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VENTURAS

DEL PENSAMIENTO

AVENTURAS
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ESPECTROMETRA DE
FLOURESCENCIA DE RAYOS X
CARMEN ORALIA MELNDEZ PIZARRO Y ALEJANDRO ALBERT O CAMACHO DVILA
Facultad de Ciencias Qumicas/Universidad Autnoma de Chihuahua

n los ltimos aos se

han desarrollado tcnicas
muy sofisticadas de anlisis
que nos permiten llevar a cabo
el estudio de muestras complejas de una manera eficiente y en
tiempos muy cortos. Una de ellas es la
espectrometra de fluorescencia de rayos
X (EFR-X) o tambin conocida como
fluorescencia de rayos X (XRF por sus
siglas en ingls). Estas tcnicas se han
aplicado en la industria para determinar
el contenido y la composicin elemental
con el fin de optimizar su explotacin comercial o bien para control de calidad.
Adems es muy utilizada en diversas
reas como la farmacutica, geologa,
materiales, forense, arqueologa y anlisis ambientales, entre otros.

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Es por esto que la EFR-X o XRF como herramienta
de anlisis resulta importante tanto desde el punto de
vista cientfico como desde su aplicacin a escala industrial. En este artculo presentaremos de manera muy
general los principios bsicos y las aplicaciones de esta
tcnica as como sus ventajas y desventajas con respecto a otras.
La espectrometra de fluorescencia de rayos X es
una tcnica de espectroscopa atmica. Esta se basa en
las transiciones de electrones de los tomos que se producen cuando una radiacin electromagntica de cierta
energa incide con el material en estudio, produciendo
una excitacin del tomo, el cual pasa de un estado basal
(estable) a otro de mayor energa (inestable) de lo que
resultan transiciones en diferentes estados energticos
en el tomo, los cuales son nicos para cada tomo en
particular. Esta caracterstica se utiliza para la identificacin de los analitos o compuestos que queremos analizar, por lo que es de gran utilidad en el anlisis cualitativo.
La cuantificacin o anlisis cuantitativo de diferentes elementos o compuestos se puede llevar acabo utilizando mtodos espectroscpicos de absorcin y emisin. Los de absorcin atmica se basan en la cantidad
de energa que absorbe el analito al pasar de un estado
de menor energa otro de mayor energa. En los casos
de espectroscopia de emisin, donde se incluye la
espectrometra de fluorescencia de rayos X, se cuantifica la energa liberada en forma de fluorescencia cuando
el electrn pasa de un orbital de mayor energa a otro de
menor energa. En este caso especfico se requiere de
una radiacin de rayos X para producir fluorescencia en
determinados materiales; la cual se utiliza con fines de
identificacin y de cuantificacin.
Entre las tcnicas de espectroscopia atmica utilizadas convencionalmente para el anlisis elemental (de
elementos) estn las de absorcin atmica y la de induccin de plasma acoplado. Estas dos tienen la gran
desventaja de ser destructivas; esto es, la muestra es
destruida durante su anlisis, lo que se traduce en la
prdida de la muestra. Cuando se dispone de muy poca
cantidad de muestra o bien es una muestra valiosa desde el punto de vista econmico, histrico, religioso o artstico es deseable contar con tcnicas que nos permitan
su anlisis sin destruirlas. En reas como la medicina
forense, arqueologa, numismtica o en el anlisis de
valiosas obras de arte entre otras, es deseable esta caracterstica y la fluorescencia de rayos X nos la brinda.
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Historia de los rayos X

Los rayos X fueron descubiertos por Wilhelm Conrad
Roentgen en 1895. Son una radiacin muy energtica.
Su energa dentro del espectro electromagntico est
situada entre el lejano ultravioleta y los rayos gama
(g). La energa (E) de los rayos X convencionalmente
es expresada en kiloelectronvolts (keV). Esta relacin
se describe en la ecuacin 1, la cual muestra la relacin inversa entre energa y longitud de onda (l) en
amstrongs (), la longitud de onda de los rayos X va
de 0.1 a 100 :

E(keV) = 12.4 (1)

l ()
La fluorescencia de rayos X requiere de una energa muy grande de ionizacin especfica y la radiacin
de rayos X es lo suficientemente energtica. Los anlisis por XRF demandan una excitacin inicial para el
elemento de inters y la energa mnima de los rayos X
es de 100 eV. Esta energa es de 4 a 25 veces ms
grande que la requerida para la disociacin de un enlace covalente tpico y la energa de ionizacin del electrn de valencia de un tomo, respectivamente. Comparando, la energa de un rompimiento de un enlace
carbono-carbono (C - C) es de 3.6 eV, y la energa de
ionizacin ms grande corresponde al elemento helio
con 24.6 eV. De aqu, que la energa de excitacin de
los rayos X es lo suficientemente energtica para remover los electrones cercanos al ncleo en un tomo.

Fundamentos de la tcnica
Para que se d el proceso de fluorescencia de rayos X,
primero tiene que ocurrir la absorcin fotoelctrica por
el elemento. La absorcin fotoelctrica por la muestra
sucede cuando un fotn altamente energtico proveniente de una radiacin de rayos X interacta con la
materia. Cuando los tomos de la muestra a analizar
absorben esta alta energa, un electrn de los ms cercanos al ncleo de las capas internas K o L es expulsado del tomo. En este proceso de absorcin, parte de
la energa del fotn incidente de rayos X es utilizada
para romper la energa de enlace del electrn interno
del elemento y la energa restante acelera el electrn
expulsado.
Despus de que el electrn es expulsado, el tomo
queda en un estado altamente excitado y por lo tanto
muy inestable. Para que se reestablezca la estabilidad,
los electrones de las capas adyacentes llenaran el esENERO-MARZO 2009

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pacio vacante, al pasar un electrn de otra capa y con

una energa diferente al del electrn saliente hay una
diferencia de energa, la cual se emite en forma de
radiacin de rayos X. Precisamente, este proceso de
emitir rayos X es conocido como fluorescencia de rayos X. El fotn de rayos X emitido tendr una energa
especfica igual a la diferencia entre las dos energas
de enlace de un electrn de las capas interna y adyacente, y esta energa es nica para cada elemento.

Anlisis cuantitativo y cualitativo

Ambos anlisis, cualitativo y cuantitativo, resultan posibles con XRF. Estas transiciones discretas de rayos
X discutidas arriba son utilizadas para el anlisis elemental cualitativo. El espectro de emisin de rayos X
caractersticos es relativamente sencillo y la emisin
de rayos X es gobernada por las reglas de seleccin
definidas por la teora de la mecnica cuntica. As, la
energa de los rayos X emitida es convertida a longitud
de onda especfica, la cual es nica para cada elemento y esto nos permite hacer una clara e inequvoca identificacin de los elementos presentes en el material a
analizar. Adems de utilizar la energa o longitud de
onda de los rayos X emitidos para la identificacin de
elementos, la intensidad de los rayos X permite el anlisis cuantitativo. Las intensidades de los rayos X son
directamente proporcionales a la concentracin del elemento. En cuanto ms intensa es la emisin o fluorescencia en mayor cantidad se encuentra el elemento a
cuantificar. Para la cuantificacin elemental en una
muestra se requieren de estndares; eso es, un determinado elemento en algn material en concentraciones conocidas. Los estndares se utilizan para hacer
una comparacin directa con la muestra a analizar. Esto
se realiza mediante la comparacin con una curva de
calibracin.

Tipos de fluormetros de rayos X

Los anlisis cualitativo y cuantitativo pueden ser realizados usando la energa o la longitud de onda de los
rayos X emitidos. Cuando las longitudes de onda son
detectadas, la tcnica es llamada fluorescencia de rayos X de dispersin de longitud de onda (WDXRF) y
cuando la energa es detectada se conoce como fluorescencia de rayos X de dispersin de energa
(EDXRF). Este artculo se enfocar en los EDXRF
porque esta tcnica es ms utilizada en equipos porttiles. Resulta menos cara que WDXRF y actualmente
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existen ms publicaciones citando EDXRF que WDXR.

Los primeros instrumentos de laboratorio de mesa de
EDXRF estuvieron en el mercado a finales de 1960.
Desde entonces, grandes avances en instrumentacin
han ocurrido, lo que ha permitido que EDXRF sea cada
vez ms ampliamente utilizado. Como cualquier espectrmetro, los fluormetros de rayos X dispersivos de
energa, porttiles o de mesa, cuentan con una fuente
de excitacin, un sistema ptico y un detector. Esta es
bsicamente la instrumentacin que permite la aplicacin de esta tcnica en diferentes reas.

Aplicaciones
Dentro de las reas en las que ha tenido ms aplicacin la fluorescencia de rayos X tenemos: arqueologa,
ciencias forenses, medicina, geologa, recubrimientos,
materiales, electrnica, farmacutica y medio ambiente, entre otros. A continuacin se hace un breve detalle
de estas aplicaciones. En arqueologa, al analizar los
objetos encontrados, conviene conocer los materiales
utilizados en su manufactura para no llegar a daarlos.
Tambin en los museos especialmente a los curadores
de obras de arte esta tcnica les resulta de mucha
utilidad, ya que no daa de ninguna manera las pinturas, adems de que permite identificar los pigmentos,
tintas o colorantes utilizados, saber su procedencia y
verificar su autenticidad. Tambin ha sido utilizado en
aplicaciones forenses. Esta tcnica es muy til cuando
se dispone de muy poca muestra. Un ejemplo es el
anlisis de residuos de descarga por arma de fuego
para compararlos con los de alguna vctima o escena
de un crimen. Tambin se utiliza en la identificacin de
explosivos. En la medicina se ha usado para ver metales traza como mayoritarios en diferentes tejidos como
piel o hueso o bien identificar la presencia de piedras
en la vescula. Por otra parte, en la geologa se utiliza
en la identificacin de meteoritos y minerales. La propia naturaleza de penetracin de los rayos X en los
materiales permite su utilizacin en la industria de los
recubrimientos, ya que su pueden analizar al mismo
tiempo mltiples capas de recubrimiento; en el anlisis
de pinturas es muy importante. En la industria electrnica se utiliza con la finalidad de identificar contaminantes, como metales (plomo, cromo mercurio, cadmio
y bromo) en los circuitos electrnicos, la cuantificacin
puede ser debajo de 5 mg/Kg. En la industria farmacutica apoya en el control de calidad, tanto de medicamentos como cremas, pastas dentales, cosmticos y
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Conclusin
La fluorescencia de rayos X nos brinda algunas
ventajas: el anlisis no es destructivo (es decir la
muestra no sufre daos al analizarla); bajo costo;
determinacin rpida; interpretacin de resultados
simple; permite determinaciones multielemento
(varios elementos) simultneamente; preparacin
de la muestra mnima o bien no la hay; se pueden
analizar muestras en estado gaseoso, lquido y slido; abarca determinaciones elementales desde el
berilio hasta uranio; posee un amplio rango dinmico de trabajo, es decir que se pueden medir concentraciones desde mg/g hasta 100%; el equipo
puede ser porttil y dispuesto para analizar muestras de grandes dimensiones. Todas estas ventajas hacen de XRF una tcnica de aplicacin en
mltiples disciplinas.
XRF se utiliza en anlisis elemental cualitativo
y cuantitativo y el uso de estndares de calibracin apropiados es fundamental. Dentro de los tipos de XRF, EDXRF ms uso y ventajas representa.
Porque EDXRF es una tcnica madura y robusta se ha aplicado en diversos campos. En medicina, EDXRF ha sido utilizado en aplicaciones
in-vivo en el anlisis de plomo en huesos y arsnico en piel. EDXRF porttiles han sido utilizados
en anlisis de composicin de trabajos de arte para
la restauracin y autenticacin. Tambin varios artculos reportan el uso de EDXRF porttil en el
anlisis de metales pesados en muestras de suelo,
sedimentos marinos, agua, pinturas, y caminos.
Otra aplicacin es en el anlisis de la composicin
qumica del suelo de Marte con el robot Pathfinder.
EDXRF se presenta como una tcnica universal
para anlisis elemental.
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Naturaleza muerta con canica.

talcos entre otros. Sirve para medir la homogeneidad de los productos o la calidad de mezclado de
los ingredientes de las muestras o bien en la
cuantificacin de posibles contaminantes residuales
en los productos finales. Otra aplicacin importante es en las ciencias ambientales; estas pueden
ir desde anlisis de contaminantes en el suelo (plomo, cadmio, mercurio), identificacin de elementos radiactivos (uranio), caracterizacin de materiales para reciclado y anlisis de partculas en el
aire por medio de anlisis de filtros.

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