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INSTITUTO POLITCNICO NACIONAL

ESCUELA SUPERIOR DE INGENIERA


MECNICA Y ELCTRICA

SECCION DE ESTUDIOS DE POSGRADO EN INGENIERIA
MAESTRIA EN CIENCIAS EN INGENIERIA ELECTRICA

TAREA

MUESTREO DE UNA SEAL SENOIDAL PURA Y CON CONTENIDO
ARMONICO A DISTINTAS FRECUENCIAS


PROFESOR:

Dr. David Sebastin Baltazar


ALUMNO:

JESUS EDUARDO ARROYO CASTILLO


MUESTREO DE UNA SEAL PERIODICA

Muestreo y Aliasing

El clculo de los fasores de voltaje y de corriente se obtiene a partir de muestreo de la seal
senoidal, tomado a intervalos regulares k T A , (k = 0, 1, 2, 3,). Considerando como
( ) x t a la seal de entrada y ( ) x k t A como la magnitud a k t A intervalos en la seal. Si se
toma a '( ) x t como la funcin de muestreo, la cual consiste en impulsos espaciados
uniformemente, se expresa de la siguiente manera:
'( ) ( ) ( )
k
x t x k t t k T o

=
= A + A


Donde ( )
k
f
T
o
A
corresponde a la funcin de muestreo de la seal de entrada, y al
tomar su transformada de Fourier se obtiene:

1
( ) ( )
k
k
f f
T T
o

=
A =
A A


Por lo tanto, por propiedades de la transformada, la transformada de Fourier de la funcin
de muestreo es la convolucin de f A con ( ) X f :

1
'( ) ( ) ( )
k
k
X f X f d
T T
| o | |
+

=

=
A A

}


1
( ) ( )
k
k
X f d
T T
| o | |

=
A A

}


1
( )
k
k
X f
T T

=
=
A A


La relacin entre las transformadas de Fourier de ( ) x t y '( ) x t se muestran en la figura 1:

Figura 1.

La transformada de Fourier de la funcin ( ) x t est limitada por la frecuencia de corte
c
f
es decir que la funcin se encuentra limitada a un rea especfica definida por dicha
frecuencia. La funcin de muestreo '( ) x t cuya transformada de Fourier consiste en una
cantidad infinita de de transformadas de Fourier de ( ) x t centradas al intervalo de
frecuencia de ( / ) k T A para toda k, al cual se le llama frecuencia de muestreo
s
f y est
definida por el intervalo de muestreo T A .
Si la frecuencia de corte
c
f es mayor que la mitad de la frecuencia de muestreo
s
f
entonces la transformada de Fourier de la funcin de muestreo ser como se muestra en la
figura 2:

Figura 2.
En esta imagen se muestra que la seal de muestreo difiere de la seal de entrada en la
regin donde se traslapa la funcin. Esto implica un error en la seal de muestreo en la
regin donde se traslapa, a este fenmeno se le conoce como aliasing. Por lo tanto para
evitar errores en el muestreo por el fenmeno de aliasing, el ancho de banda de la seal de
entrada debe de ser menor que la mitad de la frecuencia de muestreo, a este requerimiento
se le conoce como criterio de Nyquist.












CRITERIO DE NYQUIST DE MUESTREO
El teorema de muestreo de Nyquist-Shannon, tambin conocido como teorema de muestreo
de Whittaker-Nyquist-Kotelnikov-Shannon, criterio de Nyquist o teorema de Nyquist, es
un teorema fundamental de la teora de la informacin, de especial inters en
las telecomunicaciones.

El teorema trata del muestreo, que no debe ser confundido o asociado con la cuantificacin,
proceso que sigue al de muestreo en la digitalizacin de una seal y que, al contrario del
muestreo, no es reversible (se produce una prdida de informacin en el proceso de
cuantificacin, incluso en el caso ideal terico, que se traduce en una distorsin conocida
como error o ruido de cuantificacin y que establece un lmite terico superior a la relacin
seal-ruido). Dicho de otro modo, desde el punto de vista del teorema, las muestras
discretas de una seal son valores exactos que an no han sufrido redondeo o truncamiento
alguno sobre una precisin determinada, es decir, an no han sido cuantificadas.
El teorema demuestra que la reconstruccin exacta de una seal peridica continua en
banda base a partir de sus muestras, es matemticamente posible si la seal est limitada en
banda y la tasa de muestreo es superior al doble de su ancho de banda.
Dicho de otro modo, la informacin completa de la seal analgica original que cumple el
criterio anterior est descrita por la serie total de muestras que resultaron del proceso de
muestreo. No hay nada, por tanto, de la evolucin de la seal entre muestras que no est
perfectamente definido por la serie total de muestras.
Si la frecuencia ms alta contenida en una seal analgica ( )
a
x t es
max
F B = y la seal se
muestrea a una tasa
max
2 2
s
F F B > , entonces ( )
a
x t se puede recuperar totalmente a partir
de sus muestras mediante la siguiente funcin de interpolacin:


sin(2 )
( )
2
Bt
g t
Bt
t
t
=






Series de Fourier y Transformada de Fourier

Series de Fourier

Se tiene una funcin peridica ( ) x t , con un periodo igual a T . Por lo tanto
( ) ( ) x t kT x t + = para todo valor de k. Una funcin peridica se puede expresar como una
serie de Fourier como sigue:

0
1 1
2 2
( ) cos( ) ( )
2
k k
k k
a kt kt
x t a b sen
T T
t t

= =
= + +



Donde las constantes ak y bk son dadas por:

/ 2
/ 2
2 2
( )cos( ) , 0,1, 2, ,
T
k
T
kt
a x t dt k
T T
t

= =
}


/ 2
/ 2
2 2
( ) ( ) , 1, 2, ,
T
k
T
kt
b x t sen dt k
T T
t

= =
}

La serie de Fourier tambin se puede representar de forma exponencial, de la siguiente
forma:

2
( )
j kt
T
k
k
x t a e
t

=
=



2
/ 2
/ 2
1
( ) , 0, 1, 2, ,
j kt
T
T
k
T
a x t e dt k
T
t

= =
}



Transformada de Fourier

La tcnica de representar seales a travs de una suma de exponenciales se puede extender
a funciones no peridicas a travs del uso de la transformada de Fourier.
La transformada de Fourier de una funcin continua ( ) x t se encuentra dada por la
siguiente integral:

2
( ) ( )
j ft
X f x t e dt
t
+

=
}

Y la transformada inversa de Fourier se encuentra dada por la siguiente integral:

2
( ) ( )
j ft
x t X f e df
t
+

=
}

Una funcin importante que se usa en muestreo de seales es la funcin ( ) t o o delta de
Dirac, la cual est definida por:

0 0
( ) ( ) ( ) x t t t x t dt o
+

=
}

Propiedades principales de la transformada de Fourier:
- La transformada de Fourier de la convolucin es igual al producto de la
transformada de Fourier de las funciones que integran la convolucin, es decir:

( ) ( ) * ( ) ( ) ( ) ( ) s t x t y t S f X f Y f = =
y de manera anloga, la transformada de Fourier inversa de una convolucin es
igual al producto de la transformada de Fourier
( ) ( ) * ( ) ( ) ( ) ( ) Z f X f Y f z t x t y t = =
- La transformada de Fourier de una funcin par, es una funcin par de la frecuencia.
Si la funcin es real, la transformada de Fourier es tambin real y par.
- La transformada de Fourier de una funcin impar, es una funcin impar de la
frecuencia. Si la funcin impar es real, la transformada de Fourier ser imaginaria e
impar.
- La transformada de Fourier de una funcin real, tiene una parte real par y una parte
imaginaria impar. Como se muestra en la siguiente ecuacin:


1 2
( ) ( )cos(2 ) ( ) (2 ) ( ) ( ) X f r t ft dt j r t sen ft dt R f jR f t t
+ +

= + = +
} }

- La transformada de Fourier de una funcin peridica es una serie de funcin
impulso de la frecuencia.
- La transformada de Fourier de una serie de impulsos es una serie de impulsos en el
dominio de la frecuencia.





MUESTREO DE UNA SEAL DE 1260 Hz A DISTINTAS FRECUENCIAS.

Se realiza un ejemplo donde se debe muestrear una seal de 1260 Hz y se observara el
efecto de Aliasing por usar frecuencias de muestreo menores a el doble de la frecuencia de
la seal a muestrear.


Seal de 1260 Hz generada en Matlab:













Figura 3.




0 0.005 0.01 0.015
-2
-1.5
-1
-0.5
0
0.5
1
1.5
2
Frecuencia de seal de entrada= 1260Hz


Se comienza utilizando frecuencias altas para el muestreo de la seal de 1260 Hz, en el
primer caso se observa una frecuencia de muestreo de 25200 Hz. Se observa en la figura 4
que la forma de onda de la seal muestreada es muy parecida a la seal original, esta se
debe al uso de una frecuencia de muestreo alta, en la cual se obtienen 20 muestras por ciclo
de la seal de entrada.













Figura 4.






0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
Frecuencia de seal de entrada= 1260Hz Frecuencia de muestreo= 25200Hz


Seal analogica
0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Seal muestreada
Cuando se comienza a disminuir la frecuencia de muestreo, en este caso para la figura 5 en
que se toman 8 muestras por ciclo, es decir, con una frecuencia de muestreo de 10080 Hz.
Los resultados son evidentes, cuando la seal se muestreo a una frecuencia alta de 25200
Hz. la seal obtenida con las muestras se asemeja mucho a la seal de entrada analgica,
pero si se disminuye la frecuencia de muestreo como la siguiente figura, el resultado es una
seal discreta que se asemeja mucho a la seal entrante, pero como el intervalo de muestreo
es mucho mayor, la reconstruccin de la seal a partir de sus muestras no representa a
totalidad la seal que fue muestreada. Por las lneas rectas que conectan cada muestra
tomada.













Figura 5.





0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
Frecuencia de seal de entrada= 1260Hz Frecuencia de muestreo= 10080Hz


0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Seal analogica
Seal muestreada
Ahora si se toma una frecuencia de muestreo de 5040 Hz, lo cual implicara tomar 4
muestras por ciclo de la seal de 1260 Hz, el resultado de la seal reconstruida a partir de la
muestras tomadas se observa en la figura 6. Si bien por las muestras tomadas se puede
saber cules son los valores pico y el cruce por cero de la seal, la seal que se observa en
la muestras no representa valores intermedios de la seal de entrada. Pero si se puede tomar
como una buena aproximacin, se debe de tomar en cuenta tambin que para que pueda
representar los valores mximos y mnimos de la seal, tiene que empezar en el cruce por
cero el muestreo de la seal, si no se hace as, se perder informacin importante como los
valores pico de la seal. Este inconveniente muestra lo que sucede cuando se utilizan
frecuencias de muestreo bajas. Lo anterior permite afirmar que si bien una frecuencia de
muestreo de cuatro veces la fundamental es una buena aproximacin de la seal de entrada,
la perdida de una gran cantidad de informacin y la forma de la onda obtenida, hara que se
recomiende usar frecuencias ms altas, una mejor aproximacin es usar una frecuencias de
muestreo de ocho veces la fundamental.













Figura 6.


0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
Frecuencia de seal de entrada= 1260Hz Frecuencia de muestreo= 5040Hz


0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Seal analogica
Seal muestreada
La figura 7 muestra lo que se obtiene al muestrear una seal a una frecuencia de muestreo
que cumpla al mnimo el principio establecido por Nyquist, el cual indica que la frecuencia
de muestreo debe de ser mayor que dos veces la frecuencia de la seal a muestrear. Como
se observa en la figura, se usa una frecuencia de muestreo de 2521 Hz para la seal senoidal
de 1260 Hz, de acuerdo con el criterio de Nyquist esto es correcto y no se introducen
problemas de aliasing, pero el resultado no es el deseado que es el de obtener una seal
discreta que se asemeje a una seal analgica. Lo que se observa son puntos de la seal
tomados muy cercanos al origen. Por lo tanto no es prctico seguir al pie de la letra el
criterio de Nyquist en cuando a la mnima frecuencia de muestreo que se debe de utilizar,
se debe por lo menos, como se muestra en los ejemplos anteriores, utilizar una frecuencia
de muestreo de 4 veces la frecuencia de la seal a muestrear. Y una mejor aproximacin se
obtiene usando una frecuencia de muestreo 8 veces la frecuencia de fundamental.












Figura 7.




0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
Frecuencia de seal de entrada= 1260Hz Frecuencia de muestreo= 2521Hz


0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Seal analogica
Seal muestreada
Si la frecuencia de muestreo de la seal no cumple mnimamente con el criterio establecido
por Nyquist, que para el caso de la seal de 1260 Hz, la frecuencia de muestreo debe de ser
mayor que 2520 Hz. En la figura 8, que se muestra a continuacin se muestra el efecto de
no cumplir dicho criterio. Se puede observar que la seal obtenida es prcticamente una
lnea recta, pues las muestras son tomadas cada medio ciclo de la seal y que corresponde
al cruce por cero de la seal. Por lo tanto, al usar frecuencias de muestreo menores o
iguales a dos veces la seal de entrada no se obtienen resultados correctos de acuerdo con
aproximar una seal analgica a travs de sus muestras discretas.












Figura 8.







0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
Frecuencia de seal de entrada= 1260Hz Frecuencia de muestreo= 2520Hz


0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Seal analogica
Seal muestreada
Como se menciono anteriormente lo que sucede al utilizar frecuencias de muestreo menores
a dos veces la frecuencia de la seal a muestrear, fenmeno conocido como Aliasing. En la
figura 9 se observa que al usar una frecuencia de muestreo de 1200 Hz para la seal de
1260 Hz, el resultado de la reconstruccin de la seal a partir de sus muestras es una seal
de 60 Hz que no representa en absoluto a la seal original. Este es un claro ejemplo de
aliasing al muestrar una seal, y sin importar la aplicacin al cual sea dirigido dicho
proceso, se incurrira en un error si se tomaran los resultados del muestreo para alguna
aplicacin especifica.











Figura 9.








0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
Frecuencia de seal de entrada= 1260Hz Frecuencia de muestreo= 1200Hz


0 0.005 0.01 0.015
-2
-1
0
1
2
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Seal analogica
Seal muestreada
CONTENIDO ARMONICO DE UNA SEAL

Cuando se aplica un proceso de muestreo a una seal, el inters principal es la obtencin de
informacin de dicha seal y que dicha informacin sea lo ms precisa y certera sobre la
informacin de la seal original. Cuando una seal no es puramente senoidal y con alto
contenido de armnicas se presenta, es de especial inters obtener tambin informacin de
ella, pero dependiendo de la aplicacin que se desee realizar ser la informacin que se
necesite procesar.
La descomposicin de una seal en sus componentes brinda la posibilidad de extraer la
seal que contiene la informacin necesaria para alguna aplicacin especifica a realizar. Es
importante tener presente que la frecuencia de muestreo influye significativamente en la
informacin que se obtiene de una seal, dependiendo de esta frecuencia ser la seal que
se obtendr en forma discreta y ser la informacin que se vera de una seal de entrada
analgica.
A continuacin se muestra un ejemplo donde una seal con contenido armnico se
muestrea a diferentes frecuencias y se observa la reconstruccin a partir de sus Si se tiene
una seal de entrada con contenido de armnicas a la seal fundamental que es de 60 Hz,
como se muestra a continuacin:


( ) ( ) ( ) ( ) ( ) ( ) 10s 5 2 3 3 2 4 5 x t en t sen t sen t sen t sen t e e e e e = + + + +
Donde la seal contiene la seal fundamental, mas el segundo, tercero, cuarto y quinto
armnico con su respectiva amplitud.

Se debe de tener especial cuidado al momento de tomar muestrear a una seal de este tipo.
Puesto que el criterio de Nyquist enuncia que la frecuencia de muestreo tiene que ser mayor
que dos veces la frecuencia de la seal que se desea muestrear, el que una seal con alto
contenido armnico pase por un proceso de muestreo con una frecuencia de muestreo
preestablecida, se debe de tener especial cuidado al momento de seleccionar la frecuencia
de muestreo para dicha seal que se puede presentar. Al igual que una seal senoidal pura,
como en los ejemplos anteriores, donde se muestra que si no se selecciona una frecuencia
de muestreo adecuada para una seal, existira perdida de informacin valiosa de dicha
seal, y depender de la aplicacin a la cual va dirigida la seal muestreada, la decisin de
la seleccin de la frecuencia de muestreo.

Si como se menciono antes, no existe una correcta seleccin de la frecuencia de muestreo,
aun cumplindose en criterio de Nyquist, para una seal con alto contenido armnico habr
prdida de informacin sobre la seal y se incurrir en un error, puesto que se harn malas
aproximaciones de las componentes de la seal de entrada.

En la figura 10 se muestra un ciclo de la seal de entrada que se menciono anteriormente y
su representacin a 240 Hz de frecuencia de muestreo.









Figura 10.

Se observa que la representacin a la frecuencia de muestreo a 4 veces la fundamental no
representa a totalidad la onda original, si bien si representa cierto comportamiento de la
onda no se puede afirmar que sea una buena aproximacin de la onda original, la
representacin por muestras podra considerarse como una onda de 60 Hz mostrada en
ejemplos anteriores, si bien esta onda de 60 Hz es una componente de la onda original que
podra utilizarse para alguna aplicacin donde solo se requiera el valor de la componente
fundamental de la seal. Pero al realizar esta accin se incurrira en una mala aproximacin
de la seal fundamental, puesto que en la seal de entrada como se muestra, la fundamental
tienen una amplitud de 10 y en la representacin de las muestras a 240 Hz es de 8, por lo
tanto no es practico el utilizar esta seal, ni tan solo como simple aproximacin dado al alto
error que se introduce. Las dems armnicas no se pueden obtener esto debido a la
frecuencia de muestreo.
Si se eleva la frecuencia de muestreo como se muestra ahora a 12 veces la fundamental, se
muestra en la figura 11 la representacin de la seal original y sus armnicas mediante las
muestras obtenidas a 720 Hz de frecuencia de muestreo.



0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-15
-10
-5
0
5
10
15
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Seal de entrada
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-8
-6
-4
-2
0
2
4
6
8


Seal de entrada
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-10
-8
-6
-4
-2
0
2
4
6
8
10
Frecuencia del Armonico= 60Hz
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Armonicos










Figura 11.









Figura 12 armonicos 1 y 2.





0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-15
-10
-5
0
5
10
15
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Seal de entrada
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-5
-4
-3
-2
-1
0
1
2
3
4
5
Frecuencia del Armonico= 120Hz
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Armonicos







Figura 13 armnicos 3 y 4.











Figura 14 armnico 5.
En las anteriores figuras se puede notar la diferencia entre las componentes de la seal, si
bien el la componente de frecuencia fundamental de 60 Hz es una buena aproximacin, el
segundo armnico puede tomarse como aceptable y esto debido a que no se acerca al valor
mximo de la seal como se muestra en la funcin que define la seal de entrada. Otra
componente que presenta las mismas caractersticas que el segundo armnico de 240 Hz o
4 armnico que al igual que el segundo la reconstruccin por las muestras erra por la
magnitud de la seal la cual debera de ser de 3. Al caso ms evidente de error en la
aproximacin es la componente 5 de la seal, la cual no corresponde ni en frecuencia ni en
amplitud, ms bien se asemeja una onda distorsionada o no puramente sinusoidal, como
debera de ser.
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-3
-2
-1
0
1
2
3
Frecuencia del Armonico= 180Hz
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Armonicos
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-2
-1.5
-1
-0.5
0
0.5
1
1.5
2
Frecuencia del Armonico= 240Hz
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Armonicos
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-1
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0
0.2
0.4
0.6
0.8
1
Frecuencia del Armonico= 300Hz
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Armonicos
Ahora si se desea que hasta el 5 armnico se obtenga con una buena aproximacin se tiene
que tener al menos 8 muestras por ciclo, se pueden tener 4 muestras por ciclo pero como se
menciono que al tener esa cantidad de muestras por ciclo se genera una gran prdida de
informacin valiosa de la seal, por lo tanto se debe de tomar una frecuencia de muestreo
de 2400 Hz.










Figura 15 seal de entrada muestreada.










Figura 16 armonicas fundamental y 2.

0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-15
-10
-5
0
5
10
15
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Seal de entrada
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-10
-8
-6
-4
-2
0
2
4
6
8
10
Frecuencia del Armonico= 60Hz
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Armonicos
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-6
-4
-2
0
2
4
6
Frecuencia del Armonico= 120Hz
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Armonicos







Figura 17 armnicos 3 y 4.








Figura 18 armnico 5.

Se observa por cada una de las graficas que la aproximacin que se logra obtener es mejor
que cuando la frecuencia de muestreo es de 720 Hz, incluso para la 5 armnica. Esto se
debe a la eleccin de la frecuencia de muestreo de 2400 Hz, la cual que correspondera a 8
muestras por ciclo para la seal de 300 Hz o 5 armnica. Y de esta forma es como se
puede obtener una buena aproximacin de la seal y sus componentes armnicos, es decir,
que si se desea conocer qu tipo de seal integran una seal es necesario ajustar la
frecuencia de muestreo para poder observar dichas seales y que su aproximacin sea de la
mejor forma posible.

0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-3
-2
-1
0
1
2
3
Frecuencia del Armonico= 180Hz
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Armonicos
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-1.5
-1
-0.5
0
0.5
1
1.5
Frecuencia del Armonico= 300Hz
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Armonicos
0 0.002 0.004 0.006 0.008 0.01 0.012 0.014 0.016 0.018
-2
-1.5
-1
-0.5
0
0.5
1
1.5
2
Frecuencia del Armonico= 240Hz
milisegundos
A
m
p
l
i
t
u
d


Armonicos
CONCLUCIONES
Los relevadores de proteccin son usados con el objetivo de minimizar los efectos de la
ocurrencia de fallas en el sistema de potencia y de cualquier otro tipo de operacin anormal
del sistema. Las fallas en el sistema de potencia pueden ser resultado de influencias tanto
externas como internas. Los efectos de dichas fallas pueden ser catastrficos para el sistema
y sus componentes. Los relevadores de proteccin deben de operar para estas condiciones
del sistema ya sea abriendo interruptores, enviando alarmas o realizando sealizacin. Es
por ello que estos equipos deben poder diferenciar correctamente entre distintas
condiciones de operacin del sistema, la ocurrencia de cortocircuitos y otras fallas de
distinto tipo puede ser de un gran impacto para el sistema y por lo tanto deben ser
correctamente detectadas y posteriormente eliminadas.
Los relevadores microprocesados actuales tienen amplias ventajas en su implementacin
respecto a cualquier contraparte que exista. Pero tienen ciertos requerimientos inherentes
por su propia arquitectura, estos relevadores funcionan con seales digitales, pero el mundo
exterior es analgico por lo tanto debe existir un cambio entre estos dos sistemas para que
pueda funcionar este equipo.
Puesto que estos equipos deben de cumplir con ciertos requerimientos en cuando a la
calidad de las seales que utiliza para determinar en qu condicin opera el sistema que
protege y si es necesario realizar alguna accin, es de vital importancia que la lectura de las
seales del sistema (analgicas) para ser procesadas por el relevador (digitales) sea de
manera correcta.
Cuando se intenta reproducir de manera digital (discreta) una seal analgica (continua), se
toman muestras de la seal original que emulan en el mundo digital una seal analgica
real y dependiendo de cmo se realice dicho proceso de muestreo, ser la seal digital
obtenida que emule la seal analgica.
En la terminologa del procesamiento de seales, el numero de muestras que se toman cada
cierto tiempo se le llama frecuencia de muestreo, la cual es independiente de la frecuencia
de la seal que se desea muestrear pero que debe seguir ciertas reglas si se desea una buena
aproximacin de la seal analgica de manera digital.
Tericamente para que una seal sea muestreada de manera correcta, es decir, que su
representacin discreta sea lo ms parecida a su contraparte continua, la frecuencia de
muestreo de la seal debe de ser al menos del doble de la frecuencia de la seal que se
desea muestrear, a este criterio se le conoce como teorema de Nyquist de muestreo y es
fundamental para el muestreo de seales. En este trabajo se realizo el muestreo de una seal
senoidal y se verifico la validez del teorema de Nyquist de muestreo de seales.
Cuando una seal es muestreada a una frecuencia igual o menor a dos veces la frecuencia
de la seal a muestrear, el resultado obtenido se le llama Aliasing y lo que se observa es
que la reconstruccin de la seal a partir de sus muestras no corresponde a la seal de la
cual se tomaron las muestras. Se muestra claramente en el ejemplo donde la frecuencia de
muestreo es 1200Hz y la frecuencia de la seal es de 1260Hz, al reconstruir la seal se
obtuvo una onda senoidal al igual que la original pero con una frecuencia de 60Hz. Este es
un claro ejemplo de aliasing y es un efecto muy importante a considerar, es por ello que se
debe de filtrar las seales de mayor frecuencia que la seal que se desea muestrear, para
evitar la presencia de dicho efecto.
Pero no solo cumpliendo el criterio de Nyquist se sigue obteniendo una buena
representacin de la seal muestreada. Como se observa en los ejemplos, aunque la
frecuencia de muestreo es mayor que dos veces la frecuencia de la seal de entrada, cuando
la frecuencia de muestreo es 2520Hz por ejemplo, lo que se observa es unos pequeos
punto sobre la curva que se toman casi al cumplirse un ciclo y que al intentar reconstruir la
seal nicamente se observa una lnea recta.
Por lo tanto no solo se tiene que cumplir el teorema de Nyquist, sino que tambin es
necesario saber que calidad en la representacin de la seal se desea obtener.
En este trabajo se realizo una prueba de muestreo a varias veces la frecuencia de la seal y
se observo que para obtener una buena representacin de la seal para los fines deseados,
que son de proteccin de SEPs, la frecuencia de muestreo que obtiene una representacin
aceptable de la original, una onda puramente senoidal, es de al menos 8 veces la frecuencia
de la seal de entrada.
Es tambin importante sealar que cuando una seal no es puramente senoidal, como son
en realidad todas las seales presentes en todo el sistema de potencia, y se desee conocer a
detalle las componentes que interesan para en este caso la proteccin del sistema de
potencia. La frecuencia de la seal deseada depender de la aplicacin a la cual vaya
dirigida, sin embargo tambin se debe de tomar en cuenta el tipo de seales que se
presentaran para cierto tipo de aplicaciones, para de esa forma realizar una correcta
seleccin de la frecuencia de muestreo.
Como se observa en las simulaciones con seales con contenido armnico, dependiendo de
la frecuencia de muestreo que se utilice ser la calidad y tipo de seales que se podr
mostrar. Por ejemplo, como se menciono anteriormente, si se desea obtener una buena
aproximacin de una seal se debe de tomar muestras de dicha seal al menos 8 cada ciclo
de la seal, pero como se muestra en las simulaciones este principio no siempre se cumple.
Si la seal tiene un alto contenido armnico la deformacin puede ser tal que el punto
donde se tomen las muestras no corresponda a la seal que se desea obtener y aproximar.
Por lo tanto es importante tambin tener en cuenta el tipo de aplicaciones a las que ser
sometido un relevador, puesto que en un sistema real los tipos de seales que se presentan
son ideales en lo absoluto y hacer suposiciones de este tipo seria incurrir en un error y mala
operacin de un sistema de proteccin.
Con la realizacin de este trabajo se vuelve patente la importancia que tiene el
conocimiento del procesamiento de seales para un ingeniero de protecciones, no solo por
el anlisis de un simple equipo en s, sino por la caracterstica inherente de necesitar
conocer y analizar las variables del sistema para determinar su estado y caracterstica de
operacin.





Bibliografa
- Discrete-Time Signal Processing, Alan V. Oppenheim, Ronald W.
Schafer.

- Seales y Sistemas, Alan V. Oppenheim, Alan S. Willsky.




















APENDICE: PROGRAMA DE MATLAB
%Jesus Eduardo Arroyo Castillo
%Archivo .m de generacion de armonicos de una seal por series de Fourier
clear all;
clc;

f=60;%frecuencia fundamental de la seal de entrada
fm=f*40; %frecuencia de muestreo de la seal
dt = 1/fm; %paso de integracion y paso para el intervalo del tiempo que
tambien corresponde a la frecuencia de muestreo de la seal de entrada

T = 1/f; %periodo de la seal
t =[0:dt:T]'; %tiempo para graficar la seal
w=2*pi*f; %frecuencia de oscilacion

x=10*sin(w*t)+5*sin(2*w*t)+3*sin(3*w*t)+2*sin(4*w*t)+1*sin(5*w*t);%seal
de entrada
a(1) = 1/T * ( sum (x) * dt); %a0 de la serie de fourier
xfs = a(1) * ones( size (x)); %dimensionamiento de xfs
figure(1)
plot (t,x,'b-*')%grafica de la seal de entrada
legend('Seal de entrada');
ylabel('Amplitud');
xlabel('milisegundos');
grid on

%ciclo for para generar series de Fourier, las iteraciones del ciclo
%corresponden al armonico que se desea representar que es multiplo de la
%fundamental.
arm=1:5; %arm corresponde a las armonicas que se deseen obtener que deben
ser multiplos de la fundamental

for k = arm %cada numero entero de iteraciones del bucle
corresponde a un multiplo de la frecuencia fundamental

ck = cos(k*w*t); %coeficiente de la suma de fourier
a(k+1)=2/T*(sum(x.*ck)*dt); %sumatoria del coseno de la serie

sk=sin(k*w*t); %coeficiente de la suma de fourier
b(k+1)=2/T*(sum(x.*sk)*dt);%sumatoria del seno de la serie

xfs = a(k+1)*cos(k*w*t)+b(k+1)*sin(k*w*t); %serie de fourier completa

figure(2)
plot(t,xfs,'r');%grafica de la seales armonicas
title(['Frecuencia del Armonico= ',num2str(k*f),'Hz'])
legend('Armonicos');
ylabel('Amplitud');
xlabel('milisegundos');
grid on
%hold on
pause;
end