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Cristais - Corao dos Circuitos Digitais

1 Nova Eletrnica - Agosto de 1984


Cristais - Corao dos Circuitos Digitais
Arnaldo Megrich
( engenheiro formado pela Escola de Engenharia
Mau, SP )
Os circuitos osciladores so quase que des-
conhecidos pelos prprios engenheiros. Nesta
srie so apresentadas vrias caractersticas
desses componentes, alm de aplicaes pr-
ticas.
As leis da piezoeletricidade foram
estabelecidas em 1881, pelos irmos Jacques
e Pierre Curie, quando de seus estudos base-
ados no quartzo. Esse elemento foi utilizado
pela primeira vez na tcnica eletrnica em
1918, por Nicholson, tendo sido aplicado
como controlador de freqncia em um osci-
lador. A partir desse ponto, com o desenvol-
vimento da radioeletricidade, as mltiplas
aplicaes dessa descoberta tomaram forma,
estimulando o estudo e o aprimoramento de
uma tecnologia direcionada ao corte e fabri-
cao ( no caso de cristais simtricos ), obje-
tivando atender a necessidades cada vez mais
estreitas, no que tange estabilidade trmica,
reduo das variaes de freqncias, degra-
dao com o tempo etc.
A figura 1 ilustra o formato de um
cristal. Podemos observar trs eixos de refe-
rncia, destinados orientao dos cortes a
serem efetuados; tais eixos - x, y, z - so de-
nominados eltrico, mecnico e tico ( ou
central ), respectivamente. Note tambm a
existncia de zonas com diferentes caracters-
ticas, em cada trecho do cristal. Logo, cortes
efetuados na zona superior destinam-se
construo de cristais com coeficiente de
temperatura nulo, enquanto que corte na zona
intermediria visa a utilizao em osciladores
de baixa freqncia e assim sucessivamente,
para as demais zonas.
Figura 1 - Eixos de referncia e zonas de
corte de um cristal
O efeito piezoeltrico - Tome-
mos como base de nossa anlise a figura 2a.
Imagine que de algum modo consigamos cor-
tar o cristal, de forma que reste apenas uma
pequena placa, cuja orientao ( segundo o
material original ) seja perpendicular ao eixo
X. Ao pressionar mecanicamente essa placa (
com presso exercida paralelamente ao eixo
Y ), teremos como conseqncia o surgi-
mento de cargas eltricas em ambas as faces,
mas de polaridades opostas. A aplicao de
uma fora em sentido inverso ao anterior (
trao ) resulta, naturalmente, na inverso da
polaridade dessas cargas.
Figura 2 - Princpio do efeito piezoeltrico
Analogamente, a aplicao de
uma corrente atravs das faces opostas da
placa ocasionar a deformao mecnica da
mesma. Esses fenmenos de migrao de
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cargas eltricas e deformaes mecnicas so
conhecidas como efeito piezoeltrico. Tal
efeito pode ser descrito pela dualidade ele-
tro/mecnica ( figura 2b ).
Extrapolando nossas considera-
es, ao aplicarmos entre as faces da placa
uma tenso alternada, ela ir se deformar e
retornar ao estado inicial, na freqncia dessa
tenso. Ora, todo o material rgido ( e a placa
extrada desse cristal, em particular ) possui
uma determinada freqncia natural de resso-
nncia; logo se a freqncia da tenso alter-
nada estiver prxima da freqncia natural de
ressonncia da placa, esta vibrar com grande
intensidade.
Esta freqncia de ressonncia
funo do tipo de corte, da regio de corte e
de suas dimenses fsicas. o que examina-
remos com mais detalhes em seguida.
Tipos de corte e modos de vibrao num
cristal
Podemos efetuar diversos cortes
nos cristais, tendo como orientao seus ei-
xos. As caractersticas da placa extrada,
conforme j mencionamos, dependero do
posicionamento, relativamente a esses trs
eixos, do elemento a ser obtido. Um dado
corte pode ser o ideal para uma certa utiliza-
o ( osciladores de alta freqncia, por
exemplo ) e revelar-se inadequado para outra
( filtros ). Isto nos leva a uma elevada gama
de cortes, cada qual direcionado a uma de-
terminada famlia de aplicaes.
Os cortes so identificados atra-
vs de cdigos, como AT, BT, CT, GT, etc.
A figura 3 caracteriza alguns destes tipos por
meio de posicionamento da placa a ser ex-
trada, tendo como referncia o cristal origi-
nal.
Um dos principais cortes ( alis,
o mais amplamente utilizado ) o AT ( figura
3a ), que proporciona um excelente coefici-
ente de temperatura, alm de abranger uma
ampla faixa de freqncias. Entretanto, a ri-
gor, o tipo de aplicao e a viabilidade de
obteno da placa que determinar o corte
necessrio. Como exemplo, para freqncias
fora de uma certa faixa, a execuo de um
corte aparentemente ideal para uma dada
configurao poderia implicar em um espes-
sura de placa extremamente reduzida, o que
dificultaria sua produo em carter industrial.
O problema pode ser contornado pelo uso de
um corte alternativo, porm com caractersti-
cas algo discrepantes das inicialmente pro-
postas.
Figura 3 - Alguns exemplos de corte em
cristais de quartzo
O inverso tambm vlido: para
freqncias reduzidas, em torno de centenas
de kHz, a aplicao do corte AT, por exem-
plo, revela-se incmoda, pois as dimenses
da placa poderiam tornar-se exageradamente
elevadas. Um corte de comportamento mais
adequado, nessas condies, seria o DT, por
exemplo.
Examinemos a gora a figura 4,
que engloba os quatro modos possveis de
vibrao das placas de cristal: por cisalha-
mento, deformao facial, trao e flexo.
Podemos ento notar que o
comportamento da placa depender no ape-
nas do tipo de corte, mas tambm de seu
modo de vibrao. Alis, convm aqui enfo-
car a questo do aproveitamento das fre-
qncias harmnicas, relativamente ao modo
de vibrao.
Uma placa pode vibrar, no s
na freqncia fundamental, mas tambm se-
gundo suas harmnicas. Como ilustra
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o, podemos citar o modo de cizalhamen-
Figura 4 - Os quatro modos de vibrao
dos cristais
to, empregado no corte AT ( a relao cor-
te/modo ser mencionada adiante ), o qual
possui uma determinada caracterstica quando
utilizado na freqncia fundamental, um se-
gundo comportamento quando opera na 3a
harmnica e um terceiro, quando utilizado na
5a harmnica ( figura 5 ).
Figura 5 - Modos de cisalhamento segun-
do a freqncia aplicada
Circuito equivalente do cristal
Em princpio, podemos assumir
que um cristal oscilador consiste em um dis-
positivo eletromecnico, cuja principal carac-
terstica a de possuir elevado fator de quali-
dade ( Q ). A anlise de seu circuito equiva-
lente, nas proximidades da freqncia de res-
sonncia fundamental, nos auxilia a compre-
ender sua atuao.
Nessas condies, representa-
mos a impedncia eltrica do dipolo for-
mado pelo cristal atravs do circuito indicado
na figura 6. sempre conveniente ressaltar
que este modelamento vlido unicamente em
torno de uma faixa muito estreita de freqn-
cias, no levando em considerao outros
fenmenos, tais como ressonncias indesej-
veis.
Figura 6 - Circuito equivalente de um cris-
tal
O capacitor C
o
denominado
capacitncia esttica nada mais do que a
capacitncia apresenta pelo cristal em uma
freqncia distante daquela de ressonncia. J
o circuito srie, em paralelo com C
o
, repre-
senta eletricamente o fenmeno da ressonn-
cia eletromecnica do cristal em considera-
o. Os elementos constituintes do circuito
srie sero ento denominados parmetros
dinmicos, contrariamente capacitncia
esttica. Logo L
1
, representa a indutncia
dinmica, C
1
, a capacitncia dinmica e R
1
, a
resistncia dinmica. Nesse modelamento, o
resistor R
1
simboliza as perdas de toda natu-
reza.
Na prtica, tem-se duas freqn-
cias para as quais a reatncia do cristal se
anula, conforme a figura 7a. A inferior co-
nhecida por freqncia de ressonncia f
r
e a
superior, freqncia de anti-ressonncia, f
a
.
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Figura 7 - Representao das freqncias
de ressonncia, anti-ressonncia e deslo-
camento de ambas mediante um capacitor
associado em srie e em paralelo ao cris-
tal
Quando o cristal de quartzo est
associado a uma impedncia ( na realidade, a
um capacitor C
L
), tais freqncias so deslo-
cadas. No caso da aplicao do cristal no
modo srie, a freqncia de ressonncia em
que a reatncia do conjunto quartzo + capa-
citncia se anula difere de f
r
, sendo ento
denominada f
r
( figura 7b ). Essas duas fre-
qncias podem ser relacionadas pela se-
guinte expresso:
No caso de utilizao em modo
paralelo, a freqncia de ressonncia na qual
a reatncia do conjunto quartzo + capacitn-
cia anulada difere de f
a
, passando a ser
caracterizada por f
a
. A figura 7c ilustra esta
situao, comparada com as anteriores. A
experincia demonstra que f
a
e f
r
so pr-
ximas entre si, confundindo-se. A estreita
regio compreendida entre essas freqncias
designada por freqncia de ressonncia
com uma reatncia de carga.
No limite, a freqncia f
r
corres-
ponde ao valor f
r
, atravs da associao do
cristal em srie com uma capacitncia infinita (
impedncia srie nula ). Analogamente, f
a
pode ser considerada como uma associao
do cristal em paralelo a uma capacitncia
mnima ( impedncia infinita ).
Reportando-nos novamente fi-
gura 6, podemos agora observar esse mode-
lamento sob outro prisma. Sabemos que L
1
,
R
1
e C
1
no possuem existncia fsica - so
caracterizados to somente para explicar
eletricamente a vibrao da placa de cristal.
L
1
, ento representa a massa efetiva do cris-
tal, C
1
representa a elasticidade e R
1
os atri-
tos internos.
O rendimento piezoeltrico do
cristal descrito por intermdio da relao
C
o
/C
1
( em outras palavras, nada mais do
que a relao entre a energia armazenada
eletricamente e a retida mecanicamente ).
Essa relao mantida constante para um
dado modo de vibrao.
Figura 8 - Modelamento eltrico simplifi-
cado
( )
f f
f
C
C C
r r
r L o
'

=
+
1
2
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A figura 8 tambm exprime o
modelamento eltrico do cristal, porm sob a
forma ( Re + j Xe ). Estudemos a relao
entre a parte real e a parte imaginria dessa
impedncia com os parmetros R
1
, L
1
, C
1
e
C
o
. Na ressonncia em modo srie, a parte
reativa da impedncia Re + jXe anulada,
independentemente da carga imposta ao cris-
tal. Resta, portanto, apenas o termo real ( Re
), o qual prximo de R
1
. Logo, nessas con-
dies, Re = R
1
.
Quando o cristal estiver sendo
submetido ressonncia paralela, a variao
do capacitor de carga ir alterar o ponto de
funcionamento do cristal ( e, naturalmente, a
freqncia do oscilador ). Podemos avaliar o
valor do termo resistivo da impedncia ( Re +
jXe ) atravs da seguinte expresso:
Est demonstrada, portanto, a
impedncia que deve dedicada capacitncia
de carga C
L
, a qual impor realmente as ca-
ractersticas do circuito. Em experimentaes
prticas conveniente que adotemos para C
L
um valor 3 vezes superior a C
o
, no mnimo,
uma vez que a no observncia desta regra
poder gerar instabilidade no circuito.
Em suma, vlida a afirmao de
que a capacitncia de carga define a impe-
dncia que o cristal deve refletir no circuito.
Em certos circuitos, o cristal deve operar na
ressonncia srie, exibindo uma impedncia
resistiva. Em outros, o cristal opera na resso-
nncia paralela, apresentando uma impedncia
basicamente indutiva.
Nvel de oscilao
Uma limitao importante dos
cristais osciladores consiste na definio da
mxima vibrao mecnica qual podem ser
submetidos. Podemos estimar a energia ativa
dissipada no cristal atravs de:
onde W representa o
trabalho executado, R
e
, o termo real da im-
pedncia equivalente e I, a corrente circulante
nessa impedncia. Ou, ento, pela relao:
onde V simbolizando a tenso sobre a parte
resistiva da impedncia em pauta.
Genericamente, podemos afirmar
que a aplicao de potncias compreendidas
entre 50 W e 1 mW so as mais recomen-
dadas para uma grande gama de cristais. Tais
potncias so conhecidas pelo termo nvel
de excitao do cristal. Nveis mais elevados
podem fraturar o cristal, devendo ser evita-
dos.
Cortes, rendimentos e outros fatores
A escolha de um corte destinado
a uma utilizao especfica fruto do com-
promisso entre um coeficiente de temperatura
timo, a faixa de freqncias a ser atingida,
dimenses da placa a ser extrada e da rela-
o C
o
/C
1
( conforme j visto, tal relao
exprime o rendimento piezoeltrico do cristal
). conveniente mencionar alguns valores
comparativos entre o tipo do corte e o rendi-
mento possvel de ser obtido. Verifiquemos a
TAB. 1. Note o elevado rendimento obtido
pela utilizao do corte AT, operando nas
freqncias harmnicas.
R R
C
C
e
o
L
= +

1
2
1
W R I
e
= .
2
W
V
R
e
=
2
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Corte x rendimento
Tabela 1
Tipo de Corte C
o
/C
1
NT 800 a 1200
DT 400 a 500
AT (modo funda-
mental ) 200 a 400
AT ( operando na 3
a
harmnica ) 2000 a 16000
AT ( operando na 5
a
harmnica ) 5000 a 25000
Na TAB. 2 esto expostos vrios
tipos de cortes que podem ser efetuados em
cristais, em conjunto com os modos de vibra-
o possveis e as frmulas para a determina-
o de suas dimenses, a partir da freqncia
desejada. Esto descritos tambm os dife-
rentes valores para os coeficientes de tempe-
ratura correspondentes a cada corte e modo
vibracional.
Nessa tabela, t representa a es-
pessura da placa considerada, l, seu compri-
mento e , sua largura. Atente tambm para
os diferentes valores de coeficientes de tem-
peratura, no corte AT, cada qual correspon-
dendo a um certo ngulo de inclinao da
placa, em relao ao eixo z.
Com relao ao coeficiente de
temperatura de um cristal, conveniente
acrescentar que seu valor normalmente es-
pecificado nas proximidades da temperatura
para o qual o coeficiente desse elemento
nulo. Geralmente essa temperatura gira ao
redor de 75
o
C, com um valor tpico, para este
parmetro, de 1 ppm/
o
C nas freqncias de
operao. Todavia o tipo de corte que de-
terminar sua ordem de grandeza, conforme
os dados mencionados na TAB. 2.
Uma vez estabelecido o relacio-
namento entre o modo de vibrao e o tipo
de corte, estamos em condies de citar a
existncia de diferentes valores para o rendi-
mento piezoeltrico do cristal, em funo do
modo de vibrao, para um mesmo tipo de
corte. Abaixo temos os valores aproximados
correspondentes famlia +5
o
X:
modo de
vibrao
rendimento
piezoeltrico
trao C
o
/C
1


120
flexo C
o
/C
1


250
Envelhecimento do cristal
Caracteriza-se o envelhecimento
do cristal atravs da variao de sua freqn-
cia de oscilao original. As principais causas
desse envelhecimento so as determinadas
por nveis de excitao exagerados, extrapo-
lando os valores das especificaes; altera-
es na prpria estrutura do cristal; contami-
nao interna da placa ou, inclusive, proble-
mas ocorridos nos terminais de fixao.
Um modo de reduzir o envelhe-
cimento do cristal ( cujo valor tpico de 5
ppm/ano, para um cristal operando em torno
de 10 MHz ) consiste na aplicao de nveis
de excitao recomendados pelo fabricante.
Acrescente-se a isto o pr-envelhecimento
proposital e a baixa temperatura de trabalho.
Aspecto fsico, montagem e fabricao
A foto exibe um dos invlucros
normalmente empregado pelos fabricantes
para o acondicionamento da placa de cristal.
Estes encapsulamento so hermeticamente
fechados quando construdos com materiais
metlicos; algumas vezes, porm, a placa
condicionada tambm em invlucros plsticos.
Foto - Aspecto fsico de um cristal tpico
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O modo de vibrao da placa
determinar, em princpio, o mtodo de
montagem mais conveniente. A FIG. 9 es-
quematiza alguns desses processos. Para pla-
cas com cortes AT ou BT, operando na faixa
compreendida entre 20 e 150 kHz, a monta-
gem indicada a FIG. 9a. Nos casos em que
a relao comprimento/espessura excede a
20, segue-se o processo FIG. 9b. As ilustra-
es FIG. 9c e 9d expem as solues en-
contradas para os modos de flexo, trao e
deformao facial. O mtodo representado
em FIG. 9e, por fim, utilizado em placas
vibrando no modo de cisalhamento, em altas
freqncias. Em geral, podemos classificar as
seqncias de obteno do cristal nas se-
guintes tarefas: 1) corte efetivo da placa; 2)
lapidao primria; 3) lapidao secundria;
4) montagem; 5) ajustes dos parmetros; 6)
fixao no invlucro; 7) processo de pr-
envelhecimento; e 8) testes do cristal ( deter-
minao de suas caractersticas ).
(A)
(B)
(C)
(D)
(E)
Figura 9 - Os vrios processos de monta-
gem de um cristal oscilador
A TAB. 3 fornece alguns dados
reais para cristais de corte AT. Tais parme-
tros so extremamente importantes, devendo
ser levados em considerao quando do pro-
jeto de um circuito empregando cristais.
Compare os valores das resistncias srie
com as faixas de freqncias e verifique que
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para uma freqncia reduzida, a resistncia
extremamente elevada.
Corte e outros fatores
Tabela 2
Tipo
de
corte
Modo de
vibrao
Freqncia e
dimenses
(f em MHz,
em mm)
Coeficiente de
temperatura
(ppm/
o
C)
AT Cisalhamento f 1,66 (l/t) 0,05 (35
o
21)
BT Cisalhamento f 2,56 (l/t) 4,4
CT Deformao
facial
f 3,07 (l/t) 3,5
DT Deforma;co
facial
f 2,07 (l/t) 2,0
Trao
f 2,70 (l/t)
para /l = 0,5
+5
o
x
Flexo
f 4,8 (/l l/t)
para /l = 0,19
- 7,0
-18
o
x Trao f 2,54 (l/t)
para 0,3</l,0,7
GT Trao f 3,37 (l/t)
para /l = 0,86
Parmetros dos cristais de corte AT
Tabela 3
Faixa de
Fre-
qncia
Modo
de opera-
o
Capaci-
tncia
de carga
(pF)
Tempe-
ratura
de
refern-
cia (
o
C)
Tempe-
ratura
de opera-
o (
o
C)
Resis-
tncia
srie
mxima
()
1.000 a
10.000
kHz
Cisa-
lhamen-
to
(funda-
mental)
30 27 2 -5, +55 400
4 a 12
kHz
Cisa-
lhamen-
to
(funda-
mental)
56 25 2 -5, +55 100 k
200 a
1.000
kHz
Cisa-
lhamen-
to
(funda-
mental)
56 25 2 -5, +55 6 k
10 a 70
MHz
Cisa-
lhamen-
to (3
o
harm-
nica)
25 2 -5, +55 40
60 a
130
MHz
Cisa-
lhamen-
to (5
o
harm-
nica)
27 2 -5, +55 50
O prximo artigo ser dedicado
s medies ( testes ) realizadas em cristais de
quartzo e aplicao prtica desses compo-
nentes em circuitos, incluindo alguns exem-
plos, com a anlise terica de configuraes e
osciladores bsicos.
Referncias
- Giacoletto, Electronics Designers Handbo-
ok, 2
a
ed., Ed. McGraw-Hill, EUA.
- Williams, Basic circuit design techniques
yield stable clock oscillators, EDN, 18/08/83,
Cahners Publishing Company, EUA.
- Mattys, Shoots for top performances in
crystal-oscillator designs, EDN, 23/06/83,
Cahners Publishing Company, EUA.
- Catlogos de fabricantes.

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