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Rodrigo Rosrio dos Santos

MANUAL
PRTICO DE
TESTE PARA
COMPONENTES
SEMICONDUTORES
Salvador, 10 de Julho de 2011

ndice

Teste de DIODOS ------------------------------------------------------------------------- Pg. 3

Teste de TJB (Transistor de Juno Bipolar) --------------------------------------- Pg. 5
Teste de UJT (Transistor de Unijuno) --------------------------------------------- Pg. 8
Teste de SCR (Retificador Controlado de Silcio) --------------------------------- Pg. 9
Teste do DIAC ------------------------------------------------------------------------- Pg. 12
Teste do TRIAC ----------------------------------------------------------------------- Pg. 13
Teste do PUT (Transistor de Unijuno Programvel) --------------------------- Pg. 14
Teste do JFET (Transistor de Efeito de Campo)------------------------------------ Pg.15
Bibliografia-------------------------------------------------------------------------------- Pg. 16

TESTE DE DIODOS

Teste com multmetro analgico:

Calibre

Resistncia (x 10K)
OBS: Deve ser levada em considerao a polaridade da
bateria interna do instrumento, que contrria
marcao da polaridade externa. Ou seja, o positivo na
marcao externa negativo internamente e vice-versa.
Polarizao direta:

Comportamento

Resistncia baixa e o positivo da bateria do multmetro

est ligado ao anodo do diodo, e o negativo da bateria
est ligado ao catodo do diodo.
Polarizao reversa:
Resistncia infinita.

Diodo em Curto:
Apresenta duas resistncias baixas (aprox. zero) nos dois
sentidos de polarizao.
Diodo aberto:
Apresenta resistncia infinita nos dois sentidos de polarizao.
Defeitos
Diodo com fuga:
Apresenta resistncia alta, mas no infinita quando
polarizado reversamente. Na polarizao direta
comporta-se como um diodo perfeito.

Teste com multmetro digital:

Calibre

Comportamento

Defeitos

(Diodo)
OBS: A polaridade da bateria
interna igual a da marcao
externa do instrumento
Polarizao direta:
Tenso baixa (450mv a 700mv). O
positivo do multmetro est ligado
ao anodo e o negativo ao catodo.
Polarizao reversa:
Tenso infinita. Indicada no
multmetro com o nmero 1 ou
com a sigla OL do lado esquerdo
do visor.
Diodo em curto:
Apresenta tenses baixas (aprox.
zero) nos dois sentidos de
polarizao.
Diodo aberto:
Apresenta tenso infinita nos dois
sentidos de polarizao.
Diodo com fuga:
Apresenta tenso direta abaixo de
450mv.

De agora em diante til sabermos que para medirmos JUNES no

multmetro digital, o calibre apropriado o de DIODO (
).

TESTE DE TJB (Transistor de Juno Bipolar)

NPN

PNP

C
B

C
B

Procedimentos: As medies devem ser feitas com o calibre de DIODO

do multmetro
1 Identificao da base: Devemos encontrar um par de terminais em que,
medindo a resistncia num e noutro sentido, esta seja muito elevada. Estamos
em presena do Emissor e do Coletor (entre C e E diodos em oposio R ).
Por excluso de partes, o outro terminal a base.
Outra forma mais prtica de identificar a base est explicada abaixo:

Nos trs casos acima foi considerado que o TJB NPN, por isso, a ponteira
positiva foi tomada como referncia para encontrarmos a base.
No 1 Caso, temos a ponteira positiva posicionada no primeiro terminal
do TJB. Devemos alternar a ponteira negativa nos outros dois terminais
(um de cada vez). Se o multmetro indicar resistncia baixa (conduo) nas
duas vezes que trocarmos a ponteira preta, isso indica que a base o
primeiro terminal.
No 2 Caso, analogamente ao 1, mantemos a ponteira vermelha (positiva)
no terminal do meio do TJB e revezamos a ponteira preta (negativa) do
multmetro nos outros dois terminais. Se o multmetro indicar resistncia
baixa, nas duas vezes, a base o terminal do meio.

No 3 Caso, da mesma forma, mantemos a ponteira vermelha (positiva) no

ultimo terminal do TJB e alternamos a ponteira preta (negativa) nos
outros dois terminais que sobraram, um de cada vez. Se o multmetro
indicar resistncia baixa nas duas vezes que trocamos, a base o ultimo
terminal.
Observe que a base s permite a conduo para os outros dois terminais
quando est com a ponteira positiva posicionada em seu terminal. Isso
indica, como foi dito no inicio, que o TJB NPN, pois a base foi polarizada
DIRETAMENTE. No caso do TJB ser PNP o teste anlogo ao realizado,
a diferena que o terminal que polarizar a base diretamente a negativa
(preta). Repita o procedimento para um TJB PNP tomando como referncia
a ponteira NEGATIVA (preta) e ver que ela deve ser comum s duas
condues.
IDENTIFICAO DO COLETOR E EMISSOR
Digamos que no procedimento acima, o nico caso que houve conduo
nas duas vezes que trocamos a ponteira preta foi o 2, logo, a base o
terminal do meio, conforme a figura ao lado:

A pergunta que cabe agora : Como saber quem COLETOR E

EMISSOR?
Esta uma tarefa bem simples. Fazemos o seguinte: medimos a resistncia entre o
terminal de Base (j conhecido) e dos outros dois terminais (no transistor NPN positivo na Base, no PNP - negativo na Base). A resistncia entre a Base e o Coletor
menor que a resistncia entre a Base e o Emissor. Vamos verificar as medidas dos
dois casos mencionados do nosso TJB:
Na primeira medio, encontramos 715 e na segunda
717. Conclumos, portanto, que o ltimo terminal o
EMISSOR, pois, a resistncia foi maior. Logo, o primeiro
terminal o coletor. Lembre-se: Sempre, a resistncia
BASE-EMISSOR maior do que a resistncia BASECOLETOR. As indicaes do nosso TJB ficaro:

importante ressaltar que h casos nos quais encontraremos duas resistncias

iguais na identificao do COLETOR E EMISSOR. Quando isso acontecer temos
que medir o teste de fuga com o multmetro analgico (no Calibre de Resistncia
x1K ou x10K).

Teste do TJB com multmetro analgico

Equivalente a DIODO:

Deve-se lembrar que a marcao externa dos terminais do multmetro

analgico contrria polaridade interna da bateria. Logo, a ponteira
vermelha na figura deve ser interpretada como NEGATIVA e a preta
com POSITIVA. Deve-se utilizar o multmetro como ohmimetro
(resistncia) no calibre x1K ou x10K.

Verificao de defeitos em TJB

Aps identificarmos os terminais de um TJB torna-se muito til
sabermos se o componente est em perfeito estado para que
possamos utiliz-lo com segurana. Com ele FORA DO
CIRCUITO devem-se realizar os seguintes procedimentos:
Coloque o multmetro analgico na escala mais baixa de
resistncia ou o digital no calibre de DIODO, mas com o analgico
o teste de torna de mais fcil visualizao.
Faa o ajuste de zero do instrumento e faa as seguintes medies
de resistncia: RBE, RBC,RCE
JUNO
COLETOR-EMISSOR
COLETOR-EMISSOR
COLETOR-BASE
COLETOR-BASE
COLETOR-BASE
BASE-EMISSOR
BASE-EMISSOR
BASE-EMISSOR

DIRETA
RESISTNCIA ALTA
BAIXA
BAIXA
BAIXA
ALTA
BAIXA
BAIXA
ALTA

REVERSA
RESISTNCIA ALTA
BAIXA
ALTA
BAIXA
ALTA
ALTA
BAIXA
ALTA

CONDIO
BOM
CURTO
BOM
CURTO
ABERTO
BOM
CURTO
ABERTO

As resistncias altas devem ser superiores a 1M e as baixas inferiores a 500

TESTE DE UJT (Transistor de Unijuno)

Estrutura interna:

Para efetuarmos o teste prtico de identificaes dos terminais do UJT

devemos posicionar o multmetro digital no calibre de DIODO (
).
Emissor (E)
+
+
-

Base1 (B1)
+

Base2 (B2)

+
+

Leitura
RB1
Aberto ()
RB2
Aberto ()
RBB
RBB

Por causa da disposio dos terminais na estrutura interna do UJT, a

resistncia RB1 maior do que RB2. A resistncia inter-bases (RBB) fica
em torno de 4K a 10K. Na prtica ao depararmos com um UJT no
sabemos quem so os terminais B1, B2 e Emissor. Logo, tomando como
base a tabela acima faremos o teste abaixo:

Ao encontrarmos dois terminais, nos quais, trocadas as

ponteiras encontremos o mesmo valor de resistncia (RBB
que na figura ao lado foi 8K), estaremos entre B1 e B2 .
Por excluso, o terminal que sobrou o Emissor. Para
sabermos que so B1 e B2, colocamos a ponteira positiva
no Emissor (no caso do UJT ser do tipo N- pastilha do
emissor P ) e medimos as resistncias entre os outros
dois terminais que sobraram. O par que apresentar MAIOR
resistncia ser EMISSOR-B1. Logo, por excluso, o outro
terminal B2.

TESTE DE SCR (Retificador Controlado de

Silcio)

Estrutura interna e equivalente a DIODO:

A tabela abaixo mostra qual deve ser a condio de cada polarizao do SCR com o
multmetro. Para o SCR normal (ou seja, aquele que no est disparado) s devemos
encontrar uma resistncia baixa, quando a juno GATE-CATODO estiver
diretamente polarizada (h excees, como ser explicado mais adiante). Logo,
onde estiver a ponteira positiva ser o GATE, e onde estiver a negativa ser o
CATODO; e o ANODO ser o terminal que sobrou.

GATE

+
+

ANODO
+
+

CATODO
+

+
-

RESISTNCIA
ALTA
ALTA
ALTA
ALTA
ALTA ou BAIXA
BAIXA

10

Existem SCRs que possuem resistor interno entre GATE e CATODO para evitar o
disparo por rudo. Neste caso, o teste prtico apresentar duas resistncias baixas, pois
estaremos medindo a resistncia interna deste resistor com a juno gate-catodo. A
resistncia equivalente ser menor quando o resistor estiver em paralelo com a juno
gate-catodo diretamente polarizada do que quando esta juno estiver reversamente
polarizada, portanto, ao encontar uma resistncia equivalente menor, estamos com a
juno gate-catodo diretamente polarizada e onde estiver o + ser o gate e onde estiver o
- ser o catodo.
SCR disparado por rudo:

GATE

+
+

ANODO
+
+

CATODO
+

+
-

RESISTNCIA
BAIXA
ALTA
ALTA
ALTA
ALTA
BAIXA

Podem ocorrer casos de encontrarmos duas resistncias baixas: uma entre gate e
catodo quando polarizado diretamente e outra entre anodo e catodo. Neste caso, o
SCR est disparado por rudo. Conclumos que o catodo o terminal comum entre as
duas resistncias baixas (onde estiver a ponteira NEGATIVA).
Para sabermos quem so GATE e ANODO fazemos o seguinte: fechamos curto
entre catodo (j descoberto) e outro terminal. Quando o SCR voltar a deixar de dar
baixa resistncia entre catodo e o terminal que sobrou, sinal que foi feito um curto do
catodo para o gate, pois evitamos a entrada do rudo no componente e o disparo do
mesmo. O catodo j conhecido, o gate o terminal que foi curto-circuitado com o
catodo e o anodo o que passou a dar alta resistncia para o catodo.

Os testes abaixo se referem ao estado do SCR e devero ser feitos com o

multmetro no calibre de DIODO. A medio de resistncia com o
multmetro mais prtica e econmica do que os testes que verificam
valores de tenses e correntes.

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CONEXO

RESISTNCIA
ALTA

BOM

BAIXA

CURTO

BAIXA
Neste caso conecta-se
o gate ao anodo
disparando
o
componente

BOM

ALTA

ABERTO

BAIXA
Aps conectarmos o GATE
ao ANODO (disparando o
SCR) medimos novamente.

ALTA

CONDIO

BOM
Esta situao parece
ser semelhante
primeira, mas perceba
que neste caso o SCR
est disparado, pois
curto-circuitamos o
GATE e o ANODO
anteriormente. Logo, a
resistncia deve
apresentar-se baixa
indicando que o
componente est
disparado
DUVIDOSO
A condio
do
componente
ser
duvidosa, pois talvez a
corrente fornecida pela
bateria do instrumento
no seja suficiente para
atingir a corrente de
manuteno IH. Logo,
o SCR volta ao estado
de bloqueio.

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ALTA

BOM

BAIXA

CURTO

ALTA

BOM

BAIXA

CURTO

TESTE DO DIAC

Estrutura interna:

O DIAC s possui dois terminais, MT1 e MT2. Ao medirmos as

resistncias nos dois sentidos de polarizao elas devem
apresentar-se INFINITAS, pois o componente no est disparado
e a tenso que o instrumento aplica ao DIAC insuficiente para
atingir a tenso de BREAKOVER (VBO) e disparar o
componente.
Se encontrarmos algum valor de resistncia durante o teste sinal
de que o DIAC est em CURTO. Para identificarmos os terminais

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MT1 e MT2 do DIAC devemos consultar o manual tcnico do

componente. Mas, ressalto que como o componente
BIDIRECIONAL, a inverso dos terminais no circuito no
provocar alteraes no funcionamento do mesmo.

TESTE DO TRIAC
Estrutura interna:

MT2
+
+
-

RESISTNCIA
ALTA
ALTA
ALTA
+
ALTA
+
BAIXA
+
BAIXA
No teste prtico s devemos encontrar DUAS resistncias baixas,
que so entre MT1 e GATE nos dois sentidos de polarizao. Isso
ocorre porque internamente esses dois terminais esto ligados
mesma pastilha (P). O terminal que sobrou MT2, inclusive na
maioria dos casos ele a carcaa do TRIAC.
Para diferenciar MT1 do GATE devemos olhar no manual tcnico
do componente, pois na prtica no possvel identific-los.

MT1

GATE
+

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TESTE DO PUT (Transistor de Unijuno

Programvel)

Estrutura interna e equivalente a TJB:

O teste do PUT semelhante ao do SRC, entretanto, no PUT o

gate ligado pastilha N, ao contrrio do SCR, que tem o gate
ligado pastilha P. Verifica-se na tabela abaixo quais valores de
resistncia devem ser lidos nas variadas formas de polarizao
para o PUT em estado normal:
GATE

RESISTNCIA
ALTA
ALTA
+
ALTA
ALTA
+
ALTA
+
BAIXA
Verifica-se que s devemos encontrar uma resistncia baixa no
teste que a resistncia da juno GATE -ANODO polarizada
diretamente. O multmetro deve estar no calibre de DIODO
para efetuarmos os testes acima.

ANODO
+
-

CATODO
+
+

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TESTE DO JFET (Transistor de Efeito de Campo)

Estrutura interna do JFET canal N:

Segue a tabela para teste prtico do JFET

PORTA/GATE (G)

+
+
+

FONTE(S)
+
+

DRENO (D) RESISTNCIA

+
BAIXA (na ordem de 200)
BAIXA (na ordem de 200 )
BAIXA (Para o JFET CANAL N )
MESMA DA ANTERIOR
BAIXA (Para o FET CANAL P)
MESMA DA ANTERIOR

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Bibliografia:

[1] Andrade, E.A.; Eletrnica Industrial Anlise de

Dispositivos e suas aplicaes, 1 Edio, Editora NOVOTIPO
,CEFET/BA, Salvador,1996.
[2] Junior, R.C.; Apostila Tiristor SCR, Edio preliminar,
Campinas, 2005.
[3]Apostila prof. Ilton, CEFET/PB
[4]Site:
http://www.electronicapt.com/index.php/content/view/168/37/
[5] Revista Saber Eletrnica