 10
Posio do micrmetro de profundidades

METROLOGIA DOS COMPRIMENTOS
Nnio angular
III. 1
1/
10mm
+ 1/1000
III. 2
Escala flexvel
III. 3
Fita mtrica alcance 20 m
III. 4
Fita para medio de dimetros em corpos cilindricos
III. 5
Paqumetro convencional e sistemas de leitura (com nnio, escala circular e digital)
III. 6
Paqumetro para medio de exteriores e Interiores com as faces de medio e medio de exteriores com pontas de medio
III. 7
Paqumetro para medio de interiores e exteriores
III. 8
Paqumetro para medio de exteriores e interiores com as faces de medio e medio de interiores com pontas cruzadas
Metrologia e Normalizao III. 9
Paqumetro para medio de ranhuras
III. 10
Paqumetro de profundidades
Paqumetro de alturas
Verificao do zero
III. 13
Colocao do componente entre as faces de medio
Colocao das faces de medio entre as superfcies a medir
Encosto do componente face de medio fixa
Encosto da face de medio fixa a uma das superfcies a medir
Encosto da face de medio mvel componente, efectuando a leitura
Encosto da face de medio mvel, efectuando a leitura
III. 14
Micrmetro de exteriores, Com tambor de 50 divises
III. 15
Micrmetro de exteriores com tambor de 100 divises
III. 16
Micrmetro de profundidades
III. 17
Micrmetro de interiores de dois pontos
III. 18
Micrmetro de interiores de trs pontos
III. 19
Micrmetro de ponta esfrica para espessura de parede de tubos
Micrmetro de discos (pratos)
Micrmetro para verificao de roscas

Avano rpido
Avano ajustado
Acerto do zero padro

Verificao de leitura com bloco

III. 21
Comparador de engrenagens com resoluo 0,01 mm Amplitude 10 mm

8 2
Alavanca de presso constante
11 7
3 12 6 7 5
Regulador de presso
Mola de presso de medio Dispositivo de elevao da haste
9 4 10
1. Caixa redonda 2. Ponteiro 3. Escala 4. Haste 5. Cremalheira 6. Carreto 7. Carreto 8. Carreto 9. Mola 10. Apalpador 11. Cabelo 12. Ponteiro
Descrio de comparador
Comparador de haste telescpica Amplitude 30 mm

Comparador de alavanca
Suporte para comparador com mesa

Verificao de erros de forma e posicionamento com comparadores de alavanca
III. 27
Blocos Padro lineares
III. 28
Conjunto de blocos padro lineares
III. 29
Conjunto de Blocos Padro Angulares
III. 30
Coordenao de blocos angulares

Rgua de senos de 100 mm
III. 32
Esquadro suporte com rgua de senos
Esquadro plano e Esquadro de cantos
Esquadro plano recto de arestas biseladas

Esquadro de cepo
III. 33
Esquadro cilndrico
Esquadro de centros
III. 34
Gonimetro ou suta universal

Lupa
Limbo graduado
Nnio duplo
Rgua deslizante
Disco Esquadro / Rgua fixa Brao
Descrio do gonimetro
III. 36
Estados de superfcie
Ra (rugosidade mdia)
Rz (Rugosidade mdia)
III. 38
Fundamentos de temperatura termodinmica
A temperatura uma grandeza macroscpica intensiva, isto , uma grandeza que, num sistema em equilbrio, tem o mesmo valor em todo o sistema e em toda a parte (no demasiado pequena) desse mesmo sistema . A temperatura no uma grandeza mensurvel no sentido estrito do termo, pois se se pode definir a igualdade de duas temperaturas, no se pode definir a sua soma.
III. 39
TEMPERATURA A utilizao de um termmetro assenta nos dois factos experimentais seguintes:

Quando dois sistemas isolados do seu ambiente so postos em contacto, eles atingem, ao fim de um certo tempo, um estado de equilbrio trmico, onde j no h mais transferncia de calor de um para outro (neste estado de equilbrio, as duas temperaturas so iguais); Quando dois sistemas esto em equilbrio trmico com um terceiro, eles esto em equilbrio trmico entre eles e as suas temperaturas so iguais.
III. 40
SISTEMA FSICO
O calor faz com que os corpos se dilatem e se contraiam. Aproveitando o efeito dessa dilatao ou contrao, que nada mais que uma fora ou movimento, podemos medir a temperatura. Seja a dilatao do comprimento de uma barra metlica, seja o aumento de volume de um lquido dentro de um recipiente, verificam-se os vrios tipos de impulso de temperatura.
III. 41
TEMPERATURA
Termmetro de lquido
III. 42
Princpio de funcionamento dos termmetros bimetlicos

Princpio de funcionamento dos termopares
III. 44
Constituio de um termopar
III. 45
Blocos de massa padro
III. 46
O DINAMMETRO
Os dinammetros so aparelhos que se destinam a medir A intensidade das foras. A sua construo baseia-se: Na elasticidade das molas: estas deformam-se pela aco das foras e voltam forma primitiva logo que as foras deixam de actuar. Na variao de resistncia elctrica.
III. 47
Balana de Roberval
III. 48
Balana decimal
III. 49
Balana semi-automtica
III. 50
Balana romana
III. 51
Clula elctrica de um dinammetro
F = Fora aplicada L = Comprimento de clula DL = Variao do comprimento da clula Rs = Extensmetros
III. 52
AMPERE
O ampere a intensidade de uma corrente que, mantida em dois condutores paralelos, rectilnios, de comprimento infinito, de seco circular desprezvel e colocados distncia de 1 metro um do outro, no vazio, produziria entre estes condutores uma fora igual a 2x10-7 Newton por metro de comprimento.
III. 53
Ampermetros
O Ampermetro o aparelho destinado a medir a intensidade da corrente elctrica. Um ampermetro no mais que um instrumento de, por exemplo, bobina mvel, pelo qual circula toda a parte da corrente que se deseja medir. A corrente mxima que pode circular por um instrumento aquela para a qual a agulha se desvia at ao fim da escala. Para a medio da intensidade de uma corrente elctrica, o ampermetro deve ligar-se em srie com a carga. Desta forma, a corrente que circula pela carga a mesma que circular pelo instrumento de medida.
III. 54
Ligao em srie de um ampermetro
III. 55
Circuito formado por uma pilha e uma resistncia
III. 56
Ligao de um ampermetro em srie com a carga
III. 57
Ampermetro com resistncia interna de pequeno valor
III. 58
Ampermetro com vrias escalas de medida
III. 59
Ampermetro com shunt com resistncias ligadas em srie
III. 60
Ampermetro com resistncias em srie e em paralelo
III. 61
Voltmetro
Voltmetro com ligao em paralelo
III. 63
Circuito com duas resistncias em srie

Voltmetro de elevada resistncia interna
III. 65
Princpio de funcionamento de um ohmmetro
III. 66
Curto-circuito
III. 67
TEMPO
Existem 3 escalas diferentes, mas no independentes, de contar o tempo:
Tempo Universal Tempo Efemrides Tempo Atmico
III. 68
INTENSIDADE LUMIINOSA
A candela uma unidade de intensidade luminosa A candela a intensidade luminosa, numa direco dada, de uma fonte que emite uma radiao monocromtica de Frequncia 560 x 1012 Hz, e cuja intensidade nessa direco de 1/683 W.sr 1 (Sr=Esterradiano (ngulo slido))
III. 69
QUANTIDADE DE SUBSTNCIA
A unidade de quantidade de substncia o mole. O mole a quantidade de substncia de uma sistema que contm tantas entidades elementares quantos os tomos que existem em 0,012 Kg de 12C (carbono 12). A natureza das unidades elementares (tomos, molculas, ies, electres, etc.) deve ser especificada. O nmero de tomos de carbono-12 existentes em 0,012 Kg 6,023 x 1023, Sendo este nmero designado por nmero de Avogadro.
III. 70
METROLOGIA DAS PRESSES A presso dada pelo quociente entre a fora exercida e a rea onde aplicada a fora A unidade do Sistema Internacional para esta grandeza fsica o Pascal
1Pa =
1N 1m2
III. 71
VRIO TIPOS DE PRESSO Absoluta Atmosfrica Relativa Diferencial
III. 72
TCNICAS E INSTRUMENTOS DE MEDIDA

Para medir os diferentes tipos de presses existem vrios tipos de equipamento: Barmetro para medir presses absolutas; Manmetro para medir presses relativas superiores atmosfera; Vacumetro para medir presses relativas inferiores atmosfera; Medidores de presso diferencial para medir diferenas de presso; Instrumentos que so combinao dos anteriores, por exemplo: Manovacumetros.
III. 73
Tipos de aparelhos
III. 74
LEI FUNDAMENTAL DA HIDROSTTICA
PS=Patm + gh Prel = PS Patm = gh = K.h
III. 75
Exemplo
O comprimento mnimo que deve ter um tubo piezomtrico para medir a presso, em um tubo contendo um lquido de densidade 2,8 presso relativa de 200 gf/cm2 :
200 gf/cm2 x 98,1 Pa/gf/cm2 h= = 74 cm 3 3 2 2,8 x 10 Kg/m x 98,1 m/s
III. 76
Manmetro de tubo em U
Medio de presso relativa
Medio de presso absoluta
Medio de presso diferencial

Manmetro metlico de tubo elstico

Manmetro metlico de presso por fole

Experincia de Torricelli
METROLOGIA DOS VOLUMES
Capacidade; Tempo de escoamento; Classe de preciso.
III. 82
CONCEITOS DE PADRES
Padro primrio Padro secundrio Padro internacional Padro nacional Padro de referncia Padro de trabalho
IV. 1
Exigncias associadas aos padres:

Domnio de medio em que vlido (alcance, gama, etc.); O processo de medio na sua realizao (princpios, mtodos, procedimentos, incerteza, etc.); As condies de utilizao e de referncia; Os procedimentos de manuteno e conservao; Os registos das utilizaes.
IV. 2
CALIBRAO
Importa ter em ateno que: O resultado da calibrao permite a estimativa dos erros de indicao do instrumento de medio, ou do sistema de medio, ou a fixao de valores para as referncias em escalas arbitrrias; A calibrao pode tambm determinar outras propriedades metrolgicas; O resultado da calibrao deve ser registado em um documento, por vezes chamado certificado de calibrao ou relatrio de calibrao; O resultado da calibrao , frequentemente, expresso como um factor de calibrao ou como uma srie de factores de calibrao, sob a forma de uma curva de calibrao.
IV. 3
CADEIAS HIERARQUIZADAS DE PADRES

Devem transmitir informao sobre os padres nelas includos, no que diz respeito a: Princpios de realizao; Incertezas; Domnios de medio que so vlidos; Mtodos e dispositivos de transferncia; Estabilidade e reprodutibilidade; Periodicidade e reprodutibilidade; Periodicidade de calibrao; Recomendaes de conservao; Princpios de realizao dos padres; Domnio de validade dos padres.
IV. 4
CONCEITOS FUNDAMENTAIS
Segundo a NP 1620, Norma uma especificao tcnica ou outro documento do domnio pblico, preparado com a colaborao e o consenso ou a aprovao geral de toda as partes interessadas, baseado em resultados conjugados da cincia, da tecnologia e da experincia, visando a optimizao de benefcios para a comunidade no seu conjunto e aprovado por um organismo para tal qualificado.
V. 1
Espao de LAC VERMAN
V. 2
V. 3
Comit Europeu de Normalizao (CEN)

O objectivo fundamental do CEN promover o desenvolvimento do comrcio e do intercmbio de servios atravs das seguintes aces:
Harmonizar as normas dos pases-membros do CEN e criar normas europeias (EN); Proprocionar UE, EFTA e a outras organizaes governamentais um conjunto de Normas Europeias que possam ser referidas na legislao dos respectivos pases; Cooperar, no domnio das normalizaes europeias de natureza poltica, econmica e cientfica; Apoiar a normalizao internacional, especialmente a da ISO (International Organisation for Standardization) e da CEI; Colaborar com o Comit Europeu de Normalizao Electrotcnico CENELEC; Implementar as normas ISO e CEI na Europa; Certificar produtos, com base em normas europeias; Elaborar relatrios relativos ao estado de harmonizao de normas nos pases-membros do CEN.
Metrologia e Normalizao V. 4

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Metr olo gia e Nor malizao Metrolo ologia Guia do Formador

A - APRESENTAO GLOBAL DO MDULO

AGM.1 AGM.1 AGM.1 AGM.2 AGM.3 AGM.4 AGM.4 AGM.5

B - EXPLORAO PEDAGGICA DAS UNIDADES TEMTICAS

I. SUBSISTEMA NACIONAL DE METROLOGIA

I.1 I.2 I.4

II. FACTORES DE INFLUNCIA NA MEDIO

II.1 II.2 II.4

Metr olo gia e Nor malizao Metrolo ologia Guia do Formador

III. TCNICAS E INSTRUMENTOS DE MEDIDA

III.1 III.4 III.9

IV. CADEIAS HIERARQUIZADAS DE PADRES

IV.1 IV.2 IV.3

V.1 V.2 V.3

Metr olo gia e Nor malizao Metrolo ologia Guia do Formador

A - Apresentao Global do Mdulo

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Apresentao Global do Mdulo

Mdulo(s) obrigatrio(s) Matemtica aplicada

Saberes prvios Conhecimentos de base para aplicao s tarefas profissionais identificadas.

Este mdulo poder ser utilizado nos seguintes domnios:

Qualidade Industrial Planeamento e Controlo da Produo Manuteno Industrial

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Apresentao Global do Mdulo

Aquisio Experincia profissional superior a cinco anos

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Apresentao Global do Mdulo

Durao Indicativa (horas) 4

I. Subsistema Nacional de Metrologia

II. Factores de influncia na Medio

III. Tcnicas e Instrumentos de Medida

IV.Cadeias Hierarquizadas de Padres.

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Apresentao Global do Mdulo

De acordo com o desenvolvimento proposto em cada plano de sesso, deve proceder-se :

Combinao de momentos expositivos com a utilizao de mtodos activos,

Utilizao do software GESMAT para reforar a aprendizagem dos conceitos

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Apresentao Global do Mdulo

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Apresentao Global do Mdulo

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B - Explor ao P eda ggica das Unidades Temticas Peda edaggica

B - Explorao Pedaggica das Unidades Temticas

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Subsistema Nacional de Metrologia

Subsistema Nacional de Metrologia

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Subsistema Nacional de Metrologia

Subsistema Nacional de Metrologia

Durao indicativa (horas) 1

I.1 Conceito de Metrologia.

Desenvolver conceitos de metrologia; Transparncias I.1 a I.2.

I.2 Domnios de Actividade; Metrologia Cintfica; Metrologia Industrial; Metrologia Legal.

I.3 Estrutura Nacional.

Indicar a estrutura nacional; Transparncia I.5. Exerccios I.1 a I.2.

I.4 Resoluo dos Exerccios de Aplicao.