Universidade do Estado do Rio de Janeiro

Instituto de Fsica
Departamento de Fsica Nuclear e Altas Energias

Fsica IV Experimental
Roteiro das Experincias
o

1 semestre de 2015
Marcia Begalli
Sandro Fonseca
Helena Malbouisson
Andre Sznajder
Jorge Montalvo
Gerson Pech
Antnio Teixeira

Aluno:

Normas Gerais

A parte experimental dos cursos de Fsica IV composta de dez prticas de

labo-ratrio, as quais so descritas neste roteiro.
Os alunos devem elaborar os grficos correspondentes a cada uma destas prticas, os
quais sero usados na avaliao da parte experimental do curso. importante que estes
grficos sejam elaborados de acordo com as regras gerais descritas mais adiante.

Recebero nota zero os grficos entregues fora do prazo, ou relativos a uma

prtica que o aluno no tenha participado ou assinado a lista de freqncia. A
assinatura da lista de freqncia de responsabilidade do aluno.
Ao longo do semestre sero aplicadas duas provas prticas, abrangendo todas
as experincias realizadas no perodo.
A mdia final da parte experimental da disciplina (ME), ser calculada da seguinte
forma:
P + P 2F
1

ME =
F=

2
1 N p :r
X
i i
i
N =1

onde P1 e P2 so as notas das provas prticas de laboratrio. p I corresponde a

presena na prtica i, que pode assumir o valor 0 , quando o aluno no comparecer
aula e o valor 1 indicando a sua presena; r i corresponde entrega do grfico da
prtica i, que pode assumir o valor 0 ou 1 e N o nmero de prticas.
Existe a possibilidade do aluno recuperar apenas uma das prticas perdidas para
cada das provas atravs de uma aula de reposio previamente definida pelo professor.

Elaborao dos grficos e concluses

O grfico deve conter os pontos experimentais e a curva obtida atravs do mtodo dos
mni-mos quadrados. Observe as unidades utilizadas, a diferena entre os pontos
experimentais e os pontos usados para traar a reta, a escala do grfico, os valores e
grandezas de cada eixo, o ttulo do grfico, enfim o grfico precisa ser compreendido
por algum que no entendesse nada do contedo do experimento;
Alm do grfico obrigatrio apresentar suas concluses a respeito dos
resultados obtidos a partir da anlise dos dados. Incluir tambm uma discusso dos
principais erros da experincia e uma comparao com a expectativa terica.
O grfico obrigatrio, caso contrrio, o aluno perde a presena na respectiva
aula e deve ser entregue sempre at a aula seguinte.
i

Prova prtica
Prova experimental composta por: sorteio de uma prtica onde o professor avalia se o aluno

capaz de:
1. Reproduzir o experimento fazendo a preparao adequada;
2. Elaborar a anlise de dados simplificada;
3. Entender, atravs dos conceitos fsicos, as medidas realizadas.

ii

Prtica n 1
Transformadores
1.1

Introduo

Em princpio, um transformador consiste em dois enrolamentos, eletricamente

isola-dos um do outro, e construdos sobre um mesmo ncleo de ferro. Uma corrente
alternada, em um dos enrolamentos, origina um fluxo magntico alternado no ncleo.
Parte desse fluxo atravessa o segundo enrolamento e nele induz uma fem alternada.
Assim h transferncia de potncia de um enrolamento para o outro mediante o fluxo
no ncleo. O enrolamento ao qual se fornece corrente denominado primrio; aquele
em que se induz a fem denominado secundrio.
Em um transformador real as linhas de fluxo no ficam inteiramente confinadas
ao ferro, algumas delas fecham-se sobre si mesmas no ar. A parte do fluxo que
atravessa tanto o primrio como o secundrio chamada de fluxo mtuo.
A potncia fornecida por um transformador , necessariamente, menor que a
2
consu-mida, devido a perdas inevitveis. Estas perdas consistem no aquecimento (I R) do
primrio e do secundrio, na histerese e correntes de Foucault no ncleo. Apesar dessas
perdas, o rendimento dos transformadores excelente (em geral, superior a 90%).
Vamos considerar um transformador no qual no ocorrem perdas. Suponhamos
que o secundrio esteja em circuito aberto. O enrolamento primrio atua, ento, apenas
o
como indutncia. A corrente no primrio sofre um atraso de 90 com relao tenso e
denominada corrente de magnetizao (Im). A potncia fornecida pelo transformador nula.
O fluxo no ncleo est em fase com a corrente do primrio. Como o mesmo fluxo atravessa
tanto o primrio como o secundrio, ento de acordo com a Lei de Faraday, a fem induzida
por espira (Eesp) a mesma para ambos. Portanto temos a seguinte relao:
Eesp =

dt

Vp

V
= s;
Np Ns

donde chegamos relao de transformao de voltagens:

V p Np
onde Vp, Vs so as tenses no primrio e no secundrio, respectivamente e N p, Ns o
nmero de espiras em cada um deles.

1.2

Objetivos
Estudar as propriedades dos transformadores.

1.3 Material Utilizado

Bobinas (solenides)
Ncleo de ferro

Fonte de Tenso

Voltmetro
Cabos diversos

1.4 Procedimentos
1. Escolha dois solenides com diferentes nmeros de espiras;
2. Monte-os de maneira que ambos tenham um eixo comum, como mostra o
esquema da Fig. 1.1(a). Use como enrolamento primrio a bobina com menos
espiras (transfor-mador elevador);
3. Para alguns valores da tenso de entrada, mea as correspondentes tenses de sada, e
compare-os com os valores esperados pela relao de transformao de voltagens;

4. Introduza uma barra de ferro no conjunto, e observe se isto altera as tenses de

sada; Interprete suas observaes;
5. Modifique seu transformador, fazendo com que o ncleo de ferro feche o
caminho do campo magntico, como mostra a Fig. 1.1(b). Compare os valores
medidos com a relao de transformao;

Figura 1.1: (a) Transformador com ncleo de ar; (b) Transformador com ncleo de ferro.

6. Inverta as funes dos enrolamentos primrio e secundrio (transformador

abaixador). Mea novamente Vp e Vs, e interprete;
7. Para Ns > Np (transformador elevador), mea as tenses de sada para 10 valores
diferentes de Vp;

8. Para cada um dos casos medidos, faa um grfico V s vs. Vp em papel milimetrado;
9. Para os grficos com ncleo completo (transformadores elevador e abaixador),
deter-mine a correspondente relao entre nmero de espiras, N s=Np, usando o
mtodo dos mnimos quadrados.
1.5

Questes

1. Por que o ferro conduz o campo magntico melhor do que o ar?

2. Por que precisamos do ncleo de ferro?
3. Por que o ncleo de ferro laminado?
4. Comente sobre as principais fontes de perda de rendimento dos transformadores.
5. O que so as correntes de Foucault?
6. O que um transformador elevador? E um abaixador?
7. Enuncie algumas aplicaes dos transformadores.
8. Por que usamos transformadores nas linhas de transmisso da rede eltrica?
9. Por que precisamos medir a tenso do primrio? Por que no confiamos
simplesmente nos valores indicados no mostrador de tenso?
10. Na sua opinio, quais as principais fontes de erro neste experimento? Explique.

Prtica n 2
Intensidade Luminosa
2.1

Introduo

Aqueles que se expem ao Sol para se bronzear podem observar que uma
onda eletromagntica pode transportar energia, transferindo esta energia a um corpo
sobre o qual incida. A taxa de energia transportada pela onda, por unidade de rea,
descrita pelo chamado vetor de Poynting:

onde

1 ~ ~

S=

E B

a constante de permeabilidade magntica do vcuo, e E e

~
~

campos eltrico e magntico respectivamente. Como E e

(2.1)
B representam os

B so perpendiculares entre si na

onda eletromagntica plana, ento o mdulo de S dado por:

S= 1 EB

(2.2)

Deve-se contudo notar que, como E e B oscilam continuamente, mantendo-se em

fase, seus valores instantneos esto sempre relacionados por E = cB, de modo que
podemos lidar apenas com um deles; escolhemos E, porque a grande maioria dos
instrumentos detectores de ondas eletromagnticas so mais sensveis ao componente
eltrico do que ao componente magntico da onda. O vetor de Poynting ento dado por:

1 E2

S=

(onda plana)

c0
Analisando o vetor de Poynting associado a uma onda plana, vemos que este
oscila no tempo, com uma freqncia duas vezes maior do que a freqncia da onda
14
eletromagntica (' 10 Hz no caso da luz). Tal oscilao rpida demais para ser
percebida em laboratrio. Na prtica, chamamos de intensidade da onda ao valor
mdio S da grandeza varivel S. Podemos expressar a intensidade (I) em termos do
valor eficaz do campo eltrico, Erms, como:
I=S=

Erms

(onda plana)

c0
4

Raios de luz emitidos de uma fonte pontual, se propagam uniformemente em

todas as direes, como vemos na Fig. 2.1.

Figura 2.1: Uma fonte pontual envia ondas uniformemente em todas as direes
Se uma dada superfcie recebe luz proveniente de uma fonte, diz-se que esta
superfcie est iluminada. De modo anlogo ao vetor de Poynting, a intensidade
1
luminosa I observada em uma dada rea A, situada a uma distncia r da fonte de luz,
definido como a taxa de energia transportada (dU=dt) por unidade de rea (A):
dU=dt :
A

I=

Uma fonte pontual irradia luz isotropicamente em todas as direes. Tomandose uma superfcie esfrica de raio r centrada nesta fonte pontual, teremos uma
intensidade luminosa uniforme em qualquer ponto desta superfcie. Neste caso, a
intensidade em qualquer regio desta superfcie dada por:

I=

dU=dt

4 r2

(2.6)

Este resultado mostra que a intensidade da luz emitida por uma fonte pontual varia com
o inverso do quadrado da distncia em relao fonte.
Por simplicidade, o resultado acima foi demonstrado usando-se a hiptese de
isotropia da emisso de luz pela fonte pontual. Entretanto, o mesmo resultado pode ser
obtido sem esta hiptese simplificadora, sob determinadas condies. Como exemplo
de fonte no-isotrpica, vejamos a situao ilustrada na Fig. 2.2, no qual a rea
iluminada A no envolve a fonte completamente. A intensidade luminosa ser dada por,
I=

dU=dt ;
2
R

Quando se trata de luz visvel, o conceito de intensidade de luz deve ser tomado com cuidado, pois
tanto o olho humano como a maioria dos foto-sensores possui uma sensibilidade que varia
acentuadamente em funo da freqncia analisada. Eventualmente, outras grandezas fsicas so
definidas para o tratamento da radiao visvel, dentre as quais o iluminamento a que mais se
assemelha intensidade luminosa, da maneira como definimos. Para maiores detalhes, ver por exemplo
Dalton Gonalves, Fsica do Cientfico e do Vestibular, vol. 4, captulo 8.

Figura 2.2: Uma fonte envia ondas atravs de um feixe que se espalha sob a forma de
um cone com seo transversal circular.
onde R o raio da seo transversal de A. Como R = r tg teremos,
dU=dt 1 :
2
2
(tg ) r
Este fato nos mostra que, tanto no caso de fonte isotrpica como tambm no caso de
2
fonte anisotrpica, temos que I / 1=r . Ou seja, a intensidade da luz inversamente
proporcional ao quadrado da distncia entre fonte e observador. E isto que vamos
verificar experimen-talmente.
O mtodo que ser utilizado nesta experincia muito simples. Ele consiste na
medida da intensidade luminosa produzida por uma fonte de luz a diferentes distncias
da fonte. Medindo-se a intensidade luminosa I com o uso de um fotmetro, e variandose a distncia deste fonte luminosa, podemos determinar a relao entre estas duas
quantidades atravs de um grfico.
Para isso utilizaremos um fotmetro, colocado sobre um banco ptico com
escala graduada em centmetros, que mede a intensidade a diferentes distncias da
fonte. A luz incide sobre uma pequena ponta de prova, e transportada por meio de
uma fibra ptica at uma fotoclula localizada no interior do fotmetro.
I=

2.2

Objetivo

Determinar a dependncia da intensidade luminosa em funo da distncia

entre a fonte luminosa e o ponto de deteo.
2.3

Material Utilizado

fonte incandescente de luz

fotmetro
ponta de prova de fibra ptica
da
pont
2.4
Procedimentos
a de
prov
1. Alinhe o feixe luminoso
a
de tal forma que ele
tanto
cubra toda a superfcie
na
6

di
st

n
ci
a
m

banco ptico
suporte para
a ponta de
prova
nima ponto onde se
iniciaro as medidas
quanto na distncia
mxima ponto onde as
medidas terminam;

2. Calibre o zero do fotmetro. Apague a luz e cubra a entrada de luz do fotmetro

com um objeto preto. Regule o seletor de sensibilidade para a menor escala
0.1, ou seja, mxima sensibilidade. Em seguida gire o boto de ajuste do zero,
at que o ponteiro esteja exatamente sobre o zero da escala (veja o esquema da
Fig. 2.3). Depois de realizado este ajuste, gire o seletor de sensibilidade at a
escala 1000 e s ento retire o objeto preto do fotmetro;

Figura 2.3: Painel de Controle do Fotmetro

2

3. Use o fotmetro para medidas relativas . Em primeiro lugar, com o detetor distncia mnima, ou seja, mxima intensidade que ser observada, regule o seletor
de sensibilidade para o maior valor possvel, tal que o ponteiro permanea no
mximo da escala (10), utilizando para isso o boto de ajuste de sensibilidade;
4. Com cuidado, varie a distncia no intervalo determinado acima (entre a distncia
mxima e mnima) para que a tomada de dados de intensidade luminosa
possibilite uma verificao correta da lei de variao entre a intensidade e a
distncia. Ao medir a distncia entre fonte e detetor, lembre-se que a lmpada
no se encontra na posio zero da escala;
5. Mea pelo menos 15 pontos e no se esquea de anotar os error a cada medida.
Os intervalos no precisam ser constantes ao longo das medidas ( Sugesto:
entre 10,0 - 30,0 cm );
6. Faa um grfico de I r e outro de log I log r, ambos em papel milimetrado;
7. Determine atravs do grfico o coeficiente angular, que no caso o prprio expoente de
n

r, na relao da intensidade e compare com o valor terico, 2. Note que, se I = Ar ,

ento
log I = b n log r
3

onde b = log A = constante.

2

Para realizar medidas absolutas de intensidade luminosa, devemos levar em conta a distribuio
espectral da fonte luminosa, alm de fazer com que a luz incida perpendicularmente, diretamente e de
maneira uniforme sobre toda a rea sensvel da fotoclula
3
Consulte o apndice sobre grficos em escala logartmica, ao final deste roteiro

2.5

Questes

1. Uma lmpada muito diferente de um ponto. Ento, porque podemos considerar

a fonte como pontual?
2. Qual o princpio de funcionamento de um fotmetro? (Sugesto: procure entender
como funciona uma fotoclula, ou fotodiodo).
3. Por que s podemos fazer medidas relativas de intensidade? No seria melhor
fazer medidas absolutas? Explique.
4. Onde se situa o ponto de distncia zero da fonte? Qual o valor da intensidade
neste ponto?
5. Por que o material todo preto?
6. Qual a importncia do alinhamento do feixe?
7. Na sua opinio, quais as principais fontes de erro neste experimento? Explique.

Prtica n 3
Polarizao da Luz
Introduo

3.1

A luz uma onda transversal com os campos eltrico e magntico oscilando

em direes perpendiculares entre si (veja Fig. 3.1). Os vetores campo eltrico e
magntico de uma onda que se propaga na direo x podem ser decompostos como
~
~
~

Ez = E cos ;
~

Hy = H sen ;

~
~

Ey = E sen ;

Hz = H cos :

(3.1)
~

As direes de oscilao dos

vetores E e H so variveis no
tempo. Alguns materiais
anisotrpicos tm a propriedade
de absorver, em quantidades
desiguais, as componentes Ex e
Ey da radiao incidente. Se a
espessura
do
material
for
suficientemente grande, a
onda transmitida ser polarizada,
isto ,
~ ~
apresentar os campos e oscilando em direes

fixas no tempo.

E H

que se propaga
na direo X.

Fi
gu
Na Fig. 3.2 representamos
ra
o plano de vibraes do campo
3.
1:
eltrico de uma onda que incide
O
sobre
um
polarizador.
A
nd
componente
transversal

a
absorvida pelo material. Logo, se
po
colocarmos
um
segundo
lar
polarizador
(analisador)
na
iza
trajetria do raio luminoso (veja
da

Figura 3.2: Decomposio do vetor campo eltrico de uma onda eletromagntica que
incide sobre um polarizador.
o

Fig. 3.3), poderemos observar que existem duas posies, defasadas entre si de 180 ,
para as quais quase toda a radiao proveniente do polarizador (P 1) atravessa o analisador
(P2). Isto significa que as direes dos eixos de polarizao de P 1 e de P2 esto em
paralelo. Existem outras duas posies para as quais a intensidade da luz transmitida
o
atravs do analisador quase se anula. Essas posies esto defasadas entre si de 180 e
correspondem situao de transversalidade entre os eixos de polarizao de P 1 e de P2.

Figura 3.3: Raio luminoso que parte da fonte F e incide sobre dois polarizadores
A amplitude da luz que atravessa P 2 Em cos , onde Em a amplitude da luz
plano polarizada que atinge P 2 e o ngulo entre o vetor campo eltrico e o eixo de
polarizao. A intensidade I de um feixe luminoso dada por
2

I / A = Em cos
de onde podemos escrever

I = Im cos ;
onde Im a intensidade mxima da luz transmitida. Podemos verificar ento que a
o
condio de paralelismo dos eixos de polarizao de P 1 e de P2 corresponde a = 0 e a
o
o
o
= 180 (intensidade transmitida mxima) e a de transversalidade a = 90 e a = 270
(intensidade transmitida mnima). A expresso (1) conhecida como lei de Malus.

10

3.2

Objetivos da Experincia
Estudar o fenmeno da polarizao de luz, e verificar a lei de Malus;

3.3

Material Utilizado
b

a
n
t
e
p
a
r
o

fonte incandescente de luz fonte a

LASER
n
fotmetro e ponta de prova 3 c
polarizadores
o

p
t
i
c
o

o
e
x
p
o
n
h
a
o
s
o
l
h
o
s
a
o

feixe deo
LASER.qua
Mantenha o
litat
nvel dos olhos
iva
CUIDADO!
sempre acima
do planoda
horizontalLei
do
feixe. de

Mal
us

Pro
ce
di
me
nto
Ex
per
im
ent
al
Veri
fica

1. C
o
m
b
a
s
e
n
a
Fi
g.
3.
3,
m
o
nt
e

suporte da
ponta de
prova
3
suportes
o esquema para a
verificao da lei de
Malus. Use a fonte
laser e, no lugar da
fotoclula, use um
anteparo;
2. Coloque inicialmente o
polarizador
e
o
analisador com seus
eixos de polarizao
em paralelo;
3. Ligue a fonte de luz,
gire gradativamente o
analisador e observe a
variao da intensidade
da
luz
no
anteparo;
4. A

seguir, coloque o
polarizador e analisador
em
condio
de
ortogonalidade, isto ,
com seus eixos de
polarizao defasados de
o
90 . Observe que no h
transmisso de luz ao
anteparo. Coloque ento
um segundo polarizador
imediatamente aps o

primeiro,
fazendo5.
com este um ngulo
o
de 45 . Observe se
h luz transmitida ao
anteparo.

A
s
e
g
ui
r,
gi

re
gr
a
d
at
iv
a

mente de 360
o
segundo polarizador,
observando
a
luz
incidente no anteparo.
Interprete
os
fenmenos
observados.

1
1

3.4.2

Verificao quantitativa da Lei de Malus

1. Substitua a fonte LASER pela fonte de luz incandescente e o anteparo pelo

fotmetro. Retire o segundo polarizador introduzido anteriormente;
2. Verifique os ajustes do fotmetro. Defina uma intensidade de referncia (por exemplo,
aquela em que os eixos de polarizao do polarizador e analisador esto em paralelo);
o

3. Gire o analisador, a partir de uma posio de referncia (0 ), at 180 fazendo

o
o
leituras peridicas no fotmetro (de 10 em 10 , por exemplo);
2

4. Construa o grfico (I=Im) cos ;

5. Verifique a lei de Malus comparando a curva obtida no item anterior com o
resultado terico.
3.5

Questes

1. O que acontece quando um feixe de luz no-polarizada passa atravs de uma

placa polarizadora?
2. Poderamos ter luz polarizada se esta fosse uma onda longitudinal?
3. O que podemos fazer para verificar se um feixe de luz polarizado?
4. Qual a funo do polarizador colocado antes do anteparo?
5. Por que a intensidade de referncia deve ser definida com os dois polarizadores
em paralelo? Por que no defin-la sem os polarizadores?
a

6. Justifique o que foi observado na 1 parte da experincia, aps a introduo do

o
terceiro polarizador a 45 em relao aos outros dois.
7. Quais as vantagens e desvantagens de utilizar a fonte laser ou a fonte de luz
incandes-cente, em cada parte desta experincia?

12

Prtica n 4
Reflexo
4.1

Introduo

Exceto quando olhamos diretamente para uma fonte luminosa, toda a luz que chega
aos nossos olhos o faz aps ter sido refletida por algum corpo material. Para um estudo do
fenmeno de reflexo deve-se inicialmente classificar as superfcies dos corpos onde a luz
incide como refletoras (quando polidas) e difusoras (quando no polidas). Nas superfcies no
polidas a reflexo dita difusa, pois a luz que incide sobre tais superfcies refletida em vrias
direes. Uma pequena regio de uma superfcie no polida, quando iluminada pode ser vista
de vrias direes. Se a superfcie polida, a reflexo dita dirigida ou especular.
Se as dimenses usadas no experimento so suficientemente grandes quando comparadas ao comprimento de onda da luz, de modo que podemos desprezar efeitos de difrao, nesse
caso as ondas se comportam, com boa aproximao, como se viajassem em linha reta. Este caso
especial do comportamento das ondas luminosas tratado pela ptica geomtrica.

Segundo a ptica geomtrica, sempre que um feixe de luz incide em uma

superfcie de separao entre dois meios com propriedades pticas diferentes,
1
podemos observar dois fenmenos concorrentes: a reflexo e a refrao .
Consideremos uma onda plana propagando-se no meio 1, conforme mostra a Fig. 4.1.
A experincia mostra que quando uma onda incide sobre uma superfcie plana AB que separa o
meio 1 do meio 2, uma parte da onda transmitida ao segundo meio e outra parte refletida
de volta ao meio 1. Essas ondas so chamadas de onda refratada e onda refletida,
^
respectivamente. A onda incidente propaga-se na direo do vetor unitrio i e as ondas k
^r ^0
refratada e refletida propagam-se nas direes dos vetores
unitrios
e respectivamente k k
^ ^
^
(ver Fig. 4.1). Os ngulos i,

definem as direes dos vetores unitrios i,

k k k com
relao direo da reta N normal superfcie AB. As direes destes trs vetores so
relacionadas pelas seguintes leis (verificadas experimentalmente):
i) As direes de incidncia, refrao e reflexo esto todas em um mesmo
plano, o qual normal superfcie que separa os dois meios e, portanto, contm a
normal N superfcie.
1

Apesar de descrita nesta introduo, o fenmeno da refrao ser estudado com mais detalhes
apenas na prxima prtica.

13

Figura 4.1: Raios incidente, refratado e refletido

ii) O ngulo de incidncia igual ao ngulo de reflexo, isto :
i

= :

iii) A razo entre o seno do ngulo de incidncia e o seno do ngulo de refrao

constante. Esta a chamada Lei de Snell, e expressa por:
sen i

= n21:

sen r
A constante n21 chamada de ndice de refrao do meio 2 em relao ao meio 1. Seu valor
numrico depende da natureza da onda e das propriedades dos dois meios. Fica como
exerccio mostrar que n21 = n2 , onde n1 e n2 so os ndices de refrao dos meios 1 e 2
n1

respectivamente.

Polarizao por Reflexo

Ao ser refletida, a luz pode emergir da superfcie refletora parcial ou totalmente
polarizada. Podemos constatar este fato com o uso de um polarizador. Existe um
ngulo de incidncia, chamado ngulo de Brewster (veja Fig. 4.2), para o qual o raio
luminoso refletido totalmente polarizado.
Pode-se mostrar que no ngulo de Brewster existe uma relao entre a direo
do raio refletido e a do refratado, dada por:
r

onde

o ngulo de reflexo e

+r=2;

o de refrao (Fig. 4.2). Por outro lado, temos

0

n1 sen r = n2 sen r;
onde n1 o ndice de refrao do meio 1, de onde parte o raio luminoso, e n2 o do meio 2.

Ento temos
0

n1 sen r = n2 sen 2

= n2 cos r ;

14

Figura 4.2: ngulo de Brewster.

o que leva a
tan r0 =

n2
n;

que a lei de Brewster. Esta lei permite ento determinar experimentalmente o ndice
de refrao do material.

4.2 Objetivos
Verificar a lei de reflexo;
Verificar o fenmeno da polarizao por reflexo;
Medir o ndice de refrao de alguns materiais, usando a Lei de Brewster.

4.3 Material Utilizado

fonte LASER
banco ptico
mesa giratria polarizador
espelhos diversos
blocos de materiais diversos

15

4.4

Procedimento Experimental

CUIDADO!
No exponha os olhos ao feixe de LASER. Mantenha
o nvel dos olhos sempre acima do plano horizontal do feixe.

4.4.1

Lei da Reflexo

1. Monte o material de acordo com o esquema experimental apresentado na Fig. 4.3;

Figura 4.3: Banco ptico

2. Ligue a fonte laser, e certifique-se de que o banco ptico esteja paralelo ao feixe
LASER (alinhamento do banco ptico);
3. Coloque a mesa giratria sobre o banco ptico, e certifique-se que o zero da mesa
esteja alinhado com a direo do feixe LASER incidente. Alm disto, o feixe LASER
deve passar sobre o centro da mesa giratria (alinhamento da mesa giratria);
o

4. Coloque o anteparo no brao da mesa giratria, e posicione-o em 180 , de modo

a usar o 2 da escala do anteparo como referncia para medidas de ngulo;
5. Fixe o espelho plano no suporte e alinhe o conjunto sobre a mesa giratria;
o

6. Ajuste o espelho de forma que para i = 0 , a luz refletida pelo espelho coincida
com a direo do feixe emitido pelo laser;
o

7. Gire o espelho de um ngulo i = 20 (ngulo de incidncia) e mea o ngulo de

reflexo. Para isso, gire o brao da mesa giratria at que o feixe refletido
0
coincida com o valor 2 da escala. Mea o ngulo (ngulo de reflexo) que o
brao faz com a normal e compare-o com o ngulo de incidncia i;

16

8. Mea os ngulos de reflexo correspondentes a vrios valores de i, entre 20 e

o

80 . Monte uma tabela i ;

9. Repita o procedimento anterior, substituindo o espelho plano pelo espelho
cncavo, e depois pela placa de acrlico;
4.4.2

Lei de Brewster

1. Para a verificao da lei de Brewster, monte a fonte LASER e a mesa giratria

sobre o banco ptico;
o

2. Coloque o bloco de vidro sobre a mesa giratria, numa posio de referncia (0 ),

e o anteparo no brao da mesa giratria;
3. Faa o feixe de luz incidir no bloco de vidro e ajuste o sistema de forma que seja
possvel observar os feixes refletidos no anteparo. Deve ser possvel observar
dois pontos (por qu?);
4. Coloque um polarizador entre o anteparo e o bloco de vidro, com seu eixo de
polarizao paralelo ao plano de incidncia da Fig. 4.2;
5. Agora, varie o ngulo de incidncia, acompanhando no anteparo, a imagem do
feixe refletido. Quando a imagem desaparecer, o ngulo de incidncia o ngulo
de Brewster. Mea este ngulo e determine o ndice de refrao do vidro;
6. Repita o procedimento usando um bloco de acrlico.
Observaes:
O ndice de refrao do acrlico est contido no intervalo 1.48 1.50;
Para o vidro, nvidro = 1.52 (este valor medido para = 588:9 nm. O comprimento
da radiao utilizada no experimento (LASER) 632.8 nm. Portanto, o valor
encontrado dever ser ligeiramente menor.)
4.5

Questes

1. Existe superfcie perfeitamente lisa?

2. Quando se pode considerar que uma superfcie polida para ondas luminosas?
3. Deduza as leis da reflexo usando o princpio de Huygens;
4. Em vez de usar o anteparo, valeria a pena usar o fotmetro para medir os
ngulos de reflexo?
5. O que voc entende por alinhamento do feixe nesta prtica? Por que este
alinhamento importante?
17

6. Como voc realizou o alinhamento do feixe? ngulo de Brewster

7. Por que a imagem do feixe refletido desapareceu do anteparo, para um

particular?

8. Por que vemos dois pontos refletidos no anteparo quando estamos fazendo as
medidas para o ngulo de Brewster?
9. Como determinamos a correta orientao do eixo de transmisso do polarizador,
para que possamos encontrar o ngulo de Brewster?

18

Prtica n 5
Refrao
5.1

Introduo
O fenmeno da refrao foi brevemente descrito na introduo da prtica anterior.

5.2

Objetivos

Verificar a lei de Snell, ou lei da refrao. Medir o ndice de refrao de alguns

materiais, usando vrios mtodos diferentes.
5.3

Material Utilizado
fonte laser
anteparo com escala

banco ptico

placa de acrlico

mesa giratria

suporte (mesa)
5.4

placa de vidro

Procedimento Experimental
CUIDADO:
No exponha os olhos ao feixe de LASER.
Mantenha o nvel dos olhos sempre acima do
plano horizontal do feixe.

O fenmeno da refrao ser estudado em diferentes arranjos experimentais. Cada

arranjo proporciona um mtodo independente de determinao de ndices de refrao.

Primeiro mtodo: Estudo da refrao em uma interface

19

1. Coloque a mesa giratria sobre o banco ptico, e ajuste a meia-lua de acrlico

sobre a mesa. A face plana da meia-lua deve coincidir com a linha transversal no
centro da mesa giratria, de modo a que a seta indique a normal face;
2. Faa o alinhamento do sistema;
3. Coloque o anteparo com escala sobre o brao giratrio da mesa, e ajuste-o de
modo a usar o 2 da escala como referncia para medidas de ngulo de refrao,
usando a incidncia normal;
o

4. Variando o ngulo de incidncia de 10 em 10 , mea os ngulos de refrao, e

construa uma tabela;
5. Faa um grfico de sen i sen r em papel milimetrado. A partir da lei de Snell, o que
podemos esperar deste grfico?
6. Use o grfico do item anterior para extrair o ndice de refrao do material.

Segundo mtodo: Reflexo total e ngulo crtico

1. Utilize o mesmo arranjo do primeiro mtodo, fazendo o feixe incidir na face curva
da meia-lua, de modo a permitir o estudo do comportamento do feixe refratado do
acrlico para o ar;
2. Consulte a tabela construda no primeiro mtodo, e verifique o princpio da
reversibil-idade dos raios luminosos;
3. Verifique que para ngulos de incidncia acima de um determinado valor c, chamado
de ngulo crtico, no existe feixe transmitido, e o feixe incidente sofre o fenmeno da
reflexo total (Sugesto: observe este fenmeno com as luzes da sala apagadas);
4. Mea o ngulo crtico c, e use esta medida para determinar o ndice de refrao
do acrlico que compe a meia-lua utilizada, atravs da expresso n acr = 1= sen c,
onde assumimos que nar = 1.

Terceiro mtodo: Distncia entre os feixes refletidos

1. Coloque a mesa giratria sobre o banco ptico;
2. Prenda a placa de acrlico no suporte, e alinhe o conjunto sobre a mesa giratria
de modo que i = r = 0;
3. Prenda a escala no brao da mesa giratria;
o

4. Gire a placa de acrlico de um ngulo qualquer (por exemplo 30 );

5. Ajuste o brao da mesa giratria para medir as posies dos dois feixes refletidos.
Mea a distncia D entre estes dois feixes (ver Fig. 5.1);
20

Figura 5.1: Terceiro mtodo de medida do ndice de refrao.

6. Calcule a distncia d entre as normais aos pontos de reflexo de um mesmo raio
em cada face (ver Fig. 5.1);
7. Por fim, sabendo que tan r = d=t, medir a espessura t da placa de acrlico e,
usando a Lei de Snell, determine o ndice de refrao do material refletor
utilizado;
8. Repita o procedimento anterior para dois ngulos de incidncia diferentes. Faa a
mdia dos valores encontrados e compare com o valor terico, n 2 = 1,49;
9. Repita os procedimentos anteriores, substituindo a placa de acrlico por uma
placa de vidro (n = 1,52).

Quarto mtodo: Desvio Lateral (opcional)

1. Fixe a placa de acrlico no suporte e alinhe o conjunto mesa giratria;

Figura 5.2: Quarto mtodo de

medida do ndice de refrao.

21

2. Coloque a escala no brao da mesa de modo que ela fique paralela placa de acrlico;
3. Ligue a fonte laser, fazendo o ponto luminoso coincidir com um ponto de referncia
o
na escala (por exemplo, o 2), enquanto o brao giratrio est na posio de 180 ;
o

4. Gire a placa de um ngulo de 10 (ngulo de incidncia) e mea o deslocamento

do ponto luminoso na escala;
o

5. Repita o procedimento anterior para os ngulos de 20 , 30 , 40 e 50 ;

6. Para cada caso, calcule o valor do ngulo de refrao atravs da equao
d0
cos i tan r = sen i t

onde d o desvio (veja Fig. 5.2) e t a espessura da placa;

7. Calcule o ndice de refrao n2 usando a Lei de Snell;
8. Calcule a mdia dos valores de n2 e compare com os valores tericos;
9. Repita os procedimentos anteriores trocando a placa de acrlico pela placa de
vidro (n2 = 1,52).
5.5

Questes

1. Deduza a expresso n2 = 1= sen c, usada no segundo mtodo de determinao

do ndice de refrao;
2. Explique como voc verificou, em laboratrio, o princpio da reversibilidade dos
raios luminosos;
3. Deduza as relaes entre distncias e ngulos usadas no terceiro mtodo para
determi-nao de ndice de refrao.
4. Deduza a equao cos i tan r = sen i

d0
t

utilizada no 4 mtodo.

5. Na sua opinio, quais as principais fontes de erro nas suas medidas?

6. Use a tabela abaixo para comparar o efeito dos erros experimentais em cada um
dos diferentes mtodos de determinao de ndices de refrao:
1Preencha as colunas i e nacr com os valores medidos e calculados em cada
prtica.

2Em seguida, suponha que voc tenha medido o ngulo de incidncia i

o
com uma impreciso de 0,5 . Ou seja, se em cada uma das prticas, voc
0
o
medisse i = i +0; 5 ao invs de i, que efeito este erro experimental teria
causado no seu resultado (clculo dos ndices de refrao)?
Mtodos
(1) ngulo de Brewster
(2) ngulo crtico
(3) Terceiro mtodo

(graus) nacr = f( i)

+ 0:5

nacr = f( i )

22

7. Com base nos resultados do item anterior, qual o mtodo mais acurado e o
menos acurado para a determinao de ndices de refrao?

23

Prtica n 6
Interferncia de Luz
6.1

Introduo

Os complicados padres de cores que se observa em uma mancha de leo sobre o

asfalto so resultado de uma das manifestaes mais comuns do fenmeno de interferncia.
A observao da interferncia de raios luminosos, realizada em 1801 por Thomas
Young (1773-1829), comprovou de maneira inequvoca o carter ondulatrio da luz.

A interferncia um fenmeno caracterstico de movimentos ondulatrios e

sempre ocorre quando duas ou mais frentes de onda atingem um certo ponto P no
espao. Em um instante de tempo arbitrrio, t, as ondas se superpoem de tal modo que
a amplitude total da onda resultante em P ser a soma algbrica das amplitudes de
cada uma das diversas frentes de onda incidentes em P .
Em particular, quando no ponto P incidem duas frentes de onda coerentes e de
mesma freqncia, a amplitude resultante em P ser independente do tempo, o que
permite a observao da interferncia em laboratrio. Alm disto, se as duas frentes de
o
onda possuem a mesma amplitude, e uma defasagem relativa de 180 , a amplitude
resultante no ponto P ser nula, em qualquer instante de tempo. No caso da luz, isto
significa que o ponto P ficar escuro, apesar de receber luz de duas fontes!
Seria impossvel explicar o fenmeno da interferncia considerando-se a luz
composta por corpsculos.

Interferncia de Ondas Produzidas por Duas Fontes Sncronas

A luz um fenmeno vetorial dado que os campos eltrico e magntico so
vetores. Isto fundamental para o entendimento intuitivo da ptica. No necessrio
dizer que existem muitas situaes nas quais o sistema ptico est configurado de tal
maneira que a natureza vetorial da luz demonstra ter pouco significado prtico, porm
esses so casos particulares de um fenmeno mais geral. Portanto, deduziremos as
equaes bsicas que descrevem o fenmeno de interferncia no contexto vetorial.
A luz uma onda eletromagntica. Seus campos eltrico e magntico so
interde-pendentes, sendo esta dependncia descrita pelas equaes de Maxwell.
Devemos lembrar que em nosso laboratrio, impossvel medir as oscilaes do
24

campo eltrico para a luz, j que as mesmas ocorrem aproximadamente no intervalo de 4;

14
14
3 10 a 7; 5 10 Hz. No entanto, podemos observar o fenmeno da interferncia em um
experimento similar quele montado por Young, notando a grande semelhana que ocorre
com a interferncia de duas ondas em um tanque de gua, como mostra a Fig. 6.1 .

Figura 6.1: Ondas de gua, provenientes de duas fontes pontuais. Observe a figura de
interferncia que se forma na superfcie da gua.
No arranjo usado por Young para produzir o fenmeno de interferncia, um anteparo
colocado distncia D paralelamente s fendas. Se a separao d das fontes S 1 e S2
pequena comparada com a distncia D, podemos desprezar a pequena diferena entre r 1 e r2 e
tomar as amplitudes E01 e E02 como sendo praticamente iguais. Neste caso podemos reescrever a forma da amplitude da onda resultante no ponto P como:

1
2

E = 2E01 (1 + cos )

ouE = 2E01 cos

2:

Da geometria da Fig. 6.2, considerando que um ngulo pequeno de tal forma

que sen tan = y=D, temos que r1 r2 = d sen dy=D, e da
1

2
=

2
(r1

r2) =

d sen

2 dy
D :

A aproximao implcita pelo sinal corresponde hiptese de que y D, que pode ou no ser
verdadeira em laboratrio. Note que d sempre muito menor do que D, ou mesmo y.

25

Figura 6.2: Determinao do comprimento de onda usando a interferncia de luz.

2

A intensidade do movimento resultante sobre pontos da tela proporcional a E . Portanto

d sen
2

dy

D !;
onde I0 a intensidade para = 0. Esta distribuio de intensidade tal que os pontos
de mxima intensidade correspondem a
I = I0 cos

d sen

=n

I0 cos2

d sen = n

ou

(6.1)

onde n um inteiro. Se tomamos y D, temos que

dy = n
ou
y = nD
( pequeno!):
D
d
Neste caso, a separao y entre duas franjas brilhantes sucessivas dada por
y=

D
d

( pequeno!):

Portanto, medindo-se y, D e d, pode-se obter o comprimento de onda .

(6.2)
Este , na

realidade, um dos mtodos padro para a medida de comprimentos de onda. Deve-se contudo
ter o cuidado de no a eq. (6.2) quando a condio y D no for satisfeita, o que geralmente
ocorre quando usamos as redes de difrao. Nestes casos, devemos substituir a expresso
sen n =

yn

26

D + yn

na eq. (6.1), obtendo a partir da medida da posio y n do mximo de ordem n.

6.2

Objetivos

Estudar o fenmeno da interferncia entre feixes de luz, e usar as propriedades

deste fenmeno para medir o comprimento de onda de uma fonte LASER.
6.3

Material Utilizado
fonte LASER banco ptico
fendas duplas
lentes convergentes lmina de vidro
caminh

6.4
6.4.1

Procedimentos

Interferncia
usando
luz
monocromtica
(LASER)

do

suportes
anteparo
(folha
branca) rgua
trena
de

ida da separao y entre

int

franjas consecutivas;

feixe,

erf

de

er

tal

forma

que

cia

ambas

as

Es

fendas

col

CUID sejam
ADO: ilumina

ha

das de

forma

simtri

dis

ca;

2. Prenda

nci

N
o exponha os
olhos ao feixe
de LASER.
Mantenha o
nvel dos olhos
sempre acima
do plano
horizontal do

uma
branca

feixe. no
antepa
ro,

posicione a fenda dupla a

cerca de 10 cm da fonte, no
27

qu
e
fa
cili
te

para
observ
ar

a
D

folha

1. Ligue a fonte LASER e

padro

a
m
ed

3. Marque no anteparo, os
pontos
de
mximo
(contidos
no
primeiro
mximo
de
difrao).
Mea com uma rgua, a
distncia entre o primeiro
e o ltimo ponto que voc
mar-cou. Divida ento
pelo nmero de intervalos
contidos entre estes dois
pontos, para determinar o
valor de y.
4. Mea a distncia D e
determine o comprimento
de onda do feixe de
LASER, de acordo com a
eq. (6.2) da seo 6.1;
5. Repita
os
passos
anteriores para diferentes
separaes d entre as
fendas;
6. Obtenha o valor mdio
encontrado
para
o
comprimento de onda , e
compare com o valor
terico, teo = 632,8 nm.

6.4.2

Estudo da interferncia em um dispositivo de fendas mltiplas

1. Monte sobre o banco, o dispositivo de fendas mltiplas.

2. Comeando pelo conjunto de fendas duplas, faa os ajustes como no primeiro
tem. Observe com ateno a figura de difrao, formada no anteparo.
3. Mantendo a distncia D constante, posicione ento o conjunto de fendas triplas, na
direo do feixe, observando com ateno as variaes ocorridas na figura de difrao.

4. Proceda de forma similar para os conjuntos de quatro e cinco fendas.

5. Troque o dispositivo de fendas mltiplas pela rede de difrao.
6. Anote todas as suas observaes analisando se so compatveis com as
predies teri-cas.
6.5

Questes

1. O que a coerncia entre dois feixes de luz?

2. Por que a coerncia entre dois feixes importante para a observao da
interferncia entre dois feixes de luz?
3. Dois ou mais feixes de luz totalmente incoerentes podem interferir? Como
podemos observar a interferncia entre estes feixes?
4. Por que a experincia de Young usava uma fenda nica, antes da fenda dupla? E
por que, em nosso laboratrio, ns no precisamos usar esta fenda nica quando
usamos o feixe de LASER?
5. Na interferncia por reflexes mltiplas, qual a origem da diferena de caminho
ptico que gera o padro de interferncia observado?

28

Prtica n 7
Difrao
7.1

Introduo

Esta prtica ser constituida de duas partes. Na prtica anterior vimos como a
luz se comporta quando passa atravs de duas fendas muito estreitas (aberturas da
ordem de seu comprimento de onda, ou menor), de forma que cada fenda possa ser
considerada uma fonte pontual de luz.
A difrao observvel quando uma onda deformada por um obstculo que tem
di-menses comparveis ao comprimento de onda da mesma. O obstculo pode ser um
anteparo com uma pequena abertura, ou fenda, que permite a passagem de somente uma
pequena frao da frente de onda; ou pode ser um pequeno objeto, tal como um fio ou um
pequeno disco, que bloqueia a passagem de uma pequena parte da frente de onda.
Quando olhamos a figura que se forma, a difrao se parece muito com a
interferncia e muitos livros chegam a misturar os dois fenmenos, j que na vida real
quase sempre os observamos ao mesmo tempo. A diferena entre os dois fenmenos
que na interferncia desprezamos a largura de cada uma das fendas enquanto que na
difrao a largura estre-ita da fenda a responsvel pelo fenmeno. So as bordas da
fenda (ou do obstculo) que deformam a onda.
Vamos considerar uma fenda estreita e comprida o suficiente para que as
deformaes causadas pelas bordas superior e inferior possam ser desprezadas. Vamos
supor que as ondas incidentes so perpendiculares fenda. Quando a onda incidente
chega fenda, todos os pontos de seu plano tornam-se fontes de ondas secundrias
sncronas, emitindo novas ondas (chamadas, neste caso, de ondas difratadas). Podemos
ento considerar cada uma das bordas laterais da fenda como uma fonte pontual e a onda
que passa pelo centro da fenda, e que no sofreu nenhuma alterao, como sendo uma
terceira fonte pontual. Para obtermos a figura de difrao, somamos a onda deformada por
uma das laterais onda intacta que passa pelo centro da fenda, levando em conta que a
distncia entre elas de a=2. Para que haja uma composio destrutiva entre elas,
deveremos ter uma diferena de fase, ou diferena de percurso, igual a meio comprimento
de onda. Observando a figura 7.1 vemos ento que a relao para os mnimos ser:
a=2 sen = m =2:
Desta forma temos as seguintes relaes de mximos e mnimos para a figura de difrao a

29

ser observada no anteparo:

a sen = n

(mnimos)a sen = n + 1

(mximos)

(7.2)

2
onde n um inteiro positivo ou negativo, diferente de zero, a a largura da fenda, o
comprimento de onda da onda incidente e o ngulo entre a direo perpedicular
fenda e o ponto onde estamos observando a luz.

Figura 7.1: Esquema da passagem de uma onda de luz atravs de uma fenda estreita.

A soma dos vetores campo eltrico de cada onda gerada pelas fontes
consideradas pontuais, fornece a intensidade da luz que ser observada nas diferentes
direes. Este clculo similar ao que fizemos para a interferncia, sendo porm um
pouco mais trabalhoso. De-talhes deste, bem como explicaes mais detalhadas sobre
a teoria do fenmeno de difrao, podem ser vistos no Captulo 41 do livro
Fundamentos da Fsica de Halliday, Resnick & Walker ou no Captulo 23 do livro Fsica
um Curso Universitrio de Alonso & Finn. O resultado obtido :
sen

I = Im
;
onde Im a intensidade mxima e relacionado com atravs de
a

(7.3)

(7.4)
=
sen :
Veja que a intensidade proporcional ao seno do ngulo de observao ,
deixando claro que teremos pontos onde ela ser zero, ou seja, mnima. Como na
interferncia, temos pontos iluminados onde nenhuma luz observada.
30

Vamos agora considerar duas fendas, cada uma com largura a e separadas por uma
distncia d. Para uma direo dada pelo ngulo , temos dois conjuntos de ondas difratadas. Em
outras palavras, combinamos processos de difrao e de interferncia, e o resultado uma
figura de mximos e mnimos onde os mximos de interferncia, so modulados pela figura de
difrao. A intensidade dos pontos observados descrita pelo grfico da Fig. 7.2.

Figura 7.2: Distribuio de intensidade (ao longo de um plano colocado perpendicularmente

luz incidente) resultante de duas fendas estreitas compridas e paralelas.

Observe que o mximo da figura de interferncia ocorre para

sen = n( =d);
enquanto que os mnimos (ou zeros) da figura de difrao so dados por
sen = m( =a):
Aqui, n e m so inteiros no nulos. Note que os mnimos de difrao so muito mais
espaados, j que a < d. Portanto, quando existem duas fendas, as franjas brilhantes so
1

muito mais estreitas e menos espaadas do que as produzidas por uma nica fenda.
A relao sen = m( =a) exatamente a mesma que tnhamos para o caso da luz
ser difratada por uma nica fenda. Isto ocorre porque podemos dividir a fenda nica
pela metade; dividir cada metade em duas partes; e assim por diante. Assim teremos a
seguinte relao para os mnimos de difrao:

a
2m

sen = =2:

Isto ocorre porque a distncia entre as fendas no implica em modificaes no

fen-meno da difrao, continuaremos a ter a mesma relao para os mnimos da
figura observada, independentemente do nmero de fendas que utilizamos.
necessrio somente levarmos em conta a largura de cada fenda.
Note bem, quando estudamos a difrao por fendas mltiplas necessrio que
cada fenda que compe a fenda mltipla tenha a mesma largura. Se tivermos uma
composio de fendas com larguras diferentes, precisaremos utilizar um formalismo
matemtico mais sofisticado do que as relaes geomtricas apresentadas aqui.
1

Preste ateno: A interferncia depende unicamente da distncia d entre as fendas, enquanto que a
difrao depende unicamente da largura a da fenda.

31

7.2

Objetivo

Estudar um dos fenmenos caractersticos do movimento ondulatrio da luz e,

atravs dele, determinar a largura de fendas muito estreitas e o comprimento de onda
da luz incidente.

7.3 Material Utilizado

fonte LASER
fonte incandescente de luz
fendas para difrao
rede de difrao

banco ptico
2 suportes
anteparo
rgua

fio de cabelo

trena

7.4 Procedimentos
O mtodo a ser utilizado nesta experincia consiste em estudar o comportamento
da luz quando esta passa atravs de fendas e obstculos de geometria simples.

Primeira Parte:
1. Determinao da largura de uma fenda muito estreita
Monte a fonte LASER sobre o banco e o dispositivo de fenda nica, posicionando
aquela mais estreita de forma que o feixe luminoso a atinja perpendicularmente. Por
meio de um anteparo, observe a figura de difrao que formada.

Ajuste o aparato, de forma que os mximos e mnimos da figura fiquem bem

nti-dos e separados. Ento, marque alguns pontos de mnimo
(aproximadamente 4) no anteparo, de forma que os ngulos de desvio em
relao direo de incidncia sejam pequenos.
Mea a distncia D entre o plano das fendas e o anteparo.
Determine a distncia y entre dois mnimos consecutivos. Para isto, mea
com uma rgua a distncia entre o primeiro e ltimo ponto marcado,
dividindo-a pelo nmero de intervalos existentes entre estes mnimos.
Determine ento, a largura da fenda a, considerando o comprimento de onda
da fonte LASER, 632,8 nm.
Mantendo a mesma distncia D, entre o plano das fendas e o anteparo,
posicione as outras fendas e observe as diferenas entre as figuras de
difrao formadas em cada caso.
Ajustando o aparato de maneira conveniente, faa as mesmas medidas para
cada uma das trs fendas restantes.
32

2. Determinao da espessura de um fio de cabelo.

Monte sobre o banco, o dispositivo que contm o fio de cabelo.
Ajuste o sistema, como no caso anterior e proceda de forma similar para
fazer as medidas.
Determine assim, a espessura do fio de cabelo.
Segunda Parte:
3. Determinao do dimetro de orifcios circulares
Coloque um dos orifcios circulares no caminho do feixe laser, e observe a
figura de difrao formada;
Mea o dimetro do primeiro anel de mnimo, e com isto determine o dimetro
do orifcio, atravs da expresso d sen = 1; 22 . Note que a eq. (7.2) no
pode ser usada para orifcios circulares!
Determine tambm o dimetro do outro orifcio circular.

4. Observao de diferentes figuras de difrao.

Monte sobre o banco, o dispositivo que contm aberturas com diferentes
geome-trias (quadrangular e hexagonal).
Observe as figuras de difrao formadas em cada caso, e tente entend-las.

5. Determinao aproximada dos comprimentos de onda de diferentes cores.

Troque a fonte LASER, pela fonte de luz incandescente.
Use dispositivos de abertura vertical, de modo a colimar convenientemente, o
feixe de luz.
Verifique o espectro que formado no anteparo.
Marque um ponto no centro da faixa branca e para cada uma das cores que
formada, marque tambm um ponto no centro da faixa, obtendo assim,
valores ym relativos a cada cor.
Mea a distncia D entre o plano da rede de difrao e o anteparo.
A partir destes dados, calcule o sen e determine ento os comprimentos de
onda das diversas cores observadas.
Observao:
Fornecemos a seguir, uma tabela com os intervalos de comprimentos de onda
das cores que compem o espectro visvel.
33

Cor
Violeta
Azul
Verde
Amarelo
Laranja
Vermelho

7.5

(nm)
390 - 455
455 - 492
492 - 577
577 - 597
597 - 622
622 - 780

Questes

1. Partindo da eq. (7.2) e usando a aproximao de pequenos ngulos, demonstre a

relao y = D=a entre as distncias dos mnimos de difrao adjacentes e o
comprimento de onda da luz. (Sugesto: analise a deduo da eq. (6.2))
2. Nas figuras de difrao por mltiplas fendas, porque a intensidade de alguns
mximos principais so maiores do que a de outros?
3. Explique o aparecimento, nestas figuras, de mximos secundrios.
4. Qual a vantagem de utilizarmos um dispositivo cujo nmero de fendas cada vez
maior? Este fato ajudou na sua medida?
5. Para que utilizamos redes de difrao?
6. Na experincia de rede de difrao com luz incandescente, porque o mximo
central claro? Qual a cor deste mximo? Explique sua resposta.
7. Na sua opinio, quais as principais fontes de erro neste experimento? Explique.
8. Na sua opinio, este experimento poderia ser feito se a luz fosse composta de
partculas ao invs de ondas eletromagnticas? Explique.
9. Cite algumas das vrias situaes dirias onde voc observa o fenmeno de difrao.
10. Voc acha que a difrao pode ter alguma aplicao em processos industriais?
Quais, por exemplo?

34

Prtica n 8
Espectroscopia
8.1

Introduo
1

bem conhecido que um gs monoatmico, quando tem seus tomos excitados,

emite luz numa cor caracterstica do elemento qumico que o compe. O gs neon, por
exemplo, emite luz vermelho-alaranjada, o mercrio emite luz azul-esverdeada e o hidrognio,
azul-violeta. Ao dispersar a luz emitida pelo gs, fazendo-a passar por um prisma ou por uma
rede de difrao, observa-se um espectro de linhas cujo padro caracterstico do respectivo
elemento qumico. Algumas linhas do espectro do hidrognio so mostradas na Fig. 8.1.

Figura 8.1: Nveis de energia do tomo de hidrognio.

A rede de difrao um elemento analisador do espectro que consiste basicamente de
um grande nmero de fendas paralelas e igualmente espaadas. Quando luz de comprimento
de onda incide sobre ela, ocorre o fenmeno da difrao. Cada fenda se comporta como se
fosse uma nova fonte de luz. Consideremos o caso da luz incidente ser paralela normal
rede, situao que representada na Fig. 8.2 para um caso simples de duas fendas apenas.
Nesse caso, as fontes de luz so coerentes entre si com diferena de fase nula. A diferena de
caminho ptico da luz proveniente de fendas adjacentes dada por

x = dsen ;
35

Figura 8.2: Difrao por duas fendas.

onde d = 1=N a distncia entre as duas fendas, N o nmero delas por unidade de
comprimento e o angulo de difrao. A Fig. 8.2 mostra uma tela onde a luz incide aps
passar pela rede. Se a distncia D, da tela rede satisfaz D d, podemos escrever a
diferena de fase causada pelas duas fendas adjacentes, com boa aproximao, como

' = 2x =

2 dsen :

Logo, os mximos de intensidade da luz difratada, que ocorrem para interferncia

construtiva, i.e., ' = 2 m devem satisfazer
dsen = m ;m = 0; 1; 2; : : : :
m = 0 corresponde a mximos para quaisquer s, provocando uma imagem com mesma
colorao da luz incidente. Para m > 0, funo de e ento, uma luz policromtica
decomposta em suas componentes monocromticas (Fig. 8.3). Se m = 1 temos o
espectro de primeira ordem, m = 2 segunda ordem e assim por diante.
O parmetro que caracteriza a imagem produzida pela rede a disperso definida
por
d
(8.4)
Q=
d
e o poder de resoluo dado como
r=

(8.5)

A Fig. 8.3 ilustra o que ocorre quando o espectro atmico de emisso analisado por uma rede
de difrao. A natureza discreta desses espectros um fato que no pode ser explicado pela
Fsica Clssica. Esse foi, na verdade, um dos resultados experimentais que levaram a
mudanas radicais nos conceitos da Fsica no final do sculo passado e incio deste, e que
culminaram com o nascimento da Mecnica Quntica. Os detalhes dessa teoria, que explica
com sucesso os fenmenos da estrutura microscpica da matria, somente podero
36

ser vistos nas disciplinas de Estrutura da Matria e de Mecnica Quntica, que fazem
parte apenas do currculo dos cursos de Fsica. Aqui apresentaremos muito
resumidamente apenas os resultados pertinentes. Na bibliografia relacionamos alguns
textos introdutrios sobre o assunto.

Figura 8.3: Difrao da luz por uma rede de difrao.

O hidrognio, formado por um prton e um eltron, o elemento qumico mais
simples. A primeira explicao bem sucedida para o espectro do hidrognio foi obtida
por Bohr em 1913. O modelo de Bohr explica no apenas porque o espectro
descontnuo, mas tambm fornece os respectivos comprimentos de onda. Entretanto,
para tomos mais pesados esse modelo falha dramaticamente. Para esses tomos
resultados satisfatrios s podem ser obtidos por uma teoria mais elaborada e, ainda
assim, na forma de solues aproximadas.
A discretizao dos espectros atmicos de emisso conseqncia da quantizao da
energia, isto , o eltron ligado somente pode assumir determinados valores de energia. Ao
mudar sua energia (isto , fazer uma transio de nvel) ele absorve (ou emite) um fton se o
nvel final for mais (ou menos) energtico que o nvel inicial. O fton absorvido (ou emitido) tem
energia igual diferena de energia entre os nveis em questo.

Em 1885 Balmer identificou 35 linhas do espectro de emisso do hidrognio nas

regies visvel e ultravioleta prximo (Fig. 8.1). As medidas de Balmer mostraram que
os comprimentos de onda das linhas espectrais do hidrognio no vcuo obedecem a
uma relao emprica dada por
1

=R

n ;

onde n o nmero quntico principal, que pode assumir os valores 3, 4, 5, . . . 1 e caracteriza

os nveis de energia. R um parmetro chamado constante de Rydberg, cujo valor previsto
37

pelo modelo de Bohr

e
(8.7)
3 :
ch
Aqui, e a carga do eltron, c a velocidade da luz, h a constante de Planck e a
massa reduzida do sistema eltron-prton definida como
R=2

memp

mp + m e
onde me a massa do eltron e mp a massa do prton.
Em 1906 Lyman descobriu outra srie do tomo de hidrognio anloga de Balmer na
regio do ultravioleta. Paschen descobriu uma terceira em 1909. Essas sries espectrais
aparecem na Fig. 8.1. possvel represent-las todas atravs de uma generalizao da

frmula de Balmer (8.6) como

1
=R

nf
1

ni2 ! ;

(8.9)

onde nf permite os valores 1, 2, 3, . . . , 1 e n i = nf + 1, nf + 2, . . . , 1. A constante de

Rydberg pode ser determinada experimentalmente. O melhor valor experimental
3
1
disponvel hoje R = 1,097373155 10 , com incerteza de 0,30 partes por milho,
para o tomo de hidrognio.

Figura 8.4: Espectros visveis para (a) mercrio e (b) hlio.

Raia

()

Intensidade Relativa

violeta
violeta
azul-violeta
turqueza
verde
amarela
amarela

4046,6
4077,8
4358,3
4916,0
5460,7
5769,6
5790,7

mdia
fraca
forte
fraca
forte
forte
forte

Tabela 9.1: Comprimentos de onda para algumas raias espectrais do mercrio.

tomos mais pesados tm espectros mais complicados, mas apresentam raias em
sries parecidas com as do hidrognio. Nas tabelas 9.1 e 9.2 fornecemos alguns comprimentos

38

de onda dos espectros do hlio e do mercrio, respectivamente, que sero usados para
calibrar um espectroscpio, o qual servir depois para determinar a constante de
Rydberg atravs da observao do espectro do hidrognio. A Fig. 8.4 mostra as
posies das linhas do espectro desses elementos na regio visvel.
Raia

()

Intensidade Relativa

violeta
violeta
violeta
azul-violeta
azul-escura
azul
azul-esverdeada
verde
amarela
vermelha
vermelha

3889
3965
4026
4388
4471
4713
4922
5015
5876
6678
7065

fraca
fraca
fraca
fraca
forte
mdia
mdia
forte
forte
forte
fraca

Tabela 9.2: Comprimentos de onda para algumas raias espectrais do hlio. Algumas
raias no so visveis a olho nu.

8.2

Objetivos

Estudar o funcionamento de um espectroscpio, calibr-lo e utiliz-lo para

determi-nar a constante de Rydberg.
8.3

Material Utilizado
Espectroscpio
Rede de difrao

Lmpadas a vapor (Hg, He,

H2) Lanterna
O espectroscpio (ver Fig. 8.5) um aparelho composto de um telescpio, um
coli-mador e uma base giratria com escala graduada (vernier) onde se coloca o
elemento anal-isador de luz.

39

Ateno:
As redes de difrao so muito delicadas e suas superfcies no podem
ser tocadas em nenhuma hiptese. Da mesma forma, manipule com
muito cuidado as lmpadas. Elas so tubos de descarga muito frgeis, e
operam em altas voltagens.

8.4

Procedimento Experimental

1. Antes de colocar a rede de difrao sobre a mesa giratria do espectroscpio,

aponte o telescpio para um objeto distante e ajuste o foco (manipulando a ocular
e a objetiva) de forma que os fios capilares possam ser vistos com nitidez;
2. Coloque a lmpada de mercrio em frente ao colimador e ajuste a fenda at obter uma
imagem estreita e ntida. Posicione o telescpio alinhado com o colimador. Olhando
atravs do telescpio, ajuste o foco do colimador intervindo na lente da objetiva;

3. Posicione um dos fios capilares na vertical sobre a imagem da fenda (use o

parafuso de ajuste fino);
4. Fixe o suporte da rede de difrao sobre a mesa giratria. Faa o alinhamento de
forma que a rede fique na perpendicular da linha de visada (Fig. 8.5). Isso pode
ser feito observando-se duas raias correspondentes do espectro, uma de cada
lado da imagem direta da fenda;

Figura 8.5: Esquema para a montagem do experimento.

5. O espectroscpio faz medidas relativas dos ngulos de difrao. Portanto, antes
de comear as medidas estabelea um ponto de referncia (a imagem direta da
fenda, por exemplo) na escala vernier;
6. Variando a posio angular do telescpio, encontre as raias do espectro do
mercrio e associe as cores aos respectivos ngulos de difrao (Sugesto: pode
ser mais conve-niente trabalhar com o espectro de segunda ordem);
40

7. Substitua a lmpada de mercrio por uma de hlio e mea os ngulos de difrao

das raias espectrais;
8. Usando os valores tabelados de (v. Tabs. 9.1 e 9.2) e os correspondentes val-ores
de medidos, construa um grfico sen em papel milimetrado. Este grfico
caracterstico do espectroscpio utilizado, chamado de reta de calibrao.
9. Utilizando a lmpada de hidrognio e a reta de calibrao construda no item
anterior, determine o comprimento de onda de cada uma das raias do hidrognio.
10. A partir dos valores encontrados no item anterior, determine a constante de
2
Rydberg atravs do grfico 1= (1=4 1=n ).
8.5

Questes

1. Sabendo-se que as posies dos mximos de ordem n so dadas por d sen = n ,

calcule a constante d da rede de difrao utilizada no experimento, a partir da reta
de calibrao;
2. Explique porque existe um espectro para cada ordem de difrao quando se usa
luz policromtica;
3. Explique teoricamente porque o espectro de segunda ordem mais espalhado
que o de primeira ordem;
4. Existiria alguma diferena, em termos de preciso, se na determinao dos
compri-mentos de onda do mercrio usssemos os espectros de primeira e de
segunda ordem? Explique sua resposta.

41

Apndice A
Propagao de erros
Vejamos a importncia do erro cometido em cada uma de nossas medidas
experi-mentais, e seu efeito no resultado final.
Como vimos, a relao carga-massa do eltron determinada a partir das medidas
da tenso V de acelerao dos eltrons, da corrente eltrica I atravs das bobinas de
Helmholtz, e do raio r da rbita dos eltrons. Alm destas, vamos assumir tambm que
exista um erro associado medida do raio mdio R das bobinas de Helmholtz e da
distncia A entre elas (sem esquecer que, em nosso caso, tomamos A = R).
A partir da eq.(??), e definindo e=m, temos que:
d

dV
dR
=V +2R 2

dI
I 2

dr
r

Portanto, assumindo que no existe nenhuma correlao entre qualquer destas

gran-dezas, temos que:
!

= V !2+4 2 R
V

!2

+ I !2 + r !
I

onde , V , R, I e r representam os erros associados medida de cada uma destas

grandezas.
A expresso acima nos mostra que a preciso com a qual podemos medir o
valor da relao carga-massa do eltron, em nossa experincia, duas vezes mais
sensvel aos erros associados a cada uma das grandezas R, I e r do que em relao
tenso V . Desta forma, a partir da estimativa do erro associado a cada uma das
grandezas primitivas (aquelas diretamente medidas), podemos obter uma estimativa do
erro associado grandeza derivada (calculada indiretamente, a partir das grandezas
primitivas, ou seja, em nosso caso, a relao e=m).

Exerccio: Estimar o erro associado medida da relao e=m em nossa experincia.

Levando em conta este erro, a sua medida est de acordo com o valor terico esperado?

42

Ap^endice A
Grficos com Escala Logartmica
Funes exponenciais

11

Muitos fenmenos em fsica so descritos por funesexponenciais. Por exemplo, a carga/descarga

de um capacitor e decaimento radioativo de uma amostra que obedece a lei exponencial

N = N0e

onde N0 o nmero de ncleos presentes na amostra, no instante em que se comea

a fazer as contagens e a constante de decaimento.
Suponha que em uma experincia, obtivemos um conjunto de dados x i e yi, que so
dis-tribuidos segundo uma funo,
y = Ae

ax

Esta funo representada em um grfico em escala linear, mostrada na figura ??,

con-siderando A = 1 e a = 0:43.
Existem papis grficos especiais, chamados semi-log, que so impressos com
graduaesao longo do eixo das ordenadas Y logaritmicamente espaados; a abscissa
X graduada lin-earmente. Na figura ?? os mesmos dados do exemplo anterior so
plotados em um grfico semi-log.
Note que neste caso obtm-se o grfico de uma reta. Vejamos ento porque.
1

Podemos aplicar o logaritmo natural (base e ), em ambos os lados da equaoA.1.

1h
(ax)
ln(y) = ln A e

i
h

= lnA + ln e

(ax)

ou ainda,
ln(y) = a x + lnA
que equivalente equao linear
0

y =m x+b
1

e =2,71828...

43

Figura A.1: Grfico de uma funo exponencial em escala linear.

Figura A.2: Grfico de uma funo exponencial em escala semi-logartmica.

4
4

com y = ln(y), m = a e b = lnA.

Assim, a equaoA.1 torna-se linear quando aplicamos o logaritmo natural. Deste
modo, se temos um conjunto de dados xi; yi, os quais obedecem a uma funo
exponencial, podemos calcular o logaritmo natural de y i, e plot-los em um grfico com
escala linear, obtendo assim, uma reta. Este procedimento similar quele em que
plotamos o conjunto de dados em um papel semi-log. A escala logartmica
automaticamente toma o logaritmo, no sendo portanto necessrio calcul-lo.
Entretanto, os papis grficos semi-log comercialmente disponveis so
preparados us-ando o logaritmo comum. Assim, quando tratamos o caso no qual a
distribuio de dados obedece a uma equao do tipo exponencial, a esta equao
devemos aplicar a funo loga-ritmo comum, ou seja,
h i log(y)
(ax)
= log A e
h

1= log A + log e

(ax)

log(y) = log A + ax log(e)

log y = log A + (0:4343)ax

Neste caso, o coeficiente angular da reta em questo (0:4343)a.

Em um grfico cartesiano, o coeficiente angular de uma reta determinado pela razo

y y y
= 2 1:x

x2 x1
Em um grfico semi-log, o coeficiente angular da reta dado por:
log(y)
x
Devemos ento calcular explcitamente os logaritmos dos valores da ordenada, nos
pontos y1 e y2, para determinar o coeficiente angular de interesse.
log(y2) log(y1)
log(y)
=
x2 x1
x

12

Funo Potncia

Outra funo muito comum em fsica

y=a x

Por exemplo, o campo eltrico, E = kq=r = kqr , desta forma, com a = kq e n = 2.

Normalmente em um experimento, so medidos x i e yi, de modo que o expoente n, da
funo representativa dos dados no conhecido. Aplicando logaritmo, transformamos
ento a equao em uma equao linear com coeficiente angular n.
n

log(y) = log [a x ]
1= log(a) + n log(x)
Plotando ento os dados em um papel de escala grfica logartmica, a constante
n, pode ser determinada facilmente. Note que neste caso, ambos os eixos coordenados
possuem a escala logartmica e por isto chamado papel grfico log-log ou di-log.
Outra vez, as graduaesnos eixos automaticamente tomam os logaritmos de x i e yi.
45

Ap^endice B
Mtodo dos mnimos quadrados
Suponha que, em uma experincia, sejam medidos N valores x i e yi. Em fsica
experimental, geralmente conveniente determinar uma funo terica que represente, o
mais fielmente possvel, o conjunto de dados experimentais. No podemos simplesmente
unir os pontos obtidos ou traar uma curva que julgamos ser a que melhor se ajusta aos
dados exper-imentais em questo. Devemos usar uma tcnica que independa de critrios
pessoais na determinao da funo representativa dos dados experimentais.
Uma tcnica de ajuste de dados, de uso frequente em fsica, o chamado mtodo
dos mnimos quadrados. Esta tcnica aplicvel a diversos tipos de distribuio, seja
ela linear, polinomial, exponencial, ... . Em nossa anlise, nos restrigiremos ao caso
mais simples, isto , suporemos que nossa distribuio seja caracterizada por um
comportamento linear.
0

O mtodo dos mnimos quadrados, estabelece que a funo linear y = m x + b , que

melhor se ajusta ao conjunto de dados experimentais, aquela que minimiza a soma dos
Pn
0 2
0
quadrados dos desvios ( i=1 (yi yi ) ) entre o valor experimental y e o valor esperado y .
0
0
As equaes que determinam o coeficiente angular m e o coeficiente linear b (ponto
0

onde a reta intercepta o eixo y ) so obtidas por meio de anlise probabilstica e clculo
0

diferencial. Aqui apresentaremos somente as equaesdeterminantes dos parmetros m e b .

M
xy

m = M

xx

e
1
b0 = N

=1

yi m

0
i=1

xi

onde
1

N
M =
xy

x y
i=1

i
N

Mxx = xi
=1

Xi

46

i =1

xi

1
N

xi

N
=1

Xi

i=1

y!

Para os estudantes interessados em uma anlise mais detalhada desta tcnica,

sugerimos consultar as referncias listadas no final desta nota.

Exerccios
1. Com base nos dados fornecidos na tabela abaixo, execute os seguintes procedimentos:
Plote os dados xi e yi em papel milimetrado, trace a reta que voc julga que
melhor se ajuste a estes dados e calcule os coeficientes linear e angular.
Agora, utilizando o mtodo dos mnimos quadrados, determine a equao da
reta representativa dos dados.
Compare os coeficientes angular e linear obtidos nos dois itens precedentes.

xi
12
28
47
70
16
53
72
38

yi
25
44
78
80
43
58
95
67

xi

47

xi yi

Bibliografia
[1] M. Alonso & E.J. Finn, Fsica Um curso Universitrio, volume II, Editora Edgard
Blcher LTDA., 1972.
[2] D. Halliday, R. Resnick & J. Walker, Fundamentos de Fsica, volume IV, Livros
Tcnicos e Cientficos Editora S.A., 1995.
[3] D. Halliday & R. Resnick, Fsica, volume IV, Livros Tcnicos e Cientficos Editora S.A.
[4] F. S. Crawford Jr., Berkeley Physics Course, volumes II e III, Editorial Revert S.A.
[5] F. Weston Sears, ptica, 1956.
[6] F. Weston Sears, Eletricidade e Magnetismo, Ao Livro Tcnico S.A., 1967.
[7] F.W. Sears & M.W. Zemansky, Fsica, volume III, Ao Livro Tcnico S.A., 1965.
[8] F.W. Sears, M.W. Zemansky & H.D. Young, Fsica, volume III, Livros Tcnicos e
Cientficos Editora S.A.
[9] P.A. Tipler, Fsica, volume II, Editora Guanabara Koogan.
[10] R. Eisberg e R. Resnick, Fsica Quntica. tomos, Molculas, Slidos, Ncleos e
Partculas, Ed. Campus Ltda, Rio de Janeiro (1979);

48