DIFRACCIN DE LA LUZ

OBJETIVOS Observacin experimental de la difraccin de Fraunhofer correspondiente a diversos

obstculos, y estudio cuantitativo de la difraccin de la luz por una rendija, as como su

aplicacin a la medida de pequeas distancias FUNDAMENTO

!a difraccin es el fenmeno que se produce cuando las ondas "mecnicas, electroma#n$ticas o asociadas a partculas% alcanzan un obstculo o abertura de dimensiones comparables a su propia lon#itud de onda, y que se manifiesta en forma de perturbaciones en la propa#acin de la onda, bien sea rodeando el obstculo, bien sea produci$ndose una diver#encia a partir de la abertura &n nuestro caso consideraremos la difraccin de las ondas electroma#n$ticas, y en un sentido amplio, podemos decir que la difraccin se define como toda desviacin de los rayos luminosos que no pueda explicarse ni como reflexin ni como refraccin 'uando se observa la difraccin producida por un objeto proyectando sobre una pantalla a una distancia muy #rande del propio objeto, la distribucin de intensidades observada se conoce como patrn de difraccin de Fraunhofer (atrn de difraccin de Fraunhofer de una rendija estrecha 'onsideremos un haz plano de luz monocromtica de lon#itud de onda que en su propa#acin encuentra perpendicularmente una rendija estrecha de anchura )b *e acuerdo con el principio de +uy#ens, cada punto de la rendija se convierte en un emisor de ondas secundarias (uesto que por hiptesis el haz incidente es plano y la rendija se encuentra perpendicular a $l, todas estas ondas secundarias se encuentran en fase , si reco#emos sobre una pantalla lejana la radiacin procedente de todos estos focos emisores, encontraremos una distribucin de intensidad donde cada punto de la pantalla estar ms o menos iluminado dependiendo de las fases de las ondas secundarias que alcanzan el punto dado- fases que a su vez dependern del camino que cada uno de los rayos ori#inados en estas fuentes secundarias haya tenido que recorrer para lle#ar all .parecern mximos y mnimos en la pantalla, y puntos con una intensidad intermedia, que constituyen el patrn de difraccin de la rendija 'onsideremos el esquema presentado en la fi#ura / &n el centro de la pantalla "punto O% aparecer un mximo de intensidad, porque todos los focos secundarios que forman la rendija son equidistantes y las ondas secundarias que ori#inan lle#an en fase . medida que nos alejamos de ese punto central, hacia un lado y otro hay desfases en las ondas secundarias que alcanzan cada punto y en consecuencia aparecen variaciones en la intensidad 'onsideremos se#uidamente el rayo que forma un n#ulo con la direccin perpendicular a la rendija y la pantalla, cuya trayectoria es la hipotenusa de un trin#ulo rectn#ulo cuyos catetos son *, y !lamando 0 a la intensidad del mximo central, si la rendija est lo suficientemente lejos de la pantalla y la distancia d es pequea comparada con * puede demostrarse "v$ase ap$ndice% que la intensidad de la luz difractada se#2n la direccin dada por el n#ulo es3
1

*ifraccin de la luz

/45

 6
I

I1 sin

)bsin

"/%
+az plano )b * "*77y% "*77)b% Fi#ura / &squema de difraccin de un haz plano por una rendija estrecha O (ant alla y

)bsin

8$ase en la fi#ura / que si D77y, entonces es un n#ulo pequeo, y por consi#uiente se verifica que sin 9tg , como tg 6y4D, la ecuacin "/% puede escribirse3 ) ) b y 6 ")%
I I

D )

b y

D !a #rfica de la ecuacin ")%, 0 frente a ")b/D%y, se representa en la fi#ura . ) del

ap$ndice "de una forma ms compacta se denomina 6")b/D%y, y la funcin "/4%sin se conoce como sinc % (or lo tanto la ecuacin ")% puede escribirse en la forma alternativa

")bis%3 ")bis% I 8$ase en la ecuacin ")% que la intensidad se anula siempre que ")b/D%y 6 m "m6:/,
:), :; % (or lo tanto, si se mide la distancia entre mnimos de intensidad, siendo conocidas y D, es posible determinar la anchura )b de la rendija O alternativamente, si se

conocen )b y D, puede determinarse la lon#itud de onda de la luz

PARTE EXPERIMENTAL Observaciones cualitativas +#ase pasar un haz lser a trav$s de los si#uientes objetos difractantes3 una rendija
estrecha, un cabello, varios cabellos cruzados y una abertura circular de pequeo tamao

Obs$rvese cada fi#ura de difraccin en una pantalla alejada <edidas cuantitativas

*ispn#ase el montaje experimental se#2n se indica en la fi#ura )a, usando un lser como fuente de luz monocromtica &n lu#ar de pantalla emplearemos una !*= montada sobre una pletina de desplazamiento, que #racias a su tornillo microm$trico permite mover el sensor !*= en fracciones de milmetro recorriendo la fi#ura de difraccin +aremos las

medidas sobre el mximo central "&sta !*= debe estar previamente calibrada para utilizar las lecturas de resistencia en el clculo de la iluminacin% *ebe medirse cuidadosamente la distancia de la rendija a la !*=, y ase#urarse de que el haz lser est dispuesto perpendicularmente a $sta
y !*= <ximo principal de difraccin >hmetro =endija +az difractado (letina de desplazamiento "se desplaza se#2n eje y% Fi#ura )a &squema del dispositivo experimental para medidas de difraccin +az incidente

'omenzando en el primer mnimo iremos moviendo la !*= en pasos de 1 ? mm, de manera que recorramos completamente el mximo principal de difraccin 'ada 1 ? mm anotaremos las lecturas de posicin y resistencia medida por el hmetro "@er necesario cambiar la escala del hmetro a lo lar#o de la serie de medidas, ya que la resistencia cambia rdenes de ma#nitud desde el mnimo hasta el mximo de iluminacin% &n las fi#uras )b y )c se muestran foto#rafas de la pletina de desplazamiento y del sistema de medida

*ifraccin de la luz

;45

LDR

Fi ls

*i

ci

de

lu Fi#ura )b *etalle del sistema de medida (letina de desplazamiento con tornillo microm$trico

Tornillo micromtrico

A45

TRATAMIENTO DE DATOS !a intensidad de difraccin de una rendija en una pantalla lejana est dada por la ecuacin ")% (or lo tanto ajustaremos los valores obtenidos "I ,en lux, en funcin de y, en mm% a una ecuacin de la forma3 I 6 I1sinc)"my% ";% donde I1 es la intensidad del centro del mximo principal y donde )b es la anchura de la rendija, D la distancia a la pantalla de observacin y la lon#itud de onda de la luz utilizada
. partir de la tabla de resistencias de la !*= frente a distancia y que se ha obtenido

conforme se indica en la parte experimental se calcular la iluminacin usando el calibrado de la !*=, y lue#o habr que ajustar los datos se#2n la ecuacin ";% (ara realizar este ajuste el paso previo es representar #rficamente I frente a y para localizar el mximo de la curva de difraccin y restar a todas las abscisas "valores de y% la abscisa de ese mximo, a fin de obtener una curva centrada de la forma que aparece en la ecuacin ";% . este proceso lo denominaremos correccin de centrado, y es necesario para el ajuste porque la fi#ura de difraccin debe estar centrada sobre el ori#en del eje de abscisas
20 20
18 16 14 12 10

18 16 14 12 10
8 6 4 2 0 -2

8 6 4 2 0
-2

-2

10

12

14

16

18

20

-10

-8

-6

-4

-2

10

d ista n cia

distancia

Fi#ura ; . la izquierda, representacin #rfica de datos sin correccin de centrado, esta forma no es adecuada para efectuar un ajuste por mnimos cuadrados, ya que la fi#ura no est centrada sobre el ori#en del eje de abscisas . la derecha, los mismos datos con la correccin de centrado . cada valor de la abcisa se le
han restado 5 unidades "v$anse los valores en el eje horizontal%, con lo que se obtiene una forma apta para el

ajuste de mnimos cuadrados indicado por la ecuacin ";%, a fin de obtener los dos parmetros I , m
1

Bna vez realizado el centrado llevaremos a cabo el ajuste usando el pro#rama Caleida#raph . partir de los datos del ajuste se determinar la anchura )b de la rendija con su error correspondiente

*ifraccin de la luz
In te nsi d ad In te nsi d ad

?45

EJEMPLO &n la tabla &D/ se presentan las medidas de resistencias de la fi#ura de difraccin de una rendija colocando el detector !*= a una distancia * 6 "; );:1 1/% m @e han tomado lecturas de resistencia en funcin de la iluminacin cada 1 ?1 mm &n la columna rotulada I "lux% se han convertido estas resistencias en iluminaciones usando la correspondiente recta de calibrado 'alibracin del detector !*= utilizado3 1 ?EE lo# I 61 EADlo#=
Fabla &D/ y "mm% I "lux% y "mm% R "CG% R "CG% 1 ;/ E 1 1HAH) /) ? 1 I1; I; A/;AI )? 1 / ;/H /I H5??? 1 ? )? ) 1 //15E /; 1 1 ?5/ I? I/EHH )? ? / AIA /A 1)5A
/ 1 /H ) 1 )/)A5 /; ? 1 ?H5 IH 5AEA/ )I 1 / I?A // A11)

I "lux%

y "mm%

R "CG%

I "lux%

/? )1 )? ;1 ;? A1 A? ?1 ??

// I 1 A/?)/ /A 1 1 ?IE H1 )1/? )I ? / EAI 5 A?H5A E /) 1 HI/?H /A ? 1 ?I) H/ AE1E5 )H 1 ) 1H H HEA1H I 1H / )A5/I /? 1 1 ?I/ H/ I5HH) )H ? ) ;E I /;5?) A ?I ) 1;/E/ /? ? 1 ??5 H) /;A?; )E 1 ) HA A E;/IH ; ?E ; 1II/? /I 1 1 ?I/ H/ I5HH) )E ? ; ) ; H/1E? ) E5 A A/)5E /I ? 1 ?I) H/ AE1E5 )5 1 ; E ) HH1A) ) A/ I 1/1// /H 1 1 ?H/ I5 ?H?;E )5 ? A ?; ) 1?AH? ) 1) E //A?5 /H ? 1 ?HE IE /AEAI ;1 1 ? A / ?)A1H / HA /1 A?EI/ /E 1 1 ?5; I? )A)EA ;1 ? I ?? / 15H? I1 / ?/ /; ;/1;; /E ? 1 I1H I) H1AA) ;/ 1 E /H 1 H?;II I? / ;A /I ;1E); /5 1 1 I)? ?5 IIA)I ;/ ? /1 A/ 1 A55/;
H1 / ) /5 IHAHI /5 ? 1 IAH ?I )??)/ ;) 1 /; A) 1 ;)A1I

H ? / 1E; ); A)A55 )1 1 1 IHI ?) )/)E5 ;) ? /H ? 1 )1I;; E 1 1 5E5 )H ;;I;E )1 ? 1 H1I AE A5I1A ;; 1

E ? 1 5/) ;/ ;HIH/ )/ 1 1 H;5 AA EH15? ;; ? ;1 E 1 1HEE5

); 1 /)5I;

5 1 1 EAA ;? H5IA )/ ? 1 HE A1 5;;5E 5? 1 H5/ ;5 5H1I /1 1 1 HA; AA AI15 /1 ? 1 H1? AE I/;15 // 1 1 IH; ?) I15;A // ? 1 IAI ?I A1;;5 /) 1 1 I); ?5 551;H

)) 1 )) ? ); 1 ); ? )A 1 )A ?

1 E)H 1 EEA 1 5?A / 1)A / //A /)

;H 1?IE) ;; 1E?I )5 1I;E? )? HIIAA )) ;)H)) /5 IHAHI

.l realizar la correccin de centrado utilizando un ajuste a polinomio de )J #rado para los valores centrales de la curva de difraccin se encuentra que a cada abscisa se le debe restar y 6 /? A?? mm !os valores corre#idos se presentan en la tabla &D)
c

y-y "mm% D/? A?? 1 1HAH) D/A 5?? 1 //15E D/A A?? 1 )/)A5
c

Fabla &D) I "lux% I "lux% y-y "mm% y-y "mm% D? A?? AA AI15 A ?A? ?) )/)E5 /A ?A? / ?)A1H DA 5?? AE I/;15 ? 1A? AE A5I1A /? 1A? / 15H? DA A?? ?) I15;A ? ?A? AA EH15? /? ?A? 1 H?;II
c c

I "lux%

y-y "mm%
c

I "lux%

D/; 5?? 1 A/?)/ D; 5?? ?I A1;;5 I 1A? A1 5;;5E /I 1A? 1 A55/; D/; A?? 1 HI/?H D; A?? ?5 551;H I ?A? ;H 1?IE) /I ?A? 1 ;)A1I

D/) 5?? / )A5/I D) 5?? I; A/;AI H 1A? ;; 1E?I /H 1A? 1 )1I;;

D/) A?? ) 1;/E/ D) A?? I? I/EHH H ?A? )5 1I;E? /H ?A? 1 /)5I; D// 5?? ; 1II/? D/ 5?? IH 5AEA/ E 1A? )? HIIAA /E 1A? 1 1HEE5

D// A?? A A/)5E D/ A?? H1 )1/? E ?A? )) ;)H)) D/1 5?? I 1/1// D1 5?? H/ AE1E5 5 1A? /5 IHAHI D/1 A?? E //A?5 D1 A?? H/ I5HH) 5 ?A? /I H5??? D5 5?? /1 A?EI/ 1 1A? H) /;A?; /1 1A? /A 1)5A D5 A?? /; ;/1;; 1 ?A? H/ I5HH) /1 ?A? // A11) DE 5?? /I ;1E); / 1A? H/ AE1E5 // 1A? 5 A?H5A DE A?? /5 IHAHI / ?A? I5 ?H?;E // ?A? H HEA1H DH 5?? ); A)A55 ) 1A? IE /AEAI /) 1A? I /;5?) DH A?? )H ;;I;E ) ?A? I? )A)EA /) ?A? A E;/IH DI 5?? ;/ ;HIH/ ; 1A? I) H1AA) /; 1A? ; H/1E? DI A?? ;? H5IA ; ?A? ?5 IIA)I /; ?A? ) HH1A) D? 5?? ;5 5H1I A 1A? ?I )??)/ /A 1A? ) 1?AH?

*ifraccin de la luz

I45

80
70 60

50 40

30

20 10

-10 -20

-15

-10

-5

10

15

20

y-y

(mm)

Fi#ura &FD/ .juste por mnimos cuadrados de los datos de la tabla &D)

!os parmetros del ajuste

K
)"

%L

en I 6 I1sinc m y M yc "que aparece fi#ura representado #rficamente &FD/% son3 H/ 1 A m "1 )//H : 1 11/A% mm r 6 I? lux 6 1 55EEH :
D/

. partir de aqu se obtiene para la anchura )a de la rendija el si#uiente valor3

MA

M/

D 6 I ;) mm 1 )// 6 M/ 6 m E Hmm ;);1m /1 m ) / ;HH / /1

" %

"

/ A /1;

mm D m N mND O O D m mm N 6

BIBLIO RAF!A / & +echt, . Pajac, ptica, cap /1 .ddisonDQesley, /5EI ) R * Sraus, Electromagnetismo, cap /) <cTraUD+ill, /5EI ; = Q *itchburn, ptica, cap I 'ompaa &d =evert$, /5E) A < ,uste, ' 'arreras, Difraccin de Fraunhofer por una rendija. Estudio e perimental de la distribucin de intensidades en el m! imo central BV&*, /551 ? Tran &nciclopedia !arousse &ditorial (laneta Warcelona /5EE
*ifraccin de la luz

AP"NDICE

*0F=.''0>V *& !BP <OVO'=O<XF0'. (O= BV. =&V*0R. *& .V'+O )b

@ea )b el ancho de la rendija3 obtendremos la distribucin de intensidad en una pantalla lejana dividiendo la rendija en un #ran n2mero de rendijas infinitesimales, cada una de anchura dy !a coordenada y de cada rendija infinitesimal se mide desde el centro "y61% de la rendija real Fomaremos como referencia de desfase nulo el campo el$ctrico de la onda que sale del centro de la rendija, y supondremos que es vlida la aproximacin de Fraunhofer @uponiendo que cuando la onda emer#e de la rendija est uniformemente distribuida a lo
lar#o del eje y, la amplitud que alcanzar en un punto de la pantalla lejana en la direccin

dada por el n#ulo es & dy4)b, ya que dy4)b es la fraccin de la rendija ocupada por la rendija elemental "Vtese que decir pantalla lejana implica despreciar cualquier dependencia de la amplitud que lle#a a la pantalla con el n#ulo %
1

&l campo el$ctrico en la pantalla correspondiente a la fraccin de la onda que lle#a desde la rendija elemental mostrada en la fi#ura . / "camino )% es3 dy M O % 6)ysen 6 1) ej" t " dE E b y6b y61 dy y 6 Db y sen &l campo total en el punto de la pantalla indicado por el n#ulo que es debido a la suma de todos los campos infinitesimales vale3 E Ob M O % 1 E6 Y ej"t " dy )b M b 'onviene inte#rar en funcin de , no en funcin de y3 cambio de variable y cambio de lmites de inte#racin *espejando y diferenciando3 6 d y 6 ) sen 'uando y 6 :b 6 : ")b4%sen dy ) sen y

'amino / "a la pantalla%

'amino )
Fi#ura . /

E45

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!lamando 6 ")b4%sen la inte#ral queda3

" M E b O % O

E O " M EO " M O %
O %
1

1 j d) 1 ) E ) Y et Y ejt d y " " 6 6 b bs M e M n

Y ejt d 6
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1 j

6E e " Mj" "

1 j

t M M %

6E e " M e M
1 j

t " M O

t "

e
M O %

tM" %ej

% M

(ara obtener la intensidad en la pantalla multiplicamos por el conju#ado complejo3

" % " % E"

)

%
tM" %eM

MeM I E6 t

E e
1

M j"

j j M e 6 1) M e M e M)
)

) A ) @e#2n la frmula de &uler para el

j

seno3 M e M M MM
j j M M jM j M j j ) ) j

sen e ee ee ) ee 6 6 6 ) s e )) A j n
)

j j (or lo tanto la intensid ad es3

sen s
)

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)

I E

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*onde 0 & ) y sinc 6 "/4% sen

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