15/9/2014 Microscopio de Fuerza Atmica

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AFM (microscopio de fuerza atmica)
Principios
El Microscopio de Fuerza Atmica (AFM) es un tipo de microscopios de sonda de barrido, que se utiliza para las estructuras de
superficie de la imagen (en una escala nm o incluso sub-nm escala) y para medir las fuerzas de superficie.
El estndar contiene una punta de AFM microscpica (radio de curvatura de ~ 10-50nm) unida a un resorte en voladizo.
El principio subyacente de AFM es la deteccin de la flexin de este resorte en voladizo, como respuesta a fuerzas externas. En el
caso de interaccin adhesiva entre la punta y una superficie, esta fuerzas son del orden de 0.1 - 1 nN. Para medir estas pequeas
fuerzas hay que utilizar no slo los resortes de medicin de fuerza muy sensibles, sino tambin aspectos muy sensibles para medir
su curvatura.
Para detectar esta flexin, que es tan pequeo como 0,01 nm, un haz lser se enfoca en la parte posterior del cantilever. Desde all,
el rayo lser se refleja hacia un fotodetector sensible a la posicin. Dependiendo de la deflexin de la posicin en voladizo de los cambios haz reflejado. El fotodetector
convierte este cambio en una seal elctrica.
Medicin de fuerza directa
Una manera de obtener informacin sobre la superficie de las fuerzas Wich estn actuando en un sistema dado y para ilustrar el funcionamiento de un AFM, es utilizar el
modo de Fuerza . Esto se hace moviendo la punta hacia y lejos de la superficie.
Asumiendo que la interaccin punta-superficie puede ser descrito por una de Lennard-Jones-potencial puede observar un ciclo como sigue: (0) la punta est muy lejos de
la superficie, y las fuerzas de superficie no actan. Como los enfoques de punta (1) a (2), que entra en la gama de las fuerzas de superficie atractivos y se desva hacia
abajo. (2) a (4): la punta est en contacto con la superficie y ahora ejerce presin mientras se est desviado hacia arriba. En (4) la retraccin punta comenz, pero las
fuerzas de adhesin puede mantener la punta unida a la superficie hasta que la fuerza elstica ejercida por el voladizo puede superar la adherencia (5). Entonces la punta
vuelva a encajar en su posicin inicial y el ciclo puede comenzar de nuevo (6).
Curvas de fuerza transmiten informacin valiosa sobre la naturaleza y la fuerza de las fuerzas de superficie.
De grabacin de seal del fotodetector como una funcin de la elongacin z-piezo
produce una curva que puede ser interpretado como un vs.-distancia-curva de fuerza.
Texto original
Recording photodetector signal as a function of z-piezo elongation
yields a curve which can be interpreted as a force-vs.-distance-
curve.
Sugiere una traduccin mejor
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Surface Imaging
Para adquirir una imagen de la superficie de la punta del AFM se baja a la superficie. Un elemento piezoelctrico se utiliza para explorar la lnea de punta de lnea a travs
de la muestra.
El mtodo de medicin ms simple, el modo de contacto , es esta exploracin mientras que el extremo de la punta est en contacto mecnico con la muestra. Un control
de retroalimentacin electrnico mantiene la desviacin constante mediante el ajuste de la posicin z, de este modo se mide la fuerza resultante.
El modo de contacto tiene una desventaja: la punta ejercen fuerzas a la muestra. A pesar de estos fuerzas son slo del orden de 0.1 - 1 nN, la presin aplicada a la muestra
puede llegar fcilmente a 1000 bar porque el rea de contacto es tan pequea. Esto puede conducir a la estructura de los daos, especialmente en superficies blandas.
Para este tipo de muestras el llamado Modo Tapping se utiliza en general. En este modo la punta en voladizo se estimula a las vibraciones cerca de la frecuencia de
resonancia (~ 300 kHz). En la aproximacin a la superficie, la amplitud de vibracin del cantilever disminuir, puesto que la fuerza de interaccin con la superficie se
desplaza la frecuencia de resonancia. En lugar de la exploracin de la muestra a la deflexin constante, la superficie se explora en constante reduccin de la amplitud de
oscilacin. Como resultado, la punta no est en contacto mecnico con la superficie durante la exploracin. El modo de contacto intermitente es menos destructivo
entonces el modo de contacto, debido a las fuerzas ejercidas estn en el rango pN.
Una Fuerza Atmica Microscop puede alcanzar una resolucin lateral de 0,1 a 10 nm.