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CONFIABILIDAD DE LA ELECTRNICA DE
POTENCIA
Byron Bravo Granda
bbravog@est.ups.edu.ec
UNIVERSIDAD POLITECNICA SALESIANA

ResumenIn this paper we discuss and analyze issues in

order to obtain a power control which is reliable and in turn
we can control in times well exceeding the expectations of
power semiconductor components we already have. It is this
work so discuss several important points such as the lifetime
of components and discuss the challenges of power electronics to
overcome these.
Index TermsSemiconductor, Confiabilidad, Electrnica de
potencia.

I.

I NTRODUCCIN

Desde que se dio a conocer la aparicin del tiristor en

1957 la electrnica de potencia a evolucionado de manera
increble y se ha expandido en otras aplicaciones importantes.. El rendimiento de los sistemas electrnicos de potencia,
especialmente en trminos de eficiencia y densidad de potencia, se ha mejorado de forma continua por la tecnologa
de integracin de sistemas, de investigacin intensiva ,los
avances en topologas de conexiones, sistemas de control, los
semiconductores, componentes pasivos y los procesadores de
seales digitales. Los sectores de la industria y la energa se
estn dedicando a la mejora de los sistemas electrnicos de
potencia para dar cuenta de fiabilidad con soluciones rentables
y sostenibles.
II.

M ETODOLOGIA

Leer y analizar sobre la confiabilidad de los elementos

de la electrnica de potencia.
Conocer como reparar los errores que presentan dichos
dispositivos y tratar de hallar una solucin.
Analizar los puntos mas relevantes en la confiabilidad de
realizar componentes que sean mejores.
III.

R ESPUESTAS DE LAS PREGUNTAS SOBRE EL

ARTICULO LEDO

III-A. Cual es el propsito de la confiabilidad en los sistemas

de potencia?
El propsito general de la confiabilidad radica en reducir
los fallos en los sistemas, tanto as que las Industrias han
avanzado mucho a lo que se refiere a pruebas tradicionales del
DFR(diseo para la confiabilidad) y a su ves este es controlado

por un sistema que asegura que se consiga un buen nivel de

confiabilidad en los componentes [1].
Pero como se puede esperar esta confiabilidad tiene algunas
limitaciones las cuales son [1]:
La falta de enfoque sistemtico DFR que especfica el
diseo de sistemas electrnicos de potencia.
La dependencia excesiva en el valor calculado de tiempo
medio hasta el fallo ( MTTF ) o de tiempo medio entre
fallos ( MTBF ) y la curva de la baera.- Se debe tenenr
en cuenta que el MTTF y el MTBF son tasas de fracaso
constante y sin desgaste natural.

III-B. Es posible determinar la vida til de un elemento

semiconductor del sistema de potencia?
Basado en el articulo la posibilidad de determinar la vida
til de un semiconductor puede analizare en lo que se llama
Confiabilidad de Prediccin Herramientas el cual nos permite
ver la confiabilidad del instrumento y cuantificar el tiempo de
vida. La temperatura y el ciclismo son los principales factores
de tensin que afectan el rendimiento. Por lo tanto, la fiabilidad
de cada componente individual crtico se predice considerando
cada uno de sus mecanismos asociados crticos de falla[1].
Es necesario recurrir a varios parmetros para poder analizar
que tiempo nos durara el semiconductor tales como tensin,
corriente, temperatura, ciclos de temperatura y la humedad.
Tambin se puede analizar este factor mediante los coeficientes
de expansin trmica de diferentes materiales en los mdulos
IGBT ya que son diferentes, lo que lleva a subrayar la
formacin en el embalaje y la degradacin continua con cada
ciclo hasta que falla el material y para poder definirlo se
requiere un modelo aplicado el cual es
m

N = k (4T 4To )

Donde k y m son constantes determinadas empricamente

y N es el nmero de ciclos hasta el fallo. 4T es el rango de
ciclo de temperatura, y 4TO es la porcin de 4T en el rango
de deformacin elstica [1].

III-C. Que consideraciones pueden garantizar a futuro la

existencia de sistemas confiables en la electrnica de potencia?

V.

B IBLIOGRAFA

El trabajo conjunto de los ingenieros de electrnica de

potencia, los ingenieros de confiabilidad, y los cientficos de
fsica permitirn una mejor comprensin de los componentes
y las condiciones especficas a las que estn expuestos. Pero
tambin existen mtodos que permitirn mejorar la confiabilidad durante el diseo, la prueba y la operacin de los mismo
sistemas de potencia los cuales son [1]:
Reduccin de potencia inteligente de los componentes
electrnicos de potencia y gestin de la carga.- permite
relacionar la tasa de fracaso con el margen del diseo para la reduccin de potencia de los materiales en trminos
de costo y de confiabilidad.
Tolerancia en los fallos del diseo.-consiste en el diseo
de redundancia , el aislamiento de fallos , deteccin de
fallas y reparacin en lnea . En el caso de un fallo
de hardware , la unidad redundante sera activado para
reemplazar lo que ha fallado durante el intervalo de
reparacin.
Prueba de lmites muy acelerado ( HALT ).- Es un tipo de
mtodo de anlisis cualitativo para encontrar deficiencias
en el diseo y ampliar los mrgenes de robustez de diseo
con el mnimo nmero de unidades de prueba requeridos
en la cantidad mnima de tiempo.
Control de potencia reactiva y la modulacin trmica optimizada.-la carga trmica de los dispositivos de
conmutacin en convertidores electrnicos de potencia
se pueden mejorar mediante esquemas de modulacin
modificados de control de potencia reactiva.
IV.

C ONCLUSIONES

Los semiconductores de potencia han ido evolucionando

mucho como podemos apreciar en las distintas descripciones de como funcionan, podemos encontrar mediante
una formula bsica su tiempo de vida comercial, pienso
que es un aporte importante en la Ingeniera por que facilitara los costos de estos componentes con una segura y
muy buena confiabilidad del elemento que necesitaremos
utilizar.
Ademas con los avances en materiales semiconductores,
las tecnologas de envasado, y tecnologas de condensadores de pelcula, se espera que la confiabilidad de
los dispositivos de conmutacin activos y componentes
pasivos mejoraran contribuyendo as al avance cientfico.
R EFERENCIAS
[1] H. Wuang, M. Liserre and F. Blaabjerg. Toward Reliable Power Electronics: Challenges, Design Tools, and Opportunities. IEEE Industrial
Electronics Magazine

Byron Bravo nacio en Guayaquil - Ecuador el 30 de Abril de 1992,

estudi en la escuela Andres Cedillo Prieto ciudad de Machala, en el ao
2009 se gradu de bachiller Tcnico Industrial en electrnica de Consumo
en el colegio Intituto Tecnologico El Oro, actualmente Estudiante de Ing.
Electrnica en la Universidad Politcnica Salesiana