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INTRODUCCION.
En el presente trabajo se verifican la ley de Ohm en esta ley se establece que la tensin v a lo largo
de un resistor es directamente proporcional a la corriente (I) que fluye a travs del resistor y en
ley de Kirchhoff se establece que la suma algebraica de la corriente que entra a un nodo o frontera
cerrada es de cero, resuelto por estas dos leyes tambin se analiza por medio de la simulacin en
Spice Opus.
5.32 k
Req en paralelo
287
Asimismo se encuentran tabulados los resultados de las mediciones realizadas al circuito 2, estos
se anexan en la siguiente tabla.
Tabla 3. Circuito Serie: Datos experimentales.
Tensiones a medir Valor medido
V1
865.8 [mV]
V2
1.89 [V]
V3
7.35 [V]
Vvs
10.11 [V]
Is
1.876 [mA]
DISCUSION.
Calculo de la resistencia equivalente en un arreglo en serie:
Tensin (V) Ley de Ohm (A) Spice Opus (A) hmetro (A)
0.0
0.00
0.00
0.0
2.5
0.00531
0.00547
0.0054
5.0
0.0106
0.0109
0.011
7.5
0.0159
0.0164
0.0165
10
0.0212
0.02188
0.0221
CONCLUSIONES.
Las mediciones de los valores de las resistencia difieren un poco del valor normalizado
pero siempre en el rango admisible establecido por los niveles de tolerancia. Al hacer las
conexiones tanto en serie como en paralelo los valores medidos respecto a los valores
tericos tiene unos errores muy pequeos, por lo cual se puede afirmar que estas estn en
condiciones optimas de operacin.
Para el circuito 1. Al realizar la curva V vrs I se puede comprobar que el elemento resistivo
es un dispositivo elctrico lineal ya que la pendiente de la recta representar al valor
resistivo de dicha resistencia, tal afirmacin es respaldada por los clculos hechos
mediante Spice Opus.
Para el circuito 2. Las cadas de tensin en cada resistencia segn los clculos tericos al
ser sumadas cumplen el valor respectivo de la tensin suministrada por la fuente con una
diferencia del orden de los 1e-4 y para la corriente total es un error poco mayor pero
aceptable. Al aplicar la Ley de Ohm y KVL se observa que los valores de las corrientes
difieren en el orden de 1e-4 y la tensin suministrada por la fuente es un poco inferior a la
real medida experimentalmente.
BIBLIOGRAFIA.
Informacin consultada: