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ENSEANZA
ENERO
2000
Insrillllo de Investigat'iollt's
El advenimiento de la microscopa electrnicn ha cambiado nuestra comprensin en torno a ct"lmo est constituida la materia. Esto ha
lllnoitlcado profundamente el campo de la investigacin en 1;;1ciencia de materiales. particularmente dehido ti la posihilidad dc ohtener
f()to~mfas del interior de la materia. Para interpretar algunas caractersticas dc las im~g.el1csde microscopa clcl:trnica dchcmos tener al
menos una idea rudimentaria de cmo se formaron stas. En csla nota elementalusalllOS ideas familiares cn ptica clsica para describir la
formacin dc imf!cncs en los microscopios electrnicos. Nuestro intcrs estl en hacer nfasis cn a..pcclOs fsicos. cualitativamentc. en el
proccso de fOrJllilcin de imgenes particularmente en un microscopio clcclrniro dC'transmisin, Aunque se ha incluido buena cantidad de
u"tos. csta nola est dirigida a quienes quieran cOllocer las ideas bsicas ueltcma. m(s que a expertos cn la materia.
lJl'JcriptoreJ: f\.1icroscopio electrnico de transmisin; imagen; formacin de im<gcncs: invcstigacin en cicnciil de materiales
'fhe advcnt of c1cctron micrnscopy has changed our understanding ahout ho\'/ mallcr is constituted. It has deeply modified the field of
materials sccncc research. cspccially because Ihe possibilily of taking photogrnphs from the interior of a matcrial. Howcvcr. in on.!er to
interprct SOIllCreatures in imagcs taken with an elcctron microscopc we must llave al Icast nn clcl11entary iden ahout how thm imagcs were
gener\ted. It is cspecially tfUe when we start 10 Icrn diffrnction techniqucs. In this elementary note we use familiar ideas in c1assical
opli('s to dcscrihc imaging formation in e1ectron microscopcs. OUT intcrest ies in to cmphasilc qualitJlively physical aspc(ts particularly
in thc imaging process of a transmission ec(tron microscopc. Although wc have incluoed ccrtain alTlount 01' u~cful tlatn. this note is rather
dedicatcd to no cxpcricnced pcoplc who want to know the hasic ideas 01'thc sllhjecl.
';l'.\'Imrd.~:
1. Introduccin
Una de las funciones ms importantes
en nuestra actividad
diaria consiste en establecer las diferencias
que nos permitan asignar el uso adecuado a los objetos que nos rodean: un
automvil. una computadora.
una flor. un pequeo artefacto
de lahoratorio.
Utilil.amos
un microcircuito.
nuestros
sentidos
etc.
en un primer
intento
para
ohtener informacin
de o acerca de los ohjetos que estn a
Ilucstro alrcdellor. En este proceso cognoscitivo
nuestnls (Jjl)S
juegan un papel estelar. Lo primero que hacemos es poner en
nuestro campo visual el o los ohjetos de nuestro inters. Aunque seguramente
no siempre nos preguntamos
qu es lo que
ocurre cuando miramos ti ohservamos
un ohjeto? o ,qu es
lo que involucra el proceso de percatarse de que ah hay un
ohjeto con tales o cuales caractersticas?
Si nosotros ohservamos
un ohjeto con nuestros ojos. en
forma directa () ayudados con algn instrumento.
10 que realmente vemos no cs el ohjeto en s mismo. sino lo que percihimos. es decir. lo que nuestro cerebro registra es una imagen
de ese ohjeto 111. De todos modos nadie podr negar el valor
descriptivo de una imagen. pues se dice que la imagcn de un
ohjeto frccuentcmcnte
supera, con mucho. cualquier descripcin verbal o escrita dcl mismo.
Sera maravilloso
poder ohtcner toda la informacin
ferente a un ohjeto usando nicamente nuestros sentidos.
reSin
A IIUANOSTA.TERA
OJO
2.2. Ell'ontraste
Fl(jllRA
2. La microscopa ptica
2.1. La utilidad 11('la i1ulIlinaci()1l
.Cmo nos damos cuenta de que algo est frente a nosotros'!
11rtlhahlemcIllc el hecho cotidiano. con frecuencia descuidado, dcl uso dc nucstros ojos hace que restemos importancia
n:speclo al vehculo que usamos para .'ver". Conviene sel
l.ollscientes del pr{lceso que implica el percatarse. a travs de
la vist.:l..de la prcsencia de objetos. Es decir. la formacin de
imjgellcs en nuestro cerehro.
El ojo tienc una k'nte. cl cristalino, que forma imgenes
reales en una superlicie sensihlc a la luz, la rClina. El crisl:lIill(l es una lellle maravillosa. es flexihle y puede cambiar
"LJdistancia focal a voluntad o por requerimiento externo, lo
cual le permite enfocar casi instant:ncilmente los ohjetos. Su
ndice de refraccin esti.l en el intervalo 1..106-1.3S8. El ojo
l'S sensihle i.ll<)n~iIUdesde onda normalmcnte enlre 3DO 11m
y 7:'0 nm. aunque se sahe que hay ojos que pueden caplar
long iludes de onda [21 desde 310nm hasta lOOnlll.
Si hacemos la ohservacin utilizando simplemente la IU/.
..;olar.entonces la energa luminosa que incide sohre el ohjeto L'''' di"'persaL!aen todas direcciones formando un complejo
campo dc radiacin. cuya distrihucin cspaci.:l.lcontendr1 toda la informacin acerca del ohjeto (Fig. 1). Se puede decir
que la radiocin luminosa dispersada transfiere, en forllla coditicada. la informacin del ohjclo hacia la imagen que se
ha de formar en lluestra retina. Esto significa quc aunqul' l'I
palrtlll de radial.n dispersada pueda Sl'r lllUYcomplicado rl'allllelllc no L'Scatico ni azaroso. puesto que la dislribudn
de intensidad dispersada est estrictamcnte determinada por
l'I ohjeto. Entonces, el proceso de percepcin visual, o la posihilidad dc formar la imagen dc un ohjeto mediante alglin
disposilivo, lrae atada principalmcnle la cucstin: ,cmo se
Iranslicre la informacin dc un objeto a su imagen'!
R('\: Me,\.
r . ..t6 (1)
Un par<metro ttil para evaluar el comportamiento de un sistema formador de imgcnL's es el contraste. El lrmino "contrastc" se reflerc a la t.liferellcia en inlensit.lad que hace que
una parte dc la imagen SC.:l.dislinguible de la intensidad dc
fondo. Las regiones que sc aprecien ms claras, o brillantcs,
de un ohjeto que est siendo irradiado con luz natural, simplemcnte renejan el hecho de que. desde esa posicin. e! ohservador eslt apreciando mayor cantidad dc fotoncs dispersados
en esas n:gioncs. En cambio aqucllas zonas del ohjeto que no
se aprecien o que se vcan francamente ohscuras, rcnejan el
hecho de que la luz ljue llega a cSlSregiones se dispersa en
otras direcciones o es ahsorbida por el objeto. slC es e! origen del contraste. Por otra p:lrte. si el ohservador camhia de
posici6n. entonces camhia e! ngulo de ohservacin y seguramente camhiaT<n las caracterslicas de la imagen ohservada. simplemente porque scr~ otra la distrihucin de intensidad dispersada y/o ahsorhida que se pueda apreciar desde su
nueva posicin. En csta ltima IlTin el ohservador cslara
eligicndo qu informacin recihir y cul no.
Es hueno rl'conocer que "ielllpre scri.necesario usar algn
tipo de instrumento para dctectar una imagen. aun en el caso dcl ojo humano. Finalmcnlc, la retina del ojo es un inslrumenlo de dcteccin. Otros L.OJllpOnentesplicos tambin
pueden scr considerados como importantes en el proceso Je
fonnaci<n de im:lgcncs: el cristalino. lentes. espejos, prismas. etc.
Desde lucgo que. en un illtento de ani.lisis completo del
proceso de formaci6n de imgencs. resultar~ de suma uli lidad
descubrir y cOlllpn:ndcr los efectos que tcndT<nestos componentes ptkos cn el proces() de transferencia de informacin
de! ohjeto a la imagen. Hahlamos, desde luego, lk prdidas
oc cnergaluminosa, pnKcs:lmicnto .'defectuoso" de la informacin, que podra re."ullar cn adicin. presencia espuria o,
tamhin, prdida dc illforlllaci()n.
La leora moderna de funciones de transferencia. en el
proceso dc formacin de imi.genes y sistemas formadores de
las mismas. funciona oa.io la idea Je transferencia lIe informacin del ohjcto hacia su imagen y lIe cmo se pueJe distorsionar cll.olltcnido dc la informacin en el proceso de transferencia. Se puede decir que una funcin de transferencia cs
Ulla descripcin matemi.tica de la forma en la cual la informacin es lIlodilicada Ul1ll0 clll'rga radiante !' es transferilla
del ohjcto a la imagell 13].
2.J. La hll. ~.la ptil'a d:.sil'a
I.a IU/. posee naluraleza electromagntica y se comporta con
canctcr tic llllda-part cula. Esta admirahlc dualidaJ ha sido el
COOO)
l)
1-1 o::!
EL ABC DE LA FORMACiN
DE IMGENES EN UN ~lICR()scell'l()
f~".
: ""'::"
-----.1....-.
PiC,URA
2. Fornl3n de imtigenes. real y virtual, con una lente
c1;sil:apositiva.
el ohjeto de amplsimas investigaciones desdc finalcs del siglo XIX. Aunque aqu no se discutirn estos aspectos. s dircmos que lit manifestacin ondulatoria cst presente en la
ptica cl<sica de manera insistentc. Manejamos como ptica
c1i.sicageomlrica aquella quc utilila en todo su formalismo
lllliL.alllclltc haces de luz comn. formada por fotones. cu~ti movimiento ondulatorio asociado oscila a frecuencias dc
0.-1 x 101."; a I x lOI~J Hl. Olras caractersticas bien conocidas dc la IULson: que su velocidad cs una de las conslantes
universales m.s conspicuas. 3 x 1010 cm/seg. y que las ondas que la forman ohedeccn el principio de superposicin.
La iJca que encicrra este principio cs. por una parte. que las
ondas quc viajan en cualquier medio interactan entre ellas.
Por otra parte, que en cualquier expcrimento de interferencia ondulatoria la onda resultante en un punlO del espacio es
la suma dc los movimientos ondulatorios individuales de las
Olidas inleractuantcs en ese punto [.11.
El car<cter de partcula de la luz se manifiesta cuando la
onda intcracta con algn ohjelo.
No hay discusin en cuanto a los benefIcios que se han
obtenido a travs oel tiempo. y que an se pueden obtener,
l1eluso de una lente. o de sistemas de lentes. stos han sido y
siguen sienl10 utilizados para colectar y cambiar la forma de
un frente de ondas. generalmcnte con la intencin de analizar
informacin difundida a travs de alguna regin del espacio.
Sabemos que la forma ms comn de percibir la .'accin" de
una lente es formando imgenes. bien sobrc una pantalla o
hien directamente en la retina del ojo humano. En la Fig. 2 se
ilustra la obtencin clsica de imgenes reales y virtuales por
lentes nH1\'crgentcs.
Como sc ha mencionado antes. una lente puede resultar un instrumento defectuoso en el proceso de formacin de
imgenes, lo cual perjudicara el poder de resolucin. Los defcl:tos cn las lentes se COIl(){:encomo aberraciones. La correl,;cin de defectos es un asunto difcil y frecuentemente se resuelve por ensayo y error. combinando cfectos opuestos hasta
ohtener el resultado que se desea [5].
Rev. ,"In.
El.ECTRNICO
93
A. HUANOSTA.TERA
11m
...
'"
3. La microscopa electrnica
J.l. IllIIninamlo el interior de la materia
lllCTIIlOlIIlS
FI<HJRA J. Comparacin
lente magntica.
~squem;tica
95
.......
U{(UOO'f n.oOlS_
~{ oos
{l(lltO
rIItCU"04_
'-.'os
"'.
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lIu{l'U
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U{C"OOOUo,.pr.SAOOI
HUTlC."U1(
(U('IIO"U
D'SP{.Uoos
'"uu'oc r,,'{
FJ(iURA 4. H;l/, de electrones incidiendo sohrc una muestra ddgada. Pueden ol'tnrir los proccsos fsicos que se mencionan aqu.
ImO\ll'n
IJ profundidad
de C:llnpo
96
FllilJR,\
I rtln iUI.
A. HUANOSTA-TERA
(l. El
sistema tlplil.:o de un microscopio c1,sico y un clccFI(;URA 7. Un ha de elcctrones que sufre JispersilI elstica e
incl<stica.
En el caso de dispersin ehstica de electrones acelerados por ulla diferencia de potcncial de 100 kcV. la trayectoria
lihn: 1IH..'dia
que Ullelectrn puede viajar en un slido constilUido por tollloS ligeros vara, desdc unos pocos cientos de
amstrongs hasta unas de<:enas panl materialcs formados por
.il(llll()Spesados. I>araevitar complicllciones es rec()mcndahle
Iralar de construir muestras, para ohservar cn el microscopio
de lransmisin. del orden de la trayectoria lihre media.
Cuando se homhardea con electrones un material delgado. los electrones que salen continuar<in su viaje. con tina
distrihucin de valores tIc fase. relativos a la fase de la onda
incidente. Esta distrihucin de fases depender ue los valores
dell'mnpo de potencial (o sus variaciones) a travs del cual
')7
1 1 1 1 1
A.
'ocideole
B,
c.
A'.
Ir. c. 1r
Ulla
ilustra e....
ta idea. Aqu se h;H;e notar que la manera en que se
formil la ilIlagen ti Ilal es mediante una comhinacin de contrihuci(lIles de la di ....
persi'l1l pnlVcniente de muchsimos centn)s
Imoo.n
dispersores
FHit'I{\
de lransmisill.
pa ....
<cada e!cclnn (Fi~. X). Muchos de estos eleclrones lalllhiL'1Ihahr:n c:\perimenlado
un peljueo camhio cn la ampliIlId dl' olida a ...ociatia a ellos. dehido a procesos de dispersin
lanto ineljslica i,.'()1Jl(1
l'l;slica.
La dislrihuci<n angular de intensidad de electrones S<llielltlo's. es decir. la densidad de eleclrones susceptihles t.Ie ser
detcdados
a una cicrta distancia de la Illuestra vendra dada
por la distrihuci<n dc intensidad luminosa. cuyas variacio~
llCS producen l'l contraste. Esle parmetro cs. en realidad. la
principal ohsi..'rvahk en el proceso fsico. Si esta ohservahlc
puede deleClarse. digamos sohre una pantalla lluoresL'entc.
seguramcnte se !"<ll"Illar;IIna dislrihuci<n dc regiones claras y
ohscuras. es decir. tilla imagell. como se vc en la Fig. X,
La ~arant de (jUlo'un ;lOmo. o un grupo de ellos. pucllc haccr "sentir" su presencia en tilla imagen Jc microscopa
electnnica de transmisin MET radica en que un solo ;tOIl1O
puede dispersar un mimero suHciente de electrones delecta~
hles en tilla pantalla Ilumescente o una placa fotogdfica.
La radiacin dispersada podr; formar. prohahlementc.
un
p~ltrI1muy complejo de campo de radiacin. pero la forma
de este campo dehed ser. necesariamente,
una funcin hien
dL'linida del arreglo interno de las partculas que formen el
"'('Ilido. Si c;mhi.ramos
de ohjeto. () la distrihucin
de los
arregl(l<., almic(ls. la f()fflla del campo de radiacin emergente darla origcn a una imagcn diferente.
'nllllbi~l1 i..'n cste caso. el patr6n de campo de radiacin.
quc transporta y codilica la informacin.
no scr<.ulla l"ulKin
solamenle del arreglo ;i1timico (l molecular existente cn i..'1sistema. sino t;l1nhin depcnder; de f.lCtorcs ajenos al sistema
fsico que se analice.
Podemos imaginar qUi..' el microscopio
lralhl'onna
puntos. o re~i(ll1es lllicrosnpicas
de transmisin
del interior dc
Nl'I'.
de la Illuestra.
la po-
en l"ond(l oscuro
J.7. ;Yodl'mos
nI'
aparecen
aparecen
ll:q,
la imagen'!
A HUA:\'OSTA-TERA
PIona de
la muestra
FlCilll{A
imagen
O.
E:-;qll~lll;j
tle tina
llluestra
tlc la
fOrl11dCin
lente
de patrll de difraccln
cristalina.
dislrihuidos regular y peridicamente en el espa;io tridimensional. Una seccin transversal de esta regin del espacio es
lo qUL'l.onOCl'mos como patrn de difracci6n de electrones.
En una placa fotogrfica los puntos ohscuros que forman el
patrn se distrihuyen en arreglos geomtricos definidos. La
parle del ha/oque /lO contahiliza cn trminos de condiciones
de Bragg es la parlc del ha.l que no sufre desviacin respecto
al 11<11
incidente. En la literatura especializada se le llama el
ha/. transmitido.
Ohviamcntc. en cadn una de estns direcciones se podr
detectar una distrihuci6n de intensidad que puede formar
imagen, aunque seguramente con caractersticas di rerentes en
l'ada direcci<'lIl. Enseguida cada haz es retomado por la lente
()hjeti\"a para enfocarlo en el plano focal posterior de la lente,
a continuacin se forma la imagen correspondiente.
Como se ve en la Fig. 10, la imagen est invertida y puede pensarse que fue originnda por la interacl'in de onditas
dI..'Huygl.:ns generadas por fuentes puntuales situadas en cad" punto dd patr6n de difraccin. Esta imagen es retomada
por otro juego tic lentes. conocidas como proyectoras. que
linalmente fonnaf:n la imagen en la pantalla del MET. El
patr6n ,iL'difracci6n completo puede, a su vez, considerarse
como una imagen de la red y se localiza en un espacio formado por l'oordenadas construidas con los valores recprocos de
las dislancias en el espacio real. Es decir, es una medida de la
fn:cuenciaespacial, dnoa por l/.r, donde.1" es la dist<lncia a la
que est;ill colocados los centros dispersores distrihuidos sohre
planos imaginarios. De aqu su nombre de espacio recproco.
J.M. El aspcl'to formal
En trminos formales, el proceso ue formaci6n ue imagenes
en el llliLTosl'opio de tmnsmisin quedara representado por
dos transformadas uc Fourier sucesivas, es decir. la transi;il)1lde 1" funci6n de onda que emerge dc la muestra, 'l' d. a
la transformada de Fourier \)"1 F Y de "regreso" a la funcin
imagen ,JI l. ti' r quednlocalizada en el pl:lno del patrn de
dirracl'i6n y se gCllera por interferencia, a una distancia "inJi!lita", dL'las ondas generadas en la muestm.
CUllldo se trata de un cristal y dado quc ste es un obje[o integrado por componentes de Fourier. la forma en la cual
sus (OmpOllentes armnicos son transformados por el sistellIa plil:o l'll los correspondientes componentes armnicos
de la im<lgenes la parte medular del proceso de formacin de
im<genes. La funcin que realiza esta tarea es lo que se conoce como funci6n de transferencia ptica, Sla es una funci6n compleja, dependiente dc la frecuencia espacial, cuyo
m6dulo es la funcin de transferencia de modulacin y cuya fasc es la funci<n de transferencia dc fasc. La funcin de
transferencia de modulacin cs una mcdida de la reduccin
en el contraste, del ohjelo a la imagcn, sohre todo el espectro
tlL'frecuencias. La funcin tic transferencia de fase represenla el corrillliL'n!O relativo de las fascs. que puede ser medido 11.11.
Cahe aqu una ohservncin: cuando la teora se presenta
cn lrminos de rases y amplitudes de campos de ondas, entonces pierde sentido hahlar de lrayectorias de electrones o
distinguir enlre haces individuales.
99
In)
FI(;IIl{ ..\ 11. Ima!!cn de la red cristalina dcl complJe~to cCr:lmico
Ca~ d~i.ITi:uO\lu. El l'Olurastc osr.::uro proviene de capa~ de
Bi;,!O;,!,cn tanto que d claro ('orrespondc a ('apas dc pcrovskita
illll.'rraladas. El Vollajl.' de :!<:l'lerncin utilizado fue 200 kV, amplitll:arin 1.8 x lO'iX. La orientacin cristalogrlica cs cercana a
10111 dI.'una red cristalina ortorrmbica.
(h)
cristalogr:lica
({XJlI. y campo oscuro (h) dc una aleacin del sistema Cu-AI con-
(1) (2()()())
91-102
11111
A IIU:\N()STA.TEK:\
I R I
~
En la pr;clica este mecanismo se usa para mejorar el COIllra'ilL' tk la imagen. Ohviamcnlc este mecanismo de form<ll'jn dL' contraste no permite la ocurrencia de franjas dc la red
cristalina. De moJo que, el hCl'hn dc mejorar el contr .l'.tc Ptlf
dfran:i<lllloS conduce a perder la informacin contenida ell
L'Inllltra ..lc dc fase.
14. Esquema de la
de imagen de
lormaL'I'Hl
UI1,1
frontera
Ca~al> de
elec!tol>u
LenTe condeosa_
doro
BOD,I>OS
de
Barrida
~,..Otrus l'jelllplns
Es
Abertu'O
_t~<!!
luDo
-TilDO
"'Jaula
Fl{a' R\ 15.
ES411t'lI1a
de
UlI
lllinmcopio
F"oTOmull,plicao:lo'
de .!.u{.
de .fa'adol
electrnico de b:llTiJo.
Haz
1111
ELECTl{ON1CO
incidente
Muestra
(h,
Flf"'lc\
lTllelrll'iI.'n
\inIL',"itado,
10 IllTl.
La amplilil'lCIn
lP'"P''illll;ldllll(,ll!e.
11)
Aqu e
de grano
llHlC.\lra
c\t;
un cjl'mplo
PZT.
cnlrc
1 y
de csltl.
6. COlllcntm'ios finalcs
6,1, La lentl' ohjet\"a. d l'unlln de un mil"roscopio e1l'l'trnil"o cll' Iransmisil)1I
Al igual que cn la 6ptica cUsica.
C'1lla ptica
de electroncs
de
11I2
A. HUANOSTA.TERA
difraL'lada por el ohjeto y la onda difractada resultante es difractada. una vez mis. p:)r la lente objetiva. Si la lente ohjetiV<I 110 estuviera colocada
el patrn de difraccin de la muestra
cri,I;llina aparecera en el plano de la imugen. En esta discu-
no sc pllcdcn dcscanar.
Esta posihilidad de he considerarse
sohrc todo cuando se hace trahajo de alta resolucin. en cuyo
caso es posihle teIll'r una imagen semejante para dos arreglos
atmicos cstructuralmente
diferentcs.
lIluestra
l'l1
una correspondencia
Un
eicL'tnlnico
llliCrthCOpio
cermicos
y metales
para localil.ar
y estudiar
('Il,.
;llld A. Zajac.
()ren
Boo'"
;1I1d 11 Odish;lw.
S,l..
Fkjk'r.
lIi,,::
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Il1lcrnmcrica-
Tnllllllli.of/
USA.
(Acal!cll1il'
(Thc
Phrsic.\'
COllrSl'.
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I'metic(/!
Electron
A /C'.Hhooklor
Ml//er;als
1/1
19(5) Chap. 4.
anJ
G. Tholllas.
"Transmision
111/(/~cFomwrioll
("{IV\'
19(7) Chapo 2.
Jr .. ami K.L.
lO
11. L. Kcimer.
croscory",
Ut'rkf,J,\'
USA.
(JI" Phy.cs.
lW. Ilccman.
(/l/(llllf(rlllaliofl.
I<N2).
'.'Van:s".
(i'\'lcGraw-lIil1.
()/lfi(',I.
Educativo
III/(/gillg
Company.
!)
Ll'C-
Puhlishing
KlllgtlOIll.
IIrllldhook
.\1. Ikrlhcl');cf.
(Fondo
(J//I//,
United
(Adtlison-\Vcslcy.
del DI'.
Chap.4.
10 Imagin~".
llni\'crsity.
(.\lr(jra\V-lIill
(j
ctlilion.
y comentarios
las ohservacioncs
1977) Cap. 5.
:1 "An Introducltln
:)
Lciglltoll.
I'}nin. Sc(onJ
El autor agradece
2. Llkeht
aspeclos.
Agradecinlicntns
La posihilidad de equi\'ocaciones
a la hora dc estar formulan.
do juicio, cuando sc lrahaia con un microscopio electrnico
0/1
importantes
crisralina.
fl.J, Adn'rtl'lH:ias
/lm'l
ocasionarse
dao por radiacin a la muestra que se observa. puesto que los electrones incidentes pueden ionizar y/o
desplazar :tomos del material. y otros Jluntos que requieren
mayor espacio para exponerse. Tampoco se ha hecho una scparilcin precisa de la microscopia c1ectr6nica de transmisin
de alta n:solllcin respccto a la MET convencional.
Es conve.
niente que el lector interesado se documcnte respecto a estos
11l1Cllmagfllg
(Norlh-llo11allll
Pllhlishin~
eo.. Thc
NclllL'rlanJs.
Edited
hOlll. (Nortlt-lIolland
fl.:Js.).IJ~Umcrioll
Se/cm'f'. Sccond
/tI AllIfc'l"Itlfs
Micmgm/,hs
hy S. AlIlclind;\, R. (Jcwrs.
puhli ...hin,!.eo .. Thc Ndhcrl
X-Na\,
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tPknull1
cdilion.
f)efecr