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de gro no-orientado
Fernando J. G. Landgraf, Rubens Takanohashi e Marcos F. de Campos
Instituto de Pesquisas Tecnolgicas do Estado de S. Paulo CEP 05508-901, S. Paulo, SP
Resumo
Foi feita uma reviso do efeito das variveis de processamento na evoluo microestrutural dos aos
eltricos no-orientados dos tipos semiprocessado e totalmente processado, focalizando seus efeitos no
tamanho de gro e na textura finais, pois essas so duas das mais importantes caractersticas
microestruturais a afetar as propriedades magnticas desses materiais. Partindo da microestrutura dos
lingotes, investigou-se a evoluo microestrutural ao longo da laminao a quente, da laminao a frio, da
recristalizao e do crescimento de gro, sempre abordando seus efeitos na permeabilidade e nas perdas
magnticas.
Palavras-chave: Aos eltricos, textura, perdas magnticas.
1. Introduo
Aos para fins eletromagnticos ou aos eltricos
so materiais de grande relevncia para a
indstria mundial. 300.000 t de aos eltricos
foram consumidas no Brasil em 1999 [1]. So
utilizados principalmente em motores eltricos e
transformadores. O rendimento energtico dessas
mquinas eltricas depende da permeabilidade e
das "perdas magnticas" devido dissipao de
energia associada excitao em corrente
alternada.
O tamanho de gro tem um efeito muito forte nas
perdas magnticas. Quanto maior o tamanho de
gro, menor a parcela histertica das perdas, mas
cresce a parcela chamada "anmala", fazendo
com que exista um tamanho de gro timo, entre
100 e 150 m [2]. A Figura 1 exemplifica esse
comportamento, mostrando a variao das perdas
magnticas medidas a 1,5T e 60 Hz.
produza a textura ideal. Muitas vezes observamse aos eltricos de gro no-orientado [6] com
um componente Goss pronunciado, pois essa
orientao tem pelo menos uma direo de fcil
magnetizao paralela superfcie da lmina. A
conscincia mundial da necessidade de conservar
a energia torna o tema textura em aos eltricos
ainda mais relevante, pois aproximadamente
50% da energia eltrica produzida anualmente
utilizada por motores de trao. Os principais
fabricantes de motores eltricos tm pressionado
as siderrgicas para conseguir aos com
melhores desempenhos magnticos e assim
aumentar a eficincia dos motores. Os ltimos
anos do sculo XX assistiram a importantes
avanos no condicionamento da textura dos aos
eltricos de gro no-orientado.
1.72
Ptotal
1.70
3.4
1.68
3.2
B50 (T)
1.64
3.0
1.62
Ptotal (W/kg)
1.66
B50
1.60
2.8
1.58
1.56
0
20
40
60
80
100
ngulo ( )
(100)
2,0
(310)
B (T)
1,8
1,6
(111)
1,4
(211)
(110)
1,2
0
10
20
30
40
50
60
70
80
90
ngulo (graus)
Figura 4- B50 em funo do ngulo para os planos descritos na Tabela 1 [9], [7].
Conveno de direes
0o
90o
(100)
[100]
[010]
(310)
[100]
[0 3 1]
(110)
[100]
[011]
(211)
[ 1 11]
[01 1 ]
(111)
[ 2 11]
[0 1 1]
Deformao
na
regio
de
recristalizao de , acima de Ar3;
Deformao na regio +;
Deformao na regio .
no-
Figura 5- Diagrama Fe-Si. a) Regio rica em Fe do diagrama Fe-Si; b) o efeito da adio de 0,07% C nessa
regio do diagrama (conforme Crangle, apud [4]).
Textura de recristalizao
da austenita ()
{100} <001>
Textura de transformao da
austenita () para ferrita ()
{100} <011>
Textura de deformao
{110} <112>
{112} <111>
Textura de transformao da
austenita () para ferrita ()
{322} <113>
Se diminuir a temperatura
final, atingindo regio
(+)
Relativamente
insensitiva ao tamanho
de gro de e
velocidade de
resfriamento
Acentua-se pouco com a
adio de solutos
substitucionais como Mn
e Ni
{112}~{223} <110>
Deformao da ferrita ()
Fibra <111>//DN
(ou {111}<uvw>)
Fibra <110>//DL
(desde {111} <011> at {100}<011>)
6. Evoluo da
laminao a frio
textura
durante
a)
10
b)
Figura 10- Ferro de tamanho de gro grosseiro com 40% de compresso. O eixo de compresso normal ao
plano da micrografia. Atacada com nital. b) O eixo de compresso das vrias bandas matriz vistas no gro
A em uma amostra de ferro com 40% de compresso. (Inokuti e Doherty, 1978 apud Doherty [25]).
Regio 1
Regio 2
Gorelik [28]
Banda de deformao
Microbanda
Banda de deformao
Banda de transio
Banda de deformao
Banda de transio
Doherty [25]
Banda matriz
Banda de deformao
Hu [31]
Banda matriz
Microbanda
11
Bloco de clulas
______________
7,5
7
2500
2400
6,5
2300
2200
2100
2000
PERDAS, W/kg
PERMEABILIDADE, G/Os
2600
5,5
1900
1800
20
40
60
80
5
100
REDUO A FRIO, %
155
150
30
145
80
140
160
135
240
130
0
10
% deformao
7. A Recristalizao
bem conhecida a importncia do grau de
encruamento anterior na cintica e no tamanho
1,78
Long.
1,76
Transv
1,74
(B
T)
50
1,72
1,70
10
15
% red u o
Figura 16- Evoluo da induo B50, em funo do grau de reduo. Redues de 0%, 4%, 7%, 12% e 19%.
Sees longitudinal e transversal [7].
14
2800
9,0
2600
8,6
2400
8,2
2200
7,8
2000
7,4
1800
7,0
1600
6,6
1400
6,2
0
12
PERDAS, W/k g
16
Figura. 17- Efeito do grau de reduo da laminao de encruamento nas perdas e permeabilidade a 1,5T
(bola cheia refere-se a perdas, bola vazia a permeabilidade). (adaptado de [35]).
A Figura 18 apresenta o coeficiente M de Taylor
calculado para todas as orientaes possveis em
cristais CCC. A partir dessa figura, extrada a
seguinte seqncia de energia armazenada
durante a deformao:
E{110}<001> < E{001} <110> < E{112}<uvw> < E{111} <uvw>
< E{110} <110>
O crescimento de subgro (altos graus de
deformao) favorece orientaes com maior
energia armazenada, enquanto o processo
"SIBM" (baixos graus de deformao) favorece
orientaes com menor energia armazenada.
Figura 18- Mapa do coeficiente M de Taylor, calculado seguindo o modelo full-constraint. Seo 2=45o.
Notao de Bunge [13].
15
O
Recozimento
contnuo
dos
aos
semiprocessados feito em torno de 700oC, por
5 minutos, resultando em tamanho de gro da
ordem de 10 m. Os aos totalmente processados
so em geral recozidos em temperaturas mais
altas, por algumas dezenas de segundos. A
Figura 19 [51] mostra que o tamanho de gro
recristalizado no depende da temperatura de
recozimento, conforme uma das leis da
recristalizao [52]. A figura mostra tambm
que o tempo necessrio para completar a
recristalizao diminui exponencialmente com o
aumento da temperatura.
Um dos fenmenos mais interessantes e
sistemticos da mudana de textura na
recristalizao a diminuio de intensidade do
componente {100}<011>. A textura dos ncleos
formados quando a recristalizao atinge 10% da
frao volumtrica j tem forte semelhana com
a textura final da recristalizao. Essa nucleao
preferencial ocorre dentro das fragmentadas
subestruturas de alta energia ou prximas aos
contornos dos gros da fibra gama. A
recristalizao dos aos no se inicia ao mesmo
tempo em todos os lugares. Os gros
{100}<011>, por terem baixo fator de Taylor,
encruam pouco e costumam ter poucas bandas e
subestrutura de discordncias [34]. Assim, sua
100000
50
no completou recristalizao
10000
40
log t (s)
30
100
10
20
1
10
1000
0.1
0.01
500
600
700
800
900
1000
T ( C)
Figura 19- Tamanho de gro e tempo necessrio para completar a recristalizao primria em funo da
temperatura, mostrando que o tamanho de gro recristalizado no varia com a temperatura. Ao 3,25%Si.
Adaptado de [51].
16
(100) // superf.
3,5
<110>
(110)
<110>
<130>
2,5
<130>
(100)
(100)
2,5
Int.
rel.
<010>
LQ
LF
RZ
1,5
Int. 1,5
rel.
LQ
LF
RZ
1
0,5
0,5
0
-10 0
10 20 30 40 50 60 70 80 90
0
-10 0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
100
ngulo
ngulo
<110> // rd
(111) // superf.
(223)
(001)
(111)
(110)
4
Int.
rel.
LQ
LF
RZ
Int.
rel.
LQ
LF
RZ
<110>
0
-10 0
<011>
<231>
<121>
<112>
10 20 30 40 50 60 70 80 90 100
ngulo
0
-
0 10 20 30 40 50 60 70 80 90 10
ngulo
Figura 20- Cortes das ODFs segundo algumas fibras relevantes, mostrando a evoluo da textura entre
laminao a quente (LQ), laminao a frio (LF) e recozimento intermedirio (RZ), para ao com
0,5%Si+Al. [32].
17
a)
b)
c)
Figura 21- a) Microscopia eletrnica de varredura da amostra com tamanho de gro inicial de 500 m
laminada a frio e totalmente recristalizada; b) Imagem das orientaes cristalogrficas dos gros da
microestrutura apresentada em (a) atravs da identificao dos padres de Kikuchi. Cada colorao
corresponde a uma orientao cristalogrfica; c) Imagem do ndice de qualidade dos padres de Kikuchi.
Os contornos vermelhos correspondem a uma diferena de orientao cristalogrfica entre os gros maior
do que 15 e os contornos azuis correspondem a uma diferena de orientao cristalogrfica entre os gros
menor que 15[56].
18
Figura 22- Efeito do grau de reduo e do tempo de recozimento a 788oC no tamanho de gro mdio. [57].
19
250
600C, 70h
200
760C, 15 min
150
100
50
0
0
10
12
14
16
18
20
Figura 23- Efeito do grau de deformao no tamanho de gro de aos efervescentes aps recozimentos a
600 e 760OC [58].
20
(a)
(b)
Figura 25- Comparao do aspecto dos gros aps recozimento final num ao semiprocessado (a) e num
ao totalmente processado (b).
De Campos [7] analisou o efeito de diferentes
recozimentos sobre um mesmo material,
comparando a textura e as suas propriedades
magnticas. Uma amostra de ao no-ligado
semiprocessado com 6% de reduo (amostra
S/R) foi submetida a dois tratamentos trmicos
diferentes ("C" e "E"). Seus ciclos trmicos so
semelhantes (a 730-780oC, por 1 ou 2 horas). A
Tabela 3 mostra valores de B50 tanto na
longitudinal quanto na transversal, indicando que
a amostra "E" tem propriedades muito melhores
que a amostra "C". As Figuras 26, 27 e 28
mostram ODFs das trs condies, encruada e
com os recozimentos "C" e "E". Esses dados so
raros, na literatura, pois no fcil obter bons
Tabela 3- Valores de Induo B25 e B50, permeabilidade
"E". [7]
P15/60 T
(W/kg)
P15/60 L
(W/kg)
B25 T
(T)
B25 L
(T)
[0 1 1]
{100}<037>,
{210}<123>,
B50 T
(T)
B50 L
(T)
15 T
15 L
TG
(m)
S/R
19,8
20,4
1,59
1,58
1,71
1,72
697
625
12
10,8
10,8
1,61
1,68
1,70
1,77
1611
2843
103
10,8
10,6
1,61
1,64
1,69
1,73
1346
1859
210
21
2=0
2=0
2=0
2=45
2=45
2=45
22
Figura 30- Variao da intensidade de alguns componentes de textura durante recozimento em caixa de ao
baixo carbono previamente laminado. (MICHALAK e HU apud [65]. (grfico redesenhado por
HUMPHREYS; HATHERLY (1996)).
23
24
1,76
2500
16
1,74
14
W1.5 (W/kg)
1,72
12
1500
10
1000
1,70
W1.5
J50
1.5
1,68
1,66
J50 ( T )
1.5
2000
1,64
6
1,62
500
4
500
1,60
600
700
800
900
1000
Temperature (C)
Figura 31- Variao das perdas a 1,5T (W1.5), polarizao J50 (praticamente igual a B50) e permeabilidade a
1,5T (1,5) [3].
development on non-oriented electrical steel
sheets. J. Magn. Mat., v. 26, p. 57-64, 1982.
10. Agradecimentos
O presente trabalho deve muito a duas
contribuies acadmicas recentes, a tese de
doutorado de Marcos Flvio de Campos [7] e a
dissertao de mestrado de Rubens Takanohashi
(em andamento), e s discusses geradas durante
os cursos sobre "Aos Eltricos e Aos
Siliciosos" organizados anualmente pelo
Laboratrio de Metalurgia do P e Materiais
Magnticos
do
Instituto
de Pesquisas
Tecnolgicas do Estado de So Paulo (IPT).
Os autores agradecem Fapesp (Projeto
Temtico 99/10796-8) ao CNPq e Secretaria de
Cincia e Tecnologia do Governo de So Paulo,
pelo apoio s equipes envolvidas. MF de
Campos agradece FAPESP, processo no
01/09122-4.
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