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DEPTO. DE INGENIERAS.
x1 + x2 + + xi + + xN
N
N
* Para N observaciones agrupadas en una tabla de frecuencias con k clases:
i
x = i =1
x=
f
i =1
xi
f
i =1
f
i =1
xi
s2 =
( xi x)2
2
i
( xi ) 2
i =1
N
N 1
N 1
* Para N observaciones agrupadas en una tabla de frecuencias con k clases:
i =1
i =1
s =
2
fi
2
i
( f i xi ) 2
i =1
( xi x ) 2
= i =1
N 1
N 1
b) Desviacin estndar (s): Raz cuadrada de la varianza:
i =1
s =
s2
DEPTO. DE INGENIERAS.
CALIDAD APLICADA A LA GE
DEPTO. DE INGENIERAS.
EJEMPLO 1.
(pg. 456, Shao)
Las medidas individuales, hechas en 5 muestras de cuatro elementos, tomadas al azar de un proceso
manufacturero, figuran en las columnas de la tabla 1. a) Calcular los lmites de control superior e
inferior de la grafica de x , usando la frmula UCL x = x + 3 x y LCL =x 3x , donde
3 x = 3
= la desviacin estndar del proceso (poblacin).
x
s
=
n 1
LCL
s
n |
x-3
s
n 1 ,
b) Construir la grfica de x .
SOLUCIN:
a)
Los valores requeridos para calcular los lmites de control se muestran en las columnas
(3), (4) y (5) de la tabla 1. Los clculos estn dados ms abajo.
Tabla 1.
CLCULO DE LOS LMITES DE CONTROL (EJEMPLO 1) (unidad de medida: 0.001 pulgadas en exceso
de 0.600 pulgadas, por lo tanto, 12 representa 0.612 pulgadas).
(1)
Muestra
Nmero
1
2
3
4
5
(2)
Medida de cada elemento en una muestra, x.
1
2
3
4
12
14
16
6
5
9
8
10
3
13
5
7
20
18
18
16
4
5
1
10
TOTAL
1.
(3)
X
(4)
x
S2
48
32
28
72
20
200
12
8
7
18
5
50
14.0
3.5
14.0
2.0
10.5
44.0
(5)
CALIDAD APLICADA A LA GE
2.
DEPTO. DE INGENIERAS.
12 +8 +7 +18 +5
50
x
=
=
=10
Nm. de muestras
5
5
3.
Lmites de control superior e inferior. Primero, calcular s2 para cada muestra. El valor
de s2 para la primera muestra, por ejemplo, se calcula enseguida:
Tabla 2. Clculo de s2 para la tabla 1.
x =x
x
x
12 )
( x=
0
2
4
-6
0
12
14
16
6
=48
x2
0
4
16
36
56
Para datos no agrupados
(pg. 257 Stephen Shao):
s2 =
56
= 14.0
4
N muestras
44.0
= 8.8 , y s =
5
UCL x = x 3
LC =
8.8
x 3
s
, son:
n 1
S
8.8
8.8
= 10 + 3
= 10 + 3
= 10 + 3(1.71) = 10 + 5.13= 15.13
3
n 1
4 1
LCL x = x 3
s
= 10 5.13 = 4.87
n 1
Ntese que los valores en los clculos de arriba se expresan en unidades de 0.001 pulgadas en
exceso de 0.600 pulgadas. El valor real para UCL x es, por lo tanto, 0.61513pulgadas y aqul
para el LCL x es 0.60487 pulgadas.
CALIDAD APLICADA A LA GE
DEPTO. DE INGENIERAS.
En la grfica se observa que la muestra nmero 4 ( x = 18) est arriba del lmite de
control 15.13. Por tanto, el proceso est fuera de control. La causa asignable de este proceso
deber ser descubierta y corregida inmediatamente. Una nueva grfica de control es necesaria
para controlar el proceso en el futuro.
2.
x =
n
79
= 19.75
4
CALIDAD APLICADA A LA GE
x=
3.
x
25
DEPTO. DE INGENIERAS.
425
= 17
25
Tabla 3.
PESO DE JUGO DE NARANJA DE 25 MUESTRAS *(El peso de cada lata est expresado en unidades de
0.01oz. En exceso de 10oz.) con clculos para la grfica de x y Grfica de R .
(1)
(2)
(3)
(4)
Muestra
Peso de cada lata
Peso total
Media de la Recorrido
nmero (4 latas en cada muestra, n = 4)
de la
de 4 latas muestra, X
x
X
muestra,
R
1
12
19
22
26
79
19.75
14
2
24
6
18
16
64
16.00
18
3
7
10
17
23
57
14.25
16
4
16
23
28
13
80
20.00
15
5
20
14
19
8
61
15.25
12
6
18
24
16
15
73
18.25
9
7
24
3
12
21
60
15.00
21
8
25
14
12
19
69
17.25
13
9
12
23
17
16
68
17.00
11
10
14
21
23
14
72
18.00
9
11
22
17
19
17
75
18.75
5
12
9
8
10
13
40
10.00
5
13
8
14
21
25
68
17.00
17
14
13
23
18
20
74
18.50
10
15
1
12
14
7
34
8.50
13
16
4
15
19
19
57
14.25
15
17
19
22
24
18
83
20.75
6
18
17
24
20
21
82
20.50
7
19
26
23
27
22
98
24.50
5
20
28
19
17
8
72
18.00
20
21
24
13
18
24
79
19.75
11
22
27
21
17
4
69
17.25
23
23
14
5
16
17
52
13.00
12
24
17
19
24
18
78
19.50
7
25
15
8
14
19
56
14.00
11
TOTAL
1700
425.00
305
La R representa la medida de los valores de R, o
R=
R = 305 = 12.20
25
x,
25
R1
. La mejor estimacin de R 1 es R . Por tanto,
d2
DEPTO. DE INGENIERAS.
R
s (o la estimacin de ) =
d2
(dato original).
Entonces
3
Si A2 =
3
d2
s
n
= 3
R 1 / d2
n
= (
3
d2 n
)R
A2 R
Solucin.
1.
2.
3.
DEPTO. DE INGENIERAS.
305
= 12.20
25
2.2.3 GRFICA DE s. Se sugiere hacer el problema de la pg. 125 del libro Control de
Calidad de Besterfield.
DEPTO. DE INGENIERAS.
np
1%
= 10, por lo tanto, 0.1% = 1 de 1000
Sin embargo, si medimos menos de 1000 elementos, digamos 200 elementos, como una muestra
extrada del proceso y registramos las medidas mediante nmero de unidades (variables),
ciertamente tendremos una buena indicacin del estudio de la muestra para la calidad del proceso.
2.
La fraccin promedio de defectuosos de las muestras, p .
nmero total de defectuosos de todas las muestras np
p=
=
nmero total de elementos inspeccionados
n
3.
Lmite de control superior (UCL p) y lmite de control inferior (LCL p) para la grfica p.
UCL p = P + 3 p
LCL p = P - 3 p
p= la verdadera fraccin defectuosa del proceso (poblacin)
p= PQ / n , el error estndar de p.
El valor de P es frecuentemente desconocido. Cuando el proceso est bajo control, p es
usualmente empleado como la estimacin de P.
La estimacin de p= PQ / n es, por tanto
p (1 p ) / n
puesto que Q = 1 P.
Cuando se usan los valores estimados, los lmites pueden ser escritos:
UCL p = p + 3
LCL p = p 3
p (1 p )
n
p (1 p )
n
El tamao de muestra (n) para una grfica p es preferible que sea constante; es decir, n deber ser el
mismo para todas las muestras incluidas en la grfica.
CONSTRUCCIN DE UNA GRFICA p PARA MUESTRAS DE TAMAO CONSTANTE.
Ejemplo 4. Ciertas partes de televisin, producidas por un proceso, son inspeccionadas mediante
un mtodo al azar para una nica caracterstica de calidad. Los resultados de la inspeccin estn
dados en las columnas (1), (2) y (3) de la tabla 16-5. Construir una grfica p.
TABLA 4
CALIDAD APLICADA A LA GE
DEPTO. DE INGENIERAS.
2.
3.
np
16
p (1 p )
0.092 (1 0.092)
= 0.092 + 3
= 0.092 + 0.061 = 0.153
n
200
p (1 p )
= 0.092 0.061 = 0.031
LCL p = p 3 p = p 3
n
UCL p = p + 3 p = p + 3
10
DEPTO. DE INGENIERAS.
Si p es conocido, entonces:
np = (n) ( p ) = np
3)
Lmite de control superior (LCL np) y lmite de control inferior (LCL np) para una
grfica np.
UCL np = nP + 3np
LCL np = nP - 3np
Donde:
P = la verdadera fraccin de defectuosos del proceso (poblacin).
nP = el nmero medio de defectuosos por muestra, basado en todas las muestras
posibles de tamao n del proceso.
np = nP(1 P ) , el error estndar de np derivado de la frmula = nPQ ;
donde
Q =1 P
Cuando el proceso est bajo control, p es usualmente usada como la estimacin de P. Cuando P se
reemplaza por p , los lmites de control pueden ser escritos:
UCL np = np +3
LCL np = np 3
np (1 p )
np (1 p )
,
3.
np
460
=
= 18.4
nmero de muestras
25
p = 0.092
CALIDAD APLICADA A LA GE
DEPTO. DE INGENIERAS.
np +
LCLnp
np -
3.
Lmite de control superior (UCL c) y lmite de control inferior (LCL c) para una grfica c.
UCL c = c +3 c
LCL c = c 3 c
Donde
c = el verdadero nmero promedio de defectos por producto ( o unidad muestral) del
proceso.
c = el error estndar de c (o la desviacin estndar de la distribucin de Poisson. Ver
frmula (10-12), pg 297.
=
(10-12)
12
DEPTO. DE INGENIERAS.
c =
=3
UCLc = c + 3
LCLc = c 3
Al observar cada uno de los valores de c en la tabla 5, se puede ver todos son inferiores a 12.96
defectos, el valor de UCLA. Por lo tanto, el proceso est bajo control estadstico. En
consecuencia, se obtuvo la naturaleza del proceso sin tener la grfica de c; sin embargo, debe
aceptarse que es muy til observar el comportamiento de cada valor con respecto a los dems,
pero de manera grfica.
BIBLIOGRAFA:
1. Besterfield, Dale H., 1995. Control de Calidad. Cuarta Edicin. Prentice Hall Hispanoamericana.
4 Cap., Mxico.
2. Shao, Stephen P., 1988. Estadstica para economistas y administradores de empresas. Vigsima
Edicin, Edit.Herrero Hnos., Cap. 16, Mxico.
3. Gonzlez, Carlos, 1998. Control de Calidad.
CALIDAD APLICADA A LA GE
13