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INSTITUTO POLITECNICO NACIONAL

UNIDAD PROFESIONAL INTERDISCIPLINARIA EN INGENIERA Y TECNOLOGAS AVANZADAS

Alumno:

Hernndez Girn Alan

Tema:

Prctica 1: Teorema de Muestreo

Materia: Procesamiento de Seales Biolgicas

Profesor: Tovar Corona Blanca

Grupo: 3BM3

Objetivos
-Observar la importancia de un muestreo adecuado, en la conversin de seales analgicas a seales digitales. -Poner a prueba el teorema de muestreo. -Generar el efecto de Aliasing entre dos seales y comprobar que se pierde informacin si se realiza un muestreo inadecuado.

Introduccin
El teorema de muestreo fue formulado en forma de conjetura por primera vez por Harry Nyquist en 1928 (Certain topics in telegraph transmission theory), y fue demostrado formalmente por Claude E. Shannon en 1949 (Communication in the presence of noise). El teorema trata del muestreo, que no debe ser confundido o asociado con la cuantificacin, proceso que sigue al de muestreo en la digitalizacin de una seal y que, al contrario del muestreo, no es reversible (se produce una prdida de informacin en el proceso de cuantificacin, incluso en el caso ideal terico, que se traduce en una distorsin conocida como error o ruido de cuantificacin y que establece un lmite terico superior a la relacin seal-ruido). Dicho de otro modo, desde el punto de vista del teorema, las muestras discretas de una seal son valores exactos que an no han sufrido redondeo o truncamiento alguno sobre una precisin determinada, es decir, an no han sido cuantificadas. El teorema demuestra que la reconstruccin exacta de una seal peridica continua en banda base a partir de sus muestras, es matemticamente posible si la seal est limitada en banda y la tasa de muestreo es superior al doble de su ancho de banda.

Dicho de otro modo, la informacin completa de la seal analgica original que cumple el criterio anterior est descrita por la serie total de muestras que resultaron del proceso de muestreo., evitando as, el efecto aliasing. El aliasing es el efecto que causa que seales continuas distintas se tornen indistinguibles cuando se muestrean digitalmente. Cuando esto sucede, la seal original no puede ser reconstruida de forma unvoca a partir de la seal digital. Una imagen limitada en banda y muestreada por debajo de su frecuencia de Nyquist en las direcciones "x" e "y", resulta en una superposicin de las replicaciones peridicas del espectro G(fx, fy). Este fenmeno de superposicin peridica sucesiva es lo que se conoce como aliasing o Efecto Nyquist.

Es un motivo de preocupacin mayor en lo que concierne a la conversin analgica-digital de las seales, ya que el muestreo incorrecto de seales analgicas puede provocar que seales de alta frecuencia presenten dicho aliasing con respecto a seales de baja frecuencia, donde se modificara la informacin de la seal de alta frecuencia, perdiendo as, datos importantes.

Procedimiento
1- Se generaron dos seales peridicas finitas en el tiempo, primero con una frecuencia de muestreo como lo establece el criterio:

2-Posteriormente se realiza un segundo muestreo, generando el efecto Aliasing por no respetar dicho criterio.

Programa
%Practice 1. Teorema de Muestreo close all clear all clc

f1=10; f2=50; % Frecuencia mxima entre el conjunto de seales a muestrear fs1=500; % Frecuencia de muestreo siguiendo el criterio de muestreo T=1/fs1; t=0:T:0.2; %Tiempo de representacin de la onda x1=cos(2*pi*f1*t); x2=cos(2*pi*f2*t); figure hold on xlabel('time'); hold on ylabel('Amplitude'); plot (t,x1,'r'); hold on plot (t,x2,'b'); grid on;

%Efecto Aliasing, coinciden cada 0.25s Fs2=40; %Frecuencia de Muestreo sin seguir el criterio %de muestreo (Menor a la frecuencia mxima) T=1/fs2; t=0:T:0.2; %Tiempo de Muestreo de las seales x1=cos(2*pi*f1*t); x2=cos(2*pi*f2*t); figure,% Graficamos funcin x1 subplot(2,1,1), xlabel('time'); hold on ylabel('Amplitude'); hold on plot (t,x1,'r'); grid on; subplot(2,1,2), % Graficamos funcin x2 xlabel('time'); hold on ylabel('Amplitude'); hold on plot (t,x2,'b'); grid on;

Resultados:
En la siguiente grafica se observan las dos seales graficadas, siguiendo el teorema de muestreo, se distinguen claramente una de la otra, sin perderse las caractersticas principales de cada una. fs1=500

f1=10 f2=50 x1=cos(2*pi*f1*t) (Color Rojo) x2=cos(2*pi*f2*t) (Color Azul)

En la siguiente grafica no se respeto el teorema de muestreo, con una fs=40, solo se muestrearon los puntos coincidentes (cada 25ms), deformando la seal de frecuencia ms alta y hacindose las dos seales con caracteres idnticos, debido a un muestreo inadecuado.

fs2=40 f1=10 f2=50 x1=cos(2*pi*f1*t) (Color Rojo) x2=cos(2*pi*f2*t) (Color Azul)

Conclusiones
La frecuencia de muestreo es un factor muy importante a considerar, ya que debido a un mal uso de esta, nuestra captura de datos puede ser intil, debido a la perdida de informacin caracterstica en nuestra seal muestreada. En el desarrollo de esta prctica, tambin se pudo observar que cuando se realiza un muestreo con una fs demasiada alta, el proceso suele tardar mucho tiempo en cargar, y muchas veces captamos informacin que es innecesaria para nuestro uso, resultando as, prdida de velocidad del sistema y necesidad de un gran espacio de memoria. Es por eso que debemos considerar que frecuencia de muestreo nos es til, de acuerdo a nuestras necesidades, sin exagerar en la cantidad de datos de almacenamiento; a mi parecer, es conservar las caractersticas principales de las funciones originales y almacenar un poco ms de datos, para darle nitidez y precisin a nuestros procesos posteriores.