UNIVERSIDAD NACIONAL EXPERIMENTAL POLITCNICA

ANTONIO JOSE DE SUCRE

VICERRECTORADO LUIS CABALLERO MEJIAS
ASIGNATURA LABORATORIO DE SISTEMA DE CONTROLES III

Evaluacin:
Las prcticas 1-5 tienen una ponderacin de un 20% c/u, detallados as:
PRE-laboratorio (terico) 2ptos.
Trabajo en el laboratorio (practico) 13ptos.
Prueba corta de la practica a realizar (en hoja blanca tamao carta
debidamente identificada) 3ptos.
Informe de laboratorio(al finalizar la experiencia)(anlisis) 2ptos.
Nota: Al momento de la evaluacin el grupo de estudiantes tienen que estar presentes todos
sus integrantes y sustentar todos los clculos, aproximaciones y consideraciones asumidas
para la elaboracin de la experiencia prctica, debidamente escrito con los nombres de cada
integrante del grupo y grapado. El pre-informe debe contener los aspectos tericos resaltantes
de la prctica, adems de los puntos que se deben investigar. La nota mnima aprobatoria es
50 puntos acumulados.
CON 3 INASISTENCIAS SE PIERDE LA MATERIA.

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VICERRECTORADO LUIS CABALLERO MEJIAS
ASIGNATURA LABORATORIO DE SISTEMA DE CONTROLES III

PRE LABORATORIO
Portada:

Titulo del pre laboratorio

Nombre y apellidos de los integrantes del grupo
Nmero de expedientes
Nmero de seccin
Fecha

Introduccin
Marco terico (los tems a desarrollar en la prctica)
Planteamiento del problema
Dibujo de los circuitos (uso de herramientas CAD) (ORCAD)
Posibles soluciones de la prctica a realizar
Bibliografa
INFORME
Portada:
Marco terico (definiciones que falten en el pre-laboratorio y nuevos
conceptos)
Marco Prctico
Diseo Definitivo
Resultados
Anlisis de los Resultados
Conclusiones
Bibliografa
Recomendaciones
(Trabajo realizar en formato digital y entregar en cd o dvd
La entrega de el pre-informe se realizara el primer da de la practica si no es
entregado a la fecha tendr una penalizacin de 5 ptos por dia de atraso.
Las pruebas cortas no tienen rezagados y se realizara al comienzo de la
siguiente prctica, as que tome sus previsiones.

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ASIGNATURA LABORATORIO DE SISTEMA DE CONTROLES III

MUESTREO Y RECONSTRUCCION DE LA SEAL

PRACTICA #1
Pre-laboratorio:
1. Desarrolle:
Sistemas continuos
Sistemas discretos
Muestreadores
Tipos de muestreadores
Delta de Dirac o Impulso de Dirac
Funcin que permita la simulacin fsica del impulso
Transformada discreta de Laplace
Transformada Z
Anti-transformada Z
Funcin de Transferencia Discreta
Circuito de retencin y circuitos fsicos
Teorema de Muestreo o Nyquist
Sensibilidad
Ancho de Banda
Caractersticas electrnicas de los dispositivos a trabajar
Laboratorio:
Titulo: MUESTREO Y RECONSTRUCCION DE LA SEAL
Objetivo general: Comprobacin experimental de los conceptos de
muestreadores, Delta de Dirac, sensibilidad y ancho de banda.
Parte A: MUESTREO DIGITAL Y ANALOGICO
1. Parte Digital; Dada la siguiente figura 1.1

Entradas

7408

Frecuencia

a
Impulso

Figura 1.1
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(t ) 2khz
(t ) var iable

(10,50,100 hz;
Salid 1khz,2khz,4khz,8khz
y mas

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2. Parte Analogica; Dada la siguiente

1.2

(t ) 2khz
(t ) var iable

figura

(10,50,100hz;
1khz,2khz,4khz,8khz
y mas)
Entradas

4066

Frecuencia

Salida
Impulso

Figura 1.2

Parte B: RECONSTRUCCIN DE LA SEAL

Objetivo General:
1. Dada la siguiente funcin figura 2.1 obtenga la respuesta
para una entrada senoidal.

Figura 2.1
2. Disee un circuito de reconstruccin de orden cero.
3. Obtenga la seal de salida aplicndole perturbaciones en la
entrada.
Nota: para el laboratorio traer puntas de osciloscopio, cables banana y dems
componentes a usar en dicha experiencia practica

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