METALOGRAFA CUANTITATIVA

ESTEREOLOGA
Ing. Nilthon Zavaleta Gutierrez
Ingeniera Metalrgica
Universidad Nacional de Trujillo
Normas: Su importancia
Las normas representan un
resumen del estado actual
del conocimiento sobre las
mejores prcticas para su
uso.
Las normas son preparados
por expertos en la materia.
Las normas estandarizan los
mtodos a utilizar por los
laboratorios lo que permite
su reproducibilidad
(congruencia entre los
laboratorios).
Tipos de estndares
Estndares de la compaa: Se relacionan mejor con las
necesidades locales, pero los mtodos pueden ser menos
desarrollados y definido.
Estndares nacionales: Desarrollado por expertos de la
industria/acadmica en un campo particular; sin embargo, las
prcticas y la calidad de los estndares varan de un pas a otro.
Estndares internacionales: stas se han escrito, y votado en un
nmero de pases con tecnologa de punta y representa las
mejores ideas en un mtodo de ensayo dado.
Estndares ISO: Tienden a ser de corta duracin y slo contienen
la informacin bsica necesaria.
Estndares de los mtodos de ensayo ASTM: Dan ms detalles
del conocimiento y tienen datos de precisin y rango de error
basado en programas de ensayos inter-laboratorios.
Creacin de un Estndar ASTM
Existen ms de 130 comits de la ASTM, y cada comit puede
crear estndares (de varios tipos) en su tema de inters.
El comit E-4 sobre Metalografa escribe los mtodos de ensayo
estndar en el rea de metalografa.
Un estndar se crea cuando se demuestra que existe una
necesidad. Se forma un grupo de trabajo conformado por
expertos en el tema para escribir un borrador.
El borrador es sometido a votacin en el grupo de trabajo hasta
que todos estn de acuerdo que esto es aceptable para ir a la
votacin de un Subcomit.
Despus de que pasa la votacin del subcomit, debe pasar a la
votacin del comit, y luego a la votacin de la sociedad.

Los estndares ASTM: Proceso de Mantenimiento

Todos los estndares de la ASTM deben ser revisados cada 5 aos.
A un grupo de trabajo se le asigna la revisin del estndar.
Este grupo decide si: el estndar es aceptable tal como est
escrito, si el estndar debe ser modificado porque la tecnologa ha
cambiado, o el estndar no tiene valor y es obsoleta.
Para cualquiera de las acciones anteriores, se requiere una
votacin. Si se trata de una revisin, un grupo de trabajo realiza
los cambios necesarios. El borrador revisado debe ir a travs de
votaciones dentro del grupo de trabajo, el Subcomit, el Comit y
la sociedad.
Si est siendo retirado o re-aprobado tal como est, esta decisin
debe ser votado, pero es generalmente una votacin simple.
Los estndares ASTM: Proceso de Mantenimiento
Estndares ASTM de Metalografa.
Terminologa (E7)
Preparacin de Muestras (E3, E340, E407, E768, E1558, E1920,
E2015).
Evaluacin macro-estructural (E381, E1180).
Microscopa ptica (E883, E1951).
Metalografa cuantitativa (E45, E112, E562, E930, E1077, E1122,
E1181, E1245, E1268, E1382, E2109).
DRX, SEM, TEM (E81, E82, E766, E963, E975, E986, E2142).
Ensayo de dureza por micro-identacin (E384)
Estndares para la metalografa cuantitativa
Fraccin en volumen (E 562)
Tamao del grano (E 112, E 930, E 1181, E 1382)
Clasificacin de la Inclusin (E 45, E 1122, E 1245)
Caracterizacin general de partculas (E 1245)
Profundidad de descarburizacin (E 1977)
Bandeado/alineamiento de la microestructura (E 1268)
Metalografa Cuantitativa
Son mediciones numricas de las caractersticas microestructurales
del material.

1. Los gradientes de superficie
Los mtodos estndares de metrologa

2. Microestructuras de la matriz
Las mediciones estereolgicas
Las mediciones de Metrologa
Mediciones de gradientes de la superficie

Profundidad de capa (carburizada, nitrurada, etc.)
Profundidad de descarburizacin (diminucin del
porcentaje de carbono en la superficie)
Espesor de recubrimiento (zincado, cromado,
niquelado, etc.)
Profundidad de capa alfa, etc.
Ejemplo de Mediciones de
gradientes de la superficie
ASTM E 1077 usado para
medir la profundidad de
descarburizacin.
El mismo procedimiento
puede ser usado para medir
profundidad de capa de
carburizacin, capa de
nitruracin, etc.; o espesores
de recubrimiento.

Estas muestras son de acero aleado 5160M utilizado para resortes helicoidales
de automviles. Ellos fueron templados y revenidos. El primero de la izquierda,
T1, exhibe una completa prdida de carbono en la superficie. Debajo existe un
cambio gradual de la microestructura de la matriz y el contenido de carbono. La
probeta de la derecha, T2, tiene muy poca prdida de carbono en la superficie.
Mediciones de Descarburizacin
T1 T2
La dureza superficial del T1 fue 27.8 HRC y del T2 fue 59.1 HRC. La profundidad
de capa de ferrita sobre la superficie de T1 caus una fuerte disminucin en la
dureza desde el valor esperado de alrededor de 64 HRC.
Mediciones de Descarburizacin
T1 T2
Estereologa
Es la extrapolacin de las mediciones realizadas sobre un plano de
seccionamiento bidimensional para determinar las caractersticas
tridimensionales de la microestructura.

Las mediciones pueden ser 0, 1, o 2 dimensiones (es decir, puntos,
lneas, reas)
Mediciones microestructurales de la matriz
Imgenes de superficies planas
Imgenes de superficies no planas (curvada)
Imgenes proyectadas


Imgenes en superficies planas
Las superficies planas, pulidas y atacadas no requieren correcciones
adicionales y son las ms sencillas de emplear. Debe reducirse al
mnimo el relieve superficial en la preparacin y la profundidad del
ataque debe ser mnimo.
Imgenes en superficies no-planas
Las imgenes de microscopa electrnica de barrido de superficies
fracturadas son representadas por superficies planas; sin embargo, las
superficies no son planas sino entrantes y salientes, y su morfologa vara
segn el modo de fractura. Las mediciones deben ser corregida por medio
de la determinacin de la rugosidad de la superficie, por ejemplo,
utilizando secciones verticales.
Superficies de fractura del acero 17-4 PH. (a) fragilizado por hidrgeno y (b)
sin fragilizar
Imgenes Proyectadas
Imgenes creadas usando luz transmitida o electrones (como en el
microscopio electrnico de transmisin) detectando la estructura
dentro de un volumen de material. Por lo tanto, las mediciones reflejan
los datos en volumen y los resultados deben ser corregidos conociendo
el espesor o profundidad de la imagen plana.
Precipitados en un acero T91. Son carbonitruros de Nb y V y carburos de Cr.
Muestreo
El muestreo debe ser adecuado. Casi nunca es excesivo, pero si a
menudo inadecuado desde un punto de vista estadstico.
El muestreo aleatorio es el mejor, pero solo puede ser utilizado en
muy pocos casos. Piezas pequeas hechas en grandes cantidad, tales
como sujetadores, pueden ser muestreadas al azar. Pero, en
componentes de mayor tamao no es aplicable el muestreo al azar.
En la mayora de los componentes el muestreo se realiza en
localizaciones planeadas. En lingotes, se pueden tomar muestras
desde su parte superior e inferior, y en barras forjadas o palanquillas
la muestra se toma en localizaciones intermedias.
En productos forjado, las mediciones se realizan en diferente planos
especificados: longitudinal, transversal o superficial. Las mediciones
sobre estos planos pueden ser muy diferentes, debido a que la
deformacin plstica que se le aplic al componente, puede alterar
la forma tridimensional de los rasgos microestructurales. Por
ejemplo, las inclusiones se alargan en la direccin de deformacin y
las mediciones son muy diferentes en estos planos referidos.
Preparacin de las Muestras
Un analizador de imagen (software) requiere de probetas preparadas
correctamente con una calidad mucho mayor que la que se necesita
cuando se realiza mediciones manuales.
!El software no puede medir lo que no ha sido resuelto con el ataque
metalogrfico!
Smbolos Estereolgico
P= punto
L= lnea
A= rea planar
S= Superficie curvada
V= Volumen
N= nmero
Los smbolos pueden ser combinados, por ejemplo, V
V
, N
A
, L
A
, S
V
.
Smbolo Unidades Descripcin Nombre Comn
P ......... - Nmero de elementos de punto o
- Nmero de puntos de prueba
...............
P
P
.......... Nmero de elementos de punto dividido por el
nmero total de puntos de prueba
Punto cuenta
Fraccin de puntos
L mm - Longitud de elementos lineales o
- Longitud de la lnea de ensayo
..............
P
L
mm
-1
Nmero de punto intersectados dividido por
unidad de longitud de la lnea de prueba
...............
L
L
mm/mm Suma de las longitudes lineales interceptadas
dividida por la longitud total de la lnea de
prueba
Fraccin lineal
A mm
2
- rea planar de rasgos interceptados o
- rea de prueba
................
S mm
2
- rea superficial o
- rea de interfase,
Generalmente reservada para superficies
curvadas
...............

A
A
mm
2
/mm
2
Suma de reas de rasgos interceptadas dividido
por el rea total de prueba
Fraccin de rea

Smbolos principales y notaciones combinadas para la metalografa cuantitativa.
Smbolo Unidades Descripcin Nombre Comn
S
V
mm
2
/mm
3
rea superficial o de interfase dividido por
el volumen total de prueba.
................
V
V
mm
3
/mm
3
Suma de volmenes de rasgos estructurales
dividido por el volumen total de prueba
Fraccin de volumen
N .............. Nmeros de rasgos estructurales ...............
N
L
mm
-1
Nmero de intercepciones de caractersticas
microestructurales dividido por la longitud
total de lnea de prueba
Densidad lineal
P
A
mm
2
Nmero de puntos en los rasgos de la
microestructura dividido por el rea total de
prueba
................
L
A
mm/mm
2
Suma de longitudes en rasgos lineales
dividido por el rea total de prueba
Permetro (total)
N
A
mm
-2
Nmero de intercepciones en los rasgos
estructurales dividido por el rea total de
prueba
Densidad de rea
P
V
mm
-3
Nmero de puntos por unidad de volumen ...............
L
V
mm/mm
3
Longitud de los rasgos estructurales
dividido por volumen de prueba
...............
N
V
mm
-3
Nmero de rasgos estructurales dividido
por volumen de prueba
Densidad volumtrica

Smbolos principales y notaciones combinadas para la metalografa cuantitativa.
Fraccin en Volumen de una Segunda Fase
T
V
V
V
V

=
o
Pero, no hay un mtodo sencillo para medir directamente el volumen
por unidad de volumen de un constituyente
La fraccin en volumen puede ser evaluado desde la fraccin en
rea, fraccin lineal o la fraccin de puntos, esto es:
P L A V
P L A V = = =
Para mediciones manuales, P
P
es el mtodo ms fcil y el ms
eficiente (es decir, mejor precisin para una dada cantidad de
trabajo)
Relaciones entre las cantidades medidas (O) y calculadas
(). Las dimensiones son expresadas en milmetros.
) mm ( P L A V
o
P L A V
= = =
) mm ( P 2 L * ) 1416 . 3 / 4 ( S
1
L A V

= =
) (mm P 2 L
-2
A V
=
Anlisis de rea Fraccin de rea
Es el procedimiento de medicin ms antiguo, utilizado con
minerales. Slo puede ser realizado manualmente en
caractersticas microestructurales gruesas y de formas
geomtricas simples. El mtodo es muy preciso para un campo
determinado, pero consume demasiado tiempo para medir un
gran nmero de campos.
T
A
A
A
A

o
=
Se muestra una microestructura artificial que consta de 30 partculas
esfricas con tres dimetros diferentes: 12.6, 21.6 y 34 mm.
Anlisis de rea Fraccin de rea
Anlisis de rea Fraccin de rea, A
A

Calculamos el rea de cada
partcula esfrica (circular en
seccin transversal) basado en
la medida del dimetro y el
nmero de cada tamao de
partcula. Suponemos que la
imagen es de 500X. El rea de
las partculas circulares son;
124.69, 366.44 y 907.92 mm
2
.
La medicin del rea de
ensayo 512 x 380 mm
194560 mm
2
.
| |
% 6 . 5 056 . 0
) 380 512 (
69 . 124 14 ) 44 . 366 10 ( ) 92 . 907 6 (
= =
+ +
=
A
A
A
x
x x x
A
Fraccin en Volumen: Puntos - Cuentas ASTM E 562

T
P
P
P
P

=
o
Superponer una cuadrcula
compuesta de puntos sobre la
microestructura.
En la prctica, los puntos son
difciles de ver, por ello se usa
cruces o interseccin de lneas de
ensayo vertical y horizontal. La
interseccin es el "punto".
El punto tiene que estar en la
constituyente para que sea un
"acierto o una cuenta". Si ste
cae de manera tangente, se
considera como una mitad de
acierto.
P
P
se calcula mediante:
El nmero ptimo de puntos
en una grilla es una funcin de
la fraccin en volumen a ser
medida y es determinada
desde la ecuacin, P=3/V
V
,
donde la fraccin en volumen
es una fraccin y no un
porcentaje. As, conforme V
V

disminuye desde 0.5 (50%)
hasta 0.01 (1%), P vara desde 6
a 300.
La siguiente grilla de 100
puntos es conveniente usar
para cada acierto de 1%.
Fraccin en Volumen: Puntos - Cuentas ASTM E 562

La grilla consta de diez lneas horizontales y
10 lneas verticales, produciendo 100
puntos (los puntos son las intersecciones de
las lneas).
Esta se superpone sobre la
microestructura y la imagen es
analizada, por lo general desde
el extremo superior izquierdo
hasta el inferior derecho,
mientras se va registrando el
nmero de puntos que se
encuentran dentro de la fase de
inters, y aquellos sobre los
lmites de la fase (considerados
como la mitad de un "acierto").
Esto se repite para N campos.
Luego, la fraccin de puntos es
calculado y es una estimacin
de la fraccin en volumen
Fraccin en Volumen: Puntos - Cuentas ASTM E 562

En este ejemplo hay 6
"aciertos" donde los "puntos"
estaban dentro del
constituyente de inters, y
ningn acierto fue tangente.
Por lo tanto, la fraccin de
puntos se calcula como:




Para obtener mejores resultados,
ms campos deben ser evaluados
Fraccin en Volumen: Puntos - Cuentas ASTM E 562

% 6 06 . 0
100
6
= = =
P
P
Anlisis de imagen vs proceso manual
Para el trabajo manual, a fin de obtener la mejor precisin, se
debe contar puntos en ms campos debido a que la variabilidad
de campo a campo tiene una mayor influencia sobre la precisin,
que la precisin en la medicin de un slo campo. El refrn es
"hacer ms y menos bien" - es decir, poner menos esfuerzo para
la medicin de cada campo y hacer ms campos.
En el trabajo de anlisis de imagen, todos los pxeles en el campo
se utilizan. Por lo tanto, la precisin por campo es superior,
incluso el tiempo por campo es muy pequeo. Por lo tanto, aun
si N es el mismo, el % de exactitud relativa es mejor.
Puntos Interceptados por Unidad de Longitud, P
L
T
L
L
P
P

=
o
P
o
es el nmero de
intersecciones y L
T
es la
longitud de lnea verdadera
(longitud de lnea/aumento)
P
L
es una medida del nmero de
puntos interceptados con los
lmites de las fases o lmites de
grano por unidad de longitud de
lnea de ensayo. Esto es
calculado desde:
Puntos Interceptados por Unidad de Longitud, P
L
En el ejemplo, P
o

es 35. Si cada una
de las 10 lneas es
de 256 mm de
longitud, y el
aumento es 500X,
entonces L
T
es
5.12 mm, y
1
84 . 6
12 . 5
35

= = mm P
L
Caractersticas Interceptadas por Unidad de
Longitud, N
L
N
o
es el nmero de
intersecciones y L
T
es la
longitud de lnea verdadera
(longitud de lnea/aumento)
N
L
es una medida del nmero de
intercepciones con las fases o
granos por unidad de longitud de
lnea de ensayo. Esto es
calculado desde;
T
L
L
N
N

=
o
En el ejemplo, N
o
es
17.5. Si cada una de
las 10 lneas es de
256 mm de longitud,
y el aumento es
500X, entonces L
T
es
5.12 mm, y
1
42 . 3
12 . 5
5 . 17

= = mm N
L
Caractersticas Interceptadas por Unidad de
Longitud, N
L
T
A
A
N
N

=
o
El nmero de partculas por
unidad de rea, N
A
, es una
medida de la cantidad de
partculas, esto es la
densidad numrica.
N
A
est relacionada al
nmero por unidad de
volumen, N
V
, lo cual puede
slo ser determinado
mediante una serie de
seccionamientos. Esto es
determinado mediante:
Microestructura artificial con 30 partculas
Caractersticas Interceptadas por Unidad de rea,
N
A
El rea de ensayo mide
256x190 mm y el
aumento es 500X. por lo
tanto, N
A
es dado
mediante 30 partculas
dividido por el rea de
ensayo verdadero:
Microestructura artificial con 30 partculas
2
2 . 154
) 500 / 190 ( ) 500 / 256 (
30

= = mm
x
N
A
Caractersticas Interceptadas por Unidad de
Longitud, N
L
rea Promedio de la partcula, A
A
A
N
A
A =
El tamao de partcula promedio, puede ser determinado desde
una relacin de las mediciones de campo, A
A
y N
A
, sin el uso de
mediciones de rea individuales de partculas, desde:
La fraccin de rea fue determinada previamente mediante el
anlisis de rea, anlisis lineal y punto cuenta, esto es, A
A
, L
L
y
P
P
. De estas el valor de A
A
es el ms preciso. N
A
fue tambin
determinado. As, el rea promedio de seccin transversal de la
partcula es:
2
2 . 363 0003632 . 0
2 . 154
056 . 0
m A = = =
rea Promedio de la partcula, A
Usando un analizador de imagen (software), podemos medir el
rea de cada partcula, sumar todas las reas, y dividirla por el
nmero de partculas. Como tenemos partculas con una seccin
transversal circular perfecta, podemos medir el dimetro y
calcular el rea de cada partcula. Luego, sumamos las reas y
dividimos por el nmero de partculas. El promedio del rea es:




El rea promedio basada en la fraccin de rea dividida por el
nmero por unidad de rea= 363.2 mm
2

El rea promedio basada en mediciones reales fue 361.9 mm
2
2
9 . 361
30
6 . 10857
m
N
A
A
i

o
o
= =

=
Promedio del espaciamiento centro a centro
entre Partculas, o

El espaciamiento promedio entre los centros de las partculas, en
todas las direcciones, es dado simplemente mediante la recproca
de N
L





En el caso de la nuestra microestructura artificial analizada,
N
L
fue determinada como 3.42 intercepciones por mm, por lo
tanto, o es:

L
N
1
= o
m mm o 4 . 292 2924 . 0
42 . 3
1
= = =
Promedio del espaciamiento borde a borde
entre Partculas,
L
A
N
A
=
1

El espaciamiento promedio entre los bordes de las partculas,

conocido como el camino libre promedio, es un buen parmetro
de sensibilidad de la microestructura. es calculado desde:




Para el caso de la microestructura artificial, A
A
y N
L
fueron
determinados, por lo tanto, es:

m mm 276 276 . 0
42 . 3
056 . 0 1
= =

=
Este es un parmetro muy sensible de la microestructura usado en
el ASTM E 1245 para caracterizar las partculas de segunda fase.
Atacado con reactivo Vilella, oscurece la
matriz de martensita, es visible algo de
austenita retenida, los precipitados son
M
7
C
3
.
Atacado con reactivo Behara B0 (100 ml de
H
2
O, 0.6 ml HCl, 1 g K
2
S
2
O
5
) revela la
austenita retenida tan clara como los
precipitados M
7
C
3
.
Promedio del espaciamiento borde a borde
entre Partculas,
Grado de orientacin, O
) ( 571 . 0 ) (
) ( ) (
L L
L L
P P
P P
+

= O
Normalmente expresado como
un porcentaje (%)

L
P
L
P
nmero de puntos
interceptados con las lneas
perpendiculares a la
direccin de deformacin
nmero de puntos
interceptados con las lneas
paralelas a la direccin de
deformacin
Usado en el ASTM E 1268 para evaluar el grado de bandeado u orientacin
en estructuras vistas sobre un plano horizontal.
Grado de orientacin, O
Acero de tubera X42, condicin de laminado
Microestructura de un acero de una tubera X42 laminado en caliente atacado
secuencialmente con picral al 4% y nital al 2% revelando una severa estructura bandeada de
ferrita y perlita. La direccin de laminado en caliente es horizontal. La flecha indica una
inclusin de MnS elongada.
Granos y Lmites de Grano
Los granos son cristales
individuales dentro del metal.
La mayora de los metales son
policristalinos, esto es,
constituido por muchos cristales
individuales.
Los lmites de grano son
interfases que separan granos
adyacentes donde la orientacin
de la red de los cristales cambia
desde un grano a otro.
Tamao de Grano
Es la dimensin de los granos en un metal policristalino. Aunque los
granos son tridimensionales en el espacio, el tamao se estima sobre el
plano bidimensional de pulido para un gran agregado de granos.
Tipos de tamaos de grano
(a) No maclados (ferrita, metales BCC, aluminio); (b) metales FCC maclados
(austenita, Cu, Ni); (c) austenita previa (material base en aceros templados y
revenidos)
Aluminio Cobre
Mediciones de Tamao de Grano
Se puede utilizar diferentes mediciones expresar el tamao de
grano
n = Nmero de granos/pulg
2
a 100X
N
A
= Nmero de granos/mm
2
a 1X
A = rea de grano promedio, mm
2

d = Dimetro de grano promedio, mm
l = Longitud de intercepto lineal promedio, mm
Mtodos para mediciones de Tamao de
Grano
Comparacin con cartas estandarizadas
Tamao de grano de fractura de Shepherd
Mtodo planimtrico Jeffries
Mtodo del intercepto Heyn/Hilliard/Abrams
Mtodo del intercepto Snyder-Graff
Mtodos de distribucin de tamao de grano 2D a 3D
Definicin de Tamao de Grano ASTM
1 G
2 n

=
n = nmero de granos/pulg
2
a 100X
G= Nmero de tamao de grano ASTM
La ecuacin fue desarrollado por Timken Co. Fue introducido en 1951
en la norma E 91 - Mtodo de la ASTM para estimar el tamao de grano
promedio de metales no ferrosos, excepto el cobre y sus aleaciones.
G n G n
1 1 6 32
2 2 7 64
3 4 8 128
4 8 9 256
5 16 10 512
Estndares ASTM en uso para determinar el tamao de grano
ASTM E 112: Para estructuras de
granos monofsicos equiaxiados
ASTM E 930: Para estructura de granos
con un grano ocasional muy grande
Estndares ASTM en uso para determinar el tamao de grano
ASTM E 1181: Para caracterizacin
de estructura de grano dplex
ASTM E 1382: Para mediciones de
tamao de grano por anlisis de
imagen
Comparacin con cartas estandarizadas
Observar una microestructura atacada apropiadamente,
utilizando la misma ampliacin como la carta, y elegir la
fotografa de la carta ms prxima en tamao a la probeta de
ensayo. Si la estructura del grano es muy fina, incrementar los
aumentos, escoger la fotografa de la carta ms cercana y
corregir la diferencia en aumento segn:
) (M/M log 64 . 6

b
=
+ =
Q
Q G Carta G
Donde M es el aumento usado y M
b
es el aumento de la carta
Mtodo Planimtrico de Jeffries
| |
crculo del rea / aumentos Jeffries de dor multiplica f
) 2 / n ( n f N
2
2 1 A
= =
+ =
n
1
= nmero de granos que se encuentran completamente dentro del
crculo de ensayo
n
2
= nmero de granos interceptados por el crculo de ensayo
Este mtodo es usado en aleaciones ferrosas y no ferrosas. Es muy exacto
y sencillo de realizar. Se aplica a materiales con granos equiaxiales, lo cual
suele ser el caso de metales y aleaciones completamente recocidas.
Este mtodo emplea rectngulos o un crculo (79.8 mm de dimetro) de
5000 mm
2
de rea.
2.955 - A) log 322 . 3 (
1
promedio grano de
=
= =
G
N
A rea
A
Mtodo Planimtrico de Jeffries
n
1
= 68 n
2
= 41
| |
2
A
2
A
2 1 A
granos/mm 177 N
5000
100
2
41
68 N
) 2 / n ( n f N
=
(

+ =
+ =
4.51 2.955 - 0.00565) log 322 . 3 ( G
mm 00565 . 0
N
1
A
2
A
= =
= =
Consideremos la microestructura artificial a 100X, donde se sobrepuso una lmina
transparente conteniendo una circunferencia de 5000 mm
2
de rea.
Mtodo Planimtrico de Jeffries Ejemplo
Acero austentico al Mn, recocido en solucin y
envejecido para precipitar una fase perltica en los
lmites de grano; 100X. Hay 43 granos dentro del
crculo (n
1
) y hay 25 granos interceptando el crculo
(n
2
). El rea del crculo de ensayo es de 5000 mm
2
.
| |
2
A
2
A
2 1 A
granos/mm 11 1 N
5000
100
2
25
43 N
) 2 / n ( n f N
=
(

+ =
+ =
84 . 3 2.955 - 0.009) log 322 . 3 ( G
mm 009 . 0
N
1
A
2
A
= =
= =
(Claro est, que mientras
ms campos sean
evaluados, mejor son los
resultados estadsticos
obtenidos)
Mtodo de intercepto Heyn/Hilliard/Abrams
T
L
T
L
L
P
P ;
L
N
N = =
Donde L
T
es la longitud de lnea de
ensayo verdadera
Este mtodo es apropiado cuando los granos no son equiaxiales; sin
embargo, tambin se emplea en el caso de granos equiaxiales. La medida
del tamao de grano se realiza empleando un aumento M.
Se aplica una lnea de ensayo sobre la microestructura y se cuenta el
nmero de los granos interceptados o el nmero de intercepciones de
lmites de grano (ms fcil para una estructura de grano monofsica).
Despus de contar N o P, dividir el resultado por la verdadera longitud de
lnea para obtener N
L
o P
L
.
| |
| | 288 3 644 6 G
288 3 644 6 G
P
1
N
1
Intercepto
L L
. (l) log .
. ) P o (N log .
l promedio, lineal
L L
=
=
= =
Mtodo de intercepto Heyn/Hilliard/Abrams
| | /mm dos intercepta granos de nmero 80 = =
) 100 / 70 (
56
N
L
| | mm/grano 0.0125
80
1
= =
| | 36 . 9 288 . 3 ) 0125 . 0 (log 644 . 6 G = =
Problema: Si en una fotomicrografa de 100X se han contado 56 granos
cortados por un segmento de 70 mm de longitud, se tiene:
M = 100; N = 56 y L = 70 mm
Reemplazando en la ecuacin anterior se obtiene que:
Mtodo de intercepto Heyn/Hilliard/Abrams
Si la estructura del grano no es
equiaxiada, sino muestra algo de
distorsin en la forma de los
granos, utilice lneas de ensayo
rectas en diversos ngulos, o
simplemente horizontales y
verticales con respecto al eje de
deformacin de la probeta.
Alternativamente, se puede utilizar
crculos de prueba, tales como la
grilla de tres crculos ASTM (tres
crculos concntricos con una
longitud de 500 mm). Este patrn
de prueba promedia la anisotropa.
Mtodo de intercepto Heyn/Hilliard/Abrams
Los tres crculos concntricos presentan 41,
25 y 20 granos interceptados.
| | 9 . 4 288 . 3 644 . 6 G
mm 0581 . 0
2 . 17
1
mm 2 . 17
100 / 500
86
N
86 20 25 41 N
1
L
= =
= =
= =
= + + =

(0.0581) log
l

Considere la microestructura a
100X, donde se ha sobrepuesto una
lmina transparente conteniendo
tres crculos concntricos con una
circunferencia total de 500 mm,
Ejemplo de intercepciones de tamao de grano- Monofsico
Micrografa a 100X del acero inoxidable 304 atacado electrolticamente con 60% HNO
3

(0.6V dc, 120s, ctodo de platino). Los tres crculos concntricos tienen una circunferencia
total de 500 mm. La cuenta de las intercepciones de los lmites de grano dio 75 (P= 75).
| | 5 4 288 3 644 6 G
mm 067 0
15
1
mm 15
100 500
75
P
1
L
. . (0.067) log .
. l

/
= =
= =
= =

Ejemplo de intercepciones de tamao de grano- Monofsico
Micrografa 100X de una super-aleacin base nquel FCC maclada, X-750, despus del
ataque con reactivo Beraha. Esta es una microestructura mucho ms difcil para las cuentas
de los interceptos. Los tres crculos miden 500 mm y P es 63 (intersecciones con los lmites
de macla son ignorados)
| | 0 4 288 3 644 6 G
mm 0794 0
6 12
1
mm 6 12
100 500
63
P
1
L
. . (0.0794) log .
.
.
l
.
/
= =
= =
= =

N
o
= nmero de granos o interceptados
L
T
= longitud de la lnea de ensayo/aumentos
V
Vo
= fraccin en volumen de la fase o.
o
o
o
N
) ( V
V T
L
l =
Para la determinacin del tamao de grano de una fase, en materiales
bifsicas, se debe considerar la fraccin en volumen de la fase en
estudio. La ecuacin utilizada es la siguiente:
Mtodo de intercepto para dos constituyentes
Mtodo de intercepto para dos constituyentes
Micrografa alfa/beta de Ti-6242 a 500X, atacada con reactivo Kroll. Las
circunferencias de los tres crculos es 500 mm. Cuentas por puntos revel una
fraccin en volumen de la fase alfa de 0.485 (48.5%). 76 granos alfa fueron
interceptados por los tres crculos.
mm 006382 0
76
500 500 485 0
l .
) / )( . (
= =
o
| | 3 . 11 288 . 3 (0.006382) log 644 . 6 = = G