Tcnicas Espectroscpicas de

Absorcin/Emisin Atmica

Madrid, 5 de Julio 2011

Importancia del Anlisis Elemental

La composicin elemental
determina las propiedades
qumicas y fsicas de las
muestras.
La presencia de ciertos
elementos, incluso a niveles de
traza y ultratraza puede tener
un impacto significativo en la
salud humana, medio ambiente
o en la industria.

Sep 2010

Caractersticas y Exigencias del Anlisis Elemental

El anlisis de trazas y ultratrazas cobra cada vez ms importancia
Disminucin de los lmites de deteccin de las tcnicas de anlisis
(medioambiente, alimentacin, bio-clnico, semiconductores,
materiales)
Los anlisis se efectan cada vez ms en un entorno regulado.
Legislaciones nacionales, europeas, internacionales. Uso de sistemas
de calidad, patrones primarios, CRMs. Exactitud y robustez en el
sistema de medida.
El anlisis se incorpora dentro de la cadena productiva y por lo tanto
cada vez es ms importante el control de los costes y la productividad de
los laboratorios. Automatizacin, velocidad, capacidad multielemento,
sencillez de manejo.

Sep 2010

Tcnicas de Anlisis Elemental

Trazas y Ultratrazas.

Sep 2010

Espectroscopa Atmica Qu medimos?

1. La absorcin de
energa permite
que un electrn
se mueva a un Absorcin
nivel energtico
superior.

E1

E2

2. El electrn excitado puede

eventualmente disminuir su
energa hasta el nivel basal y
emitir luz a longitudes de
onda bien definidas)
Emission

3. Si hay sufiente
Ionizacin energa en el sistema, el
electrn puede
abandonar el tomo y
dejar tras de s un ION
cargado positivamente.

Nucleo
Electron
Page 5

Tcnicas de Espectrometra Atmica

AA, ICP-OES, ICP-MS
Monoelementales
FAA

Absorcin
Atmica de
Llama

GFAA

Absorcin
Atmica de
Cmara de Grafito

HGA

Generacin de
Hidruros/Vapor
Frio

Multielementales
Espectroscopa
ICP-OES Optica de
Emisin ICP

ICP-MS

Page 6

Espectroscopa
de Masas

Muy rpida; buena cobertura de elementos,

monoelemental, DLs entre 10s a 100s ppb;
bajo coste.
Lenta; cobertura selectiva de elementos,
monoelemental, DLs entre 10s a 100s ppt;
mayor coste.
Rpida; cobertura elemental baja,
monoelemental; DLs entre 10s a 100s ppt;
bajo coste.
Muy rpida; puede analizar la mayora de
elementos, multielemental; DLs en torno a
las ppb; coste medio.
Rpida; puede analizar la mayora de los
elementos, incluyendo el Hg, multielemental
DLs entre las ppt o sub-ppt; alto coste.

Absorcin Atmica: Caractersticas generales

67 elementos
Desde ppts a niveles de ppm altas
Intervalo lineal de 2-3 ordenes
Precisin tpica inferior al 1% RSD en
FLAA y VGA y del 3-5% RSD en GFAA.
Instrumento sencillo de ajustar
Instrumentacin de facil manejo
Tcnica muy especfica y selectiva
Bajos costes operativos

Page 7

Pittsburg Conference 1957...

... Siglo XXI

Sistemas AA de Agilent
Diseos ptico de altas prestaciones
Nebulizador para todo tipo de anlisis.
Tolerancia a todo tipo de matrices: Muestras acuosas,
cidas, orgnicas.
Sensibilidad ajustable: Nebulizador, bola de impacto.
Enorme estabilidad y robustez en matrices fuertes.
Seguridad.
Interlocks de seguridad.
Sistemas de liberacin de presin.
Corte automtico de gases.
Optica de altas prestaciones
Optica sellada y espejos recubiertos de cuarzo.
Mnimas partes mviles.
Mayor rendimiento en la transmisin de la luz.
Red de difraccin de 1200l/mm-1800 l/mm
Distancia focal de 250-330 mm
Resolucin variable, hasta 0.1nm

10

Atomic Absorption
Agilent Restricted
7/11/2011June 2010

Eficiencia y Productividad
Modo de trabajo en AA convencional

Se mide un solo elemento cada vez

Las muestras se aspiran una y otra vez durante el Anlisis
Aumentan los delays. Aumenta el tiempo de anlisis
Consume ms cantidad de muestra

Page 11

Eficiencia y Productividad
Modo de trabajo en Fast Sequential (FS)

Mide todos los elementos en una secuencia rpida.

Todas las muestras se aspiran una sola vez.
Mejora la productividad en ms de un 50%
Menor consumo de muestra. Ahorro de tiempos de trabajo y costes operativos

Solo Agilent dispone del modo FS

Page 12

SpectrAA FS:
AAS Secuencial Rpido
Fuente de
alimentacin para
hasta 8 Lmparas

Enfoque
Motorizado

Modo de trabajo en Fast Sequential

FS-AAS, 10
Elementos:
90 s por muestra,
tiempo total de
anlisis (10 elementos
x 3 reps. x 3 seg)
Tcnica

Nmero de
elementos

Tiempo de analisis
por muestra,min

Secuencial
ICP-OES

10

3.6

Secuencial Rpido
Flame AAS

10

1.7

Simultaneo
ICP-OES

10

1.2

Trabajo con Standard Interno (IS)

El sistema determina la relacin de Absorbancia Muestra /Blanco para el IS
La relacin se muestra como un Factor de Correccin
La Absorbancia del Analito es corregida por este Factor
La concentracin real de la muestra es mostrada

Slo posible con el modo de operacin

patentado por Agilent, Fast Sequential

SIPS Simplifica el anlisis por FlAA

Elimina la rutinaria tarea de preparar patrones

Permite una rpidsima dilucin on-line para las
muestras de concentracin elevada
Incrementa en 200 veces el intervalo lineal.

Adicin On-line de supresores de ionizacin o

modificadores qumicos
Simplifica la preparacin de muestra
Minimiza el consumo de reactivos

Preparacin automtica de adiciones standard.

Adicin y Correccin automtica con standard

interno en equipos FS

Permite trabajar en modo de lavado inteligente.

Page 16

Autosamper SPS-3. Trabajo desatendido en FLAA

Compatible con las versiones actuales de AA,
ICP-OES y UV-Vis
Gran velocidad De la muestra a la estacin de
lavado en < 3 seg

Bandejas seleccionables
Bandeja dedicada a standards/QCs
Tubos de 11 x 16 mm OD; o
Tubos de centrfuga de 6 x 29 mm OD

Suporta hasta tres bandejas de muestras.

Capacidad Max. de 270 muestras
Permite tubos de hasta 150 mm de altura

Estacin de lavado de flujo continuo y

velocidad variable a travs de una bomba
peristltica incorporada
Opciones:
Cabina purgada
Diluidor (dilucin on-line y off-line)

Page 17

Atomizacin por Generacin de Hidruros/Vapor fro

Sirve para el anlisis de elementos

formadores de hidruros voltiles.
As, Se, Sb, Bi, Te, Sn

Anlisis de mercurio por vapor fro

Cold vapor

Tcnica extremadamente Sensible

Lmites de deteccin a nivel de sub-ppb con
precisin del 1-2 %

Reducin qumica del elemento a su

Hidruro gaseoso o vapor libre de Hg
Hidruro se disocia en celda pre-calentada
(excepto Hg)

Page 18

Ventajas del sistema de correccin de Agilent por

lmpara de Deuterio.
Error a 2.12 Abs. Seal de fondos del NaCl

2.12 ABS

2 % ERROR

Page 19

Equipos de AA Agilent de Cmara de Grafito

La cmara de grafito permite llegar hasta los 3000, con rampas de
calentamiento de hasta 2000C/seg.
Tubos de calentamiento longitudinal isotermos, protegidos por una corriente de
Ar externa para alargar la vida del tubo.
Cabezal construido de materiales inertes (titanio).
20 etapas de temperaturas, seleccin de gas de arrastre alternativo. Mltiples
modos de inyeccin. PROMPT.

El mejor sistema Zeeman de GFAA

Los sistemas Zeeman de Agilent
proporcionan:
Impresionante rendimiento a niveles de subppb gracias al diseo CTZ del horno y la
disposicin transversal de los imanes.
No hay restricciones al paso de luz.

Alineamiento sencillo Solo requiere una

fuente de luz.
La correccin Zeeman ms precisa.
Interpolacin polinmica de la seal del fondo
Imn del Zeeman modulado al doble de la
frecuencia principal.
Intensidad de campo variable

Page 21

Diseada para mantener una temperatura

constante en el tubo de grafito

Fuente de potencia optimizada

para tubos de baja masa
trmica.
Asegura un calentamiento
controlado, rpido y constante.
Crea una zona de temperatura
constante alrededor del orificio
de inyeccin.
Mejores caractersticas de
relacin seal/ruido.

Page 22

Opcin Video-Cmara
Permite visualizar dentro del tubo para optimizar:
Altura del inyector
Temperatura de secado
Imagen almacenada con resultados

SRM. Ventana para la Optimizacin del las Temperaturas del Horno

Optimizacin para la determinacin de Pb empleando modificadores fosfato

Examine los
resultados
(30 a 40 mins.
despues)
El mximo
de la curva
es indica las
condiciones
ptimas.

Presionando OK se fijan las condiciones optimizadas en el mtodo de anlisis

Page 24

Los sistemas Duo de Agilent doblan la

productividad del laboratorio

Ideal para laboratorios medioambientales, qumicos,

o industriales con altas cargas de trabajo.

El uso simultaneo del FLAA y del GFAA mejora la

productividad.

Permite personalizar el sistema en funcin de sus

necesidades.

Almacenamiento de mtodos y resultados

centralizado.

Ahorro de tiempo eliminando el tiempo en los

cambios y alineamientos.

Sencillez en la puesta a punto cada atomizador

est permanentemente alineado.

Page 25

Plasma acoplado inductivamente (ICP)

Cuerpo de antorcha
3 Tubos concntricos de
cuarzo
Bobina de
induccin
(Refrigerada)

Campo
magntico

Ar Flujo de gas auxiliar

Corrientes de
Eddy

Ar Flujo de gas de
plasma

Ar Flujo de gas de nebulizador y aerosol de muestra

26

Caractersticas del ICP-OES a dia de hoy

27

Amplio espectro 78 elementos analizables.

Muy adecuada para el anlisis de elementos refractarios.
Tcnica simultanea, muy rpida y robusta.
Amplio intervalo dinmico - ppb a %
Precisin frecuentemente superior al 1%
Gran tolerancia a slidos disueltos.
Gran tolerancia a los medios orgnicos.
Pocas interferencias qumicas
Normalmente la preparacin de muestra es sencilla
Relativamente facil de operar

Plasma ICP-OES: Tendencias

Flexibilidad en la configuracin
Anlisis directo
Digestiones por distintos medios
Robustez instrumental.
Minera
Aleaciones
Materiales/Catlisis
Linealidad
Anlisis de mayoritarios y minoritarios
Ahorro de costes
Velocidad de anlisis
Rapida puesta en marcha
Sistemas de eliminacin de interferencias
Matrices complejas

28

July 11, 2011

Flexibilidad en la configuracin
En funcin de :

Matriz

Cmara

Tipo de tubo

Ciclnica monopaso
(50 ml)

Drenaje
azul -azul
(1,6 ml/min)

Muestra
blanco-blanco monobloque
(0,62 ml/min)

Twister
Sturman-Masters

azul -azul
azul -azul

Sea spray (tope 75)

Slurry (suspensiones 150)

Sturman-Masters

azul -azul

blanco-blanco monobloque
gris-gris
(1 ml/min)
Antorcha altos slidos
gris-gris
Shield torch

H3PO4, HClO4
H2SO4

Sea spray

Twister

azul -azul

blanco-blanco monobloque

HF

v-groove
ONE-NEB

Sturman-Masters
Ciclnica (HF)

azul -azul

gris-gris

Orgnicos

Conikal (5% TDS)

Sturman-Masters
Ciclnica/refrigferada

azul -azul

blanco-blanco desmontable
injector de cuarzo 0,8 mm

Micromist
0,4 ml/min

Cinnabar
(20 ml)

Acuosas
No cargadas

Acuosas
cargadas

Acuosas
fuertemente cargadas
Fusiones alcalinas

Nebulizador

- la sensibilidad necesaria
- la naturaleza de la matriz

Conikal (5% TDS)

Sea spray
ONE-NEB /
USN
Sea spray (20% TDS)
ONE-NEB

Antorcha

Acidos

Aceites
Disolventes

Biolgicas
Micro-volumenes

0,2 ml/min
0,05 ml/min

desmontable
Injector de almina

monobloque
negro-negro
Naranjanaranja
azul-naranja

29

Flexibilidad en la configuracin
Vista Radial (Agilent
(Agilent 715715-725
725--735)
Canal
Canalcentral
central
Volumen de observacin
Regin de
induccin

Altura de
visin

Bobina de
induccin

Permite: trabajar con muestras con alto contenido de sales

disueltas
- analizar muestras de muy altas concentraciones
30

Flexibilidad en la configuracin
Vista Axial (Agilent
(Agilent 710710-720
720--730)
Interfaz de cono refrigerado

Apertura de la cola del

plasma

- Interfaz a travs de un cono refrigerado y una contracorriente de Ar

para suprimir la zona de recombinacin molecular
- Paso ptico en el canal central ms largo
sensibilidad aumentada
en un factor de 3 a 10.
- Limitacin en cuanto a la carga razonable de contenido de sales en
las muestras: 30 a 50 g/L segn el tipo de sal.
31

Enorme Intervalo Dinamico Lineal en Axial

Interfase CCI Patentada

Interfaz de cono
refrigerado

Apertura de la cola del

plasma

Robustez en las determinaciones

Generador RF

Nuestros equipos emplean un

Generador de tipo oscilador libre de
alta frecuencia 40.68 MHz

Los osciladores libres acoplan ms

rpidamente los cambios de
impedancia del plasma, lo que le
confiere mayor robustez.
Los generadores de alta frecuencia
permiten disponer de:
Mayor linealidad
Menores fondos
Mayor seal para algunos
elementos
33

Robustez en las determinaciones

Varian 700700-ES SIM

Todos los componentes

pticos son fijos, no hay
componentes mviles
No hay necesidad de
Dual View para eliminar
interferencias en axial
El sistema ptico est
termostatizado a 35C +0.1C para evitar derivas
por dilatacin.
Detector sin sustancias
orgnicas. Solo Silicio.
Mantiene la sensibilidad
de su respuesta durante
toda la vida del equipo.

Red de Difraccin
Antorcha
Prisma
CaF2
Chip CCD

Policromador
Echelle

Menores Costes Operativos

Consumo de gases
Interfaz de cono refrigerado

Gas de Desvo

20-30
Apertura
de lal/min
cola del
plasma

Velocidad de anlisis

Menores Costes Operativos

El nico sistema ptico totalmente simultaneo
Red de Difraccin

Antorcha

Prisma
CaF2
Chip CCD

Policromador
Echelle

36

Confidentiality Label
July 11, 2011

Menores Costes Operativos

Integracin adaptativa (720/25 y
730/35)
No emplea obturadores

Canal anti-blooming

Evita transvases de
electrones a pxels cercanos
37

Menores Costes Operativos

Vlvula de 4 vas SVS-1 controlada por el softare
Permite una introduccin de muestra y lavado ms eficaz y rpido.
Se realiza el lavado mientras se introduce la muestra siguiente.
Mejora la estabilidad a largo plazo en muestras con alto contenido de
slidos disueltos.
Disminuye el envejecimiento de la antorcha y gasto en cosumibles.

Compatible con autosampler y lavado inteligente

38

Los mejores sistemas de eliminacin de

interferencias
Cobertura completa del espectro
Seleccin de lneas alternativas

Elevada resolucin ptica (7 pm)

Elemento Long. Onda
(nm)

Resolucin
(nm)

As

188.979

0.007

Be

234.861

0.008

249.773

0.008

Co

238.892

0.009

Cd

214.438

0.008

Ca

396.847

0.011

Li

670.784

0.024

769.896

0.045

39

Los mejores sistemas de eliminacin de

interferencias
Correccin adaptada de los fondos
Adaptado :
correccin polinmica.
extrapolacin automtica
de la forma del fondo.

Correccin fuera del pico :

utiliza 1 o 2 puntos para
ajustar los fondos desde un
lado o los dos lados del pico

G/D
Derecha

B
Izquierda

40

Los mejores sistemas de eliminacin de

Cd 226.502 nm/ Fe 226.505 nm
interferencias
FACT deconvolucin espectral de
un interferente

Fe 226.505
Cd 226.502

Permite corregir: blanco,

matriz y hasta 7
interferencias por metal.

226.9492

226.502

Ni 231.604 nm en matriz orgnica

Se precisa una mnima

separacin entre
interferente e interferido (3
pm).
Puede incorporarse en el
mtodo de anlisis
41

Signal total

Interferent
e

analito

Mtodo de correccin inter

inter--elemento
El mtodo IEC determina
un coeficiente entre la
sensibilidad de un analito y
la de uno o varios
interferentes a la long de
onda del analito
Se combina con la medida
de la concentracin deI
interferente tomada en una
lnea no interferida, para de
esa forma calcular los
factores de interferencia.
Puede ser empleado con
cualquier interferencia
espectral incluso con
solapamientos totales de
bandas de emisin.
42