Rendimiento de unidades controladoras

Microcontrolador
En muchas ocasiones es interesante medir el rendimiento del microcontrolador
cuando ejecuta un determinado programa. Dependiendo del nmero de bloques y
del tipo de funciones que formen dicho programa, variar el rendimiento de la
unidad controladora.
Programa.
El siguiente ejemplo es una sencilla aplicacin que nos sirve para saber cuntos
ciclos de scan se producen en un segundo, o lo que es lo mismo, cuntas veces
se ejecuta nuestro programa por segundo.
El programa se lo realiza el microladder, donde permite realizar la demostracin:

Estos dos bloques deben insertarse junto al programa cuyo tiempo de ejecucin
quiere medirse.
El primer bloque se ejecuta durante un segundo SD_1seg esta activado y
permanece otro segundo sin ejecutarse cuando SD_1seg esta desactivada.
Durante el segundo en que SD_1seg esta activa, al estar configurada sin flanco se
ejecuta cada ciclo de scan incrementando en 1 la variable RD050.
El segundo que permanece inactiva, (cuando SD_1seg esta desactivada) al no
ejecutarse podemos visualizar las veces que ha incrementado RD050 es decir, los
ciclos de scan que se han realizado durante un segundo.

En el segundo bloque cuando se activa SD_1seg inicia el contador de ciclos de
scan (RD050) a 0 para volver a iniciar la cuenta de ciclos de scan.

De esta manera, se puede visualizar de forma alterna la cuenta de ciclos de scan
y el resultado de dicho contaje.
EJEMPLO
En el siguiente ejemplo se pretende determinar el rendimiento para los diferentes
modos de configuracin que exista en una unidad controladora en este caso un
microcontrolador para las funciones CMP y SCL.
En el primer caso dichas funciones estn asociadas a un contactor con la marca
SD_1 (1seg). Y estn activadas con flanco, de manera que se ejecutan siempre en
cada ciclo de scan.
En el segundo caso estn asociados a un contactor con la marca SD_0_1 (100
ms) y activada con flanco ascendente, con esta configuracin la ejecucin de
ambas funciones solo se produce cada 200 ms. Y durante un ciclo de scan en que
la SD_0_1 pasa de 0 a 1.
Durante la monitorizacin se puede elegir entre los dos modos de configuracin a
travs de la activacin manual de dos contactores nombrados como test1 y test2
para comprar en tiempo real la diferencia de rendimiento entre ambos modos.
De esta manera el aspecto siguiente del programa de comparacin de rendimiento
tendr el aspecto final siguiente:


Bloque 1 y Bloque 2: Los dos primeros son los encargados de medir el rendimiento tal y como se
explic al principio.
Bloque 3 y Bloque 4: Los dos bloques siguientes constituyen los dos modos diferentes de
configuracin que queremos probar para la funcin SCL. El primero ejecuta la funcin en cada ciclo
de scan, mientras que el segundo solo lo hace en un solo ciclo de scan, una vez cada 200 ms (la SD
cambia de estado cada 100 ms, por lo tanto se activa cada 200 ms).
Adems se ha incluido un contactor en cada bloque nombrado como test_1, este contactor se ha
incluido negado en el bloque nro. 4, de manera que independientemente del valor que adopte
nunca se ejecutar la funcin SCL simultneamente en los dos bloques.
Variando manualmente el valor del contactor test_1 durante la monitorizacin podemos medir el
rendimiento de una u otra configuracin. Para ello basta con situarse con el cursor sobre el
contactor, hacer clic con el botn derecho y elegir el valor deseado.


Bloque 5 y Bloque 6: Los dos bloques forman los dos modos diferentes de configuracin de la
misma manera que los bloques 3 y 4 solo que en este caso es para la funcin CMP.

Si ejecutamos el programa, podemos sacar conclusiones como que el rendimiento aumenta
cuando las funciones se ejecutan con flanco cada 100 ms y que la funcin SCL requiere un tiempo
mayor de ejecucin de la funcin CMP.