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um dos programas de busca que contm o banco de dados do JCPDS (Joint
Committee on Powder Diffraction Standards) do ICDD (International Centre for
Diffraction Data) com todos os padres difratomtricos conhecidos
mundialmente at o ano 2005, organizados em fichas individuais por
substncia.
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Os dados que foram coletados na anlise da amostra n1, apresentaram
melhor ajuste quando comparados com os dados do carto 03 0736 da ficha
do banco de dados (JCPDS). O carto 03 0736, de fluorapatita mostrado
nas figuras 14 e 15. possvel optar por comparar os ndices de Miller com os
ngulos 2 ou com suas distncias interplanares d (), como mostrado nas
Figuras 14 e 15, respectivamente.
Esta comparao mostrada nas trs ltimas colunas da Tabela 3.
Finalmente, os ndices de Miller constantes no carto so transferidos para o
difratograma, conforme mostrado na Figura 13.
Figura 13 difratograma da amostra n1 com os principais ndices de Miller
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Tabela 3 Dados do mineral analisado (colunas 1-5), comparados aos dados
do carto n03-0736 do JCPDS-ICDD (colunas 6-8).
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Figura 14 Dados do carto 03-0736 como apresentados pelo software
PCPDFWIN, relacionando os ngulos 2 (graus) com os ndices de Miller da
fluorapatita.
Figura 15 Dados do carto 03-0736 como apresentados pelo software
PCPDFWIN, relacionando as distncias interplanares () com os ndices de
Miller da fluorapatita.
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4.3.2 Anlise por DRX na amostra n 2
A anlise por Difrao de Raios X na amostra n2 produziu o
difratograma apresentado na Figura 16. A intensidade das contagens (eixo y)
est acima de 10.000 Kcps. A anlise macroscpica prvia da amostra indicava
tratar-se de um provvel filossilicato, razo pela qual inferiu-se que deveria
haver picos ocultos que poderiam ser de relevncia para a anlise. Sendo
assim, optou-se por magnificar o eixo das intensidades para estes picos
aparecessem. O resultado encontra-se na Figura 17, que mostra as
intensidades entre 50 a 800 Kcps, o que permite identificar/localizar picos de
menor expresso, porm importantes na identificao do mineral.
Na figura 18 o difratograma encontra-se numerado, pois existe um
nmero considervel de picos a ser analisado.
Figura 16 - Difratograma da amostra n2 com intensidades de 0 a 10000 (Kcps)
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Figura 17 Difratograma da amostra n2 com intensidade entre 50 a 800
(Kcps)
Figura 18 Difratograma da amostra n2, com os picos numerados.
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A partir do difratograma da amostra (Figura 18), foram obtidas as
informaes de intensidade e ngulo 2 para cada um dos picos. Estas
informaes so observadas nas primeiras quatro colunas da Tabela 4.
Utilizando a equao de Bragg (Figura 1), foram calculadas as distncias
interplanares, o que permitiu a busca no banco de dados do software
PCPDFWIN