2012

EVALUACIN DE VIDA TIL RESIDUAL DE AISLAMIENTO COMPUESTO DE MICA Y RESINA CON BASE EN PRUEBAS DE ENVEJECIMIENTO ACELERADO
AIDA YUBELLY CARANTON MUOZ
UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA FACULTAD DE INGENIERA DEPARTAMENTO DE INGENIERA ELCTRICA Y ELECTRNICA BOGOT D.C. - COLOMBIA 2012
EVALUACIN DE VIDA TIL RESIDUAL DE AISLAMIENTO COMPUESTO DE MICA Y RESINA CON BASE EN PRUEBAS DE ENVEJECIMIENTO ACELERADO
AIDA YUBELLY CARANTON MUOZ
Tesis de grado para optar al ttulo de Magster en Ingeniera Elctrica
Director ING. FRANCISCO JAVIER AMORTEGUI GIL Lnea de Investigacin: Aislamiento Elctrico
UNIVERSIDAD NACIONAL DE COLOMBIA FACULTAD DE INGENIERA DEPARTAMENTO DE INGENIERA ELCTRICA Y ELECTRNICA BOGOT D.C. - COLOMBIA 2012
A Dios, a mi Madre, a mi Familia y a Juan Manuel, por todo el amor y apoyo que siempre me han brindado.
AGRADECIMIENTOS
Agradezco al profesor Francisco J. Amrtegui Gil director de este trabajo, por todos sus aportes, su orientacin y sus enseanzas, durante todo el proceso de este proyecto. Al Ingeniero Jos I. Velsquez por su colaboracin y asesora, que fueron primordiales para el desarrollo de este proyecto. Al Laboratorio de Ensayos Elctricos Industriales LABE de la Universidad Nacional de Colombia, por la constante y fundamental colaboracin. Al Laboratorio de Compatibilidad Electromagntica EMC de la Universidad Nacional de Colombia por la cooperacin en la realizacin de ensayos. A la Universidad Nacional de Colombia por la formacin y las oportunidades que me ha brindado durante toda mi formacin profesional.
RESUMEN En el presente estudio se disearon y construyeron probetas cuyo aislamiento se compone de mica y resina, las cuales fueron sometidas a envejecimiento acelerado con temperatura y tensin constante. Con base en los tiempos de ruptura obtenidos, se estim la vida til residual a partir del modelo de potencia inversa y el modelo exponencial. Durante el proceso de envejecimiento se realizaron mediciones de prdidas dielctricas y descargas parciales, con el fin de identificar tendencias o lmites de estas variables. A partir de las mediciones realizadas, se identificaron las variables que presentaron resultados relevantes para la evaluacin del estado del aislamiento a lo largo de su envejecimiento.
Palabras clave: Envejecimiento acelerado, prdidas dielctricas, tangente delta, Aislamiento de mica y resina, modelos de envejecimiento.
ABSTRACT
In the present study were designed and built specimens whose insulation is composed of mica and resin, these specimens were subjected to accelerated aging, with constant temperature and voltage. Based on the failure data obtained the remaining life is estimated from the inverse power model and the exponential model. During the aging process, dielectric loss and partial discharges were measured, in order to identify trends or boundaries of these variables. From the measurements, were identified the variables that showed significant results for the assessment of the insulation along its aging.
Keywords: Accelerated aging, dielectric loss, tan delta, mica and resin insulation, aging models.
CONTENIDO
INTRODUCCIN 1. CONCEPTOS BSICOS DE DIELCTRICOS 1.1. 1.2. 1.3. 1.4. PARMETROS DE LOS DIELCTRICOS POLARIZACIN DE LOS DIELCTRICOS PRDIDAS DIELCTRICAS RUPTURA DE DIELCTRICOS SLIDOS
12 14 14 15 17 17 18 18 18 18 19 19 19 21 23 24 24 25 26 28 29 29 30
2. VARIABLES PARA EVALUACIN DE ENVEJECIMIENTO DEL AISLAMIENTO 2.1. ENSAYOS DESTRUCTIVOS 2.1.1. TENSIN DE RUPTURA 2.1.2. ENVEJECIMIENTO ACELERADO 2.2. ENSAYOS NO DESTRUCTIVOS 2.2.1. TENSIN APLICADA 2.2.2. FACTOR DE DISIPACIN (TANGENTE DELTA) Y TIP-UP 2.2.3. DESCARGAS PARCIALES 2.2.4. NDICE DE POLARIZACIN 3. MODELOS DE ENVEJECIMIENTO 3.1. 3.2. 3.3. 3.4. MODELO DE ENVEJECIMIENTO BAJO ESFUERZO TRMICO MODELOS DE ENVEJECIMIENTO BAJO ESFUERZO ELCTRICO MODELOS DE ENVEJECIMIENTO MULTI-ESFUERZO DISTRIBUCIN DE PROBABILIDAD DE WEIBULL
4. ENSAYO DE ENVEJECIMIENTO ACELERADO 4.1. DESCRIPCIN DE PROBETAS 4.2. DESCRIPCIN DEL ENSAYO DE ENVEJECIMIENTO ACELERADO
5. ANLISIS DE RESULTADOS 5.1. ESTIMACIN DE VIDA RESIDUAL 5.1.1. ESTIMACIN DE VIDA RESIDUAL POR MEDIO DEL MODELO DE POTENCIA INVERSA 5.1.2. ESTIMACIN DE VIDA RESIDUAL POR MEDIO DEL MODELO EXPONENCIAL 5.1.3. ESTIMACIN DE VIDA RESIDUAL MTODO SIMPLE 5.1.4. COMPARACIN RESULTADOS ENTRE EL MODELO DE POTENCIA INVERSA Y EL MODELO EXPONENCIAL 5.2. EVOLUCIN DE VARIABLES 5.2.1. EVOLUCIN DE VARIABLES EN PROBETAS SOMETIDAS A 17KV 5.2.2. EVOLUCIN DE VARIABLES EN PROBETAS SOMETIDAS A 20KV 5.2.3. COMPARACIN RESULTADOS A 17KV Y A 20KV CONCLUSIONES TRABAJOS FUTUROS BIBLIOGRAFA ANEXO 1. CARACTERSTICAS DE LA MICA Y LA RESINA ANEXO 2. RESULTADOS DE MEDICIN ANEXO 3. SIMULACIN CAMPO ELCTRICO EN PROBETA
33 33 35 39 43 44 45 45 63 72 73 74 75 77 79 88
LISTADO DE FIGURAS
Figura 2.1. Circuito equivalente serie .................................................................................. 19 Figura 2.2. Circuito equivalente paralelo ............................................................................. 20 Figura 2.3. Aislamiento con cavidad.................................................................................... 22 Figura 2.4. Circuito equivalente aislamiento con cavidad ................................................... 22 Figura 2.5. Circuito equivalente corrientes en DC ............................................................... 23 Figura 4.1. Estructura fsica de la probeta............................................................................ 29 Figura 4.2. Fotografa de Probeta ......................................................................................... 30 Figura 4.3. Circuito Alta Tensin ........................................................................................ 31 Figura 4.4. Circuito alta corriente ........................................................................................ 31 Figura 4.5. Esquema fsico conexin de probetas ................................................................ 32 Figura 4.6. Fotografa conexin de probetas ........................................................................ 32
LISTADO DE GRFICAS
Grfica 5.1. Modelo potencia inversa Ln (E) vs Ln (L).................................................. 36 Grfica 5.2. Modelo potencia inversa Ajuste Lineal....................................................... 37 Grfica 5.3. Vida residual a 2kV Modelo Potencia Inversa .............................................. 38 Grfica 5.4. Vida residual a 5kV Modelo Potencia Inversa .............................................. 38 Grfica 5.5. Vida residual a 8kV Modelo Potencia Inversa .............................................. 39 Grfica 5.6. Modelo Exponencial Ln(L) vs E ................................................................. 40 Grfica 5.7. Modelo exponencial ajuste lineal ..................................................................... 40 Grfica 5.8. Vida residual a 2kV Modelo Exponencial .................................................... 41 Grfica 5.9. Vida residual a 5kV Modelo Exponencial .................................................... 42 Grfica 5.10. Vida residual a 8kV Modelo Exponencial .................................................. 42 Grfica 5.11. Estimacin vida residual Mtodo simple .................................................... 44 Grfica 5.12. Factor de disipacin en funcin de la tensin probeta 1 ................................ 45 Grfica 5.13. Factor de disipacin en funcin de la tensin probeta 5 ................................ 46 Grfica 5.14. Factor de disipacin en funcin de la tensin probeta 26 .............................. 46 Grfica 5.15. Factor de disipacin en funcin de la tensin probeta 19 .............................. 47 Grfica 5.16. Factor de disipacin en funcin de la tensin probeta 19 .............................. 47 Grfica 5.17. Factor de disipacin en funcin del tiempo bajo envejecimiento - probeta 1 48 Grfica 5.18. Factor de disipacin en funcin del tiempo bajo envejecimiento - probeta 5 49 Grfica 5.19. Factor de disipacin en funcin del tiempo bajo envejecimiento - probeta 26 .............................................................................................................................................. 49 Grfica 5.20. Factor de disipacin en funcin del tiempo bajo envejecimiento - probeta 19 .............................................................................................................................................. 50 Grfica 5.21. Factor de disipacin en funcin del tiempo bajo envejecimiento - probeta 41 .............................................................................................................................................. 50 Grfica 5.22. Tendencia del FD a 10kV al final de la vida til ........................................... 51 Grfica 5.23. Evolucin del Tip-Up a lo largo del envejecimiento ..................................... 52 Grfica 5.24. Evolucin capacidad probeta 1 ...................................................................... 53 Grfica 5.25. Evolucin capacidad probeta 5 ...................................................................... 53 Grfica 5.26. Evolucin capacidad probeta 26 .................................................................... 54 Grfica 5.27. Evolucin capacidad probeta 19 .................................................................... 54 Grfica 5.28. Evolucin capacidad probeta 41 .................................................................... 55 5.29. ndice de polarizacin ................................................................................................. 56
Grfica 5.30. Pulsos mayores a 50mV Envejecimiento a 17kV ....................................... 57 Grfica 5.31. Pulsos mayores a 500mV Envejecimiento a 17kV ..................................... 58 Grfica 5.32. Pulsos mayores a 1V Envejecimiento a 17kV ............................................ 59 Grfica 5.33. Pulsos menores a -50mV Envejecimiento a 17Kv ...................................... 59 Grfica 5.34. Pulsos menores a -500mV Envejecimiento a 17kV .................................... 60 Grfica 5.35. Pulsos mayores a 1V ltimo registro antes de falla ................................... 61 Grfica 5.36. Probeta 1 despus de 187 horas de envejecimiento ....................................... 61 Grfica 5.37. Probeta 5 despus de 228 horas de envejecimiento ....................................... 62 Grfica 5.38. Probeta 26 despus de 228 horas de envejecimiento ..................................... 62 Grfica 5.39. Probeta 41 despus de 506 horas de envejecimiento ..................................... 62 Grfica 5.40. Factor de disipacin en funcin de la tensin probeta 44 .............................. 64 Grfica 5.41. Factor de disipacin en funcin de la tensin probeta 21 .............................. 64 Grfica 5.42. Factor de disipacin en funcin del tiempo bajo envejecimiento - probeta 44 .............................................................................................................................................. 65 Grfica 5.43. Factor de disipacin en funcin del tiempo bajo envejecimiento - probeta 21 .............................................................................................................................................. 65 Grfica 5.44. Evolucin del Tip-Up a lo largo del envejecimiento ..................................... 66 Grfica 5.45. Evolucin capacidad probeta 44 .................................................................... 67 Grfica 5.46. Evolucin capacidad probeta 21 .................................................................... 67 Grfica 5.47. ndice de Polarizacin 20kV ....................................................................... 68 Grfica 5.48. Pulsos mayores a 50mV Envejecimiento a 20kV ....................................... 68 Grfica 5.49. Pulsos mayores a 500mV Envejecimiento a 20kV ..................................... 69 Grfica 5.50. Pulsos mayores a 1V Envejecimiento a 20kV ............................................ 69 Grfica 5.51. Pulsos menores a -50mV Envejecimiento a 20kV ...................................... 70 Grfica 5.52. Pulsos menores a -500mV Envejecimiento a 20kV .................................... 70 Grfica 5.53. Probeta 44 despus de 40 horas de envejecimiento ....................................... 71 Grfica 5.54. Probeta 21 despus de 46 horas de envejecimiento ....................................... 71
Evaluacin de vida til residual de aislamiento compuesto de mica y resina con base en pruebas de envejecimiento acelerado
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INTRODUCCIN
Las fallas de mquinas rotativas de plantas de generacin hidroelctrica afectan la confiabilidad de los sistemas elctricos de potencia. Adicionalmente, estas generan grandes prdidas econmicas y gastos en reparaciones. De acuerdo con estadsticas internacionales, la principal causa de falla en los generadores hidroelctricos es la ruptura del aislamiento de los bobinados del estator [1]. Es por esta razn que el diagnostico del estado del aislamiento de los bobinados del estator de mquinas de generacin, es esencial para determinar el momento oportuno de reemplazo de bobinados y de esta manera evitar fallas causadas por el deterioro del aislamiento. Sin embargo, el reemplazo de los bobinados estatricos genera altos costos para las compaas, por lo cual es deseable maximizar el tiempo de operacin de los mismos estimando su vida til residual. Los principales esfuerzos a los que est sometido el aislamiento y causan su envejecimiento son esfuerzo elctrico, esfuerzo trmico y esfuerzo mecnico. Las pruebas de envejecimiento acelerado son utilizadas a nivel mundial desde hace dcadas, para estimar la distribucin de vida bajo condiciones normales de operacin. Estas pruebas de envejecimiento acelerado consisten en someter el material a esfuerzos mayores a los que estara expuesto en condiciones normales y utilizando un modelo extrapolar los resultados obtenidos para determinar la vida residual en condiciones de operacin normal [2][3]. Como documento referencia para la ejecucin de pruebas de envejecimiento acelerado a bobinados estatricos, fue publicada en 1985 la primera versin de la norma IEEE Practica recomendada para pruebas de envejecimiento de barras (IEEE Standard 1043 Recommended Practice for Voltage-Endurance Testing of Form-Wound Bars and Coils). La ltima versin fue publicada en 1996 [4]. La norma se orienta a la realizacin de pruebas de envejecimiento acelerado a barras de bobinados estatricos de mquinas rotativas, hasta tensin mxima de 30kV, y en ella se describen los equipos y el procedimiento para la realizacin del ensayo. En la Universidad Nacional de Colombia, el departamento de Ingeniera Elctrica y Electrnica desarroll el proyecto de investigacin "Modelos para determinar la vida til residual de centrales de generacin", en colaboracin con Emgesa S.A ESP y Colciencias. Dentro de las actividades del proyecto, se sometieron a envejecimiento acelerado (siguiendo la norma IEEE 1043 - 1996) barras de generador. Teniendo en cuenta que una
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de las alternativas de solucin al presentarse falla del aislamiento de los bobinados, es la reparacin del aislamiento de las barras en la zona de falla, paralelamente al proyecto se planteo la estimacin de vida til con base en pruebas de envejecimiento acelerado de probetas que reprodujeran el aislamiento de la zona reparada. En el presente documento se resumen algunos conceptos bsicos de dielctricos y se describen los modelos utilizados para la estimacin de vida residual. Posteriormente se describe la construccin de las probetas de aislamiento compuesto de mica y resina, as como los ensayos realizados. Finalmente, se presentan los resultados obtenidos y el anlisis de los mismos.
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1. CONCEPTOS BSICOS DE DIELCTRICOS
Un material dielctrico es aquel que al ser sometido a una tensin dada no permite el paso de corriente elctrica. Adems tiene la capacidad de polarizarse al ser sometido a un campo elctrico externo. El trmino de material aislante tambin es comnmente utilizado, los dielctricos son aislantes pero no todos los aislantes son dielctricos. En general, cuando se utiliza el trmino material aislante se hace referencia a la propiedad de este de impedir el paso de corriente, mientras que al referirse al material dielctrico se incluyen sus diversas propiedades.
1.1. Parmetros de los dielctricos A continuacin se definen algunos de los parmetros ms relevantes de los dielctricos. Capacitancia. Es la propiedad que permite almacenar cargas separadas elctricamente, cuando existe una diferencia de potencial en dicho material. El trmino capacidad (C) se refiere a la relacin que existe entre la carga elctrica (q) de dos cuerpos y la diferencia de potencial (V) que aparece entre ellos. =
(Ec.1.1)
Resistencia de aislamiento. Es la relacin entre la tensin directa dielctrico y la corriente directa que lo atraviesa. =

aplicada a un
(Ec.1.2)
Rigidez dielctrica. Corresponde al valor de intensidad de campo elctrico (E), con el cual el dielctrico se perfora. Para el caso ms sencillo, de un campo elctrico uniforme en el dielctrico, la rigidez dielctrica se puede expresar como la razn entre la tensin disruptiva ( ) y el espesor del material dielctrico (h) (Ec. 1.3).
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(Ec.1.3)
Susceptibilidad elctrica . Es la constante de proporcionalidad que relaciona la intensidad de campo elctrico (E) con la polarizacin elctrica inducida (P).
Permitividad. Est determinada por la tendencia de un material a polarizarse ante la aplicacin de un campo elctrico y de esa forma anular parcialmente el campo interno del material. Est directamente relacionada con la susceptibilidad elctrica . La permitividad de un material generalmente se expresa en relacin con la del vaco 0 , denominndose permitividad relativa r . = = 1 +
0
(Ec.1.4)
Los valores de los parmetros elctricos de los dielctricos tales como resistividad, capacitancia, etc, no son constantes, sino que dependen de otros factores tales como la humedad, la temperatura, la magnitud de tensin aplicada, las impurezas presentes en el material, la frecuencia, etc.
1.2. Polarizacin de los dielctricos
Al someter un material dielctrico a un campo elctrico externo sus molculas se orientan segn el campo aplicado, este fenmeno se conoce como polarizacin. Las molculas de un dielctrico se pueden clasificar en polares y no polares. En las molculas polares la distribucin interna de sus cargas no es simtrica, mientras que en las molculas no polares si lo es. Dicho de otra forma, las molculas no polares son aquellas en las que los centros de gravedad de los ncleos positivos y de los electrones normalmente coinciden, mientras que en las molculas polares no lo hacen [5].
Al polarizarse el dielctrico adquiere un momento elctrico, el cual es cero en ausencia del campo elctrico externo. El momento elctrico es igual a la suma geomtrica de los momentos de todas las molculas polarizadas en el volumen polarizado (Vol). La intensidad de la polarizacin (P) es la magnitud que caracteriza numricamente el
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fenmeno de polarizacin en el dielctrico [6] y es igual al lmite cuando el volumen tiende a cero, de la relacin entre el momento elctrico y el volumen del dielctrico polarizado. Para el caso ms sencillo de un campo homogneo, se plantea la ecuacin 1.5.
/2
(Ec. 1.5)
En los dielctricos lineales la polarizacin (P) y el desplazamiento elctrico (D), son directamente proporcionales a la intensidad de campo elctrico (E). El desplazamiento elctrico se expresa por medio de la ecuacin 1.6. Siendo D, E y P magnitudes vectoriales.
= 0 +
(Ec. 1.6)
La relacin entre la polarizacin (P) y la intensidad de campo elctrico (E), se da por medio de la susceptibilidad elctrica y la permitividad del vacio 0 , como se muestra en la ecuacin 1.7. La relacin entre el desplazamiento elctrico (D) y la intensidad de campo elctrico (E), se da por medio de la permitividad relativa del dielctrico y la permitividad del vacio 0 , como se muestra en la ecuacin 1.8.
= 0
(Ec. 1.7)
= 0
(Ec. 1.8)
En general existen tres tipos polarizacin, segn el mecanismo fsico del fenmeno. Estos son polarizacin electrnica, inica y dipolar. La polarizacin electrnica es el desplazamiento de los electrones con respecto al ncleo del tomo. La polarizacin inica representa el desplazamiento de los iones, uno con respecto al otro. La polarizacin dipolar se refiere al cambio de orientacin de los dipolos permanentes de las molculas al aplicar un campo elctrico [6].
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1.3. Prdidas Dielctricas Los materiales dielctricos al ser sometidos a un campo elctrico variable permiten el paso de una pequea corriente, la cual constituye una prdida de energa en forma de calor. Las perdidas dielctricas (En el captulo 2 se exponen las expresiones asociadas a prdidas dielctricas) se refieren a la potencia disipada debido a este fenmeno. Existen tres tipos de prdidas, prdidas por conduccin, prdidas por polarizacin y prdidas por histresis dielctrica. Las prdidas por conduccin hacen referencia a las prdidas por traslacin de cargas elctricas, las cuales pueden consistir en electrones o iones. Las prdidas por polarizacin se presentan a ciertas frecuencias, cuando los dipolos siguen la orientacin del campo elctrico aplicado, generando rozamiento entre las molculas. Las prdidas por histresis dielctrica se deben a la inercia con que el desplazamiento o densidad de carga D sigue las variaciones de la intensidad del campo elctrico (E), al someter el dielctrico a una tensin alterna.
1.4. Ruptura de dielctricos slidos Los materiales aislantes o dielctricos soportan un valor limitado de tensin. Este valor difiere entre los diversos materiales, segn los valores de sus propiedades dielctricas y otros factores externos (Temperatura, Humedad, Presin, etc). Los mecanismos de ruptura varan de acuerdo al estado del aislante, ya sea solido, lquido o gaseoso. Para los dielctricos slidos existen principalmente dos mecanismos principales de ruptura, ruptura puramente elctrica y ruptura trmica. La ruptura puramente elctrica surge como resultado de la interaccin entre las partculas cargadas libres (electrones, iones) aceleradas por el campo elctrico y las partculas del dielctrico, bajo la accin de un campo elctrico externo [6]. Este tipo de ruptura no da lugar a los procesos secundarios como el calentamiento, sino que se produce rpidamente debido a las fuerzas del campo elctrico aplicado. Por lo tanto, de no presentarse este tipo de ruptura inmediatamente despus de aplicada la tensin (del orden de microsegundos), es probable que posteriormente no se presente una ruptura puramente elctrica. La ruptura trmica surge por el aumento de temperatura del material, debido a que el calor disipado por la muestra es menor que el calor producido, al aplicar un campo elctrico externo. Al aumentar la temperatura del material aumentan sus prdidas dielctricas, por lo tanto un incremento de la velocidad de crecimiento de las prdidas dielctricas con el paso del tiempo puede indicar que se producir una ruptura del dielctrico [7].
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2. VARIABLES PARA AISLAMIENTO
EVALUACIN
DE
ENVEJECIMIENTO
DEL
En el presente captulo se describen algunos de los ensayos que se realizan a los aislamientos slidos, para evaluar su estado. 2.1. Ensayos destructivos En las pruebas destructivas el material aislante es sometido a esfuerzos que resultan en la ruptura del material.
2.1.1. Tensin de ruptura Esta prueba consiste en aplicar al aislamiento tensin, incrementando gradualmente su magnitud desde un valor bajo, hasta que se presente la ruptura del material. El resultado de la prueba corresponde al mximo valor de tensin alcanzado previamente a la ruptura. Esta prueba se lleva a cabo tanto con tensin directa como con tensin alterna [8].
2.1.2. Envejecimiento acelerado El envejecimiento acelerado consiste en someter el material aislante a un esfuerzo o combinacin de esfuerzos, cuyos valores superan su lmite de operacin normal. Estos esfuerzos pueden ser trmicos (temperatura), mecnicos (vibracin), elctricos (Tensin) o ambientales (Humedad, presin, etc). El ensayo de envejecimiento acelerado busca simular en tiempos cortos (Horas o semanas) la degradacin que sufre el material debido a los esfuerzos a los que est sometido en operacin normal. En condiciones nominales esta degradacin tardara aos. Con base en los resultados de la prueba de envejecimiento, se estima la vida til residual o vida remanente del material bajo condiciones de operacin, extrapolando los tiempos de ruptura, por medio de modelos que describen los resultados obtenidos. Esta prueba se realiza tanto a materiales nuevos como a materiales que han estado en operacin [4].
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2.2. Ensayos no destructivos
Por medio de las pruebas no destructivas o pruebas diagnstico, se busca obtener informacin del estado del aislamiento, sin generar deterioro en el mismo. A continuacin se presentan algunas de las pruebas usadas en aislamientos slidos.
2.2.1. Tensin Aplicada La prueba de tensin aplicada consiste en aplicar al aislamiento tensin, incrementando gradualmente su magnitud desde un valor bajo, hasta alcanzar la tensin mxima definida previamente segn las caractersticas de diseo y operacin del aislamiento. Es una prueba de corta duracin (minutos), con la cual se verifica si el objeto bajo prueba cumple o no cumple. El resultado es favorable (cumple) cuando transcurrido el tiempo de prueba el aislamiento no presenta falla o ruptura. Esta prueba se realiza tanto en tensin directa como en tensin alterna [8].
2.2.2. Factor de disipacin (Tangente Delta) y Tip-Up El circuito equivalente de un material aislante corresponde a un condensador y una resistencia. El condensador representa las propiedades de aislante elctrico de dicho material y la resistencia representa sus prdidas dielctricas. Este circuito equivalente puede estar en paralelo o en serie como se muestra en las figuras 2.1 y 2.2.
Figura 2.1. Circuito equivalente serie
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Figura 2.2. Circuito equivalente paralelo
Cp : Capacitancia en paralelo : : ngulo de fase :
R p : Resistencia equivalente en paralelo : : ngulo de prdidas : 2 f
El factor de potencia FP corresponde a la proporcin entre la potencia activa disipada en el aislamiento y la potencia aparente. Tambin se expresa como el coseno del ngulo teta (), el cual corresponde a la diferencia angular entre la seal de tensin y corriente. = (Ec. 2.1)
El factor de disipacin FD corresponde a la tangente del ngulo de prdidas dielctricas delta (), el cual tambin se puede expresar en funcin del ngulo teta como ( =90-). = (Ec. 2.2)
El factor de disipacin en funcin del factor de potencia se expresa como: = = =

1 2 1
(Ec. 2.3) (Ec. 2.4)
Teniendo en cuenta las expresiones para FP y FD =

1 2
(Ec. 2.5)
20
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Para expresar el factor de potencia en funcin del factor de disipacin se tiene: = = = =

1 1 2 +1
(Ec. 2.6) (Ec. 2.7) (Ec. 2.8) (Ec. 2.9)
Teniendo en cuenta las expresiones para FP y FD, =

2 +1
(Ec. 2.10)
Otra de las medidas asociadas a las prdidas dielctricas es el Tip-Up, el cual corresponde a la diferencia entre el factor de disipacin (tip-up del FD) (o el factor de potencia (tip-up del FP)) medido a dos diferentes tensiones. En general, las dos tensiones corresponden a una tensin baja de aproximadamente el 20% de la tensin nominal y una tensin cercana a la nominal del orden del 80%.
2.2.3. Descargas Parciales El trmino descarga parcial hace referencia una descarga elctrica que se presenta dentro o en la superficie del aislamiento, pero que sin embargo no representa perforacin total del mismo. En los aislamientos slidos, pueden existir internamente cavidades microscpicas que contienen gases, cuando la tensin aplicada sobre el aislamiento excede determinado lmite, se presenta ionizacin de los gases presentes en estas cavidades, generando de esta manera las descargas parciales. En la figura 2.4 se muestra el circuito equivalente de un aislamiento solido que contiene una cavidad interna (Figura 2.3). Cc representa la capacidad de la cavidad, Cs corresponde a la capacidad del dielctrico que est en serie con la cavidad y Ca corresponde a la capacidad del resto del aislamiento.
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Figura 2.3. Aislamiento con cavidad
Cs Ca Cc Va
Figura 2.4. Circuito equivalente aislamiento con cavidad
Se asume una geometra simple de placas paralelas tanto para la totalidad del aislante como para la cavidad. corresponde a la permitividad del dielctrico, se asume la permitividad del gas contenido en la cavidad = 1. A es el rea correspondiente a las dimensiones de la cavidad. Se tienen las expresiones para Cs y Cc, y se calcula la tensin y el esfuerzo elctrico ( ) en la cavidad.
Ec.(2.11)
= =
1
Ec.(2.12)
= +
Ec.(2.13)
1 1+ 1
Ec.(2.14)
1+
1 1
Ec.(2.15)
Teniendo en cuenta que en general y > 1, se observa de acuerdo con la ecuacin 2.15 que el esfuerzo elctrico en la cavidad es mayor que en el resto del aislante. Por lo tanto para valores nominales de se presentar disrupcin en la cavidad. Las descargas parciales pueden manifestarse por medio de diferentes fenmenos fsicos, como pulsos elctricos, luz, pulsos acsticos, as como manifestaciones por reacciones qumicas. Actualmente se han desarrollado diferentes sistemas de medicin de descargas
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parciales, segn el fenmeno fsico a evaluar. El sistema ms comn es la medicin de pulsos elctricos. Cada vez que se presenta una descarga parcial se crea un flujo de corriente, la cual genera un pulso de tensin a travs de la impedancia del aislamiento. Cada segundo se pueden medir cientos de pulsos.
2.2.4. ndice de Polarizacin El coeficiente entre la tensin directa aplicada durante determinado tiempo a un aislamiento y la corriente total resultante (IT), se conoce como resistencia de aislamiento. La corriente total se representa como la suma de cuatro componentes, que son, la corriente capacitiva (Ic), la corriente de absorcin o polarizacin (Ip), la corriente de fuga superficial (If) y la corriente de conduccin (Io). El circuito equivalente se muestra en la figura 2.5.
IT If Ic Io Ip
Figura 2.5. Circuito equivalente corrientes en DC
La corriente capacitiva es de corta duracin y desaparece aproximadamente un minuto despus de aplicada la tensin. La corriente de absorcin o polarizacin decae con el tiempo, esta depende principalmente del tipo de material aislante. La corriente de conduccin en aislamientos de mica y polyester es prcticamente cero, a menos que se tenga presencia de humedad en el material. La corriente de fuga superficial es constante en el tiempo. En general ndice de polarizacin se define como el coeficiente entre la resistencia medida despus de haber aplicado tensin durante diez minutos y la resistencia medida despus de haber aplicado tensin durante un minuto. Sin embargo, es posible definir tiempos de medicin diferentes para estimar el ndice de polarizacin. Esta medida es un indicativo de la velocidad de variacin del valor de la resistencia de aislamiento, ya que en general la corriente tiende a disminuir con el tiempo pero velocidad a la que esta disminuye vara de acuerdo al estado del aislamiento.
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3. MODELOS DE ENVEJECIMIENTO
Los materiales aislantes sufren deterioro de sus propiedades fsicas, qumicas y elctricas, debido a los diferentes esfuerzos a los que estn sometidos. Estos esfuerzos pueden ser trmico, elctrico, mecnico, ambiental, etc. En general, los esfuerzos que generan mayor deterioro o envejecimiento de los materiales aislantes en condiciones de operacin, son esfuerzo trmico y esfuerzo elctrico.
3.1. Modelo de envejecimiento bajo esfuerzo trmico De acuerdo a la teora desarrollada por Thomas W. Dakin [9] que asocia el deterioro del aislamiento elctrico con procesos qumicos, el envejecimiento trmico se debe a la aceleracin de reacciones qumicas causada por el aumento de temperatura. Con base en la ecuacin formulada por Svante Arrhenius, llamada ecuacin de Arrhenius, se expresa la tasa de reaccin qumica en funcin de la temperatura y la energa de activacin. La tasa de envejecimiento se asume igual a la tasa de reaccin qumica, la cual se expresa como: = ( /) (Ec. 3.1)
Donde A y B son constantes. A corresponde al factor pre-exponencial y B la relacin entre la energa de activacin y la constante de Boltzmann. T es la temperatura absoluta. Al expresar la vida residual ( ) debida al envejecimiento trmico como el inverso de la tasa de envejecimiento [10] se tiene: = ( / )
1
(Ec. 3.2)
Para expresar la ecuacin 3.2 en funcin de la temperatura ambiente, se evala ( ) en T=T0, obteniendo L0, al despejar (1/A) y reemplazar en la ecuacin 3.2 se obtiene: = 0 ( /0 ) ( / ) = 0 ( ) Con =
0
(Ec. 3.3) (Ec. 3.4)
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La ecuacin 3.4 es utilizada cuando se tiene como temperatura mnima de referencia la temperatura ambiente.
3.2. Modelos de envejecimiento bajo esfuerzo elctrico Para estimacin de vida remanente o residual del aislamiento, cuando este es sometido a estrs elctrico, se han desarrollado varios modelos. En los aos 30 V.M. Montsinger publico una expresin matemtica que relacionaba la tensin y el tiempo de falla de acuerdo a sus resultados experimentales, como una funcin de potencia inversa. Desde entonces expresiones similares con pequeas variaciones han sido publicadas por varios autores (D. A. McLean, L. Egerton, N. Parkman, H. E. Eyring, H. S. Endicott,etc) [11][12][13]. Estos modelos se basan principalmente en resultados experimentales. Surgen a partir de la bsqueda de una expresin que se ajuste a los datos obtenidos de pruebas de envejecimiento. Existen dos modelos mayormente utilizados internacionalmente, el modelo de potencia inversa y el modelo exponencial [14][15][16][17]. El modelo exponencial se describe por la siguiente expresin
(Ec. 3.5)
= +
(Ec. 3.6)
Donde L: Vida remanente [Horas]; E: Estrs elctrico [kV/mm]; a y b: Constantes
Al graficar en una escala logartmica la vida remanente L en funcin del estrs elctrico en escala normal, se obtiene una lnea recta.
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El modelo de potencia inversa se describe por la siguiente expresin = Que de forma lineal se expresa como: = + (Ec. 3.8) Donde L: Vida remanente [Horas] ; E: Estrs elctrico [kV/mm]; C y n: Constantes
(Ec. 3.7)
Al graficar en una escala logartmica en ambos ejes, la vida remanente L en funcin del estrs elctrico se obtiene una lnea recta.
3.3. Modelos de envejecimiento Multi-Esfuerzo Con el objetivo de mejorar la precisin en la estimacin de vida residual de los aislamientos, se han planteado modelos que incluyen ms de una variable de envejecimiento, principalmente temperatura y tensin. Algunos de estos modelos son los siguientes [13][18]. Modelo de Simoni [19] [20] Este modelo es desarrollado por Luciano Simoni y expresa la estimacin de vida residual en funcin del esfuerzo trmico y elctrico. La ecuacin general para este modelo se expresa como,
0
( ) 0
(Ec. 3.9)
Donde L corresponde a la vida residual estimada, E el esfuerzo elctrico, E0 esfuerzo elctrico por debajo del cual no se presenta envejecimiento elctrico, L0 es la vida estimada a para E menor a E0, b es una constante del material, n corresponde al exponente de la ley de potencia inversa, B es la constante del modelo de Arrhenius y DT es el delta de temperatura ((1/T0 ) (1/T)), con T0 la temperatura ambiente y T la temperatura absoluta.
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Modelo de Ramu [21] Este modelo es desarrollado por T.S. Ramu, se basa en el modelo desarrollado por Eyring. Se expresa como: = ( 1 2 ) ( 1 2 ) ( ) (Ec. 3.10)
Donde B, k1,k2,n1 y n2 son constantes. L, E,DT y B corresponden a las mismas variables del modelo de simoni.
Modelo Exponencial de Fallou [22] Desarrollado por B. Fallou en. Se expresa como: =
1 +2 +
1 + 2
(Ec. 3.11)
Donde A1,A2,B1,B2 son constantes determinadas experimentalmente. L es la vida residual estimada, E corresponde al esfuerzo elctrico y T la temperatura absoluta.
Modelo de Crine [23] Modelo desarrollado por Jean Pierre Crine en 1990. El cual se expresa como: L=k
h
BT
G e E kB T
(Ec. 3.12)
Siendo k B la constante de Boltzmann, h la constante de Planck, G y son determinados experimentalmente y e es la carga de las partculas que participan en el proceso de envejecimiento. E y T, corresponden a los esfuerzos elctrico y trmico respectivamente.
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__________________________________________________________________________________________________________________________
3.4. Distribucin de probabilidad de Weibull
La distribucin de probabilidad Weibull de dos parmetros, es la distribucin ms utilizada para el anlisis de datos de pruebas de envejecimiento acelerado [24][25], su funcin de distribucin est dada por la expresin 3.13:
= 1
, 0
(Ec. 3.13)
: :
: :
La funcin de densidad de probabilidad est dada por la expresin 3.14.
, 0 (Ec. 3.14)
El valor 1 es aproximadamente el percentil 63.2% y se interpreta como el valor de la variable del tiempo de vida en el que han fallado el 63.2% de las unidades. Para la estimacin de los parmetros ( y ) de la distribucin de Weibull, el mtodo ms utilizado es el de mxima verosimilitud, que a su vez emplea mtodos numricos. As mismo, actualmente existen varios programas de software por medio de los cuales es posible estimar estos parmetros.
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__________________________________________________________________________________________________________________________
4. ENSAYO DE ENVEJECIMIENTO ACELERADO
4.1. Descripcin de Probetas Las probetas utilizadas para el ensayo (Figura 4.1 y 4.2), fueron construidas siguiendo una tcnica de reparacin de aislamiento en barras de generadores. El conductor utilizado fue un tubo rectangular de aluminio. Las aristas del tubo fueron limadas con el fin de disminuir la concentracin de intensidad de campo elctrico. El tubo fue recubierto con diez capas de cinta de mica y resina epxica entre capa y capa. Una vez finalizadas las diez capas de mica y resina, y con el objetivo de comprimir y dar soporte mecnico al aislamiento, este se recubre con una capa de cinta de fibra de vidrio. Posteriormente, la seccin bajo estudio se cubre con una capa de cinta semiconductiva. Las secciones restantes en los extremos, son cubiertas en una fraccin con cinta de asbesto para generar el gradiente de tensin.
Figura 4.1. Estructura fsica de la probeta
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__________________________________________________________________________________________________________________________
Figura 4.2. Fotografa de Probeta
Cada capa de cinta de mica soporta 1000V. Bajo las condiciones de construccin de la probeta, cuyo aislamiento est compuesto de diez capas de cinta de mica y resina, se estima una tensin de diseo de 8kV. La mxima tensin antes de presentarse disrupcin superficial entre el punto de aplicacin de alta tensin (cinta semiconductiva) y el punto de de baja tensin (tubo de aluminio a cero voltios) fue de 25kV, que corresponde a la tensin mxima de gradiente. Las probetas fueron sometidas a un proceso de secado de resina durante 15 horas, previo a la aplicacin de tensin de envejecimiento. La temperatura de secado corresponde a la misma temperatura del ensayo de envejecimiento, la cual fue de 100C en el tubo de aluminio.
4.2. Descripcin del Ensayo de Envejecimiento Acelerado
Para el desarrollo del presente estudio, las probetas fueron sometidas a esfuerzo trmico y elctrico. Se definieron tres tensiones de prueba, 17kV, 20kV y 23kV. Estas tensiones se definieron teniendo en cuenta que en las referencias consultadas las tensiones de prueba varan entre 1.8 y 3 veces la tensin nominal. El circuito de alta tensin se muestra en la figura 4.3. Las capacitancias C1, C2 hasta Cn, representan el aislamiento de las probetas bajo prueba.
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Variac
Transformador ALTA TENSIN
UPS
VBT
VAT
C1
C2
Cn
Figura 4.3. Circuito Alta Tensin
La temperatura de prueba fue constante para los tres ensayos (tres niveles de tensin). Para elevar la temperatura de las probetas, se aplico una corriente (Ic) de 330 Amperios a los tubos de aluminio conectados en serie. La temperatura en el tubo de aluminio se mantuvo alrededor de los 100C y en la superficie de la probeta se mantuvo alrededor de los 90C. El circuito de alta corriente se muestra en la figura 4.4. Las resistencias R1, R2 y Rn, representan los tubos de aluminio.
Transformador ALTA CORRIENTE
Ic
R1
R2
Rn
Tablero
VBC
VAC
Figura 4.4. Circuito alta corriente
El esquema fsico del ensayo se muestra en las figuras 4.5 y 4.6.
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__________________________________________________________________________________________________________________________
Figura 4.5. Esquema fsico conexin de probetas
Figura 4.6. Fotografa conexin de probetas
Se sometieron a envejecimiento acelerado un total de catorce probetas. Cuatro a 23kV, cuatro a 20kV y seis a 17kV. Teniendo en cuenta que la dispersin de los datos es mayor a tensiones ms bajas, la cantidad de probetas sometidas a 17kV fue mayor. Se registraron los tiempos de ruptura, por medio de un hormetro conectado en baja tensin. Con capacidad para medir hasta centsimas de hora.
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5. ANLISIS DE RESULTADOS
En el presente captulo se exponen los resultados del ensayo de envejecimiento acelerado y la estimacin de la vida residual del aislamiento compuesto de mica y resina, con base en los modelos de potencia inversa y exponencial. En los resultados de vida til no se contemplaron correcciones por temperatura, debido a que la temperatura del ensayo corresponde a la temperatura de operacin. En la segunda parte del captulo, se exponen los resultados de las mediciones de factor de disipacin, capacidad y descargas parciales, realizadas a lo largo del proceso de envejecimiento.
5.1. Estimacin de vida residual
A continuacin se presentan los tiempos de falla obtenidos en el ensayo de envejecimiento acelerado a las diferentes tensiones.
Tensin de Envejecimiento: 17kV Identificacin Tiempo de falla Probeta (Horas) 40 27.64 1 189.49 5 246.37 26 303.96 19 377.63 41 568.95
Tabla 5.1. Tiempos de falla a 17kV
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Tensin de Envejecimiento: 20kV Identificacin Tiempo de falla Probeta (Horas) 23 0.94 43 11.27 44 46.4 21 58.74
Tensin de Envejecimiento: 23kV Identificacin Tiempo de falla Probeta (Horas) 8 0.73 45 1.56 22 1.84 42 5.05
Con base en estos resultados se calculan los parmetros (Parmetro de escala) y (Parmetro de forma), de la distribucin Weibull, utilizando una herramienta de software. Los resultados obtenidos se muestran en la tabla 5.4.
Tensin (kV) 17 20 23 Parmetros 314.95 1.60 27.54 2.57 0.86 1.50
Tabla 5.4 Parmetros Distribucin Weibull
Una vez obtenidos los parmetros de la distribucin de Weibull, es posible calcular el tiempo para cualquier probabilidad de falla en ese nivel de tensin. Se calculan los tiempos de las probabilidades 0.5%, 1%, 2%, 4%, 6%, 8% y 10%. Los cuales se muestran en la tabla 5.5.
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Tensin (kV) 17 20 23 0,5% 11.562 0.058 0.0759 1% 17.846 0.130 0.120 1,5% 23.021 0.209 0.158
Probabilidad de Falla 2% 27.591 0.293 0.192 4% 42.796 0.664 0.306 6% 55.477 1.078 0.404 8% 66.828 1.526 0.492 10% 77.333 2.003 0.575
Tabla 5.5. Tiempos de falla calculados - (Horas) Para correlacionar los datos de tiempos de falla calculados con los niveles de tensin correspondientes, se aplica el modelo de potencia inversa y el modelo exponencial.
5.1.1. Estimacin de vida residual por medio del modelo de potencia Inversa
Como se vio en el captulo tres, el modelo de potencia inversa se describe por medio de la expresin Ec.5.1. = + (Ec. 5.1)
Donde L: Vida remanente [Horas] ; E: Estrs elctrico [kV/mm]; C y n: Constantes
Teniendo en cuenta que el espesor promedio del aislamiento de las probetas es de 3.5 mm y conocidos los valores de L para determinadas probabilidades de falla (Tabla 5.5), se calculan los valores de lnE y lnL (Tabla 5.7).
Tensin (kV) 17 20 23
E (kV/mm) 4.86 5.71 6.57
Ln E 1.58 1.74 1.88
Tabla 5.6. Esfuerzo elctrico en cada nivel de tensin
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Ln (E)
Ln (0,5%) 2,45 -2,85 -2.58
Ln (1%) 2,88 -2,04 -2.12
Ln (1,5%) 3,14 -1,57 -1.84
Ln (2%) 3,32 -1,23 -1.65
Ln (4%) 3,76 -0,41 -1.18
Ln (6%) 4,02 0,07 -0.91
Ln (8%) 4,20 0,42 -0.71
Ln (10%) 4,35 0,69 -0.55
1.58 1.74 1.88
Tabla 5.7. Valores de y En la grfica 5.1 se muestran las series para las probabilidades 0.5% hasta 10%. Cada serie de datos se ajusta a una lnea recta para obtener los valores estimados de las constantes y . En la grfica 5.2 se muestran las lneas de tendencia para las probabilidades 2%, 6% y 10%. Los valores de las constantes y , de las probabilidades evaluadas, se presentan en la tabla 5.8.
Grfica 5.1. Modelo potencia inversa Ln (E) vs Ln (L)
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Grfica 5.2. Modelo potencia inversa Ajuste Lineal
Probabilidad 0,5% 1% 1,50% 2% 4% 6% 8% 10%
n -17.06 -16.90 -16.81 -16.75 -16.59 -16.50 -16.44 -16.38
Ln C 28.61 28.91 29.08 29.21 29.52 29.70 29.83 29.93
Tabla 5.8. Valores de las constantes y Modelo Potencia Inversa A partir de las constantes obtenidas (tabla 5.8), se evala la vida residual para un nivel de tensin bajo (2kV), un nivel medio (5kV) y un nivel alto (8kV).
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Grfica 5.3. Vida residual a 2kV Modelo Potencia Inversa
Grfica 5.4. Vida residual a 5kV Modelo Potencia Inversa
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Grfica 5.5. Vida residual a 8kV Modelo Potencia Inversa Al evaluar los resultados del ensayo de envejecimiento acelerado, por medio del modelo de potencia inversa, a 8kV con probabilidad de falla del 2% se obtiene una vida residual de 4.71 X 106 horas (537 aos). Para una tensin media de 5kV, con probabilidad de falla del 2% se obtiene una vida residual de 1.24 X 1010 horas (1.41 X 106). En general los resultados obtenidos por medio del modelo de potencia inversa, an para un nivel de tensin alto, alcanzan cifras demasiado altas para ser consideradas representativas de la vida residual del aislamiento bajo prueba.
5.1.2. Estimacin de vida residual por medio del modelo exponencial
El modelo exponencial se describe por medio de la expresin lineal de la Ec. 5.2. = + (Ec. 5.2)
Donde L: Vida remanente [Horas]; E: Estrs elctrico [kV/mm]; a y b: Constantes Los valores de (tabla 5.7) obtenidos para diferentes probabilidades de falla y los valores correspondientes al esfuerzo elctrico E (tabla 5.6), se muestran en la grfica 5.6.
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Grfica 5.6. Modelo Exponencial Ln(L) vs E Cada serie de datos se ajusta a una lnea recta para obtener los valores estimados de las constantes y . En la grfica 5.7 se muestran las lneas de tendencia para las probabilidades 2%, 6% y 10%. Los valores de las constantes y , de las probabilidades evaluadas, se presentan en la tabla 5.9.
Grfica 5.7. Modelo exponencial ajuste lineal
40
__________________________________________________________________________________________________________________________
Probabilidad
0,5% 1% 1,50% 2% 4% 6% 8% 10%
b
-2,93 -2,91 -2,91 -2,90 -2,88 -2,87 -2,86 -2,86
ln a
15,76 16,23 16,51 16,71 17,19 17,47 17,68 17,84
Tabla 5.9. Valores de las constantes y - Modelo Exponencial A partir de las constantes obtenidas (tabla 5.9), se evala la vida residual para un nivel de tensin bajo (2kV), un nivel medio (5kV) y un nivel alto (8kV). Los resultados para las probabilidades evaluadas se muestran en la grficas 5.8, 5.9 y 5.10.
Grfica 5.8. Vida residual a 2kV Modelo Exponencial
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Grfica 5.9. Vida residual a 5kV Modelo Exponencial
Grfica 5.10. Vida residual a 8kV Modelo Exponencial Para una probabilidad de falla de 2%, la estimacin de vida residual por medio del modelo exponencial a 8kV corresponde a 2.39 X 104 horas (2.7 aos), para una tensin de 5kV corresponde a 2.87 X 105 horas (32.7 aos) y para una tensin de 2kV corresponde a 3.44 X 106 horas (393 aos).
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__________________________________________________________________________________________________________________________
5.1.3. Estimacin de vida residual Mtodo Simple En esta seccin se evalan los datos de tiempos de falla obtenidos, sin utilizar una distribucin de probabilidad. Se calcula el promedio de tiempo de falla para cada tensin y se grafican en funcin del esfuerzo elctrico.
Tensin (kV)
E (kV/mm)
Ln (E)
Tiempos de falla (Horas) 27,64 189,49 246,37 303,96 377,63 568,95 0,94 11,27 46,4 58,74 0,73 1,56 1,84 5,05
Promedio (Horas)
Ln (t promedio)
17
4,86
1,58
285,67
5,65
20
5,71
1,74
29,34
3,38
23
6,57
1,88
2,30
0,83
Tabla 5.10. Resumen de datos Estimacin vida residual mtodo simple En la grfica 5.11 se muestran las aproximaciones lineales correspondientes al modelo de potencia inversa y el modelo exponencial.
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Grfica 5.11. Estimacin vida residual Mtodo simple Al evaluar el modelo de potencia inversa para una tensin de 8kV, se obtiene una vida til de 50.7 X 107 Horas (5.7 X 103 aos), con el modelo exponencial la vida til estimada para 8kV corresponde a 4.15 X 105 Horas (47 aos).
5.1.4. Comparacin resultados entre el modelo de potencia inversa y el modelo exponencial
Al evaluar el modelo de potencia inversa (Seccin 5.1.1) y el modelo exponencial (Seccin 5.1.2) para los resultados experimentales obtenidos, se observan diferencias en el orden de magnitud de los tiempos de vida residual, entre 103 y 109 Horas. La estimacin para una probabilidad de falla del 0.5% a una tensin de 8kV es de 228 aos con el modelo de potencia inversa y de 1 ao con el modelo exponencial. El modelo de Potencia Inversa presenta valores muy altos de vida residual (Grficas 5.3, 5.4, 5.5), los cuales no podran considerarse como representativos del aislamiento bajo estudio. Mientras que los tiempos de vida residual obtenidos con el modelo Exponencial presentan valores ms bajos, que podran ser usados como referencia para definir los lmites de operacin del aislamiento bajo estudio.
44
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Al evaluar ambos modelos por medio de un mtodo simple, sin aplicar distribucin de probabilidad a los resultados experimentales, se obtienen tiempos de vida residual altos comparados con los obtenidos al aplicar la distribucin de Weibull.
5.2. Evolucin de variables
5.2.1. Evolucin de variables en probetas sometidas a 17kV 5.2.1.1. Evolucin del factor de disipacin
Las mediciones de factor de disipacin (FD) se realizaron a 5 niveles de tensin, 2kV, 4kV, 6kV, 8kV y 10kV [Anexo 2]. La medida del factor de disipacin inicial (identificada con t=0h) corresponde a la medida despus de secado. Con el fin de identificar alguna variacin o tendencia en la velocidad de cambio del factor de disipacin a medida que aumenta la tensin, en los diferentes tiempos de envejecimiento, se ajustan los datos de las mediciones a una lnea recta y se identifica esta velocidad como la pendiente de la recta. En las graficas 5.12 a 5.16 se presentan las expresiones correspondientes para cada probeta.
Grfica 5.12. Factor de disipacin en funcin de la tensin probeta 1
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En las cinco probetas sometidas a envejecimiento a 17kV, se observa que la mayor variacin del factor de disipacin entre tensiones se presenta antes del envejecimiento (series 0 h), con pendientes en las lneas de tendencia correspondientes de 0.7 , 0.6 , 0.7, 0.8 y 0.8 para las probetas 1, 5, 26, 19 y 41 respectivamente. Es posible que este fenmeno se deba a que el proceso de secado se completo durante las primeras horas de envejecimiento, lo cual indica que el tiempo de secado debera ser mayor a 15 horas. A lo largo del envejecimiento la forma de la curva correspondiente a cada probeta es similar, aunque se presentan variaciones en las pendientes de las lneas de tendencia, como se puede observar en las graficas 5.17 a 5.21. Estas pendientes presentan aumentos y disminuciones, durante el proceso de envejecimiento a 17kV. No se presenta una relacin constante entre la pendiente antes de falla y el tiempo de fallo presentado. Lo cual se puede observar en las probetas 5 y 41, cuyas pendientes en la ltima medicin antes de falla fueron de aproximadamente 0.2 en ambos casos, pero el tiempo de falla de la probeta 5 fue de 246,37 horas mientras que el de la probeta 41 fue de 568,95 horas. A continuacin se presentan los grficos correspondientes a la variacin del factor de disipacin en cada nivel de tensin a lo largo del envejecimiento.
Grfica 5.17. Factor de disipacin en funcin del tiempo bajo envejecimiento - probeta 1
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49
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En todas las probetas se presenta un cambio entre la medida antes de envejecimiento (0 h) y la primera medicin despus de algunas horas de envejecimiento. Sin embargo, en algunos
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casos (Probeta 1) disminuye el valor del factor de disipacin y en otros casos (Probeta 19) este aumenta. Durante el envejecimiento los valores en los diferentes niveles de tensin en cada probeta siguen la misma tendencia. En las probetas 1, 5, 26 y 41 se presenta un aumento en los valores de factor de disipacin hacia el final de la vida til. Al calcular la pendiente de la lnea de tendencia a partir del punto de inflexin en el cual el factor de disipacin empieza a aumentar, se observa [Grfica 5.22] que en las probetas 1 (t falla: 189.49), 5 (t falla: 246.37), 26 (t falla: 303.96) y 19 (t falla: 377.63), el valor de la pendiente es inversamente proporcional al tiempo de falla. Particularmente para la probeta 41 (t falla: 568.95) cuyo tiempo de falla fue el mayor, se observa un comportamiento un poco diferente, dado que a lo largo del envejecimiento el factor de disipacin se mantiene ms estable que en las dems probetas, pero al final de la vida til la pendiente de aumento del FD es mayor que la probeta 1 con menor tiempo de falla.
Grfica 5.22. Tendencia del FD a 10kV al final de la vida til
En la grfica 5.23 se muestra la evolucin del Tip-up a lo largo del envejecimiento, para las probetas sometidas a 17kV.
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Grfica 5.23. Evolucin del Tip-Up a lo largo del envejecimiento
En las tendencias del Tip-up a lo largo del envejecimiento a 17kV, se observan oscilaciones en las diferentes barras. En las probetas 1, 5, 26 y 19 se presenta un aumento del valor del Tip-up haca el final de la vida til, a excepcin de la probeta 41 que presenta una disminucin.
5.2.1.2.
Evolucin Capacidad
A continuacin se presentan las grficas de los valores de capacidad, registrados a lo largo del envejecimiento de las barras 1, 5, 26, 19 y 41, sometidas a 17kV.
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Grfica 5.24. Evolucin capacidad probeta 1
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El comportamiento de la capacidad presenta diferentes tendencias a lo largo del envejecimiento en todas las barras. En las probetas 5 y 26, se observa una disminucin del valor de capacidad durante el envejecimiento, aunque en la probeta 26 la capacidad aumento en las ltimas horas de su vida til. La probeta 19 aunque presenta oscilaciones en el valor de capacidad durante el envejecimiento, en general la tendencia es decreciente. Las probetas 1 y 41, presentan un aumento del valor de capacidad a lo largo del envejecimiento, sin embargo hacia el final de su vida til se presenta una tendencia decreciente.
5.2.1.3.
Evolucin ndice de Polarizacin
A continuacin se presentan los resultados de las mediciones del ndice de polarizacin, realizadas a las probetas 1, 5, 26, 19 y 41, durante el proceso de envejecimiento a 17 kV.
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__________________________________________________________________________________________________________________________
5.29. ndice de polarizacin En general no se observa una tendencia (ascendente o decreciente) constante en los valores del ndice de polarizacin a lo largo del envejecimiento.
5.2.1.4.
Evolucin de Descargas Parciales
La medicin de descargas parciales se realiz a travs del registro de los pulsos de descargas presentados en cada barra a 10kV. Estos registros se realizaron a lo largo del proceso de envejecimiento [Anexo 2]. Para cuantificar el crecimiento de las descargas parciales, se establecieron cinco rangos de tensin de los pulsos, tres positivos (>50mV; >500mV; >1V) y dos negativos (<-50mV; <500mV). Los rangos inician en 50mV dado que esta fue la lectura de mximo ruido, la cual se realiz previamente a las medidas. Con base en los registros se contabilizaron la cantidad de pulsos para cada rango a lo largo del envejecimiento. A continuacin se presentan los grficos de los resultados obtenidos.
56
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Grfica 5.30. Pulsos mayores a 50mV Envejecimiento a 17kV
Por medio de la grfica de pulsos mayores a 50mV, se pretende observar la cantidad total de pulsos positivos presentes en cada barra a lo largo del envejecimiento. En general no se presenta un aumento significativo en la cantidad de pulsos mayores a 50mV, aunque la probeta 5 presenta un aumento en la cantidad de pulsos entre las 15 y 129 horas, esta cantidad se reduce hacia el final de su vida til. A excepcin de la probeta 5, las probetas 1, 26, 19 y 41, tienen aproximadamente entre 70.000 y 90.000 pulsos de descargas parciales a lo largo de su vida til. Aunque la probeta 5 presenta menor cantidad de pulsos (aproximadamente 50% menos) que las dems probetas, esta caracterstica no corresponde con una mayor vida til, de acuerdo a los resultados de tiempos de falla obtenidos. Despus de unas pocas horas de envejecimiento se presenta una disminucin en la cantidad de pulsos, la cual es una caracterstica comn en todas las barras.
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Despus de las primeras horas de envejecimiento, en ninguna de las probetas la cantidad de pulsos mayores a 500mV, disminuye por debajo del mnimo valor anterior. Las probetas 1, 26 y 19, presentan grandes incrementos en la cantidad de pulsos en determinados intervalos. Para la probeta 26 el incremento es de ms de 3000 pulsos despus de aproximadamente 80 horas de envejecimiento, lo cual equivale a prcticamente el doble de su valor inicial. La probeta 1 aumenta aproximadamente 1500 pulsos entre las 27 y 91 horas de envejecimiento. La probeta 19 aumenta ms de 3.000 pulsos entre las 50 y 200 horas de envejecimiento. En el ltimo registro antes de falla, todas las probetas aumentan la cantidad de pulsos mayores a 500mV con respecto al registro anterior. Este aumento es mayor en las probetas 26, 19 y 41, cuyas velocidades de crecimiento en esta ltima etapa corresponden a 16.8, 16.4 y 23.6 pulsos/hora respectivamente.
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Grfica 5.32. Pulsos mayores a 1V Envejecimiento a 17kV Para pulsos mayores a 1V, se observa que las formas de tendencia para cada probeta son similares a las presentadas en la grfica de pulsos mayores a 500mV. Para las probetas 41, 19 y 5, se observa un aumento en los pulsos mayores a 1V hacia el final de la vida til, sin embargo para el caso de las probetas 1 y 26, se observa una disminucin.
Grfica 5.33. Pulsos menores a -50mV Envejecimiento a 17Kv
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Por medio de la grfica de pulsos menores a -50mV, se pretende observar la cantidad total de pulsos negativos presentes en cada barra a lo largo del envejecimiento.
Grfica 5.34. Pulsos menores a -500mV Envejecimiento a 17kV Para el rango de pulsos con magnitud menor a -500mV, en las probetas 5, 26, 19 y 41, se observa una tendencia ascendente hacia el final de la vida til. De los registros de pulsos de descargas parciales mostrados en las grficas, el primer aspecto que se destaca, es la variacin de la tendencia a lo largo del envejecimiento, ya que en algunos puntos se presenta disminucin en la cantidad de pulsos en los diferentes rangos. No se presenta una relacin comn para todas las barras, entre el tiempo de falla y la cantidad de pulsos en los diferentes rangos. La cantidad de pulsos mayores a 1V registrados en la ltima medicin antes de falla, se presentan en la siguiente grfica. En esta se aprecia que no se presenta un valor comn antes de falla.
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Grfica 5.35. Pulsos mayores a 1V ltimo registro antes de falla
La concentracin de las descargas a lo largo de la onda senosoidal se observa claramente en las siguientes grficas, que corresponden al ltimo registro de cada probeta antes de falla.
Grfica 5.36. Probeta 1 despus de 187 horas de envejecimiento
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Se observa que los pulsos positivos de mayor magnitud se concentran en la seccin con pendiente negativa del ciclo senosoidal (entre el cuarto de ciclo positivo descendente y el cuarto de ciclo negativo descendente). As mismo, los pulsos negativos de mayor magnitud se concentran en la seccin con pendiente positiva del ciclo senosoidal (entre el cuarto de ciclo negativo ascendente y el cuarto de ciclo positivo ascendente). Estas dos condiciones son comunes en todas las probetas.
5.2.1.5.
Relacin entre Descargas Parciales y Factor de Disipacin
Al comparar las tendencias del factor de disipacin y los pulsos de descargas parciales a lo largo del envejecimiento, no se observa una correlacin entre la variacin de estas dos variables, ya que a lo largo del envejecimiento en algunos intervalos, el aumento o disminucin de los dos valores coinciden y en otros intervalos estas variaciones no coinciden. Sin embargo, al comparar la magnitud del Tip-Up con la cantidad de pulsos de descargas parciales, se encontr una proporcionalidad entre la magnitud de las descargas y la magnitud del Tip-Up, lo cual se aprecia en los casos con los valores extremos. El menor valor de tip-up lo presenta la probeta 5 que a su vez presenta la menor cantidad de pulsos mayores a 500mV y a 1V. El mayor valor de tip-up lo presenta la probeta 26 que a su vez presenta la mayor cantidad de pulsos mayores a 500mV y a 1V.
5.2.2. Evolucin de variables en probetas sometidas a 20kV 5.2.2.1. Evolucin del Factor de Disipacin
A continuacin se presentan las grficas de las mediciones de factor de disipacin para las probetas 44 y 21, sometidas a envejecimiento a 20kV.
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A lo largo del envejecimiento se presenta un aumento en la pendiente de lnea de tendencia que describe el factor de disipacin en funcin de la tensin, esto se puede observar en el grafico de la probeta 21, donde esta pendiente es de 0.31, 0.39 y 0.44, despus de 18, 40 y
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46 horas respectivamente. En las probetas 44 y 21, la pendiente de la lnea de tendencia aumenta durante el proceso de envejecimiento a 20kV. A continuacin se presentan los grficos correspondientes a la variacin del factor de disipacin en cada nivel de tensin a lo largo del envejecimiento.
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Despus de 18 horas de envejecimiento a 20kV, las probetas 44 y 21 presentan una disminucin en el factor de disipacin a 10kV de 0.15 %/hora y 0.21 %/hora respectivamente. Despus de 40 horas el factor de disipacin aumenta. En el caso de la probeta 44, la pendiente corresponde a 0.1 %/hora. En la probeta 21, entre las 40 y 46 horas de envejecimiento, la pendiente de crecimiento del factor de disipacin a 10kV fue de 0.14 %/hora. En la siguiente grfica se presenta el comportamiento del Tip-Up a lo largo del envejecimiento a 20kV.
Grfica 5.44. Evolucin del Tip-Up a lo largo del envejecimiento
Se observa un aumento en el tip-up a partir de 18 horas bajo envejecimiento. Tanto en la probeta 44 como en la probeta 21, el comportamiento del Tip-Up sigue la misma tendencia que el factor de disipacin.
5.2.2.2.
Evolucin de la Capacidad
A continuacin se presentan las grficas de los valores de capacidad, registrados a lo largo del envejecimiento de las barras 44 y 21, sometidas a 20kV.
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Grfica 5.46. Evolucin capacidad probeta 21 En la grfica de evolucin de la capacidad de la probeta 44 se observa un aumento de su valor en la medida tomada despus de 18 horas y posteriormente una disminucin. Para el caso de la probeta 21 tambin se presenta un aumento en el valor de su capacidad, pero este se prolonga hasta las 40 horas y en las ltimas 6 horas disminuye.
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5.2.2.3.
Evolucin del ndice de Polarizacin
A continuacin se presentan los resultados de las mediciones del ndice de polarizacin, realizadas a las probetas 44 y 21, durante el proceso de envejecimiento a 20kV.
Grfica 5.47. ndice de Polarizacin 20kV No se observa una tendencia comn en el ndice de polarizacin de las probetas 44 y 21.
5.2.2.4.
Evolucin de descargar parciales
A continuacin se presentan las grficas de los resultados de medicin de pulsos de descargas parciales a lo largo del envejecimiento.
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Grfica 5.50. Pulsos mayores a 1V Envejecimiento a 20kV
Para la probeta 44 la tendencia en los tres rangos positivos es similar, presentando una disminucin en la cantidad de pulsos hasta las 18 horas de envejecimiento y posteriormente un crecimiento, que para los pulsos mayores a 500mV y 1V, corresponde a 65 pulsos/hora y 23 pulsos/hora respectivamente. En la probeta 21 la tendencia de los pulsos mayores a 50mV presenta variaciones a lo largo del envejecimiento y al final de la vida til presenta
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una disminucin. Sin embargo para los rangos de pulsos mayores a 500mV y 1 V, se sigue la misma tendencia presentando un crecimiento de las descargas en las ltimas 6 horas, correspondiente a 145 pulsos/hora para los pulsos mayores a 500mV y 49 pulsos/hora para los pulsos mayores a 1V.
Grfica 5.51. Pulsos menores a -50mV Envejecimiento a 20kV
Grfica 5.52. Pulsos menores a -500mV Envejecimiento a 20kV
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En ambos rangos de pulsos negativos tanto para la probeta 21 como para la probeta 44, se presenta un aumento en la cantidad de pulsos hacia el final de la vida til. Sin embargo, el mayor aumento lo presenta la probeta 21 en las ltimas 6 horas de registro. La concentracin de las descargas a lo largo de la onda senosoidal se observa claramente en las siguientes grficas, que corresponden al ltimo registro de cada probeta antes de falla.
Tanto para la probeta 44 como para la probeta 21, la concentracin de pulsos positivos se mantiene en la seccin con pendiente negativa del ciclo senosoidal y los pulsos negativos se concentran en la seccin con pendiente positiva del ciclo senosoidal.
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5.2.2.5. Relacin entre Descargas Parciales y Factor de Disipacin a 20kV Para la probeta 21 se observa una tendencia ascendente en el factor de disipacin despus de 40 horas bajo envejecimiento, esta tendencia coincide con el comportamiento de los pulsos de descargas parciales mayores a 500mV, 1V y los pulsos menores a -50mv y 500mV. Sin embargo, entre las 18 y las 40 horas de envejecimiento, el factor de disipacin de la probeta 21 para tensiones mayores a 2kV aumenta, mientras que los pulsos de descargas parciales mayores a 500mV, 1V y los pulsos menores a -50mv y -500mV disminuyen. Para la probeta 44 se observa un comportamiento ascendente despus de 18 horas bajo envejecimiento, tanto en el factor de disipacin como en los pulsos de descargas parciales. De manera comn para la probeta 21 y la probeta 44, despus de las primeras 18 horas de envejecimiento se presenta una disminucin tanto en el factor de disipacin como en los pulsos de descargas parciales. Al comparar el comportamiento del Tip-Up con las descargas parciales, se observa que la mayor magnitud de tip-up la presenta la probeta 44, que a su vez presenta la mayor magnitud de descargas parciales.
5.2.3. Comparacin resultados a 17kV y a 20kV
Despus de las primeras horas de envejecimiento, la cantidad de pulsos mayores a 50mV es mayor (ms de 100.000) en las probetas sometidas a 20kV que en las probetas sometidas a 17kV. La pendiente de crecimiento de los pulsos de descargas parciales mayores a 500mV, en el ltimo intervalo antes de falla, es mayor en las probetas sometidas a envejecimiento a 20kV (entre 64 -144 pulsos/hora) que las sometidas a 17kV (entre 16 23pulsos/hora). La pendiente del factor de disipacin a 10kV hacia el final de la vida til est entre 0.01 y 0.05 %/Hora para las probetas sometidas a 17kV, mientras que para las probetas sometidas a 20 kV esta pendiente es de 0.10 y 0.14 %/Hora. La mayor magnitud de Tip-Up a 17kV lo presento la probeta 26 con un valor de 4%, mientras que para 20kV fue de 5% en la probeta 44. En promedio el ltimo registro de Tip-up para las barras sometidas a 17kV fue de 2.9%, para el caso de las probetas sometidas a 20kV fue de 4.4%.
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CONCLUSIONES
Al evaluar la vida residual del aislamiento compuesto de mica y resina, a partir del modelo de potencia inversa y el modelo exponencial, con base en los resultados del ensayo de envejecimiento acelerado, se encontr que el modelo de potencia inversa presenta tiempos de estimacin de vida residual demasiado altos, del orden de 106 horas (en las probabilidades ms bajas de falla) comparados con los valores referencia de vida til de aislamiento de generadores, que son del orden de 180.000 horas para aislamientos que siguen estrictos procesos de fabricacin. Con el modelo exponencial se obtienen menores tiempos de vida residual, del orden de 104 horas (en las probabilidades ms bajas de falla), los cuales podran ser considerados como referencia para la operacin de este tipo de aislamiento. A partir del anlisis de las mediciones de las diferentes variables de evaluacin de aislamientos, se identific que a mayor velocidad de crecimiento del factor de disipacin a lo largo del envejecimiento, menor es el tiempo restante de vida til. Por lo tanto, el seguimiento a la variacin de las prdidas dielctricas totales, por medio de la medicin del factor de disipacin, constituye una herramienta primordial para la evaluacin del estado del aislamiento. En cuanto a las mediciones de descargas parciales, se encontr que las probetas que tenan mayor cantidad de pulsos tambin presentaban mayor magnitud de Tip-up. Las mediciones de capacidad e ndice de polarizacin en el presente estudio, no mostraron tendencias constantes a lo largo del envejecimiento. En cuanto a la disminucin en los valores de factor de disipacin y descargas parciales en las primeras horas de envejecimiento, es posible se deba a que el proceso de secado se completo en esta etapa, por lo cual se estima que el tiempo de secado de resina debera ser mayor a 30 horas.
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TRABAJOS FUTUROS
Con base en los resultados y cuestionamientos generados a partir del presente estudio, se plantean algunas propuestas para trabajos futuros. Con el objetivo de estimar la influencia del proceso de fabricacin en los valores de las variables de evaluacin de aislamientos, se sugiere realizar el seguimiento a estas variables en probetas que involucren defectos o imperfecciones premeditadas. Para minimizar la manipulacin de equipos y probetas, as como el tiempo de interrupcin del ensayo, desarrollar un sistema de medicin en lnea, tanto para descargas parciales como para factor de disipacin. Desarrollar ensayos que involucren diferentes temperaturas y ciclos de temperaturas durante el proceso de envejecimiento. Con el fin de identificar y cuantificar la disminucin de vida til por esfuerzo trmico.
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BIBLIOGRAFA
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ANEXO 1. CARACTERSTICAS DE LA MICA Y LA RESINA
Existen diversos tipos de materiales aislantes en estado slido. Estos difieren entre s de acuerdo a sus propiedades qumicas, mecnicas y elctricas. En general se pueden distinguir tres grandes grupos de materiales aislantes, clasificados segn su composicin qumica, estos son orgnicos, inorgnicos y compuestos (combinacin orgnico e inorgnico). Entre los materiales inorgnicos ms usados comnmente se tienen la cermica, el vidrio, esmalte, el asbesto y la mica. Para el caso de los materiales orgnicos se tienen el papel, la madera, la cera, el cuero, as como resinas y plsticos tambin conocidos como polmeros [31]. La mica es un mineral muy utilizado y valorado por sus propiedades dielctricas y de resistencia al calor. Aunque existen varias clases y es un material corrientemente encontrado en la naturaleza (Generalmente se las encuentra en las rocas gneas tales como el granito y las rocas metamrficas como el esquisto), son pocos los yacimientos de mica utilizable para efectos tcnicos. Como material elctrico aislante, se destacan principalmente dos tipos de mica, la moscovita y la flogopita. La moscovita presenta mejores propiedades elctricas [7]. El valor de su constante dielctrica se encuentra entre 5 y 9. Dependiendo del uso requerido la mica se comercializa en varias presentaciones. Como mica natural o en bruto, micanita, micafolio, cintas de mica y papeles de mica. La micanita se refiere a placas compuestas de ojuelas de mica unidas con pegamento. El micafolio es un compuesto por una o dos capas finas de mica en escamas, con un soporte de papel. Las cintas de mica se componen de escamas de mica superpuestas en una o ms capas unidas con un material aglomerante flexible a tejidos fibrosos de seda, algodn o vidrio, para dar soporte mecnico. El papel de mica consiste en una pulpa semejante al papel, obtenida despus de someter la mica a varios procesos qumicos.
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Mica Moscovita*
Cinta de Mica
La resina es una secrecin orgnica que producen muchas plantas, sin embargo este trmino tambin aplica para sustancias sintticas con propiedades similares a las resinas naturales. La resina epxica es uno de los grupos de resinas que contiene al menos un compuesto epxido (en qumica orgnica un epxido es un radical formado por un tomo de oxgeno unido a dos tomos de carbono, que a su vez estn unidos entre s mediante un solo enlace covalente). As, una resina epoxi es un polmero termoestable que se endurece cuando se mezcla con un agente catalizador o endurecedor.
* (Foto tomada de www.wikipedia.org)
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ANEXO 2. RESULTADOS DE MEDICIN
Durante el proceso de envejecimiento se realizaron mediciones peridicas del factor de disipacin, descargas parciales e ndice de polarizacin. El ensayo de envejecimiento acelerado se detena. Una vez las probetas disminuan su temperatura a la temperatura ambiente, se proceda a tomar las medidas. Posteriormente se reanudaba el ensayo. Durante las mediciones NO se controlaron las variables de humedad y temperatura ambiente. La medicin del factor de disipacin se realizo a cinco tensiones diferentes 2kV, 4kV, 6kV, 8kV y 10kV. Tomadas con el equipo Megger - Delta 2000. A continuacin se muestran los resultados obtenidos. Probetas sometidas a 17kV.
No Probeta V (kV) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF)
2 0 8,81 652,95 27,64 8,45 614,47 91,2 8,48 629,91 155,56 10,87 658,38 187,94 12 641,68
4 0 9,85 661,78 27,64 9,03 617,82 91,2 9,05 636,06 155,56 11,3 662,18 187,94 12,6 644,26
1 6 0 11,3 679,1 27,64 10,3 629,19 91,2 9,73 645 155,56 12 675,22 187,94 13,6 645,28
8 0 13,1 696,99 27,64 11,3 643,17 91,2 10,38 654,37 155,56 12,6 679,24 187,94 14,3 656,88
10 0 14,3 722,44 27,64 12,4 657,03 91,2 11,1 663,78 155,56 13,6 683,64 187,94 15,1 671,07
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No Probeta V (kV) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF)
2 0 6,61 676,34 15,77 9,18 707,69 77,13 8,22 652,19 129,12 7,95 628,01 189,61 8,99 612,25 228,89 10,13 617,95
4 0 7,23 682,26 15,77 9,52 713,5 77,13 8,58 655,05 129,12 8,17 632,13 189,61 9,31 616,34 228,89 10,51 622,62
5 6 0 8,45 693,13 15,77 9,79 718,87 77,13 8,96 660,12 129,12 8,59 636,45 189,61 9,66 619,71 228,89 11,1 628,22
8 0 10,19 709,98 15,77 10,26 725,06 77,13 9,4 667,21 129,12 9,07 642,45 189,61 10,15 627,64 228,89 11,5 635,54
10 0 11,26 727,32 15,77 10,76 732,62 77,13 9,88 676,03 129,12 9,55 650,04 189,61 10,54 636,07 228,89 11,8 643,44
No Probeta V (kV) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF)
2 0 6,91 526,9 51,36 10,33 588,57
4 0 7,51 530,23 51,36 10,91 594,84
19 6 0 8,72 539,96 51,36 11,7 606,37
8 0 10,95 558,36 51,36 12,3 624,35
10 0 13,6 579,66 51,36 13,8 626,77
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Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF)
95,61 9,16 530,15 152,13 8,32 539,56 211,47 7,99 526,61 253,78 10,21 560,45 318,37 9,2 522,17
95,61 10,13 538,35 152,13 9,67 552,1 211,47 9,24 536,47 253,78 11,2 573,82 318,37 10,46 532,49
95,61 11 547,79 152,13 10,27 563,81 211,47 10,24 549,26 253,78 11,7 586,55 318,37 11,6 544,29
95,61 11,7 557,46 152,13 10,61 573,54 211,47 10,93 561,45 253,78 12 598,49 318,37 12,1 553,69
95,61 12,3 568,01 152,13 10,93 582,48 211,47 11,4 572,77 253,78 12,9 599,19 318,37 12,9 559,37
No Probeta V (kV) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba
2 0 6,53 499,45 15,77 7,09 494,95 77,13 6,64 469,12 129,12 7,27 449,31 189,61
4 0 7,28 511,12 15,77 8,48 507,35 77,13 7,07 473,14 129,12 7,79 455,98 189,61
26 6 0 9,02 521,39 15,77 9,1 518,45 77,13 8,12 480,86 129,12 8,4 460,93 189,61
8 0 10,87 533,58 15,77 9,54 528,67 77,13 9,5 493,58 129,12 9,72 472,79 189,61
10 0 12,45 549,76 15,77 9,88 536,96 77,13 10,5 506,46 129,12 10,71 485,64 189,61
81
__________________________________________________________________________________________________________________________
DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF)
7,73 433,97 228,89 8,55 447,14
8,32 440,54 228,89 9,33 456,5
9,13 447,63 228,89 10,57 468,92
10,49 460,6 228,89 11,7 482,97
11,4 472,87 228,89 12,6 496,48
No Probeta V (kV) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF)
2 0 6,11 539,96 27,64 8,22 539,69 91,2 8,73 557,91 155,56 8,43 583,36 187,94 8,79 571,22 239,3 9,24 645,7 283,55 9,51 579,58 340,07 8,63 608,52
4 0 7,35 547,27 27,64 8,93 545,64 91,2 10,05 573,49 155,56 9,62 597,47 187,94 9,76 581,29 239,3 10,45 662,29 283,55 10,78 592,67 340,07 9,83 624,11
41 6 0 9,47 568,76 27,64 9,97 559,49 91,2 10,31 585,43 155,56 9,97 609,69 187,94 10,34 593,28 239,3 10,78 674,62 283,55 11,3 602,78 340,07 10,16 634,8
8 0 11 590 27,64 10,5 574,09 91,2 10,44 594,49 155,56 10,2 619,21 187,94 10,89 606,27 239,3 11,1 685,32 283,55 11,5 611,17 340,07 10,32 642,69
10 0 12,6 608,89 27,64 10,92 587,31 91,2 10,65 602,62 155,56 10,55 628,35 187,94 11,3 617,95 239,3 11,5 696,23 283,55 11,8 622,92 340,07 10,53 650,05
82
__________________________________________________________________________________________________________________________
Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF)
399,41 9,57 621,1 441,72 8,6 667,02 506,31 10,58 598,93 565,57 14,1 565,21
399,41 10,63 635,14 441,72 9,27 682,23 506,31 11,7 611,61 565,57 15 575,25
399,41 11,3 644,58 441,72 9,5 693,63 506,31 12,2 619,99 565,57 15,5 583,66
399,41 11,7 650,16 441,72 9,62 702,63 506,31 12,6 628,55 565,57 15,9 588,07
399,41 12 656,15 441,72 9,84 710,35 506,31 12,9 637,18 565,57 16 595,32
Probetas sometidas a 20kV.

No Probeta V (kV) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF)
2 0 7,52 539,81 17,94 6,83 548,31 40,52 7,05 565,8 46,4 7,32 554,58
4 0 8,02 542,29 17,94 7,44 552,33 40,52 8,15 575,81 46,4 9,15 571,24
21 6 0 9,36 553,42 17,94 7,92 561,42 40,52 9,25 590,38 46,4 10,26 587,39
8 0 11,1 569,76 17,94 8,58 576,89 40,52 9,92 605,46 46,4 10,75 600,65
10 0 13,3 587,86 17,94 9,38 593,71 40,52 10,13 616,76 46,4 10,96 611,72
83
__________________________________________________________________________________________________________________________
No Probeta V (kV) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF) Horas bajo prueba DF (%) C (pF)
2 0 6,87 742,86 17,94 5,87 751,92 40,52 7,66 745,98
4 0 7,7 747,66 17,94 6,98 761,56 40,52 9,18 756,66
44 6 0 9,15 763,01 17,94 8,38 777,51 40,52 10,95 768,03
8 0 11,08 788,84 17,94 9,64 801 40,52 12,14 787,95
10 0 13,2 815,22 17,94 10,5 826,33 40,52 12,82 810,77
Para la medicin de descargas parciales se utiliz el cuadripolo de acople Haefely Type 566. Los pulsos de descargas fueron registrados por medio de un osciloscopio digital, el cual permite un registro 10.4 datos por microsegundo. Probetas sometidas a 17kV.
Probeta Horas 0 27,64 >=50mV 103057 61195 >=500 mV 3743 3394 >=1 V 684 910 1 91,2 85631 4986 1292
155,56 187,94 64962 67601 3610 3722 1097 1031
<=-50 mV 138027 166853 136914 153132 145741 <=-500 mV 1733 2299 1878 2374 2002 Probeta 5 Horas 0 15,77 77,13 129,12 189,61 228,89 >=50mV 68470 29574 44518 61668 37698 36297 >=500 mV 1498 1011 721 1294 1163 1258 >=1 V 144 185 194 316 292 342
<=-50 mV 73498 54100 68383 87434 154404 68657 <=-500 mV 174 160 33 141 392 419
84
__________________________________________________________________________________________________________________________
Probeta Horas 0 15,77 >=50mV 116094 79118 >=500 mV 3788 2661 >=1 V 629 456
26 77,13 129,12 189,61 228,89 87941 83497 80487 100495 7413 5337 6404 7009 2313 1715 2252 2031
<=-50 mV 143096 124850 133921 151109 162500 135004 <=-500 mV 828 652 2186 1895 2574 3200 Probeta Horas 0 51,36 >=50mV 108992 74194 >=500 mV 4686 1524 >=1 V 886 388 19 152,13 211,47 253,78 318,37 92345 108524 83145 94056 3801 4718 2256 3319 780 1081 577 738
95,61 84756 1792 401
<=-50 mV 137276 130126 123742 115321 135357 136876 140793 <=-500 mV 2672 409 577 950 1778 814 1578
Probeta Horas >=50mV 0 27,64 84117 1935 323 15312 8 1051 91,2 96917 2891 577 13132 5 825 155,56 187,94 78457 2150 432 16976 3 1355 85840 2700 574 15108 5 1271
41 239,3 94204 2253 406 14286 6 756 283,55 340,0 399,41 441,72 506,31 7 78583 2437 704 12446 0 944 78295 3964 1095 14400 4 1890
12396 3 >=500 mV 12872 >=1 V <=-50 mV <=-500 mV 2532 16618 3 9326
90177 71422 97292 3127 727 2279 553 3084 876
13885 11305 92875 7 9 1225 436 1169

Probeta Horas >=50mV >=500 mV >=1 V <=-50 mV <=-500 mV 21 0 108504 8486 1749 165145 6750 17,94 99785 2705 269 126304 674 40,52 126100 1929 152 114727 83 46,4 94032 2779 439 154625 724
85
__________________________________________________________________________________________________________________________
Probeta Horas >=50mV >=500 mV >=1 V <=-50 mV <=-500 mV
0 127265 9552 1820 143473 4753
44 17,94 120798 4765 654 121003 890
40,52 139674 6223 1185 165332 1422
Para la medicin del ndice de polarizacin se utiliz el equipo Megger MIT 520-2. La tensin de prueba fue 5000V DC. Las mediciones realizadas se muestran a continuacin. Probetas sometidas a 17kV.
No Probeta Horas bajo prueba IP
19
26
0 27,64 91,2 155,56 187,94 0 15,77 77,13 129,12 189,61 228,89 0 51,36 95,61 152,13 211,47 253,78 318,37 0 15,77 77,13
2,54 2,71 5,16 2,6 4,3 2,41 2,55 5,07 5,74 3,74 4,71 2,99 1,38 1,54 1,79 2,4 2,15 2,14 1,40 1,75 5,37
86
__________________________________________________________________________________________________________________________
41
129,12 189,61 228,89 0 27,64 91,2 155,56 187,94 239,3 283,55 340,07 399,41 441,72 506,31 565,57
5,61 4,46 3,83 2,15 2,53 5,81 2,63 5,32 1,43 1,26 2,2 1,51 2,01 1,79 2,28
No Probeta Horas bajo prueba 0 17,94 21 40,52 46,4 0 44 17,94 40,52
IP 0,73 2,41 1,29 1,26 2,20 1,29 2,05
87
__________________________________________________________________________________________________________________________
ANEXO 3. SIMULACIN CAMPO ELCTRICO EN PROBETA Se simul en el programa comsol un cuarto de la seccin transversal del corte de la probeta. En el cual se observan las capas intercaladas de resina y mica. La seccin interna representa el tubo de aluminio el cual est conectado a tierra y la capa externa, simulada tambin como aluminio est conectada a alta tensin. En el Caso I y Caso III, el espesor de la capa de resina es de 0.2mm. En el caso II el espesor de la resina es de 0.3mm. La permitividad relativa de la mica es de 6. La permitivad relativa de la resina en los casos I y II corresponde al valor real de la resina utilizada en este estudio, cuyo valor es 4. En el caso III, se simulo la resina con una permitividad relativa de 5. En la simulacin se incluyeron dos cavidades de aire en la capa de resina contigua al punto de conexin a tierra. Una de ellas sobre la esquina del tubo de aluminio y la otra sobre la zona recta del tubo de aluminio. A continuacin se presentan los resultados obtenidos
Figura A.3.1. Geometra simulada. Campo elctrico 17kV - Caso I
88
__________________________________________________________________________________________________________________________
CASO I. Con resina de permitividad relativa 4 Espesor 0.2mm
Campo Elctrico (V/m) Cavidad Esquina Cavidad zona recta Resina Mica
17kV
20kV
23kV 2.9x107 1.89 x107 Entre 9.9 x 106 9.4 x106 Entre 6.6 x106 6.3 x106
2.2x107 2.6x107 7 1.45 x10 1.63 x107 Entre 7.2 x106 Entre 8.5x106 6 6.9 x10 8.2x106 Entre 4.9 x106 Entre 5.7x106 4.5 x106 5.4x106 Tabla A.3.1. Resumen resultados Caso I
Figura A.3.2. Campo elctrico con 17kV - Caso I
89
__________________________________________________________________________________________________________________________
90
__________________________________________________________________________________________________________________________
CASO II. Con resina de permitividad relativa 4 Espesor 0.3mm Campo Elctrico (V/m) Cavidad Esquina Cavidad zona recta Resina Mica 17kV
7
20kV
7
23kV 2.3 x107 1.4 x107 Entre 7.3 x106 6.6 x106 Entre 4.9 x106 4.4x106
1.7 x10 2.0 x10 1.0 x107 1.2 x107 Entre 5.4 x106 Entre 6.3 x106 6 5.0 x10 5.8 x106 Entre 3.6 x106 Entre 4.2 x106 6 3.2 x10 3.8 x106 Tabla A.3.2. Resumen resultados Caso II
Figura A.3.5. Campo elctrico con 17kV - Caso II
91
__________________________________________________________________________________________________________________________
92
__________________________________________________________________________________________________________________________
CASO III. Con resina de permitividad relativa 5 Espesor 0.2mm Campo Elctrico (V/m) Cavidad Esquina Cavidad zona recta Resina Mica 17kV
7
20kV
7
23kV 2.9 x107 1.86 x107 Entre 9.1 x106 8.8x106 Entre 7.6x106 7.4x106
2.2 x10 2.6 x10 1.37 x107 1.61 x107 Entre 6.8x106 Entre 7.9 x106 6 6.5x10 7.7x106 Entre 5.6x106 Entre 6.6x106 6 5.4x10 6.4x106 Tabla A.3.3. Resumen resultados Caso III
Figura A.3.8. Campo elctrico con 17kV - Caso III
93
__________________________________________________________________________________________________________________________
94
__________________________________________________________________________________________________________________________
CONCLUSIONES SIMULACIN
Al omitir la presencia de cavidades de aire, la mayor intensidad de campo elctrico se presenta en la esquina del tubo de aluminio. Al incluir las dos cavidades de aire, la cavidad de aire cercana a la esquina del tubo de aluminio presenta la mayor intensidad de campo elctrico. Para el caso I con una tensin aplicada de 23kV esta intensidad corresponde a 2.9x107 V/m. Al aumentar el espesor de la resina de 0.2mm a 0.3mm, se observa que disminuye la mxima intensidad de campo elctrico, la cual se presenta en la cavidad cercana a la esquina del tubo de aluminio. Para el caso II con una tensin aplicada de 23kV esta intensidad corresponde a 2.3x107 V/m. As mismo, disminuye la concentracin de campo en la resina y en la mica, tal como se observa en las tablas A.3.1 y A.3.2. Al aumentar la permitividad relativa en la resina de 4 a 5 (Caso III), disminuye la intensidad de campo en la resina (De 9.9 x106 a 9.1 x106 V/m a 23kV), sin embargo se aumenta la intensidad de campo en la mica (De 6.6 x106 a 7.6 x106 V/m a 23kV). As mismo, aumenta la mxima intensidad de campo, la cual se presenta en la cavidad cercana a la esquina del tubo de aluminio. Para 23kV este aumento es de 2.9869 x107 V/m (con = 4) a 2.9987 x107 (con = 5).
95

2012

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EVALUACIN DE VIDA TIL RESIDUAL DE AISLAMIENTO COMPUESTO DE MICA Y RESINA CON BASE EN PRUEBAS DE ENVEJECIMIENTO ACELERADO

AIDA YUBELLY CARANTON MUOZ

AIDA YUBELLY CARANTON MUOZ

Tesis de grado para optar al ttulo de Magster en Ingeniera Elctrica

1. CONCEPTOS BSICOS DE DIELCTRICOS

1.2. Polarizacin de los dielctricos

2. VARIABLES PARA AISLAMIENTO

2.2. Ensayos no destructivos

Figura 2.1. Circuito equivalente serie

Figura 2.2. Circuito equivalente paralelo

Cp : Capacitancia en paralelo : : ngulo de fase :

R p : Resistencia equivalente en paralelo : : ngulo de prdidas : 2 f

El factor de disipacin en funcin del factor de potencia se expresa como: = = =

(Ec. 2.3) (Ec. 2.4)

Teniendo en cuenta las expresiones para FP y FD =

Para expresar el factor de potencia en funcin del factor de disipacin se tiene: = = = =

(Ec. 2.6) (Ec. 2.7) (Ec. 2.8) (Ec. 2.9)

Teniendo en cuenta las expresiones para FP y FD, =

Figura 2.3. Aislamiento con cavidad

Figura 2.4. Circuito equivalente aislamiento con cavidad

Figura 2.5. Circuito equivalente corrientes en DC

(Ec. 3.3) (Ec. 3.4)

Donde L: Vida remanente [Horas]; E: Estrs elctrico [kV/mm]; a y b: Constantes

3.4. Distribucin de probabilidad de Weibull

La funcin de densidad de probabilidad est dada por la expresin 3.14.

4. ENSAYO DE ENVEJECIMIENTO ACELERADO

Figura 4.1. Estructura fsica de la probeta

Figura 4.2. Fotografa de Probeta

4.2. Descripcin del Ensayo de Envejecimiento Acelerado

Transformador ALTA TENSIN

Figura 4.3. Circuito Alta Tensin

Transformador ALTA CORRIENTE

Figura 4.4. Circuito alta corriente

El esquema fsico del ensayo se muestra en las figuras 4.5 y 4.6.

Figura 4.5. Esquema fsico conexin de probetas

Figura 4.6. Fotografa conexin de probetas

5.1. Estimacin de vida residual

Tabla 5.1. Tiempos de falla a 17kV

Tabla 5.2. Tiempos de falla a 20kV

Tabla 5.3. Tiempos de falla a 23kV

Tabla 5.4 Parmetros Distribucin Weibull

Donde L: Vida remanente [Horas] ; E: Estrs elctrico [kV/mm]; C y n: Constantes

E (kV/mm) 4.86 5.71 6.57

Ln E 1.58 1.74 1.88

Tabla 5.6. Esfuerzo elctrico en cada nivel de tensin

Ln (0,5%) 2,45 -2,85 -2.58

Ln (1%) 2,88 -2,04 -2.12

Ln (1,5%) 3,14 -1,57 -1.84

Ln (2%) 3,32 -1,23 -1.65

Ln (4%) 3,76 -0,41 -1.18

Ln (6%) 4,02 0,07 -0.91

Ln (8%) 4,20 0,42 -0.71

Ln (10%) 4,35 0,69 -0.55

1.58 1.74 1.88

Grfica 5.1. Modelo potencia inversa Ln (E) vs Ln (L)

Grfica 5.2. Modelo potencia inversa Ajuste Lineal

Probabilidad 0,5% 1% 1,50% 2% 4% 6% 8% 10%

n -17.06 -16.90 -16.81 -16.75 -16.59 -16.50 -16.44 -16.38

Ln C 28.61 28.91 29.08 29.21 29.52 29.70 29.83 29.93

Grfica 5.3. Vida residual a 2kV Modelo Potencia Inversa

Grfica 5.4. Vida residual a 5kV Modelo Potencia Inversa

5.1.2. Estimacin de vida residual por medio del modelo exponencial

Grfica 5.7. Modelo exponencial ajuste lineal