ING.

DAVID MACIAS FERRER

DRA CORINA VERA G.
DRIFACCIN DE RAYOS X
La difraccin de rayos X puede proporcionar
informacin detallada de la estructura tridimensional en
estado slido de muestras cristalinas de compuestos
orgnicos, inorgnicos y organo-metalicos, consistiendo
en la descripcin geomtrica en trminos de distancias y
ngulos de enlace, ngulos de torsin, etc. Tambin se
puede obtener informacin sobre empaquetamientos,
interacciones intermoleculares, etc.
CLASIFICACION DEL ESTADO SLIDO
Dependiendo de la distribucin
interna que sostienen los tomos, los
slidos pueden ser clasificados en amorfos,
policristalinos y cristalinos. Los slidos
amorfos no poseen una estructura atmica
definida. Los policristalinos estn divididos
en regiones o grnulos que poseen
estructuras propias definidas pero de
tamaos y orientaciones irregulares. Los
slidos cristalinos se diferencian porque sus
tomos constituyentes se encuentran
distribuidos en forma regular a travs del
cuerpo.
C
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s
t
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A
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P
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o

La ordenacin
espacial y el tamao de los
cristales puede ponerse de
manifiesto mediante la
difraccin de rayos X.
Cuando un haz de
rayos X incide sobre la
superficie de un slido
ordenado regularmente se
produce una difraccin
descrita por la Ley de Bragg.
ESTRUCTURAS CRISTALINAS
Diamante Grafito
Un cristal es un material slido
en el cual las molculas se arreglan
de forma ordenada siguiendo un
mismo patrn de acomodo para todo
el material, los acomodos posibles de
un cristal o sistema cristalino han
sido descritos en las llamadas celdas
o Redes de Bravais, y su estudio
corresponde a la cristalografa. Son
ejemplos de cristales no polimricos
la sal comn y el diamnte.
NaCl
Diamante
REDES DE BRAVAIS
ANTECEDENTES DE DIFRACCION DE RAYOS X

Los rayos X fueron descubiertos accidentalmente
por Wilhelm Conrad Rntgen (18451923) en 1895
cuando experimentaba con la produccin de rayos
catdicos en tubos de descarga cubiertos con papel
negro. Descubri que el haz de electrones producido
en el ctodo incida en el vidrio del tubo y produca
una radiacin X de pequea intensidad. Rntgen no
lleg a determinar la longitud de onda de ese nuevo
tipo de radiacin electromagntica.
W. Roentgen, demostr que los nuevos
rayos se propagaban en lnea recta con una
velocidad anloga a la de la luz y que eran capaces
de atravesar materiales opacos a la luz. A
principios del ao de 1912, Laue se dio cuenta de
que los Rayos X tenan longitud de onda
adecuada para poder ser difractados por los
tomos que componen los cristales.
En 1912, el fsico alemn Max Von Laue (1879-1960) y
su equipo, sugirieron que los tomos de un cristal estn
espaciados a una distancia tan pequea que les permite servir
como electos de una rejilla de difraccin tridimensional para
los rayos X.
Se llevaron a cabo ensayos con un cristal de sulfato de
cobre, al que se le someti a la accin de los rayos X haciendo
que el haz incidiera en una placa fotogrfica. El resultado fue
la impresin de la placa por una serie de manchas distribuidas
geomtricamente alrededor de una mancha central grande
producida por el haz directo de rayos X demostrndose as que
se produca difraccin. Este era el comienzo de la cristalografa
de rayos X. La disposicin de los puntos resultantes del
modelo de Laue depende de las disposiciones relativas de los
tomos del cristal.

Los rayos X son la radiacin electromagntica cuya longitud de onda
() varia de 0.1 a 100 .
La tcnica de Rayos-X puede ser aplicada tanto al anlisis
cualitativo como al cuantitativo.

Es posible identificar los compuestos qumicos cristalinos que
constituyen a un material.

Permite evaluar la proporcin de estos compuestos y si es
necesario, determinar si el compuesto de inters se encuentra
presente en la muestra
William Henry Bragg (1862-1942) y su hijo William Lawrence Bragg
(1890-1971) descubrieron que los rayos difractados en una muestra
empezaron a dar resultados con respecto a la resolucin de las
estructuras de los cristales. La porcin del espectro electromagntico
que est entre la luz ultravioleta y la radiacin es llamada la regin
de Rayos X.
Se dice que cuando la radiacin electromagntica incide
sobre un tomo, los electrones oscilan con la misma frecuencia que
el campo. Como los rayos X son una onda electromagntica que viaja
en el espacio, es de suponerse que gran parte de los electrones que
se encuentran en su trayectoria oscilen con la misma frecuencia.


Cada uno de los electrones puede considerarse como un
oscilador separado, que emite una radiacin electromagntica,
cuya amplitud es muy dbil, si la comparamos con la de la onda
incidente, para dar una onda resultante correspondiente al
tomo.
Interaccin del haz electrnico con la materia

LEY DE BRAGG
Difundida por W.L. Bragg para el anlisis de la estructura de cristales.
Donde n es el orden de una reflexin (n {1,2,3....}), es la longitud
de onda, d es la distancia entre planos paralelos de la lattice y es el
anglo entre el rayo incidente y el plano del enrejado conocido
tambin como el anglo de Bragg.
DIFRACCIN DE RAYOS X

La difraccin (de los rayos X) es el fenmeno fsico a travs del cual se
manifiesta la interaccin fundamental de los rayos X con los cristales
(materia ordenada).

La intensidad del haz difractado depende de:

a) La intensidad y la longitud de onda del haz incidente.

b) La estructura del cristal, es decir, del arreglo de los tomos en
la celda unitaria; arreglo caracterizado que se conoce como
factor de estructura.

c) El volumen de los cristales que difractan.
d) El ngulo de difraccin.
e) La absorcin de rayos X por el cristal.
f) El arreglo experimental utilizado

La difraccin de rayos X es una tcnica muy verstil para el anlisis
cualitativo y cuantitativo de compuestos cristalinos. La informacin
obtenida incluye tipos de fases cristalinas, estructura de las mismas,
grado de cristalinidad, cantidad de contenido amorfo, tamao y
orientacin de cristales, etc.
APLICACIONES DE LA DIFRACCIN DE RAYOS X

Determinacin mineralgica y cristalogrfica de cualquier tipo de material
de tipo cristalino.

Estudios de transformacin de fases en funcin de la temperatura desde
24C hasta 160C .

Anlisis cuantitativo de fases.

Determinacin de tamao de cristal

Determinacin cuantitativa de amorfos en polmeros medianamente
cristalinos .

Determinacin cuantitativa de elementos en aceros al carbn e
inoxidables.
Esta tcnica nos permite caracterizar la homogeneidad de la fase
cristalina as como y el dimetro promedio de los cristales a lo largo
de una direccin [ h k l].
Mtodo de polvos, es el mas utilizado en el estudio de materiales
cristalinos. Dicho mtodo consiste en hacer pasar un haz de Rayos X a
una muestra previamente depositada en un portaobjetos con un
espesor homogneo.
Capas orientadas, consiste en dispersar de la muestra en un solvente
(agua o acetona) y esparcirla en un portaobjetos, la cual produce
una capa delgada al evaporarse el solvente. Esta tcnica permite
acentuar ciertas familias de planos cristalinos, ya que los cristalitos se
acomodan en orientaciones preferenciales a medida que se evapora el
solvente.
DISPERSION DE UN AGREGADO DE ATOMOS

Los rayos X dispersados por varios tomos de un material,
originan radiacin en todas direcciones, producindose
interferencias debido a los de fases coherentes inducidos por los
vectores interatmicos que fijan la posicin relativa de los tomos.
En una molcula o en un agregado de tomos, este efecto se conoce
como efecto de interferencia interna, mientras que nos referiremos
como efecto de interferencia externa al que se produce entre
molculas o entre agregados. Los diagramas de dispersin reflejan la
intensidad relativa de cada uno de estos efectos:
Las figuras representan el efecto de
interferencia externo.
El interno, que en este caso es debido
a un slo tomo, viene simplemente
reflejado por la intensidad relativa de los
mximos.
Obsrvese cmo el movimiento trmico
en el lquido suaviza y disminuye el perfil
de dispersin presente en el vidrio.
En el cristal el perfil de dispersin se
convierte en picos definidos donde los
otros diagramas presentan picos anchos
y contnuos. En este caso, el efecto total
se conoce como difraccin.
Es de notar cmo el fenmeno de la
dispersin refleja el "orden interno de la
muestra", esto es las correlaciones de
posicin entre los tomos.
IDENTIFICACIN DE FASES
Los materiales cristalinos producen distintos perfiles de difraccin de
rayos-X en donde se pueden identificar fase (s) presentes en el
material. El Centro Internacional para Datos de Difraccin (ICDD)
cuenta con una gran base datos para cerca de 63,000 materiales para
su identificacin.
IDENTIFICACIN DE FASES
Los materiales cristalinos producen distintos perfiles de difraccin de
rayos-X en donde se pueden identificar fase (s) presentes en el
material. El Centro Internacional para Datos de Difraccin (ICDD)
cuenta con una gran base datos para cerca de 63,000 materiales para
su identificacin.
IDENTIFICACIN DE FASES
Los materiales cristalinos producen distintos perfiles de
difraccin de rayos-X en donde se pueden identificar fase (s)
presentes en el material. El Centro Internacional para Datos
de Difraccin (ICDD) cuenta con una gran base datos para
cerca de 63,000 materiales para su identificacin.
TABLAS DE CRISTALOGRAFIA DE RAYOS-X

Las Tablas Internacionales de cristalografa de Rayos X contienen informacin
sobre los 230 grupos espaciales que existen.
El equipo de rayos-X consta de
las siguientes partes:
a) Fuente de rayos-x
b) Goniomtro de 2 crculos (
y 2)
c) Portamuestras
d) Detector
e) Computadora para control
del instrumento y anlisis
de datos.
EQUIPO DE DIFRACCIN DE RAYOS X
Primero molienda
Segundo tamizado
Tercero montaje del
portamuestras.
PREPARACIN DE LA MUESTRA
METODOLOGA

En esta tcnica se usan muestras slidas y
tamizadas a tamao menor de 53 m. Las muestras
pulverizadas se depositan sobre un porta muestra,
evitando, en lo posible, la orientacin preferente de
los cristales.

Sobre la muestra se hace incidir un haz de rayos X
(lo mas cercano a lo monocromtico)

Los rayos difractados (diferentes para cada cristal)
son registrados y traducidos en un difractograma en
un ordenador.


GRACIAS