III Workshop sobre Textura So Paulo, 2006, pg.

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Comparao entre Diferentes Mtodos de Clculo da Funo de Distribuio de Orientao Cristalogrfica quando Aplicados em Aos Inoxidveis Duplex Souza Junior,C.M; Abreu, H.F.G; Teodsio, J.R

Resumo Vrios mtodos permitem o clculo da Funo de Distribuio de Orientao Cristalogrfica (FDOC), cada um apresentando diferentes caractersticas. Pode-se destacar o mtodo da expanso de sries ou mtodo harmnico e os mtodos discretos (entre eles o WIMV e ADC). Enquanto o mtodo de expanso de sries requer a medida de trs ou quatro figuras de plos de cada fase analisada, com o mtodo discreto, bons resultados so obtidos at mesmo com a utilizao de duas e at uma figura de plo. Autores tm utilizado mtodos discretos para obteno da funo de distribuio em materiais polifsicos devido a limitaes na obteno das figuras de plo e a sobreposio de picos de difrao de raios-X. No presente trabalho, a textura cristalogrfica de um ao inoxidvel duplex UNS S31803 laminado a frio com reduo de 60% em sua espessura foi analisada. Foram utilizados o mtodo de expanso de sries, o mtodo WIMV e o mtodo ADC para a obteno das FDOCs nas fases ferrtica e austentica do material. Foi avaliada a preciso dos mtodos de obteno das funes de distribuio e em seguida esses resultados foram comparados com uma anlise por Difrao de Eltrons Retroespalhados (EBSD).

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Introduo Uma descrio completa da textura pode ser obtida com auxlio da Funo de Distribuio de Orientaes Cristalinas (FDOC) [1],[2]. A FDOC especifica a frequncia de ocorrncia de (ou probabilidade de encontrar) determinadas orientaes {hkl}<uvw> em uma amostra do material. Esta probabilidade, numa amostra sem textura, igual unidade. A FDOC no pode ser medida diretamente e sim calculada a partir de figuras de plos. A equao integral a seguir representa a equao fundamental para o clculo da FDOC:
Ph ( y ) = 1 2 . f ( g ) d 2 0

(1)

Na literatura alguns desenvolvimentos matemticos foram propostos para a soluo da Eq. (1) [2]. O mtodo de sries que tem como premissa bsica que tanto as figuras de plos, lado esquerdo da equao, quanto a funo f(g), que representa a FDOC, podem ser aproximadas por uma expanso em sries. A obteno das FDOCs, para um sistema cbico, feita com 3 figuras de plos [3]. Outros processos de clculo da funo f(g) so os chamados mtodos diretos e dentre eles destacam-se os mtodos WINV(Willians, Imhof, Matheus,Vinel) e ADC (Arbitrary Defined Cells) [4]. Estes processos se baseiam no fato que figuras de plos diretas completas podem ser vistas como projees em duas dimenses da FDOC. Nos mtodos diretos, figuras de plos e orientaes de distribuio so funo tridimensional representadas por valores discretos. As relaes entre pontos da figura de plos e clulas correspondentes no espao de orientao tridimensional da FDOC so estabelecidas dependendo da geometria do cristal. A equao integral (1) substituda por um somatrio para cada clula de figura de plos:

Pi = ij f j
j =1

(2)

A equao 2 define um conjunto de equaes lineares que pode ser resolvida dentro de condies adequadas para fornecer valores da FDOC [4].

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Uma das vantagens apontadas para os mtodos diretos que no necessitam de trs figuras de plos para o clculo da FDOC [4]. No caso de textura de um ao inoxidvel duplex, as figuras de plos (110) da ferrita e (111) da autenita se sobrepe no sendo possvel serem utilizadas para clculo da FDOC. Com isto, a utilizao de trs figuras de plos para o clculo da FDOC da fase ferrita impraticvel quando se utiliza radiao Co ou Cu devido ao alto ngulo 2 para a terceira figura de plos da ferrita. Neste trabalho sero comparadas FDOCs calculadas pelo mtodo de sries harmnicas e pelo processo ADC para um ao baixo carbono laminado a frio. O processo ADC ser utilizado inicialmente com 3 figuras de plos, (110, (200) e (211) e num segundo clculo com a retirada da figura (110) do processo de clculo. Aps isto sero calculadas pelo processo ADC, utilizando apenas duas figuras de plos para ferrita, as FDOCs para amostras de ao inoxidvel duplex nas condies laminado a quente e laminado a frio 60%.

Materiais e Mtodos Foram medidas figuras de plos para trs amostras. Uma amostra de ao baixo carbono laminado a frio e uma amostra de ao inoxidvel duplex UNS S31803 na condio laminado a quente e deformado em laminador laboratorial em mltiplos passes at 60% da espessura. As figuras de plos foram medidas em um difratmetro modelo XPert da Philips utilizando radiao Cu com monocromador. As medidas foram realizadas na meia espessura das amostras nas figuras de plos (110), (200) e (211) para o ao carbono e no ao inoxidvel duplex utilizou-se as figuras de plos (200) e (211) para a fase ferrita e (200), (220) e (311) para a fase austenita. As amostras aps polimento foram submetidas ao ataque numa soluo de 95% de perxido de hidrognio (H2O2) e 5% de cido fluordrico (HF) com o objetivo de eliminar tenses residuis superficiais. Para o clculo da FDOC pelo mtodo harmnico foi utilizado o software POPLA de Los Alamos e para o clculo pelo mtodo direto utilizou-se o software LABOTEX que utiliza o mtodo ADC. Os resultados de EBSD foram obtidos em um sistema Oxford, Crystal 300 acoplado a um microscpio eletrnico de varredura Philips XL-30. A preparao das amostras para

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os ensaios de ebsd foi feita em mquina de polimento automtico utilizando uma soluo de slica coloidal.

Resultados A figura 1 apresenta a seo de 2=45 para um ao baixo carbono deformado a frio. A textura apresentada tpica de uma estrutura cbica de corpo centrado apresentando os mximos valores de FDOC para as componentes {111}<112> e {111}<110>.

Figura 1- Seo de 2=45 para um ao baixo carbono deformado a frio calculada usando software POPLA..

Figura 2- Seo de 2=45 para um ao baixo carbono deformado a frio e calculada usando software LABOTEX.

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A figura 2 apresenta a seco de 2=45 para uma amostra de ao carbono laminado a frio usando o software LABOTEX e as figuras de plos (110), (200) e (211). Pode-se observar que a textura apresentada semelhante a obtida pelo mtodo de sries harmnicas no ficando visvel no entanto a componente {110}<001> localizada no canto direito inferior da Fig. 1. Esta componente provavelmente um fantasma resultado de

truncamento da srie de harmnicos. O no aparecimento desta componente uma das vantagens do mtodo direto, pois no h o problema de truncamento da srie [4].

Figura 3- Seo de 2=45 para um ao baixo carbono deformado a frio e calculada usando software LABOTEX com apenas duas figuras de plos.

A FDOC apresentada na Fig. 3 foi calculada com as figuras de plos (200) e (211) tendo sido retirada do arquivo os dados referentes ao plano (110). Pode-se observar que a aproximao muito boa principalmente se compararmos com a FDOC calculada pelo mtodo de sries harmnicas. A textura em aos inoxidveis duplex se caracteriza por apresentar fraca textura de deformao em ambas as fases [5],[6]. Na figura 4 esto mostradas as sees de 2=45 para a fase ferrtica na condio laminada a quente (a) e laminada a frio 60% (b). O material laminado a quente apresenta textura muito fraca na fase ferrtica caracterizada pelas componentes {111}<uvw>, {001}<uvw> e {110}<uvw>. A evoluo da textura com

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a deformao, se caracteriza pelo aparecimento de uma componente {112}<111> e {110}<{110} e quase nenhuma variao na fibra {111}.

(a)

(b)

Figura 4- Sees de 2=45 para ao inoxidvel duplex laminado a quente (a) e deformado a frio 60% (b).

A figura 5 apresenta o mapa de qualidade sobreposto pelo mapa de fases para a amostra na condio laminada aquente. Os gros de ferrita so os de tonalidade amarela e os de austenita os de tonalidade rosa.

Figura 5- Mapa de qualidade sobreposto pelo mapa de fases para uma amostra na condio laminada a quente.

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Na figura 6 podemos observar o mapa de qualidade sobreposto pelo mapa de orientaes para fase ferrtica. Pode-se constatar uma fraca textura cristalogrfica tendo uma maior concentrao de gros na tonalidade azul correspondente a famlia de planos {111} paralela a normal superfcie da amostra.

Figura 6- Mapa de orientaes para a fase ferrtica.

A textura na fase austentica bastante fraca mesmo para o material deformado 60%. A figura 7 apresenta as sees de 1=0o e 1=45 para amostras de ao inoxidvel duplex laminadas a quente (a) e laminadas a frio com 60% de reduo (b). A principal componente de textura na amostra laminada a quente {001}<100> (textura de cubo). Com a deformao a frio de 60% h pouca variao na severidade da textura havendo, no entanto uma alterao nas principais orientaes ficando as componentes com maiores intensidades localizadas no plano {110}. A figura 8 apresenta o mapa de orientaes sobreposto ao mapa de qualidade na amostra laminada a quente. Pode-se observar que a maioria dos gros austenticos possui uma tonalidade esverdeada o que corresponderia famlia de planos {110} diferindo um pouco dos resultados obtidos por raios-x onde a textura de cubo foi a predominante.

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(a)

(b) Figura 7- Sees de 1=0o e 1=45 para a fase austenita (a) laminada a quente e, (b) aps deformao de 60% a frio.

Figura 8- Mapa de orientaes para a fase austentica.

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Concluses No presente trabalho analisou-se a dificuldade de determinao da textura cristalogrfica em materiais com mais de uma fase. Foram comparados resultados obtidos para FDOC pelo mtodo de sries harmnicas usando 3 figuras de plos com os obtidos pelo processo ADC utilizando apenas 2 figuras de plos em amostra de ao carbono laminado a frio. Os resultados mostraram-se bastante prximos para as duas situaes. Foi ento analisada a textura de um ao inoxidvel duplex usando o mtodo ADC com 3 figuras de plos para a austenita e duas para a ferrita. Os resultados mostraram que a textura de deformao em ambas as fases bastante fraca. Anlises por ebsd na amostra laminada a quente verificaram a baixa orientao preferencial constatada usando raios-x.

Referncias Bibliogrficas

1- Roe, R.-J, J.App. Phys, 36, 2024-2031, 1965. 2- Bunge, H.-J., Texture Analysis in Materials Science, Mathematical Methods, (London-Butterworths), 1982. 3- Randle, V., Introduction to texture analysis, Gordon and Breach Science Publisher, 2000. 4- Akdut, N., Foct, J., Scripta Met. Mat, 32, 103-108, 1995. 5- Hutchinson. W.B., Ushioda, K., Runnsj, J., Mat. Sci& Techn., 1985, 1, 728.

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