UNIVERSIDAD TCNICA FEDERICO SANTA MARA

CAMPUS SANTIAGO
LABORATORIO FIS 129 / FIS 140
PRIMER SEMESTRE 2012

PTICA GEOMTRICA I: Reflexin y Refraccin.

Ley de Snell

Introduccin

Marco Terico

La ptica es una rama de la fsica que se ocupa de la

propagacin y el comportamiento de la luz. La luz es una
radiacin electromagntica e incluye todo un rango
conocido como espectro electromagntico. Algunos tipos de
radiaciones que constituye este espectro son los rayos
gamma, rayos X, ultravioleta, luz visible, infrarrojo,
microondas y ondas de radio. El estudio de la ptica se
divide en dos ramas, la ptica geomtrica y la ptica fsica.
Reflexin y Refraccin
Si un rayo de luz que se propaga a travs de un medio
homogneo incide sobre la superficie de un segundo medio
homogneo, parte de la luz es reflejada y parte entra como
rayo refractado en el segundo medio, donde puede o no ser
absorbido. La cantidad de luz reflejada depende de la
relacin entre los ndices de refraccin de ambos medios. El
plano de incidencia se define como el plano formado por el
rayo incidente y la normal (es decir, la lnea perpendicular a
la superficie del medio) en el punto de incidencia, segn la
Figura 1. El ngulo de incidencia es el ngulo entre el rayo
incidente y la normal. Los ngulos de reflexin y refraccin
se definen de modo anlogo.

Esta importante ley, llamada as en honor del

matemtico holands Willebrord Snell, afirma que el
producto del ndice de refraccin del primer medio y el seno
del ngulo de incidencia de un rayo es igual al producto del
ndice de refraccin del segundo medio y el seno del ngulo
de refraccin (r). El rayo incidente, el rayo refractado y la
normal a la superficie de separacin de los medios en el
punto de incidencia estn en un mismo plano. En general, el
ndice de refraccin de una sustancia transparente ms densa
es mayor que el de un material menos denso, es decir, la
velocidad de la luz es menor en la sustancia de mayor
densidad. Por tanto, si un rayo incide de forma oblicua sobre
un medio con un ndice de refraccin mayor, se desviar
hacia la normal, mientras que si incide sobre un medio con
un ndice de refraccin menor, se desviar alejndose de
ella. Los rayos que inciden en la direccin de la normal son
reflejados y refractados en esa misma direccin.

El Marco Terico presentado aqu debe

complementado con el estudio de los siguientes textos:

ser

Anexos:
-

Anlisis y Teora del Error Experimental

Libros de consulta:
-

Sears, Zemansky, Young, Freedman. Fsica

Universitaria Volumen II Electromagnetismo.
Dcimo primera edicin. Seccin: 33.2 y 33.3

Serway. Fsica Tomo II. Cuarta edicin. Secciones:

35.4

Objetivos

Verificar la ley de reflexin.

Verificar la ley de Snell.

Figura 1: Esquema de los rayos incidente, reflejado y refractado

en dos medios homogneos.

Determinar el ndice de refraccin de un semicilindro

plstico.

Las leyes de la reflexin afirman que el ngulo de

incidencia (i) es igual al ngulo de reflexin (r), y que el
rayo incidente, el rayo reflejado y la normal en el punto de
incidencia se encuentran en un mismo plano.

Determinar el ngulo crtico o lmite.

Determinar la velocidad de la luz en el semicilindro

plstico.

Desarrollo Experimental
Incidencia desde un medio de ndice de refraccin n1
sobre un medio de ndice de refraccin n2, donde n1 < n2
Sobre una superficie plana se monta el lser de color
rojo, el disco graduado y el semicilindro de tal forma que se
visualicen los ngulos de incidencia, reflexin y refraccin.
Adems se debe tener la precaucin de que el haz de luz
incida en el centro de la parte plana del semicilindro.
Variando el ngulo de incidencia desde 0 hasta 90 en
intervalos de 10 y determinando en cada posicin el ngulo
de refraccin y reflexin, tal como se indica en la Figura 2.

Figura 3: Montaje experimental de un lser incidiendo sobre un

semicilindro de acrlico en la parte convexa.

Bibliografa

Sears, Zemansky, Young, Freedman. Fsica

Universitaria Volumen II Electromagnetismo. Dcimo
primera edicin.

Serway. Fsica Tomo II. Cuarta edicin.

Tipler. Fsica para la Ciencia y la Tecnologa Volumen

I1. Cuarta edicin.

Tipler, Mosca. Fsica para la Ciencia y la Tecnologa

Volumen 2. Quinta edicin.

Figura 2: Montaje experimental de un lser incidiendo sobre un

semicilindro de acrlico en la parte plana.

Resnick, Halliday, Krane. Fsica Volumen 2. Cuarta

Edicin.

Se pide generar una tabla de datos y obtener un grafico

del seno del ngulo de refraccin en trminos el seno del
ngulo de incidencia. Interpretar los resultados, obtener una
funcin entre las variables, el ndice de refraccin del
semicilindro y la velocidad de propagacin de la luz a travs
del medio. El semicilindro es de acrlico y el ndice de
refraccin terico es igual a 1,49, recuerde trabajar siempre
los ngulos en radianes.
Para el informe se pide graficar el ngulo de reflexin
como funcin del ngulo de incidencia

Giancoli. Fsica Principio con Aplicaciones. Sexta

edicin.

Tippens. Fsica Conceptos y Aplicaciones. Sexta

edicin.

Incidencia desde un medio de ndice de refraccin n1

sobre un medio de ndice de refraccin n2, donde n1 > n2
Se hace incidir el haz luminoso sobre la parte convexa
del semicilindro de tal forma que el haz abandone el
semicilindro por su centro.
Variando el ngulo de incidencia desde 0 hasta donde
visualice el fenmeno de refraccin en intervalos de 5 y
determinando en cada posicin el ngulo de refraccin.
Obtener el ngulo crtico o lmite para el cual el ngulo
de refraccin es 90. Se grafica el seno del ngulo de
refraccin en funcin del seno del ngulo de incidencia,
recuerde trabajar siempre los ngulos en radianes.