Estructura Cristalina III

Mecnica de los Materiales
Sesin No 3
ESTRUCTURA CRISTALINA
Dr. Jorge A. Olortegui Yume, Ph.D.
Escuela de Ingeniera Mecnica
Universidad Nacional de Trujillo
Estructura Cristalina Dr. Jorge A. Olortegui Yume, Ph.D. 2
ESTRUCTURAS CRISTALINAS
Patrn de refraccin de haz de electrones obtenido con un Microscopio Electrnico de
Transmisin para un monocristal de GaAs. El punto brillante central corresponde al impacto del
haz de electrones paralelo a la direccin [0001]. Los otros puntos luminosos corresponden a
haces de electrones difractados por planos cristalogrficos especficos.
POSICIONES, DIRECCIONES, PLANOS EN LA RED
NOTACION PARA POSICIONES RETICULARES
POSICIONES EN LA RED
Reglas bsicas para descripcin geomtrica en y alrededor de celda unidad.
Comunicacin entre profesionales y cientficos
Descripcin de propiedades de materiales sensibles a cambios en estructura.
Fracciones / mltiplos de dimensiones celda
unidad.
Ejemplos mostrados en figura
Posicin centrada en el cuerpo

Posicin centrada en la cara

2
1
,
2
1
,
2
1
0 ,
2
1
,
2
1
POSICIONES DE LA RED
Posiciones equivalentes: Una
posicion dada en la red es la misma
posicion en cualquier otra celda
unidad de la misma red.
Traslaciones de red: Multiplos
enteros de las constantes o
parametros de red a lo largo de los
ejes cristalograficos (a,b,c). Las
posiciones equivalentes estan
conectadas mediante traslaciones de
red
Ejemplo:
EL CENTRO DEL CUBO EN VARIAS CELDAS UNIDAD
Las traslaciones de red
conectan posiciones
estructuralmente
equivalentes.
Numeros enteros
POSICIONES ENTERAS MAS PEQUENAS
cruzadas por linea que parte de origen de
ejes cristalograficos (Vector)
Designacion : [u,v,w]
Direccion negativa:
Vector pasa por
Vector pasa por

Ejemplo: VECTOR QUE PASA POR PASA TAMBIEN POR
PERO CONJUNTO ENTERO MAS PEQUEO DIRECC. RETICULAR
2
1
,
2
1
,
2
1
;..... 3 , 3 , 3 ; 2 , 2 , 2 ; 1 , 1 , 1
1 , 1 , 1
| | 1 , 1 , 1
1 , 1 , 1
| | 1 , 1 , 1
1 , 1 , 1 | | 1 , 1 , 1
DIRECCIONES RETICULARES [u,v,w]
Diagonales estructuralmente identicas
Diferencia radica en su orientacion espacial.
variando orientacion de
ejes cristalograficos

CASO ESPECIAL: SISTEMA CUBICO
| | | | | | | | | | | | | | | |, 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 , 1 11 1 =
| | 1 , 1 , 1 | | 1 , 1 , 1
Familia de Direcciones (<u,v,w>):
Conjunto de direcciones
estructuralmente equivalentes
Nota : En la prctica, ultimas 4 direcciones se pueden obviar
Angulo entre dos direcciones
Sean [u,v,w] y [u,v,w] 2 direcciones cristalograficas diferentes
Estas se pueden expresar asi:
c w b v a u D y c w b v a u D ' ' ' ' + + = + + =
( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( )
2 2 2 2 2 2
' ' '
' ' '
'
'
cos
cos ' '
w v u w v u
ww vv uu
D D
D D
D D D D
+ + + +
+ +
=
-
-
=
- = -
o
o
Conjunto de nmeros enteros
Inversos de las intercepciones de los planos con los ejes cristalogrficos
PLANOS RETICULARES E INDICES DE MILLER (hkl)
Intersecta en (1/2)a
Otros ejemplos
Ejemplo: Plano (210)
Indices de Miller (hkl)
1
1
1
2 / 1
1
( ) 0 1 2
Intersecta en
Intersecta en b
Distancia entre planos con el mismo indice de Miller (h k l )
2 2 2
l k h
n
d
hkl
+ +
=
hkl
d
n : es un entero
n=1
Sist. Hexagonal usa 4 ejes cristalograficos
Indices de Miller-Bravais son:
(h k i l)
3 ejes suficientes para definir geom. 3D de un
cristal 1 eje redundante
Por tanto Indices de Miller siguen usandose
(h k l)
con la condicion h + k = -i
i NO es independiente
CASO ESPECIAL: SISTEMA HEXAGONAL
Ejemplo
Plano (0 1 0)
Miller- Bravais

1
,
1
1
,
1
1
,
1
( ) 0 1 1 0
Miller
( ) 1 1 0 = + = + i k h

1
,
1
1
,
1
( ) 0 1 0
Verificacion
Familia de Planos ({h kl } o {h k i l}): Conjunto de planos
estructuralmente equivalentes
{ } ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) 1 00 , 0 1 0 , 00 1 , 001 , 010 , 100 100 =
Ejemplo: Caras de la celda unidad en el sistema cubico
en la cara lateral
en la cara trasera
en la cara inferior
( ) 00 1
( ) 0 1 0
( ) 1 00
Densidad lineal de tomos:
Cantidad de tomos por unidad de longitud a lo
largo de una direccin [u v w] dada
Solo tomos con centros coincidentes
con direccin dada.
Para tomos equiespaciados a
a
-1
es la densidad lineal
Asociado con concepto de direccin
cristalogrfica [u v w]
Interes de Direccion en Selecc Longitud
Interes de Direccion en Selecc Longitud por Cortados Diametros No
LINEAL
.
. .
=
Ejemplo: nm atomos a nm atomos
a nm a
atomo
LINEAL
/ /
1 1
1
= = =
CONCEPTOS ADICIONALES IMPORTANTES
Densidad planar de atomos:
Fraccion del area del plano cristalografico
(h k l) ocupada por los atomos.
Solo atomos con centros coincidentes
con el plano en cuestion.
Asociado con concepto de plano reticular
o cristalografico (h k l)
a
a 2
.
. . .
Selecc Area
Selecc Area por Cortados Atomos Equival No
PLANAR
=
a 2
Ejemplo:
( )( )
2
2
2
2
/
2
/
2
2
2
2
nm atomos
a
nm atomos
a nm a nm a
atomos
PLANAR
= = =
2 iones por punto reticular
Ejemplo: MgO posee la estructura del Cloruro de Sodio y tiene un
parmetro de red de 0.396 nm. Determine la densidad planar de los
planos (111) y (222) e identifique los iones presentes en cada plano.

Solucion
Para el plano (111)
2
) 111 (
866 . 0
2
3
2
2
o
o o
a
a a
A =
|
|
.
|
\
|
|
|
.
|
\
|
=
o
a 2
Solucion
Planar density : Densidad planar
Points : puntos
Polimorfismo:Propiedad de poseer mas
de una estructura cristalina
Existencia de estr. cristalina depende de
P y T exterior
Ejemplo: El Acero : Fe C
La Silice : SiO2
Alotropa en el Fe puro
Alotropa:Polimorfismo en solidos
elementales
Ejemplos: El Carbono: C
El Hierro Puro: Fe
El Titanio: Ti
Fe-o
Fe-
Fe-o
Monocristales: Solidos cristalinos con disposicion
atomica perfecta en toda la muestra

Pueden ser naturales o artificiales
Monocristales artificiales
monitoreo cuidadoso
Monocristal no restringido crece con caras
planas reflejando estructura cristalina interna
Piedras preciosas
Monocristales de Fluorita (CaF
2
)
mostrando caras planas
Monocristal de Silicio
Materiales Policristalinos: Solido cristalinos compuestos por diferentes cristales
pequenos o granos. Esto es lo comun.
Proceso de solidificacion de muestra policristalina
(a) Nucleos de cristalizacion
(b) Crecimiento de cristales pequenos.
Notar obstruccion mutua
(c) Terminada solidificacion Granos
de formas irregulares
(d) Granos observados bajo el
microscopio Lineas: Limites de
grano
Nota: cada cuadrito es una celda unidad
(a)
(b)
(c)
(d)
Isotropia y Anisotropia:
Material es anisotrpico si propiedades dependen de direccin cristalogrfica a lo largo de la
cual se mide la propiedad
Si propiedades idnticas en todas direcciones, material isotrpico
Ejemplo: Comportamiento de mdulo de elasticidad (E), que relaciona grado de deformacion
bajo una fuerza.
Variacin del mdulo de elasticidad (x 10
6
psi) con la direccin cristalogrfica
Material [100] [111] Aleatorio
Al 9,2 11,0 10,0
Cu 9,7 27,8 18,1
Fe 19,1 40,4 30,0
Nb 22,0 11,8 14,9
W 59,2 59,2 59,2
MgO 35,6 48,7 45,0
NaCl 6,3 4,7 5,3

Ejemplo: Se muestran tres planos cristalogrficos para una celda
unitaria de un metal hipottico, los crculos representan tomos:
a) A que sistema cristalino pertenece esta celda unitaria?
b) Cmo se llamara esta estructura cristalina?
c) Si la densidad del metal es 8.95 g/cm
3
, determinar su peso atmico
Cubico
Tetragonal
Ortorrombico
Romboedrico
Sistema Longitudes de los ejes y Angulos Geometria de Celda Unidad
Cubica Simple
Cubica Centrada en el
Cuerpo
Cubica Centrada en las
Caras
Tetragonal
Simple
Tetragonal Centrada en
el Cuerpo
Ortorrombica
Simple
Ortorrombica Centrada en el
Cuerpo
Ortorrombica Centrada en
las Bases
Ortorrombica Centrada en las
Caras
Romboedrica
Hexagonal
Monoclinica Centrada en las
Bases
Monoclinica Simple
Triclinica
A c
N V
nA
=
n : No. de atomos asociados a c/celda unidad
A: Peso atomico
V
c
: Volumen de celda unidad
N
A
: Numero de Avogadro
c) A=? Densidad = 8.95 g/cm
3

DIFRACCION DE RAYOS-X
El difractmetro de rayos X

y

las huellas digitales de los
materiales
DIFRACCION: Dispersin de radiacin por
arreglo regular de centros de dispersin cuando:
radiacin centros
d ~
Ejemplo: Diffracin de luz
visible luz estras
d ~
m d
estras
1 =
m
visible luz
1 ~
Placa de Vidrio
Rayos
incidentes
Estras en Placa de Vidrio Redes de difraccin
Redes dispersan luz en direcciones especificas
( )
radiacin centros dispersin
d f u , =
( )
visible luz estras s refractado
d f u , =
Espectro de la radiacin Electromagnetica. La radiacin
X posee longitudes de onda de alrededor de 0.1 nm.
Atomos e iones
nm d
iones tomos centros
1 . 0
/
~
nm
X Radiacin
1 . 0 ~
X Radiacin iones atomos centros
d ~
/
iones tomos centros
d
/
X Radiacin
Usar Radiacin X p
caracterizar
ESTRUCTURA
CRISTALINA
Centros de Dispersion
Red Cristalina = Red Difraccin 3D
Rayos X interactan con orbitales
(
c
)

2
0
0
3

B
r
o
o
k
s
/
C
o
l
e

P
u
b
l
i
s
h
i
n
g

/

T
h
o
m
s
o
n

L
e
a
r
n
i
n
g

Interferencia Destructiva
Interferencia Constructiva
(El reforzamientob ocurre a angulos que satisfacen la Ley de Bragg)
CONDICION:
Intensidad de rayos X detectable
SI
Haces dispersados por planos
adyacentes estan en fase
ECUACION DE BRAGG:
Mltiplo
entero de

Distancia
recorrida por
rayos adyacentes
ABC n =
r Interplana Espaciado d
Difraccin de Angulo
Bragg de Angulo
:
: 2
:
u
u
ECUACION DE BRAGG:
Mltiplo
entero de
Distancia
recorrida por
rayos
adyacentes
r Interplana Espaciado d
Difraccin de Angulo
Bragg de Angulo
:
: 2
:
u
u
2 2 2
l k h
a
d d
hkl
+ +
= =
( )
|
|
.
|
\
|
+ + +
= =
2
2
2 2 2
3
4
c
a
l k hk h
a
d d
hkl
Para el sistema cbico
Para el sistema hexagonal
OBSERVACIONES A LA ECUACION DE BRAGG:
Necesaria pero insuficiente pdifraccin

Funciona bien p CELDAS UNIDAD PRIMITIVAS
Atomos en vertices Ej: Cbica simple & Tetragonal

CELDAS UNIDAD NO PRIMITIVAS
Atomos en aristas y/o caras
Difraccin fuera de fase pciertos u
Parte de difraccin predicha por Bragg no ocurre

REGLAS DE REFLEXION (DIFRACCION)
Relacin entre el angulo de Bragg () y el angulo de difraccin medido
experimentalmente medido (2).
EL DIFRACTOMETRO DE RAYOS X

Sistema de barrido Electromecnico

Intensidad haz difractado capturada por detector de radiacin.

Herramienta poderosa p identificacin qumica de materiales

(
c
)

2
0
0
3

B
r
o
o
k
s
/
C
o
l
e

P
u
b
l
i
s
h
i
n
g

/

T
h
o
m
s
o
n

L
e
a
r
n
i
n
g

(a) Diagrama de un
difractometro, mostrando una
muestra de polvo, los rayos
incidentes y refractados.

(b) El patron o espectro de
difraccion obtenido de una
muestra de oro en polvo.
2 2 2
l k h
a
d d
hkl
+ +
= =
Combinando
u
2
2 2 2
2
2 2
4 sen
l k h
a
n
|
|
.
|
\
|
+ +
=
DETERMINACION DE ESTRUCTURA CRISTALINA
( )
2 2 2
2
2
2
4
l k h
a
sen + + =

u
Para n=1
DETERMINACION DE ESTRUCTURA CRISTALINA
( )
2 2 2
2
2
2
4
l k h
a
sen + + =

u
ESTRUCTURA Patrn h
2
+k
2
+l
2
Cubica Simple (CS) 1,2,3,4,5,6,8,
BCC 2,4,6,8,10,12,14,16
FCC 3,4,8,11,12,16,
Hallar sen2u y buscar patron dividiendo
( )
( )
mn
i
mn
i
l k h
l k h
sen
sen
2 2 2
2 2 2
2
2
+ +
+ +
=
u
u
Ejemplo: La figura muestra los cinco primeros picos del espectro de
difraccin de rayos X del Tungsteno BCC obtenido usando radiacin
monocromtica de =0.152nm. Determinar el radio atmico del
Tungsteno
Solucion
Debido a que W tiene una estructura cristalina BCC ,solo aquellos picos
para los cuales h + k + l es par aparecern en la grafica. Por tanto, el
primer pico visible resultante de la difraccin proviene de planos (110).
Solucion
Para calcular el espacio interplanar para cada uno de los picos la
formula de abajo, Asi, para el primer pico que ocurre exactamente a
40.2
d
110
=
n
2 si n u
=
(1)(0.1542 nm)
(2) si n
40.2
2
|
\

|
.
|
= 0.2244 nm
Solucion
R =
a 3
4
=
d
hkl
( )
3
( )
(h)
2
+ (k)
2
+ (l )
2
4
( )( )
4
(0) + (1) + (1) 3 nm 0.2244
=
2 2 2
R
Para el calculo del radio atomico del W usamos

R= 0.1374 nm
Ejemplo: La figura muestra los resultados de un experimento de
difraccin de rayos X en la forma de la intensidad del pico refractado
en funcin del ngulo 2u de difraccin. Si se utilizan rayos X con una
longitud de onda de 0.07107 nm, determine:
a) La estructura cristalina del metal
b) Los ndices de los planos que producen cada uno de los picos
c) El parmetro de red del metal
(
c
)

2
0
0
3

B
r
o
o
k
s
/
C
o
l
e

P
u
b
l
i
s
h
i
n
g

/

T
h
o
m
s
o
n

L
e
a
r
n
i
n
g

I
n
t
e
n
s
i
d
a
d

Solucin: Los valores angulares pueden estimarse de la figura
Indices
planares
h
2
+k
2
+l
2

2
4
6
8
10
12
14
16
a) - b) El 7 indica que el patron es 2,4,6,8,.. BCC
Solucin
Indices
planares
c) El parmetro de red promedio es a
o
=0.2307
BIBLIOGRAFIA
Shackelford, J.F., 2005, Introduccion a la Ciencia de Materiales para Ingenieros, Pearson
Educacion S.A., Madrid, Espana.
Callister, W.D., 2007, Introduccion a la Ciencia e Ingenieria de Materiales, Ed. Reverte,
Barcelona, Espana.
Askeland, D., 1998, Ciencia e Ingeniera de los Materiales, 3ra. Edicion, International
Thomson Editores, Mexico.
Zavaleta Gutierrez, N. , 2006, Estructura y Propiedades de los Materiales, Concytec, Lima,
Peru

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