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Nombre Institucin. Apellido Autor1, Apellido Autor2, etc. Ttulo abreviado del artculo.

Resumen El presente documento tiene como finalidad


exponer las pautas necesarias para el desarrollo adecuado del
proecto de seleccin de material en el dise!o de un ve"culo
de traccin "umana, siendo de vital importancia para la
construccin de criterios como in#eniero en cuanto a la
seleccin de materiales an$lisis de soldaduras, mediante la
puesta en pr$ctica de diversos ensaos basados en la teora
anali%ada en clase.
ndice de Trminos VTH, caracterizacin,
seleccin de material, cronograma.
I.INT&'()**I+N
)n ve"culo de traccin "umana se define como
cual,uier ve"culo impulsado mediante fuer%a "umana.
-ara el dise!o de este artefacto se debe tener en cuenta la
finalidad del mismo las diversas condiciones a las ,ue
ser$ expuesto. su correcto dise!o lar#a vida /til estar$
li#ado a la seleccin del material ,ue posea este
ve"culo, siendo esto de vital importancia.
II. EN0A1'0 1 -&'-IE(A(E0 A ANA2I3A&
A continuacin se citar$n los diferentes ensaos a
reali%ar, as como las propiedades ,ue se buscan anali%ar
en el material a partir de los mismos.
Ensao de tensin4 A partir de este ensao, se
busca obtener las propiedades de resistencia a la
fluencia, tenacidad, resiliencia, ductilidad
mdulo de 1oun#. -ara la seleccin del material
en la fabricacin del ve"culo de traccin
"umana. Es necesario obtener la resistencia a la
fluencia para reali%ar los c$lculos pertinentes
relacionados con el factor de se#uridad del
ve"culo.
Ensao de flexin4 Esta ser$ necesaria en caso
tal de ,ue al#unos de los elementos est5n
6
presentando flexin. debido a ,ue el elemento
puede doblarse por tanto de7ar de funcionar
correctamente o fallar catastrficamente.
8etalo#rafa4 Este ensao brinda un aproximado
del comportamiento del material a partir del
tama!o de #rano ,ue tiene, de las inclusiones
9o de las fases presentes en el mismo.
Espectrometra4 Este ensao se reali%a con el fin
de verificar ,ue la composicin del material, se
encuentre dentro del ran#o establecido por las
normas correspondientes.
Ensao de impacto4 0u necesidad en este
proecto radica en ,ue los elementos de la
estructura ser$ "uecos por lo tanto es necesario
anali%ar la resiliencia obtenida en la prueba de
impacto estando esta relacionada con la
tenacidad de fractura.
III. *&'N':&A8A
*rono#rama proecto
0emana ; < An$lisis de problemas en
los =T>?s com/nmente
usados, an$lisis
seleccin de la estructura
0emana @ 0eleccin de posibles
materiales se#/n las
normas los datos
obtenidos anteriormente
0emana A Ensaos de tensin
flexin
0emana B 8etalo#rafa
espectrometra
0emana 1C Ensao de Impacto
0emana 11 -osibles me7oramientos al
material
0emana 12 1D An$lisis sntesis de
resultados
-remio *olombiano de Inform$tica A*I0 2C11
0eleccin (e 8aterial -ara =e"culo (e Traccin
>umana E=T>F
8aldonado Gaime, 2uis *arlos., =alle7o 8el#are7o, 2aura (aniela 3orro 8endo%a, *amilo Andr5s.
Hlcmaldonado7, ldvalle7om, ca%orromIJunal.edu.co
)niversidad Nacional de *olombia sede Ko#ot$
1
Nombre Institucin. Apellido Autor1, Apellido Autor2, etc. Ttulo abreviado del artculo.
&ELE&EN*IA0
M1N :. '. 1oun#, O0nt"etic structure of industrial plastics
EKooP stle Qit" paper title and editorF,R in
Plastics, 2nd ed. vol. D, G. -eters, Ed. NeQ 1orP4
8c:raQS>ill, 1B<T, pp. 1;U<T.
M2N V.SW. *"en, Linear Networks and !stems EKooP stleF.
Kelmont, *A4 VadsQort", 1BBD, pp. 12DU1D;.
MDN >. -oor, "n #ntroduction to ignal $etection and
%stimation. NeQ 1orP4 0prin#erS=erla#, 1BA;, c". T.
MTN G. ). (uncombe, OInfrared navi#ation-art I4 An
assessment of feasibilit E-eriodical stleF,R #%%% Trans.
%lectron $e&ices, vol. E(S11, pp. DTUDB, Gan. 1B;B.
M;N 0. *"en, K. 8ul#reQ, and -. 8. :rant, OA clusterin#
tec"ni,ue for di#ital communications c"annel
e,uali%ation usin# radial basis function netQorPs,R #%%%
Trans. Neural Networks, vol. T, pp. ;@CU;@A, Gul 1BBD.
M<N &. V. 2ucP, OAutomatic e,uali%ation for di#ital
communication,R 'ell !st. Tec(. )., vol. TT, no. T, pp.
;T@U;AA, Apr. 1B<;.
M@N E. >. 8iller, OA note on reflector arras E-eriodical stle
Accepted for publicationF,R #%%% Trans. "ntennas
Pro*agat., to be publis"ed.
MAN 0. -. Kin#ulac, O'n t"e compatibilit of adaptive
controllers E-ublis"ed *onference -roceedin#s stleF,R in
Proc. +t( "nnu. "llerton ,on-. ,ircuits and !stems
T(eor!, NeQ 1orP, 1BBT, pp. AU1<.
MBN :. &. Laul"aber, O(esi#n of service sstems Qit" priorit
reservation,R in ,on-. Rec. .//0 #%%% #nt. ,on-.
,ommunications, pp. DUA.
M1CN V. (. (ole, O8a#neti%ation reversal in films Qit"
biaxial anisotrop,R in ./12 Proc. #NT%R3"4 ,on-., pp.
2.2S1U2.2S<.
M11N :. V. Guette and 2. E. 3effanella, O&adio noise currents n
s"ort sections on bundle conductors E-resented
*onference -aper stleF,R presented at t"e IEEE 0ummer
poQer 8eetin#, (allas, TX, Gune 22U2@, 1BBC, -aper BC
08 <BCSC -V&0.
M12N G. :. Wreifeldt, OAn analsis of surfaceSdetected E8: as
an amplitudeSmodulated noise,R presented at t"e 1BAB Int.
*onf. 8edicine and Kiolo#ical En#ineerin#, *"ica#o, I2.
M1DN G. Villiams, ONarroQSband anal%er ET"esis or
(issertation stleF,R -".(. dissertation, (ept. Elect. En#.,
>arvard )niv., *ambrid#e, 8A, 1BBD.
M1TN N. WaQasaPi, O-arametric stud of t"ermal and c"emical
none,uilibrium no%%le floQ,R 8.0. t"esis, (ept. Electron.
En#., 'saPa )niv., 'saPa, Gapan, 1BBD.
M1;N K. 0mit", OAn approac" to #rap"s of linear forms
E)npublis"ed QorP stleF,R unpublis"ed.
M1<N G. -. VilPinson, ONonlinear resonant circuit devices
E-atent stleF,R ).0. -atent D <2T 12, Gul 1<, 1BBC.
M1@N A. >arrison, private communication, 8a 1BB;.
M1AN #%%% ,riteria -or ,lass #% %lectric !stems E0tandards
stleF, IEEE 0tandard DCA, 1B<B.
M1BN Letter !m5ols -or 6uantities, AN0I 0tandard 11C.;S
1B<A.
M2CN &. E. >asPell and *. T. *ase, OTransient si#nal
propa#ation in lossless isotropic plasmas E&eport stleF,R
)0AL *ambrid#e &es. 2ab., *ambrid#e, 8A &ep.
A&*&2S<<S2DT EIIF, 1BBT, vol. 2.
M21N M1CNE. E. &eber, &. 2. 8ic"ell, and *. G. *arter, O'x#en
absorption in t"e Eart"Ys atmosp"ere,R Aerospace *orp.,
2os An#eles, *A, Tec". &ep. T&SC2CC ET2CST<FSD, Nov.
1BAA.
M22N E>andbooP stleF Transmission !stems -or
,ommunications, Drd ed., Vestern Electric *o., VinstonS
0alem, N*, 1BA;, pp. TTU<C.
M2DN M12N3otorola emiconductor $ata 3anual, 8otorola
0emiconductor -roducts Inc., -"oenix, A3, 1BAB.
M2TN EKasic KooP98ono#rap" 'nline 0ourcesF G. W. Aut"or.
Eear, mont", daF. Title EeditionF MTpe of mediumN.
=olumeEissueF. Available4 "ttp499QQQ.E)&2F
M2;N G. Gones. E1BB1, 8a 1CF. NetQorPs E2nd ed.F M'nlineN.
Available4 "ttp499QQQ.atm.com
M2<N EGournal 'nline 0ources stleF W. Aut"or. Eear, mont"F.
Title. )ournal MTpe of mediumN. =olumeEissueF, pa#in# if
#iven. Available4 "ttp499QQQ.E)&2F
M2@N &. G. =idmar. E1BB2, Au#ustF. 'n t"e use of atmosp"eric
plasmas as electroma#netic reflectors. #%%% Trans.
Plasma ci. M'nlineN. 7.89:. pp. A@<AAC. Available4
"ttp499QQQ."alcon.com9pub97ournals921psCDSvidmar
Autores
Kreve referencias sobre la formacin acad5mica del autor su
experiencia.
Traducido por:
Javier A. Gonzlez C.
Presidente Rama IEEE
Universidad Pedaggica ! Tecnolgica de Colom"ia
#$$#
Este documento esta diseado para presentar (en
ingles) el desarrollo de proyectos al IEEE. Es solo una
gua, el autor debe ajustarlo a su necesidad
-remio *olombiano de Inform$tica A*I0 2C11
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