La microscopa electrnica es una tcnica que requiere instrumentos de alta

complejidad y personal altamente especializado. Se utilizan la microscopa

electrnica de transmisin o convencional y la de barrido.

El Microscopio electrnico de barrido o SEM (Scanning Electron Microscopy), utiliza
un haz de electrones en lugar de un haz de luz para formar una imagen ampliada de
la superficie de un objeto. Es un instrumento que permite la observacin y
caracterizacin superficial de slidos inorgnicos y orgnicos. Tiene una gran
profundidad de campo, la cual permite que se enfoque a la vez una gran parte de la
muestra.

El microscopio electrnico de barrido est equipado con diversos detectores, entre los
que se pueden mencionar: el detector de electrones secundarios para obtener
imgenes de alta resolucin SEI (Secundary Electron Image), un detector de
electrones retrodispersados que permite la obtencin de imgenes de composicin y
topografa de la superficie BEI (Backscattered Electron Image), y un detector de
energa dispersiva EDS ( Energy Dispersive Spectrometer) permite colectar los Rayos
X generados por la muestra y realizar diversos anlisis semicuantitativo y de
distribucin de elementos en superficies.


El microscopio electrnico de transmisin (TEM) es un instrumento que aprovecha los
fenmenos fsico-atmicos que se producen cuando un haz de electrones suficientemente
acelerado colisiona con una muestra delgada convenientemente preparada. Cuando los
electrones colisionan con la muestra, en funcin de su grosor y del tipo de tomos que la
forman, parte de ellos son dispersados selectivamente, es decir, hay una gradacin entre los
electrones que la atraviesan directamente y los que son totalmente desviados. Todos ellos
son conducidos y modulados por unas lentes para formar una imagen final sobre una CCD
que puede tener miles de aumentos con una definicin inalcanzable para cualquier otro
instrumento. La informacin que se obtiene es una imagen con distintas intensidades de gris
que se corresponden al grado de dispersin de los electrones incidentes.
La imagen del TEM tal como se ha descrito ofrece informacin sobre la estructura de la
muestra, tanto si sta es amorfa o cristalina.
Adems, si la muestra es cristalina, es decir, hay una estructura de planos peridica, puede
ocurrir que varias familias de esos planos cumplan la condicin de Bragg y difracten de
forma coherente la onda electrnica incidente. Esto da lugar a un diagrama de difraccin,
que es una imagen de distintos puntos ordenados respecto a un punto central (electrones
transmitidos no desviados) que nos aportan informacin sobre la orientacin y estructura
del/los cristales presentes.



observacin de muestras criofijadas
El microscopio electrnico de barrido (SEM) puede dotarse de un sistema capaz de
observar la muestra a muy baja temperatura de forma que su preservacin estructural es
mxima y la capacidad de trabajo del microscopio no se afecta en absoluto, pues ya no
tratamos con una muestra hidratada sino congelada.
El proceso se inicia fuera del microscopio, enfriando la muestra a la mxima velocidad
posible mediante nitrgeno nieve. A continuacin ya pasa al sistema de criobservacin,
donde se puede fracturar, sublimar el hielo superficial y recubrir con oro o carbono para su
observacin y/o anlisis. La ventaja de este sistema es que se puede observar cualquier
muestra biolgica o hidratada con una preparacin mnima y rpida con una buena
preservacin estructural.

Semejanzas y diferencias entre la microscopa electrnica y la
microscopia de luz
5.7.1.-Semejanzas (fig. 5-12):
Diseo y funciones de sus elementos.
En relacin al sistema de iluminacin: La radiacin empleada incide
directamente sobre la muestra en estudio. Est conformado por una
fuente emisora de la radiacin y un condensador que enfoca el rayo
sobre el preparado histolgico.
El espcimen se coloca entre el sistema de iluminacin y los objetivos o
sistemas de formacin de la imagen.
En relacin al sistema ptico: Las lentes acopladas producen una
imagen aumentada del espcimen en estudio. Conformado por una lente
objetivo que forma una imagen intermedia y la lente proyectora (ocular,
en el caso del microscopio fotnico) que a su vez aumenta la imagen
intermedia para formar la imagen aumentada final.
Pueden convertir la radiacin empleada en una imagen permanente
(microfotografa).



5.7.2.-Diferencias: Tabla 5-2
Elemento Microscopio fotnico Microscopio electrnico
LENTES
De cristal o vidrio, con
distancias focales fijas


Magnticas, a partir de
metales magnticos, alambre
de cobre enrollado, cuya
distancia focal vara en
relacin con la corriente que
pasa por la bobina de cobre
AUMENTO
Se consigue
cambiando los
objetivos, rotando el
revlver

El aumento del objetivo es fijo
(distancia focal) mientras que
la distancia focal de la lente
proyectora vara para lograr
los aumentos
PROFUNDIDAD
DE CAMPO
Pequea, por lo que
se pueden ver
diferentes planos de
enfoque al mover el
tornillo micromtrico
Mayor, por lo que se puede
ver enfocado todo el espesor
del corte ultrafino del
espcimen

FUENTE DE LA
RADIACIN
Haz de luz: fotones.
Generalmente situada
por debajo del
espcimen (aunque
hay excepciones)
Haz de electrones.
Ubicada siempre en lo alto del
instrumento, por encima del
espcimen
ALTO VACO No es necesario
Imprescindible, para facilitar el
desplazamiento de los
electrones
RESOLUCIN 0,2 m 0,2nm