UNIVERSIDAD DEL VALLE

ESCUELA DE INGENIERA DE MATERIALES

TCNICAS DE CARACTERIZACIN DE
MATERIALES
ANDRES ESCARRAGA - WILL PIEDRAHITA
BERNARDO SANCHEZ - MELISSA YAQUENO
CARACTERIZACIN DE
UNA PELCULA DELGADA
DE TiCN MEDIANTE
ANALISIS DRX Y FTIR
TiCN
Investigaciones reportan que el
TiCN es una solucin slida de
TiN (FCC) y TiC (FCC). Por lo
tanto, el TiCN tiene mejores
propiedades anti-desgaste y
mayor dureza que el TiN y TiC.
La inclusin de los tomos de C
en la red de TiN, aumenta
sustancialmente la dureza de la
pelcula y reduce el coeficiente
de friccin.
Los tamaos ms pequeos de grano del
TiCN producen una lubricacin superficial
ms suave y ligeramente mayor que el
TiN, y por lo tanto, el coeficiente de
friccin de TiCN es inferior a la de TiN.
TiCN
El Carbonitruro de Titanio (TiCN) tiene una alta
estabilidad qumica y propiedades mecnicas superiores,
como el bajo coeficiente de friccin, alta dureza (HV
2500-3000), alta tenacidad, alto punto de fusin (3.050
C), alta conductividad elctrica, y excelente resistencia
al desgaste.
El recubrimiento
TiCN puede reducir
significativamente la
fuerza de corte que
un recubrimiento de
TiN.
ANALISIS DE DRX DE TICN
Anlisis de DRX
Ti-C-N (1 1 1) est asociado a un
mecanismo de sustitucin, donde
los tomos de C reemplazan
tomos de N, resultando Ti
ordenado y C-N desordenado
obteniendo una estructura FCC
tipo NaCl.

Esta es la orientacin
preferencial, plano ms
densamente compacto en la
pelcula, favorece el crecimiento
columnar de las capas.

Para 2=50,85 y 55,09, picos
correspondiente al enlace C-C,
que est formada por molculas
no reactivas del gas (CH4) en la
deposicin de TiCN.

Carbono libremente enlazado
entre si mismo.

Referencia datos tericos: 00-042-1488
Se observa un considerable ruido
experimental del 6,55% aportado por
el equipo de medicin de difraccin
de rayos X, donde puede haber un
dismatch es los colimadores.
Ruido experimental
Anlisis de DRX
No se observa una
formacin significante de
TiN debido a un adecuado
flujo de CH4, que
proporciona el C necesario
para formar Ti(C)N.

Si el aporte de C es superior
al requerido se forma TiC
(fase frgil)
Reaccin ocurrida en la
deposicin

Ti+CH4+N2TiC+TiN+TiCN
En los picos para los planos
111, 200, 220, 331 y 420 el
ngulo se ha reducido
(corrimiento hacia la
izquierda), es decir que el
parmetro de red aument
debido a un esfuerzo de tipo
tensil.
El pico 400 es el complejo
conjugado o reflejo del 200,
por lo que se observa un
desplazamiento hacia la
derecha, lo que indica que se
han generado esfuerzos de
compresin.
ANLISIS DE RESULTADOS
Entre los valores tericos
de los planos 311 y 222
se observa un pico en
teta= 74.82, el cual tiene
un corrimiento mayor a
+/-1 respecto a estos
planos, lo que lleva a
pensar que existe otra
fase en lugar en lugar de
una distorsin de la red.
ANLISIS DE RESULTADOS
Plano
h2+k2+l2
2() d() a() d terico a terico a
<111>
3
34,69 2,584 4,475 2,462 4,265 0,210
<200>
1
40,95 2,202 2,202 2,132 2,132 0,070
<220>
8
61,22 1,513 4,279 1,508 4,265 0,014
<400>
16
92,71 1,064 4,258 1,066 4,264 -0,007
<331>
19
102,41 0,988 4,308 0,978 4,265 0,043
<420>
20
107,27 0,957 4,278 0,954 4,265 0,013
Distancia interplanar
estructura tipo NaCl
COMPARACIN DATOS
EXPERIMENTALES Y TERICOS
Longitud de ngulo incidente: Cuk (=1.5405 )
<111> presenta la mayor distorsin de la red
K= Es un factor de forma adimensional, tiene un valor tpico de aprox. 0,9, pero vara con la forma real del
cristalito.
=Longitud de onda incidente, equipo de XRD. Cuk (=1.5405 )
= Ancho de la mitad de la intensidad ( FWHM ), despus de restar la ampliacin de la lnea instrumental
= Es el ngulo de Bragg.
PLANO 2() FWHM
TAMAO
CRISTALITO ()
<111> 34,69 0,693 240,342
<200> 40,95 1,039 163,202
<220> 61,22 0,438 421,208
<400> 92,71 0,212 1087,759
<331> 102,41 0,204 1240,292
<420> 107,27 0,279 960,054
Ecuacin de Scherrer
DETERMINACIN DE TAMAO CRISTALITOS
Plano Intensidad

TiCN/hkl

(%planos)
Intensidad
normalizada (I
hkl
)
*(L o d)
<111> 458,97 0,411 1 1,063
<200> 318,01 0,285 0,693 0,628
<220> 172,66 0,155 0,376 0,234
<400> 46,62 0,042 0,102 0,044
<331> 53,97 0,048 0,118 0,048
<420> 65,26 0,059 0,142 0,056
DISTANCIA PROMEDIO ENTRE TOMOS DE Ti
Distancia promedio de tomos de Titanio en TICN es igual
a 2,0732 A
Medicin de esfuerzos residuales
Medicin de esfuerzos residuales
Determinando mediante el mtodo de incidencia
rasante a bajo ngulo.
Angulo de incidencia a pequeo y constante, reduce
penetracin del haz de rayos x a travs del
recubrimiento.
= (ngulo de medida que forma la normal a
la superficie y la normal al plano difractante (hkl))
Se supone un estado biaxial de esfuerzos donde
existe una relacin entre parmetro de red y tensin:
Constantes elsticas para TiN
Los valores de a en cada plano se grafican en funcin de f(), de la pendiente se obtiene
Mtodo del (sen )
2
Medicin de esfuerzos
residuales
En general se evidencia un
esfuerzo residual de carcter
tensil de = 5,03 GPa
Medicin esfuerzos
residuales
Plano d() a() d
0
() a
0
() a() () 2S1(TPa
-1
)

*S2(TPa
-1)

f()
<111> 2,5837 4,4750 2,4623 4,2648 0,2102 12,3450 -1,0600 2,0600 -0,9658
<200> 2,2020 2,2020 2,1324 2,1324 0,0696 15,4750 -0,6800 1,5200 -0,5718
<220> 1,5127 4,2785 1,5078 4,2647 0,0138 25,6100 -0,9600 1,9200 -0,6013
<400> 1,0644 4,2577 1,0661 4,2644 -0,0067 41,3550 -0,6800 1,5200 -0,0164
y = -0,0503x + 0,9938
R = 0,6613
0.001
0.001
0.001
0.001
0.001
0.001
0.001
0.001
-1,2 -1 -0,8 -0,6 -0,4 -0,2 0
a
/
a
0

f()
ANALISIS DE FTIR DE TICN
Espectroscopia de radiacin
Infrarroja.
Un espectro IR se obtiene al pasar radiacin a travs de una muestra y
determinar que fraccin de esta radiacin incidente ha sido absorbida.
La energa particular a la que aparece cada pico en un espectro guarda
relacin con la frecuencia de vibracin de una parte de la molcula.
Espectroscopia de radiacin
Infrarroja.
Regin del espectro electromagntico de IR se
encuentra entre 12800 10 cm-1.
Clasificacin:
(NIR): 12800 4000
1
.
(MIR): 4000-400
1
.
(FIR) 400-1
1
.

FTIR de TiCN (Anlisis Cualitativo)
Espectro infrarrojo en unidades de absorbancia para una pelicula de TiCN.
FTIR de TiCN
Los picos de 1380 cm-1 con
una menor intensidad y
1540 cm-1 a mayor
intensidad, segn las cartas,
me indican la presencia de
compuestos nitro alifticos .
Mostrando estiramiento
simtrico y asimtrico
respectivamente.
FTIR de TiCN
C-N
C-N
La regin
comprendida entre
1020 y 1250 cm-1
indican la presencia de
modos vibraciones de
estiramiento en
enlaces C-N como lo
indica la literatura,
correspondiente a
aminas alifticas.


FTIR de TiCN
En aproximadamente
985 cm-1 se encuentra
el modo vibracional de
estiramiento de un
enlace C-O. acorde con
las cartas. Tiemblen se
puede apreciar enlaces
N-H tipo rotacional a
897 cm-1.


FTIR de TiCN
En 612 cm-1 se
encuentra el pico de
mxima intensidad que
indica la molcula con
mayor absorcin que
puede indicar la
molcula de C-Ti-N con
una vibracin tipo
doblamiento.
Referencias
The residual stress measurement of TiCN PVD films , Takago, Masahide Gotoh,
Toshihiko Sasaki, Yukio Hiro. Industrial Research Institute of Ishikawa , Japon.
Determinacin de tensiones residuales en recubrimientos de TiN sobre sustratos
de Cu. C. Carrasco, V. Vergara S., R. Benavente G, N. Mingolob y J.C.Ros.
Universidad de Concepcin, Concepcin, Chile.
Characterization of TiCN and TiCN/ZrN coatings for cutting tool application, Ping
Chuan Siow
,
, Jaharah A. Ghani
.
Ceramics International, Volume 39, Issue 2,
March 2013, Pages 12931298.
Estudio de la hemocompatibilidad de pelculas de TiCNx producidas por arco
pulsado, Diana Shirley Galeano Osorio.
http://orgchem.colorado.edu/Spectroscopy/specttutor/irchart.html
http://es.wikipedia.org/wiki/Anexo:Tabla_de_correlaciones_en_espectrosco
pia_infrarroja
http://www.upct.es/~minaeees/espectroscopia_infrarroja.pdf