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Belo Horizonte
2014
entre
Belo Horizonte
2014
ii
iii
iv
Agradecimentos
Resumo
encontradas
em
modelos
analticos
usais,
ainda
uma
baixa
Abstract
Sumrio
Resumo................................................................................................................................................ vi
Abstract ............................................................................................................................................. vii
Sumrio ............................................................................................................................................ viii
Lista de Figuras ................................................................................................................................ xi
Lista de Tabelas..............................................................................................................................xiv
Lista de Abreviaes ...................................................................................................................... xv
Lista de Smbolos e Constantes............................................................................................... xvii
Captulo 1 Introduo ............................................................................................................... 20
1.1. Contextualizao da Dissertao ............................................................................................... 20
1.2. Objetivos .............................................................................................................................................. 25
1.3. Organizao do Texto ..................................................................................................................... 26
Captulo 2 Reviso Bibliogrfica ........................................................................................... 28
2.1. Mtodos para Cmputo de Campos Eltricos e Magnticos em LTs ............................ 28
2.2. Aplicao do Mtodo dos Elementos Finitos em Sistemas de Transmisso ............. 35
2.3. Comparativo das Tcnicas de Cmputo .................................................................................. 38
Captulo 3 Modelagem Eletromagntica de Linhas de Transmisso........................ 40
3.1. Linhas de Transmisso .................................................................................................................. 40
3.2. Campos Eletromagnticos gerados por Linhas de Transmisso ................................... 42
3.2.1. Equaes de Maxwell .............................................................................................................................. 42
3.2.2. Formulao Clssica (ou Forte) dos Campos EM de uma LT .................................................. 44
3.2.2.1. Campo Eltrico .................................................................................................................................. 44
3.2.2.2. Campo Magntico ............................................................................................................................. 46
3.2.2.3. Formulao Generalizada ............................................................................................................. 48
3.2.3. Problema de Valor de Contorno ......................................................................................................... 49
Apndice A Aspectos Qualitativos dos Campos Eletromagnticos das LTs ......... 167
Apndice B Informaes e Desenvolvimentos Matemticos Auxiliares ............... 175
Apndice C Estrutura do Algoritmo Computacional .................................................... 186
Apndice D Resultados Grficos ......................................................................................... 190
Apndice E Informaes Auxiliares aos Estudos de Casos ........................................ 197
Apndice F Modelo Geral para Cmputo de Campo Magntico ............................... 204
Referncias Bibliogrficas ....................................................................................................... 210
Lista de Figuras
xi
Figura 5.13 Campo Eltrico - Anlise de Sensibilidade por Nvel de Discretizao ............................................. 98
Figura 5.14 Esforo Computacional por Nvel de Discretizao ................................................................................... 99
Figura 5.15 Distribuio de Potencial Eltrico Anlise por Discretizao ......................................................... 100
Figura 5.16 Anlise de Sensibilidade Por Tipo de Elementos ..................................................................................... 102
Figura 5.17 Esforo Computacional Anlise de Sensibilidade Por Tipo de Elementos ................................ 103
Figura 5.18 Malha de Elementos Anlise de Sensibilidade por Tratamento de Fronteira.......................... 106
Figura 5.19 Campo Eltrico Superficial Condutor 1 / Feixe A Tratamento de Fronteira ........................ 108
Figura 5.20 Campo Eltrico ao Nvel do Solo Anlise de Tratamento de Fronteira ....................................... 109
Figura 5.21 Campo Eltrico Transformao Kelvin Prxima aos Condutores ................................................. 109
Figura 5.22 Transformao Kelvin considerando solo como CEP ............................................................................. 114
Figura 5.23 Transformao Kelvin considerando solo homogneo ......................................................................... 114
Figura 5.24 Transformao Kelvin com solo CEP e fronteira prxima a condutores ....................................... 115
Figura 5.25 Transformao Kelvin com solo homogneo e fronteira prxima a condutores ....................... 116
Figura 5.26 Configurao Geomtrica LT 500kV 5 Hydro-Qubec ....................................................................... 117
Figura 5.27 Malha de Elementos LT 500kV Hydro-Qubec ....................................................................................... 119
Figura 5.28 Campo Magntico ao Nvel do Solo (MEF x Carson) LT 500kV Hydro-Qubec ........................ 119
Figura 5.29 Distribuio de Potencial e Campo Magntico LT 500kV Hydro-Qubec .................................. 120
Figura 5.30 LT 500kV - Presidente Dutra/Teresina/Sobral/Fortaleza .................................................................. 123
Figura 5.31 Campo Eltrico Superficial Feixe A LPNE-FEX x LPNE ................................................................... 126
Figura 5.32 Campo ao Nvel do Solo LPNE-FEX x LPNE ............................................................................................. 126
Figura 5.33 Distribuio de Campos LPNE ....................................................................................................................... 127
Figura 5.34 LT 500kV Interligao Norte-Sul Trecho 2 .......................................................................................... 128
Figura 5.35 LT 500kV So Gonalo Ouro Preto........................................................................................................... 131
Figura 5.36 Seo Transversal de Condutores Reais de Linhas Areas de Transmisso ................................ 131
Figura 5.37 Malha de Elementos Condutor 1 Feixe de Fases B ............................................................................... 132
Figura 5.38 Campo Eltrico Superficial Analise de Condutores Reais ................................................................. 132
Figura 5.39 Campo Eltrico ao Nvel do Solo Analise de Condutores Reais ...................................................... 134
Figura 5.40 Comportamento dos Campos Eltricos Superficiais nos Fios de Condutores Reais ................ 134
Figura 5.41 Distribuio Espacial do Campo Eltrico em Condutores Reais........................................................ 135
Figura 5.42 LT 230kV circuito duplo - CTEEP .................................................................................................................... 137
Figura 5.43 Anlise de Resistividade - Campo Eltrico a 1m do Nvel do Solo .................................................... 138
Figura 5.44 Anlise de Resistividade - Potencial Eltrico a 1m do Nvel do Solo ............................................... 139
Figura 5.45 Representao do Solo Estratificado .............................................................................................................. 141
Figura 5.46 Anlise de Resistividade - Campo e Potencial Eltrico na Superfcie do Solo ............................. 142
Figura 5.47 Anlise de Resistividade - Campo e Potencial Eltrico a Meio Metro do Solo ............................. 143
Figura 5.48 Anlise de Resistividade - Campo Magntico - Modelo Esttico ....................................................... 145
Figura 5.49 Anlise de Resistividade - Campo Magntico - Modelo Quase-Esttico ......................................... 146
Figura 5.50 Distribuies de Densidades de Correntes pelo MEF............................................................................. 147
Figura 5.51 Anlise de Resistividade - Campo Magntico - Modelo de Solo Multicamadas........................... 148
xii
Figura 5.52 Anlise de Resistividade Distribuies de Campo Eltrico e Magntico .................................... 148
Figura 5.53 LT 138kV circuito duplo - CEMIG .................................................................................................................... 150
Figura 5.54 Campo Eltrico na Presena de Dutos - LT 138kV CEMIG ................................................................... 151
Figura 5.55 Acoplamento Capacitivo na Presena de Dutos - LT 138kV CEMIG................................................. 152
Figura 5.56 Campo Eltrico na Presena de Dutos - LT 275kV Kuwait .................................................................. 154
Figura 5.57 Campo Eltrico Superficial do Duto - LT 275kV Kuwait ....................................................................... 155
Figura 5.58 Constituio de Dutos Reais .............................................................................................................................. 156
Figura 5.59 Distribuio de Campo Eltrico - LT 275kV Kuwait .............................................................................. 157
Figura 5.60 Campo Magntico na Presena de Dutos - LT 275kV Kuwait ............................................................. 158
Figura A.1 Representao Fasorial ........................................................................................................................................... 168
Figura A.2 Campo Vetorial U Polarizado Elipticamente................................................................................................. 170
Figura A.3 Condutores Suspensos Entre Torres com Altura de Solo Varivel ..................................................... 174
Figura B.1 Elemento Triangular de Primeira Ordem ...................................................................................................... 177
Figura B.2 Funes de Forma do Elemento Triangular de Primeira Ordem ........................................................ 179
Figura B.3 Funes de Forma do Elemento Triangular de Segunda Ordem ......................................................... 181
Figura C.1 Estrutura Algortmica Detalhada ....................................................................................................................... 189
Figura D.1 Ajuste de Curva de Campo ao Nvel do Solo ................................................................................................. 191
Figura D.2 Ajuste de Curva de Campo Superficial ............................................................................................................ 192
Figura D.3 Campo Eltrico Superfcial (MEF x MIS) LT 500kV Furnas ................................................................ 194
Figura D.4 Campo Eltrico Superfcial Com e Sem Para-Raios LT 500kV Furnas ........................................... 196
Figura E.5 Condutores Reais de Linhas Areas de Transmisso - ACSR x TW.................................................... 202
Figura E.6 Dutovias e Linhas de Transmisso .................................................................................................................... 203
xiii
Lista de Tabelas
Tabela 3.1 Grandezas Generalizadas Associadas ao Cmputo dos Campos Eltricos e Magnticos ............ 48
Tabela 4.1 Relao Entre Coornedandas Reais e Locais ................................................................................................... 62
Tabela 4.2 Pontos de Integrao de Gauss no Elemento de Referncia ..................................................................... 66
Tabela 5.1 Dados Geomtricos LT 500kV 4 Furnas ......................................................................................................... 84
Tabela 5.2 Campo Eltrico ao Nvel do Solo (MEF x MIS) LT 500kV Furnas ........................................................ 86
Tabela 5.3 Campo Eltrico Superfcial (MEF x MIS) ........................................................................................................... 89
Tabela 5.4 Campo Eltrico ao Nvel do Solo Considerao de Cabos Para-Raios............................................... 93
Tabela 5.5 Campo Eltrico Superfcial Considerao de Cabos Para-Raios.......................................................... 94
Tabela 5.6 Anlise de Sensibilidade por Refinamento de Malha................................................................................... 96
Tabela 5.7 Esforo Computacional por Nvel de Discretizao e Funao Algortmica ........................................ 99
Tabela 5.9 Anlise de Sensibilidade Tratamento de Fronteira Fictcia ............................................................... 110
Tabela 5.10 Dados Geomtricos LT 500kV Hydro-Qubec ....................................................................................... 118
Tabela 5.11 Campo Magntico ao Nvel do Solo (MEF x Carson) LT 500kV Hydro-Qubec ...................... 119
Tabela 5.12 Dados Geomtricos LT 500kV Presidente Dutra-Fortaleza ............................................................ 124
Tabela 5.13 Impedncia de Surto e Potncia Natural LPNE-FEX/LNPE (MEF x ATP) ................................. 124
Tabela 5.14 Dados Geomtricos LT 500kV Interligao Norte-Sul ....................................................................... 128
Tabela 5.15 Impedncia de Surto e Potncia Natural Linha Compacta/LNPE (MEF x ATP) ..................... 129
Tabela 5.16 Dados Geomtricos LT 500kV 3 Condutores/Fase ............................................................................. 131
Tabela 5.17 Campo Eltrico Superficial Analise de Condutores Reais ................................................................ 133
Tabela 5.18 Campo Eltrico ao Nvel do Solo Analise de Condutores Reais ..................................................... 133
Tabela 5.19 Dados Geomtricos LT 230kV 2 Condutores/Fase Circuito Duplo .............................................. 137
Tabela 5.20 Anlise de Resistividade - Campo Eltrico a 1m do Nvel do Solo ................................................... 138
Tabela 5.21 Dados Geomtricos LT 138kV Circuito Duplo - CEMIG ..................................................................... 150
Tabela 5.22 Dados Geomtricos LT 275kV Circuito Duplo - Kuwait .................................................................... 153
xiv
Lista de Abreviaes
ABNT
ACSR
ANEEL
ATP/EMTP
BPA
CA
Corrente Alternada
CC
Corrente Contnua
CEP
CEPEL
CHESF
CSR
CTEEP
EDP
ELETROBRAS
EPRI
ICNIRP
IEEE
LNC
Linhas No Convencionais
LPNE
LPNE-FEX
LT
Linha de Transmisso
MATLAB
MATrix LABoratory
MDF
MEC
MEF
MMQ
MoM
MSC
MSCS
MSCS
PVC
RI
Radio Interferncia
RMS
SDI
SEP
SIN
TEM
TW
PSO
SIL
xvi
[Ae]
Az
[Ae]
[T]
B , B
[T]
[T]
[A/m]
[V]
[V]
[C/m2]
[V/m]
[V/m]
[V/m]
Corrente Eltrica
[A]
[A/m2]
Jz
[A/m2]
Js
[A/m2]
Je
[A/m2]
[A/m]
Indutncia
[H]
Capacitncia
[F]
Permissividade Eltrica
[F/m]
Permissividade Relativa
= 10 /36 [F/m]
Permeabilidade Magntica
[H/m]
Permeabilidade Relativa
D
E
E , E
= 4 10
[H/m]
xvii
Relutividade Magntica
[m/ H]
Condutividade Eltrica
[S/m]
[C/m2]
Tempo
[s]
Frequncia
[Hz]
Frequncia Angular
[rad/s]
[rad]
We
[J]
Wm
!"
[J]
Impedncia de Surto
[]
SIL
[W]
rea Elementar
[m2]
Ni
Wi
Funes de Peso
x, y
Coordenadas Naturais
Domnio de Estudo
Fronteiras do Domnio
Fronteiras de Dirrichlet
Fronteiras de Neumann
d
#
U , U
%&
(&
'&
xviii
Operador Nabla
xix
Captulo 1 Introduo
20
21
na
metodologia
de
clculo
numrico,
impedindo
novos
desenvolvimentos de carter cientfico, com anlises de erros mais apuradas, bem como
a expanso desses mtodos numricos para a aplicao em outros casos derivados.
Para o estudo especfico dos sistemas de transmisso, recaem algumas
dificuldades especficas de aplicao do MEF, devido a necessidade de considerar um
amplo domnio de estudos, sem existncia de fronteiras delimitadoras reais, e com alta
diferena de escala entre os elementos de anlise (quando comparado o pequeno
tamanho das bitolas dos condutores em relao s dimenses das torres e do domnio).
Tais caractersticas acarretam, principalmente, na necessidade de um alto tempo para a
soluo computacional dos problemas, alm de causar erros de instabilidades numricas
nos resultados, deixando o MEF pouco favorvel e atraente, nesta classe de problemas.
Fica assim evidente a necessidade de realizar um estudo orientativo mais
apurado para aplicao da tcnica em sistemas de transmisso, de modo a indicar as
melhores prticas de implementao computacional, ao mesmo tempo em que possa
enaltecer outras potencialidades oferecidas, como o favorecimento da qualidade dos
resultados e a melhoria de interpretao dos sistemas fsicos reais, uma vez no
havendo necessidades de assumir simplificaes nas anlises.
24
1.2. Objetivos
Este trabalho tem como objetivo geral estudar o emprego do Mtodo de
Elementos Finitos na determinao das intensidades de campo eltrico e magntico no
entorno de linhas de transmisso trifsicas reais, operando em regime permanente, em
baixas frequncias. Assim, so apuradas formas de tornar a utilizao do MEF mais
atraente nesta classe de problemas, frente s diversas dificuldades existentes, agregando
contribuio para a soluo de problemas de maior complexidade.
So considerados objetivos especficos:
- realizar uma reviso bibliogrfica sobre o uso de mtodos numricos, com foco
no MEF, em sistemas de transmisso eltrica;
- agregar de maneira didtica os passos necessrios para a modelagem dos
campos eltricos e magnticos em LTs atravs do MEF;
- explorar diferentes possibilidades na modelagem pelo MEF, de forma a verificar
as dependncias e as melhorias na qualidade das solues, tanto em relao exatido
numrica, quanto em relao ao tempo computacional, tornando a utilizao prtica do
mtodo mais palpvel e atraente;
- realizar uma discusso a respeito do tratamento de domnios abertos pelo MEF,
uma vez sendo tal assunto escasso e pouco explorado na literatura;
- comparar os resultados obtidos com aqueles de outras abordagens analticas ou
numricas disponveis;
- validar alguma das simplificaes comumente assumidas por modelos
analticos, atravs da simulao de cenrios pelo MEF;
- realizar aplicaes para situaes mais complexas, cuja utilizao de um modelo
numrico mais robusto seja mais adequada, ante ao emprego das tcnicas analticas ou
semi-analticas usuais;
Atravs
desses
objetivos
estabelecidos,
elaborada
uma
ferramenta
26
27
estas
tcnicas
operam
atravs
de
consideraes
fsicas
para,
subcondutores (menor do que 4), para classes de tenses menores, e sendo a distncia
entre os subcondutores dos feixes relativamente pequena em comparao com a
distncia entre as fases.
Suprindo as deficincias dadas pela simplicidade do mtodo anterior, o MIS
(SARMA e JANISCHEWSKYJ, 1969) substitui sucessivamente as cargas em cada condutor
por uma srie de cargas lineares equivalentes, as quais so posicionadas no interior do
mesmo. Cada processo de imagem sucessiva guarda a equipotencial natural da
superfcie de outro condutor do sistema. Assim, as distribuies de carga so dadas em
funo do posicionamento dos vrios condutores do resto do sistema, e so localizadas
de maneira a manter as superfcies equipotenciais de todos os condutores. Tal artifcio
permite assim obter distribuies de campos eltricos no uniformes ao redor dos
condutores. O trabalho de (PAGANOTTI, 2012) oferece uma boa reviso acerca deste
mtodo, com aplicaes em linhas de feixes expandidos de diferentes configuraes,
incluindo feixes assimtricos.
Embora o MIS possa fornecer resultados satisfatrios para o campo eltrico
superficial em configuraes de LTs diversificadas, tal mtodo realiza procedimentos
iterativos para alocar as cargas no interior dos condutores, at produzir resultados
satisfatrios, sendo ineficiente para a realizao de anlises em pontos de observao
longe da linha, e no servindo para a considerao da presena de outros objetos no
domnio de estudos. Sua aplicao , assim, mais adequada apenas para a anlise de
campo eltrico superficial dos condutores (IEEE WORKING GROUP, 1979).
A deficincia do MIS suplantada pelo MSC, que se tornou mais popular, sendo
amplamente utilizado no clculo de campos eltricos desde meados da dcada de 70.
Seu uso na anlise da distribuio de campo eltrico em componentes de isolamento de
alta tenso bastante comum (LI, ROWLAND e SHULTLEWORTH, 2014).
O MSC baseado na simulao da distribuio real das cargas eltricas
superficiais dos condutores por um conjunto de cargas discretas colocadas em pontos do
interior dos mesmos. Estas cargas discretas so ento calculadas de forma que os
potenciais gerados em alguns pontos da superfcie dos condutores (pontos de
amostragem) sejam iguais aos potenciais especificados para estes condutores (ASSIS,
COUTINHO, et al., 2011). Alguns estudos aplicando o MSC em diferentes situaes so
31
pontos de interesse muito prximos aos condutores da LT, o clculo dos campos
magnticos pode ser melhorado atravs do MSC. Assim a considerao de mltiplas
correntes filamentares, simuladas no interior dos condutores, so dadas para produo
de resultados mais coerentes (MARCOS SILVA, 2010).
Embora os mtodos analticos e semi-analticos supracitados tenham se
estabelecido como ferramentas robustas para o clculo de campos eltricos e
magnticos em questes de interesse prtico das LTs, nas ltimas dcadas observado
um crescente interesse pela utilizao dos mtodos numricos em problemas reais mais
complexos.
A partir da dcada de 80, com o rpido declnio no custo dos computadores e com
o aumento dos recursos de memria e processamento, as simulaes computacionais
por mtodos numricos tornaram vivel a soluo de problemas mais vastos, antes
pouco palpveis, sem a necessidade de idealizaes. Em aplicaes industriais e
cientficas, estas permitiram reduzir consideravelmente o tempo, os custos e os recursos
de desenvolvimento (BRABO PEREIRA, 2009).
Assim,
em situaes complexas,
envolvendo,
por exemplo, a
anlise
tridimensional das LTs, com a interao dos campos eltricos e magnticos atravs de
outros objetos existentes, tais como trilhos de trens, sistemas de comunicao ou dutos
enterrados, os mtodos numricos recaem como uma ferramenta essencial de anlise,
pois permitem buscar solues aproximadas diretamente, minimizando a necessidade
de simplificao de geometrias e das condies fsicas existentes.
Diferentes mtodos numricos tm sido utilizados para a anlise desses
problemas, dentre os quais se destacam: o Mtodo dos Momentos (MoM); o Mtodo dos
Elementos de Contorno (MEC); o Mtodo das Diferenas Finitas (MDF); e o Mtodo dos
Elementos Finitos (MEF).
O MoM e o MEC so mtodos de computao numrica destinados soluo de
equaes diferenciais parciais lineares, formuladas em formato integral. Apesar de
serem diferenciados por motivos histricos, o MoM pode ser englobado como um
esquema particular do MEC (GIBSON, 2008). Para a aplicao em LTs, em ambos os
mtodos, as fronteiras do problema (superfcies dos condutores) so divididas em
elementos nos quais as densidades de cargas ou correntes so tidas como funes
polinomiais de coeficientes desconhecidos. As equaes integrais de contorno
33
36
pde ser localizado na literatura, com resultados para situaes similares s analisadas,
revelando potencialidades do MEF em novas aplicaes das LTs.
Em (SATSIOS, LABRIDIS e DOKOPOULOS, 1998), pesquisado o campo
magntico e a corrente induzida em gasodutos subterrneos paralelos s linhas de
transmisso, com anlises para ocorrncias de curto-circuitos. O solo considerado a
partir de modelos no homogneos. Os resultados demonstram que o MEF capaz de
modelar problemas diversificados com maior facilidade.
Em (MUFTI, AL-HAMOUZ e ABDEL-SALAM, 1999), o efeito corona em linhas de
transmisso CC monopolares analisado pelo MEF. A variao da carga inica espacial e
a densidade de corrente induzida no solo so tomados para avaliao dos perfis de
campo eltrico. Os resultados obtidos so compatveis aos valores medidos
experimentalmente, sendo o fluxo de carga por efeito corona menor do que aquele
obtido por outros mtodos empricos, que consideram a carga inica espacial constante.
Em (TRIANTAFYLLIDIS, PAPAGIANNIS e LABRIDIS, 1999), o MEF utilizado para
calcular a matriz de impedncias de uma LT, considerando as irregularidades do solo e
analisando a dependncia com a frequncia de operao. As variveis de campo so
relacionadas com a matriz de impedncia das componentes simtricas da LT, e os
resultados so comparados com aqueles obtidos atravs do software EMTP. A
possibilidade de considerar modelos de solo mais realsticos e a adequada topografia
dos terrenos, revela ser interessante ao estudo de transitrios eletromagnticos das LTs
pelo MEF.
Em (LU, FENG, et al., 2007), a anlise de cargas inicas ao redor dos condutores e
os campos eltricos ao nvel do solo produzidos por LTs com feixes mltiplos de ultra
alta tenso (>800 kV), em corrente contnua (HVDC), so analisados atravs do MEF.
Este tipo de linha bastante atraente para transmisses de energia a longas distncias,
sendo que os aspectos de eficincia e segurana da LT adequadamente avaliados e
garantidos pelos resultados obtidos, para a configurao de linha avaliada.
Dos ltimos desenvolvimentos disponveis na literatura para o MEF,
apresentado um modelo de cmputo de campos eltricos e magnticos, o qual
realizado diretamente atravs da equao de onda (equao de Helmholtz) nos
trabalhos de (PAO-LA-OR, ISARAMONGKOLRAK e KULWORAWANICHPONG, 2008),
(TUPSIE, ISARAMONGKOLRAK e PAO-LA-OR, 2009) e (DHANALAKSHMI, KALAIVANI e
37
SUBBURAJ, 2011). Tal modelo empregado, dentre outras aplicaes, para orientao
das sequncias de fases na transposio das linhas, bem como na anlise dos campos
eltricos e magnticos em situaes de curto-circuito. No fica claro pelos trabalhos
como as consideraes de condio de contorno nos condutores tomada pela
metodologia sugerida.
38
do MEF no cmputo de campos eltricos e magnticos das LTs, uma vez que o mesmo se
mostra dispendioso em relao ao tempo de processamento computacional, para
apresentao de bons resultados, quando em comparao as demais tcnicas.
importante frisar ainda que uma tendncia atual a de combinar duas tcnicas
distintas, culminando em alternativas que possam ser ao mesmo tempo eficientes e
eficazes, em casos de estudo mais complexos. Exemplos dessas possibilidades podem ser
vistos entre o MDF e o MSC em (ABDEL-SALAM e EL-MOHANDES, 1989); entre o MEC e
o MSC em (KRAJEWSKI, 1998) e (KRAJEWSKI, 2010); e tambm entre o MEF e o MSC
atravs de (AL-HAMOUZ, 1998) e (LI, ROWLAND e SHULTLEWORTH, 2014).
39
40
Os cabos condutores das fases constituem os elementos ativos das LTs. Estes so
sustentados pelas estruturas das torres por meio de cadeias de isoladores, cuja funo
a de manter os condutores suspensos e isolados eletricamente das estruturas suportes,
principalmente durante a ocorrncia de sobretenses advindas de manobras de curta
durao ou por ocorrncia de descargas atmosfricas, evitando assim dissipao da
energia atravs das estruturas da linha.
Em situaes onde se tem mais de um condutor por fase, existe a necessidade de
utilizao de ferragens ou espaadores, conforme ilustra a figura (3.2b). Estes ditam o
formato dos feixes de fase, mantendo certa distncia entre os subcondutores. Na parte
superior das estruturas das LTs podem tambm estar localizados cabos para-raios, os
quais se destinam a proteo dos condutores de fase contra a incidncia direta de
descargas atmosfricas.
Para o transporte de energia, nos sistemas de transmisso, o nvel de tenso
necessita ser elevado por meio de transformadores nas subestaes. Isto reduz
substancialmente a corrente de linha e proporciona a diminuio de perdas de energia,
bem como, possibilita a reduo da seo de bitola dos cabos. A diminuio das bitolas
dos cabos, por sua vez, responsvel por grande economia na construo das linhas,
41
. = j12
3 = 4 + j16
2 = 0
6 = 7
(3.1)
(3.2)
(3.3)
(3.4)
2 = 93
6 = :.
(3.5)
(3.6)
(3.7)
(3.8)
(3.9)
(3.10)
(3.11)
C(DEFG)
) aplicados aos
44
(3.12)
Considerando que nas LTs o campo eltrico principalmente gerado devido aos
altos valores de potencial eltrico aplicado aos condutores, e uma vez ignorando os
efeitos do potencial vetor magntico, devido ao fato das variaes temporais destes
valores serem suficientemente lentas, o segundo termo da equao (3.12) pode ser
desprezado <jI 0?. Assim, para o domnio bidimensional analisado, o campo eltrico
pode ser obtido apenas em funo dos valores do potencial espacial existente:
.
V
V
'& /
(&
x
y
(3.13)
(3.14)
diferentes permeabilidades .
JB
C<DEFG?
- , I
(3.15)
46
I
I
'&
(&
y
x
(3.16)
relao constitutiva (3.6) e a equao (3.15), pode ser obtida a EDP que descreve o
comportamento do potencial magntico nos pontos do domnio ao redor da LT:
( I) = 4
(3.17a)
(3.17b)
(3.18)
= V
S' S' S( S(
(3.19)
W
V
+ j:
48
Uma vez que as LTs envolvem regies abertas, necessrio estabelecer uma
fronteira exterior fictcia, situada a certa distncia finita dos condutores da linha, para
estabelecimento de uma regio de estudo finita, conforme mostrado pela figura (3.5).
Nesta figura pode ser notado que a delimitao pode ou no abranger o estudo do solo.
(a)
(b)
(3.6):
49
U = U ^ ,
Condio Essencial
(ou de Dirrichlet):
_a
_`
Condio Natural
(ou de Neumann):
b ,
vlida em \
(3.20a)
vlida em ]
(3.20b)
O fato de que, obrigatoriamente, alguma dessas condies deva ser especificada para a
cada parte das fronteiras (
\ 5 ]) aqui observado.
Na figura (3.6), o fato das superfcies dos condutores serem consideradas como
contornos de Dirrichlet (\ ), bem como das fronteiras fictcias serem representadas
50
V" =
Sendo
d|
(3.21)
J para os cabos para-raios, o potencial eltrico considerado nulo (V" =0) em sua
superfcie, uma vez que estes so solidamente aterrados nos sistemas de transmisso. O
solo, quando considerado CEP, tambm ter potencial eltrico nulo especificado em sua
superfcie, sendo assim tomado como uma fronteira do domnio de estudos, conforme
representado pela figura (3.5a).
No caso do campo magntico, nada pode ser estabelecido em relao ao potencial
existente no solo e nas superfcies dos condutores. Assim, apenas as fronteiras fictcias
delimitam o domnio, uma vez que tambm necessrio assumir o interior dos
condutores. As densidades de corrente existentes so consideradas homogneas e, para
cada condutor, so equivalentes a:
J" =
|hd | g
ij"aZ
(3.22)
condutor.
A corrente hd , por sua vez, depende momentaneamente das cargas conectas LT,
potncia.
lm
kj
3 |
lm
d |cos (q)
(3.23)
estabelecidas na interface Z :
U + = U
r+
SU +
SU +
SU
SU
+ +
s %& tu = rv
+
s %& tu
S'
S(
S'
S(
(3.24)
(3.25)
52
2002).
aproximada como sendo a soluo da EDP do PVC. Esta funo obtida de maneira a
53
Uw = z Ux yx
x{\
(4.1)
gerado pela diferena entre as solues exata (U) e aproximada (Uw). Tal resduo pode
(4.2)
Para minimizar o erro global da soluo, este resduo obtido ento ponderado
Resduo
Ponderado)
= kx | ' ( = 0
(4.3a)
S
SUw
S
SUw
+
}
V ' ( = 0
S'
S' S(
S(
(4.3b)
do espao vetorial, uma vez que o produto interno entre essas funes seja nulo
(OLIVEIRA, 1990). Assim estabelecida uma condio natural e matematicamente
adequada para satisfazer a nulidade imposta, de modo que a obteno da soluo
54
(4.4)
Syx SUw
Syx SUw
+ }
'( + yx %& yx b '( = 0
S' S'
S( S(
t
(4.5a)
Em que,
=
SUw
SUw
'& + }
(&
S'
S(
(4.5b)
55
condies de contorno impostas ao PVC, uma vez que a mesma aplicada ao contorno
Assim, para a parte \ do contorno, a contribuio dessa integral nula, uma vez
_`
_a
= 0 ,
em ]
(4.6)
Syx SUw
Syx SUw
+ }
' ( = yx b ' (
S' S'
S( S(
(4.7)
somatrio para fora da integral, uma vez sendo constantes os termos UC , o seguinte
formato obtido:
a
z
C{\
Syx SyC
Syx SyC
+ }
' ( UC = yx b ' (
S' S'
S( S(
(4.8)
| = 1, , %
A equao (4.8) chamada de forma fraca da formulao, uma vez que a mesma
apenas contm derivadas de primeira ordem, resultando assim em uma ordem mais
56
quando aplicada a cada uma das % funes de peso yx disponveis (as quais, por
definio, so idnticas s funes de aproximao), a equao (4.8) constituir um
forma yx . A nica restrio existente que estas devem ser linearmente independentes,
ento ser enxergado pela aproximao abaixo, como ocorre para o caso bidimensional
ilustrado na figura (4.2):
a
z x
x{\
(4.9)
57
Figura 4.2 Domnio discretizado em vrios subdomos . Adaptado de (BRABO PEREIRA, 2009).
(a)
(b)
58
(4.10)
especfico, podem ser obtidos ao se aplicar esta equao a cada um dos trs ns locais
existentes. Tal procedimento realizado no tpico B-2 do apndice B, e a equao acima
pode ser reescrita em funo dos valores dos potenciais nodais UC , conforme se segue:
Uw = z yC (', () UC
C{\
(4.11)
sob o ponto de vista elementar. A mesma representa que os valores incgnitos Uw , para
yC (', () =
1
( + VC ' + C ()
2 C
(4.12a)
Em que,
\ = '] ( ' (] V\ = (] ( \ = ' ']
] = ' (\ '\ ( V] = ( (\ ] = '\ '
(4.12b)
(4.12c)
Uma vez sendo obtidas as funes de forma, as suas derivadas espaciais podem
Consequentemente,
SyC
1
1
V
=
C
2
S'
2 C
o conjunto
de
equaes
de
(4.13)
resduos
ponderados,
representado pela equao (4.8), pode agora tambm ser desenvolvido sob o ponto de
vista elementar, conforme se segue:
Syx SyC
Syx SyC
z
+ }
' ( UC = yx b ' (,
S'
S'
S(
S(
C{\
| = 1,2,3
(4.14)
(4.15a)
Vx
1
Vx VC + } x C
= b
3
(4.15b)
(4.15c)
60
E sendo:
U = U\ U] U
(4.15d)
C{\
C{\
(4.16)
61
Figura 4.4 Mapeamento do Triangulo de Segunda Ordem no Elemento de Referncia (JIN, 2002)
Elemento Real (, )
Elemento de Referncia (, )
( , )
(1,0)
(> , > )
(= , = )
( , )
( , )
( , )
(0,0)
(0,1)
(12 , 0)
(12 , 12)
(0, 12)
62
'
'\ + ']
, (
2
'] 5 '
, (
2
' 5 '\
, (
2
'
(\ 5 (]
2
(] 5 (
2
( 5 (\
2
(4.17a)
(4.17b)
(4.17c)
z yC <, ? 'C
C{\
z yC <, ? (C
C{\
(4.18)
(4.19)
1 / /
(4.20a)
63
y] (, ) =
y (, ) =
(4.20b)
(4.20c)
U = z yC (, ) UC
(4.21)
y\ (, ) = (2 1)
(4.22a)
C{\
y (, ) = (2 1)
y (, ) = 4
y (, ) = (2 1)
y (, ) = 4
(4.22b)
(4.22c)
(4.22d)
(4.22e)
(4.22f)
= 1
No tpico B-3 do apndice B, o desenvolvimento realizado acima apresentado
com maior detalhe, e tambm so exibidas algumas propriedades das funes de forma
dos elementos triangulares de segunda ordem.
Uma vez sendo a ordem da funo de transformao espacial menor do que
aquela tomada para a funo de interpolao dos potenciais, o elemento da figura (4.5)
denominado elemento subparamtrico (JIN, 2002). Resta agora que o conjunto de
64
z
+ }
' ( UC = yx b ' (,
S' S'
S( S(
C{\
| = 1,2,3,4,5,6
(4.23)
xC =
B
(4.24a)
e do vetor V
sendo correspondentes a:
SyC
SyC
1
Syx
Syx
[ J ]],]
[ J ]\,]
[ J ]],]
[ J ]\,]
||
S
S
S
S
+} [ J ]\,\
Syx
S
Syx
[ J ]],\
Vx =
B
[ J ]\,\
[ J ]],\
yx b ||
SyC
'] '\
' '\
(] (\
( (\
SyC
S
(4.24b)
(4.24c)
(4.24d)
(4.24e)
65
avaliado
< , ?
z x <x , x ?
(4.25)
x{\
Peso
(>/ ,>/?
25/96
(/ ,>/?
25/96
(>/ , >/?
(>/ ,/?
-27/96
25/96
66
Cabe por ltimo notar que, uma vez sendo aproximados os potenciais Uw no
[ J ]],]
S'
1
=
SUw || [ J ]
],\
S(
Sy
\
[ J ]\,] S
[ J ]\,\ Sy\
S
Sy]
S
Sy]
S
Sy
U
S \
U]
Sy
U
S
(4.26)
[ J ]],]
S'
1
SUw 3 || [ J ]
],\
S(
[ J ]\,]
[ J ]\,\
U\
U\
4U]
4U
4U
4U
U
(4.27)
interior dos elementos a partir dos valores discretos Ux existentes nos ns dos
elementos.
67
Uma vez tendo sido a anlise pelo mtodo de Galerkin viabilizada pela utilizao
dos subdomnios elementares, o resduo global de soluo ento reconstitudo,
considerando a contribuio de cada um dos elementos existentes:
a
= z[ ]U V = 0
x{\
(4.28)
a\
\]
]]
a]
[]U = V
\a U\
V\
]a U]
V]
=
Va
aa Ua
(4.29a)
(4.29b)
68
comuns, o termo xC consequentemente nulo. Assim, evidente que a maior parte das
contribuies dos elementos nas linhas da matriz global seja nula, conduzindo a uma
matriz esparsa. Tal fato propicia grande economia de memria computacional, a qual
pode se dar atravs de formas compactas de armazenamento de sistemas esparsos, tal
como o CSR (Compressed Sparse Row), dentre outras tcnicas detalhadas em (GOLUB e
VAN LOAN, 1996), bem como propicia formas eficientes para a soluo do sistema linear
posterior (STOER e BULIRSCH, 2002).
inicialmente, uma matriz singular. Ou seja, esta constitui um sistema linear com
infinitas possibilidades de soluo (GOLUB e VAN LOAN, 1996). Portanto, para conferir
unicidade a soluo dos sistemas de equaes obtidos pelo MEF, ainda necessrio
estabelecer as condies de contorno inicialmente impostas ao PVC original.
As condies de contorno de Neumann (condies naturais) so diretamente
consideradas pelo mtodo de resduos ponderados, atravs do desenvolvimento da
equao (4.5). Cabe, assim, apenas considerar as condies de contorno de Dirrichlet
(condies essenciais), dadas nos contornos em que o valor dos potenciais Ux dos ns
existentes seja conhecido. (BASTOS, 1996), (JIN, 2002) e (MARCOS SILVA, 2010) fazem
uma boa apresentao das principais maneiras de insero desta condio.
Aqui resumido, com maior detalhamento, o tratamento dos domnios abertos,
uma vez sendo tal assunto mais escasso na literatura. Conforme apresentado na
definio do PVC existente, na seo 3.2.3, para o cmputo de campos eltrico e
magntico ao entorno de linhas de transmisso, o domnio delimitado atravs da
69
70
convencionais, uma vez que a soluo para configuraes diversas seriam dispendiosas
em relao ao tempo de soluo.
Assim, alm do truncamento, neste trabalho aplicada outra tcnica mais
consistente para o tratamento das fronteiras fictcias, a qual consiste em mapear o
domnio externo em uma regio fechada, atravs do uso de transformaes espaciais. Os
trabalhos de (CHEN e KONRAD, 1997), (EMSON, 1988) e (BETTESS, 1988) fornecem
mais alternativas para a realizao deste tratamento, tal como o uso de elementos
infinitos, os quais usam funes de decaimento para expressar a atenuao dos
potenciais em sua regio interna.
4.4.1.1. Truncamento
O truncamento das fronteiras externas uma abordagem intuitiva que se baseia
na suposio de que em uma distncia suficientemente grande de suas fontes, os valores
dos potenciais U ou de suas derivadas normais sejam prximos de zero (CHEN e
em
(4.30)
71
(4.31a)
73
Logo, Ut = ] Ut {t
\
(4.31b)
(4.31c)
74
abrange tambm toda a rea de interesse de estudos, delimitando uma fronteira virtual
, a qual separa o espao exterior aberto, que se estende at ao infinito.
Pode ser percebido que a fronteira comum tanto ao domnio interno quanto
ao domnio externo, os quais compe o real domnio do problema, e sendo ainda que:
75
= xaE
(4.32)
exterior infinito , dado atravs das coordenadas reais (x,y), atravs de outro espao
transformado, circular e finito, dado em outro sistema de coordenadas. Um requisito da
formulao clssica diz respeito ao comprimento dos raios obtidos para definio dos
domnios circulares que devem ser iguais tanto para o domnio interno quanto para o
domnio externo transformado (NOGUEIRA e LE BOUDEC, 2011).
A transformao espacial para a regio externa pode assim ser descrita conforme
as relaes geomtricas:
Distncia de um ponto em
relao origem, nas
coordenadas reais:
]
= ] (' 'jaEl" ) + jaEl"
|
(( (jaEl" ) + jaEl"
|]
]
(4.33a)
(4.33b)
Sendo "" o raio das circunferncias que delimitam os domnios, ('jaEl" , (jaEl" )
| = ( jaEl" )] + ( jaEl" )]
'=
(=
| ]
| ]
( jaEl" ) + 'jaEl"
( jaEl" ) + (jaEl"
(4.34a)
(4.34b)
76
reais, para alm da fronteira , esses pontos, uma vez transformados, tendem ao
centro de referncia das coordenadas transformadas. Ou seja, o centro do domnio
transformado representa o infinito do problema original:
%: |
(4.35)
Assim a equao (4.8) pode ser desmembrada de forma matricial, com os termos de
contribuio elementar sendo equivalentes a (BRUNOTTE, MEUNIER e IMHOFF, 1992)
(TANG, DUN, et al., 2009):
xC =
1
J
||
+ J
Syx
J
],]
S
Syx
J
\,\
S
Syx
J
\,]
S
Syx
J
],\
S
Vx =
SyC
J
],]
S
SyC
J
\,\
S
yx b || = 0
SyC
\,]
S
SyC
],\
S
(4.36a)
(4.36b)
A equao (4.36b) sempre nula, uma vez que todas as fontes devam ser
consideradas confinadas dentro do domnio interno. J a matriz jacobiana, para a
77
transformao espacial provida pelas equaes (4.33) e (4.34), dada por (TANG, DUN,
et al., 2009):
]
(
)]
1 ( jaEl" ) jaEl"
[ J ] = ]
2( jaEl" )( jaEl" )
2( jaEl" )( jaEl" )
( jaEl" )] ( jaEl" )]
(4.36c)
Esta matriz ortogonal (TANG, DUN, et al., 2009), e seu determinante equivale:
|
|| =
(4.36d)
Por conseguinte a equao (4.36) assim resumida (TANG, DUN, et al., 2009):
Syx SyC
Syx SyC
+ }
= 0
S S
S S
(4.37)
Caso desejado assumir o solo como CEP no clculo dos potenciais eltricos, a
transformao do domnio externo, semi-aberto, pode igualmente ser realizada atravs
das equaes (4.33) e (4.34), com todas as implicaes e desenvolvimentos realizados.
Assim, a transformao espacial realizada conforme representado pela figura (4.11). A
nica ressalva nesta situao acerca dos pontos da fronteira externa respectivos ao
solo que, uma vez transformados e tratados pelo MEF, devem ter potencial eltrico
Figura 4.11 Transformao Kelvin aplicada a LTs com solo considerado CEP
79
_`
_}
SU
S(
S(
S( S
(4.38a)
80
(' 'jaEl"
)]
(( (jaEl" )
]
(4.38b)
_`
_`
_
) podem
81
82
Captulo 5 Resultados
5.1. Introduo
Neste captulo so dispostos os resultados da aplicao do MEF no cmputo de
campos eltricos e magnticos em LTs. Inicialmente, a metodologia validada atravs
da comparao com resultados de outros trabalhos. ainda realizada uma anlise de
sensibilidade dos resultados alcanados pelo MEF, de acordo com algumas variaes no
modelo de cmputo. Por fim, so destinadas aplicaes do MEF em situaes mais
complexas, dando credibilidade implementao realizada. Sempre que possvel os
resultados so tambm comparados aos de outros trabalhos encontrados na literatura.
O erro global entre resultados calculado pela norma euclidiana (2), conforme
equao (5.1), evitando disparidades quando os resultados de soluo so muito
pequenos ou muito grandes. J o erro relativo entre solues em um nico ponto, tal
como desejado medir para valores de campo mximo (superficial ou ao nvel do solo),
so obtidos diretamente pela diferena relativa dos resultados, conforme equao (5.2).
Erro Mdio Global (%) = il i
\/]
il
il 100 %
100 %
(5.1)
(5.2)
Condutor
Posio (m)
1
2
3
4
Bitola (mm)
Tipo
Feixe A
X
Y
-7,975
18,450
-7,025
18,450
-7,025
17,500
-7,975
17,500
Feixe B
X
Y
-0,475
25,950
0,475
25,950
0,475
25,000
-0,475
25,000
31,96
CAA Ruddy
Feixe C
X
7,975
7,025
7,025
7,975
Y
18,450
18,450
17,500
17,500
Pra-Raios
X
Y
-3,750
30,700
3,750
30,700
9,52
Ao Galvanizado 7/16 EHS
120
Coord. Y (metros)
100
80
60
40
20
-100
-50
50
100
Coord. X (metros)
(a)
17.58
19
17.56
18.5
17.54
17.52
18
17.5
17.5
17.48
17.46
17
17.44
16.5
17.42
-8.5
-8
-7.5
Coord. X (metros)
(b)
-7
-6.5
-8.06
-8.04
-8.02
-8
-7.98
-7.96
-7.94
-7.92
-7.9
(c)
85
4500
4000
3500
3000
MIS
MEF
2500
-15
-10
-5
10
15
20
Coord. x (metros)
Figura 5.3 Campo Eltrico ao Nvel do Solo (MEF x MIS) LT 500kV Furnas
Tabela 5.2 Campo Eltrico ao Nvel do Solo (MEF x MIS) LT 500kV Furnas
Erro (MEF x MIS)
Global (%)
5,4
Campo Mximo
MEF (V/m)
MIS (V/m)
4578,6
4316,5
Erro (%)
7,2
11,1
86
(a)
(b)
Figura 5.4 Distribuio de Potencial e Campo Eltrico ao Nvel do Solo LT 500kV Furnas
a) Potencial Eltrico (V); b) Campo Eltrico (V/m)
pela figura (5.5), sendo o restante disposto no tpico D-2 do apndice D. A tabela (5.3)
apresenta os erros entre as abordagens considerando a avaliao completa da superfcie
de cada condutor (de 0o a 360o). Tambm so apresentados o erro e as posies para o
valor de campo eltrico mximo superficial entre os mtodos, para todos os condutores
de cada feixe. Esta uma importante quantidade a ser avaliada quando na anlise de
eficincia das LTs, estando associada s perdas por efeito corona (PAGANOTTI, 2012).
Para todos os condutores notada grande similaridade acerca dos resultados
obtidos entre ambas as metodologias, como notado pelo perfil das curvas de campo
superficial. O erro global menor do que 2%, sendo que, para o campo eltrico
superficial mximo, este menor do que 1% em todos os casos, e ainda com uma boa
concordncia para os ngulos no qual tal valor encontrado.
MIS
MEF
14.5
MIS
MEF
15.5
14
13.5
13
15
14.5
14
13.5
12.5
50
100
150
200
250
300
350
50
100
150
200
250
300
(a)
(b)
14.4
MIS
MEF
14.2
15
14.5
14
13.5
MIS
MEF
13
50
100
150
200
250
(c)
350
300
350
14
13.8
13.6
13.4
13.2
13
12.8
12.6
12.4
50
100
150
200
250
300
350
(d)
Figura 5.5 Campo Eltrico Superfcial - Feixe A (MEF x MIS) LT 500kV Furnas
a) Condutor 1; b) Condutor 2; c) Condutor 3; d) Condutor 4
88
Campo Mximo
Global (%)
MEF (kV/cm)
MIS (kV/cm)
Erro (%)
MEF ( )
MIS ( )
1,38
14,62
14,59
0,19
128,4
119,7
0,77
15,52
15,49
0,25
44,3
44,6
1,22
14,89
15,03
0,97
321,6
318,4
1,34
14,19
14,17
0,14
225,2
238,8
0,9
14,81
14,72
0,63
134,1
125,8
44,2
0,69
14,85
14,83
0,1
37
1,01
15,89
15,76
0,82
305,8
313
0,89
15,74
15,67
0,44
233,5
233,9
1,34
15,51
15,56
0,32
139,9
129,9
1,13
14,64
14,69
0,37
47
49,9
1,3
14,20
14,32
0,88
313,9
311,9
1,17
15,00
14,91
0,62
221,8
230,2
(a)
(b)
(c)
Figura 5.6 Distribuio de Potencial e Campo Eltrico para Regio dos Feixes LT 500kV Furnas
a) Potencial Eltrico (kV); b) Campo Eltrico (kV/cm); c) Campo Eltrico (escala logartimica)
89
x ),
como
x)
(a)
(b)
(c)
Figura 5.7 Distribuio de Potencial e Campo Eltrico para o Domnio Completo LT 500kV Furnas
a) Potencial Eltrico (V); b) Potencial Eltrico (Escala Logartmica); c) Campo Eltrico (Escala
Logartmica)
90
Embora os valores alcanados pelo MEF no clculo dos campos eltricos tenham
sido satisfatrios em comparao aos resultados do MIS, necessrio apurar como
alguns detalhes assumidos no modelo de cmputo influenciam os resultados numricos
e o tempo de processamento computacional.
91
A figura (5.10) avalia o campo eltrico ao nvel do solo, com e sem a presena dos
cabos para raios pelo MEF, comparativamente ao resultado do MIS (PAGANOTTI, 2012).
Figura 5.10 Campo Eltrico ao Nvel do Solo Com e Sem Para Raios
92
Campo Mximo
MEF (V/m)
MIS (V/m)
9,01
4637,8
Erro (%)
4316,5
7,4
11,1
11,1
(a)
Campo Mximo
MEF (V/m)
MEF (V/m)
(s/ para-raios) (c/ para-raios)
3,05
4578,6
Erro (%)
4637,8
1,3
11,2
11,1
(b)
a) MEF com Para-Raios x MIS; b) MEF sem Para-Raios x MEF com Para-Raios
15
14.5
14
13.5
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
15.5
16
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
15.5
15
14.5
14
13.5
13
13
50
100
150
200
250
(a)
300
350
50
100
150
200
250
300
350
(b)
93
17
16.5
16.5
16
16
15.5
15
14.5
14
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
13.5
50
100
150
200
250
300
15.5
15
14.5
14
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
13.5
350
50
100
150
200
250
300
350
(c)
(d)
1
2
3
4
1
2
3
4
1
2
3
4
Campo Mximo
Global (%)
MEF (kV/cm)
MIS (kV/cm)
Erro (%)
MEF ( )
MIS ( )
2,87
2,38
1,86
2,01
6,72
6,61
4,15
4,14
2,42
2,78
2,28
2,10
14,33
15,21
14,85
14,03
15,82
15,98
16,54
16,43
15,19
14,35
13,99
14,75
14,59
15,49
15,03
14,17
14,72
14,83
15,76
15,67
15,56
14,69
14,32
14,91
1,77
1,72
1,22
1,01
7,45
7,73
4,94
4,83
2,35
2,33
2,33
1,04
128,7
42,9
329,8
228,3
140,8
37,3
313,3
227,6
134,2
39,4
317,0
225,7
119,7
44,6
318,4
238,8
125,8
44,2
313
233,9
129,9
49,9
311,9
230,2
(a)
1
2
3
4
1
2
3
4
Global (%)
1,47
0,87
0,81
0,84
7,14
6,82
4,82
5,12
Campo Mximo
MEF (kV/cm)
MEF (kV/cm)
(s/ para-raios)
(c/ para-raios)
14,51
15,39
14,88
14,06
14,80
14,67
15,77
15,67
14,33
15,21
14,85
14,03
15,82
15,98
16,53
16,43
Erro (%)
1,24
1,19
0,22
0,28
6,45
8,18
4,66
4,61
128,7
42,9
329,8
228,3
140,8
37,3
313,3
227,6
94
1
2
3
4
1,37
1,41
0,90
0,81
15,39
14,56
14,27
14,90
15,19
14,35
13,99
14,75
1,31
1,47
2,04
1,00
138,3
49,4
316,1
217,7
134,2
39,4
317,0
225,7
(b)
a) MEF com Para-Raios x MIS; b) MEF sem Para-Raios x MEF com Para-Raios
(a)
(b)
95
N Elem.
7841
N Ns
4035
Condutor 1
Condutor 2
Condutor 3
Condutor 4
Solo
Tempo
Erro (%)
17,3
Erro (%)
15,51
Erro (%)
15,67
Erro (%)
16,36
Erro (%)
1,26
(s)
51,52
12249
6313
7,76
8,40
8,47
8,59
0,68
69,49
16678
8606
5,50
5,27
5,36
5,46
0,36
106,47
21098
10847
2,07
1,79
1,96
2,01
0,12
131,58
24828
12834
0,78
0,63
0,58
0,66
0,09
195,74
27998
13995
0,29
0,22
0,24
0,25
0,08
305,32
31687
16624
0,00
0,00
0,00
0,00
0,00
463,84
(a)
96
Feixe A
Condutor 1
o
Condutor 2
Condutor 3
Condutor 4
Solo
N Elem.
N Ns
(kV/cm)
Erro (%)
(kV/cm)
Erro (%)
(kV/cm)
Erro (%)
(kV/cm)
Erro (%)
(kV/cm)
Erro (%)
7841
4035
12,06
15,25
12,79
15,35
12,81
12,74
11,58
16,69
4665,4
1,38
12249
6313
13,18
7,38
13,76
8,93
13,37
8,92
12,63
9,14
4631,7
0,65
16678
8606
13,53
4,92
14,28
5,49
13,87
5,52
13,06
6,04
4618,9
0,37
21098
10847
13,89
1,76
14,84
1,79
14,41
1,84
13,63
1,94
4602,9
0,02
24828
12834
14,12
0,77
14,98
0,86
14,55
0,89
13,74
1,15
4602,7
0,02
27998
13995
14,19
0,28
15,08
0,20
14,61
0,48
13,83
0,50
4602,1
0,01
31687
16624
14,23
0,00
15,11
0,00
14,68
0,00
13,90
0,00
4601,8
0,00
(b)
(a) Erro Global e Tempo de Processamento; (b) Anlise de Campo Eltrico Mximo;
4500
4000
3500
3000
-20
-15
-10
-5
10
15
20
Coord. x (metros)
(b)
14
15
13.5
14.5
(a)
13
12.5
12
11.5
11
14
13.5
13
12.5
12
10.5
11.5
10
11
0
50
100
150
200
250
(c)
300
350
50
100
150
200
250
300
350
(d)
97
14
14.5
13.5
14
13.5
13
12.5
12
11.5
13
12.5
12
11.5
11
11
10.5
10.5
0
50
100
150
200
250
300
350
50
100
150
200
250
300
350
(e)
(f)
Montagem da
Matriz Global
Insero de
Condies de
Contorno
Soluo do
Sistema Linear
Ps-Tratamento
Total
No
Elem.
N Ns
(s)
(%)
(s)
(%)
(s)
(%)
(s)
(%)
(s)
(%)
(s)
7841
4035
14,14
27,4
13,97
27,1
0,78
1,5
0,09
0,2
22,54
43,8
51,52
12249
6313
19,43
28,0
20,20
29,1
1,03
1,5
0,1
0,1
28,73
41,3
69,49
16678
8606
30,43
28,6
31,18
29,3
2,10
2,0
0,11
0,1
42,65
40,1
106,47
21098
10847
36,04
27,4
39,78
30,2
3,31
2,5
0,24
0,2
52,21
39,7
131,58
24828
12834
53,72
27,4
59,64
30,5
5,73
2,9
0,27
0,1
76,38
39,0
195,74
27998
13995
77,91
25,5
96,81
31,7
11,73
3,8
0,49
0,2
118,38
38,8
305,32
31687
16624
108,62
23,4
165,52
35,7
27,55
5,9
0,97
0,2
161,18
34,7
463,84
99
Pode ser visto que o esforo computacional aumenta muito de acordo com o
nmero de elementos da malha. Ainda, pode ser verificado atravs dos tempos
percentuais de execuo de cada bloco funcional que a maior complexidade
computacional est associada condensao das contribuies de cada elemento na
matriz de rigidez global, uma vez que o tempo desta funo se torna preponderante com
o aumento de refinamento da malha de elementos.
Assim, interessante a execuo de melhorias para o algoritmo desta funo, o
que pode ser dado, por exemplo, atravs da paralelizao dos loops de contribuio
elementar. Pelo MATLAB isto pode ser realizado, conforme proposto em
(HOSAGRAHARA, TAMMINANA e SHARMA, 2009), atravs da utilizao da funo
parfor.
Uma ltima anlise sobre a influncia de refinamento da malha de elementos
tida atravs dos resultados de distribuio dos potenciais eltricos em todo o domnio,
conforme figura (5.15). As mesmas representam a soluo para malhas de,
respectivamente, 12249 e 24828 elementos. De modo qualitativo, o aumento do nmero
de elementos melhorou os resultados dos potenciais eltricos para as regies distantes,
em direo s fronteiras fictcias, uma vez que o decaimento da intensidade
perceptivelmente menos abrupto.
(a)
(b)
100
4400
4200
4000
3800
3600
3400
3200
3000
2800
-15
-10
-5
10
15
Coord. x (metros)
(a)
(b)
15
14
13.5
13
12.5
12
14.5
14
13.5
13
12.5
11.5
12
50
100
150
200
250
(c)
300
350
50
100
150
200
250
300
350
(d)
101
14.5
13.5
14
13.5
13
12.5
13
12.5
12
11.5
12
11.5
11
50
100
150
200
250
300
350
50
100
150
200
250
300
350
(e)
(f)
Condutor 1
Condutor 2
Condutor 3
Condutor 4
Solo
Tempo
N Elem.
N Ns
Erro (%)
Erro (%)
Erro (%)
Erro (%)
Erro (%)
(s)
5865
12467
7,72
9,59
10,65
9,89
0,85
96,24
6942
15765
3,47
5,49
5,24
5,34
1,00
131,35
7854
16879
2,11
3,97
4,14
4,25
1,05
181,34
8882
18475
1,42
3,52
3,22
3,05
1,09
260,91
(a)
Feixe A
Condutor 1
o
Condutor 2
Condutor 3
Condutor 4
Solo
N Elem.
N Ns
(kV/cm)
Erro (%)
(kV/cm)
Erro (%)
(kV/cm)
Erro (%)
(kV/cm)
Erro (%)
(kV/cm)
Erro (%)
5865
12467
13,05
8,33
13,91
9,94
13,34
11,09
12,63
11,05
4560,9
1,14
6942
15765
13,78
3,15
14,52
6,01
14,22
5,21
13,46
5,22
4562,5
1,11
7854
16879
13,91
2,25
14,74
4,59
14,42
3,87
13,62
4,11
4563,9
1,08
8882
18475
14,01
1,60
14,89
3,58
14,51
3,26
13,73
3,37
4564,1
1,07
(b)
(a) Erro Global e Tempo de Processamento; (b) Anlise de Campo Eltrico Mximo;
103
104
105
-30
-20
-10
10
20
30
-40
-30
-20
-10
(a)
10
20
30
40
(b)
(c)
(d)
(f)
(e)
(g)
106
107
homogneo e com a fronteira colocada na posio mais distante avaliada, uma vez
considerando esta a situao fsica mais consistente simulada.
15
15
Truncado - Dirrichlet
Truncado - Neumann
Truncado - SDI
Kelvin - Solo CEP
Kelvin - Solo Homog.
14.5
14.5
Truncado - Dirrichlet
Truncado - Neumann
Truncado - SDI
Kelvin - Solo CEP
Kelvin - Solo Homog.
14
13.5
13
12.5
14
13.5
13
12.5
50
100
150
200
250
300
50
350
100
150
200
(a)
300
350
(b)
Truncado - Dirrichlet
Truncado - Neumann
Truncado - SDI
Kelvin - Solo CEP
Kelvin - Solo Homog.
Truncado - Dirrichlet
Truncado - Neumann
Truncado - SDI
Kelvin - Solo CEP
Kelvin - Solo Homog.
14.5
14.5
250
14
13.5
13
14
13.5
13
12.5
12.5
50
100
150
200
250
300
350
50
100
150
200
250
300
350
(c)
(d)
Figura 5.19 Campo Eltrico Superficial Condutor 1 Feixe A Anlise de Tratamento de Fronteira
(a) Distncia = 1.5x; (b) Distncia = 3x; (c) Distncia = 5x; (d) Distncia = 10x;
4500
4000
3500
3000
Truncado - Dirrichlet
Truncado - Neumann
Truncado - SDI
Kelvin - Solo CEP
Kelvin - Solo Homog.
2500
2000
-20
-15
-10
-5
10
15
20
4500
4000
3500
3000
Truncado - Dirrichlet
Truncado - Neumann
Truncado - SDI
Kelvin - Solo CEP
Kelvin - Solo Homog.
2500
2000
-15
-10
-5
Coord. x (metros)
Coord. x (metros)
(a)
(b)
10
15
20
108
4500
4500
4000
3500
3000
Truncado - Dirrichlet
Truncado - Neumann
Truncado - SDI
Kelvin - Solo CEP
Kelvin - Solo Homog.
2500
2000
-20
-15
-10
-5
10
15
4000
3500
3000
Truncado - Dirrichlet
Truncado - Neumann
Truncado - SDI
Kelvin - Solo CEP
Kelvin - Solo Homog.
2500
2000
-15
20
-10
-5
Coord. x (metros)
Coord. x (metros)
(c)
(d)
10
15
20
14.5
14
13.5
13
12.5
50
100
150
200
250
300
350
109
Neumann
Distncia
N Elem.
Tempo (s)
Erro (%)
Erro (%)
Tempo (s)
Erro (%)
Erro (%)
Tempo (s)
Erro1 (%)
Erro2 (%)
1,5x
3924
42,19
1,61
7,05
43,95
2,60
5,67
47,47
2,53
5,71
3x
4037
46,11
0,78
1,83
48,03
0,92
1,53
51,69
0,96
1,52
5x
4108
162,95
0,32
1,68
164,54
0,31
1,47
177,32
0,30
1,49
10x
5433
307,94
0,28
1,38
306,47
0,26
1,36
328,47
0,21
1,37
Distncia
No Elem.
Tempo (s)
Erro2 (%)
No Elem.
Erro1 (%)
Erro2 (%)
1,5x
4042
50,98
1,48
7,10
4081
52,3
0,76
1,74
3x
4156
55,35
0,70
1,78
4195
55,35
0,56
1,09
5x
4228
188,51
0,31
1,67
4269
190,9
0,31
0,70
10x
5592
354,86
0,23
1,36
5646
363,37
0,00
0,00
Distncia
No Elem.
Tempo (s)
Erro1 (%)
Erro2 (%)
No Elem.
Tempo (s)
Erro1 (%)
Erro2 (%)
0,6x
3453
34,72
2,14
490
3522
39,64
1,99
239
SDI
Erro Global para campo eltrico superficial Condutor 1 do Feixe A; 2 Erro Global para campo eltrico ao nvel do solo
LT, com os desvios entre os erros das tcnicas chegando a atingir de 5%. Mais uma vez,
conforme indicam as curvas das figuras (5.20b), (5.20c) e (5.20d), para distanciamentos
da fronteira maiores do que trs vezes a maior altura solo-condutor, o desvio de erros
entre as diversas tcnicas passa a ser bem baixo (menor que 0,5%). Todavia, conforme
observado pelas figuras (5.20c) e (5.20d), embora as curvas tenham convergido dentre
as tcnicas, uma pequena diferena continua a ser vista no perfil de campo eltrico ao
nvel do solo embaixo da LT (de -8 a 8 metros) em relao ao resultado da
transformao Kelvin considerando a presena de um solo homogneo de 1000.m.
As consequncias das pequenas diferenciaes vistas no resultado do campo
eltrico (superficial ou ao nvel do solo) considerando a presena do solo no modelo de
cmputo trabalhada no tpico 5.4.3 desta dissertao, com a considerao de solos de
diferentes resistividades, sendo consideradas irrelevantes para a presente anlise.
Acerca da transformao Kelvin aplicada nas proximidades dos condutores da LT,
conforme demonstra a figura (5.21), independentemente do tipo de considerao
realizada para o solo, os resultados de campo eltrico superficial so prximos daqueles
atingidos pelas demais tcnicas, com erro global de cerca de 2%. Nesta figura, cabe ater
que as curvas das demais tcnicas se apresentam praticamente sobrepostas, devido a
grande similaridade de resultados anteriormente j atingida. J o campo eltrico ao
nvel do solo, porm, que nesta situao fica compreendido no domnio externo
transformado, passa a apresentar comportamento bastante insatisfatrio, com resultado
de intensidade enormemente maior e presena de distores nos perfis das curvas de
campo, tanto na considerao do solo como sendo CEP (intensidade mxima quase cinco
vezes maior), quanto na considerao de um solo homogneo de 1000.m (intensidade
mxima por cerca de duas vezes maior). Estes resultados ficam mais evidentes a seguir,
atravs das figuras (5.24) e (5.25), nas quais as distribuies espaciais de campo eltrico
so dispostas.
Sobre os tempos de processamento, para um mesmo distanciamento da fronteira
fictcia, a transformao Kelvin apresenta maior tempo de soluo dentre as tcnicas,
obviamente por necessitar de maior numero de elementos para representao e soluo
do domnio externo transformado. No entanto, para uma fronteira posta prxima da LT
(uma vez e meia a maior distncia condutor-solo), tal tcnica permite uma boa
111
(a)
(b)
113
(c)
(d)
(a)
(c)
(b)
(d)
114
(a)
(b)
(c)
(d)
Figura 5.24 Transformao Kelvin com solo CEP e fronteira prxima a condutores
Domnio Interno: (a) Potencial Eltrico (kV); (b) Campo Eltrico (Escala logartmica);
Domnio Externo Transformado: (c) Potencial Eltrico (V); (d) Campo Eltrico (V/m)
(a)
(b)
115
(c)
(d)
Figura 5.25 Transformao Kelvin com solo homogneo e fronteira prxima a condutores
Domnio Interno: (a) Potencial Eltrico (kV); (b) Campo Eltrico (Escala logartmica);
Domnio Externo Transformado: (c) Potencial Eltrico (V); (d) Campo Eltrico (V/m)
117
Condutor
Posio (m)
1
2
3
4
5
Bitola (mm)
Feixe A
Pos X
Pos Y
-5,854
10,000
-5,029
10,648
-5,344
11,696
-6,364
11,696
-6,679
10,648
Tipo
Feixe B
Pos X
Pos Y
0,000
12,454
-0,465
12,788
-0,288
13,328
0,288
13,328
0,465
12,788
25,16
CAA Grosbeak
Pos X
5,854
5,029
5,344
6,364
6,679
Feixe C
Pos Y
10,000
10,648
11,696
11,696
10,648
Pra-Raios
Pos X
Pos Y
-4,540
20,700
4,540
20,700
-
9,14
Ao Galvanizado 3/8 EAR
(conforme descrito no tpico 3.2.2.2), sendo a influncia desta grandeza melhor avaliada
atravs do modelo apresentado no apndice F, no tpico 3.4.3 deste trabalho.
As figuras (5.27a) e (5.27b) apresentam, respectivamente, as malhas de
elementos obtidas para a discretizao dos domnios interno, em 12708 elementos e
6533 ns, e externo transformado, em 874 elementos e 426 ns. A figura (5.27c) detalha
a regio dos feixes de condutores com evidencia para a grande densidade de elementos
presente nesta regio.
A figura (5.28) apresenta a comparao entre os resultados obtidos para o campo
magntico a 1 metro de altura do nvel do solo. A unidade mili-Gauss utilizada para a
representao do campo magntico obtido (1T = 10mG). A tabela (5.11) resume o erro
mdio global entre as abordagens, considerando a avaliao de resultados em 40 metros
da faixa de passagem (de -20m a 20m). Tambm so apresentados os valores, erro
relativo e posies para o campo magntico mximo, devido ao maior interesse dessa
informao no projeto de LTs, com existncia de limitaes atravs de regulamentaes
especficas (MARCOS SILVA, 2010). O tempo mdio de soluo medido para 5 execues
de 112.3 segundos.
118
60
60
12
40
40
20
20
C o o rd . Y (m e tro s )
Coord. W
Coord. Y (metros)
11.5
11
10.5
-20
-20
-40
-40
10
-60
-60
-40
-20
0
Coord. X (metros)
20
40
60
-60
-60
9.5
-40
-20
(a)
0
Coord. U
20
40
60
-7
-6.5
-6
-5.5
-5
-4.5
Coord. X (metros)
(b)
(c)
Figura 5.28 Campo Magntico ao Nvel do Solo (MEF x Correo de Carson) LT 500kV Hydro-Qubec
Tabela 5.10 Campo Magntico ao Nvel do Solo (MEF x Correo de Carson) LT 500kV Hydro-Qubec
Erro (MEF x Carson)
Global (%)
0,58
Campo Mximo
MEF (mG)
Carson (mG)
757,5
736,2
Erro (%)
2,9
0,00
119
(a)
(b)
(c)
(d)
(e)
120
122
sobre posicionamentos dos subcondutores e dos cabos para-raios nesta nova situao
so detalhados atravs da tabela (5.12b). Em ambos os casos os cabos de fases so do
tipo RAIL-ASCR 45/7 (29,59mm de dimetro), enquanto os cabos para-raios so do tipo
EHS 3/8 (9,14 mm de dimetro).
Tal disposio assimtrica obtida de (OLIVEIRA, 2011). Neste trabalho, o vetor
de Poynting relacionado s configuraes geomtricas da linha avaliado como funo
objetivo do Mtodo de Otimizao por Enxame de Partculas (PSO). O vetor de Poynting,
por sua vez, numericamente calculado atravs dos campos eltricos e magnticos,
obtidos por meio do MEC. Por fim, as impedncias de surto de configuraes timas so
calculadas atravs do programa ATP/EMTP para avaliao da potncia natural.
A tabela (5.13) resume os principais resultados alcanados pelo MEF
(impedncias de surto e potncia natural) para as duas configuraes de linha
apresentadas. A simulao computacional realizada, em ambos os casos (LPNE-FEX e
LNPE),
um solo homogneo
Altura (metros)
55
50
45
40
-10
-5
10
Posio (metros)
(a)
(b)
123
Feixe B
Pos X
Pos Y
Feixe C
Pos X
Pos Y
Pra-Raios
Pos X
Pos Y
-7,775
40,600
-0,475
48,100
6,825
40,600
-5,600
53,400
-6,825
40,600
0,475
48,100
7,775
40,600
5,600
53,400
-6,825
41,550
0,475
49,050
7,775
41,550
-7,775
41,550
-0,475
49,050
6,825
41,550
Condutor
Posio (m)
(a)
Feixe A
Pos X
Pos Y
Feixe B
Pos X
Pos Y
Feixe C
Pos X
Pos Y
Pra-Raios
Pos X
Pos Y
-8,231
41,450
-0,940
48,187
7,572
42,033
-5,900
53,400
-7,858
40,219
0,917
48,169
6,312
41,262
5,900
53,400
-6,306
41,249
0,394
49,502
7,817
40,211
-7,532
42,068
-0,373
49,530
8,253
41,448
Condutor
Posio (m)
(b)
LPNE
L (mH/Km)
C (nF/Km)
Zc ()
SIL (MW)
L (mH/Km)
C (nF/Km)
Zc ()
SIL (MW)
Ganho
MEF
0,185
4,8
196
1273
0,172
7,1
156
1606
26%
ATP-EMTP
205
1222
167
1496
22%
4,2%
4,2%
6,8%
7,4%
3,7%
Erro
Com base nos resultados, pode ser constatado que a configurao original de
linha (LNPE-FEX) pode ser otimizada atravs da alterao geomtrica dos feixes.
Conforme mostrado, pelas duas abordagens, ficam constatados ganhos na capacidade de
transmisso maiores do que 20% para a segunda configurao (LPNE). Isto demonstra o
grande interesse econmico advindo em explorar configuraes assimtricas para os
feixes de fases.
Acerca das metodologias utilizadas, os resultados obtidos pelo MEF so prximos
daqueles dados obtidos indiretamente pelo ATP/EMTP, com erros da ordem de 4% e 7%
para as configuraes simtricas e assimtricas, respectivamente. Estes resultados
poderiam ser melhores, pois atravs de (OLIVEIRA, 2011), o calculo da potncia natural
das LTs, considera a impedncia caracterstica, ao invs da impedncia de surto. Isto
124
7.2
LPNE-FEX
LPNE
8.4
8.2
8
7.8
7.6
7.4
7.2
7
LPNE-FEX
LPNE
7.1
7
6.9
6.8
6.7
6.6
6.5
6.4
6.8
6.3
6.6
0
50
100
150
200
(a)
250
300
350
50
100
150
200
250
300
350
(b)
125
10
11
LPNE-FEX
LPNE
LPNE-FEX
LPNE
10.5
9.5
9
8.5
8
7.5
7
10
9.5
9
8.5
8
7.5
6.5
50
100
150
200
250
300
50
350
100
150
200
250
300
350
(c)
(d)
LPNE-FEX
LPNE
1400
8.5
1200
1000
800
600
400
7.5
6.5
200
-20
-15
-10
-5
10
15
20
6
-25
-20
-15
-10
-5
Coord. x (metros)
Coord. x (metros)
(a)
(b)
10
15
20
25
126
(a)
(b)
58
Compacta/Semi-FEX
LNPE
56
Altura (metros)
54
52
50
48
46
44
42
40
-8
-6
-4
-2
Posio (metros)
(a)
(b)
Posio (m)
Feixe B
Feixe C
Pra-Raios
Pos X
Pos Y
Pos X
Pos Y
Pos X
Pos Y
Pos X
Pos Y
-10,400
41,700
0,600
41,700
11,600
41,700
-8,340
50,700
-11,600
41,700
-0,600
41,700
10,400
41,700
8,340
50,700
-11,600
40,500
-0,600
40,500
10,400
40,500
-10,400
40,500
0,600
40,500
11,600
40,500
(a)
Feixe A
Condutor
Posio (m)
Feixe B
Pos X
Feixe C
Pos X
Pos Y
Pos Y
-11,198
43,623
1,188
42,297
-10,688
42,072
-1,207
42,279
-11,836
38,805
-1,207
39,915
-8,682
40,700
1,194
39,908
Pos X
Pra-Raios
Pos Y
Pos X
Pos Y
8,676
40,725
-7,740
53,100
11,776
38,784
7,740
53,100
10,700
42,076
11,157
43,625
(b)
128
Tabela 5.14 Impedncia de Surto e Potncia Natural Linha Compacta/LNPE (MEF x ATP)
Compacta / Semi-FEX
L (mH/Km)
C (nF/Km)
Zc ()
LPNE
SIL (MW)
L (mH/Km)
C (nF/Km)
Zc ()
SIL (MW)
Ganho
MEF
0,114
2,6
209
1194
0,12
3,1
197
1271
6,4%
ATP-EMTP
1209
1,2%
Erro
208
0,7%
193
1,9%
1295
1,9%
7,1%
0,7%
129
130
25
24
Altura (metros)
23
22
21
20
19
18
17
-10
-8
-6
-4
-2
10
Posio (metros)
(a)
(b)
Condutor
Posio (m)
Feixe A
Pos X
Pos Y
Feixe B
Pos X
Pos Y
Pos X
Feixe C
Pos Y
Pos X
Pra-Raios
Pos Y
-10,48
16,53
-0,2
16,53
-10,48
16,53
-7,25
24,71
-10,25
16,76
16,76
-10,25
16,76
7,25
24,71
-10,02
16,53
0,2
16,53
-10,02
16,53
3
Bitola (mm)
28,74
(a)
11,11
(b)
131
16.65
16.6
16.55
16.5
16.45
-0.35
-0.3
-0.25
-0.2
16.4
-0.1
-0.15
-0.35
(a)
-0.3
-0.25
(b)
-0.2
-0.15
-0.1
(c)
12
11
10
Campo Eltrico(kV/cm)
10
Campo Eltrico(kV/cm)
Ideal
TW
9
8
7
6
5
4
3
0
50
100
150
200
ngulo (Graus)
250
300
350
50
100
(a)
150
200
ngulo (Graus)
250
300
350
(b)
132
Tipo de Cabo
Cabo Ideal
ACSR
9,14
TW
Erro (%)
11.88
34
205,1o
198,0 o
29
208,7 o
205,1
Tipo de Cabo
Erro Global
ACSR
0,4%
TW
0,3%
Cabo Ideal
4752
Erro
4733
0,4%
13,4m
13,3m
4642
0,2%
13,4m
13,4m
133
5000
4500
4500
Cabo Ideal
Cabo Real - TW
Cabo Ideal
Cabo Real - ACSR
5000
4000
3500
3000
4000
3500
3000
2500
2500
-20
-15
-10
-5
10
15
20
-20
-15
-10
Coord. x (metros)
-5
10
15
20
Coord. x (metros)
Ideal
ACSR
TW
12
11
10
9
8
7
6
225
230
235
240
ngulo (Graus)
245
250
Figura 5.40 Comportamento dos Campos Eltricos Superficiais nos Fios de Condutores Reais
134
(a.1)
(a.2)
(b.1)
(b.2)
(c.1)
(c.2)
Pode ser observado pela figura (5.40) que o fio circular do cabo ACSR tem
gradiente superficial mximo maior do que o fio trapezoidal do cabo compacto TW,
quando localizados em posies similares. ainda observado que, enquanto os campos
135
mximos esto localizados nas extremidades dos fios no cabo TW, este mximo apenas
na regio central do fio do cabo ACSR.
Em ambos os casos, os campos eltricos superficiais decaem nas ranhuras, sendo
o decaimento do cabo TW menor, devido maior taxa de preenchimento deste cabo. No
cabo ACSR, em cada ranhura, o campo eltrico chega a ser nulo, o que no ocorre para o
cabo TW em nenhuma condio. Tambm, em ambos os casos, percebido que os
campos seguem a tendncia dada pelo cabo ideal. Portanto, na extremidade de cada fio,
os valores de campo eltrico no tm valores equivalentes (ou seja, so maiores ou
menores de acordo com a tendncia apresentada pelo campo eltrico do condutor ideal).
Uma vez apresentados os diversos resultados obtidos, de maneira geral, pode ser
notado que o MEF revela ser de grande auxlio ao desenvolvimento e a pesquisa do
comportamento eltrico de novas geometrias de condutores, possibilitando anlises
preponderantes, especficas ao comportamento superficial. A importncia em poder
tomar um modelo de cmputo mais sensvel realidade geomtrica das linhas uma
vantagem inerente do MEF, a qual pode enaltecer aspectos de eficincia das LTs,
conforme o caso aqui estudado.
sendo :l = 5, por este se tratar de um valor mdio comum entre solos saturados e solos
argilosos, conforme constata (PINTO, 2010). Ainda, uma vez sendo a maioria dos
materiais geolgicos diamagnticos, a permeabilidade magntica relativa considerada
unitria (9l = 1) (MOURA e SCIME, 2012).
136
(a)
(b)
Feixe B
Pos X
Pos Y
Pos X
Feixe C
Pos Y
Pos X
Pra-Raios
Pos Y
1/1
-4,98
16,42
-4,98
10,22
-4,98
22,62
-1,25
29,87
2/1
-4,22
16,42
-4,22
10,22
-4,22
22,62
1,25
29,87
1/2
4,22
16,42
4,22
10,22
4,22
22,62
4,98
16,42
4,98
10,22
35,052
4,98
22,62
Condutor &
Circuito
Posio (m)
2/2
Bitola (mm)
11,1125
137
4500
4167.45
4167.4
3500
4000
3000
2500
2000
1500
4167.35
4167.3
4167.25
4167.2
4167.15
4167.1
1000
4167.05
500
4167
-20
-15
-10
-5
10
15
-4
20
-3
-2
-1
Coord. x (metros)
Coord. x (metros)
(a)
(b)
5
-7
x 10
Solo
MEF x Medies
Erro Global (%)
MEF
CEP
8,1
4167,12
100 m
8,2
4167,14
1000 m
8,4
4167,25
3.5
3.5
Pode ser notada uma boa concordncia entre as medies e os resultados obtidos
pelo MSC e pelo MEF. observado que a considerao da resistividade do solo em muito
pouco altera os resultados para o campo eltrico obtido a 1 metro de altura do nvel do
solo. O erro presenciado para o resultado global, da ordem de 8% em todos os casos,
pode ser devido s pequenas variaes da LT real, uma vez que a topografia do solo
irregular e os valores de tenso so levemente diferentes dos valores nominais de linha.
138
Assim, quando avaliado apenas o campo eltrico mximo, este erro da ordem de
apenas 3%.
Apesar dos resultados atingidos pelo MEF demonstrarem que solos de maior
resistividade tendem a valores de campo eltrico superiores, esta diferena muito
baixa. Assim, desvios devido a outros fatores do modelo de clculo, tais como o
refinamento de malha ou o tipo de elemento utilizado na discretizao, podem imputar
erros maiores do que as diferenas observadas. Este fato serve para avaliar que a
considerao do solo como CEP pelos demais mtodos de clculo uma boa
aproximao, quando na anlise do campo eltrico a 1 metro do nvel do solo, em LTs
operando em regime permanente e em baixas frequncias.
4500
MEF (Solo CEP)
MEF (Solo 1000 .m )
4000
3500
3000
2500
2000
1500
1000
500
0
-30
-20
-10
10
20
30
Coord. x (metros)
Atravs da figura (5.44) pode ainda ser notado pelo MEF que, para um ponto de
observao a 1 metro do solo, o perfil de potencial eltrico exatamente igual curva de
campo eltrico (o potencial em V idntico ao campo em V/m). Este um resultado
condizente, esperado para qualquer LT, segundo comprova analiticamente (DENO e
ZAFFANELLA, 1982). Assim, a considerao do modelo de solo tambm em pouco afeta
os potenciais eltricos a 1 metro do nvel do solo.
Embora os resultados entre o MSC e o MEF para o campo eltrico tenham sido
similares, independentemente da considerao das resistividades do solo, este resultado
pode no ser bvio ao se considerar a medio na superfcie do solo (ou ainda abaixo do
mesmo), uma vez que o MSC necessita considerar um solo CEP (ou seja, de superfcie
equipotencial nula e com campo eltrico interior nulo). Assim o MEF tambm utilizado
139
para avaliar o campo eltrico superficial e a meio metro abaixo do nvel do solo. Este
campo tem importncia, por exemplo, na considerao de influncias em sistemas
enterrados (cabos de comunicao e dutos metlicos, por exemplo) na proximidade das
LTs.
Uma vez que os solos reais tm uma composio bastante heterognea, sendo o
valor da sua resistividade dependente dos materiais constituintes (argila, calcrio, areia,
granito, etc.), do nvel de umidade, da profundidade das camadas solo-rocha, dentre
outros fatores
tomados
atravs
daqueles
apresentados
em
(PAPAGIANNIS,
140
(a)
(b)
(c)
3500
2081.72
2500
3000
1500
1000
2081.718
2081.716
2081.714
2081.712
2081.71
2081.708
2081.706
2081.704
500
2081.702
2081.7
-30
-20
-10
10
20
30
-4
-3
-2
Coord. x (metros)
-1
(a)
4
-8
x 10
(b)
6
Coord. x (metros)
0
-20
-10
10
20
30
Coord. x (metros)
(c)
142
0.014
4
0.012
3.5
0.01
0.008
0.006
0.004
3
2.5
2
1.5
1
0.5
0.002
0
-30
-20
-10
10
20
30
-30
-20
-10
10
Coord. x (metros)
Coord. x (metros)
(a)
(b)
20
30
Figura 5.47 Anlise de Resistividade - Campo e Potencial Eltrico a Meio Metro da Superfcie do Solo
(a) Campo Eltrico; (b) Potencial Eltrico.
Diferentemente
das situaes
anteriores, pode
' 0), o comportamento preponderante ditado pela camada superior (de menor
espessura), uma vez que nesta regio o campo eltrico tende a se aproximar dos valores
dados pelos solos homogneos de condutividade da primeira camada.
Por fim, comparando-se os grficos das figuras (5.47b) e (5.46c) pode ser
percebida que houve uma variao de potencial eltrico muito pequena entre a
superfcie do solo e um ponto interior do mesmo (localizado a meio metro de
profundidade), para qualquer um dos modelos de solo considerados.
A sensibilidade atingida pelo MEF, com percepo minuciosa da influncia do
modelo de solo nos campos existentes abaixo da superfcie, tem interesse prtico em
outros estudos, tais como em fenmenos de curta (curto circuitos) e muita curta durao
(descargas atmosfricas) durao, onde os parmetros eltricos das LTs so afetados de
acordo com a frequncia do evento existente (LCIO, 2012). Modelos mais abrangentes
para tratamento destas situaes pelo MEF, as quais fogem ao escopo deste trabalho, so
apresentados
por
(TRIANTAFYLLIDIS,
PAPAGIANNIS
LABRIDIS,
1999),
144
18
18
16
16
14
12
Medio (Teixeira,2001)
10
-20
-15
-10
-5
10
12
10
MEF (Solo ~0 .m )
MSC (Silva, 2010)
14
15
20
Coord. x (metros)
4
-30
-20
-10
10
20
30
Coord. x (metros)
(a)
(b)
Pelo grfico (5.48a), pode ser percebida uma boa concordncia entre os
resultados obtidos pelo MEF e aqueles dados atravs da medio fsica da LT. O erro
global de soluo de aproximadamente 5%, com erro para o campo magntico mximo
de 6%. A diferena encontrada em relao ao MSC, porm, maior, com erro global de
aproximadamente 17%.
Pode ainda ser percebido, comparando os dois grficos, que o campo magntico
praticamente no sofre atenuao pelo solo, sendo a pequena reduo de intensidade
relacionada ao aumento de distncia em relao aos condutores da LT. Pelo MEF, pode
ainda ser percebido que a resistividade do solo no afeta o comportamento do campo
magntico em determinada altura, o que j era esperado, uma vez que, no modelo de
clculo utilizado, apenas a permeabilidade magntica aparece como parmetro fsico dos
meios materiais, e sendo considerada igual (9l = 1), tanto no solo quanto no ar.
145
45
40
MEF (Solo 1 .m )
MEF (Solo 0.1 .m )
30
MEF (Solo 1 .m )
MEF (Solo 0.1 .m )
MEF (Solo 0.01 .m )
30
25
20
15
10
MEF (Solo ~0 .m )
25
35
35
MEF (Solo 10 .m )
20
15
10
5
5
0
-30
-20
-10
10
Coord. x (metros)
20
30
0
-30
-20
-10
10
20
30
Coord. x (metros)
(a)
(b)
(a)
(b)
Mesmo que o efeito pelicular existente em cabos reais seja ainda diferente,
ocorrendo individualmente nos diversos fios existentes no interior do condutor e
minimizando os inconvenientes dados pela alta intensidade de corrente computada,
pode ser verificado que o modelo quase-esttico aplicado pelo MEF mais fiel
representao fsica real do problema. Desde que a geometria de seo transversal dos
condutores possa ser representada adequadamente, tal modelo assim importante para
mensurar as reais distribuies internas de corrente nos condutores. Esta possibilidade
tem grande interesse prtico no estudo de perdas hmicas das LTs, por exemplo.
Retomando as anlises relacionadas ao campo magntico, a prxima discusso
referente ao efeito da utilizao de modelos de solo estratificados. Para isso os
resultados de campo magntico, dados atravs do caso quase esttico, usando solos
compostos em 3 camadas, so comparados com aqueles dados por solos homogneos de
100 e 1000.m. As espessuras das duas primeiras camadas so 3,5m e 25m. Conforme
apresenta a figura (5.51), para ambas as alturas avaliadas (acima e abaixo do solo), as
distribuies de campo magntico em pouco so influenciadas, qualquer que seja o
modelo de solo adotado, desde que considerando valores de resistividade de solos reais.
147
16
17
15
16
15
14
13
12
11
10
-20
-10
-5
Coord. x (metros)
13
12
11
MEF (Solo 1000-100-500 .m )
10
14
8
10
15
20
-20
-10
-5
10
15
20
Coord. x (metros)
(a)
(b)
(a)
(b)
148
calculados tanto pelo MEF, quanto pelo MSC (SANTOS, SCHROEDER, et al., 2010), so
disponibilizados atravs do grfico da figura (5.54a). Na figura (5.54b) dado melhor
detalhamento ao campo eltrico observado nas proximidades do duto. So ainda
disponibilizados resultados obtidos para o campo eltrico calculado logo acima ( 1,15
149
metros de altura) e logo abaixo do duto ( 0,45 metros de altura) pelo MEF,
comparativamente aos resultados anteriores, a partir da figura (5.54c).
X (m)
Circuito 2
H (m)
X (m)
Feixe A
22,44
-3,1
Feixe A'
15,0
3,1
Feixe B
18,72
-3,1
Feixe B'
18,72
3,1
Feixe C
15,0
-3,1
Feixe C'
22,44
3,1
Para-Raios
H (m)
X (m)
Duto
H (m)
X (m)
Pr1
24,8
-1,75
0,5
15,0
Pr2
24,8
1,75
MSC (Santos,2010)
MEF
700
MSC (Santos,2010)
MEF
700
600
Circuito 1
500
400
300
200
100
600
500
400
300
200
100
0
-25
-20
-15
-10
-5
10
Coord. x (metros)
(a)
15
20
25
12
13
14
15
16
17
Coord. x (metros)
(b)
150
800
MSC (Santos, 2010)
MEF - 1m
MEF - 1.15m
MEF - 0.45m
700
600
500
400
300
200
100
0
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
Coord. x (metros)
(c)
de maneira contnua, tal fato origina as variaes percebidas, que tem relao direta com
a quantidade e posicionamento das cargas simuladas na representao do duto.
A partir da figura (5.54c) pode ser percebido que, pelo MEF, o campo eltrico na
parte superior do duto sofre um grande aumento, enquanto que, na parte inferior o
mesmo bastante reduzido. Este resultado assim condizente ao esperado, uma vez que
as cargas eltricas no duto tendem a se distribuir de modo a reagir ao campo eltrico
externo incidente, provocado pelos condutores da linha. Desta forma o tratamento
realizado pelo MEF tido a partir de consideraes fsicas mais consistentes, as quais
no apenas consideram as dimenses geomtricas reais do duto, mas tambm permitem
considerar de maneira apropriada as propriedades do material constituinte.
Para demonstrar a melhor interpretao fsica da situao analisada, a figura
(5.55) ilustra os resultados obtidos pelo MEF para o campo e potencial eltrico
superficial do duto, alm de mostrar a distribuio de campo eltrico em toda a regio
ao redor do duto, com vista s intensidades e curvas de campo.
0.6
5000
4000
0.4
3000
2000
0.2
-0.2
1000
-0.4
0
50
100
150
200
Coord. Theta (Graus)
250
300
350
(a)
50
100
150
200
Coord. Theta (Graus)
250
300
350
(b)
(c)
152
H (m)
X (m)
Circuito 2
H (m)
X (m)
Feixe A
26,0
-8,8
Feixe A'
8,0
8,8
Feixe B
17,0
-8,8
Feixe B'
17,0
8,8
Feixe C
8,0
-8,8
Feixe C'
26,0
8,8
Para-Raios
H (m)
X (m)
Duto
H (m)
X (m)
Pr1
34,0
0,5
15,0
153
9000
8000
6000
MSC (Ismail,2007)
MEF
7000
7000
6000
5000
4000
3000
5000
4000
3000
2000
2000
1000
1000
-25
-20
-15
-10
-5
10
15
20
0
12
25
13
14
15
16
Coord. x (metros)
Coord. x (metros)
(a)
(b)
18
10000
17
8000
6000
4000
2000
0
13
14
15
16
17
18
Coord. x (metros)
(c )
154
Pela figura (5.56c) pode ser novamente percebido que pelo MEF, o campo eltrico
na parte superior do duto sofre grande aumento, enquanto que, na parte inferior o
mesmo sofre uma reduo acentuada.
Pelo MSC, apesar de no serem verificados os aumentos do valor de campo
eltrico em uma altura de 1 metro do solo, nas imediaes do duto, a anlise do campo
externo superficial do duto, disponibilizada por (ISMAIL, 2007), reafirma a coerncia do
comportamento de campo descrito pelo MEF. Esta informao est disponibilizada
atravs da figura (5.57), demonstrando conjuntamente os resultados atingidos pelo MEF
e pelo MSC.
No caso do MEF duas situaes so consideradas: a primeira atravs de um duto
sem revestimento constitudo de ao e com superfcie externa equipotencial nula; e a
segunda atravs de um duto real, constitudo por uma camada interna de ao (aterrada)
e outra camada de revestimento externo. O duto real apresentado na figura (5.58),
juntamente da malha de elementos simulada. O revestimento considerado com sendo
155
1.6
Coord. Y (metros)
1.4
1.2
1
0.8
0.6
0.4
14.2
14.4
14.6
14.8
15
15.2
Coord. X (metros)
(a)
15.4
15.6
15.8
(b)
Isto
obviamente
pode
favorecer,
tanto
tecnicamente,
quanto
156
(a)
(b)
(c)
157
250
350
300
250
200
200
150
150
100
100
50
50
0
-20
-10
(a)
10
20
30
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
(b)
Captulo 6 Concluso
159
1.
Considerao dos Cabos Para-Raios: embora tenha sido avaliado que na maioria
das situaes os cabos para-raios em muito pouco afetam o campo eltrico ao
entorno da LT, constatado que aqueles condutores de fase mais prximos dos
cabos para-raios podem alcanar desvios relevantes no campo eltrico superficial. A
considerao dos cabos para-raios pelo MEF no acarreta nenhuma dificuldade,
enquanto o mesmo correntemente desconsiderado na grande maioria de tcnicas
analticas e semi-analticas encontradas na literatura.
2.
160
3.
4.
161
2.
3.
Estudo algbrico para tratamento e soluo dos sistemas matriciais finais obtidos
pelo MEF. Conforme discutido no tpico D-1 do apndice D, os sistema obtidos tm
grande nmero de condicionamento, gerando instabilidades numricas nos
resultados. Tratamentos mais adequados podem ser dados considerando o uso de
pr-condicionadores e de mtodos iterativos no estacionrios na soluo destes
sistemas, favorecendo ainda mais a eficcia e eficincia do MEF nesta classe de
problemas.
164
165
166
_6
_E
cos<1 5 g?
(A.1a)
(A.1b)
que gira no plano complexo com uma velocidade constante 1, como representado
(a)
(b)
168
Por ser um vetor no plano complexo, definido apenas no instante t=0, o fasor
pode ser representado por um valor complexo dado atravs das seguintes formas
equivalentes, as quais so advindas da aplicao da formula de Euler em ondas senoidais
(PEREIRA, 2012):
=
Notao Cartesiana
(cos(g) + sen(g))
=
Notao Exponencial
Notao Polar
(A.2a)
CG
(A.2b)
(A.2c)
Assim, a onda senoidal de tenso da equao (A.1) pode ser associada projeo
do fasor
no eixo real:
( ) =
CG CDE
CDE
(A3)
campos gerados por cada condutor assumem um vetor resultante que a cada instante
ter diferentes intensidades e direes. Graficamente, isso representado por um vetor
que gira em um plano em torno do ponto, descrevendo um campo polarizado
elipticamente, como representado na figura (A.2) (DENO, 1976) (MILUTINOV, JUHAS e
PRSA, 2009).
Assim, o campo eltrico em cada ponto do espao um vetor dependente do
tempo e descrito mediante suas componentes espaciais, como representado:
E
E <t? x 5 E <t? y
(A.4)
B <t? x 5 B <t? y
(A.5)
direo ' ou ( , dada pela contribuio fasorial de cada um dos condutores, gerando
um campo final elipticamente polarizado.
170
# ] xa + # ]
(A.6)
(A.7)
Este valor eficaz medido para o campo eltrico de uma LT, em um dado ponto,
dependente da tenso nominal da linha (quanto maior a tenso, maior a intensidade
medida) e da configurao geomtrica da linha e do arranjo dos subcondutores de fases,
os quais influenciam a taxa de decaimento da intensidade de campo, em funo da
distncia em relao linha, nas variadas direes. A presena de objetos prximos, tais
como rvores, cercas, casas, ou estruturas metlicas, atenuam e alteram o campo
eltrico local. Ainda, o valor do campo eltrico eficaz medido constante ao longo do
tempo, uma vez que este uma funo dependente da tenso de linha (a qual uma
caracterstica fixa), e independente da corrente (KUSTER, 2011).
J para o campo magntico, em um dado ponto ao redor de uma LT, o valor eficaz
medido dependente da corrente de linha (quanto maior a corrente, maior a
intensidade medida). Assim o valor da intensidade de campo magntico eficaz no
constante ao longo do tempo, uma vez que mudar de acordo com as variaes das
cargas conectadas LT, que no so fixas e dependem dos consumidores. Como no caso
do campo eltrico, este valor tambm igualmente afetado pela configurao
geomtrica da linha e do arranjo dos subcondutores de fases, os quais influenciam a taxa
171
172
resistncia mecnica. Assim, os cabos reais tm decorrncias baixas de perdas por efeito
pelicular (OLIVEIRA, 2011).
Sendo
r~ r
)
s 1s
B /
(A.8)
Figura A.3 Condutores Suspensos Entre Torres com Altura de Solo Varivel
174
S
SUw
S
SUw
= yx
+
}
V '( = 0
S' S' S( S(
(B.1)
e um campo vetorial
qualquer,
(B.2a)
(B.2b)
Assim:
175
S
SUw
S
SUw
SUw Syx
= yx
S'
S'
S'
S'
S' S'
yx
S
SUw
S
SUw
SUw Syx
}
= yx }
}
S(
S(
S(
S(
S( S(
yx
(B.3a)
(B.3b)
%& i
(B.4)
S
SUw
SUw
yx ' ( = yx %&
S'
S'
S'
t
S
SUw
SUw
yx } ' ( = yx } %&
S(
S(
S(
t
(B.5a)
(B.5b)
Syx SUw
Syx SUw
+ }
'( + yx
S' S'
S( S(
t
%& yx b '( = 0
(B.6a)
Sendo,
=
SUw
SUw
'& + }
(&
S'
S(
(B.6b)
176
(B.7a)
(B.7b)
(B.7c)
1
<'] ( / ' (] ? Uw\ 5 <' (\ / '\ ( ? Uw]
2
5 <'\ (] / '] (\ ? Uw
(B.8a)
1
<(] / ( ? Uw\ 5 <( / (\ ? Uw] 5 <(\ / (] ? Uw
2
(B.8b)
177
1
(' '] ) Uw\ + ('\ ' ) Uw] + ('] '\ ) Uw
2
(B.8c)
\
]
1 '\
1 ']
1 '
(\
\
(] = [((] ( )('\ ' ) ( ( (\ )(' '] )]
]
(
(B.8d)
U = z yC (', () UwC
C{\
(B.9)
1
[('] ( ' (] ) + ((] ( )' + (' '] )(]
2
1
[(' (\ '\ ( ) + (( (\ )' + ('\ ' )(]
2
1
[('\ (] '] (\ ) + ((\ (] )' + ('] '\ )(]
(B.10a)
(B.10b)
(B.10c)
1, ~ =
0, ~
z yC (', () = 1
C{\
(B.11)
(B.12)
178
\ 5 ] x 5 x 5 x 5 x x 5 x
]
(B.13)
179
Uw = z yC (, ) UC
(B.14)
C{\
y (, ) = (2 1)
y (, ) = 4
y (, ) = (2 1)
y (, ) = 4
(B.15a)
(B.15b)
(B.15c)
(B.15d)
(B.15e)
(B.15f)
= 1
As funes de forma apresentam as mesmas propriedades dadas pelas relaes
(B12a) e (B12.b), que podem ser graficamente representadas pela figura (B.3). Assim, as
mesmas valem 1, quando associadas ao n correspondente, decrescendo
quadraticamente, at serem nulas, na aresta oposta a este n (OLIVEIRA, 1990).
180
181
Syx SyC
Syx SyC
z
+ }
' ( UC = yx b ' (,
S' S'
S( S(
C{\
| = 1,2,3,4,5,6
(B.16)
S
S
=
Sy
S'
C
S
S
Sendo a matriz [ J ]]
S( SyC
Sy
S S'
S'
[ J ]
=
Sy
S( SyC
C
S S(
S(
(B.17)
S
[ J ] =
S'
S
S(
'] '\
=
' '\
S(
S
(] (\
( (\
(B.18)
182
SyC
SyC
SyC
1
= [ J ]],]
[ J ]\,]
||
S'
S
S
SyC
S(
(B.19a)
SyC
SyC
1
[ J ]],\
+ [ J ]\,\
||
S
S
(B.19b)
Os termos das derivadas das funes de forma (B.15), nas coordenadas naturais,
so obtidos como (OLIVEIRA, 1990) (JIN, 2002):
1 4
=
1 4
Sy
\
S
yC =
Sy
\
S
4( )
4
Sy]
S
Sy]
S
4 1
0
4
4
Sy
S
=
Sy
S
0
(B.20)
4 1 4( )
Usando as expresses (B.19), pode ser obtido tambm, como demonstra (JIN,
2002), que:
S'S( = ||SS
(B.21)
Assim, a equao (B.16) pode finalmente ser reescrita sob a seguinte forma
matricial:
[ ]U = V
(B.22a)
183
xC
=
B
SyC
SyC
1
Syx
Syx
[ J ]
[ J ]
[ J ]
[ J ]
],]
],]
+
\,]
\,]
||
S
S
S
S
( [ J ]\,\
SyC
SyC
Syx
Syx
[ J ]],\
[ J ]],\
[ J ]\,\
S
S
S
S
Vx
=
B
yx b ||
(B.22b)
(B.22c)
E sendo,
U = U\ U] U U U U .
(B.22d)
185
186
187
188
189
Esta seo apresenta informaes sobre a gerao das curvas de campo atravs
dos resultados obtidos pelo MEF. assim explicado como os resultados discretos
obtidos permitem gerar curvas contnuas, conforme os resultados apresentados no
captulo 5. So tambm dispostos alguns grficos adicionais, antes omitidos.
190
4600
4400
4200
4000
3800
3600
3400
3200
3000
2800
-20
-15
-10
-5
10
15
20
Coord. x (metros)
(a)
(b)
4600
4600
4400
4400
4200
4000
3800
3600
3400
3200
4200
4000
3800
3600
3400
3200
3000
3000
2800
2800
-20
-15
-10
-5
Coord. x (metros)
10
15
20
-15
-10
-5
10
15
20
Coord. x (metros)
(c)
(d)
191
14.2
14
13.8
13.6
13.4
13.2
13
12.8
12.6
12.4
0
50
100
150
200
250
300
350
(a)
(b)
14.2
14.2
14
14
13.8
13.6
13.4
13.2
13
12.8
13.8
13.6
13.4
13.2
13
12.8
12.6
12.6
12.4
12.4
12.2
0
50
100
150
200
250
300
350
50
100
150
200
250
300
350
(c)
(d)
192
MIS
MEF
14.8
MIS
MEF
14.6
14.4
14.2
14
13.8
13.6
13.4
13.2
14.5
14
13.5
13
13
12.8
50
100
150
200
250
300
50
350
100
150
(a)
250
300
350
(b)
16.5
MIS
MEF
MIS
MEF
15.5
16
200
15.5
15
14.5
14
15
14.5
14
13.5
13.5
50
100
150
200
250
(b)
300
350
50
100
150
200
250
300
350
(c)
193
MIS
MEF
MIS
MEF
15.5
14.5
15
14.5
14
14
13.5
13
13.5
13
50
100
150
200
250
300
50
350
100
150
200
250
300
(d)
(e)
MIS
MEF
14
15
13.5
13
MIS
MEF
12.5
50
100
150
200
350
250
300
14.5
14
13.5
13
350
50
(f)
100
150
200
250
300
350
(g)
Pode ser percebida uma grande concordncia entre os resultados obtidos para o
campo eltrico superficial, atravs dos mtodos distintos.
194
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
14
13.5
13
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
15.5
14.5
15
14.5
14
13.5
12.5
50
100
150
200
250
300
50
350
100
150
200
250
300
350
(a)
(b)
15
14
14.5
14
13.5
13
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
12.5
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
13
13.5
12.5
50
100
150
200
250
300
50
350
100
150
(c)
250
300
350
(d)
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
15
15.5
200
15
14.5
14
13.5
13
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
14.5
14
13.5
13
12.5
50
100
150
200
250
(e)
300
350
50
100
150
200
250
300
350
(f)
195
15
14
13.5
13
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
12.5
50
100
150
200
250
300
350
(g)
14.5
14
13.5
MIS - sem PR
MEF - sem PR
MEF - com PR
13
50
100
150
200
250
300
350
(h)
Figura D.4 Campo Eltrico Superfcial Com e Sem Para-Raios LT 500kV Furnas
a) Condutor 1 - Feixe A; b) Condutor 2 - Feixe A; c) Condutor 3 - Feixe A; d) Condutor 4 - Feixe A; e)
Condutor 1 - Feixe C; f) Condutor 2 - Feixe C; g) Condutor 3 - Feixe C; h) Condutor 4 - Feixe C
196
197
2012). Assim, quando transmitindo uma potncia prxima ao valor da sua potncia
natural, praticamente toda a potncia reativa gerada pela linha consumida pela
prpria linha, elevando o transporte de potncia ativa, reduzindo as quedas de tenso ao
longo do sistema, e minimizando problemas de estabilidade da LT (REGIS JR., DART e
CRUZ, 2009).
A potncia natural pode ser expressa por meio da tenso nominal (
impedncia de surto (!" ) da linha, conforme a equao (PEREIRA, 2012):
ih! =
!"
d)
e da
(E.1)
(E.2)
198
cada um dos % elementos, o clculo da indutncia por fase (L) pode ser
199
1
k = & z $ ($ #$ ]
2
(E.3)
${\
!=
2k
3 ]
(E.4)
$)
fase para o neutro (C) pode ser obtida atravs da quantificao da energia mdia (k )
armazenada no campo eltrico (SADIKU, 2000) (DIAS PINTO, COIMBRA, et al., 1998):
a
1
k = & z $ :$
2
${\
(E.5)
2k
d
neutro de linha.
(E.6)
d
a tenso fase-
200
corona, sendo, portanto, apropriado tomar uma considerao mais realstica para os
formatos geomtricos no modelo de clculo.
Uma breve discusso aqui realizada acerca da evoluo tecnolgica dos cabos
condutores das linhas, com foco especial aos formatos geomtricos estudados: cabo
tradicional com alma de ao (ACSR) e cabo compacto do tipo Trape Wire (TW).
atendendo
demandas
especficas,
possibilitando
projetos
economicamente mais viveis. Assim, cabos com geometrias especiais e/ou compostos
por novas ligas metlicas, possibilitaram atingir melhor eficincia de transmisso, com
diminuio do peso e de vibraes mecnicas, e ainda com aumento de vida til (melhor
desempenho contra corroso).
Um exemplo dessa evoluo dado atravs dos condutores compactos com fios
concntricos em forma trapezoidal (Trape Wire - TW), que tm utilizao crescente nos
sistemas de transmisso atuais. Enquanto nos condutores tradicionais, dados por
agrupamentos de fios circulares, os espaos vazios representam mais de 20% do total da
rea de sesso reta, nos condutores compactos TW este percentual chega a ser menor do
que 5%. Tal fato permite aumentar a capacidade de transmisso atravs da melhoria da
201
(a)
(b)
203
(F.1)
(F.2a)
204
4 = j8I
(F.2b)
(F.2c)
(F.3a)
(F.3b)
A nica quantidade fsica mensurvel nas LTs a corrente total fluindo atravs
dos condutores. Logo, sendo I e 4) as variveis desconhecidas, este sistema pode ser
(F.4)
205
(', () = z yx (', ()
(F.5a)
(F.5b)
x{\
x{\
seguinte forma:
1 % | % |
y) x = /
0 | ~ % | ~
(F.6)
206
magnticos. A forma fraca da soluo pode finalmente ser aplicada atravs do MEF,
K + jT
jq
jq
0
=
j b)
h
(F.7a)
(F.7b)
xC
O vetor coluna
locais do elemento :
= yx yC ' (
(F.7c)
(F.7d)
\ a4
(F.7e)
207
5x = yx ' (
(F.7f)
b)
) 6
=
j
(F.7g)
(F.7h)
Apesar dos termos h no poderem ser calculados isoladamente (uma vez sendo
total fluindo na seo transversal deste. Assim, aps avaliao de todos os elementos
presentes no domnio, um sistema algbrico final pode ser obtido, conforme dado:
K + jT
jq
Neste sistema, o vetor coluna
jq
=
j b)
h
(F.8a)
(F.8b)
208
Pode ser percebido que a primeira parte da equao matricial (F.8a) corresponde
xC
de
dimenso
%%',
dada
pela
contribuio
dos
termos
5x
de dimenso '%%. Por fim, segunda parte da equao matricial (F.8b) equivalente a
uma submatriz diagonal de dimenso ', dada pelas reas de seo transversal dos
condutores.
especfico das fronteiras fictcias), a soluo do sistema de equaes (F.8) permite assim
obter os potenciais magnticos em todos os ns do domnio e as densidades de corrente
de conduo no interior de todos os condutores. Logo, posteriormente a soluo do
sistema matricial, os campos magnticos, as densidades de correntes parasitas induzidas
no solo ou em objetos presentes na faixa de passagem, e as densidades de correntes
totais nos condutores do domnio podem ser calculadas, respectivamente, atravs da
aplicao numrica das equaes (3.16), (F.2c) e (F.2a), avaliadas em cada um dos
elementos do domnio.
209
Referncias Bibliogrficas
211
212
H.;
TAKAGI,
T.;
SAITO,
Y.
Magnetic
Currents
Representing
214
Fields
Below
Overhead
Transmission
Lines
and
Their
in
MATLAB.
Matlab
Digest.
Disponivel
em:
215
216
217
P.;
ISARAMONGKOLRAK,
A.;
KULWORAWANICHPONG,
T.
Electromagnetic Field Distribution of Phase-sequence Orientation of a DoubleCircuit Power Transmission Line Based on Finite Element Method. WSEAS
Transactions on Power Systems, v. 3, n. 10, p. 653, Outubro 2008. ISSN 1790-5060.
219
220
221
222
224
225