UNIVERSIDAD DE LA LAGUNA

Polarmetro Universal de Alta Resolucin (HAUP) :

estudio de anisotropa ptica en monocristales

Autor: Cecilio Hernndez Rodrguez

Director: Dr. D. Pedro Gmez Garrido

Departamento de Fsica Bsica

AGRADECIMIENTOS

Deseo expresar al comienzo de este trabajo, que presento como

Tesis Doctoral en Ciencias Fsicas, los siguientes agradecimientos:

En primer lugar, al Director que he tenido a lo largo de estos aos,

el Dr. Pedro Gmez Garrido, por su ayuda y dedicacin.

Doy las gracias al Departamento de Fsica Bsica de la

Universidad de La Laguna y en nombre de todos sus componentes al
actual Director, el Dr. Jos Fernando Peraza.

Tambien, es mi deseo agradecer al Dpto. de Fsica de la Materia

Condensada de la Universidad del Pais Vasco por su ayuda en los
comienzos de este trabajo.

Al Dr. Sabino Veintemillas le agradezco su inters por acogerme

en el Instituto de Ciencia de Materiales de Barcelona.

Quizs el entorno ms importante es el que te ayuda diariamente

sin decaer, me refiero a mi familia y amigos, sobre todo a mis padres.
Finalmente dedico las ltimas letras para agradecer a mi esposa
Mary la paciencia que tiene con un fsico como yo.

NDICE
Introduccin ................................................................................. ...... 1
Captulo I: anisotropa ptica
I.1. T EORA FENOMENOLGICA SOBRE LA BIRREFRINGENCIA Y ACTIVIDAD PTICA
5 ...... I.2. I NFLUENCIA DE LA TEMPERATURA Y LONGITUD DE ONDA SOBRE LOS
LOS FENMENOS DE ANISOTROPA PTICA. .......................................... 27
I.2.1. Variacin de la birrefringencia y rotacin de la indicatriz
ptica con la longitud de onda. ....................................................... 27
I.2.2. Variacin de la birrefringencia con la temperatura. ................... 29
I.2.3. Rotacin de la indicatriz ptica con la temperatura. ................... 36
I.2.4. Variacin de la actividad ptica con la longitud de onda ............ 39
I.2.5. Variacin de la actividad ptica con la temperatura. .................. 41
I.3. I NFLUENCIA DE LA ABSORCIN. D ICROISMO. ................................... 43
I.4. ANISOTROPA PTICA INDUCIDA. EFECTOS ELECTROPTICOS. ........... 47
I.5. R EFERENCIAS. .......................................................................... 49
Captulo II: mtodos de medida de anisotropa ptica
II.1. I NTRODUCCIN. ...................................................................... 51
II.2. M EDIDA DE LA BIRREFRINGENCIA. ................................................ 52
II.2.1. Mtodos tradicionales de compensacin. .................................. 52
II.2.2. Medida de la intensidad de luz. ............................................. 55
II.2.3. Mtodos de modulacin. ....................................................... 56
II.3. M EDIDA DE LA ACTIVIDAD PTICA. ............................................... 59
II.4. D ETECCIN DE LA ACTIVIDAD PTICA EN MEDIOS BIRREFRINGENTES. .. 61
II.5. R EFERENCIAS .......................................................................... 75
Captulo III: tcnica haup
III.1. E CUACIONES FUNDAMENTALES ................................................... 77
III.2. M ONTAJE EXPERIMENTAL. ......................................................... 83
III.3. M TODO DE MEDIDA. ............................................................... 87
III.4. R EFERENCIAS ......................................................................... 89

Captulo IV: aplicacin a muestras monocristalinas

IV.1. INTRODUCCIN ....................................................................... 91
Iv.1.1 orientacin de los cristales ...................................................... 91
Iv.1.2 representacin de las propiedades fsicas ................................... 93
IV.2. D ETERMINACIN DE LOS PARSITOS. ............................................ 95
Iv.2.1 determinacin de los parsitos con cristales pticamente inactivos .. 97
Iv.2.2 determinacin de los parsitos con cristales pticamente activos... 100
IV.3. A NISOTROPA PTICA DEL SULFATO DE TRIGLICINA (TGS). .............. 106
Iv.3.1. Introduccin. .................................................................... 106
Iv.3.2. Determinacin de los parsitos de la tcnica haup ................. 107
Iv.3.3. Determinacin de la birrefringencia ..................................... 109
Iv.3.4. Rotacin de la indicatriz ptica............................................ 111
Iv.3.5. Determinacin de la actividad ptica ................................... 113
Iv.3.6. Determinacin de los coeficientes electropticos en la
Fase ferroelctrica. ........................................................................ 119
Iv.3.7. Determinacin de los coeficientes electropticos en La fase paraelctrica. .. 129
IV.4. DETERMINACIN DE LA BIRREFRINGENCIA DEL KBC. ...................... 133
IV.5. A NISOTROPA PTICA DEL KDP ................................................. 135
Iv.5.1. Introduccin ..................................................................... 135
Iv.5.2. Determinacin de la birrefringencia y eliminacin de los parsitos. ... 136
Iv.5.3. Determinacin de la elipticidad de los modos de Propagacin . 137
Iv.5.4. Determinacin del coeficiente electroptico lineal r 41 .............. 140
IV.6. A NISOTROPA PTICA EN PRESENCIA DE REFLEXIONES MLTIPLES. ... 144
Iv.6.1. Introduccin. .................................................................... 144
Iv.6.2. Efecto de las reflexiones mltiples sobre el mtodo Haup. .......... 146
Iv.6.3. Aplicacin al cuarzo .......................................................... 154
Iv.6.4. Resultados y discusin. ....................................................... 155
Iv.6.4.1. Determinacin de la birrefringencia lineal del Cuarzo. ........ 157
Iv.6.4.2. Determinacin de la girotropa del cuarzo .......................... 160
Iv.6.5. Extensin de la anisotropa ptica del cuarzo en presencia de reflexiones mltiples hasta 300 oc. ........................................................... 163
Iv.6.5.1. Determinacin de la birrefringencia. ................................. 164
Iv.6.5.2. Determinacin del camino ptico. ..................................... 171
Iv.6.5.3. Determinacin de la actividad ptica. ................................ 172
Iv.6.5.4. Reflexiones mltiples cuando slo existe Actividad ptica. ..... 176

Iv.6.5.5.determinacin de la direccin libre de actividad ptica. ......... 184

Iv.6.6. Reflexiones mltiples dependientes de la temperatura en cristales de
niobatio de litio y calcita. ............................................................... 185
IV.7. A NISOTROPA PTICA EN CRISTALES PERTENECIENTES A LA FAMILIA DE LAS
PALMIERITAS (KBM, KBNM, KNM, KPM, KBERM). .................................... 189
Iv.7.1. Introduccin ..................................................................... 189
Iv.7.2. Resultados y discusin ........................................................ 191
Iv.7.3. Deteccin de dicroismo. ...................................................... 200
IV.8. REFERENCIAS. ....................................................................... 205
APNDICE A. PROPIEDADES DEL TENSOR EIK. ...................................... 209
APNDICE B. PROPIEDADES DEL TENSOR GIKL. .................................... 211
APNDICE C . MODOS DE POLARIZACIN EN MEDIOS BIRREFRINGENTES
GIROTRPICOS PARA CUALQUIER ORIENTACIN DEL CRISTAL. ................ 215
CONCLUSIONES GENERALES ............................................................... 19

Introduccin

INTRODUCCIN
La interaccin luz-materia es un amplio campo de la Fsica que histricamente ha tenido
gran trascendencia en el estudio de las propiedades pticas de diversos materiales. En particular, nos hemos ceido al estudio de medidas de anisotropa ptica en monocristales que puedan
presentar simultneamente Birrefringencia y Actividad ptica (Bianisotropa).
El anlisis del comportamiento de la birrefringencia con la temperatura es del mayor
inters en la investigacin fenomenolgica de las transiciones de fase entre dos estados de un
cristal. De la misma forma, segn las predicciones tericas, la actividad ptica aparece como
una magnitud peculiar que puede responder sensiblemente a la modulacin de la red cristalina y
a los cambios de naturaleza de las ligaduras entre los tomos que la constituyen.
Asimismo, el conocimiento de la birrefringencia y actividad ptica como resultado de la
anisotropa natural del cristal, es de gran importancia en la construccin de lminas retardadoras,
polarizadores, compensadores, etc.
Por otra parte, la dependencia con la temperatura y/o longitud de onda de dichos fenmenos, as como la posibilidad de inducirlos mediante la aplicacin de campos elctricos o
magnticos externos, hace de los materiales pticamente anistropos candidatos muy cualificados para su utilizacin tecnolgica en campos tales como el de los filtros espectrales de banda
estrecha, obturadores y moduladores electropticos de alta velocidad para transmisin de seales pticas, display pticos, etc.
En el captulo I se estudian los fenmenos de Birrefringencia Lineal (B.L.) o doble refraccin y Actividad ptica (A.O.) Birrefringencia circular como propiedades pticas a analizar en este trabajo. Se hace un repaso de su teora desde el punto de vista electromagntico de
la luz incidente en las muestras a estudio as como la influencia que tienen parmetros como la
longitud de onda, la temperatura o campos externos aplicados.
Cuando las secciones cristalinas birrefringentes y pticamente activas (bianistropas)
estn alejadas de los ejes pticos, hay gran dificultad en separar la Birrefringencia Lineal y la
Actividad ptica debido a que sta ltima es alrededor de dos o tres rdenes de magnitud ms

Captulo I
Anisotropa ptica

CAPITULO I

Anisotropa ptica
I.1. Teora fenomenolgica de la Birrefringencia y la Actividad ptica.

Los medios anistropos se caracterizan por presentar distintas propiedades fsicas

para distintas direcciones, lo que puede deberse, si se trata de medios cristalinos, a que
stos presentan disimetras en la disposicin de los tomos para formar su celda
elemental bsica y tambin en la red cristalina segn la forma en que se repita la celda
base para formar el cristal. Tambin pueden presentar dichas propiedades los medios
istropos cuando son sometidos a tensiones mecnicas, elctricas o magnticas.
En este captulo estudiaremos dos de los fenmenos relacionados con la
transmisin de la luz a travs de los cristales: Birrefringencia y Actividad ptica .
Erasmus Bartholinus (1670), describe por primera vez el fenmeno de la doble
refraccin de la luz en un medio anistropo, observada en una variedad incolora y
transparente de calcita denominada espato de Islandia. Accidentalmente al colocar uno
de estos cristales sobre una hoja que acababa de escribir observ que las palabras y las
lneas que haba trazado se vean dobles a travs del cristal. Ms tarde, Huygens
establece las bases de la teora ondulatoria de la luz en 1690, que le llev a dar una
interpretacin estructural de la doble refraccin.
La Birrefringencia se debe a la diferencia entre las velocidades de propagacin
de las dos componentes ortogonales de polarizacin lineal en que se divide una onda al
atravesar el medio, producindose un desfase de una de las componentes respecto a la
otra dado por:

B =

2
( n )d

(I.1)

donde d es el espesor de la muestra, la longitud de onda en el vaco y n = no1- no2

el valor de la birrefringencia, siendo no1 y no2 los ndices de refraccin para cada una de
las componentes en que se descompone la luz.
Desde un punto de vista electromagntico en medios birrefringentes no
magnticos que no sean pticamente activos, la relacin entre las componentes del
desplazamiento elctrico y el campo elctrico as como la relacin entre la induccin
magntica y el campo magntico vienen dadas por,

D i = ij E j ;

B=H

(I.2)

y teniendo en cuenta las ecuaciones de Maxwell

1 B 1 D
xE =
; xH =
c t
c t

(I.3)

cuando se propaga una onda monocromtica segn las ecuaciones,

D ( r , t ) = Do e

i( t k r )

; E ( r , t) = E o e

i( t k r )

(I.4)

donde k = ( /c)n u es el vector de onda en la direccin del vector de propagacin

unitario u , siendo n el ndice de refraccin y D o y E o

los vectores complejos

constantes, se tiene que

i H = c x E ; i D = -c x H

(I.5)

Derivando respecto de las coordenadas espaciales, se obtiene

H = n( u x E ) ; D = n( u x H ) .

(I.6)

Estas ecuaciones nos indican que los tres vectores k = ( /c)n u , D y H son

perpendiculares entre si. Adems el vector H es perpendicular a E y a D pero los

vectores E y D no son paralelos. Para ver la relacin entre E y D , substituyendo la

primera ecuacin de (I.6) en la segunda, se obtiene

D = n 2 u (E u ) = n 2 E ( u . E) u .

(I.7)

Si se igualan las componentes de este vector a las componentes de la primera

ecuacin de (I.2), se obtendrn tres ecuaciones lineales homogneas para las tres

componentes del vector E :

n 2 ( E i u i u j E j ) = ijE j

(I.8)

y utilizando como ejes de coordenadas cartesianas x, y, z los ejes principales del

tensor

ik, designados por x, y y z,

( n 2 ij n 2 u i u j ii ) E i = 0 ,

(I.9)

con ij la delta de Kroenecker.

La condicin de compatibilidad de estas ecuaciones exige que se anule el
determinante formado por sus coeficientes:

n 2 ij n 2 u i u j ii = 0 .

(I.10)

En este caso se obtiene la ecuacin de Fresnel,

n 4 ( x u 2x + y u 2y + z u 2z ) n 2 u 2x x ( y + z ) +
+ u 2y y ( x + z ) + u 2z z ( x + y ) + x y z = 0

(I.11)

Esta ecuacin determina las siguientes propiedades de la ptica cristalina:

(i) Establece la dependencia entre la frecuencia y el vector de onda.
(ii) Determina el mdulo del vector de onda en funcin de su direccin para

ondas monocromticas. Para una direccin dada de u , la ecuacin de Fresnel es

cuadrtica respecto de n2 .Por ello, a cada direccin de u corresponden, en general, dos

mdulos diferentes del vector de onda.
(iii) Determina en el espacio de coordenadas ux, uy, uz la superficie de los
vectores de onda (superficies de los ndices). Tambin determina la
velocidades si se emplean las velocidades principales, es decir, v i2

superficie de

= c / i.
2

Para ver el carcter de la polarizacin de las ondas que se propagan en un medio

anistropo, elegimos uno de los ejes en la misma direccin del vector de onda. En cuanto
a los dos ejes transversales, los designaremos por subndices griegos que toman los
valores 1 y 2. A partir de la igualdad (I.7), substituyendo D = n 2 E
y
1
E =
D , donde se ha definido el tensor inverso de ik, = -1 ,
denominado tensor de impermeabilidades, se obtiene

2 D = 0 .
n

(I.12)

Se deduce que los vectores D que corresponden a los dos valores de u estn
dirigidos a lo largo de los ejes principales del tensor , resultando perpendiculares
entre si. Por lo tanto, en las dos ondas con igual direccin del vector de onda, los
vectores desplazamiento elctrico estn polarizados linealmente en dos planos
perpendiculares.
La ecuacin (I.7) tiene una interpretacin geomtrica a partir del elipsoide
tensorial,

ik x i x k =

x2 y 2 z2
+
+
= 1.
x y z

(I.13)

Si cortamos el elipsoide por un plano que pasa por su centro y es perpendicular a

la direccin de u dada, la figura de la seccin ser una elipse, cuyos semiejes mayor y
menor determinan los valores de los ndices de refraccin asociados con las direcciones

de oscilacin de los vectores D .

Arag en 1811 observ por primera vez la Actividad ptica despus que
polarizara la luz solar y sta atravesara un cristal de cuarzo dando dos imgenes cuyos
colores cambiaban cuando se rotaba un cristal (analizador). Fresnel en 1824 propuso la
primera teora de la actividad ptica en trminos de la descomposicin de la luz
linealmente polarizada en dos componentes circulares opuestas que viajaban a travs del
medio a diferentes velocidades. El resultado de la combinacin de dichas componentes
era una rotacin neta del plano de polarizacin de la luz.

Como consecuencia de las distintas velocidades con que se propagan los estados
de polarizacin circular en que se descompone la luz linealmente polarizada al atravesar
el medio en cuestin, el desfase producido entre dichos estados puede expresarse como:

G =

2 G
d
n

(I.14)

donde n = ( n o1n o 2 )1/ 2 y G es el tensor de girotropa dando la cantidad de Actividad

ptica.
Los efectos de la Birrefringencia y Actividad ptica pueden presentarse por
separado o simultneamente dependiendo de la clase cristalina de que se trate. Si la
Birrefringencia ocurre simultneamente con la Actividad ptica y la incidencia del haz es
normal a la lmina cristalina, el desfase total introducido segn el principio de
superposicin [1] viene dado por:

= ( B2 + G2)1/2

(I.15)

donde se ha tenido en cuenta que en secciones de la lmina cristalina alejadas de los ejes
pticos G << no1no2.
Desde entonces, han habido varios intentos en explicar como surge la Actividad
ptica para una substancia particular. Podemos dividirlo en teoras basadas en
descripciones macroscpicas ( Drude en 1902, Oseen en 1915, Born en 1922, Kuhn en
1929,...) y en descripciones microscpicas, aplicando polarizabilidades atmicas (Gray en
1916, Kirkwood en 1937, Ramachandran en 1915, Reijnhart en 1970,...) [2].
Para describir la Actividad ptica en materiales birrefringentes, nos referiremos a
la teora electromagntica. El efecto de la girotropa en los cristales surge como

consecuencia de la dependencia no local entre el vector desplazamiento D y el campo

10

elctrico E . Esta dependencia no local puede ser descrita como un fenmeno de

perturbacin interna asociado a variaciones del campo electromagntico[3,4].
De esta forma la permitividad elctrica en presencia de dicha perturbacin ij
ser:

ij = ij + ij

(I.16)

El primer trmino, expresa la contribucin de los momentos dipolares

permanentes e inducidos en el material y el segundo trmino tiene en cuenta los efectos
del momento dipolar elctrico inducido cuando el campo magntico es variable con el
tiempo. Anlogamente las variaciones de la onda incidente produce un momento
magntico inducido, dando lugar a un poder rotatorio ptico proporcional a la suma de
ambas contribuciones [5].
Para ver cualitativamente como surge el poder rotatorio ptico, supongamos que
existe un plano de molculas cuyos electrones se mueven a lo largo de una hlice
dextrgira (en contra de las agujas del reloj). Si escogemos todas las disposiciones
helicoidales paralelas y a su vez perpendiculares a la direccin de propagacin de la onda
electromagntica, el campo magntico que cambia continuamente con el tiempo induce
una fuerza electromotriz en la mencionada hlice provocando un movimiento de los
electrones sobre ella, figura (I.1). De esta manera cada vez que los electrones hacen un
giro helicoidal se produce un cambio en signo y magnitud en el momento dipolar normal
al eje de la hlice, mientras que la componente del momento dipolar paralelo al eje de la
hlice aumenta o decrece a lo largo de ella en una direccin dada.

11

H
FEM

dH/dt

Fig.(I.1). Mecanismo de induccin de un momento dipolar elctrico en

una hlice debido a las variaciones del campo magntico de una onda
electromagntica incidente.

Por consiguiente, este movimiento electrnico resulta en un momento dipolar

elctrico inducido cuya direccin promedio es paralelo al eje de la hlice [6]. Esto se
puede expresar por la siguiente ecuacin,

p ind

H
=
.
c t

(I.17)

Si adems se tiene en cuenta que el vector campo elctrico efectivo E se debe no solo al

campo externo

E de la onda incidente sino tambin al campo promedio de las

molculas vecinas, entonces el campo efectivo segn Lorentz viene dado por,

E = E + ( 4 / 3) P ,

(I.18)

donde P = N p

es el momento elctrico total en la unidad de volumen con N el

nmero de molculas por unidad de volumen, tendremos el momento dipolar resultante

debido a las contribuciones anteriores,

12

H
,
p = E
c t

(I.19)

donde es la polarizabilidad electrnica y una constante determinada a partir de la

estructura de la molcula que debe ser positiva para hlices dextrgiras y negativa para
las levgiras de acuerdo con la notacin de la ecuacin anterior.

H
El momento dipolar elctrico inducido por
, crea un campo elctrico
t
perpendicular al de la onda incidente. De esta forma, la combinacin de ambos campos
(inducido e incidente) producir un campo resultante cuyo plano de polarizacin ha
rotado un cierto ngulo respecto del plano de polarizacin de la onda incidente, figura
(I.2). As, segn este modelo la rotacin del plano de polarizacin depender del sentido
dextrgiro o levgiro de la hlice.

Eefectivo
Eresultante
Einducido

Fig.(I.2). Origen del poder ptico rotatorio debido al momento dipolar

inducido

por

el

cambio

del

campo

magntico

de

la

onda

electromagntica incidente.

Por otra parte, si se supone que el eje de las hlices es paralelo al campo elctrico
de la onda incidente, figura (I.3), los electrones se movern a lo largo del eje helicoidal
dando lugar a un campo magntico similar al producido por un flujo de corriente a travs

13

de un solenoide y por tanto inducir un momento dipolar magntico paralelo al campo

elctrico de la onda incidente.

Fig.(I.3). Mecanismo de induccin de un momento dipolar magntico en

una hlice debido a las variaciones del campo elctrico de una onda
electromagntica incidente.

Esto se puede expresar por medio de la ecuacin [6],

E
m=
,
c t

(I.20)

donde es otra constante que depende de la estructura de la molcula y que en el caso

de que el eje helicoidal sea paralelo al campo magntico de la onda incidente o las
orientaciones de estas hlices sean aleatorias, y son iguales a la expresin [6],
e2
==
3m e

r 2s
2
2
r +s

1
,
2
2

14

(I.21)

siendo e la carga del electrn, r el radio de la hlice, 2s la distancia entre giros

sucesivos de la hlice, me la masa electrnica, la frecuencia de oscilacin de
la onda incidente y o2 = /me la frecuencia natural de oscilacin de los electrones
con la constante recuperadora.
La rotacin del plano de polarizacin en radianes es, segn la figura (I.2),
8 3 N n 2 + 2
( + )z ,

tan = E/ E inducido =
2 3

(I.22)

donde (n2 + 2)/3 es un factor procedente del campo de Lorentz al considerar las
molculas vecinas, z es el grosor del plano de molculas en cm, N el nmero de
molculas por unidad de volumen, n el ndice de refraccin de la lmina molecular y la
longitud de onda del haz incidente. Este ngulo se toma como positivo si el campo de la
onda incidente rota en el sentido de las agujas del reloj cuando se observa en la direccin
en que llega el haz luminoso.
De estas dos ltimas ecuaciones se desprende que la rotacin ptica , es
proporcional al trmino [r2s / (r2 + s2)] e inversamente proporcional al trmino (2-o2).
Esto nos permitira evaluar las magnitudes de las hlices, de modo que si r >> s indica
que la hlice tiene giros muy circulares y si r << s que los electrones se mueven en
hlices muy planas.
Otro tipo de modelos, que tambin se basan en estructuras helicoidales, aplican la
interaccin entre la luz incidente con los tomos que pueden ser polarizables. En este
sentido han trabajado Gray, Kirkwood, Ramachandran, Reijnhart y Glazer [2], que
avanzan en la conexin entre la estructura cristalina y la actividad ptica, as como en la
explicacin de los signos que debe tener sta. La teora de Ramachandran forma una
base para explicar los signos de la rotacin ptica observados en los cristales inorgnicos
como el cuarzo, clorato de sodio o bromato de sodio. En particular, aplic su teora al
caso de cuatro tomos polarizables relacionados por un eje helicoidal 41 de la forma

15

RS1/4, donde RS es una hlice dextrorotatoria y 1/4 es el nmero de tomos polarizables

en el nmero total de tomos de la hlice. Segn Ramachandran, una estructura con
cadena de sentido dextrgiro tiene como consecuencia un poder rotatorio levgiro y
viceversa. La ecuacin que da el poder rotatorio tiene la expresin [7,8],

3cl 2 2 ( n 2 1)( 2r 2t )
4 R ( r + t ) + ( 3l R ) r t
2

(I.23)

donde, l es la distancia desde un tomo al eje helicoidal, R la distancia entre los tomos
cercanos, c la distancia de repeticin de la hlice, la longitud de onda de la luz
incidente, n el ndice de refraccin ordinario y r y t las componentes de polarizabilidad
paralela y perpendicular a l respectivamente. Se observa que el signo del poder rotatorio
para la luz que viaja paralela al eje de la hlice depende en mayor medida, segn
predicciones de simulacin, del signo de (r2 - t2). Por tanto, el signo de rotacin se
determina por las direcciones de las polarizabilidades anistropas mximas en el plano
perpendicular a la hlice. Si estas direcciones son tangenciales a la hlice , el plano de
polarizacin de la luz gira en el mismo sentido que la hlice y cuando son normales, el
plano de polarizacin de la luz gira en sentido opuesto a la hlice.
Los

resultados

obtenidos

por

Glazer

establecieron

como

principales

contribuyentes a la actividad ptica las ordenaciones helicoidales de tomos con

polarizabilidades altas, pudiendo ser dichas hlices irregulares [2].

Por tanto, en un medio dielctrico anistropo monocristalino la relacin lineal

entre el desplazamiento elctrico y la intensidad del campo elctrico tiene una forma ms
complicada que no se reduce a la de una mera proporcionalidad. La relacin local entre

D ( r ) y E ( r ) tambin depende de los valores de E en otros puntos r del cristal

situados cerca del punto r .

16

La forma ms general de esta relacin, siempre que las dimensiones atmicas

sean pequeas comparadas con la longitud de onda (a << ), lo cual es condicin
necesaria para que sea aplicable la teora macroscpica, para un campo monocromtico
de frecuencia es la siguiente:

D i ( r ) = D oi ( r ) + ij ( ) E i ( r ) +
j

ijl ( )
j, l

E j
x l

+ ijlm ( )
j, l , m

2 E j
x l x m

+ ...

(I.24)

donde para describir la influencia mutua entre las partculas integrantes de la red
cristalina derivada de la interaccin con el campo elctrico, es suficiente representar este
campo en forma de desarrollo de Taylor segn los exponentes de los desplazamientos

cartesianos respecto al punto r , limitndose slo al uso de los primeros trminos del
desarrollo. En la ecuacin (I.24) xj, xl, xm son las componentes cartesianas del vector

r , y las derivadas se calculan en el punto r .

El primer trmino de la ecuacin (I.24), D oi ( r ) , es un vector constante que da

cuenta de la polarizacin espontnea del dielctrico, incluso cuando no existe el campo
elctrico exterior; tales cuerpos se llaman piroelctricos. El valor de esta polarizacin
espontnea, sin embargo, es de hecho siempre muy pequeo si se compara con el de los

campos moleculares. La existencia de valores grandes de D oi ( r ) conduciran a campos

intensos dentro del cuerpo, incompatible con el equilibrio termodinmico. Por tanto, el

que D oi ( r ) sea pequeo asegura al mismo tiempo la legitimidad del desarrollo de D

en potencias de E .

El segundo trmino de la ecuacin (I.24) expresa que el desplazamiento elctrico

se determina unvocamente por el valor de la intensidad del campo elctrico E ( r ) en el

17

mismo punto. Aqu ij ( ) representa las componentes del tensor de las constantes
dielctricas y los ndices i, j numeran los ejes de las coordenadas x, y, z. Este tensor de
segundo rango debe de ser simtrico y sus componentes reales si no existe absorcin
(Apndice A). Para cristales cbicos y medios istropos, el tensor ij ( ) se reduce a un
escalar, es decir, a ij ( ) = ()ij.
El tercer y cuarto trmino en (I.24) toman en consideracin los efectos de la
influencia mutua, con la particularidad de que los tensores ijl ( ) y ijlm ( ) de tercer

y cuarto rango respectivamente son independientes de la coordenada r debido a la

homogeneidad del cristal. Los valores de los tensores ijl ( ) y ijlm ( ) , segn el
orden de su magnitud, son iguales a "a" y "a2", respectivamente (a es el tamao de la
zona de influencia, del orden de la constante de la red cristalina 10-8 ... 10-7 cm). Si se
toma = 600 nm, entonces a/ 2.10-3, (a/)2 4.10-6 mientras que la birrefringencia
relacionada con el segundo trmino de (I.24) suele estar en un orden de magnitud entre
10-2 y 10-1.
Si cuando investigamos las propiedades pticas de los cristales empleamos ondas
luminosas planas segn las ecuaciones (I.4), se deduce que

2 Ei
E i
= ik l E j ;
= klk mE j
x l
x l 2

(I.25)

reducindose la relacin (I.24) a la forma

r
r
D i ( r , t ) = ij ( , k ) E j ( r , t ) ,
j

donde el tensor permitividad dielctrica viene dado por

18

(I.26)

ij ( , k ) = ij ( ) + i ijl ( ) k l ijlm ( ) k l k m .
l

(I.27)

l, m

Por tanto, aunque la relacin entre el vector desplazamiento elctrico y el vector

campo elctrico se realiza mediante un tensor de segundo rango, la no localidad conduce

a la dependencia del tensor de permitividad dielctrica

ij ( , k ) no slo de la

frecuencia de la luz, sino tambin del vector de onda k , es decir, funcin de la longitud
de onda (k = 2/), y de la direccin de propagacin de la luz. A esta relacin del tensor
dielctrico y el vector de onda se denomina dispersin espacial del medio.
Si nos limitamos a los trminos de primer orden del desarrollo de potencias (a/)
para un campo monocromtico de frecuencia , la ecuacin (I.27) queda expresada,

ij ( , k ) = ij ( ) + i ijl ( ) k l .

(I.28)

El tensor ijl ( ) es antisimtrico y sus componentes son reales si no existe

absorcin (Apndice B). Este tensor se puede expresar como ()eijl, donde () es un
escalar, y eijl, un tensor antisimtrico de tercer rango (las componentes eijl son cero si
entre los ndices i, j, l hay iguales, mientras que sus valores sern + 1 -1 dependiendo
de si estos ndices se han obtenido mediante un nmero par o impar de conmutaciones,
es decir,

eijl =

1
(i-j)(j-l)(l-i)).
2

(I.29)

El primer trmino de (I.28) da origen a la birrefringencia ordinaria cuyo efecto es

relativamente mayor que el segundo trmino de dicha expresin. En los medios que

19

poseen centro de simetra, la magnitud () se anula, como se explica en los prrafos

siguientes. En este caso, la dispersin espacial se manifiesta slo merced a los trminos

que dependen cuadrticamente de las componentes del vector de onda k que es el

cuarto trmino de la expresin (I.24), ijlm ( ) .... Precisamente estos sumandos
condicionan la dbil anisotropa (dicroismo) de los cristales cbicos [9].
En medios birrefringentes ptimamente activos hay que tener en cuenta la
expresin (I.28) donde no solo hay dispersin para la frecuencia sino tambin respecto

del vector de onda k = ( /c)n u . Introduciendo el vector girotropa h , de acuerdo con

ijl ( ) k l = e ijl h l

(I.30)

el tensor permitividad dado por la ecuacin (I.28) se puede escribir como

ij ( , k ) = ij ( ) + i e ijl h l

(I.31)

donde las componentes del vector girotropa h son funciones lineales de las

componentes de u , es decir,

h l = g ml u l

(I.32)

Substituyendo (I.32) en (I.30), se encuentra

e ijl ( )

nu l = e ijl g ml u l
c

(I.33)

de donde, dado que n es arbitrario,

20

 ijl ( )

= e ijl g ml
c

(I.34)

con lo que queda establecida la relacin entre el tensor de tercer rango ijl y el tensor de
segundo rango gij,

g ik = e lmi lmk
c
yzx yzy yzz

= zxx zxy zxz
c

xyx xyy xyz

(I.35)

Esta magnitud es un pseudotensor dado que cambia de signo en una inversin de

las coordenadas. La simetra concreta del material cristalino impone determinadas
limitaciones a las componentes de este pseudotensor.
El tensor ijl() se reduce a cero en los cristales que poseen centro de simetra,
ya que todas sus componentes y por tanto las componentes del pseudotensor gik cambian
de signo por inversin. La simetra de una propiedad fsica especificada por un tensor de
segundo rango exige que tal propiedad no vare en esta transformacin, al ser siempre
centrosimtrica. De esta manera, la existencia de actividad ptica exige, en cualquier
caso, que el cuerpo carezca de centro de simetra.
En un cuerpo istropo y tambin en los cristales con simetra cbica el
pseudotensor se reduce a un pseudoescalar, dado por:

g ik = f ik

(I.36)

cuyo vector girotropa teniendo en cuenta (I.32) es,

21

h =f u

(I.37)

siendo la relacin entre el desplazamiento elctrico y la intensidad del campo de la onda,

D = E+ i E h

(I.38)

Si definimos el tensor inverso,

-1ik = ik = ik+ iik = ik+ ieiklGl

(I.39)

donde Gl son las componentes del vector G , Gx = yz, Gy = zx y Gz = xy.

Los vectores h y G estn relacionados por,

G=

h
2

(I.40)

y la relacin entre el desplazamiento elctrico y la intensidad del campo toma entonces la

forma siguiente [10],

E i = ( ik
+ ie ikl G l ) D k = ik D k + i ( D x G ) i .

(I.41)

Al igual que en medios nicamente birrefringentes, si elegimos el eje z de modo que sea
paralelo a la direccin del vector de onda, la ecuacin (I.12) toma la siguiente forma,
1

+ i 2 D = 0
n

22

(I.42)

donde los subndices , toman los valores x, y. Designando para estos ejes, los
correspondientes valores principales dados por no1-2 y no2 -2, obtenemos las siguientes
ecuaciones,
1
1
2 2 D x + iG z D y = 0,
n

o1 n
1
1
iG z D x + 2 2 D y = 0.
n o2 n

(I.43)

o tambin en funcin de hz,

n 2 n 2o1
h
2 2 D x i 4z D y = 0
n n
n
o1

2
n n o22
hz
i 4 D x + 2 2 D y = 0,
n
n o2 n

(n n o1 )(n + n o1 )
h

D x i 4z D y = 0
2 2

n n o1
n

(n n o 2 )(n + n o 2 )
h
D y = 0,
i 4z D x +
2
2
n
n
n
o2

que aproximadamente puede expresarse por,

(n n o1 )D x i

hz
Dy = 0
2n o1

23

(I.44)

(I.45)

hz
D x + (n n o 2 )D y = 0 ,
2n o 2

(I.46)

al ser n 2 n 2o1 n 2o 2 . A partir de este sistema de ecuaciones obtenemos los dos valores

de n asociados con la direccin dada de u :

n o1 + n o 2
h 2z
n n o1
o2
+
2
2
4n o1 n o 2

n=

(I.47)

y los autovectores correspondientes,

h z / 2n o1

D1 =

n n 2
hz
n n o1
o1

i o 2
o2
+
2
4n o1 n o 2
2

(I.48)

n n 2
h 2z
n o 2 n o1
o1
o 2

2
4
n
n
2

o1 o 2

D2 =

i h z / 2n o1

(I.49)

24

La razn Dy/Dx resulta imaginaria pura. Por tanto las ondas estn polarizadas
elpticamente y sus ejes de polarizacin coinciden con los ejes x, y. La elipticidad de
dichos modos, figura (I.4), definida como la razn anterior, resulta

tan () =

hz

n
2 h z 2
n + n +
n

1/ 2

(I.50)

D2

D1

Fig.(I.4). Elipses de polarizacin de los modos normales en presencia

simultnea de birrefringencia y actividad ptica.

La direccin del vector de onda k es normal a los ejes principales que

representan las direcciones de polarizacin D 1 y D 2 formando un triedro ortogonal.

Este vector de onda puede expresarse en coordenadas esfricas (k, k) en el sistema

original (x,y,z) [11], siendo las componentes G por analoga a la ecuacin (I.32),

25

G l = G ml u l

(I.51)

y en coordenadas esfricas

Gx = Gsenkcosk ; Gy = Gsenksenk ; Gz = cosk,

(I.52)

siendo el mdulo de G

u G = G ml u m u l

(I.53)

que en coordenadas esfricas se expresa como

G = G = g11sen 2 k cos2 k + g 22 sen 2 k sen 2 k + g 33cos2 k

+ 2g12 sen 2 k sen k cos k + 2g13sen k cos k cos k
+

2g 23sen k cos k sen k

(I.54)

Tambien puede definirse un nuevo sistema de coordenadas (x, y, z) en el que z es

paralelo a k y x est en el plano (z,z). Ver la figura (I.5).

26

k
k
y
y
k
x
x
Fig.(I.5). Transformacin ortogonal de los ejes dielctricos en el sistema
de coordenadas (x,y,z) al nuevo sistema (x,y,z) donde el vector de onda

k || z.

La transformacin al sistema (x, y, z) se produce por rotacin de k alrededor

del eje z seguida por una rotacin de k alrededor de y.

I.2. Influencia de la temperatura y longitud de onda sobre los fenmenos

de anisotropa ptica.

I.2.1. Variacin de la Birrefringencia y rotacin de la indicatriz ptica

con la longitud de onda.

El ndice de refraccin n de una sustancia aumenta con la disminucin de la

longitud de onda , es decir el ndice aumenta a frecuencias mayores de la radiacin
incidente. La dependencia entre n y hace que todo el elipsoide ptico,
consecuentemente vare, variacin que se conoce con el nombre de dispersin. Si las

27

relaciones entre los ejes cristalogrficos y los de simetra del elipsoide son tales que viene
definida biunvocamente su posicin mutua, la dispersin tiene slo como consecuencia
que la forma del elipsoide vare (variacin de la birrefringencia), pero los ejes del
elipsoide mantienen su posicin en el cristal (no existe rotacin de la indicatriz ptica).
Tal es el caso de los cristales unixicos. En los cristales bixicos, por el contrario, la
dispersin tiene importantes consecuencias. En primer lugar, debido a que el ngulo 2V
entre los ejes pticos depende de los ndices de refraccin principales n, n y n, al
variar stos con la longitud de onda, 2V variar. Este fenmeno se denomina dispersin
de los ejes pticos, y puede ser tan importante que incluso haga variar el signo ptico de
la sustancia. En segundo lugar, en los sistemas triclnico y monoclnico, los ejes del
elipsoide rotan respecto de los ejes cristalogrficos (rotacin de la indicatriz ptica).
El primer fenmeno se observa aislado en los cristales ortorrmbicos y se indica
por >V, si el ngulo 2V es mayor para el rojo que para el violeta (figura (I.6)), o por
< V en caso contrario [12].
azul

rojo
001

010
100
Fig.(I.6). Dispersin en un cristal ortorrmbico.

En los cristales monoclnicos la dispersin produce, adems del efecto anterior,

un giro del elipsoide alrededor del eje binario posible o real de un cristal. Los fenmenos
posibles se resumen en la figura (I.7).

28

001
100

001
100

010

001
100

010

010

Fig.(I.7). Dispersin en cristales monoclnicos

El caso de giro del plano de los ejes pticos segn la bisectriz aguda se denomina
dispersin cruzada; cuando el giro se verifica segn la bisectriz obtusa, dispersin
horizontal o paralela. Por ltimo, si el giro se produce normalmente al plano de los ejes
pticos, se tiene dispersin inclinada.
En los cristales triclnicos, finalmente, no hay casos especiales, y cada cristal es
un problema distinto.

I.2.2. Variacin de la birrefringencia con la temperatura.

La dependencia del ndice de refraccin con la temperatura puede expresarse

mediante una relacin de la forma

dn
= A + Bt ,
dt

(I.55)

donde A y B son constantes propias de la sustancia para un intervalo dado de

temperatura t en oC y una determinada longitud de onda. En general, B es muy pequeo,
del orden de

10-10, por lo que para fines prcticos, la relacin anterior se simplifica, y

29

el valor del ndice a una temperatura t en funcin de una temperatura de referencia to,
viene expresado por

n t = no 1 + A ( t t o ) ,

(I.56)

siendo A la constante anterior y no = n(to).

Esta ltima ecuacin deja de ser vlida en intervalos grandes de temperaturas as
como en temperaturas cercanas a las de transicin del material.
En general, se puede utilizar la teora de Landau [13] de las transiciones de fase
en donde la energa libre de Gibbs, G, se desarrolla en serie por medio de un parmetro
de orden (invariante). Por condiciones de simetra respecto a la inversin

del

parmetro de orden , G tiene que ser par. As, si el cristal se encuentra libre de stress y
campo externo, la energa libre de Gibbs puede desarrollarse en la forma,

G(T,P)

= Go(T) + (1/2)(T)2 + (1/4)(T)4 + (1/6)(T)6 + ...,

(I.57)

donde T es la temperatura absoluta en Kelvin, = 0 indica el punto crtico de la

transicin de fase, > 0 si la transicin es de segundo orden y < 0 cuando es de
primer orden. Si se conoce la relacin entre el parmetro de orden y las propiedades de
anisotropa ptica como la Birrefringencia y la Actividad ptica, conociendo la
dependencia terica del parmetro de orden con la temperatura, sabremos finalmente que
relacin existe entre las propiedades de anisotropa ptica y la temperatura.

Devonshire[14,15] desarrolla esta teora eligiendo a la polarizacin P como

parmetro de orden para fases donde exista y coincida con un eje de simetra. Go es la

energa libre del sistema cuando P = 0, y todos los coeficientes dependen de la

temperatura T. Se observa que (T) > 0 es muy pequeo, pues si no fuera as, no se
producira una situacin termodinmica estable de energa mnima. Cuando en el cristal

30

se produce una polarizacin espontnea P s a una cierta temperatura, las condiciones

que satisfacen un mnimo en G son
G

=0 ,

P Ps

2G

= E = 1 > 0 .

2
P Ps P Ps

(I.58)

Combinando (I.57) y (I.58), se obtiene

Ps ( + Ps2 + Ps4 ) = 0 ,

(I.59)

1 = + 3Ps2 + 5Ps4 > 0 .

(I.60)

La ecuacin (I.59) tiene dos races, Ps = 0 corresponde a fases paraelctricas, es

decir el mnimo de energa corresponde a polarizacin nula, figura (I.8), y Ps 0 a fases
ferroelctricas, es decir el mnimo de energa corresponde a una polarizacin no nula,
figura 9.

(a) Ps = 0 exige que sea positivo para un estado estable del cristal en la fase
paraelctrica. Desarrollando en serie de Taylor en torno a la temperatura de transicin
y teniendo en cuenta slo el trmino de primer orden del desarrollo, (T) = o(T - Tc),
es decir, una funcin continua, que a la temperatura de Curie Tc, da una polarizacin
cero (transicin de segundo orden). Por consiguiente, de la ecuacin (I.60)

31

 = C[4(T - Tc)]-1, (T > Tc)

(I.61)

donde C = 4/. Esta es la ley de Curie-Weiss, que se aplica a la susceptibilidad

dielctrica en una fase paraelctrica, siendo C la constante de Curie-Weiss.
G

P
Fig.(I.8). Variacin de la energa de Gibbs en funcin de la polarizacin
para una fase paraelctrica.

(b) Para el caso en que Ps 0 , pueden analizarse dos soluciones:

(i) Si analizamos el caso en que = 0, Ps2 = - / exige que sea negativo y
positivo, puesto que Ps2 ha de ser solucin de un mnimo y Ps = 0 un mximo en G, luego

Ps2 = K(T-Tc).
G

P
Fig.(I.9). Curva G-P para una fase ferroelctrica con transicin de
segundo orden.

32

(ii) Si ahora analizamos el caso en que 0, siempre positivo, se pueden

presentar transiciones de fase de segundo orden (transiciones continuas, >0)
transiciones de fase de primer orden (transiciones discontinuas, <0).
(ii-a) (>0); las soluciones de Ps2 son

Ps2 = [- ( 2 - 4 ) 1/ 2 ] / 2 ,

(I.62)

Ps2 = [- - ( 2 - 4)1/2]/2 es siempre negativo, puesto que en la prctica, || << 2.

Para la otra solucin, cristal ferroelctrico estable, Ps2 = [- + ( 2 - 4)1/2]/2, < 0.
Este es el caso discutido anteriormente, ya que

Ps2 [- /2 + /2(1 - 2/ 2 + ...)] - /

(I.63)

(ii-b) (<0); si > 0, Ps2 = [- - ( 2 - 4)1/2]/2 corresponde a un estado

inestable (la energa libre G es un mximo). Si < 0, la solucin sigue siendo no
aceptable puesto que Ps2 sera imaginaria. Por tanto, la nica solucin es Ps2 = [- + ( 2
- 4)1/2]/2 que corresponde con un mnimo en G (figura (I.10)) y satisface

< 3 2/16,

(I.64)

Ps2 = -3/4 / + cte.

(I.65)

33

P
Fig.(I.10). Curva G-P para una fase ferroelctrica con transicin de
primer orden.

Por consiguiente, cuando hay transiciones a fases ferroelctricas hay que tener en
cuenta la polarizacin espontnea. La dependencia de sta con la temperatura ha sido
investigada por otros autores, y puede ser determinada por ajuste a una expresin
deducida del desarrollo de la energa libre Devonshire del tipo [14],

1
P = P 2C1 + 1 2
3C
2
s

2
o

T Tc

Tl Tc

1/ 2

(I.66)

donde Po es la polarizacin espontnea en la transicin de fase, Tl es la temperatura de

transicin, Tc la correspondiente temperatura de Curie y C una constante. Lejos de la
transicin de fase, esta ecuacin puede aproximarse a
T T

Ps = Pc c
Tc

1/ 4

(I.67)

y en la vecindad de la transicin,

34

Ps = cte.(T ) ,

(I.68)

es decir, hay que tener en cuenta los exponentes crticos, debido a que la teora de
Landau no explica adecuadamente el fenmeno crtico de la transicin.
Por tanto, conocida la dependencia con la temperatura de la polarizacin
espontnea, en los casos en que sta se manifieste, podremos obtener la variacin de la
birrefringencia espontnea con la temperatura. Por ejemplo, cuando existe una fase
paraelctrica, la variacin de la birrefringencia espontnea es del tipo [16]:

1 * 3
( R 32 n 3 R *22 n 32 ) Ps2 = R *a Ps2
2
1
* 3
( n sc ) = ( R *22 n 32 R 12
n1 ) Ps2 = R *c Ps2 ,
2
( n sa ) =

(I.69)

donde R *ij son los coeficientes electropticos despreciando contribuciones de orden alto.
Si no despreciamos el trmino de sexto orden en el desarrollo de Landau de la
ecuacin (I.57), obtenemos el parmetro de orden

T To
= 1 + 1
T1 To
2

2
1

1/ 2

donde = T - To, T1 = To + 2/4 y 12 = - /2.

I.2.3. Rotacin de la indicatriz ptica con la temperatura.

35

(I.70)

El ngulo de rotacin de la indicatriz ptica, , alrededor de uno de los ejes

principales x1, y2 z3, viene dado por [11]:

tg( 2 3 ) =

2 12
2 13
2 23
; tg( 2 2 ) =
; tg( 2 1 ) =
,
22 11
33 11
33 22

(I.71)

donde 1, 2 y 3 son los ngulos rotados alrededor de los ejes principales x, y, z

respectivamente y jj ;son las componentes del nuevo tensor transformado al plano

(x,y,z). Ver figura (I.11).

y
y
D2

D1

Fig.(I.11). Seccin elipsoidal del elipsoide de ndices en el plano (x,y).

Los ejes xe y representan los ejes de los autoestados de polarizacin

relativos a x e y. El vector de onda k y z son normales al plano de la

figura.

Como en el caso de la rotacin de la indicatriz ptica con la longitud de onda, la

indicatriz rotar con la temperatura. Por tanto, para que esta rotacin tenga lugar el
tensor

[] estar perturbado por las influencias externas.

36

Para una longitud de onda fija, las componentes del tensor [] perturbado,
pueden ser funcin de la temperatura T, la polarizacin P y la deformacin , por
consiguiente este tensor se expresa ,

ij = F(T,P,),

(I.72)

donde P = 0 y = Pkl T indica estados paraelctricos en ausencia de stress mecnico

y elctrico. P = Ps y = Skl + Pkl T indica la presencia de polarizacin y
deformacin espontnea en estados ferroelctricos. La relacin entre la rotacin de la
indicatriz ptica P en el plano (i,j) y el tensor perturbado viene dada por la expresin
1
( j i )tg(2 P ) ,
2

ij =

(I.73)

donde jj = j = 1/nj2.
Cuando P es pequeo, se tiene que

P = [1/(jj - ii)] ij,

(I.74)

donde,

ij = ij
T

P ,

ij

T +

kl

P ,T

2 ij
kl +
Pk Pl

T ,

Pk Pl ,

con la presencia del ltimo trmino para tener en cuenta las fases ferroelctricas.
En fases paraelctricas,

37

(I.75)

 ij

ij =

P,

donde ij

P ,

ij

T +

kl

P ,T
P,T P
kl = ( ijP , + p ijkl
kl )T , (I.76)

son coeficientes termopticos correspondientes a las componentes de un

tensor simtrico de segundo rango que expresa como vara el tensor ij con la
temperatura cuando el material est sometido a una polarizacin y deformacin
P ,T
constantes; p ijkl
son los coeficientes elastopticos a polarizacin y temperatura
constantes, mientras que Pkl son los coeficientes de expansin o dilatacin trmica a
polarizacin constante. Finalmente de (I.74) y (I.76), la rotacin de la indicatriz ptica
con la temperatura viene dada por

P ( Fase Paraelctrica ) =

P ,T P
( ijP , + p ijkl
kl )

( ii jj )

T .

(I.77)

En la ecuacin (I.77) se observa una dependencia lineal de la indicatriz ptica con

la

temperatura si consideramos que las variaciones con la temperatura de los

coeficientes termopticos y elastopticos es despreciable.

En la fase ferroelctrica,
,
P ,T P
P ,T
Pk Pl ,
ij = ( ijP , + p ijkl
kl ) T + p ijkl
Skl + R Tijkl

(I.78)

T,

donde Skl = q klmn Pm Pn , con qklmn los coeficientes de electrostriccin y R ijkl los
coeficientes del efecto electroptico cuadrtico. Por tanto en esta fase, teniendo en
cuenta un eje de mxima polarizacin espontnea, Ps = Ps mx, la rotacin de la
indicatriz ptica es

P ( Fase Ferroel. ) = P ( Fase Parael. ) +

38

,
P ,T S
p ijkl
q klmn + R Tijkl

jj ii

Ps2 ,

(I.79)

 tambin ,
P ,T S
T,
p ijkl
q klmn + R ijkl
s =

jj ii

2
Ps = R *ijkl Ps2 .

(I.80)

En la ecuacin (I.79) se observa ahora una dependencia cuadrtica de la indicatriz

ptica con la polarizacin espontnea [17].

I.2.4. Variacin de la actividad ptica con la longitud de onda.

Debido a que el ndice de refraccin de una sustancia depende de la longitud de

onda empleada, el poder rotatorio de un cristal tambin es funcin del tipo de luz
utilizado en el experimento. Esta dependencia fue ya determinada por Biot a principios
del siglo XIX de manera aproximada, como incremento inversamente proporcional al
cuadrado de la longitud de onda . Ambas magnitudes vienen ligadas por la ecuacin de
Drude [18],

= km / ( - m2),

(I.81)

donde m es una longitud de onda correspondiente a una frecuencia caracterstica de la

vibracin y km una constante que depende del nmero de vibradores u osciladores por
cm3 y otras constantes del medio.

Teniendo en cuenta el modelo helicoidal de la actividad ptica, el poder rotatorio

especfico en grados puede expresarse a partir de la ecuacin (I.22) por

39

[] = = 144002
lc

No

(n

+ 2 ( + )
3
M

(I.82)

donde l es el grosor en dm , c la concentracin en g/cc si dicha sustancia est en

solucin,

N = No c / M, con No el nmero de Avogadro y M el peso molecular.

Otra magnitud utilizada suele ser la rotacin molecular definida por,

[M] = (M /100)[],

(I.83)

con lo que teniendo en cuenta las ecuaciones (I.21) y (I.82), se obtiene

[M ] = 24 N o

e2
mec2

n 2 + 2 r 2 s

2
2
3 r + s

2o
2
2

(I.84)

La rotacin molecular, ser dextrgira si la magnitud s >0 mientras que sern levgiras si

s < 0. Esta ecuacin fue derivada suponiendo que sobre los electrones no actan fuerzas
disipativas, lo cual no es cierto cuando estamos en frecuencias prximas a una banda de
absorcin. En estas regiones espectrales, la oscilacin electrnica cambiar la fase de la
onda que viaja atravs del medio dando lugar a una onda elpticamente polarizada. Por
otra parte, cuando la longitud de onda es ms pequea que o, la rotacin ptica
cambia de signo dando lugar al fenmeno conocido como efecto Cotton.

De manera similar a la ecuacin anterior, si la molcula contiene varios electrones

movindose en diferentes caminos helicoidales, la rotacin ptica puede expresarse por la
relacin,

40

[M] = Bi /(2-i2),

(I.85)

donde el sumatorio se extiende a todas las bandas de absorcin y las constantes Bi se

determinan por la forma de los caminos helicoidales.
Por tanto, los efectos de la absorcin y la rotacin ptica en funcin de la
longitud de onda pueden verse grficamente en la siguiente figura [18].

Rotacin
ptica

Absorcin

Fig.(I.12). Relacin entre la absorcin y la rotacin ptica en funcin de

la longitud de onda del haz incidente.

donde se observa que el poder rotatorio cambia de signo en la regin de absorcin

(dispersin ptica rotatoria anmala).

I.2.5. Variacin de la actividad ptica con la temperatura.

41

El poder rotatorio de un cristal aumenta con el incremento de la temperatura de

forma que puede expresarse mediante la relacin

t = o(1 + At + Bt2),

(I.86)

donde o es el poder rotatorio de la sustancia a 0oC , A y B son constantes propias de la

sustancia y t la temperatura en 0oC. En general, B suele ser pequea en temperaturas no
muy lejanas de la temperatrura ambiente y, en muchos casos, se puede afirmar que

t = o(1 + At ).

(I.87)

Las componentes del tensor giracin en fases ferroelctricas puede escribirse

como

g ij = *ijk Ps

(I.88)

en trminos de los coeficientes de electrogiracin *ijk [4].

I.3. Influencia de la absorcin.Dicroismo.

42

En los cristales fuertemente absorbentes la influencia del coeficiente de extincin

k es grande en la propagacin de las ondas luminosas en el interior del cristal. En un

cristal transparente, las superficies de igual amplitud y de igual fase coinciden, mientras
que en los fuertemente absorbentes no. En este caso, la indicatriz es compleja, en el
sentido de tener una parte imaginaria, y tiene un sistema complejo de ejes de simetra. En
la indicatriz compleja existen, por tanto, dos elipsoides de tres ejes con centro comn,
pero con diferente orientacin y dimensiones. Todos los radiovectores son funcin
complicada del ndice de refraccin n, del ndice de extincin k y del ngulo entre los
ejes de ambos elipsoides [12].
En los cristales cbicos, todas las direcciones tienen el mismo coeficiente de
extincin k. Por tanto, no existen cristales cbicos pleocroicos. La indicatriz compleja
son dos esferas concntricas, una para n y otra para k. Este ndice complejo se expresa
por

n' = n - i k.

(I.89)

En los cristales unixicos (tetragonales, hexagonales y trigonales), k tiene dos

valores extremos, uno paralelo al eje principal y el otro normal al mismo. El eje de
absorcin, es decir, la direccin segn la cual se presenta la mxima discrepancia en k,
coincide con el eje ptico. Este fenmeno, de existir dos colores extremos, se denomina
dicroismo. La indicatriz compleja est formada por dos superficies de revolucin con
ejes paralelos pero de valores diferentes, correspondientes a los valores extremos de n y

k, siendo las leyes de polarizacin las mismas que en los cristales transparentes. Es decir,
si denotamos por ke y ko los coeficientes de extincin del rayo extraordinario y ordinario
del medio para la luz linealmente polarizada paralela y perpendicular al eje ptico
respectivamente, y d el espesor de la lmina cristalina, el desfase entre ambas viene dado
por,

43

2
d ( n e n o ) + i( ko ke ) .

(I.90)

En los cristales bixicos el fenmeno es complejo. Cada cristal tiene tres ejes
principales de absorcin, los cuales coinciden, en el sistema rmbico, con los ejes de la
indicatriz ptica. En el sistema monoclnico, slo uno de los ejes de absorcin coincide
con b y, por consiguiente, el elipsoide de absorcin y el ptico estn desplazados,
teniendo comn slo una direccin. En el triclnico, ambos elipsoides son completamente
independientes. La existencia de tres ejes principales de absorcin hace que en cualquier
direccin del cristal se observe pleocroismo. El carcter de la birrefringencia ya no es el
mismo que en los cristales transparentes, puesto que el valor mnimo de n no coincide
siempre con el menor de k. Por tanto, las hojas de la indicatriz compleja son muy
complicadas y se apartan mucho de la forma elipsoidal.
Si el medio es pticamente activo, es decir, existe una diferencia en los ndices de
refraccin de los autoestados de la luz circular dextrgira y levgira en que se
descompone la onda linealmente polarizada incidente, se producir una diferencia en la
absorcin de dichos estados. La relacin entre el poder rotatorio ptico y el dicrosimo
circular puede verse a travs de la expresin de Kramers-Krnig.

Si consideramos una luz incidente polarizada linealmente,

E 1i 1
= ,
E i 0
2

(I.91)

sobre un cristal pticamente activo, dentro de l, dicha onda se divide en una onda
circularmente polarizada dextrgira y otra circularmente polarizada levgira,

44

 E 1i d 1 1
= ,

E i 2 i
2d

E 1i l 1 1
=

E i 2 i
2l

(I.92)

con ndices de refraccin nd, nl y coeficientes de extincin kd, kl respectivamente.

Despus de pasar a travs del cristal de espesor d, los estados de las dos ondas
circularmente polarizadas pueden expresarse de la siguiente manera,

i ( 2 dn d )
E 1t d 1 ( 2 dk d ) e

e
i ( 2 dn )
Et = 2
2d
ie d

(I.93)

i ( 2 dn l )
E 1t l 1 ( 2 dk l ) e

e
.

2
Et = 2
i ( dn l )
2l
ie

(I.94)

El estado de la luz emergente de la luz est dado por

E 1t E 1t d E1t l
=
+
=
Et Et Et
2 2d 2 l
1
e
2

2
dk d )

i(

2
dn d )

2
2
( dk d ) i ( dn ) ,

e
1+ e

2
2
( dk ) i ( dn )
i(1 e d e

45

(I.95)

donde n = nd-nl

es la birrefringencia circular (BC) y

k = kd-kl el dicroismo

circular (DC). Esta ecuacin expresa una luz elpticamente polarizada con azimut y
una elipticidad k = tan , como se muestra en la figura (I.7), donde

2
dn ,

k=

2
dk .

(I.96)

Fig.(I.13). Estado de polarizacin de la luz emergente de un cristal que

exhibe actividad ptica y dicroismo circular. Generalmente es una luz
elpticamente polarizada con un azimut y una elipticidad k = tan .

Dichas ecuaciones implican que el DC y la BC pueden obtenerse de y k de una

manera independiente [19].

I.4. Anisotropa ptica Inducida. Efectos electropticos.

Las propiedades pticas de un cristal pueden verse afectadas por influencias

externas, tales como la aplicacin de campos elctricos, magnticos o esfuerzos
mecnicos [20]. Entre los efectos inducidos por campos elctricos y magnticos, cabe

46

destacar el efecto Pockel (efecto electroptico lineal con el campo elctrico), el efecto
Kerr

(efecto

electroptico

cuadrtico

con

el

campo

elctrico),

el

efecto

electrogirotrpico, la rotacin Faraday (rotacin ptica con el campo magntico) y

efectos combinados.
Las propiedades pticas de los materiales y los cambios inducidos en dichas
propiedades por agentes externos pueden describirse mediante el tensor de
permitividades relativas [] o atravs de su inverso, el tensor de impermeabilidades [].
En particular los efectos electropticos tanto lineal como cuadrtico inducen
cambios en la birrefringencia lineal del material, y pueden representarse como
perturbaciones simtricas del tensor de impermeabilidades.
As, despreciando efectos elastopticos, si se tiene en cuenta la polarizacin

dielctrica P como una polarizacin total debida a la contribucin de la polarizacin

espontanea y la inducida por el campo elctrico externo aplicado E , la respuesta del

medio a las fuerzas internas

y externas puede expresarse por varias ecuaciones

equivalentes dependiendo del conjunto de variables independientes utilizadas (campo

elctrico externo, polarizacin dielctrica). La relacin entre el cambio del tensor
impermeabilidad y dichas variables en medios libres de tensiones mecnicas y
deformaciones est dado por [21],

(1 / n ij2 ) =

(1 / n 2ij ) =

( rijk ) E k +

( f ijk ) Pk +

k = 1, 2 , 3

k = 1, 2 , 3

47

k , l =1, 2 , 3

k , l =1, 2 , 3

( sijkl ) E k E l

( g ijkl ) Pk Pl

(I.97)

(I.98)

donde los coeficientes tensoriales r,f (efecto electroptico lineal Pockels); s,g (efecto
elctroptico cuadrtico Kerr) dependen de la temperatura y/o longitud de onda de la
radiacin incidente.
Los coeficientes rijk y sijkl estn relacionados con fijk y gijkl por las expresiones
[22,23]:

f ijk =

g ijkl =

rijk

(I.99)

k o
sijkl

(I.100)

( k o )( l o )

El primer trmino de la ecuacin (I.97) expresa el efecto electroptico lineal que

es nulo cuando el cristal es centrosimtrico. En tal caso, el nico efecto observado es el
efecto Kerr. Por el contrario en materiales no centrosimtricos el efecto cuadrtico es
despreciable frente al efecto Pockels.
Un campo elctrico aplicado puede no solo inducir una birrefringencia lineal, sino
que en muchos casos tambin puede inducir una birrefringencia circular a travs del
efecto electrogirotrpico. Este efecto puede expresarse en potencias del campo elctrico

E o de la polarizacin P segn [24]

g ij = g (ijo ) + ijk E k + ijkl E k E l + ...

(I.101)

g ij = g ij( o ) + ijk Pk + ijkl Pk Pl + ...

(I.102)

donde g (ijo ) es el tensor giracin en ausencia de campos elctricos y polarizaciones, ijk y

ijk son los coeficientes de electrogirotropa lineal con el campo elctrico y la

48

polarizacin respectivamente; ijkl y ijkl son los coeficientes de electrogirotropa

cuadrtico con respecto al campo elctrico y la polarizacin respectivamente. La relacin
entre los coeficientes ijk y ijk as como la relacin entre ijkl y ijkl vendr dada por
la susceptibilidad elctrica .

I.5. Referencias.

1. J.F. Nye. Physical Properties of Crystals. Oxford University Press, New York, 235274 (1985).
2. A.M. Glazer and K. Stadnicka. J. Appl. Cryst., 19, 108-122 (1986).
3. H. Meekes and A. Janner. Physical Review B, 38, 8075-8087 (1988).
4. J. Kobayashi. Phase Transitions, 36, 95-128 (1991).
5. E.U. Condon. Reviews of Modern Physics, 9, 432-437 (1937).
6. W.Kauzmann. Quantum Chemistry. Academic Press Inc.New York (1957).
7. G.N. Ramachandran. Proc. Ind. Acad. Sci., 33, 217-227 (1951).
8. G.N. Ramachandran. Proc. ind. Acad. Sci., 33, 309-315 (1951).
9. G.S. Lndsberg. ptica. Ed. Mir Mosc. Vol 2 (1976).
10. Landau y Lifshitz. Fsica Terica, Electrodinmica de los medios continuos. Ed.
Revert S.A. Vol. 8 (1981).
11. T.A. Maldonado and T.K. Gaylord. Appl. Opt. 28, 2075-2086 (1989)
12. J.L. Amors. Cristalofsica. Vol. I. Ed. Aguilar (1958).
13. L.D. Landau. "On the theory of phase transitions, part I and II". Ed. D. ter Haar,
Gordon and Breach. (1967).
14. A.F. Devonshire. Philos.Mag. 40, 1040 (1949).
15. Y. Xu. Ferroelectric Materials and Their Applications. North-Holland. Amsterdam
(1991).

49

16. O.S.Kushnir, Y.I.Shopa and O.G.Vlokh. Ferroelectrics, 143, 187-193 (1993).

17. N.R. Ivanov and L.A.Shuvalov. Sov.Phys.Crystallog., 11, 534-538 (1967).
18. J.R. Partington. An advance treatise on Physical Chemistry, 4, 354-381 (1981).
19.Y.Uesu, M.Sekiguchi,M.Inoue and T.Yagi. J.Phys.C.: Solid State Phys. 20, 58775887 (1987).
20. I.G. Fonrodona. Opt. Pur. Apl., 20, 13-20 (1987).
21. P.Bernasconi, M.Zgonik and P.Gnter. J.Appl.Phys. 78, 2651-2658 (1995).
22. A. Yariv and P. Yeh. Optical waves in Crystals. Ed. Wiley, New York (1983).
23. T.S.Narasimhamurty. Photoelastic and Electro-Optic Properties of Crystals. Plenum
Press.New York and London (1981).
24. A. Miller. Phys. Rev. B. 8, 5902-5908 (1973).

50

Captulo II
Mtodos de medida de anisotropa ptica

CAPITULO II

Mtodos de medida de Anisotropa ptica

II.1.

Para estudiar los fenmenos de birrefringencia y actividad ptica descritos en el

captulo anterior, se necesitan instrumentos capaces de medir estas propiedades. Para
ello, hay que distinguir los materiales que presentan nicamente

birrefringencia o

actividad ptica de aquellos donde ambos fenmenos coexistan.

En este captulo, describiremos algunas de las tcnicas polarimtricas de uso
comn en estudios de anisotropa ptica. Dichas tcnicas se utilizan tanto para medidas
de la anisotropa natural ( birrefringencia lineal, actividad ptica, dicroismos) como en la
medida de anisotropa ptica inducida por tensiones mecnicas u ondas acsticas y
mediante campos elctricos o magnticos. Todos estos efectos de anisotropa inducida
han adquirido un enorme inters tecnolgico en las ltimas dcadas, fundamentalmente
ligados al desarrollo de las comunicaciones pticas y en particular de la ptica integrada.

Un diagrama general de un dispositivo de estas caractersticas se muestra en la

figura (II.1).

Fig. (II.1). L: luz, P: polarizador, M: muestra, A: analizador y D:

detector.

En general la Polarimetra define la medida del estado de polarizacin de un

vector de onda polarizado y conociendo su estado de polarizacin a travs de un medio,

51

podemos obtener informacin acerca de este medio. La interaccin entre la onda

luminosa y el medio material puede hacerse de varias maneras [1]:
(1) Reflexin o Elipsometra de Superficie: cuando la luz es reflejada en la
interfase entre dos medios pticamente diferentes, el estado de polarizacin cambia
debido a la diferencia de los coeficientes de reflexin o transmisin para las dos ondas
linealmente polarizadas paralela y perpendicular al plano de incidencia.
(2) Transmisin o Polarimetra: aqu el estado de polarizacin cambia
continuamente cuando la luz progresa a travs de un medio que exhibe anisotropa

(3) Elipsometra por Scattering: sta tiene lugar cuando la luz atraviesa un medio
con ndices de refraccin espacialmente inhomogeneos causados por la presencia de
centros de esparcimiento ("scattering").

II.2. Medida de la birrefringencia.

II.2.1. Mtodos tradicionales de compensacin.

Se han venido utilizando los compensadores (Berek, Babinet, Soleil, Erhighaus,

Snarmont...)[2,3,4]. Los compensadores estn basados en el mecanismo de
compensacin, es decir, reducir las vibraciones o polarizaciones elpticas, circulares o
lineales producidas por lminas birrefringentes a polarizaciones lineales vibrando
perpendicular al plano de vibracin del analizador. Generalmente la lmina birrefringente
se rota 45 o 135 grados y el compensador se coloca en el sistema ptico a 45 grados
relativos al polarizador. El compensador ha de ser capaz de producir variaciones en la
diferencia de camino ptico ms grandes que las producidas por el objeto birrefringente.
Esta diferencia de camino ptico, L , est dada por

52

L = m = (n - n)d

(II.1)

donde m es un entero o nmero fraccional, es la longitud de onda de la luz incidente

sobre la lmina birrefringente,

y n son los ndices de refraccin para las dos

componentes transmitidas por el specimen, (n- n) es la birrefringencia y d es el

grosor de dicha lmina.
En los compensadores de cuarzo graduados, la escala graduada en diferencia de
caminos pticos o unidades arbitrarias se observa mediante la combinacin de un
analizador y un ocular. La compensacin produce una linea oscura que cruza la cua. La
posicin de esta linea da la diferencia de camino ptico directamente o por clculo
directo.
El compensador de Bereck se inserta encima del objetivo del microscopio. Una
lmina de calcita se corta normal al eje ptico y se monta sobre un eje de rotacin
paralelo a dicha lmina, de modo que pueda medirse la posicin angular de la lmina de
calcita. Para determinar la diferencia de camino ptico en el cristal, ste se rota en la
plataforma del microscopio hasta que su eje rpido sea paralelo al eje lento de la lmina
de calcita inclinada en el compensador (extincin). El ngulo que rota la lmina de
calcita desde el comienzo hasta la posicin de extincin multiplicado por una constante
instrumental mide la diferencia de camino producida por el cristal.
Los compensadores de Babinet y Soleil consisten de dos cuas delgadas de
cuarzo dispuestas de tal forma que una de ellas es mvil sobre la otra, permaneciendo
las caras externas paralelas. Ambas cuas se cortan de forma que en una de ellas el eje
ptico sea paralelo a la superficie exterior de la cara y al plano de incidencia, mientras
que la otra se corta de manera que el eje ptico sea tambin paralelo a la superficie
externa pero normal al plano de incidencia de la luz. Cuando el grosor es el mismo en
ambas cuas no hay diferencias de caminos pticos y cuando hay movimiento, al
cambiar el grosor, se produce el desfase a medir.

53

Los compensadores de Snarmont contienen generalmente una lmina de mica

cuarto de onda que puede rotarse sobre un eje de rotacin vertical por medio de un rotor
graduado. La compensacin, en este caso slo es posible con luz monocromtica y mide
diferencias de caminos pticos por encima de la longitud de onda. La disposicin de los
elementos pticos puede observarse en la figura (II.2) [5], donde se utiliza un
polarizador lineal, el specimen birrefringente cuyo eje rpido se encuentra a 45 grados
respecto del eje perpendicular al eje de transmisin del polarizador (eje OY), un lmina
cuarto de onda (lmina que desfasa en /2) cuyo eje rpido es paralelo al eje OX y
finalmente un polarizador lineal (analizador) cuyo eje de transmisin hace un ngulo
con OX.

lento
Y

rpido

rpido

45
X

PY
Fig.(II.2). PY : polarizador lineal, M: muestra birrefringente, L: lmina
cuarto de onda y A : analizador rotante.

La luz que emerge de la lmina cuarto de onda es linealmente polarizada cuyo

plano de polarizacin forma un ngulo de /2 con el eje OY, donde

= kL = (2/)(n - n)d

54

(II.2)

Si el analizador se rota en sentido contrario al de las agujas del reloj un

ngulo = /2 , ocurrir extincin, pudindose medir el desfase y por lo tanto

L = /.

Tales dispositivos tienen las siguientes desventajas: (a) se necesitan medidas

manuales punto por punto, (b) la precisin de la medida est limitada a grandes
compensaciones, es decir los compensadores no llegan a retardos (n)d grandes, (c) la
mayora de ellos miden nicamente el desfase relativo, de forma que habr que hacer
varias medidas.
Dentro de estos mtodos tradicionales cabe englobar al mtodo de desviacin
si somos capaces de obtener prismas bien pulidos y los mtodos
interferomtricos de Michelson o Fabry Perot.

II.2.2. Medida de la intensidad de luz.

Un segundo mtodo para determinar la birrefringencia es medir la intensidad de

la luz transmitida a travs de la muestra dispuesta entre polarizadores cruzados [6]. Bajo
estas condiciones se obtiene una seal de la forma

I = Iosen2(2)sen2(/2)

(II.3)

donde Io es la intensidad de la luz incidente, es el ngulo entre el polarizador y uno de

los ejes del cristal y es el cambio de fase introducido por la diferencia de caminos
pticos.

55

II.2.3. Mtodos de modulacin.

Las tcnicas de modulacin pueden remediar las desventajas de los mtodos

tradicionales.

(1) mtodo del analizador rotante: este mtodo [7] se utiliz para medir
rotacin magnetoptica y es conveniente para observar cambios relativos en la
birrefringencia en funcin de una variable continua (temperatura, posicin de la muestra,
etc.). Los componentes pticos de este dispositivo son (figura (II.3)): (a) un polarizador

/4 colocada a 45o respecto del polarizador, produciendo luz

circularmente polarizada incidente sobre la muestra; (c) la muestra, con orientacin y
diferencia de fase ; (d) un analizador, rotando a una frecuencia angular .

lento
Y

rpido
45o

A
M

/4
PY
Fig.(II.3). P Y : polarizador lineal, M: muestra birrefringente, lmina
cuarto de onda (
/4) y A : analizador rotante.

En estas condiciones la intensidad de luz que pasa a travs del analizador toma la
forma

I = (Io/2) [1 + sen2(t-)sen ]

56

(II.4)

que da una seal alterna de frecuencia 2, fase 2 que da una medida de la rotacin de
la indicatriz ptica y amplitud proporcional a sen.

Este dispositivo tiene dos modos de operacin: (a) si 0 m la seal ser

lineal y el sistema da una medida directa de retardo ptico. Utilizando un compensador
Bereck como cristal test pueden obtenerse precisiones unas 100 veces mayor que
cuando el compensador Bereck se utiliza manualmente. Este modo de operacin es til
en aquellos casos donde el cambio en la birrefringencia es pequeo. Para satisfacer el
requerimiento que m se puede insertar un compensador en el camino ptico. Hay
que decir que la tcnica no depende directamente de la intensidad de la luz y debe de ser
calibrada para obtener una escala absoluta. (b) si el cambio en el retardo ptico es grande
( >> ), la salida del instrumento ser peridica, obtenindose el cambio en el retardo
ptico por las posiciones de los mximos y mnimos de la seal.

(2) Modulador fotoelstico a alta frecuencia:

moduladores fotoelsticos, es ms sensible para medir con precisin los retardos muy
pequeos. El dispositivo [8] consta de la luz monocromtica o en su caso de luz blanca
mas monocromador, un modulador fotoelstico, una muestra birrefringente, un
analizador y el detector (figura (II.4)). La disposicin no es nica, pudindose
intercambiar muestra y modulador o en algunos casos fuente y detector. Segn Modine
y colaboradores, la mejor orientacin de los componentes pticos es cuando el eje de
los sucesivos componentes est a 45o con relacin al anterior.

57

F M
L1

M.F.

C.B.
A

L2

Fig.(II.4). F: fuente, M: monocromador, L1: lente focalizadora, P:

polarizador, M.F.: modulador fotoelstico, C.B.: cristal birrefringente, A:
analizador, L2: lente colimadora y D: detector.

El modulador fotoelstico convierte la luz linealmente polarizada en una luz

elpticamente polarizada oscilante levgira y dextrgira a la frecuencia de resonancia de
dicho modulador.
Por clculo de Jones puede demostarse que la intensidad transmitida por el
analizador viene dada por

I = (Io/2) [1 + sen sen ]

(II.5)

donde = o sent, siendo o la amplitud del retardo del modulador que es

proporcional a la corriente de oscilacin aplicada e inversa a la longitud de onda. De esta
manera, cualquier birrefringencia en la muestra da lugar a una modulacin de la
intensidad que es fcilmente leda por el detector. En la prctica se suele maximizar la
componente fundamental de la intensidad modulada que tiene una funcin armnica
descrita por

sen = 2 Jm(o) sen(mt),

m

58

(II.6)

donde m es un nmero impar y Jm(o) son las funciones de Bessel. As, la funcin de
Bessel J1(o) es mxima cuando o = 105o.

II.3. Medida de la actividad ptica.

La medida del giro del plano de polarizacin producido por una substancia
determinada tiene una gran importancia, pues permite comprobar la pureza de un cuerpo
activo. Es un mtodo rpido para determinar con bastante precisin la concentracin de
una disolucin, cuando en ella existe una nica sustancia activa.
Los cristales girotrpicos, adems de dar gran informacin sobre la estructura
acerca de los centros de coordinacin, simetra, transiciones de fase, deformacin de
molculas, se utilizan para la generacin de segundos harmnicos, debido a la
correlacin entre la actividad ptica y las propiedades no lineales. Tambin pueden
emplearse como elemento desacoplador en un sistema ptico como moduladores de

La medida de la rotacin ptica con la longitud de onda en semiconductores, da

informacin sobre la estructura de bandas y las leyes de dispersin de las bandas de
valencia y conduccin, masa efectiva y concentracin de portadores, el potencial de red
y el espectro de energa de los electrones .

En general existen tres tipos de polarmetros destinados a esta medida: los

polarmetros simples, los polarmetros de penumbra y los polarmetros de

Los polarmetros simples, figura (II.5), constan de un polarizador y analizador y

entre medias la muestra de caras plano paralelas, de modo que una vez que polarizador y
analizador estn cruzados, al colocar la muestra pticamente activa, har rotar el plano
de la luz linealmente polarizada incidente que previamente ha sido colimada.

59

Fig.(II.5). P : polarizador lineal, M: muestra y A: analizador .

El polarmetro de penumbra ms corriente es el de Laurent, figura II.6(a), cuya

modificacin consiste en dividir el campo de visin en dos mitades, figura II.6(c),
mediante una lmina 1/2 de onda de cuarzo en el caso del plarmetro de Lippich que a
continuacin del polarizador inicial coloca un pequeo nicol que cubre la mitad del

/2

PD

(a)

D M

(b)

(c)
Fig.(II.6). (a) P : polarizador lineal, D: diafragma y a continuacin lmina
/2, M: muestra y A: analizador . (b) Dispositivo de Lippich y (c) campos
de visin.

Una modificacin en el modelo de Lippich, figura (II.7), el campo queda dividido

en tres partes, gracias a dos pequeos nicoles N1 y N2.

60

D M

II.4. Deteccin de la actividad ptica en medios birrefringentes.

El estudio de la actividad ptica de cristales para la luz propagndose en

direcciones diferentes de los ejes pticos ha tenido bastantes dificultades ya que la
birrefringencia lineal es tpicamente tres rdenes de magnitud ms grande que la
birrefringencia circular. Entre los mtodos no muy numerosos utilizados para estas
medidas, cabe destacar los que analizan los que utilizan aquellos que analizan las
caractersticas de la polarizacin de la luz [11-14] y aquellos basados en la medida
directa de la intensidad de la luz[15-19].
En el primer caso, se trata de obtener el azimut de la elipse de polarizacin de
la luz emergente de la muestra cristalina (-/2 /2) cuando incide un haz
linealmente polarizado con un cierto azimut , figura (II.8).
Para la elipse de polarizacin del haz emergente (figura (II.9) se cumple que,

tg2 = tg2cos
sen2 = sen2sen

donde tg = b/a es la elipticidad de la onda transmitida.

61

(II.6)

P
a
k
b

Fig.(II.8). P : eje de transmisin del polarizador lineal. azimut de la

elipse de polarizacin respecto de P y k la elipticidad de los modos
normales que se propagan en el interior del material.

x
x

Fig.(II.9). Elipse de Polarizacin.

Se pueden obtener expresiones generales para el azimut y la elipticidad

considerando la interferencia de dos ondas elpticas que se propagan a travs del cristal.

62

Entre los primeros trabajos en obtener medidas de actividad ptica en secciones

birrefringentes de cristales se encuentra Szivessy y Mnster[11] y Bruhat y Grivet [12]
en los aos 30 cuyo montaje experimental simplificado se aprecia en la figura (II.8).

Despus de 30 aos son autores rusos como Konstantinova [13] los que analizan
y miden la elipticidad de los modos que se propagan en el cristal, figuras II.10(a)-(b). Si
escribimos las ecuaciones de las elipses para un cristal dextrgiro:

x1 = cost
y1 = kcos(t + /2)

(II.7)

Fig. II.10(a). Modo de propagacin elpticamente polarizado paralelo al

eje x.

x2 = kmcos(t - )
y2 = kcos(t - - /2)

63

(II.8)

Fig.II.10(b). Modo de propagacin elpticamente polarizado paralelo al

eje y.

La oscilacin resultante es

x = x1 + x2 = sen(t + ) = sen
y = y1 + y2 = s sen(t + ) = s sen( - )

(II.9)

donde

= t + , = -
y
k 2 + m2 2 km cos
= tg = s =
x
1 + k 2 m 2 + 2 km cos

(II.10)

(II.11)

tg =

1 + km cos
km sen

(II.12)

tg =

m sen
k m cos

(II.13)

64

Finalmente, a partir de la ecuacin (II.6)

tg 2 =

sen 2 =

2 m( 1 + k 2 ) sen
( 1 k 2 )( 1 m 2 ) + 4 km cos

(II.14)

{2 k ( 1 m2 ) m( 1 k 2 )cos }
( 1 + k 2 )( 1 + m 2 )

(II.15)

El signo "+" indica que la luz incidente est polarizada perpendicular al eje ptico
mientras que el signo "-" indica polarizacin paralela al eje ptico.

En el caso en que m = k << 1 se obtiene:

tg2 = -2ksen

(II.16)

tg = b/a = k(1 - cos)

(II.17)

donde el signo menos en (II.16) denota que el eje mayor de la elipse de polarizacin de
la luz transmitida rota a derechas y en (II.17) el radio vector se mueve a lo largo de una
elipse dextrgira. Las ecuaciones (II.14-17) son vlidas para cualquier clase cristalina

El procedimiento experimental consiste en colocar el eje ptico del cristal

paralelo o perpendicular a la direccin de polarizacin de la luz incidente cuando el
analizador se ha cruzado con el polarizador. Cuando hay actividad ptica, la posicin de
extincin es indeterminada, por lo que se utiliza un fotomultiplicador que detecte un
mnimo.Variando la longitud de onda puede obtenerse min(), esto es el azimut de la
polarizacin de la luz oscila simtricamente alrededor de la posicin de mnimo. Esta
oscilacin puede determinarse del indicador nulo de un detector de fase.

65

A partir de (II.16) max() = k.

Otra expresin general para medios birrefringentes pticamente activos es de la

forma[14]:

tg 2 =

A1tg 2 + B1tg + C1
A2 tg 2 + B2 tg + C2

(II.18)

donde

A1 = 2 k ( 1 + k 2 )sen

(II.19.1)

B1 = 2( 1 + k 2 )cos

(II.19.2)

C1 = 2 k ( 1 + k 2 )sen

(II.19.3)

A2 = ( 1 k 2 ) 2 4 k 2 cos

(II.19.4)

B2 = 4 k ( 1 + k 2 )sen

(II.19.5)

C2 = ( 1 k 2 )2 + 4 k 2 cos

(II.19.6)

con k la elipticidad de las ondas que se propagan en el cristal, aunque es ms

conveniente para programas informticos la expresin:

tg 2( ) =

a4 tg 4 + a3tg 3 + a2 tg 2 + a1tg + a o
b4 tg 4 + b3tg 3 + b2 tg 2 + b1tg + bo

donde

66

(II.20)

a o = - C1 , a1 = 2C2 - B1 , a2 = 2 B2 + C1 - A1 ,
a 3 = 2 A2 + B1 , a4 = A1 ;
bo = C2 , b1 = B2 + 2 C1 , b2 = 2 B1 + A2 - C2 ,

(II.21)

b3 = 2 A1 - B2 , b4 = - A2

Las medidas por este mtodo se basan en la colocacin de la lmina cristalina

normal al haz linealmente polarizado incidente y utilizar un analizador para determinar el
ngulo de rotacin del eje mayor de la elipse de polarizacin de la luz transmitida para
varios valores del azimut . La sustitucin de los correspondientes pares de valores
(,) en las expresiones anteriores y con la ayuda de un programa de minimizacin, se

y k. Finalmente a partir de valores y d (grosor de

muestra) se puede computar la birrefringencia y actividad ptica.
Por otra parte, se trata de obtener medidas directas de la intensidad de luz. En
este sentido aparece el trabajo de Kobayashi et al [16] en 1978 como continuacin a los
trabajos de Anderson et al [15](1974).
La intensidad en el azimut mnimo (cero cristalogrfico) [15] es de la forma,

I = Io[k2/(1 + k2)2]sen2(/2)

(II.22)

donde se trata de obtener los valore extremos y mostrar la dispersin de k2.

La ecuacin de la intensidad emergente [16] cuando la luz linealmente polarizada
incidente encuentra su plano de vibracin a un pequeo ngulo del eje c del cristal, es
de la forma
k 2 + (1 k 2 ) 2
Ix
2
=
= 4
sen ( / 2)
2 2
Io
(1 + k )

67

(II.23)

Cuando = 0 para los cristales pticamente activos, vara entre valores

extremos cuando cambia la longitud de onda del haz incidente. Valores mximos
ocurren para = m, satisfaciendo la condicin,

/2 = (2Nm + 1)/2

(II.24)

siendo
k2
= o = 4
2 2
(1 + k )

(II.25)

y valores mnimos ocurren cuando = n, satisfaciendo ahora la condicin,

/2 = Nm

(II.26)

siendo = 0 con Nm y Nn enteros.

Este fenmeno, de oscilacin de la intensidad, asegura la existencia de actividad

cambia a una longitud de onda constante, = m, se

incrementa linealmente con respecto a 2. Si la muestra es pticamente activa, la linea
intersecta la ordenada en = o, mientras que si intersecta en cero, sern las direcciones
donde no existe actividad ptica.

En este estado del problema de la determinacin simultnea de actividad ptica y

birrefringencia nace la tcnica HAUP [17] (1983), que analizaremos en el siguiente

Le siguen los trabajos de Horinaka [18], Moxon et al [19] y despus de haber

sido utilizado por autores como Meekes [20] o Etxebarria[21], se llega al trabajo de
Vlokh y col. [22].

68

El montaje experimental de Horinaka [18], figura (II.11), consiste de una lmpara

de tungsteno cuya luz pasa sucesivamente a travs de un monocromador, un
polarizador, una muestra, un modulador de fase y un analizador. A la salida se encuentra
un fotomultiplicador.
Y

Luz
monocromtica

Detector

Polarizador

Muestra

Modulador de Fase Analizador

Fig.(II.11). Descripcin de los elementos pticos que intervienen en el

montaje de Horinaka.

Si el modulador de fase gira a una velocidad angular o cuando el desfase = ,

y suponiendo que k2 << 1 y << 1, las componentes de la intensidad emergente
vibrando con velocidades 2o y 4o son:

I 2 o = I 2 o sen 2 o t ; I 4 o = I 4 o cos 4 o t

(II.27)

I 2 o = k ( k 2 + 2 )1/ 2 cos( + ) sen I i

(II.28)

donde

I 4 o =

sen 2 I i
2
2

(II.29)

69

Promediando I 2o , se obtiene ksen Ii, por lo que se puede obtener la

elipticidad de los modos normales,

k=

1
4

I 2o
I 4o

tan ,
2

(II.30)

y por tanto evaluar la girotropa y el poder rotatorio segn,

G = 2k n n ; =

2
kn

(II.31)

Finalmente me referir, al trabajo de Vlock [22] que hace un estudio englobando

el anlisis de las caractersticas de la luz polarizada con medidas directas de la intensidad
emergente. Es decir,

estudia el azimut y la elipticidad de la luz polarizada

emergente de una muestra cristalina. Las medidas de son realizadas por medio del
sistema polarizador-muestra-analizador, cuando la intensidad detectada es mnima y las
medidas de son realizadas por medio del sistema ptico polarizador-muestracompensador-analizador utilizando una lmina cuarto de onda como compensador.
Para un sistema Polarizador-Analizador (PA) como el de la figura II.12(a), el
vector de Jones de la luz emergente se calcula a travs del vector de Jones de la luz
emergente del polarizador,

E P =

+
ip

xy

(II.32)

siendo p una elipticidad residual del polarizador mucho menor que 1 y una
imperfeccin angular, la matriz de rotacin R en un ngulo , dada por

70

 cos sen

R ( ) =

sen

cos

(II.33)

y la matriz correspondiente a un analizador ideal elptico, con elipticidad q << 1,

iq
0

E xy
A =
+ iq
1

(II.34)

cuyo eje est fijado a lo largo del eje OY y con una imperfeccin angular de . En
estas condiciones, resulta para la luz emergente,
xy
E PA

xy
xy
E A R( ) E P

xy xy
J = E PA E PA

(II.35)

(II.36)

El valor =o para este sistema polarizador-analizador que corresponde al

mnimo de intensidad se obtiene de las condiciones

=0

= 0;

2 J
2

>0
=0

resultando =o = - .

71

(II.37)

y, T A
(a)

y, l M
E

(b)

P
o

EA

x, E

EA
TP

x, r M

Fig.(II.12). Ejes de transmisin del polarizador y analizador(TP ,T

). Ejes de extincin
A
del polarizador y analizador (EP ,EA ). Ejes rpido y lento de la muestra (r
.l ).
M M

Para un sistema Polarizador-Muestra-Analizador, figura II.12(b), se tiene la

misma elipticidad p y la imperfeccin angular que se puede redefinir como cero, pero
la imperfeccin cambiar debido a las condiciones de incidencia sobre el analizador.

de la luz incidente, el vector de Jones de la luz

emergente para el caso de secciones birrefringentes y pticamente activas de
monocristales (k << 1) es
xy
E PMA

E Axy R

( + )

xy
EM
R

xy
EP

(II.38)

xy

donde E M representa la matriz correspondiente al material dada por

e i ( / 2)
2k sen( / 2)
E xy
=
M

e i ( / 2)
2k sen( / 2)

(II.39)

De nuevo puede obtenerse el mnimo de intensidad o y por tanto puede

obtenerse el azimut = o + . Este adopta la expresin

72

 = cos + ( k p )sen .

(II.40)

Para obtener la elipticidad del haz emergente, se emplea una lmina /4 cuyo
eje principal coincida con la posicin del eje de extincin del analizador cuando hay
muestra. En este caso = c (PCA)- (PMCA), adoptando la expresin siguiente
despus de aplicar el mtodo de Jones a ambos sistemas

= sen + k ( 1 cos ) + p cos

+

1
p q ( PCA ) + ( PA ) + ( PCA ) 2 ( PMCA )
2

(II.41)

Como resulta difcil la medida absoluta de y , se define del sistema PA, el

mnimo azimut o como

o = o - (PA).

(II.42)

Insertando (II.42) en (II.40) y (II.41),

o = ( k p )cot( / 2 ) +

2 sen2 ( / 2 )

+ ,

(II.43)

donde = (PA) - (PMA) y es la contribucin adicional a o causada por la

rotacin de la indicatriz ptica. Para el valor de la elipticidad caracterstica o =(o):

o = 2 k po + cot( / 2 )

donde

73

(II.44)

po =

1
3 p + q ( PCA ) ( PA ) ( PCA ) + 2 ( PMCA )
2

(II.45)

Los cambios de la birrefringencia lineal se determinan utilizando las ecuaciones

(II.40) y (II.41), de la derivadas de y respecto de . En los experimentos se utilizan
valores relativos , del polarizador y analizador. Entonces

cos =

d
,
d

sen =

d
d

(II.46)

y los valores medidos o correspondientes al azimut o se expresan como

o = o - oo

(II.47)

donde oo es la lectura de la escala del polarizador en el caso o = 0.

Este mtodo junto con el HAUP es muy til para muestras que presenten
transiciones a fases paraelctricas[22,23] donde k = 0 y = 0 y de esta manera, de
(II.44) poder determinar los parmetros parsitos po y . De (II.43),

ef = o tan( / 2 ) k

= p + oo tan( / 2 )
sen

se obtiene p y oo.

II.5. Referencias

74

(II.48)

1. R.M.A. Azzam and N.M. Bashara. "Ellipsometry and Polarized Light". Ed. North
Holland, Amsterdan, (1986).
2. E.E.Wahlstrom. Optical Crystallography. Ed. John Wiley and Sons, Inc, (1969).
3. R.S. Longhurst. Geometrical and Physical Optics. Longman, (1986).
4. F.D.Bloss. Introduccin a los mtodos de Cristalografa ptica.Ed. Omega, (1970).
5. P.S. Theocaris and E.E. Gdoutos. "Matrix Theory of Photoelasticity". Ed. Springer Verlag Berlin, (1979).
6. R.T. Harley and R.M. Macfarlane. J. Phys. C. 8, L451-455 (1975).
7. I.G. Wood and A.M.Glazer. J. Appl. Cryst. 13, 217-223 (1980).
8. F.A. Modine, R.W.Major and E.Sonder. Appl. Opt., 14, 757-760 (1975).
9. V.A. Kizel, Yu. I. Krasilov and V.I. Burkov. Sov. Phys. Usp., 17, 745-773 (1975).
10. J.R. Partington. An advance treatise on Physical Chemistry, 4, 354-381 (1981).
11. G.Szivessy und Cl.Mnster. Annalen der Physik, 20, 703-737 (1934).
12. G. Bruhart et P. Grivet. Journal de Physique, 1, 12-26 (1934).
13. A.F. Konstantinova, N.R. Ivanov and B.N. Grechushnikov. Sov. Phys. Crystallogr.,
14, 222-229 (1969).
14. A.I. Okorochkov, A.F. Konstantinova, L.V. Soboleva and L.I.Khapaeva. Sov. Phys.
Crystallogr.29, 645-649 (1984).
15. W.J. Anderson, Phil Won Yu and Y.S. Park. Opt Commun. 11, 392 (1974).
16. J. Kobayashi, T. Takahashi, T. Hosokawa and Y. Uesu. J. Appl. Phys. 49, 809-815
(1978).
17. J.Kobayashi and Y.Uesu. J. Appl. Cryst. 16, 204 (1983).
18. H.Horinaka, K. Tomii, H. Sonomura and T.Miyauchi. J. Appl. Phys. 14, 755-760
(1985).
19. J.R.L. Moxon and A.R. Renshaw. J.Phys.: Condens. Matter, 2, 6807-6836 (1990).
20. H. Meekes and A. Janner. Phys. Rev. B, 38, 8075-8087 (1988).
21. J. Etxebarria, J.Ortega and T. Breczweski. J.Phys.: Condens Matter, 4, 6851-6858
(1992).

75

22. O.G. Vlokh, O.S. Kushnir and Y.I. Shopa. Acta Physica Pol. A, 81, 571-578 (1992).
23. O.S. Kushnir, Y.I. Shopa and O.G. Vlokh. Ferroelectrics, 143, 187-193 (1993).
23. F.A. Modine and R.W. Major. Appl. Opt., 14, 761-764 (1975).
24. T.E. Walsh. J.Opt.Soc.Am., 62, 81-83 (1972).

76

Captulo III
Tcnica haup

CAPITULO III

Tcnica HAUP
III.1. Ecuaciones Fundamentales.

Hemos visto que cuando sobre una lmina cristalina, que presenta birrefringencia
y actividad ptica, incide normalmente un haz colimado de luz linealmente polarizada, la
luz emergente cambia su estado de polarizacin debido a la introduccin de una
diferencia de fase, , entre los dos modos elpticamente polarizados, y mutuamente
ortogonales, asociados con la onda que se propaga en el medio.

Dicha diferencia de fase viene dada por [1]

= 2B + 2G

1/ 2

(III.1)

con B y G los retardos debidos a la birrefringencia lineal y actividad ptica

respectivamente. Ambos retardos estn relacionados con la elipticidad de los modos de
propagacin de la luz en el cristal en la forma

k = tan( / 2 ), tan =

B
G

(III.2)

Si el haz dentro del cristal se propaga en una direccin alejada de un eje ptico,
entonces B >> G, y la ecuacin que relaciona la elipticidad de los modos de
propagacin con los retardos puede aproximarse por

2k =

B
G

(III.3)

En el mtodo HAUP, la muestra se coloca entre polarizadores cruzados, figura

(III.1), de forma que el azimut de la luz incidente respecto a uno de los ejes del cristal,
77

sea pequeo, y nos movamos en una estrecha zona alrededor de la posicin de mxima
extincin

x
( Eje de transm.
del Polariz.)

x
(Eje rpido
del cristal)

z
( Eje de transm.
del Analiz.)

Fig.(III.1). Representacin esquemtica del azimut de la luz linealmente polarizada

que emerge del polarizador P, el ngulo +
que forma el eje rpido del cristal S, y el
azimut del analizador A, todos con respecto al eje de referencia OX.

Las componentes del campo elctrico de la luz emergente del analizador, puede
expresarse mediante el vector de Jones JF a travs del producto de varias matrices segn

J F = M an R T ( + ) T M T R ( + ) J i

(III.4)

donde Ji representa la matriz de Jones de la luz transmitida por el polarizador dada por
cos cos p i sen sen p
Ji =

sen cos p + i cos sen p

(III.5)

Man representa la matriz de Jones del analizador dada por

(sen 2 cos 2q i sen 2q )
(1 + cos 2 cos 2q)
M an =
(1 cos 2 cos 2q)
(sen 2 cos 2q + i sen 2q)

78

(III.6)

Ambas matrices, tienen en cuenta las elipticidades residuales de los polarizadores

p y q considerados como no ideales y que tradicionalmente no se haban considerado.

Las elipticidades p y q y los azimuts y tienen valores pequeos, haciendo la
aproximacin
1
0
J i ; M an 2
ip
iq

iq
1

(III.7)

La matriz de Jones de una lmina birrefringente pticamente activa viene dad por

e i ( / 2)
2k sen( / 2)
M=e

e i ( / 2)
2k sen( / 2)
i

(III.8)

donde

= ( 2 / ) nd

(III.9)

es un valor geomtrico medio del cambio de fase sufrido por cada modo ortogonal de la
onda que recorre la longitud d dentro del cristal.
En el caso de un material nicamente birrefringente, k = 0 y la matriz M se
convierte en la matriz de Jones caracterstica de una lmina birrefringente.

T y T representan las correspondientes matrices de transmisin a la entrada y

salida de la lmina respectivamente, dadas por
t s
T =
0

t s
0
; T=
t p
0

0
t p

(III.10)

donde ts , ts , tp y tp son las transmisividades o transmitancias de amplitud de la

componente de la onda paralela o perpendicular al plano de incidencia, dadas por las
relaciones de Fresnel.
79

Para materiales de pequea o moderada birrefringencia en incidencia normal,

t s t p = t y t s t p = t . Por lo tanto, el vector de Jones JF de la onda emergente

estar multiplicado por un factor tt que depende del cociente de ndices de refraccin
cercano a la unidad y que en general vara lentamente con la temperatura y longitud de
onda.
La razn de intensidad transmitida por el analizador a intensidad incidente, , se
obtiene a travs del producto

= J F J *F = ( , , p ,q , )

(III.11)

resultando de acuerdo con [2,3]

= A + B + C ( 2 + ) + D + 2

(III.12)

donde

A = Ao + ( p + q )2 + 4 k 2 k ( p q ) pq sen 2 ( / 2 )

(III.13)

B = 2( p + q )sen

(III.14)

C = 4 sen 2 ( / 2 )

(III.15)

D = 2( k p ) sen

(III.16)

siendo Ao un coeficiente que tiene en cuenta el esparcimento incoherente [4], el

mencionado azimut de la luz incidente, el ngulo del analizador respecto de la
posicin de cruzado con el polarizador (figura (III.1)), y p y q las elipticidades parsitas

80

del polarizador y analizador, respectivamente, introducidas para tener en cuenta la no

existencia de polarizadores estrictamente lineales [2].
Dada la existencia de elipticidades parsitas en los polarizadores, as como la
dificultad en conseguir un alineamiento perfecto del montaje experimental y la posible
repetitividad defectuosa en los rotores de los polarizadores[3], se hace imposible la
determinacin exacta de la posicin de polarizadores cruzados. Por ello, en la tcnica
HAUP se asume la existencia de un error [5], , en la determinacin experimental de la
posicin de polarizadores cruzados, de forma que el verdadero ngulo , y el medido,

estn relacionados por

= + .

(III.17)

De esta manera la intensidad relativa emergente, ecuacin (4), ser una

funcin

(, ), siendo los coeficientes

A = Ao + ( p + q )2 + 4 k 2 k ( p q ) pq sen 2 ( / 2 )
+ 2 ( p k ) sen + ( )

(III.18)

B = 2( p + q )sen + 4 sen2 ( / 2 )

(III.19)

C = 4 sen 2 ( / 2 )

(III.20)

D = 2( k p ) sen + 2

(III.21)

Por otra parte, dado que el origen de azimut cero ( = 0) es prcticamente

inaccesible, se hace necesaria la eleccin de otro sistema de referencia ms conveniente
para la medida de stos ngulos. La posicin de polarizador elegida, por su fcil
accesibilidad

es la correspondiente a la de mxima extincin con polarizadores

cruzados, o, dada por la condicin [2]

81


=0.
= 0

(III.22)

Con esta eleccin de origen, el azimut verdadero, , y el experimental, , estn

relacionados por la expresin

= + o.

(III.23)

Teniendo en cuenta estas correcciones, la intensidad relativa transmitida,

ecuacin (III.12), puede ser expresada como una funcin de y en la forma

( , , p , q , , ) = A + C ( 2 + ) + D + 2

(III.24)

siendo los nuevos coeficientes,

B2
A = A
2C

(III.25)

B= 0

(III.26)

C = C

(III.27)

D = D

B
2

(III.28)

y finalmente el azimut correspondiente a la posicin de mnima intensidad transmitida

viene dado por

82

o =

B
+
2C

(III.29)

donde es la rotacin de la indicatriz ptica cuando existe dispersin de ejes.

Sustituyendo los coeficientes antiguos en los nuevos, tendremos las ecuaciones
finales del mtodo HAUP

C = 4 sen2 ( / 2 )

(III.30)

D = ( p q ) 2 k sen + 2 cos2 ( / 2 )

(III.31)

o = ( p + q )cot( / 2 )
+
2
2

(III.32)

siendo y los denominados parsitos de la tcnica HAUP.

III.2. Montaje experimental.

En la figura (III.2), se presenta un esquema del montaje experimental que hemos

construido en nuestro laboratorio, en el que la luz incidente de un lser de He-Ne ( =
632.8 nm) de 5 mW de potencia, se hace pasar a travs de una lmina que desdobla el
haz en uno de referencia y otro que pasa por un polarizador lineal y una lmina de /4
que la transforma en luz circularmente polarizada.
En nuestro caso, el barrido del polarizador ha sido sustituido por el equivalente
de la muestra, a fin de asegurar la constancia de la intensidad del haz que incide sobre
ella. Con este procedimiento se trata de impedir la introduccin de nuevos errores
experimentales, dada la dificultad prctica de conseguir luz estrictamente circular a la
entrada del polarizador y minimizar la excentricidad del haz cuando rota el polarizador,
por el imperfecto alineamiento de la plataforma donde va montado, aunque con el

83

tiempo hemos mejorado este aspecto al conseguir disear plataformas que controlan los
desajustes de la perpendicularidad de los elementos pticos con el haz incidente.

Dicha luz incide sobre el dispositivo HAUP formado por dos polarizadores de
alta calidad ptica, en posicin de cruzados, entre los cuales se inserta el espcimen a
estudiar con sus ejes paralelos a los de los polarizadores. El haz emergente del
analizador es detectado por un fotomultiplicador, cuya respuesta analiza un amplificador
Lock-in. La muestra va dentro de una platina que permite su calentamiento desde la
temperatura ambiente hasta unos 350oC, con una precisin de 0.1oC. Los
polarizadores pueden girarse mediante sendos rotores de paso continuo, cuya resolucin
es de 3.6 x 10-6 rad y cuya reproducibilidad es del mismo orden. Detrs de cada
elemento del montaje, se han introducido diafragmas para evitar en lo posible el paso de
luz parsita. Todo el sistema va sobre un banco ptico vertical, fuertemente atornillado a
una mesa antivibratoria. Los controles de temperatura y de movimiento de los rotores,
as como las medidas de intensidad, se realizan automticamente mediante un programa
de ordenador implementado al efecto.

84

14

1
13
2

15

3
4

16

5
6
7

17

18

9
10

11

19

12

Fig.(III.2). Esquema del dispositivo implementado en nuestro laboratorio: 1: Lser de

He-Ne; 2: lmina desdobladora; 3: polarizador; 4: lmina /4;

5: chopper;

6:

diafragma; 7: polarizador , 8: diafragma; 9: platina y muestra; 10: diafragma; 11:

analizador;

12:

fotomultiplicador;

13:

fotomultiplicador;

14:

fuente

fotomultiplicadores; 15: lock-in; 16: controlador de chopper; 17: controlador de

rotores; 18: controlador de temperatura; 19: ordenador.

La fuente utilizada es un lser de He-Ne, de 632.8 nm de longitud de onda.

Los Polarizadores de calcita utiliza seon del tipo Glan Thompson y de

dimensiones 10 x 10 x 30 mm de longitud.

La platina donde se inserta la muestra, es una cmara de doble caja que

consigue un eficaz aislamiento trmico mediante aire de refrigeracin que un ventilador
hace pasar entre la caja interior y exterior (ver figura (III.3)). La temperatura se mide con
una sonda de temperatura Pt100.
85

1
7

4 3

Fig.(III.3). Perfil de la platina de calentamiento. 1: ventilador; 2: caja exterior; 3: caja

interior; 4: placa metlica con filamentos y sonda de resistencia; 5: portaobjetos; 6:
empalme de refrigerante; 7: ajuste de posicin.

El controlador de temperatura de la platina permite el calentamiento de la

muestra desde temperatura ambiente hasta 350oC, manteniendo la temperatura
estable dentro de

0.05oC. Con refrigerante en la celda, la temperatura mnima

alcanzable es de -60oC. Tiene la posibilidad de hacer medidas dinmicas de

calentamiento y enfriamiento as como medidas en equilibrio trmico.

Los rotores en los que se insertan los polarizadores y la platina, son motores de
paso continuo con una resolucin de menos de 1 segundo de arco.

Para asegurar la perpendicularidad del haz sobre la muestra y los polarizadores,

se disearon varias plataformas mviles de paso muy fino.

Los rotores estn controlados por una unidad codificadora, que permite leer
hasta 0.1 m de paso en los rotores y con resolucin de 0.02 m . Tiene una velocidad
mxima de 210 m /s y una velocidad mnima de 0.5 m /s. Tiene la posibilidad de
controlar tres rotores con una carga mxima de 5 Kg sobre el eje de rotacin a mxima
velocidad y hasta 7 Kg a mnima velocidad.

86

La seal de referencia es modulada por un Chopper, que tiene la caracterstica de

girar a un rango de frecuencias 3.2 - 4000 Hz, con una velocidad del motor de 1.6 - 100
rev/s. Se utiliz un chopper con cinco aperturas siendo la mxima razn de chopeo de
500 Hz. La frecuencia recogida, que no debe acercarse a la de la red (50 Hz), por medio
del controlador del chopper.

La unidad de deteccin del haz emergente del analizador es un

fotomultiplicador.

Para la luz utilizada de 632.8 nm, puede polarizarse hasta - 1250 V

dando una mxima corriente en el nodo de 100 A.

Adems en la ventana de entrada lleva insertado un vidrio difusor del haz
utilizado as como un baffle (varios diafragmas alineados).

La fuente de voltaje utilizada puede llegar hasta -2000 V.

La seal es amplificada mediante un Lock-in, que junto con la seal de

referencia modulada es capaz de minimizar la relacin seal ruido mediante tcnicas de
filtrado y modulacin. Se trabaj con dos equipos, el primero permite medir desde nV
hasta Voltios con constante de tiempo de integracin de 1 ms de mnimo. El segundo
tiene menos sensibilidad, pero suficiente para las seales en que trabajamos. En los
casos en que necesitamos hacer medidas rpidas, es ms til el segundo.

El lock-in tiene la salida GPIB y tanto el controlador de temperatura como el de

los rotores tienen salidas RS232 para su control desde el ordenador.

III.3. Mtodo de medida.

En la tcnica HAUP se trata de obtener los valores de la intensidad emergente
en funcin de los ngulos e mediante barridos de polarizador y analizador alrededor
87

de la posicin de mxima extincin (, << 1). La coleccin de datos as recogida,

permite la determinacin de los coeficientes A, B, C y D mediante un ajuste global de
mnimos cuadrados lineal de la ecuacin (III.12), bicuadrada en e .
El proceso de medida ha sido completamente automatizado mediante la
realizacin de un programa que permite el control de los diferentes dispositivos del
montaje, a travs del ordenador. En cada temperatura, se busca la posicin aproximada
del mnimo de intensidad transmitida, mediante un barrido de polarizadores cruzados.
Una vez que esta posicin ha sido localizada, se inserta la muestra y se efectua un nuevo
barrido que busca la posicin de mxima extincin con la muestra entre polarizadores
cruzados. Posteriormente, el programa implementado, realiza un barrido bidimensional
en ngulos e , tomando medidas de intensidad en varias posiciones del analizador
alrededor de cada posicin del polarizador. Se obtiene as un entramado de puntos de
intensidad en el plano ( , ), centrados en la posicin de intensidad mnima (figura
(III.4)).

0,08

0,07

0,06
0,05
0,04
0,03
-70

-30
-60

-40
-50

'

-50
-40

-60
-30

-70

88

'

Fig.(III.4). Paraboloide tridimensional de intensidades cuando para cada

posicin de muestra , se rota el analizador entorno al mnimo de
intensidad.

El barrido en

es del orden de 40 minutos alrededor de la posicin de

intensidad mnima, siendo los del analizador de la misma amplitud angular alrededor de
cada una de las posiciones de polarizador. El paso, tanto de polarizador cmo de
analizador, es de 4', dando lugar a una red de medidas de intensidad de 11 x 11 puntos.
Los datos as recogidos se ajustan por mnimos cuadrados a la ecuacin (III.12), en
trminos de cinco funciones base, 1, , 2+ , , 2. Este mtodo de ajuste global
[3,6] debera ser ms efectivo, en relacin al empleado por otros autores [7], al tenerse
en cuenta las correlaciones entre distintos coeficientes del ajuste.

III.4. Referencias.

1. J.F. Nye. Physical Properties of Crystals. Oxford University Press, New York, 235274 (1985).
2. J. Kobayashi and Y. Uesu. J. Appl. Cryst., 16, 204-211 (1983).
3. J.R.L. Moxon and A.R. Renshaw. J.APhys.: Condens Matter, 2, 6807-6836 (1990).
4. A.Miller. Phys.Rev. B. 8, 5902-5908 (1973).
5. J. Kobayashi, H. Kumoni and K.Saito. J. Appl. Cryst, 19, 377 (1986).
6. J.R.L. Moxon, Ph.D. thesis, Oxford University, (1990).
7. H. Meekes and A.Janner. Phys. Rev. B, 38, 8075 (1988).

89

Captulo IV
Aplicacin a muestras monocristalinas

CAPITULO IV

Aplicacin a muestras monocristalinas

IV.1. Introduccin.

El estudio realizado, se basa en las muestras cristalinas de Sulfato de Triglicina

(TGS), Fosfato de Hidrgeno y Plomo(LHP), Fosfato de Dihidrgeno y Potasio (KDP),
Bicarbonato de Potasio (KBC), Niobatio de Litio (LiNbO3), Calcita Carbonato Clcico
(CaCO3) , Cuarzo (SiO 2) y una familia de molibdatos perteneciente a las palmieritas
(KBM), (KBN), (KBErM).
Previamente se hacen las siguientes consideraciones relativas a la orientacin de
los cristales, representacin de las propiedades fsicas y determinacin de stas en
medios birrefringentes girotrpicos.

IV.1.1. Orientacin de los cristales.

La medida de propiedades pticas en cristales, tales como la birrefringencia y

actividad ptica mediante la tcnica HAUP, requiere la obtencin de muestras
monocristalinas de caras plano-paralelas orientadas por determinados planos
cristalogrficos (h k l) . Los ejes cristalogrficos (a,b,c) y los correspondientes ngulos
(,,) asociados a los sistemas cristalinos no son en general adecuados para representar
los tensores que caracterizan las propiedades fsicas de los cristales. Por ello, se elige
otro sistema de ejes de tal forma que sean ortogonales. A tales ejes se les denomina ejes
principales (x,y,z), y por convencin [1] son elegidos de la siguiente forma:

BIXICOS
91

Triclnico: a b c, . (x, y, z) arbitrarios.

Monocnico: a b c, = = 90o . (x, y || b, z || c).
Ortorrmbico: a b c, = = = 90o. (x || a, y || b, z || c).
UNIXICOS
Tetragonal: a = b c, = = = 90o. (x || a, y , z || c).
Trigonal: a = b c, = = 90o, = 120o. (x || a, y , z || c).
a = b = c, 120o > = = 90o
Hexagonal: a = b c, = = 90o, = 120o. (x || a, y , z || c).

ANIXICO (ISTROPO)
Cbico: a = b = c, = = = 90o. (x || a, y || b, z || c).

Una vez elegido el sistema de referencia (x,y,z), se especifica la orientacin del

cristal de la forma (A,B,C,D,E) / / [10].
La primera letra, A, es x, y z indicando la direccin del grosor de la lmina. La
segunda letra, B, es x, y z, e indica la direccin de la longitud mayor de la lmina
cristalina. Por tanto estas dos letras indican la orientacin inicial antes de producirse
cualquier rotacin. La tercera letra, C, es t, l w, que especifican rotaciones alrededor de
la direccin del grosor, de la direccin de la longitud mayor de la lmina y alrededor de
la direccin de la anchura (longitud menor) de la lmina respectivamente. La cuarta letra,
D, es t, l w de acuerdo al lado utilizado para hacer la rotacin. La ltima letra, E, se
especifica cuando hay una tercera rotacin. Las tres rotaciones se especifican por los
ngulos , y positivos si es en sentido antihorario y negativos en sentido horario.

Las figuras IV.1 (a), (b), (c) y (d), muestran los ngulos de Euler (,,), que
representan la orientacin de ejes ortogonales de un cuerpo rgido relativos a un sistema
de referencia de coordenadas cartesianas. El haz incidente se representa por el vector de

onda k .

92

k
y

y
k

Fig.IV. 1(a). Corte (y z w). Rotacin simple positiva

de alrededor de X.

Fig.IV. 1( b). Corte (y z l). Rotacin simple negativa

de alrededor de Z.

z = z

y=k

k = y
y

x= x x

x
Fig.IV. 1(c). Corte (y z t). Rotacin simple positiva
de alrededor de Y.

Fig.IV. 1(d). Corte (y z l w). Rotacin doble de

un ngulo alrededor de l, eje z, seguida
de una rotacin alrededor de w, eje x.

IV.1.2. Representacin de las propiedades fsicas.

Los ejes principales (x p,yp,zp) estn conectados con las coordenadas de

laboratorio (x,y,z) mediante

93

xp
x


y p = [N ] y ,
zp
z

(IV.1)

donde
N11
[N ] = N21
N 31

N12
N 22
N 32

N13
N 23 = R ( )R ()R () ,
N 33

(IV.2)

siendo R(), R() y R() las matrices de rotacin alrededor de los ejes correspondientes.
Finalmente se podr calcular las permitividades indices de refraccin relativos a
las perimitividades indices de refraccin principales. Sabiendo que la relacin entre las
permitividades e ndices de refraccin principales son

xp = o rxp = o n 2xp ,
yp = o ryp = o n 2yp ,

(IV.3)

zp = o rzp = o n 2zp ,

las permitividades relativas en el sistema (x,y,z) vendrn dadas por

rxx

ryx
rzx

rxy
ryy
rzy

x
rxz

1
ryz = [N ] 0
0
rzz

0
y
0

0 [N ] .
z

(IV.4)

La convencin utilizada entonces para la orientacin del cristal de la figura 1 se

representa por (yzt) (yxt).

IV.2. Determinacin de los parsitos.

94

El parmetro C del ajuste, dado por la ecuacin (III.15), permite determinar el

desfase total relativo , suma del debido a la birrefringencia B y el debido a la actividad
ptica G. Puesto que en direcciones alejadas de los ejes pticos B >> G , del
conocimiento previo del espesor de la muestra, el signo de d/dT y la birrefringencia n
en alguna temperatura, puede determinarse el desfase absoluto de = 2(m+e), (m
un nmero entero y e el orden fraccional) en esa temperatura, y a partir de este desfase,
su valor en otras temperaturas y/o longitudes de onda.
En cambio la determinacin de la actividad ptica en secciones birrefringentes se
efecta a partir del conocimiento de la elipticidad k, calculada va parmetro D .
Desafortunadamente, la determinacin de k no es inmediata dado que en la ecuacin
que relaciona D con k ,ec. (III.31), aparecen los parsitos experimentales = p - q y

, cuyas contribuciones, en general del mismo orden de magnitud del parmetro a

determinar, hay que eliminar previamente.
Una de las problemticas de la tcnica HAUP es por tanto, la determinacin y
eliminacin de los parsitos instrumentales. El mtodo de eliminacin de los parsitos es
directo si el material presenta una fase pticamente inactiva. En este caso k = 0, y
entonces de la representacin de D/sen frente a cotg( /2),

D / sen = + cot g ( / 2 )

(IV.5)

permite obtener y = p - q por simple ajuste lineal. Asmismo, los parsitos p y q

pueden obtenerse por separado utilizando tambin la ecuacin (III.32) ,

d o
1
d cot( / 2 ) d
= ( p+q)
+
dT
2
dT
dT

(IV.6)

mediante el ajuste lineal en la representacin de do/dT frente dcot(/2)/dT cuando la

fase del material presenta una variacin lineal de la rotacin de la indicatriz ptica , o
bien si tal variacin es nula.

95

Cuando el material presenta nicamente fases activas, la determinacin de los

parsitos resulta ms complicada. Para ello se han ensayado dos mtodos. Un primer
mtodo [3], utiliza un cristal de referencia inactivo para calcular el parsito p que se
supone permanecera inalterado al intercambiar el cristal de referencia por la muestra
pticamente activa. Los otros dos parmetros q y

, pueden obtenerse

posteriormente en las medidas con la muestra pticamente activa a partir de las

ecuaciones (III.32) y (III.31) ya que si se tienen valores de = 2n, con n entero,
entonces D= 2. Un segundo mtodo [4], utiliza la repeticin del proceso de medida
en una posicin de la muestra en la que sta se ha rotado 90o alrededor del haz
incidente. Esta rotacin de ejes de la muestra implica un cambio de signo en k, y
posiblemente tambin en . De esta forma, por diferencia en los coeficiente D
obtenidos en ambas posiciones se tiene que

D D ( 90o ) = 2 sen + 4 cos2 ( / 2 ) ,

(IV.7)

o bien

D D ( 90o )
= 2 + 2 cot( / 2 )
sen
Por consiguiente, y

(IV.8)

pueden determinarse ahora del ajuste lineal de

[D-D(90o)]/sen frente a cotg(/2).

IV.2.1. Determinacin de los parsitos con cristales pticamente

inactivos.

96

A fin de estudiar las diferentes posibilidades de eliminacin de parsitos y cuales

son las principales causas que influyen sobre ellos se han realizado inicialmente medidas
HAUP en muestras pticamente inactivas de diferente birrefringencia y calidad ptica.
En la tabla (IV.I) se listan las diferentes muestras utilizadas, as como su birrefringencia
a temperatura ambiente y calidad ptica asignada en cuanto a su transparencia y
homogeneidad.

Tabla (IV.I). Cristales utilizados para el clculo de parsitos de la tcnica HAUP.

Muestra

Clase

Birrefringencia

LiNbO3

3m

ne - no = - 0.0860 (=632.8 nm) muy alta

CaCO3

3m

ne - no = - 0.1720 (=589.8 nm) muy alta

K2Cr2O7 1

Calidad ptica

ny - nx = 0.0178 (=589.8 nm) regular

En la Fig. (IV.2) se representa - B/2C y D/sin

frente a

cotg(/2)

para el cristal KBC y la representacin de stos mismos parmetros cuando se rota la

muestra 90 grados alrededor del haz incidente.

Se observa un comportamiento lineal de acuerdo con las ecuaciones (IV.5) y

(IV.6), pudiendo haber cierta discontinuidad en valores de en los que la cotg(/2) se
haga muy grande. Mediante ajuste lineal a dichas ecuaciones, se obtienen los parmetros

, , p, q . Anlogamente se calculan los parsitos para todas las dems muestras

utilizadas.

97

20

o , D/sin

(x 10 -3 )

15

10
5
0
-5
-10

D/sin

-15
-20
-2.0

-1.5

-1.0

-2,0

-1,5

-1,0

-0.5

cotg(/2)
-0,5

0.0

0.5

1.0

0,0

0,5

1,0

Fig.(IV.2). Representacin de o y D/sin

frente a cotg(
/2) para el cristal KBC
cortado por el plano (001). Los crculos representan una misma medida y los
cuadrados otra medida una vez se ha rotado la muestra 90 grados alrededor del haz
incidente.

La tabla (IV.II) muestra los resultados de los parsitos del mtodo HAUP
obtenidos a partir de lminas de Niobatio de Litio (LiNbO3), Calcita (CaCO3),
dicromato potsico(KBC) , cortadas segn los planos (010), (010), (001) con grosores de
1.060, 1.090 y 0.824 mm respectivamente.

Los valores de los parsitos determinados se muestran en la tabla (IVII). En la

columna 1 se muestran los cristales utilizados, y los mismos con su eje rpido rotado
90o alrededor de la direccin de propagacin del haz lser en la columna 2. Las
columnas 3 a 7 muestran los errores parsitos.
El orden de magnitud de los parsitos es de 10-4 salvo en el caso del KBC que es
un orden de magnitud mayor.

98

Tabla (IV.II). Parsitos de la tcnica HAUP utilizando distintos cristales en sendas

posiciones de 0 y 90 grados respectivamente.

Cristales

Rotacin
en 90o

LiNbO3
LiNbO3
CaCO3
CaCO3
KBC
KBC

Parsitos
(x10-4)

(x10-4)

(p+q)(x10-4) p (x10-4)

q (x10-4)

-5.9

1.1

5.6

-0.1

5.7

-5.7

-1.4

-6.0

-5.8

-0.1

-7.8

-4.9

8.0

0.1

7.9

-8.9

3.0

- 8.6

-8.7

0.1

-28.3

12.3

47.3

9.5

37.8

-28.7

-14.7

-51.9

-40.3

-11.6

En particular, se observa que el parmetro , columna 3, tiene valores muy

similares para una u otra posicin de la muestra, estando su diferencia entre el 1% y el
8% del valor medio. Esto mismo ocurre con las elipticidades parsitas p+q , columna 4,
si bien aqu existe siempre un cambio en el signo cuando se rota la muestra 90o.
En cuanto al parsito Y, descruce de polarizadores debido en principio al mal
alineamiento del haz o mala repetitividad de los motores que mueven la muestra y el
analizador, se procedi a la determinacin del descruce real de los polarizadores una vez
finalizados los barridos correspondentes a cada muestra, obtenindose valores de
descruce similares a los obtenidos para el parsito Y en las muestras de mejor calidad,
como el Niobatio de Litio o la Calcita. Sin embargo, en el caso del KBC, el valor de Y
determinado es considerablemente mayor que el debido nicamente al descruce de
polarizadores. Ello sugiere que, aparte del descruce de los polarizadores, Y puede estar
influenciado por la mayor o menor calidad ptica del cristal, en el sentido de que una
peor calidad ptica llevar aparejada un cierto esparcimiento de la luz y, por tanto, una
cierta depolarizacin del haz.
Finalmente se observa que no existe un valor de la elipticidad p del polarizador
constante. Esto puede explicarse como que las elipticidades parsitas de los
99

polarizadores, a pesar de ser algebraicamente constantes en el desarrollo del mtodo

HAUP, cambian para cada muestra utilizada, con lo que p realmente sera p + p,
siendo p una constante del instrumento, puesto que en nuestro caso el polarizador
inicial permanece inmvil y p el parmetro que hace variar la elipticidad como
consecuencia de la calidad ptica del cristal, una vez que el haz ha traspasado este. As
mismo q = q + q, con el consecuente cambio de q para cada cristal. Por consiguiente
en un mismo sistema ptico, p y q son diferentes en muestras distintas.
El origen de estos cambios, parecen estar relacionados con la calidad ptica del
cristal en cuanto a transparencia, homogeneidad, proceso de crecimiento, etc. Segn se
desprende de los resultados obtenidos, los parsitos aumentan a medida que la calidad
ptica del material empeora. Ello posiblemente est relacionado con la depolarizacin
por scattering que sufre la luz a su paso por un especimen poco homogeneo. As, a
medida que las inhomogeneidades de la muestra son mayores, la cantidad de luz
esparcida crecer y con ello la depolarizacin que sufre aquella. Por ello, no es posible
una calibracin absoluta del polarmetro en base a unos parsitos instrumentales fijos
determinados mediante muestras de calibracin.

IV.2.2. Determinacin de los parsitos con cristales pticamente

activos.

Como se mencion al comienzo de la seccin 2, en fases donde el material sea

pticamente activo, la elipticidad est ligada a los parsitos y mediante la ecuacin
(III.31).
En la determinacin de la elipticidad del cristal, se ha venido trabajando con
cristales de referencia pticamente inactivos [5,6], donde se supone una elipticidad p del
polarizador constante independiente de la muestra utilizada. Finalmente se obtiene p+q
en la muestra a estudiar, obteniendo la elipticidad q del analizador, que si se ha
considerado distinta para cada muestra utilizada y por tanto poder calcular .

100

Los valores obtenidos de la elipticidad p del polarizador con cristales inactivos

ponen de manifiesto que esta elipticidad no se mantiene constante. Esto implicara un
error en el intercambio de muestras en el dispositivo HAUP. Por otro lado los valores
obtenidos del parsito en sendas posiciones consecutivas de la muestra en mxima
extincin, sugieren que ste puede considerase como un valor medio de tales valores.
En el mtodo de rotacin de la muestra 90o alrededor del haz incidente, se
obtiene en cada conjunto de medidas mediante D(=2m, n entero ),

D ( = 2 m ) = 2 cos2 ( / 2 )

(IV.9)

y puede determinarse si se considera como un valor medio de los dos conjuntos de

medidas restando los parmetros D. Es decir,

D D ( 90o ) = 2 sen + 2 ( 90o ) cos2 ( / 2 )

(IV.10)

De la suma puede determinarse entonces la elipticidad del material pticamente

activo, segn

D + D ( 90o ) = 4 k sen + 2 + ( 90o ) cos2 ( / 2 )

(IV.11)

donde se ha tenido en cuenta el signo en k y .

La figura (IV.3)

muestra los valores experimentales del parmatro

Dcorrespondientes a dos medidas consecutivas en extincin de una muestra de KDP

orientada por el plano (100).

101

15

D x 10 -4

10

-4
= 1,98 + 0,07 (x 10 )

2 1 = 6 . 5 8 . 1 0

D(0o) - D(90 o)

5
D(0o)

0
-5

D(90o)

2 2 = 1 . 3 9 7 . 1 0

-10
0,0

0,5

1,0

1,5

2,0

(rad)

2,5

3,0

3,5

Fig.(IV.3). Varacin del coeficiente D con el desfase para una posicin de

muestra en mxima extincin (
) y otra posicin consecutiva a 90o respecto
del haz incidente (n
n ). Los smbolos (
) representan la diferencia de los D y la
linea continua el ajuste correspondiente a la ecuacin (IV.10).

Los errores parsitos en cada plano se muestran en la tabla (IV.III).

Tabla (IV.III). Parsitos de la tcnica HAUP utilizando los planos (100) y (010) de
KDP en sendas posiciones de 0 y 90 grados respectivamente.

KDP(100)
KDP(010)

(0o)
3.30x10-4
-6.7x10-5

(90o)
7.0x10-5
1.94x10-4

1.98x10-4
6.17x10-4

Por consiguiente, la eliminacin de los parsitos en el cristal activo de KDP, se

hizo obteniendo dos conjuntos de puntos para dos posiciones de la muestra, una rotada
en 90o respecto de la otra. De esta forma, 2k(90o) = -2k(0 o) y (90o) = - (0o). Por lo

102

que restando las medidas del parmetro D puede obtenerse el parsito , similar en las
dos posiciones de la muestra.
As, en fases pticamente activas, la determinacin de los parsitos mediante la
repeticin de las medidas en dos posiciones ortogonales de la muestra, resulta ms
apropiada que utilizar un cristal de referencia pticamente inactivo, evitando el
intercambio de muestras .

El mtodo de rotar la muestra 90o alrededor del haz incidente, puede suponer un
desfase en el coeficiente C, debido a que la incidencia del haz sobre el cristal deje de ser
normal. En las figuras IV.4(a)-(b) , se muestran las variaciones con la temperatura de los
puntos experimentales del coeficiente C as como las lineas continuas que representan
el ajuste a la funcin 4sin2(/2). Estos ajustes, se hicieron por un mtodo de ajuste no
lineal utilizando la minimizacin del valor Chi-cuadrado con el algoritmo de LevenbergMarquardt [7] (ver los parmetros de ajuste en la figura IV.4(b)).

C'

0
20

40

60

80

100

t C
Fig.IV. 4(a). Dependencia con la temperatura del parmetro C segn la ecuacin
(III.15) para el plano (100) del KDP . Los smbolos O corresponden a los puntos en una
medida completa del KDP y los smbolos

corresponden a otra medida rotando la

muestra 90o. Las lineas continuas corresponden a los ajustes correspondientes a la

funcin 4sen2(
/2).

103

En la figura IV.4(a), se observa los efectos del ngulo con que incide el haz sobre
la muestra [9], es decir, desplazamiento de la curva C. Cuando la rotacin de la muestra
se realiza perfectamente perpendicular al haz incidente, este efecto prcticamente
desaparece, como se observa en la figura IV.4(b).

C = 4 sin2( /2)

(90) = +

= +

2 = 0,00469
99,88654 0,01929
0,10579 0,00027

= 0,01427
99,78429 0,0333
0,10562 0,00047

0
20

40

60
o

80

100

tC
Fig.IV. 4(b). Dependencia con la temperatura del parmetro C segn la ecuacin
(III.15) para el plano (100) del KDP. Los smbolos O corresponden a los puntos en una
medida completa del KDP y los smbolos

corresponden a otra medida rotando la

muestra 90o. Las lineas continuas corresponden a los ajustes correspondientes a la

funcin 4sen2(
/2).

Cuando la lmina cristalina plano-paralela, no est perfectamente perpendicular

al haz incidente, a partir del estudio de Holmes [8] ,se obtuvo el cambio de fase
experimentado por el haz transmitido

F
G
H

exp ( i ) = 1 +

sin2 i
2n 2

I,
JK

donde i es el ngulo de incidencia y el cambio de fase en incidencia normal.

104

(IV.12)

Los ajustes a las curvas de la figura IV.4(a) han permitido determinar una
diferencia de 3 grados de arco de ngulo de incidencia en las dos curvas que aparecen en
la lmina orientada por el plano (100) del KDP.
En el caso de la figura IV.4(b), la perfecta perpendicularidad del haz sobre la
lmina cristalina se consigui utilizando plataformas mviles de paso muy fino para
controlar la horizontalidad del cristal.

105

IV.3. Anisotropa ptica del Sulfato de Triglicina (TGS).

IV.3.1. Introduccin.

Para comprobar el buen funcionamiento del instrumento, hemos realizado un

test sobre el TGS. Este cristal ha sido ampliamente investigado, aunque slo en los
ltimos aos, con la puesta a punto de la tcnica HAUP, ha sido posible un estudio
detallado de su anisotropa ptica, obtenindose, en todo caso resultados dispares
[1,2,3,4].
El TGS es un cristal monoclnico que exhibe una transicin de una fase
paraelctrica centrosimtrica (clase 2/m) a otra ferroelctrica (clase 2) a una temperatura
de Curie, Tc, de 49.7 oC [5]. Por encima de dicha temperatura (fase paraelctrica), el
material presenta birrefringencia y rotacin de la indicatriz ptica alrededor de su eje
binario (eje y). Por debajo de Tc (fase ferroelctrica), el cristal sufre una transformacin
de segundo orden, en la que pierde el elemento de simetra m,

y desarrolla una

estructura de dominios con polarizacin espontnea. En esta fase, el sulfato de triglicina,

adems de los dos efectos de anisotropa ptica ya mencionados, exhibe actividad
ptica inducida va polarizacin espontnea.

b || y

a
x

c || z
Fig.(IV.5). Representacin de los ejes cristalogrficos a,b,c y ejes
principales x,y,z del TGS, donde a b c , = = 90o, = 105o 40' [5].

106

Para las medidas de anisotropa, se han utilizado dos lminas plano paralelas de
10 x 10 mm2 de rea y 1.139 y 1.114 mm de grosor, muestra 1 y 2 respectivamente. Las
muestras, de gran calidad ptica y perfectamente pulidas, se cortaron perpendiculares a
la direccin del eje ferroelctrico, plano (010), ver figura (IV.5).
Sobre este material se ha realizado un amplio estudio de anisotropa ptica que
engloba la determinacin de los parsitos, rotacin de la indicatriz ptica, actividad
ptica y los coeficientes electropticos en las fases ferroelctrica y paraelctrica.

IV.3.2. Determinacin de los parsitos de la tcnica HAUP.

Como se mencion en la seccin 2 de este captulo, antes de calcular el valor de

la elipticidad k, es preciso determinar los valores de los parsitos del sistema, y , por
ajuste lineal de D/sen

frente a cotg(/2) segn la ecuacin (IV.5) en la fase

paraelctrica, ya que en dicha fase k = 0. En las figuras IV.6(a)-(b) se muestran estas

relaciones para la muestra 1 y 2 respectivamente.

Fig.IV.6(a). Dependencia de D/sen

con la cotangente(
/2) en la fase
paraelctrica del plano (010) del TGS para la primera muestra.

107

Fig.IV.6 (b). Dependencia de D/sen

con la cotangente(
/2) en la fase
paraelctrica del plano (010) del TGS para la segunda muestra.

Los parsitos determinados del ajuste lineal a los valores experimentales de las
grficas IV.6(a)-(b) en la fase paraelctrica se muestran en la tabla (IV.IV).

Tabla (IV.IV). Resultados de los parmetros parsitos para las muestras de TGS estudiadas.

Parsitos

Muestra 1
-8.0 x10-4

Muestra 2
-1.0 x10-3

-8.8 x10-4

-3.5 x10-4

Esto resulta un inconveniente a la hora de calibrar el equipo, ya

que dos

muestras de TGS nos proporcionan diferentes valores en los parsitos de la tcnica

HAUP. Los errores parsitos no son valores fijos del sistema instrumental sino que

108

dependen en gran medida de la calidad de las muestras estudiadas (seccin 2). As los
valores de los parsitos obtenidos entorno a 10-4 indican gran calidad ptica de las
muestras. Las variaciones en fueron menos sensibles que en el caso de , cuya
magnitud vara en el intercambio de muestras. En el caso de muestras de gran calidad
ptica, parece influir notablemente el alineamiento del sistema, como estudiamos en
distintos cristales inactivos. Si adems existen dominios, los errores y tambin
pueden variar [6].

IV.3.3. Determinacin de la birrefringencia.

A partir del conocimiento del coeficiente HAUP, C = 4 sen2 ( / 2 ) puede
obtenerse el desfase debido a la birrefringenica y actividad ptica , que como
indicbamos en la seccin 2, en el caso de secciones birrefringentes alejadas de los ejes
pticos siempre puede despreciarse el desfase debido a la actividad ptica frente al
debido a la birrefringencia. As

= 2B + G2

2
( n )d

(IV.13)

Este desfase B, es un nmero fraccional de 2, es decir,

= ( m + e )2 = 2 m + 2 e

(IV.14)

siendo m un nmero entero y e una fraccin de 2.

El mtodo HAUP, slo es capaz de medir las variaciones del desfase relativo 2e,
por tanto, si se quiere determinar el desfase absoluto del material, es necesario encontrar
el nmero entero m. Para ello, se mide la birrefringenica por algn otro mtodo

109

(Refractmetro de Abbe, mtodos de compensacin,..) se toma de la literatura

existente, en la longitud de onda utilizada y a una temperatura determinada. Entonces,
conociendo el espesor d de la lmina cristalina,

m=

n
d

(IV.15)

En nuestro caso, se tom el valor de la birrefringencia n = 0.0283 en 31oC

[6].

En la figura (IV.7) puede apreciarse el comportamiento de la birrefringencia con

la temperatura en las fases ferroelctrica y paraelctrica en una de las muestras
estudiadas.

Fig.(IV.7). Variacin de la birrefringencia con la temperatura en el plano

(010) de la segunda muestra de TGS.

110

Los valores difieren de los de Etxebarra y col. [3], ya que nosotros hemos
obtenido un valor un poco ms bajo de n en 31oC que el determinado por ellos en su
trabajo.
Desde la temperatura ambiente hasta la temperatura de transicin, la variacin de
la birrefringencia con la temperatura es de tipo cuadrtico mientras que por encima de la
transicin, la variacin es lineal, al menos hasta la temperatura estudiada. La
determinacin del punto donde cambian estas variaciones corresponde a la temperatura
de 49.6oC.
La birrefringencia del Sulfato de Triglicina n, tiene en cuenta las contribuciones
de la fase paraelctrica no y de la fase ferroelctrica ns (figura (IV.7)), consecuencia
de la polarizacin espontnea Ps.

IV.3.4. Rotacin de la indicatriz ptica.

Otra propiedad que puede medirse simultneamente con la birrefringencia y la

actividad ptica, es la rotacin de la indicatriz ptica . Esta propiedad de rotar la
indicatriz ptica slo puede presentarse en materiales monoclnicos y triclnicos por no
tener definidos los ejes cristalogrficos ortogonales.
Una vez que se eliminan los parsitos y , en la fase paraelctrica t > 49oC, y
obtenidos los coeficientes HAUP B y C, puede determinarse a partir de la ecuacin
1

o = B / 2C = (p + q ) cot( / 2)
+
2
2

(IV.16)

La figura (IV.8) muestra los valores de la rotacin de la indicatriz ptica (relativos a

(Tc))

111

Fig.(IV.8). Rotacin de la indicatriz ptica con la temperatura en el plano

(010) de la segunda muestra de TGS.

Puede observarse un cambio pronunciado en el comportamiento de la indicatriz

ptica antes y despus de la temperaura de transicin Tc, al igual que en el caso de la
birrefringencia, siendo la rotacin de la indicatriz ptica lineal con la temperatura en la
fase paraelctrica. Ello indica que d/dT es constante en esta fase, hasta la temperatura
estudiada.
En la fase ferroelctrica, se induce una rotacin de la inductriz ptica espontnea

s (figura (IV.8)), que contribuye a que el giro de la indicatriz ptica sea cuadrtico con
la temperatura.

IV.3.5. Determinacin de la actividad ptica.

112

Si existe un cierto ngulo del vector de propagacin k respecto del eje b

(orientacin defectuosa) y otro ngulo 0, 90o, respecto del eje c (ejes del plano
(010) no exactamente coincidentes con los de los ejes de transmisin de los
polarizadores cruzados), es preciso la determinacin de los autoestados de polarizacin
en el medio birrefringente girotrpico (Apndice C).
Para un cristal monoclnico como el TGS se tiene que las componentes y

magnitud de G en las coordenadas ( , ) son tales que G es paralelo a k , siendo las

componentes del vector de girotropa

G x = G sen sen , G y = G cos , G z = G sen cos

(IV.17)

y su mdulo G = gij li l j , teniendo en cuenta las componentes del tensor de girotropa

para el cristal TGS
g 11

G = 0
g
13

0
g 22
0

g13

0
g 33

(IV.18)

resulta

G = G = g11 sen2 sen 2 + g22 cos2 + g 33 sen 2 cos2

(IV.19)

+ 2 g13 sen2 sen cos

El tensor de impermeabilidades [ij] toma la forma

1
G sen cos
G cos
i
i 2 2

2
2 2
n1
n1 n 2
n1 n 3

G
sen
cos
1
G
sen

sen
ij = i
i
2
2
2
2

n1 n 2
n2
n 2n 23

G sen sen
1
i G cos

i
n12n 23
n 22 n32
n 32

[ ]

113

(IV.20)

donde las nuevas componentes del tensor impermeabilidad son

2
2
= a11
11
11 + a13
33 =

cos2
n12

sen 2

(IV.21)

n32

2
2
2
33 = a31
11 + a 32
22 + a33
33

cos2 sen 2
n12

sen2
n22

cos2 cos2

(IV.22)

n32

13
= a11a3111 + a11a32 12 + a11a3313 + a13a3131

+ a13a 32 32 + a13a 3333

1
1
= sen cos cos 2 2 +
n 3 n1
sen 2 cos 2 cos 3 sen 2 sen 2
i G
2 2
n 12 n 22
n1 n 3
n 22 n 32

(IV.23)

Si la direccin de propagacin es la [010], es decir (, )=(0o, 0o), slo existe la

componente g22,

114

G x = 0 , G y = g 22 , Gz = 0 ,

(IV.24)

G = G = g22

quedando definidas las componentes del tensor [ij] y por consiguiente las nuevas
componentes como

11 =

1
n 12

(IV.25)

33 =

1
n 23

(IV.26)

13
= ig 22 2 2
n1 n 3

(IV.27)

Finalmente, una vez determinados los ndices de refraccin correspondientes a

los autoestados de polarizacin en el plano (x, z), a partir de las ecuaciones
(C.7),(C.8) y (C.9) del Apndice C se obtiene

2g
1g
1
arctang 2 22 2 22
2
n 3 n 1 2 nn

(IV.28)

conociendo as la actividad ptica a lo largo del eje b del TGS, segn

g22 = 2 n n = 2 k n n

(IV.29)

Una vez que, se determina la variacin de la birrefringencia y la elipticidad del

material con la temperatura a partir del parmetro D y conociendo el ndice de

115

refraccin medio que no vara apreciablemente en el rango de temperaturas estudiado,

puede determinarse la componente de actividad ptica g22.
El TGS es uno de los cristales ferroelctricos que tienen la propiedad de tener
dominios paralelos y antiparalelos pudiendo contribuir en la girotropa promedio del
material. Estos dominios se pueden orientar aplicando un campo elctrico en uno u otro
sentido, que haga que el material tenga un nico eje polar. Para ello las caras del
espcimen fueron cubiertas con oro evaporado, dejando nicamente libre un pequeo
orificio central del orden de 2.5 mm de dimetro por el que pasa el haz. Antes de
efectuar las medidas, las muestras se mantuvieron a una temperatura de 85oC durante
un periodo de 24 horas, despus del cual fueron lentamente enfriadas hasta la
temperatura ambiente, sometidas a un campo elctrico de unos 2.5 KV/cm. Con este
proceso, se trata de asegurar que la muestra es un monodominio libre de tensiones
internas [3].
En la figura (IV.9) se muestra la variacin de la componente g22 con la
temperatura en una de las muestras de TGS. Se realizaron dos medidas desde
temperatura ambiente hasta unos 62oC; la primera (crculos vacos) con el cristal libre de
electrodos y por consiguiente sin tener en cuenta la orientacin de sus dominios y la
segunda medida (crculos negros) sometiendo la muestra previamente a un campo
elctrico como describimos en el prrafo anterior.
Se aprecia una mayor contribucin de la actividad ptica en el caso de someter la
muestra a un campo elctrico que orienta la polarizacin espontnea y por consiguiente
los dominios del material.

116

Fig.(IV.9). Variacin de la actividad ptica con la temperatura en el plano (010) de la

primera muestra de TGS con 1.139 mm de grosor . Los crculos blancos corresponden
a la muestra inicialmente y los puntos negros corresponden a dicha muestra cuando se
orientan los dominios.

Fig.(IV.10). Variacin de la actividad ptica con la temperatura en el

plano (010) de la segunda muestra de TGS con 1.114 mm de grosor . Los
puntos blancos corresponden a un decrecimiento de la temperatura.

117

Fig.(IV.11).Variacin de la actividad ptica con la temperatura en el

plano (010) de la segunda muestra de TGS con 1.114 mm de grosor . Los
puntos blancos corresponden a un decrecimiento de la temperatura.

La figura (IV.10) muestra la variacin de la girotropa con la temperatura en una

segunda muestra. Los crculos negros , representan los valores de la actividad ptica con
la temperatura, sometiendo previamente la muestra al campo elctrico, y los crculos
vacos son las medidas tomadas cuando la temperatura va decreciendo. Se observa
entonces como los dominios se van orientando al azar en temperaturas descendentes.
Si se repiten las medidas en la misma muestra (figura (IV.11)), entonces se
observa como el material es prcticamente polidominio, con la consiguiente prdida de
la componente de girotropa g22 estudiada. Este efecto es similar para las componentes
de la actividad ptica g11 y g33 como se desprende del estudio de Kushnir y col. [4] .
Por consiguiente si el cristal no tiene un nico eje polar y las contribuciones de
los dominios paralelos y antiparalelos son iguales, entonces la girotropa promedio es
nula.

118

Esto demuestra que la actividad ptica est estrechamente ligada a la polarizacin

espontnea del material en la fase ferroelctrica y que cuando cambia a una fase
centrosimtrica (polarizacin nula) la girotropa se anula. Esto ocurre con todos aquellos
materiales que pasan de una fase paraelctrica centrosimtrica a otra fase ferroelctrica
pticamente activa[7].
Nuestros resultados estn entre los obtenidos por Etxebarra y col. [3] y los de
Kobayashi y col. [1]. La discrepancia entre distintos autores puede deberse,
fundamentalmente, a la imprecisin en la determinacin de los parsitos instrumentales,
ya que stos dependen en gran medida de cada montaje experimental y de la calidad de
las muestras utilizadas, as como a la posible orientacin de los dominos. A pesar de las
discrepancias en el valor absoluto de la actividad ptica, la forma cualitativa de las
curvas es muy semejante en los tres casos.

IV.3.6. Determinacin de los coeficientes electropticos en la fase

ferroelctrica.

Otra forma de estudiar las propiedades pticas de un cristal es a travs de la

deformacin que sufre la indicatriz ptica, es decir el cambio de las componentes del
tensor permitividad dielctrica ptica definido en el captulo I, ()-1 = (1/n2).

En presencia del vector Polarizacin P y el tensor deformacin (S), estos

cambios se pueden expresar por

( 1 / n 2 ) = ( f ) P + ( g ) P P + ( p )( S )

(IV.30)

donde (f) y (g) son los tensores polarizacin ptica lineal y cuadrtico respectivamente
y (p) el tensor deformacin ptica. Se ha supuesto que el cristal est libre de tensin
mecnica.

119

Si suponemos que la polarizacin es la suma de la polarizacin espontnea, Ps, y

la inducida, Pind, (por ejemplo al aplicar un campo elctrico) y el tensor deformacin
incluye la deformacin espontnea del material, (S)s, y la inducida, (S)ind, la ecuacin
anterior queda

( 1 / n 2 ) = ( f )( Ps + Pind ) + ( g )( Ps + Pind ) ( Ps + Pind )

+ ( p ) ( S )s + ( S )ind

(IV.31)

En el caso de no haber influencias externas (Pind = 0 y (S)ind = 0), la ecuacin

(IV.31) relaciona la birrefringencia espontnea con la polarizacin espontnea en la fase
ferroelctrica.
El cristal

TGS presenta la transicin a una fase ferroelctrica de una fase

paraelctrica centrosimtrica. En este caso durante la fase paraelctrica (f) = 0, por ser
centrosimtrica. Se demuestra as, una dependencia de la birrefringencia espontnea con
la polarizacin espontnea cuadrtica (se desprecian trminos de orden superior).
La existencia de una direccin polar paralela al eje b, hace que la indicatriz ptica
pueda expresarse por

x 2 2 + (g 12 + p1i Q i 2 )Psy2 + y 2 2 + (g 22 + p 2i Q i 2 )Psy2

n x

n y

+ z 2 2 + (g 32 + p 3i Q i 2 )Psy2 + 2xz(g 52 + p 5i Q i 2 )Psy2 = 1, i = 1,2,3,5

n z

(IV.32)

donde Qi2 son los coeficientes de electrostriccin que relacionan la deformacin

espontnea y la polarizacin espontnea, es decir, Sij = QijklPkPl. Los tensores (f), (p)
y (Q) estn en notacin reducida y los ejes principales x,y,z coinciden con los ndices de

120

refraccin principales nx,ny,nz. En la seccin x,z , los coeficientes de polarizacin

espontnea se expresan por

R12 = g12 + p1i Qi 2

R22 = g22 + p2i Qi 2
R32 = g32 + p3i Qi 2

(IV.33)

R52 = g52 + p5i Qi 2

y cuando el cristal se encuentra libre de stress, se tiene la seccin de la indicatriz ptica

x 2 2 + R 12 Psy2 + z 2 2 + R 32 Psy2 + 2xzR 52 Psy2 = 1

n x

n z

(IV.34)

Si transformamos los ejes principales a otros nuevos ejes x,y,z, de tal manera
que estos ltimos contengan las direcciones de los nuevos ndices principales tendremos
la seccin de la nueva indicatriz ptica, expresada mediante

1
1
x 2 2 + z 2 2 = 1
n x
n z

(IV.35)

Para ello, basta con hacer una rotacin alrededor del eje y en un ngulo ,

x = x cos + z sen
z = x sen + z cos

Introduciendo las ecuaciones (IV.36) en (IV.34), se obtiene

121

(IV.36)

1
x 2 ( 2 + R 12 Psy2 ) cos 2 + ( 2 + R 32 Psy2 ) sen 2 R 52 Psy2 sen 2
nz
nx

1
+ z 2 ( 2 + R 12 Psy2 ) sen 2 + ( 2 + R 32 Psy2 ) cos 2 + R 52 Psy2 sen 2
nz
nx

1
+ x z ( 2 + R 12 Psy2 ) sen 2 ( 2 + R 32 Psy2 ) sen 2 + 2R 52 Psy2 cos 2 = 1
nz
nx

(IV.37)

Haciendo nulo el trmino que acompaa a xz en (IV.37), se llega a

1
2
2
( 2 2 ) + (R 32 R 12 )Psy sen 2 = 2R 52 Psy cos 2 ,
nz nx

(IV.38)

quedando,

2 R52 Psy2

tg 2 =
(

1
nz2

1
n 2x

) + ( R32

(IV.39)

R12 ) Psy2

que se aproxima a 2, puesto que la rotacin de la indicatriz ptica es de 10-2 a 10-3

radianes. Finalmente la rotacin de la indicatriz ptica espontnea en funcin de la
polarizacin espontnea es

122

R52 Psy2

=
(

1
nz2

1
nx2

(IV.40)

) + ( R32

R12 ) Psy2

Esta ecuacin cambia de signo si hacemos la transformacin

x = x cos z sen

(IV.41)

z = x sen + z cos

Si ahora tenemos la seccin de la indicatriz segn la ecuacin (IV.35), los nuevos

ndices de refraccin principales a partir de (IV.37) vendrn dados por

1
n 2x
1
n 2z

=
=

cos2
n x2
2

sen
n x2

+
+

sen2
nz2
2

cos
nz2

+ R12 Psy2 cos2 + R32 Psy2 sen2 R52 Psy2 sen 2

(IV.42)

+ R12 Psy2 sen2 + R32 Psy2 cos2 + R52 Psy2 sen 2

y para ngulos pequeos puede aproximarse segn,

1
n 2x
1
n 2z

=
=

1
n x2

+ R12 Psy2
(IV.43)

+ R32 Psy2
2
nz

al ser el ngulo proporcional al cuadrado de la polarizacin espontnea y por lo tanto

pequeo.
A partir de las ecuaciones (IV.43),

123

n x = nx (
n z = nz (

1 2
1/ 2
n
nx R12 Psy2 )

)
(
1
x
2
2
2
1 + n x R12 Psy
1
1 + nz2 R32 Psy2

1/ 2

1
nz ( 1 nz2 R32 Psy2 )
2

(IV.44)

Finalmente, restando las ecuaciones (IV.44), se obtiene

1
n z n x = nz n x + ( n x3 R12 nz3 R32 ) Psy2 .
2

(IV.45)

En la ecuacin (IV.45) el ltimo trmino es la birrefringencia espontnea que

depende cuadrticamente con la polarizacin espontnea.
El primer trmino es la birrefringencia natural del cristal y que tiene un valor de
-0.0259 para la longitud de onda del naranja del sodio [8]. La contribucin del segundo
trmino puede calcularse concociendo los ndices de refraccin nx y nz asi como los
coeficientes electropticos espontneos R12 y R32. Lomova y colaboradores [8]
obtuvieron valores de R12 = 11 x 10-7 (cm4/c2) , R52 = 8 x10-7 (cm4/c2) y R32 = 12 x
10-7 (cm4/c2) en la longitud de onda del Sodio, siendo nx = 1.556. De esta forma el
coeficiente que acompaa a la polarizacin espontnea es igual a -7.7x10-8 (cm4/c2).
Por consiguiente, en la fase ferroelctrica, la polarizacin espontnea, Ps, es
responsable de la aparicin de birrefringencia espontnea, ns, rotacin de la indicatriz
ptica espontnea, s, y girotropa espontnea, Gs, va coeficientes electropticos y
girotrpicos. La dependencia de estas magnitudes con el mdulo de la polarizacin
espontnea vienen dadas por :

124

 s =

R 52 Psy2
1
1
2 2 + (R 32 R 12 )Psy2
n

z nx

r Psy2

1
ns = n n o = ( nx3 R12 n z3 R32 ) Psy2 rPsy2
2

Gs = 22 Psy

(IV.46)

(IV.47)

(IV.48)

donde r y r son coefcientes electropticos cuadrticos y 22 es un coeficiente lineal de

girotropa. Tales coeficientes pueden determinarse por ajuste lineal de las magnitudes de
ansotropa espontnea frente a Ps2 y Ps, respectivamente. En las figuras (IV.12), (IV.13)
y (IV.14) se muestran las relaciones entre s, ns y Gs y la polarizacin espontnea
cuyos datos fueron tomados de Gonzalo y Lpez-Alonso [9]. Las contribuciones de s
y ns se determinaron por extrapolacin lineal de sus valores en la fase paraelctrica.

En las figuras (IV.12) y (IV.13) los ajustes concuerdan con bastante precisin a
las ecuaciones (IV.46) y (IV.47), sin embargo en la figura (IV.14), se aprecia una
dispersin de valores de g22 debido fundamentalmente a la mayor o menor contribucin
de los dominios como hemos discutido en la seccin anterior.

125

Fig.(IV.12). Rotacin de la indicatriz ptica espontnea con el cuadrado de la

polarizacin espontnea en la direccin [010] del TGS . Muestra de grosor 1.139
mm.

Fig.(IV.13). Variacin de la birrefrengencia espontnea con el cuadrado de la

polarizacin espontnea en la direccin [010] del TGS . Muestra de grosor 1.139
mm.

126

10

g22 (x10-5 )

8
6
4
2
0
0,0

0,5

1,0

1,5
2

2,0

2,5

Ps ( C/cm )
Fig.(IV.14). Variacin de la actividad ptica con la polarizacin espontnea en
la direccin [010] del TGS . Muestra de grosor 1.114 mm.

En la tabla (IV.V) se dan los valores obtenidos en este trabajo junto a los
obtenidos por otros autores.
En la primera columna se encuentran los coeficientes electropticos, en la
segunda nuestros resultados y en la tercera y cuarta columna los resultados de
Kobayashi y Etxebarria respectivamente para una muestra de TGS orientada por el
plano (010). En la columna quinta aparecen los resultados obtenidos por Kushnir en los
planos (100) y (001).
El coeficiente r que liga la birrefringencia espontnea con la polarizacin
espontnea, determinado por nosotros difiere un 13% y 18 % de nuestro valor medio,
respecto de los obtenidos por Kobayashi y Etxebarria respectivamente.

127

Tabla (IV.V). Comparacin de los coeficientes electropticos de la fase ferroelctrica obtenidos en

las muestras de TGS.
Fase
Ferroelctrica
r (m4.C-2)

Este trabajo
(010)
mm

d=1.114 (010)

0.529
(010)
mm

Kobayashi y col. [1] Etxebarra y col. [3]

0.452,

Kushnir y col. [4]

(010)

(100), (001)

0.424

0.513, 0.632

d=1.139

0.509

r (m4.C-2)

(010)
mm

d=1.114 -14.3

-21.3

-19.8
(010)
mm

d=1.139

-24.5

22 (m2.C-1)

(010)
mm

d=1.114 5.86 x10-4

5 x10-3

-2.1,-2.8(x10-3)

2.22 x10-3
(010)
mm

d=1.139

1.91 x10-3

El coeficiente r que liga la rotacin de la indicatriz ptica espontnea con

la polarizacin espontnea, determinado por nosotros difiere un 30% y 4% de nuestro
valor medio, respecto de los obtenidos por Kobayashi y Etxebarria respectivamente.
Finalmente el coeficiente de girotropa 22, se acerca ms al valor de Etxebarra
que al de Kobayashi, que resulta un orden de magnitud mayor que este ltimo. El valor
de este coeficiente depende de la contribucin de la polarizacin espontnea en el
material, pudiendo cambiar de signo si se invierten los dominios.
Se determin la actividad ptica a una temperatura de 32oC, aplicando distintos
campos elctricos en la direccin del eje b del cristal, observando el ciclo de histresis de
la figura (IV.15).

128

Fig.(IV.15). Variacin de la actividad ptica con el campo elctrico direccin

[010] del TGS . Muestra de grosor 1.114 mm.

En esta figura, se representa la actividad ptica en funcin del campo elctrico

aplicado. La polarizacin debida al campo elctrico da lugar a actividad ptica que
cambia de signo cuando se invierte dicho campo. Este ciclo de histresis corrobora el
hecho de que los dominios en este material pueden cambiar de sentido si se invierte la
polarizacin mediante un campo elctrico.

IV.3.7. Determinacin de los coeficientes electropticos en la fase

paraelctrica.

Finalmente, hemos determinado los coeficientes electropticos asociados con la

birrefringencia, rotacin de la indicatriz ptica y actividad ptica inducida por el campo
elctrico, E, en la fase paraelctrica del material. Dichos coeficientes estn relacionados
con E por [1],

129

E =

2 d E 2 d
n =
n o + f E 2 = E .

(IV.49)

E = f E 2 = E

(IV.50)

g22 E = 22 E = g22 E

(IV.51)

Las figuras (IV.16) y (IV.17) representan E y E frente al campo E2,

respectivamente. Los valores de f y f obtenidos del ajuste se dan en la tabla (IV.VI),
junto a los determinados por kobayashi y col. [1].

Fig.(IV.16). Variacin de la indicatriz ptica con el cuadrado del campo

elctrico aplicado en la direccin [010] del TGS en la fase paraelctrica.
Muestra de grosor 1.114 mm.

130

Fig.(IV. 17). Variacin del desfase con el cuadrado del campo elctrico aplicado
en la direccin [010] del TGS en la fase paraelctrica. Muestra de grosor 1.114
mm.

Las figuras (IV.16) y (IV.17) muestran que tanto la rotacin de la indicatriz

ptica y el desfase se inducen por campos elctricos aplicados. Los valores
experimentales se ajustan linealmente con muy buen acuerdo a las ecuaciones (IV.49) y
(IV.50), que nos permiten obtener los coefcientes electropticos f y f que se muestran
en latabla (IV.VI).

Tabla (IV.VI). Comparacin de los coeficientes electropticos de la fase

paraelctrica obtenidos en las muestras de TGS.
Fase Paraelctrica Este trabajo
t = 57oC

(m2.V-2)

f (m2.V-2)

Kobayashi y col. [1]

-2.6 x10-17

-1.28 x10-17

-2.09 x10-15

-2.4 x10-16

Se observa una disparidad de nuestros resultados respecto a los de Kobayashi

[1], posiblemente debido a la diferencia de electrodos. En nuestro caso, se dispuso de
131

electrodos circulares de cobre con orificio central de dimetro 1.5 mm y en el caso de

Kobayashi stos eran de oro evaporado en el material.
Tambin se procedi a la determinacin de la elipticidad en la fase paraelctrica a
una temperatura de 57oC, inducida por el campo elctrico (figura (IV.18)).

Fig. (IV.18). Variacin de la elipticidad con el campo elctrico aplicado en la

direccin [010] del TGS en la fase paraelctrica. Muestra de grosor 1.114 mm.

Se observa en la figura (IV.18) una variacin lineal de la elipticidad con el campo

elctrico aplicado. De acuerdo con la ecuacin (IV.51), se determin el coeficiente de
girotropa inducida 22 = 1.21 x 10-10 (mV-1).
Se obtuvo un valor de mas de un orden de magnitud mayor que el obtenido por
Kobayashi [1], 22 = 1.1 x 10-11 en una temperatura de 50oC. Las discrepancias en
estas magnitudes tienen en cuenta la calidad ptica del cristal as como la influencia de
los electrodos utilizados.

132

IV.4. Determinacin de la birrefringencia del KBC.

El Bicromato Potsico, K2Cr2O7 (abreviado como KBC) perteneciente al grupo

puntual 1 exhibe una transicin polimrfica alrededor de 253oC [1], siendo de primer
orden, reconstructiva y fuertemente dependiente de la nucleacin. Se prepar la mejor
lmina correspondiente al plano (001) de 0.824 mm de grosor.
La figura (IV.19) muestra la dependencia con la temperatura del coeficiente C.

0
20

30

40

50

60

70

80

tC
Fig. (IV.19). Variacin del parmetro C con la temperatura en el plano (001)
del KBC.

Los crculos vacos corresponden a los valores de 4sen2(/2), determinados a

partir del ajuste a los paraboloides de intensidad de acuerdo a la expresin (III.15). La
linea contnua es el mejor ajuste a la funcin 4sen2(/2).

Segn Partington [2],

los ndices de refraccin principales para este cristal

bixico para luz de sodio ( = 589.3 nm) y a temperatura no especificada (suponemos

temperatura ambiente 20oC) son:

nx = 1.7202, ny = 1.7380 y nz = 1.8197, donde

nx, ny, nz son los ndices de refraccin en las direcciones de los tres ejes principales.

133

Como disponemos del plano (001), tenemos la birrefringencia para este

plano n = ny - nx = 0.0178, con lo que para la longitud de onda indicada,

m + e = 24.889 con m = 24 y e = 0.889.

Nuestros resultados para la birrefringencia, n = (/d)(m + (/2)), a una
longitud de onda de 632.8 nm tomando como nmero entero 24 son los mostrados en la
figura (IV.20).

1.80
1,80

-2
n (x10 )

1.78
1,78

1.76
1,76

1.74
1,74

1,72
1.72

1.70
1,70
20

30

40

50

60

70

toC
Fig.(IV.20). Dependencia con la temperatura de la birrefringencia del KBC en
el plano (001).

Se observa que, en muy buena aproximacin, la birrefringencia n vara

linealmente con la temperatura, en el intervalo de temperaturas considerado. Del ajuste
realizado (linea contnua), se puede extraer el coeficiente de variacin trmica de la
birrefringencia dn/dT , que resulta ser - 1.033 x 10 -6 (oC) -1.

134

IV.5. Anisotropa ptica del KDP.

IV.5.1. Introduccin.

El fosfato de dihidrgeno y potasio K2H2PO4 (abreviado como KDP) es

caracterstico del grupo de los cristales pticamente activos, perteneciente al sistema
tetragonal, clase 42m , siendo el tensor de actividad ptica,
g 11

G = 0
0

0
g 22 = g 11
0

0
0

(IV.52)

Los valores de sus ndices de refraccin son ne = 1.4669 y no = 1.5074 en la

longitud de onda = 632.8 nm [3]. Kobayashi y col. obtuvieron resultados de su
actividad ptica en una regin cercana a la temperatura de transicin a ferroelctrico,
alrededor de -120oC [4],[5], utilizando el cristal LiTaO3 como cristal de referencia
pticamente inactivo.
Nosotros hemos utilizado muestras orientadas por los planos (100) y (010), con
0.935 y 1.046 mm de grosor respectivamente. Se midi el coeficiente de variacin
trmica de la birrefringencia dn/dT , as como la elipticidad en ambos planos
cristalogrficos en la fase paraelctrica (grupo puntual 4 2m) utilizando el mtodo de
rotar la muestra 90 grados alrededor del haz incidente para la eliminacin de los
parsitos instrumentales.
Se determin tambin el coeficiente electroptico lineal r41, asociado a los
planos cristalogrficos disponibles, a travs de la rotacin de la indicatriz ptica inducida
mediante un campo elctrico longitudinal.

135

IV.5.2. Determinacin de la birrefringencia y eliminacin de los

parsitos.

En la seccin IV.2.2 se mostraron las figuras IV.4(a)-(b) , correspondientes a las

variaciones con la temperatura de los puntos experimentales del coeficiente C, en los
planos (100) y (010) respectivamente, as como las lineas continuas que representan el
ajuste a la funcin 4sen2(/2). Estos ajustes, al igual que en el caso del KBC, se
hicieron por un mtodo de ajuste no lineal utilizando la minimizacin del valor Chicuadrado con el algoritmo de Levenberg-Marquardt [6] (ver los parmetros de ajuste en
la figura IV.4(b)). En la figura IV.4(a), se observa interferencias dbiles, es decir, puntos
experimentales describiendo suaves oscilaciones en torno al valor verdadero del
parmetro C[7] y un ligero corrimiento de las curvas de C, y por tanto de desfase ,
cuando las medidas se realizan en la posicin de ejes principales de la muestra rotados
90o. Este efecto, como ya se discuti anteriormente, est relacionado con la desviacin
del haz luminoso respecto de la incidencia normal sobre la lmina cristalina[8]. Cuando
la muestra se mantiene perfectamente perpendicular al haz incidente, este ltimo efecto
desaparece, como se observa en la figura IV.4(b). Se encontr una diferencia de 3 grados
de arco de ngulo de incidencia en las dos curvas que aparecen en la lmina orientada
por el plano (100) del KDP. Una vez corregido el efecto en dicho plano, se obtienen los
errores parsitos para los dos conjuntos de medidas en sendas posiciones de la muestra
de 0 y 90o, a partir de los coeficientes D (figura IV.3, seccin IV.2.2 ). Los errores
parsitos en cada plano se muestran en la tabla (IV.VII).

Tabla (IV.VII). Parsitos de la tcnica HAUP utilizando los planos (100) y (010) de
KDP en sendas posiciones de 0 y 90 grados respectivamente.

KDP(100)
KDP(010)

(0o)
3.30x10-4
-6.7x10-5

(90o)
7.0x10-5
1.94x10-4

136

1.98x10-4
6.17x10-4

La eliminacin de los parsitos en el cristal activo de KDP, se hizo obteniendo

dos conjuntos de puntos para dos posiciones de la muestra, una rotada en 90o respecto
de la otra. De esta forma, 2k(90o) = -2k(0 o) y (90o) = - (0o). Por lo que restando las
medidas del parmetro D puede obtenerse el parsito , similar en las dos posiciones de
la muestra.
De los valores de las figuras IV.4(a)-(b) de la seccin 2.2, se obtuvieron
dependencias lineales de la birrefringencia ( n = no - ne) con la temperatura en ambos
planos del KDP, resultando el coeficiente de variacin trmica de la birrefringencia , d
n/dT igual a 1.13 x 10-5 (oC)-1 para el plano (010) y 1.02 x 10-5 (oC)-1 para el plano
(100). En la figura (IV.21) se muestra la birrefringencia media de los planos (100) y
(010).

n = ( no - ne ) (x10 -2)

4,12
4,10
4,08
4,06
4,04
4,02
20

40

60
o

80

100

t C
Fig.(IV.21). Dependencia con la temperatura de la birrefringencia del KDP.

IV.5.3. Determinacin de la elipticidad de los modos de propagacin.

Determinados los errores instrumentales y es posible determinar la
elipticidad 2k del material va ecuacin (III.31). En las figuras (IV.22) y (IV.23) se
137

representan los valores de 2ksen (crculos y cuadrados vacos) frente al desfase en

radianes y la temperatura en oC respectivamente, una vez que han sido determinados los
parsitos de la tcnica.

15

2ksin (x10 -4)

10
5
0
-5
-10
2k (x 10-4) (0o)
2k (x 10-4) (90o)

-15
-20
-0,5

0,0

0,5

1,0

1,5

2,0

(x ) (rad)

2,5

3,0

3,5

Fig.(IV.23). Dependencia con el cambio de fase de la funcin 2ksen

y la elipticidad k
del KDP en el plano (100).

2ksin (x10-3 )

1,0

0,5

0,0
2k (x10-3) (0o)
2k (x10-3) (90o)

-0,5
20

40

60

80

100

t C
Fig. (IV.24). Dependencia con la temperatura de la funcin 2ksen
y la elipticidad k
del KDP en el plano (010).

138

Las figuras muestran cualitativamente la deteccin de la elipticidad de los modos

de propagacin, y por tanto de girotropa dado que si la elipticidad k fuese nula, el
trmino 2ksen no mostrara el comportamiento sinusoidal que se aprecia en las
figuras. Por consiguiente, en el supuesto de que no pudiese determinarse el valor
absoluto de la girotropa en el material, la presencia de un valor 2ksen no nulo y con
dependencia sinusoidal del desfase , es un sensor de la deteccin de girotropa en el
material.
Los crculos y cuadrado rellenos son los valores de 2k determinados a partir de
conocer los valores de va C.
En las figuras se aprecia como en el entorno de los puntos = 2n, hay
dificultades para obtener la elipticidad, ya que alrededor de esos puntos 1/sen tiende a
infinito, y cualquier error en se amplifica considerablemente en 1/sen. El mtodo
HAUP, por tanto, tiene este inconveniente en los puntos sealados. Sin embargo,
generalmente el problema no es importante y se pueden despreciar los puntos
conflictivos.
En la tabla (IV.VIII), se muestran nuestros valores obtenidos de los coeficientes
de girotropa g11 y g22 del KDP correspondientes a los planos (100) y (010)
respectivamente, en una temperatura de 25oC. Se comparan con aquellos obtenidos por
Takada y col. [5] (figura (IV.25)), cerca de la transicin de fase a ferroelctrico.
Tabla (IV.VIII). Actividad ptica del KDP para los planos (100) y (010).

KDP(100)

KDP(010)

KDP(100)

KDP(010)

g11(t = 25oC,
=0.6328 m)

g22(t=25oC,
=0.6328 m)

g11(t = -110oC,
=0.6328 m)

g22(t=-110oC,
=0.6328 m)

4.07x10-5

-3.55x10-5

7.50x10-5 a)

-8.02x10-5 a)

a) Ref. [4],[5].

139

Se observa un decrecimiento de g11 as como un aumento de g22 con la

temperatura. Lo cual est de acuerdo con la grfica de la figura (IV.25), donde se
representan los puntos experiementales de Kobayashi junto a los obtenidos en nuestro
trabajo (lnea contnua).

g11 (x10-4)

0
-200

Tc
-150

-100

-50

50

100

toC
Fig. (IV.25). Dependencia con la temperatura de la actividad ptica del KDP en el
plano (100).

Los crculos vacos representan los valores de Kobayashi y col. mientras que la
linea contnua son los valores de nuestro trabajo.

IV.5.4. Determinacin del coeficiente electroptico lineal r41.

El KDP es un material utilizado en la construccin de moduladores

electropticos. La intensidad de la luz , por consiguiente, puede ser modulada aplicando
distintos campos en direccin longitudinal o transversal al haz de luz incidente en el

140

material. El valor de estos campos depende en gran medida de la magintud de los

coeficientes electropticos del cristal. En el caso del KDP la matriz de los coeficientes
electropticos Pockels en notacin reducida viene dada por

0
0
(rij ) =
r41
0

0
0
0
0
r41
0

0
0

0
0
r63

(IV.53)

En presencia de un campo longitudinal paralelo al eje y (plano 010), la indicatriz

ptica toma la forma

x2
no2

y2
no2

z2
ne2

+ 2 xzr41E y = 1

(IV.54)

y mediante una transformacin de ejes, la indicatriz ptica en presencia del campo

elctrico puede expresarse a travs de tres ejes principales (x,y,z) por

x2
n 2x

y 2
n 2y

z2
nz2

=1

(IV.55)

cuyos ndices de refraccin nx, ny y nz cambian en presencia del campo elctrico Ey.

Si se hace la transformacin de ejes mediante una rotacin alrededor del eje y,

se tiene que

141

x = x cos z sen
y = y

(IV.56)

z = x sen + z cos

Sustituyendo (IV.56) en (IV.54), se llega a

1
2 + r41 E y tg x 2 + 2
n

n
o

2 1

y + 2 r41 E y tg z 2 = 1

(IV.57)

siendo

tg 2 =

2 r41
E
1
1 y

no2 ne2

(IV.58)

La ecuacin (IV.58) nos permite determinar el coeficiente r41, a partir de la

determinacin del ngulo que gira la indicatriz ptica en funcin del campo aplicado
en la direccin perpendicular al plano (010) del KDP.

142

0,0

(x10 -4) (rad)

-0,5
-1,0
-1,5
-2,0
-2,5
-3,0
0

200

400

600

800

Ey (V/mm)
Fig. (IV.26). Rotacin de la indictariz ptica con el campo elctrico Ey en el plano
(010) del LiNbO3.

La figura (IV.26) muestra la rotacin de la indicatriz ptica con el campo

aplicado Ey por unidad de espesor en mm.
Del ajuste lineal segn la ecuacin (IV.58) a los valores experimentales
obtenidos, se determina el coeficiente eletcroptico r41 = 8.57 x10-12 (mV-1) en buen
acuerdo con los valores citados en la literatura. Por ejemplo de la ref. [3] se tiene r41 =
8.0 x10-12 (mV-1).

143

IV.6. Anisotropa ptica en presencia de reflexiones mltiples.

En esta seccin, se aplica la tcnica HAUP para la medida simultnea de la

birrefringencia y actividad ptica en el Cuarzo. En este caso hemos descubierto un
efecto no referenciado en la literatura en conexin con la tcnica HAUP, relacionado con
la presencia de ondulaciones en los valores de los parmetros de los ajustes cuando se
vara la temperatura del cristal. Dicho efecto de modulacin, tanto en los coeficientes
HAUP como en las magnitudes de anisotropa ptica determinados pueden explicarse,
como veremos posteriormente, si se tiene en cuenta la presencia de reflexiones mltiples
entre las superficies de las lminas de cuarzo. El mismo efecto ha sido posteriormente
observado en el caso de lminas cuando tienen lugar reflexiones mltiples en las caras
plano-paralelas de distintas lminas de Niobatio de Litio y Calcita de alto planoparalelismo.

IV.6.1. Introduccin.

Las medidas polarimtricas se caracterizan con lminas plano-paralelas

iluminadas generalmente con fuentes de luz coherente. Estas fuentes tienen la
importante ventaja de poseer alta potencia radiante as como baja divergencia del haz
luminoso. Por otra parte, la coherencia del haz lser resulta en ondas parciales que se
reflejan en las superficies de la lmina cristalina, dando lugar a la aparicin de
interferencias mltiples. Este efecto causa cambios en la polarizacin del haz transmitido
[1]-[2], as como una distorsin del haz Gaussiano a su paso por el material anistropo
[3], produciendo errores en las medidas polarimtricas. Los efectos de las reflexiones
mltiples han sido estudiadas por Holmes [1], en conexin con el retardo en lminas
utilizadas en elipsometra. Zander y col.[4] y Melle [2], investigaron el caso ms general
de la transmisin de luz coherente a travs de lminas de cuarzo plano-paralelas. Melle
obtiene frmulas para determinar los cambios en el azimut y la elipticidad de la luz
transmitida en funcin del ngulo de incidencia y azimut. Tambin, Oakberg [5] trata
144

con los efectos de modulacin de las interferencias en moduladores fotoelsticos y

algunas estrategias experimentales para reducir o eliminar tales interferencias. Ms
recientemente, Landry y Maldonado[6], estudiaron el caso ms comn concerniente a la
propagacin de luz a travs de un material anistropo, analizando los efectos de las
interferencias sobre parmetros elipsomtricos (elipticidad, ngulo de rotacin del eje
mayor e intensidad relativa reflejada y transmitida) cuando el haz pasa en una direccin
a travs de una lmina cristalina cuyos ejes principales tienen una orientacin arbitraria.
Sin embargo, a nuestro entender, los efectos de las interferencias han sido
ignorados o no observados en conexin con la tcnica HAUP. Slo Moxon y Renshaw
[7] reportaron algunos resultados tericos en donde una oscilacin a alta frecuencia
aparece en los parmetros experimentales (diferencia de fase y elipticidad de la luz
transmitida) cuando cambia la longitud de onda, produciendo errores en la
birrefringencia y actividad ptica relativos a aquellos cuando no hay interferencias.
En este trabajo se obtienen medidas HAUP con lminas de cuarzo afectadas por
la modulacin en los parmetros ajustados cuando vara la temperatura de la muestra.
Consecuentemente, si se determina la birrefringencia y la actividad ptica por mtodos
tradicionales, pueden variar alrededor del 8% sobre sus valores medios. Este efecto se
explica si las reflexiones mltiples dentro de la lmina da lugar a un patrn interferencial
dependiente de la temperatura.
En la seccin IV.6.2, se deducen las ecuaciones HAUP en presencia de
reflexiones mltiples. Estas ecuaciones muestran como los parmetros ajustados, a
partir de los cuales se calcula la birrefringencia y actividad ptica, vienen afectados por
un factor sinusoidal que depende de la longitud de onda del haz transmitido y del
camino ptico dentro del material. Las variaciones de tales cantidades, da lugar a
oscilaciones en los parmetros experimentales de la tcnica HAUP.
En la seccin IV.6.3, mostramos los resultados experimentales de la aplicacin
del mtodo HAUP para el estudio de lminas anistropas de cuarzo en planos cortados
en diferentes planos cristalogrficos. En todos los casos se observa la modulacin de los
coeficientes HAUP ajustados por mnimos cuadrados, cuando vara la temperatura del
145

cristal. Esta modulacin se comporta en forma regular alrededor de los valores que se
obtendran si no hubiera interferencias, de acuerdo con nuestras ecuaciones y los
resultados de Holmes[1]. Tal comportamiento nos permite eliminar e factor de
oscilacin y obtener los valores de la birrefringencia y actividad ptica.
En la seccin IV.6.4 se obtiene la birrefringencia y las componentes del tensor
giracin del -Cuarzo en funcin de la temperatura en el rango de 25 C a 100 C a una
longitud de onda = 632.8 nm. Los resultados obtenidos para la birrefringencia n =

ne - no y las componentes no nulas del tensor giracin g11, g22 = g11 y g33, con
muestras cortadas en diferentes planos cristalogrficos son consistentes con la simetra
del cristal y con los valores de otros autores. Por ejemplo, el coeficiente de variacin
trmica de la birrefringencia d(n)/dt, para un corte perpendicular al eje ptico es

1.06 x 10-6 (oC)-1, g11 = (5.9 0.4)x10-5 y g33 = -(10.1 0.2) x 10-5 a 24oC.
En la seccin IV.6.5, aplicamos la Tcnica HAUP en lminas cristalinas de
cuarzo que presentan reflexiones mltiples cuando se incrementa la temperatura hasta
300oC a una longitud de onda de 632.8 nm. Se obtienen las tres propiedades pticas:
birrefringencia n, actividad ptica G y variacin del camino ptico con la temperatura

(nd), en muestras orientadas por los planos (100), (010) y (101) y las dos ltimas
magnitudes en dos muestras orientadas por el plano (001). Tambin se obtiene a partir
de estas medidas el ngulo con el eje ptico , para el que no existe actividad ptica.
En la seccin IV.6.6, se aplic la Tcnica a los cristales Niobatio de Litio y
Calcita de cara a generalizar el efecto de las reflexiones mltiples sobre las lminas
cristalinas.

IV.6.2. Efecto de las reflexiones mltiples sobre el mtodo HAUP.

Cuando se tienen en cuenta las reflexiones mltiples en las caras de la muestra, la

luz emergente, descrita por el formalismo de Jones, puede expresarse por medio de la
ecuacin

146

J F = M an R T ( + ) T M T R ( + ) J i

(IV.59)

donde T y T son las matrices de los coeficientes de transmisin en la superficie de

salida y entrada del cristal respectivamente, dadas por[2]
t s
T =
0

0
,
t p

t s
T=
0

0
t p

(IV.60)

donde ts y ts son los coeficientes de amplitud de transmisin de la componente de la

onda paralela al plano de incidencia y tp y tp son los correspondientes coeficientes de
amplitud de la componente de la onda normal al plano de incidencia de acuerdo con las
ecuaciones de Fresnel.
Para materiales de pequea o moderada birrefringencia en incidencia normal, ts

tp = t y ts tp = t. Por lo tanto, el vector de Jones JF de la onda emergente estar

multiplicado por un factor tt que depende del cociente de ndices de refraccin cercano
a la unidad y que en general vara lentamente con la temperatura y longitud de onda.

Ji es el vector de Jones de la luz transmitida por el polarizador, dada por [8]

cos cos p i sen sen p

Ji =
.
sen cos p + i cos sen p

(IV.61)

La ecuacin (IV.61) representa luz elpticamente polarizada con elipticidad p y azimut

con respecto al eje de referencia OX como se observa en la figura 1. R es la matriz de
rotacin en un ngulo (+) del eje rpido del cristal con respecto al eje OX. Man es la
matriz de Jones del analizador, mostrada por [9]

(sen 2 cos 2q i sen 2q)

(1 + cos 2 cos 2q )
M an =
,
(1 cos 2 cos 2q)
(sen 2 cos 2q + i sen 2q )

147

(IV.62)

donde es el azimut del analizador con respecto al eje OX ( = 90o) y q es su

correspondiente elipticidad. En la figura (IV.27) puede apreciarse la disposicin de los
ngulos citados en el texto.

x
( Polariser
transmission
axis)

( Sample
fast axis)

( Analyzer z
transmission
axis)

Fig.(IV.27). Representacin esquemtica del azimut de la luz linealmente polarizada

que emerge del polarizador P, el ngulo +
que forma el eje rpido del cristal S, y el
azimut del analizador A, todos con respecto al eje de referencia OX.

La matriz M es la que corresponde al paso mltiple de la luz a travs del material

anistropo. Para obtenerla, debemos sustituir la matriz M asociada con un nico paso de
la luz[10],

e i ( / 2)
2k sen( / 2)
M = e i

e i ( / 2 )
2k sen( / 2)

(IV.63)

donde = ( 2 d / )n es un valor geomtrico medio del cambio de fase sufrido por

cada modo ortogonal de la onda que recorre la longitud d dentro el cristal, por el
producto S M . Aqu S es una matriz de reflexin mltiple dada por [2],

148

S = ( N ) 1

(IV.64)

=1

donde N es la matriz dada por el producto M M , que describe el cambio en

amplitud y fase de los modos de la onda normal durante un recorrido dentro de la
lmina, (figura (IV.28)), comenzando y finalizando en la cara de salida del cristal (un
zigzag).

0 1 2 3

..... ...... ....... n

Fig.(IV.28). Interferencias mltiples en una lmina cristalina.

Aqu es la matriz de reflectancia que puede escribirse como

rs
=
0

0
,
rp

(IV.65)

donde rs y rp son las reflectancias para las componentes de la onda extraordinaria y

ordinaria respectivamente. En consecuencia, la matriz N, toma la forma
2

M 11
N = ro2 e i 2
i 2sin( / 2)M 21

149

i 2sin ( / 2)M 12
,
M 222

(IV.66)

donde ro = ( n 1) /( n + 1) es la reflectancia obtenida de las ecuaciones de Fresnel en

incidencia normal cuando

las reflectancias perpendicular y paralela al plano de

incidencia son similares, esto es, asumiendo que ro rs rp rs rp y que n es una

funcin de la orientacin del eje ptico representando un ndice de refraccin efectivo
similar al definido en las secciones anteriores n , cuando la correccin debida a la
birrefringencia es pequea.
El trmino de fase e i 2 resultante del doble paso a travs de la lmina, se requiere
para las siguientes sumas de las ondas parciales. Finalmente, la matriz S que se obtiene
es
2
1 ro2e i 2 ( M 222 + M 12
) i 2ro2e i 2 sin ( / 2)M 12
S = 2 i 2
.
2 i 2
2
2
i 2ro e sin ( / 2) M 21 1 ro e ( M 11 + M 21 )

(IV.67)

2
Dado que ro2 k 2 es muy pequeo, podemos despreciar los efectos de ro2 M12
y
2
ro2 M 21
en la matriz S. As, se tiene

S11 1 ro2 e i 2 M 222

(IV.68)

2
S 22 1 ro2 e i 2 M 11
.

(IV.69)

Por tanto, los coeficientes de la matriz M son,

M 11 = S11M 11 + S12 M 21

S11 M 11 = M 11 1 ro2 e i 2 M 222

150

(IV.70)

M 12 = S11 M 12 + S12 M 22

M 12 1 ro2 e i 2 M 222 i 2 sen( / 2)ro2e i 2 M 22

(IV.71)

(IV.72)

M 21 = S 21 M 11 + S 22 M 21

2
M 21 1 ro2e i 2 M 11
+ i 2 sen( / 2)ro2 e i 2 M 11

M 22 = S 21 M 12 + S 22 M 22

2
S 22 M 22 = M 22 1 ro2 e i 2 M 11

(IV.73)

Reteniendo slo los trminos cuadrticos, se obtienen los coeficientes la matriz

M como
M 11 = (1 r 2 ) cos( / 2) + i(1 + r 2 ) sen( / 2)

(IV.74)

M 12 = 2k (1 r 2 ) sen( / 2)

(IV.75)

M 21 = 2 k(1 r 2 ) sen( / 2)

(IV.76)

M 22 = (1 r 2 ) cos( / 2) i(1 + r 2 ) sen( / 2)

(IV.77)

donde r2, dado por

r 2 = ro2 cos 2

= [( n -1)/( n + 1)] cos(4 nd / )

2

(IV.78)

es un parmetro de reflexin escalar que tiene en cuenta las reflexiones mltiples en las
caras de salida y entrada de la lmina.
151

Finalmente, la intensidad total transmitida, es decir la suma de todas las

intensidades de las sucesivas ondas parciales transmitidas, es

= J F J *F

(IV.79)

As, los nuevos parmetros ajustados, de los que obtendremos la birrefringencia

y actividad ptica, tienen las siguientes expresiones,

B exp = B (1 + 2r 2 cos )

(IV.80)

= 2( p + q ) sen (1 + 2r 2 cos )

Cexp = C 1 + 4r 2 cos 2 ( / 2)

= 4 sen 2 ( / 2) 1 + 4r 2 cos 2 ( / 2)

D exp = D (1 + 2r 2 cos )

(IV.82)

= 2( p k) sen (1 + 2r 2 cos )

(IV.81)

D exp = D 1 4r 2 sen 2 ( / 2) + 2 r 2 ( 2k) sen

= ( - 2k)sen + 2 cos 2 ( /2)

(IV.83)

1 4r sen ( / 2) + 2 r ( 2k) sen

2

Como puede verse, cuando se tienen en cuenta las reflexiones internas mltiples
los parmetros experimentales de la tcnica HAUP, ecuaciones (IV.80)-(IV.83), se

152

expresan por el producto de los correspondientes parmetros para un nico paso de la

luz (parmetros B, C, D y D) y una funcin que depende del factor de reflexin r2.
Este parmetro de reflexin escalar es una funcin del camino ptico dentro del cristal a
una longitud de onda constante y modula los parmetros experimentales a travs del
trmino cos(4 n$d / ). La birrefringencia y actividad ptica extrada vendr tambin
afectada por esta modulacin. Por tanto, cambios en el grosor de las muestras cuando se
incrementa la temperatura dar lugar a variaciones sinusoidales en los parmetros
ajustados alrededor de sus valores libres de interferencias. Un comportamiento
oscilatorio de los parmetros HAUP similar al descrito aqu puede recogerse en la
referencia [6] para los valores de parmetros elipsomtricos determinados en funcin del
ngulo de incidencia.
Podemos obtener un resultado equivalente al de las ecuaciones anteriores sin
utilizar el formalismo de Jones, sustituyendo el cambio de fase verdadero en los
parmetros HAUP originales por otro desfase experimental exp, que de acuerdo con
Holmes [1], se relaciona como,

exp ( 1 / 2 )( K y + K x 2 )cos ( y + x )d
sen ( y x )d

(IV.84)

exp + 2r 2 sen

(IV.85)

donde hemos considerado

K x K y = ( n 2 + 1 ) / 2n

153

(IV.86)

 x + y ( 2 / )( nx + n y )
( 4 / )n = 2 / d
y x = ( 2 / )( n )

(IV.87)

(IV.88)

y retenido slo los trminos cuadrticos en la aproximacin.

IV.6.3. Aplicacin al Cuarzo.

Se aplic los resultados de la seccin 6.2 para determinar la birrefringencia y

actividad ptica del -cuarzo por el mtodo HAUP. Se utilizaron lminas orientadas por
los planos (100) y (010) de 1.014 y 0.928 mm de grosor respectivamente. Todas las
muestras son de gran calidad ptica con caras muy bien pulidas. El dispositivo HAUP se
ilumin, como siempre con un lser de He-Ne de 632.8 nm de longitud de onda.
Para evitar errores sistemticos en el refinamiento de los datos experimentales, se
midi la intensidad relativa de la luz transmitida como una funcin de los ngulos y
para cada temperatura de la muestra, en una regin bien centrada alrededor del mnimo
absoluto. Para todas las medidas se rot la muestra y el analizador 0.5o en torno a las
posiciones de intensidad mnima y en pasos de 5'. Con este grid de intensidades se
procedi a determinar los parmetros HAUP experimentales mediante ajuste por
mnimos cuadrados a la funcin intensidad conocida.

IV.6.4. Resultados y discusin.

Las figuras IV.29(a)-(c) muestran la dependencia con la temperatura de los

parmetros ajustados

Cexp, Bexp y Dexp determinados a partir de los datos

experimentales de la muestra (100) de -cuarzo (smbolos vacos). Se observa que estos

154

parmetros oscilan en forma regular alrededor de sus valores libres de interferencias

(smbolos llenos), es decir, cuando se considera un nico paso de la luz a travs de la
lmina, en buen acuerdo con las ecuaciones (III.19), (III.20), y (III.31) y con la teora
exacta de retardos de lminas anistropas de Holmes[1].

4.0

(a)

C'exp

3.5
3.0

D'exp (x10 -3)

Bexp (x10 -3)

2.5
5
4
3
2
1
0

(b)

5
4
3
2
1
0

(c)
20

30

40

50

60
o

70

80

90 100

t C
Fig.(IV.29). Comportamiento de los coeficientes experimentales de la luz transmitida
con la temperatura para el plano (100) de cuarzo levgiro. (a), (b) y (c) representan los
coeficientes ajustados C'exp, Bexp y Dexp de los datos experimentales de acuerdo
con las ecuaciones (III.19), (III.20) y (III.31).

En la figura (IV.30), el desfase experimental exp , derivado de la ecuacin

(III.20) toma valores entre 2.7 y 2 radianes en el rango 24-100oC (crculos vacos). En
consecuencia,

cos2(/2) vara entre 0.12 y 0.38, lo cual no puede explicar la

modulacin observada en Cexp o los otros parmetros mostrados en la figura IV.29(a).

Esta modulacin slo puede explicarse si se tiene en cuenta que un incremento de

155

temperatura induce cambios en el producto ( nd ) de alrededor de 2 rdenes de

magnitud mayor que en el producto ( n d ) .
Por ejemplo, considerando que para una muestra cortada por el plano (100) de
1 mm de espesor, cuyos coeficientes de variacin trmica del ndice de refraccin y la
birrefringencia son (d n /dt) = - 6.0 x 10-6 (oC)-1 y (dn/dt) = -1.04 x 10-6 (oC)-1 [11]
respectivamente, y que el coeficiente de expansin trmica es de 14.19 x 10-6 (oC)-1
[12], se obtienen variaciones del orden de 8 rad en (4 n d / ) y del orden de 0.1
rad en el argumento (/2) de 24 a 100oC.

3.0

(rad)

2.5

2.0

Valor experimental (e
VAlor ajustado

x p

( )

1.5
20

30

40

50

60
o

70

80

90

100

tC
Fig.(IV.30). Comportamiento del desfase experimental con la temperatura para el
plano (100) de cuarzo levgiro a 632.8 nm de longitud de onda.

Por consiguiente, mientras que cos2(/2) y/o cos vara lentamente dentro del
intervalo de temperaturas estudiado, la funcin cos(4 n d / ) pasa varias veces por sus
valores extremos, dando lugar a la oscilacin observada en los parmetros
experimentales.

IV.6.4.1. Determinacin de la birrefringencia lineal del cuarzo.

156

Se necesita encontrar previamente la diferencia de fase B , debida a la

birrefringencia, resultante del retardo total por birrefringencia y actividad ptica

[2B +2G]1/2 [13], que aparece en Cexp. Sin embargo, como se muestra en la

figura IV.29(a), el parmetro experimental Cexp est modulado debido al fenmeno de

interferencias dentro del cristal. La ecuacin (IV.81) sugiere que una forma de eliminar la
modulacin sera ajustando Cexp a la funcin 4sen2(/2), donde el retardo de fase en
ausencia de interferencias sera una funcin de la temperatura.

En el caso del cuarzo la dependencia lineal en da el menor error en chicuadrado as como en los parmetros ajustados. Esta dependencia lineal, a parte de ser
un resultado matemtico del ajuste, es perfectamente consistente con el comportamiento
de la birrefringencia en temperaturas lejos de la transicin - del cuarzo (573oC). Tal
comportamiento lineal puede observarse en el estudio de Bachheimer y Dolino [14] del
parmetro de orden , definido en la teora de transiciones de fase de Landau,
relacionado con ciertas propiedades fsicas del material. Especficamente, en el caso del
cuarzo la birrefringencia ptica n es proporcional al cuadrado del parmetro de orden

2. La relacin general del parmetro 2 con la temperatura en la fase est

dada

por

2 = a[1 + b(t - to)1/2], donde a, b y to son constantes y t es la

2
temperatura en oC. En temperaturas lejos de 573oC el parmetro de orden puede

considerarse como una funcin lineal de la temperatura t , como tambin se confirma

por nuestros resultados. Por consiguiente, hemos utilizado esta funcin lineal para
determinar los valores de . En la figura (IV.30), los valores modulados se muestran por
los desfases experimentales exp (crculos vacos) determinados a partir del parmetro

C, junto con los cambios de fase sin interferencias obtenidos por el ajuste indicado
(crculos llenos). Una vez que el retardo relativo se determina, los valores absolutos de la
birrefringencia pueden obtenerse a partir de un valor conocido de sta en una
temperatura [15]. Se supone que B >> G , como siempre ocurre en el caso de que la

157

direccin del haz incidente est alejada de los ejes pticos, por lo que B (valores
relativos).
En la tabla (IV.IX), se listan los valores de la birrefringencia lineal para el
intervalo de temperaturas 24-100 oC. En la columna 2, se presentan los valores para una
muestra cortada por el plano (100), y en la columna 3 aquellos utilizando otra muestra
cortada por el plano (010). La columna 4 es el promedio de las columnas 2 y 3. Se
observa que la aplicacin de la misma tcnica de reduccin a diferentes muestras y por
tanto a diferentes grupos de datos que presentan el fenmeno de modulacin, da
esencialmente los mismos valores de la birrefringencia, como se espera de la simetra del
cristal. Los valores obtenidos estn en excelente acuerdo con los de Kobayashi y col.
[16](columna 5).

El valor promedio de los valores de n

en la tabla (IV.IX) nos permite

determinar el coeficiente de variacin trmica de la birrefringencia (d(n)/dt) como la

pendiente de la linea recta. Se obtiene el valor de -1.06x10-6 (oC)-1 para la longitud de
onda de 632.8 nm en el vaco, en buen acuerdo con el derivado de los datos de Micheli
[11] para la misma longitud de onda [-1.04x10-6(oC)-1].

158

Tabla IV.(IX). Dependencia con la temperatura de la birrefringencia a lo largo de una

t oC

direccin direccin perpendicular al eje ptico del -Cuarzo.

[n(100)0.01] x10-3 [n(010)0.01] x10-3 [ n0.01] x10-3 [ n0.01]x10-3

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IV.6.4.2. Determinacin de la girotropa del Cuarzo.

El -Cuarzo pertenece al grupo puntual D3-32, siendo un material pticamente

activo con componentes del tensor giracin no-nulas [13] g11 = g22 y g33. Se utiliza,
como es habitual en esta Tesis, la tcnica HAUP para determinar la dependencia con la
temperatura de tales componentes de girotropa. Para ello, hay que determinar los
valores de 2k en cada temperatura a travs de la ecuacin (IV.83). Sin embargo, esta
ecuacin no permite el clculo directo de 2k a menos que conozcamos el valor de los
parsitos experimentales y y la reflectancia r2. De los mtodos usuales de eliminar
los parsitos (mediante un cristal de referencia libre de actividad ptica [17] o rotacin
del espcimen en 90o alrededor del haz incidente[7], con el consiguiente cambio de
signo en 2k y ), hemos elegido el ltimo por evitar posibles perturbaciones en las
condiciones experimentales de intercambiar la muestra. En este caso, la ecuacin (IV.83)
tiene la siguiente expresin

D exp ( 90o ) = ( + 2k )sen 2 cos2 ( / 2 )

(IV.89)

1 4 r sen ( / 2 ) 2 r ( + 2 k )sen
2

y la suma de los dos parmetros Dexp ser

D exp + D exp ( 90o ) = 4 k sen + 2 ( + 2 ( 90o ) )cos2 ( / 2 )

(IV.90)

1 4 r sen ( / 2 )
2

La ecuacin (IV.90) muestra que si se toma un valor del parsito similar en

sendas posiciones de la muestra (90o una respecto de la otra posicin de mxima
extincin) y conocido el valor de (por ejemplo en el entorno de = 2m), es
posible eliminar los efectos de los parsitos, pero el trmino interferencial sigue

160

apareciendo. La nica manera de determinar 2k libre de interferencias, es trabajar de

forma similar al caso de la birrefringencia lineal, es decir, asumiendo una dependencia
funcional de 2k con la temperatura. De nuevo, el caso de la dependencia lineal 2k con la
temperatura es la que muestra menor chi-cuadrado y errores en el ajuste. Una vez que se
obtiene 2k sin interferencias, se calculan las componentes del tensor girotropa a partir
de los valores de n , es decir se obtiene G ( G = 2 k n n ) .
La dependencia de las componentes del tensor girotropa no-nulas en ausencia
de interferencias se muestran en la figura (IV.31).

10

G (x 10 -5)

g11
g22

g33
-5
-10
-15

20

40

60
toC

80

100

Fig.(IV.31). Dependencia con la temperatura de los coeficientes de giracin en los

planos (010), (100) y (001) del -Cuarzo en 632.8 nm de longitud de onda. Los
smbolos

, y son nuestros resultados correspondientes a las componentes g22,

g11 y g33 de acuerdo con los planos citados respectivamente. Los smbolos , X y la
lnea continua son los valores de Szivessy y Munster [18], Horinaka [19] y Kobayashi
[16] respectivamente. La lnea discontinua es el valor correspondiente a G45.

Los valores obtenidos de los planos (100) y (010) del -Cuarzo muestran
excelente acuerdo dentro del 3.5 % entre ellos; asimismo con los valores calculados por
otros autores

en algunas temperaturas. Los valores de g11 y g22 muestran un

comportamiento lineal en este rango de temperaturas como se observa en la fig.(IV.31),

161

donde se tiene una pendiente muy suave. Tal dependencia con la temperatura de las
componentes del tensor giracin lejos de la transicin de fase del cuarzo est de acuerdo
con que la actividad ptica es proporcional a como se sugiere en [14]. No obstante,
2

sera conveniente conocer el comportamiento de esos parmetros ms cerca de la

temperatura de transicin para confirmar la dependencia verdadera sin ambigedad.
-10.06
-10.08

g33 ( x10-5)

-10.10

-10.12
-10.14
-10.16

-10.18
-10.20
20

30

40

50

60
o

70

80

90

100

tC
Fig.(IV.32). Variacin del coeficiente g33 del ###-Cuarzo con la
temperatura.

El mtodo HAUP no es apropiado para la medida de actividad ptica en

direcciones en las que aparece sola. En esos casos, para direcciones a lo largo del eje
ptico, se utiliza un polarmetro convencional para medir la rotacin angular del plano
de la luz linealmente polarizada que emerge del cristal. En nuestro caso se utiliz una
lmina plano-paralela de cuarzo de 0.985 mm de grosor orientada por el plano (001). El
cristal hace rotar el plano de polarizacin de la luz incidente en el sentido antihorario
desde el observador, por lo que es una muestra de cuarzo levgiro.
La figura (IV.32) muestra la dependencia con la temperatura de g33 donde puede
apreciarse el efecto de las interferencias (<0.1%), siendo despreciable frente a g11 g22
.

162

Finalmente, hemos calculado la dependencia con la temperatura de la

componente del tensor giracin a 45o respecto del eje ptico. La lnea discontinua en la
figura (IV.31) representa esta componente G45 obtenida de nuestros valores g11 y g33,
que de acuerdo con la ley de transformacin de coordenadas de un tensor axial de
segundo rango, estn relacionadas por

G 45 = ( 1 / 2 )( g11 + g33 )

(IV.91)

Nuestros resultados (Fig.IV.31; G45 = -2.110-5 a t = 24oC y = 632.8 nm)

muestran buen acuerdo con otros previamente calculados, donde G45 = -3.910-5 [16]
y G45 = -2.510-5 [19] a = 632.8 nm y temperatura ambiente.

163

IV.6.5. Extensin de la Anisotropa ptica del cuarzo en presencia de

reflexiones mltiples hasta 300oC.

Como continuacin de las secciones anteriores [20], donde se midi la

birrefringencia y actividad ptica de dos muestras de cuarzo orientadas por los planos
(100) y (010) mediante la tcnica HAUP, as como la actividad ptica de una muestra
orientada a lo largo del eje ptico, hemos pretendido obtener las propiedades
anisotrpicas citadas cuando aumenta la temperatura hasta 300oC en presencia de
reflexiones mltiples en lminas de cuarzo orientadas por los planos (100), (010), (101) y
(001).
Los objetivos que nos planteamos aqu son: 1) Demostrar la validez de las
ecuaciones tericas desarrolladas en la seccin anterior; 2) Obtener la dependencia
ptima con la temperatura de la birrefringencia y actividad ptica del cuarzo en
presencia de reflexiones mltiples y 3) exponer con mayor claridad la aparicin de
interferencias en los parmetros pticos, dependiendo de las caractersticas de las
lminas cristalinas. Para ello hemos empleado ajustes no lineales a las ecuaciones
tericas mediante el algoritmo de Levenberg-Marquardt [21] , suponiendo que la
birrefringencia es proporcional al parmetro de orden 2 [14].
163

Con el mismo procedimiento de medida seguido hasta ahora, se obtuvieron dos

grupos de coeficientes HAUP para las muestras orientadas por los planos (100), (010) y
(101), los primeros para una posicin de extincin con el eje rpido de las muestras
paralelo al eje de transmisin del polarizador y los segundos con la muestra rotada en
90o respecto de la primera posicin de extincin alrededor del haz incidente. Se tuvo
especial cuidado en que en ambos grupos de medidas el haz incidente sobre la muestra
no se desplazara de su posicin original.
Finalmente se obtuvo el ngulo de rotacin del plano de polarizacin del haz
emergente de dos muestras orientadas por el plano (001).

IV.6.5.1. Determinacin de la birrefringencia.

Las figuras IV.33(a)-(c) muestran la dependencia con la temperatura del

coeficiente Cexp en los planos (100), (010) y (101) respectivamente del cuarzo. Los
smbolos vacos y llenos indican las dos posiciones citadas de la muestra. La lnea
continua representa el mejor ajuste a la funcin expresada por la ecuacin (IV.81),
donde se ha supuesto que el desfase es cuadrtico con la temperatura, el factor ro2 es
constante y el desfase 2 resulta tener un comportamiento cbico con la temperatura.
La variacin del desfase con la temperatura se interpret en la seccin anterior
como proporcional al parmetro de orden 2 = a[1 + b(t - to)1/2], que si se desarrolla
en serie adquiere una forma polinmica de orden 2 cuando la temperatura t llega hasta
300oC.
El factor ro2 expresado como ( n -1)2/( n +1)2 no vara substancialmente en este
rango de temperaturas.
Finalmente el trmino 2= (4/)( n d), nos indica las variaciones del camino
ptico n d con la temperatura, es decir
(2 ) = (4 / ) (nd) = (4 / )[( n )d + n ( d )] .

164

(IV.92)

Dependiendo de las variaciones del ndice de refraccin medio y del grosor de la

muestra.

(a)

Cexp

0
0

50

100

150
o

200

250

300

tC

Fig.IV.33(a). Representacin del coeficiente HAUP experimental Cexp en funcin de

la temperatura para el plano (100) del cuarzo. Los smbolos , indican los dos
grupos de medidas en dos posiciones consecutivas de extincin de la muestra. La lnea
continua en rojo, da el mejor ajuste a la ecuacin terica (3).

En las figuras IV.33(a)-(c) la funcin ajustada de acuerdo con la ecuacin (IV.81)

resulta tener la siguiente expresin,

4 sen 2 ( o + 1 t +

t2 )/ 2

1 + 4r cos(2 o + 2 1 t + 2 2 t 2 + 2 3 t 3 )
2
o

cos ( o + 1 t +
2

165

]}

t )/2

(IV.93)

donde los parmetros ajustados o, 1, 2, 2o, 21, 22 y 23 se resumen en la tabla

(IV.X) para todos los planos utilizados del cuarzo.

2,0

1,5

1,0

0,5

0,0
0

50

100

150

166

200

250

300

(c)

Cexp

0
0

50

100

150

200

250

300

toC
Fig.IV.33(c). Representacin del coeficiente HAUP experimental Cexp en funcin de
la temperatura para el plano (101) del cuarzo. Los smbolos , indican los dos
grupos de medidas en dos posiciones consecutivas de extincin de la muestra. La lnea
continua en rojo, da el mejor ajuste a la ecuacin (IV.93).

Tabla (IV.X). Parmetros ajustados mediante el algoritmo de Levenberg-Marquardt

segn la funcin de la ecuacin (19) para los tres planos cristalogrficos (100), (010) y
(101) del cuarzo.

Parmetros
ajustados

Planos utilizados
(100)

(010)

(101)

0.00211

0.00164

0.00010

o(rad)

9.453590.02130

1.767130.00894

5.608640.00264

1(rad)(oC)-1

-0.008650.00028

-0.009650.00017

-0.006490.00004

2(rad)(oC)-2

-(9.6800.895)10-6

-(8.8980.543)10-6

-(4.79050.1415)10-6

2o(rad)

28213.776.38

31915.64.1

28478.821.15

21(rad)(oC)-1

0.362590.00197

0.356380.00100

0.270420.00041

22(rad)(oC)-2

-0.000500.00002

-0.0004600.000007

-0.0002400.000005

23(rad)(oC)-3

(2.13180.0676)10-6

(1.38810.0273)10-6

(1.21750.0185)10-6

167

De la tabla (IV.X), puede obtenerse directamente la variacin con la temperatura

de la birrefringencia y del camino ptico, ya que (2d/)n y 2 = (4/) n d, si se
conoce la longitud de onda de la radiacin incidente y el grosor d de las muestras
utilizadas.
Si = 632.8 nm y los grosores de las muestras d = 1.017 mm, d = 0.997 mm y d =
1.021 mm para los planos (100), (010) y (101) respectivamente, se obtienen los
resultados de la birrefringencia (figuras (IV.34) y (IV.35)) libres de interferencias.

9,1

-3
n (x10 )

9,0

8,9

8,8

8,7

8,6
0

50

100

150

200

250

300

toC
Fig.(IV.34). Variacin de la birrefringencia n con la temperatura cuando el eje
ptico est perpendicular al haz incidente. Los smbolos corresponden al valor medio
de los planos (100) y (010) del cuarzo.

168

5,0

n (x10-3)

4,9

4,8

4,7

4,6

4,5
0

50

100

150

200

250

300

t oC
Fig.(IV.35). Variacin de la birrefringencia n con la temperatura en el plano (101)
del cuarzo.

En la figura (IV.34) puede observarse que el valor de la birrefringencia en los

planos (100) y (010) no difiere del valor medio de ambos plalnos, salvo en temperaturas
prximas a los 300oC, donde existe una pequea desviacin del

+- 0.2 % (barra de

error).
Conociendo los ndices de refraccin ordinario y extraordinario a la longitud de
onda utilizada y a una temperatura determinada se han obtenido los valores de las
birrefringencias que aparecen en las figuras (IV.34) y (IV.35). Por ejemplo de los datos
de Micheli [11], no = 1.5425 , ne = 1.5515 a una temperatura de 20oC, con lo que n =
ne - no 910-3, para los planos (100) y (010). En el caso del plano (101), el ndice de
refraccin extraordinario se calcula de acuerdo con la siguiente expresin

1
n 2e ( )

cos 2
no2

sen 2
ne2

(IV.94)

169

donde es el ngulo que forma el eje ptico con la direccin de incidencia (figura
(IV.36)) y ne es el ndice de refraccin extraordinario para la nueva orientacin.
Un estudio amplio de los aspectos cristalogrficos del cuarzo as como sus
posibles aplicaciones, pueden verse en la referencia [24]. Concretamente, el plano con
ndices de Miller (hkl) = (101), significa puntos de corte con el sistema de coordenadas
(X,Y,Z)=(a/h,b/k,c/l), donde (a,b,c) son los ejes cristalogrficos.

k
D
O

A
X
Fig.(IV.36). Representacin de las coordenadas angulares y de un cristal.

En la figura (IV.36) se dibuja un plano genrico, en la cual se representa el plano

(hkl) por el tringulo ABC cuya normal es OD. OA es igual a a/h, OB = b/k y OC = c/l.

La direccin de propagacin de la onda incidente se representa por el vector de onda k ,

cuyas coordenadas angulares son y . Se cumple que

170

OA
= ka / hb
OB
.
OE OA cos
tan =
=
= ( al / ch )cos = ( bl / ck )sen
OC
OC
tan =

(IV.95)

En el caso del cuarzo a temperatura ambiente, a = b y a:c = 1:1.100.

Sustituyendo los valores para el plano (101) del cuarzo, queda = 0o

= 42o.27369. Por tanto, la direccin de propagacin se encuentra a = 47o.72631

respecto del eje ptico que es paralelo al eje Z.

De la ecuacin (IV.94), conociendo el ngulo terico que forma el eje ptico

(eje z) con la direccin de propagacin, se obtiene el ndice extraordinario ne = n(101)

+ no = 1.54698. Esto permite conocer el nmero entero m = n d/= 7 y por

consiguiente el desfase absoluto del material, determinando la birrefringencia en el plano
(101) del cuarzo cuyo comportamiento con la temperatura se puede observar en la figura
(IV.35) .

IV.6.5.2. Determinacin del camino ptico.

La aparicin de interferencias permite determinar la variacin del camino ptico

medio con la temperatura. En la figura (IV.37), puede apreciarse la variacin del camino
ptico medio de los planos (100) y (010).

171

6
5

(nd) (x10-3)

4
3
2
1
0

50

100

150
o

200

250

300

tC

Fig. (IV.37). Variacin del camino ptico medio en los planos (100) y (010) (crculos
blancos) del cuarzo con la temperatura.

IV.6.5.3. Determinacin de la actividad ptica.

Las figuras (IV.38), (IV.39) y (IV.40) muestran las variaciones del parmetro

Dexp + Dexp(90o) con la temperatura, correspondientes a los planos (100), (010) y

(101) respectivamente, del cuarzo.

172

[Dexp + Dexp(90 o)] (x10-3)

10
8
6
4
2
0

-2
-4
0

50

100

150

200

250

300

toC
Fig. (IV.38). Variacin de la suma de los parmetros Dexp y Dexp(90o) en sendas
posiciones consecutivas de extincin de la muestra de cuarzo orientada en el plano
(100).

[Dexp + Dexp(90 o)] (x10-3)

10

-5

-10
0

50

100

150
o

200

250

300

tC
Fig. (IV.39). Variacin de la suma de los parmetros Dexp y Dexp(90o) en sendas
posiciones consecutivas de extincin de la muestra de cuarzo orientada en el plano
(010).

173

[Dexp + Dexp(90 o)] (x10-3)

1,5

1,0

0,5

0,0
0

50

100

150

200

250

300

t oC
Fig. (IV.40). Variacin de la suma de los parmetros Dexp y Dexp(90o) en sendas
posiciones consecutivas de extincin de la muestra de cuarzo orientada en el plano
(101).

En todos los casos se utilizaron los parmetros de la tabla (IV.X) para ajustar los
resultados experimentales de las figuras (IV.38), (IV.39) y (IV.40) a la ecuacin (IV.90),
observando un ajuste ideal (linea continua), es decir,

D exp + D exp (90 o ) = 4k sen( o + 1 t + 2 t 2 )

]}

+ 2( + (90 o )) cos 2 ( o + 1 t + 2 t 2 ) / 2

{1 - 4r

2
o

cos(2 o + 2 1 t + 2 2 t 2 + 2 3 t 3 )

(IV.96)

]}

sen 2 ( o + 1 t + 2 t 2 ) / 2

En la tabla (IV.XI) se muestran los parmetros del ajuste, de acuerdo con la

ecuacin (IV.96) y los valores del desfase y r2 previamente calculados,

174

Tabla (IV.XI). Parmetros del ajuste a la ecuacin (IV.96).

Planos

4k

2[ + (90o)]

(100)

1.310-7

(8.740.06)10-3

(-1.560.01)10-3

(010)

410-8

(8.050.02)10-3

(-1.800.02)10-3

(101)

1.410-8

-(2.140.03)10-3

(-1.820.05)10-3

Se observa que la elipticidad permanece constante.

A continuacin se representa en las figuras (IV.41) y (IV.42) la actividad ptica
en funcin de la temperatura para los tres planos cristalogrficos (100), (010) y (101).

10

G (x10-5 )

0
0

50

100

150

200

250

300

toC

Fig.(IV.41). Variacin de la actividad ptica G media con la temperatura en los planos

(100) y (010) (crculos blancos) del cuarzo.

En la figura (IV.41) se represnt el valor medio de la girotropa utilizando los

valores de la actividad ptica en los planos (100) y (010). Se observa un error del +- 4%
respecto a los valores de la girotropa representados (barra de error).

175

G (x10 -6)

-6

-7

-8

-9
0

50

100

150

200

250

300

toC
Fig.(IV.42). Variacin de la actividad ptica G con la temperatura en el plano (101)
del cuarzo.

IV.6.5.4. Reflexiones mltiples cuando slo existe actividad

ptica.

La figura (IV.43) muestra la disposicin de la muestra unixica S, cuyo eje

ptico es paralelo al haz incidente, el polarizador P y el analizador A con sus ejes de
transmisin a un ngulo y del eje OX respectivamente.

176

x
eje de
transmisin

eje de
transmisin

Fig.(IV.43). Representacin esquemtica de los azimut de la luz linealmente

polarizada emergente del polarizador P e incidente sobre la lmina cristalina S y de
la luz linealmente polarizada emergente del analizador A con respecto al eje OX as
como el azimut respecto del eje OY.

Siguiendo la disposicin de la figura (IV.43) y el formalismo de Jones se tiene

que la matriz del analizador puede expresarse por [8]
(sen 2 cos 2q i sen 2q )
(1 + cos 2 cos 2q )
M an =
(1 cos 2 cos 2q)
(sen 2 cos 2q + i sen 2q)

(IV.97)

que se convierte en
sen 2
(1 cos 2 )
M an =
(1 + cos 2 )
sen 2

(IV.98)

al ser = 90o + , es decir el azimut respecto del eje OX. Se desprecia la

elipticidad residual q del analizador. Por otra parte, para el polarizador [8]

cos cos p i sen sen p

Ji =

sen cos p + i cos sen p

177

(IV.99)

que se convierte en
1
Ji =
0

(IV.100)

despreciando la elipticidad p del polarizador y para = 0.

La lmina cristalina plano-paralela que slo presenta actividad ptica viene
expresada por [22]
cos sen
M = exp(i)
,
sen cos

(IV.101)

donde

nd y = d , siendo n un ndice medio para las dos ondas circularmente

polarizadas que se propagan a travs del cristal y su poder rotatorio, dado por

( nr nl )

(IV.102)

con nr y nl los ndices de refraccin de las ondas circulares dextrgira y levgira que se
propagan respectivamente.
La intensidad transmitida en estas condiciones viene dada por J F J *F , donde

J F = M an M J i . En presencia de reflexiones mltiples el vector de Jones J F se

convierte en J F = M an M J i , donde

178

1 0 cos sen
M = S M = (1 ro2ei 2 )

,
0 1 sen cos

(IV.103)

es la matriz de reflexiones mltiples [2]. Haciendo el producto de las matrices siguientes

obtenemos el vector de Jones de la luz emergente del analizador:
sen 2
(1 cos 2 )
JF =
(1 + cos 2 )
sen 2
1 ro2 e i 2
cos sin 1
0

2 i 2
0
1 ro e sin cos 0

cos (1 cos 2 ) + sen sen 2

JF =
.
cos sen 2 (1 + cos 2 ) sen

(IV.104)

Para la intensidad emergente,

I = J F J *F = cos 2 ( 1 cos 2 )2 + sen 2 sen 2 2 + sen 2 ( 1 cos 2 )sen 2

+ cos 2 sen 2 2 +( 1+ cos2 )2 sen 2 + sen 2 sen 2 ( 1+ cos2 )
( 1 ro2 e i 2 )( 1 ro2 ei 2 ) ,

I = 4( 1 2 ro2 cos 2 )sen 2 2( + ) = 4( 1 2 r 2 ) sen2 2( + ) . (IV.105)

Si la intensidad debe ser mnima cuando el eje de transmisin del analizador est
cruzado con la onda linealmente polarizada que sale del cristal, debe cumplirse

179

 I
= 0, (1 2r 2 ) sen [4( + )] = 0,

(IV.106)

donde + ser un ngulo pequeo si nos movemos en torno a la posicin de mxima

extincin. De esta manera,

exp = ( 1 2 r 2 ) = exp = ( 1 2 r 2 ) ,

(IV.107)

que expresa el ngulo que rota el plano de polarizacin a su paso por la muestra cuando
tiene lugar el fenmeno de reflexiones mltiples.
La actividad ptica a lo largo del eje ptico satisface la ecuacin (IV.107), como
puede observarse en las figuras (IV.44) y (IV.45).

-18,4

(deg x mm-1)

-18,6
-18,8
-19,0
-19,2
-19,4
-19,6
0

50

100

150

200

250

300

t oC
Fig.(IV.44). Variacin del poder rotatorio por unidad de grosor con la temperatura en
un plano (001) (crculos blancos) del cuarzo y el ajuste correspondiente (lnea continua)
a la ecuacin (IV.107).

180

-18,4

(deg x mm-1)

-18,6
-18,8
-19,0
-19,2
-19,4
-19,6
0

50

100

150

200

250

300

t oC
Fig.(IV.45). Variacin del poder rotatorio ptico por unidad de grosor con la
temperatura en el plano (001) para otra muestra de cuarzo.

En la figura (IV.44) se aprecia el efecto de las interferencias, mientras que en la

figura (IV.45) este efecto prcticamente desaparece. La presencia o no de modulacin en
los parmetros puede explicarse semi-cualitativamente en base a la existencia de un
pequeo ngulo de cua (figura (IV.46)) en las muestras supuestamente planoparalelas ( = 0).

x
d

Fig.(IV.46). Franjas interferenciales en una cua cristalina.

181

Segn la teora de interferencias, la presencia de un ngulo de cua es el

responsable de la aparicin en el campo del haz luminoso de un patrn de franjas claras
y oscuras de igual espesor (franjas de Fizeau), de forma que la distancia entre franjas
interferenciales x, producidas cuando un haz de luz colimado incide sobre una lmina
cristalina en forma de cua de ngulo , depende de dicho ngulo, segn

x = x mx x mn =

2n

(IV.108)

A medida que la cua se hace ms pronunciada, disminuye la distancia entre

franjas y el patrn se hace ms abigarrado (mltiples franjas interferenciales en el
campo). Por el contrario si el ngulo de cua es muy pequeo, x ser mayor y,
eventualmente puede ocurrir que en el campo iluminado por el haz aparezca nicamente
una franja interferencial clara u oscura .
La influencia que estos dos patrones interferenciales van a tener sobre los
parmetros es diversa. En el primer caso, ngulo de cua mayor y, por tanto muchas
franjas claras y oscuras en el campo iluminado, la variacin del grosor d y/o el ndice de
refracin n de la muestra con la temperatura llevar unida la salida de franjas
interferenciales del campo de visin para que su posicin sea ocupada por otra u otras,
con un cambio casi inapreciable de la intensidad recogida por el detector. Por el contario,
si nicamente existe una franja interferencial en el campo, el que sta sea clara u oscura
puede acarrear cambios en la intensidad detectada considerablemente ms significativos,
llegando a ser del orden del 8% entre mximos y mnimos. As, cuando la lmina se
hace ms plano-paralela, aumenta la interfranja, provocando el efecto de modulacin
por efecto de variacin del grosor d y/o ndice de refraccin n con la temperatura del
material.

La relacin entre el poder rotatorio y la actividad ptica viene dada segn [13],

182

G
.
n

(IV.109)

De acuerdo con la ecuacin (IV.107), tenemos la ecuacin

= ( o + 1t + 2 t 2 ) 1 2ro2 cos( o + 1t + 2 t 2 + 3t 3 ) ,

(IV.110)

donde los parmetros del ajuste en el caso de la figura (IV.45) puede verse en la tabla
(IV.XII),

Tabla (IV.X II). Parmetros ajustados segn la ecuacin (IV.110) para una muestra de
cuarzo orientada por el plano (001).

o = - 18.56666 0.00297 (o)(mm)-1

1 = - 0.00235 0.00004 (o )(mm)-1(oC)-1
2 = - (2.4501

0.13407) 10-6 (o )(mm)-1(oC)-2

o = 15795.91

2.41 (rad)

1 = 0.15545 0.00158 (rad)(oC)-1

2 = - 0.00017 0.00002 (rad)(oC)-2
3 = (5,6315

0.4273)10-7 (rad)(oC)-3

183

IV.6.5.5. Determinacin de la direccin libre de actividad

ptica.

Para el cuarzo, las componentes del tensor girotropa verifica la expresin

siguiente[23],

G ( 100 ) = G ( 010 )
G ( 101 ) = G( 100 )sen 2 + G ( 001 )cos 2

(IV.111)

donde es el ngulo que forma la direccin de propagacin con el eje ptico. En una
temperatura de 20oC, se obtienen los siguientes resultados: G(100) = 6.1110-5 ; G(010)
= 5.6310-5 ; G(101) = - 8.110-6 y G(001) = -10.1110-5 . Sustituyendo resultados, se
obtiene el ngulo = 49o.2., donde se ha tomado para la componente g11 el valor
medio obtenido en los planos (100) y (010).
Por consiguiente existe una desviacin del valor terico ( = 47o.72631)
respecto del valor determinado por nosotros ( = 49o.2) a partir de los valores de
actividad ptica obtenidos. Esta desviacin resultante = 1o.47, est de acuerdo con la
existencia de un "tilt" de 1o.37 respecto del plano (101) puesto de manifiesto por un
difractograma de rayos X realizado sobre nuestra muestra del plano (101), en el
Departamento de Cristalografa, Mineraloga y Depsitos de Minerales de la Universidad
de Barcelona.
Por tanto, la tcnica polarimtrica empleada se confirma como una potente
herramienta en el estudio de las propiedades de anisotropa ptica en cristales.
Finalmente, de la ecuacin (IV.111), puede asmismo determinarse la direccin
de propagacin en el cristal para la cual no existe actividad ptica (k=0 ). Tomando los
valores de G(100) y G(001) determinados en este trabajo, se obtiene un valor del ngulo

de

52o 42' a 25 oC y a 632.8 nm de longitud de onda, en donde est referido a la

direccin del eje OZ. Este valor puede estar afectado de un error de 30', ya que el valor

184

de G(100) utilizado fue un valor medio de los G(100) y G(010) obtenidos a partir de
muestras diferentes. El valor obtenido en este trabajo difiere del obtenido por Szivessy y
Mnster [18] en alrededor de 4o, si bien las medidas se hicieron en otra longitud de onda
ms baja, = 510 nm, y por consiguiente no inmediatamente comparables.

IV.6.6. Reflexiones mltiples dependientes de la temperatura en

cristales de LiNbO3 y CaCO 3.

Se aplic la tcnica HAUP en lminas plano-paralelas de LiNbO3 y CaCO3

orientadas por los planos (010), para observar la variacin con la temperatura de los
coeficientes HAUP.

4sen2(/2)

0
20

30

40

50

60

toC
Fig.(IV.47). Dependencia con la temperatura de 4sen2(
/2) para el plano (010) del
LiNbO3.

185

2,5

4sen2(/2)

2,0
1,5
1,0
0,5
0,0
24

26

28

30

32

34

36

38

40

42

44

toC
Fig.(IV.48). Dependencia con la temperatura de 4sen2(
/2) para el plano (010) de la
Calcita.

En las figuras (IV.47) y (IV.48) se representa la funcin 4sen2(/2)

experimental (puntos negros y blancos respectivamente) con la temperatura para el
Niobatio de Litio (LiNbO3) y la Calcita (CaCO3) as como el ajuste a dicha funcin
(linea continua) considerando que el desfase , es de tipo lineal = A + BT, en el
rango de temperaturas estudiado.

En las figuras (IV.47) y (IV.48) no puede observarse una marcada influencia de

las interferencias sobre los parmetros C del ajuste para estos dos casos en que los
valores de la birrefringencia son moderado y alto, respectivamente. No obstante, en la
figura (IV.47) ya comienza un cierto desajuste de los puntos experimentales a la curva
terica 4sen2(/2). Sin embargo, si el barrido en temperaturas se realiza con mayor

186

resolucin; disminuyendo el valor del paso de temperatura de 2 oC a 0.5 oC en el caso

del LiNbO3 (figura (IV.49)) y de

0.5 oC a 0.1 oC en el de la Calcita (figura (IV.50)), si

aparece una ondulacin significativa, que es una puesta de manifiesto de la influencia de

las reflexiones mltiples. En las figuras (IV.49) y (IV.50) se observa como los nuevos
resultados obtenidos se ajustan marcadamente bien (linea continua) a la funcin terica
(IV.81).

4sen2(/2)

0
25

30

35

40

45

50

tC
Fig.(IV.49). Dependencia con la temperatura de 4sen2(
/2) para el plano (010) del
LiNbO3.

187

2,50

2,25

2,00

1,75

1,50
25,0

25,5

26,0

26,5

27,0

27,5

28,0

28,5

tC
Fig.(IV.50). Dependencia con la temperatura de 4sen2(
/2) para el plano (010) de la
Calcita.

188

IV.7. Anisotropa ptica en cristales pertenecientes a la familia de las

palmieritas (KBM, KBNM, KNM, KPM y KBErM).

En esta seccin, se aplica la tcnica HAUP para la determinacin de la variacin

de la anisotropa ptica con la temperatura en algunos cristales de K5Bi(MoO4), K5Bi1xNdx (MoO4) , K5Nd(MoO4), K5Pr(MoO4) y K5Bi1-xErx(MoO4) , pertenecientes a la
familia de las palmieritas y cuyas frmulas abreviadas son KBM, KBNM, KNM, KPM y
KBErM respectivamente.

IV.7.1. Introduccin.

Los molibdatos estudiados en esta seccin, constituyen una familia de cristales

unixicos, aunque existen serias dudas de la asignacin de grupo espacial, es decir, si
son cristales centrosimtricos o no. La existencia de actividad ptica puede ayudar a
clarificar este aspecto. Por otra parte, la presencia de dopantes de tierras raras como el
Neodimio o el Erbio, influyen en la anisotropa de los materiales.
El objetivo por tanto es, por una parte como influyen los dopantes en las
propiedades de anisotropa ptica: birrefringencia y actividad ptica; y si existe
dicroismo lineal y/o circular en las muestras a estudio, ya que esta familia de cristales
tiene la particularidad de presentar absorcin en ciertas longitudes de onda.
Las medidas HAUP en este trabajo no tienen en cuenta la existencia del
dicroismo lineal y/o circular cuando coexisten con la birrefringencia y la actividad
ptica. Este tipo de medidas se ha llevado a cabo por autores como Perekalina y col. [1],
Baturin y col. [2]. Con la tcnica HAUP, ya ha sido investigado por Moxon y col. [3],
Kremers y col. [4].
Como se ha discutido anteriormente la tcnica HAUP, al igual que otras muchas
tcnicas polarimtricas, no permite determinar el desfase total entre las dos modos
ortogonales que se propagan en el medio. nicamente es posible determinar el desfase
relativo R = -2m (m un nmero entero) va la ecuacin (III.20). Por tanto, para
189

obtener la birrefringencia absoluta n en cualquier temperatura y/o longitud de onda es

necesario determinar un valor inicial de sta por algn otro mtodo. Este valor inicial de
la birrefringencia (en alguna temperatura y/o longitud de onda prefijada), junto con el
conocimiento del grosor de la muestra d, permite determinar el nmero entero m y, por
consiguiente, n en cualquiera otra temperatura y/o longitud de onda mediante la
ecuacin
n = ( / d )[m + ( R / 2)]

(IV.112)

Por otra parte, la elipticidad k (a partir de la cual se obtiene la actividad ptica G) y

la rotacin de la indicatriz ptica pueden determinarse de las relaciones (III.31) y
(III.32), respectivamente, si previamente se calculan los valores de los parsitos p, q, y

. La eliminacin de estos errores sistemticos es esencial dado que sus valores son
del mismo orden de magnitud de los

valores esperados para la elipticidad k

(~ 10 3 10 4 ).
En cristales pticamente inactivos donde k =0 , el proceso de eliminacin de los
parsitos p, q, y se basa en las ecuaciones (IV.5) y (IV.6). Sin embargo, cuando
los cristales son pticamente activos, la extraccin de los parsitos instrumentales no es
tan simple. Se han propuesto varios mtodos para determinar los parsitos en materiales
que presenta simultneamente birrefringencia lineal y circular. Sin embargo, el mtodo
de repetir el proceso de barrido para dos posiciones de la muestra rotadas entre si 90o,
parece ser el ms apropiado [5] (seccin 2.2). En este caso, puesto que tanto 2k como
cambian de signo con la rotacin, el parsito puede obtenerse restando los valores del
parmetro D obtenidos en las dos posiciones de la muestra, si previamente se han
determinado los valores de en tales posiciones a partir de los valores de D en
que

=2n (con n entero).

190

IV.7.2. Resultados y discusin.

En las tablas IV.XIII(a) -(b) se listan las muestras analizadas en este trabajo,
junto con informacin referente a los planos de corte de las lminas, grosores y clase
cristalina asignada.
En todos los casos las medidas se realizaron utilizando el procedimiento descrito
en el apartado anterior. Los barridos se desarrollaron en reas angulares de 0.5o x 0. 5o
alrededor de la posicin de mxima extincin, moviendo polarizador y analizador en
pasos de 3 min. de arco. Las medidas se repitieron para diferentes temperaturas de las
muestras en el rango desde temperatura ambiente hasta 60 o C 80 o C .
Tabla IV.XIII(a). Materiales utilizados con eje ptico en el plano del cristal ( ).

Cristal ( )
KBM
d = 1.2 mm
KBNM (x = 0.001)
d = 1.1 mm
KNM
d = 0.6 mm
KPM
d = 1.2 mm
KBErM (x = 0.005)
d = 1.5 mm
KBErM (x = 0.050)
d = 1.4 mm
KBErM (x = 0.100)
d = 1.1 mm
KBErM (x = 0.200)
d = 0.9 mm
KBErM (x = 0.400)
d = 1.7 mm

Grupo
espacial
P 3 m1
P3

Birrefringencia

P2/m
P2 Pm

(x) Existencia de Birrefringencia y/o Actividad ptica.

191

Actividad
ptica
x

Tabla IV.XIII(b). Materiales utilizados con eje ptico perpendicular al plano del
cristal

( ).

Cristal ( )
KBM
d = 0.7 mm
KBNM (x = 0.01)
d = 1.1 mm
KNM
d = 0.6 mm
KPM
d = 0.75 mm
KBErM (x = 0.40)
d = 0.6 mm

Grupo
espacial
P 3 m1
P3

P2/m
P2 Pm

Birrefringencia
0

Actividad
ptica
x (*)

x (*)

x (*)

x (*)

(x) Existencia de Actividad ptica.

(*) Existencia de dicroismo circular.

En la fig.(IV.51) se representan los valores de C frente a la temperatura para uno

de los especmenes estudiados. Se observa que tanto los valores de C obtenidos
cuando los barridos se realizan alrededor del eje rpido de la muestra (crculos vacos),
cmo los obtenidos con la muestra rotada 90 o (crculos oscuros) se ajustan muy bien a
una funcin 4 sen2 ( / 2 ) (lnea continua). Los nicos desacuerdos se presentan
alrededor de los mximos y mnimos. Ello se debe muy posiblemente a la variacin del
espesor de la lmina de punto a punto del campo iluminado por el haz lser (existencia
de un ngulo de cua en la muestra) [6].

192

4sin 2(/2)

0
20

30

40

50

60

t C
Fig.(IV.51). Dependencia con la temperatura del coeficiente C para sendas posiciones
de la muestra con el eje rpido paralelo y perpendicular al polarizador (crculos vacos
y oscuros).

En la tabla (IV.XIV) se dan los desfases relativos, normalizados al grosor de las

muestras d , ( R / d ) , determinados a partir de los parmetros C de cada material.
Dichos desfases relativos estn relacionados con las birrefringencias absolutas n a
travs de la ecuacin (IV.112).
Tabla (IV.XIV). Desfase relativo por unidad de grosor, R/d (rad.mm-1).

t oC

KBM

KBNM
(x=0.001)

KNM

KPM

20

4.04

3.67

-0.93

-1.15

25

3.00

2.00

-0.98

-1.25

30

0.95

0.69

-1.04

-1.34

35

-0.95

-1.28

-1.09

-1.39

40

-2.23

-2.39

-1.14

-1.41

45

-3.94

-4.12

-1.20

-1.43

50

-5.78

-5.17

-1.25

-1.42

55

-6.90

-6.96

-1.31

-1.42

193

En la fig. (IV.52) se observa que todas las muestras listadas en la tabla (IV.XIII),
y cortadas segn los planos (100) (010), presentan birrefringencias que decrecen
linealmente con el incremento de la temperatura. Los coeficientes de variacin trmica
de la birrefringencia (pendientes de las rectas de la figura (IV.52)) toman valores que van
-5
desde 3.03 x 10 para los casos del KBM y del KBNM hasta aproximadamente cero
para los casos del KNM y el KPM. Es importante observar que el punto de corte de
todas las rectas mostrado en la fig. (IV.52), no indica necesariamente que todos los
materiales presentan la misma birrefringencia en esa temperatura. Este efecto es ms
bien debido a la naturaleza relativa de las magnitudes expresadas en la tabla (IV.XIV) y
la figura (IV.51). nicamente el paso de los valores relativos de la tabla (IV.XIV) a
birrefringencias absolutas, a travs de la ec. (IV.112), permitira estimar si el efecto
indicado es real o las rectas correspondientes se separan sin cortarse en ningn punto del
rango de temperaturas analizado. A pesar de los valores relativos obtenidos, la variacin
lineal de la birrefringencia con la temperatura y el cambio de pendiente observado de
muestra a muestra si son caractersticas reales del comportamiento de estos materiales.

(R /d) (rad.mm -1)

-5

-10
20

30

40

50

60

tC
Fig.(IV.52). Representacin del desfase relativo por unidad de grosor frente a la
temperatura. Los smbolos , l , , n , O, corresponden a los valores experimentales
de los cristales de KBM, KBNM(x=0.001), KBErM(x=0.4), KNM y KPM
respectivamente (orientacin del eje ptico paralelo a la superficie de las muestras).

194

Al mismo tiempo que la birrefringencia relativa, en todos las muestras de la

tabla (IV.XIII) ( muestras cuyo eje ptico se sita en la superficie de la lmina) se ha
podido determinar sin lugar a dudas la elipticidad k va parmetro D (fig. (IV.53)). Este
hecho indica inequvocamente la presencia de actividad ptica en esa direccin. La casi
constancia con la temperatura de las elipticidades k obtenidas a partir de la ec. (III.31), y
la relacin k = G / ( 2 n n ), sugieren que los coeficientes de girotropa de stos
materiales varan con la temperatura de forma anloga a cmo lo hacen sus respectivas
birrefringencias, si bien sus valores absolutos son alrededor de 4 rdenes de magnitud
ms bajos.

15

2k sin (x 10 -4)

10
5
0
-5
-10
-15
20

30

40

50

60

tC
Fig.(IV.53). Dependencia con la temperatura de la funcin 2ksin
para el KBM
orientado con el eje ptico en el plano de la muestra.

Las muestras de los materiales listados en la tabla IV.XIII(b), cortadas con su eje
ptico perpendicular a la superficie de la lmina (plano (001)), no presentan
birrefringencia lineal detectable. Tampoco se detecta claramente la rotacin del plano de
polarizacin de la luz cuando se propaga en la direccin del eje ptico. Sin embargo, su
insercin entre polarizadores

cruzados, en la platina de un microscopio de luz

195

polarizada, provocan el paso de luz por el analizador sin que en ningn caso pueda ser
extinguida por rotacin de las muestras. Esto slo puede ser explicado si el material
presenta actividad ptica en esta direccin (eje ptico).
Medidas de la intensidad transmitida por las muestras en la direccin del eje
ptico, cuando se incide con luz circularmente polarizada, indican una significativa
diferencia en la transmisin segn la luz incidente sea levgira o dextrgira. Trabajando
con dos luces circularmente polarizadas de sentidos contrarios, en la longitud de onda
de 632.8 nm, se observan razones de intensidad transmitida de las componentes
dextrgira a levgira que van de 1.25 en el caso del KBM a 1.9 en el caso del KPM. Esta
diferencia de absorcin de las muestras segn que la luz sea circularmente polarizada a
derechas o izquierdas sugiere la presencia de un fuerte dicroismo circular en la direccin
del eje ptico. Tal dicroismo producira la absorcin selectiva de uno de los modos de
propagacin circulares, dando como resultado que la luz emergente sea elpticamente
polarizada en vez de linealmente polarizada, como cabra esperar del paso de la luz a
travs de un medio que presenta nicamente actividad ptica. Este fenmeno de
polarizacin elptica de la luz emergente por dicroismo circular sera el responsable de la
no deteccin clara en estas muestras de la actividad ptica a lo largo del eje ptico; al
contrario de lo que ocurre con otros materiales, como por ejemplo el cuarzo.
Tabla (IV.XV). Desfase relativo por unidad de grosor, R/d (rad.mm-1).

t oC

KBErM
(x=0.005)

KBErM
(x=0.050)

KBErM
(x=0.100)

KBErM
(x=0.200)

KBErM
(x=0.400)

20

2.18

3.36

-1.33

0.75

1.52

24

1.59

1.65

-2.19

0.36

1.30

28

0.55

1.24

-3.05

-0.58

0.94

32

0.42

0.69

-3.92

-1.05

0.59

36

-1.11

-1.03

-4.78

-1.54

0.34

40

-1.97

-1.59

-5.64

-2.00

-0.49

44

-2.57

-3.07

-6.50

-2.42

-0.83

48

-3.59

-3.66

-7.36

-2.78

-1.18

196

52

-3.94

-5.27

-8.23

-3.56

-1.46

56

-5.04

-5.84

-9.08

-3.94

-2.26

60

-5.93

-6.13

-9.95

-4.37

-2.55

64

-6.54

-7.75

-10.81

-4.81

-2.90

68

-7.31

-8.25

-11.67

-5.25

-3.21

72

-7.88

-9.82

-12.53

-5.67

-3.34

76

-8.71

-10.33

-13.40

-5.91

-4.26

80

-9.26

-10.62

-14.26

-6.89

-4.58

84

-10.00

-12.11

-15.12

-7.29

-4.91

88

-10.47

-12.60

-15.98

-7.70

-5.16

(x=0.005) Concentracin de Erbio.

Tabla (IV.XVI). Coeficientes de variacin trmica de la birrefringencia y actividad

ptica,

d
n/dt y (1/ n )(dG/dt) respectivamente.

Cristal ( )

dn/dt (x 10-5) (oC)-1

(1/ n )(dG/dt) (x 10-8) (oC)-1

KBM

-3.031

-3.4

KBErM (x = 0.005)

-2.870

-3.2

KBErM (x = 0.050)

-2.427

-2.7

KBErM (x = 0.100)

-1.974

-2.2

KBErM (x = 0.200)

-1.350

-1.5

KBErM (x = 0.400)

-1.057

-1.2

En el caso de las muestras de KBM con diferente concentracin de Er (KBErM),

se ha medido simultneamente birrefringencia y actividad ptica en todas las muestras
cortadas con el eje ptico paralelo a la superficie de la lmina.

197

R /d (rad.mm-1)

-5

-10

-15

-20
20

40

60

80

100

t C
Fig.(IV.54). Representacin del desfase relativo por unidad de grosor frente a la
temperatura. Los smbolos O, , , l y n corresponden a los valores experimentales
de los cristales de KBErM con concentraciones 0.4, 0.2, 0.05 , 0.005 y 0 de Erbio
respectivamente (orientacin del eje ptico paralelo a la superficie de las muestras).

En la tabla (IV.XV) y la fig.(IV.54) se observa que la birrefringencia presenta un

comportamiento similar con la temperatura al observado en las muestras de la tabla
(IV.XIII). En el caso de las muestras de KBErM la birrefringencia y la actividad ptica
tambin disminuyen linealmente con el incremento de temperatura. Tales variaciones
(pendientes de las rectas correspondientes) son ms acusadas en las muestras con menor
concentracin de Erbio, cmo se observa en la tabla (IV.XVI) donde se presentan los
coeficientes de variacin trmica de la birrefringencia y la actividad ptica. En las figuras
(IV.55) y (IV.56) se representan estos coeficientes frente a la concentracin de Erbio.
Para el coeficiente de variacin trmica de la birrefringencia puede obtenerse un ajuste,
linea continua de la fig. (IV.55), de acuerdo con la expresin

( d n / dT )o + e x ,

198

(IV.113)

siendo los parmetros del ajuste

( d n / dT )o = -0,89492; = -2.0942 y =

0,14505.

d(n)/dT (x10 -5)

-1

-2

-3

-4
0,0

0,1

0,2

0,3

0,4

x
Fig.(IV.55). Variacin del coeficiente de variacin trmica de la birrefringencia con la
temperatura para distintas concentraciones de Erbio (orientacin del eje ptico
paralelo a la superficie de las muestras).

(1/n)dG/dT (x10 -8)

0,0

-0,5

-1,0

-1,5

-2,0
0,0

0,1

0,2

199

0,3

0,4

Fig.(IV.56). Variacin del coeficiente de variacin trmica de la actividad ptica con la

temperatura para distintas concentraciones de Erbio (orientacin del eje ptico
paralelo a la superficie de las muestras).

Al igual que en el caso de las muestras de la tabla (IV.XIII), la muestra de

KBErM (x = 0.4) cortada segn el plano (001) tampoco presenta birrefringencia. Sin
embargo, en este caso se ha podido medir con claridad una rotacin del plano de
polarizacin de la luz emergente de 4.45o . Asimismo, no se observa diferencia
apreciable, ( 1%) , en la razn de intensidades transmitidas por las componentes
circulares dextrgira y levgira en la direccin del eje ptico. Ello indica que no existe
dicroismo circular en esa direccin; contrariamente a lo observado en las muestras de la
tabla (IV.XIV).

Por tanto hemos medido simultneamente la birrefringencia y actividad ptica en

muestras cristalinas, pertenecientes a la familia de las palmieritas., cortadas segn el
plano (100) (010). Se observa que tanto la birrefringencia cmo la actividad ptica
decrecen linealmente con la temperatura, siendo los coeficientes de variacin trmica
diferentes y decrecientes del KBM al KPM, en los casos de la tabla (IV.XIV), y con la
concentracin de Er en el caso de las muestras de KBErM. Asimismo se constata la
ausencia de birrefringencia a lo largo del eje ptico en todos los casos estudiados, as
cmo la existencia de actividad ptica en esa direccin. Ello indica que todos los
materiales son pticamente unixicos y deben pertenecer a una clase no centrosimtrica
(posiblemente sistema trigonal y clase activa : 3, 32, 6 622 ), en contra de la asignacin
hecha por Lazoryak y Efremov [7] a partir de sus medidas de rayos X.

IV.7.3. Deteccin de dicroismo.

Se ha detectado la presencia de dicroismo circular en los Molibdatos disponibles.

Esto es, un desfase dado por

200

2 d
( k l k d ) = 2 d ,

(IV.114)

con kr y kl los coeficientes de extincin de los modos circularmente polarizados que se

propagan dentro del material.
Las medidas de la luz circularmente polarizada transmitida por las muestras
indica existencia de un fuerte dicroismo circular en la direccin del eje ptico, a
excepcin del KBErM (x = 0.4) en el que tal efecto no se ha podido observar. En la
figura (IV.57) se observa como dos posiciones consecutivas de extincin de la muestra
de KPM hace que exista dicroismo circular.

2,5

2,0

o (x10-3)

1,5

1,0
0,5
0,0
10

20

30

40

50

60

70

80

90

toC
Fig.(IV.57). Variacin del ngulo o para dos posiciones consecutivas de extincin de
la muestra de KPM.

Por otra parte el dicroismo lineal produce una diferencia de fase dada por

2 d
( k1 k 2 ) = 2 d ,

(IV.115)

201

con k1 y k2 los coeficientes de extincin de los dos estados ortogonales lineales que se
propagan dentro del cristal.
Si bien el dicroismo lineal puede ser despreciable en la longitud de onda de 632.8
nm, puede existir en otras regiones de longitud de onda. Para confirmarlo hemos hecho
dos barridos de absorcin en el espectro visible utilizando luz polarizada lineal en
direcciones

perpendiculares

(Espectrofotmetro

del

Departamento

de

Fsica

Fundamental y Experimental, Universidad de La Laguna)). En la figura (IV.58) se

aprecia como en la regin inferior del espectro aparece dicroismo lineal.

3,5
3,0

Densidad ptica

2,5
2,0
1,5
1,0
0,5
0,0
300

400

500

600

700

800

900

(nm)
Fig.(IV.58). Espectro de absorcin en dos posiciones ortogonales de luz polarizada
(linea negra y roja) para la muestra de KPM.

En la longitud de onda estudiada (632.8 nm) el dicroismo lineal es inapreciable.

Se observa que alrededor de 450 y 600 nm existe un coeficiente de absorcin dado, a
partir de la Densidad ptica (D.O.) segn

202

I
1
D.O. = log 10 = log 10 o
T
I

(IV.116)

donde T es la transmitancia de la muestra igual al cociente entre la intensidad

transmituda I y la intensidad incidente Io.
Cuando existe absorcin en el material, la intensidad transmitida se ve reducida a

I ( ) = I o ( )e ( ) z

(IV.117)

siendo z la distancia recorrida por la luz dentro del material y el coeficiente de

absorcin del cristal. Si la intensidad se reduce a (1/e) cuando la luz atraviesa la lmina
cristalina de espesor d, entonces el coeficiente de absorcin queda definido como

( ) =

2 .303 ( D . O . )
d

(IV.118)

En las regiones alrededor de 450 y 600 nm se observa una diferencia entre los
coeficientes de absorcin del material paralelo y perpendicular al eje ptico,
produciendo el desfase por dicroismo lineal E, que mostramos en la figura (IV.59).
En la figura (IV.60), se muestra la diferencia entre los coeficientes de extincin
paralelo y perpendicular al eje ptico.

203

E (rad)

0
400

500

600

700

800

900

(nm)
Fig.(IV.59). Espectro del desfase por dicroismo lineal para la muestra de KPM.

2,0

k (x10-4)

1,5

1,0

0,5

0,0
400

500

600

700

800

(nm)
Fig.(IV.60). Espectro del dicroismo lineal para la muestra de KPM.

204

900

Bibliografa

IV.8. Referencias.

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207

2. N.A. Baturin, A.F. Konstantinova, Z.B. Perekalina and B.N. Grechushnikov. Sov.
Phys. Crystallogr. 28, 296-299 (1983).
3. J.R.L. Moxon, A.R. Renshaw and I.J. Tebbut. J.Phys. D: Appl. Phys.24, 1187 (1991).
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5. C. Hernndez, P. Gmez-Garrido and S. Veintemillas. To be published (1998).
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7. B.I. lazoryak and V.A. Efremov. Sov. Phys. Crystallogr. 31,138-142 (1986).

208

Anexos

APNDICE A
Propiedades del tensor ik
El tensor ik tiene las siguientes propiedades :
(i) Es simtrico, ik = ki.
Si consideramos un dielctrico aislado trmicamente sobre el que penetra un

campo elctrico E , se produce una variacin de la energa interna dada por,

dU = TdS + d + E d D / 4

(A.1)

donde U es la energa interna, T la temperatura constante del cuerpo, el potencial

qumico, S la entropa y la masa por unidad de volumen de dicho cuerpo. Para la
energa libre,

dF = dU - d ( TS) = - SdT + d + E d D / 4 ,

(A.2)

resultando el campo elctrico,

E = 4 ( U / D ) S , = 4 ( F / D ) T , ,

(A.3)

siendo la energa libre ms conveniente de utilizar ya que su derivada debe calcularse

manteniendo constante la temperatura, mientras que la energa interna hay que
expresarla en funcin de la entropa.

Si queremos expresar como variables independientes las componentes del vector

E , podemos introducir los potenciales termodinmicos,

~
~
U = U E D/ 4, F = F E D/ 4 ,

209

(A.4)

cuyas diferenciales son,

~
dU = TdS + d D d E/ 4,

~
dF = SdT + d Dd E/ 4.

(A.5)

Ahora, podemos poner el desplazamiento elctrico en funcin de estos

potenciales de la siguiente forma,

~
~
D = 4(U / E) S, = 4 (F / E) T , .

(A.6)

La relacin entre el desplazamiento elctrico y el campo elctrico es el tensor

permitividad dielctrica, es decir,
~
D i
2F
= 4
ik =
,
E k
E k E i

(A.7)

demostrando que el tensor permitividad es simtrico, ya que la derivada segunda no

(ii) Es real en un medio transparente.

Si no existe absorcin, se tiene que las prdidas elctricas dadas por la expresin

i *
( ki ) E i E k ,
16 ik

(A.8)

se traduce a la igualdad *ik = ki = ik , es decir, queda reducida, como en un medio

istropo, a la de que todos los ik sean reales.

210

APNDICE B
Propiedades del tensor ikl
El tensor ikl tiene las siguientes propiedades:
(i) Es antisimtrico, ikl = - kil.

Sean Ei, Ei las componentes del vector E en cada punto del cuerpo de dos

sistemas distintos y las correspondientes magnitudes Di, Di del vector D . En virtud de

la simetra del tensor ik, tenemos que

D i = ik E k , D i = ik E k
k

Di E i = D i E i .
i

(B.1)

La igualdad (B.1) toma la forma

E D dV = E D dV .
i

Substituyendo aqu, Di = ikEk + iklEk/xl y teniendo en cuenta la simetra de ik se

obtendr,

ikl

Ei

E k
E k
dV = ikl E i
dV.
x l
x l

(B.2)

Integrando por partes se llega a,

ikl

Ei

E k
E i
E k
dV = ikl E k
dV = kil E i
dV.
x l
x l
x l
211

(B.3)

Dado el carcter arbitrario de E y E , se deduce que

ikl = - kil.

(B.4)

(ii) Es real en un medio transparente.

Si el medio no es absorbente, no debe haber disipacin de energa en un campo
elctrico. Dicha disipacin viene dada por el promedio respecto del tiempo de,

U
1 D

= E
dV.
t
4
t

(B.5)

donde debemos tener en cuenta que tanto E como D son complejos, por lo que la
expresin que hay que promediar es la siguiente,

D*

1
i
* D
*
*

(
E
.
+
E
.
)
dV
=

(
E
.
D
E
. D)dV.

16
t
t
16

(B.6)

y substituyendo de nuevo Di = ikEk + iklEk/xl ,donde ik es real en un medio

transparente, obtendremos

i
E * k
*
(

dV.
ikl + kil ) E i
16
x l

Esta expresin se anula idnticamente si se cumple la condicin

*ikl = -kil = ikl.

212

(B.7)

Llegamos as a la conclusin de que la condicin de que no exista absorcin exige que el

tensor ikl sea real.

213

APNDICE C
Modos de polarizacin en medios birrefringentes girotrpicos para
cualquier orientacin del cristal.

Cuando el vector de propagacin k forma un cierto ngulo 0 respecto de

uno de los ejes principales y otro ngulo 0, 90o, respecto de los otros dos ejes
ortogonales , es preciso la determinacin de los autoestados de polarizacin en el medio

y = y

x= x
x

z
z

Fig.(C. 1). ( k | | y): 1 rotacin alrededor de y , 2 rotacin alrededor

de x. Adems z se encuentra en el plano (y, y).

Mediante una doble transformacin de coordenadas: sendas rotaciones y

alrededor de los ejes y, x respectivamente, ver figura (C.1), tenemos que
x
y =

z

a 11 a12
a
21 a 22
a 31 a 32

a 13 x
3

a 23 y ; xi = a ij x j ; x i = a ij x j .
j=1
a 33 z

215

(C.1)

Las componentes aij de la matriz transformacin de coordenadas [aij] queda de

la forma:
0
sen
cos

a ij = sen sen cos sen cos

cos sen sen cos cos

[ ]

(C.2)

A continuacin hay que transformar las propiedades fsicas mencionadas,

expresadas por un tensor macroscpico de segundo rango, llamado tensor
impermeabilidad [ij]. Dicho tensor tiene todas sus componentes distintas cuando el
medio es anistropo bixico y girotrpico. Adems las componentes i = j son reales y
aquellas donde i j son complejas.
11
Re{ ij } = 0
0

[ ]

0
22
0

Im{ ij } = G z / n 12 n 22
G y / n 12 n 32

[ ]

0 1 / n 12
0
0

2
0 = 0
1/ n 2
0
33 0
0
1 / n 23

(C.3)

G y / n 12 n 23

G x / n 22 n 32 .

(C.4)

G z / n 12 n 22
0
G x / n 22 n 23

Tal transformacin es de la forma:

11

ij = 21
31

[ ]

Ahora

12

22
32

13

23 = a ik a jl kl ; ij = a ik a jl kl .
k l

33

(C.5)

ij es el nuevo tensor transformado en planos perpendiculares a la

direccin de propagacin de la onda incidente, siendo

216

[ ]

ij xz

11
= *
13

13
;
33

[ ]

ij xy

11
= *
12

12

; ij

22

[ ]

yz

22
= *
23

23
(C.6)
33

los tensores transformados en los planos (x, z), (x, y) y (y, z) respectivamente.
Diagonalizando las matrices de la ecuacin (C.6) se obtienen los ndices de
refraccin correspondientes a los autoestados de polarizacin en uno de los planos
perpendiculares a analizar. Por ejemplo los ndices de refraccin en el plano (x, z)
vienen dados por,

( )

(C.7)

( )

(C.8)

1 / 2

n1 = 11
cos2 + 33
sen 2 + 2 sgn 13
r 13 cos sen

n3 = 11
sen 2 + 33 cos2 2 sgn 13
r 13 cos sen

1 / 2

donde

( )

arctang 2 sgn 13
r 13
2

11

33

( )

)}

con ijr la parte real de ij , ij el mdulo de ij y sgn ijr el signo de ijr

.

217

(C.9)

Conclusiones Generales

CONCLUSIONES GENERALES

Una vez introducidos los aspectos formales de la propiedades de anisotropa

ptica estudiadas : birrefringencia , actividad ptica y rotacin de la indicatriz ptica as
como varios de los mtodos experimentales empleados en la medida de estas
propiedades:

Hemos construido en nuestro laboratorio el polarmetro HAUP "high-accuracy

universal polarimeter", que permite la medida simultnea de la actividad ptica,
birrefringencia y rotacin de la indicatriz ptica, as como los coeficientes
electropticos en cristales pertenecientes a cualquier clase cristalina.

La variacin con la temperatura de tales propiedades de anisotropa ptica en

distintos cristales nos ha permitido conocer importantes aspectos fsicos de stos:
temperaturas de transicin, comportamiento de fases ferroelctricas, interferencias
por reflexiones mltiples, variaciones del camino ptico, coeficientes de variacin
trmica, orientacin de planos cristalogrficos, dicroismo y en definitiva
birrefringencia y actividad ptica.

En el Sulfato de Triglicina (TGS) cabe destacar, la determinacin

birrefringencia, actividad ptica y giro de la indicatriz ptica en las fases
ferroelctrica y paraelctrica as como la temperatura de transicin. Analizamos la
dependencia de la birrefringencia e indicatriz ptica con la polarizacin espontnea y

219

comprobamos que la orientacin de los dominios influye notablemente en el valor

Hemos discutido como intervienen los parsitos en las ecuaciones de la tcnica

HAUP, concluyendo que stos no pueden ser utilizados como fijos en el sistema
sino que dependen en gran medida de la calidad de las muestras a estudiar, como se
desprende de los resultados obtenidos con distintos cristales pticamente inactivos
(Calcita, Niobatio de Litio, Dicromato Potsico).

Por otra parte, se procedi al mtodo de rotar la muestra en dos posiciones

consecutivas de extincin para obtener con mayor resolucin la elipticidad de los
modos ortoganales que se propagan dentro del cristal pticamente activo

Hemos determinado la elipticidad en los planos (100) y (010) del cristal de KDP en el
rango de temperaturas 20-100oC, as como la variacin de la birrefringencia en
ambos planos y en el plano (001) del KBC.

Hemos propuesto y desarrollado como intervienen las reflexiones mltiples en

lminas cristalinas en las ecuaciones HAUP, determinando la anisotropa ptica en
distintos planos cristalogrficos del Cuarzo, as cmo en lminas de Calcita y
Niobatio de Litio, concluyendo que:

- Las ecuaciones HAUP estn moduladas por el factor r2 que depende de las
variaciones del camino ptico.

- Los resultados experimentales de los coeficientes de la Tcnica HAUP

cumplen con las ecuaciones tericas a partir de ajustes no lineales teniendo en
cuanta el algoritmo de Levenberg-Marquardt.

220

- Las variaciones de la birrefringencia y actividad ptica con la temperatura se

aproximan a dependencias lineales o cuadrticas segn

los rangos de

temperatura estudiados. As se observa que hasta 100oC la dependencia con la

temperatura de la birrefringencia y actividad ptica es lineal y hasta 300oC esta
dependencia es cuadrtica. Tales comportamientos, estn en consonancia con
los estudios de Bachheimer y Dolino que relacionan linealmente el parmetro
de orden 2 con las propiedades de bianisotropa citadas. A mayores
temperaturas el comportamiento de la birrefringencia y actividad ptica es de la
forma a[1 + b(t - to)1/2] y en la vecindad de la temperatura de transicin a la
fase , este comportamiento debe estudiarse con exponentes crticos.

- La obtencin de la actividad ptica en diferentes planos cristalogrficos, (100),

(010), (001) y (101) est de acuerdo con las restricciones de simetra impuestas
por el tensor de segundo rango gij, llegando a conocer el ngulo de
desorientacin del plano cristalogrfico (101) igual a 1o.47 grados. Esto est de
acuerdo con los estudios realizados por Difraccin de Rayos X de la
Universidad de Barcelona.

- La presencia de reflexiones mltiples en las lminas cristalinas como el

Cuarzo, Calcita o Niobatio de Litio deben tenerse en cuenta cuando hay
cambios sensibles detemperatura a la hora de construir lminas retardadoras.

Se detect actividad ptica en Molibdatos de Bismuto y Potasio as como dopados

con Erbio o Neodominio, indicando la presencia del grupo espacial no
centrosimtrico.

Finalmente se discuti como puede intervenir la presencia de dicroismo lineal y

circular en muestras absorbentes. Estudiamos el caso particular del cristal Molibdato
de Praseodimio y Potasio (KPM), observando dicroismo lineal en otras longitudes
221

de onda a la estudiada y un fuerte dicroismo circular en la longitud de onda

estudiada de 632.8 nm, as como su variacin con la temperatura.

222